JPH07220268A - Method of manufacturing magnetic recording medium - Google Patents

Method of manufacturing magnetic recording medium

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Publication number
JPH07220268A
JPH07220268A JP1105494A JP1105494A JPH07220268A JP H07220268 A JPH07220268 A JP H07220268A JP 1105494 A JP1105494 A JP 1105494A JP 1105494 A JP1105494 A JP 1105494A JP H07220268 A JPH07220268 A JP H07220268A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
texturing
recording medium
magnetic recording
magnetic
Prior art date
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Pending
Application number
JP1105494A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoo Shigeru
智雄 茂
Masataka Yokoyama
正孝 横山
Yasushi Makabe
保志 真壁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Chemical Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Chemical Corp filed Critical Mitsubishi Chemical Corp
Priority to JP1105494A priority Critical patent/JPH07220268A/en
Publication of JPH07220268A publication Critical patent/JPH07220268A/en
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve a floating characteristic, lubricity and wear resistance by subjecting the surface of a substrate to two stages of texturing to maintain the substrate surface to a specific shape, then subjecting this substrate surface to an electrolytic treatment in an acidic electrolyte. CONSTITUTION:Ruggedness and line trace patterns are formed by two stages of texturing on the front surface layer of the substrate 1. The substrate surface subjected to the texturing is subjected to the electrolytic treatment while voltage is applied to the substrate 1 in the electrolyte of an acidic soln. The projections, burrs, etc., remaining on the front surface of the substrate 1 after the texturing are etched away and the front surface of the substrate 1 has a smooth surface state. The floating characteristic and CSS characteristic of the head are greatly improved.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は磁気記録媒体の製造方法
に関するものである。詳しくは、基板上に特定の表面加
工処理を行なうことで、表面特性を改善し、浮上特性、
潤滑性、及び耐摩耗性に優れた磁気記録媒体を製造する
方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a magnetic recording medium. Specifically, by performing a specific surface processing on the substrate, the surface characteristics are improved, the floating characteristics,
The present invention relates to a method of manufacturing a magnetic recording medium having excellent lubricity and wear resistance.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、コンピュータ等の情報処理技術の
発達に伴い、その外部記憶装置として磁気ディスク等の
磁気記録媒体が用いられている。従来、磁気記録媒体と
してはアルミニウム合金基板にアルマイト処理やNi−
Pメッキ等の非磁性メッキ処理を施した後に、Cr等の
下地層を被覆し、次いでCo系合金の磁性薄膜層を被覆
し、更に炭素質の保護膜が被覆されたものが使用されて
いる。
2. Description of the Related Art In recent years, with the development of information processing technology for computers and the like, magnetic recording media such as magnetic disks have been used as external storage devices. Conventionally, as a magnetic recording medium, an aluminum alloy substrate is subjected to alumite treatment or Ni-
A non-magnetic plating treatment such as P plating is applied, followed by coating an underlayer such as Cr, then a magnetic thin film layer of a Co-based alloy, and a carbonaceous protective film. .

【0003】上記磁気記録媒体(磁気ディスク)の高密
度化に伴ない、磁気ディスクと磁気ヘッドとの間隔、即
ち浮上量は益々小さくなっており、最近では0.15μ
m以下程度になっている。このように磁気ヘッドの浮上
量が著しく小さいため、磁気ディスク面に突起があると
ヘッドクラッシュを招き、ディスク表面を傷つけること
がある。また、ヘッドクラッシュに至らないような微小
な突起でも情報の読み書きの際の種々のエラーの原因と
なりやすい。
With the increase in density of the magnetic recording medium (magnetic disk), the distance between the magnetic disk and the magnetic head, that is, the flying height, has become smaller and smaller.
It is about m or less. As described above, since the flying height of the magnetic head is extremely small, a protrusion on the magnetic disk surface may cause a head crash, which may damage the disk surface. Further, even minute protrusions that do not lead to head crashes are likely to cause various errors when reading and writing information.

【0004】一方、磁気ディスクは大容量化、高密度化
と並行して小型化も進められており、スピンドル回転用
のモーター等も益々小さくなっている。このため、モー
ターのトルクが不足し、磁気ヘッドが磁気ディスク面に
固着したまま浮上しないという現象が生じやすい。この
磁気ヘッドの固着を、磁気ヘッドと磁気ディスク表面と
の接触を小さくすることにより防止する手段として、磁
気ディスクの基板表面に微細な溝を形成する、テクスチ
ャ加工と称する表面加工を施す処理が行なわれている。
また、特開平4−95221号には、テクスチャ加工を
行い、洗浄後、ケミカルエッチングを施すことが提案さ
れている。
On the other hand, magnetic disks are being miniaturized in parallel with the increase in capacity and density, and motors for spindle rotation are becoming smaller and smaller. For this reason, the torque of the motor is insufficient, and the phenomenon that the magnetic head does not fly while being fixed to the magnetic disk surface is likely to occur. As a means for preventing the sticking of the magnetic head by reducing the contact between the magnetic head and the surface of the magnetic disk, a surface processing called texture processing for forming fine grooves on the substrate surface of the magnetic disk is performed. Has been.
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 4-95221 proposes that texture processing is performed, cleaning is performed, and then chemical etching is performed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記テ
クスチャ加工処理のみを用いた場合には、磁気ディスク
の浮上特性の改善は見られるものの、十分であるとは言
いがたい。また、特開平4−95221号に記載されて
いるケミカルエッチングによる方法では、エッチング条
件の選択による加工表面状態の制御がしにくく、また、
エッチング状態が不均一になりやすく、局部的な腐食が
発生しやすいことから、未だ満足できる表面状態のもの
が得られておらず、さらに磁気ディスクの浮上特性を改
善することが望まれている。
However, when only the above-mentioned texture processing is used, although the floating characteristics of the magnetic disk are improved, it cannot be said to be sufficient. Further, in the method by chemical etching described in JP-A-4-95221, it is difficult to control the processed surface state by selecting the etching conditions, and
Since the etching state is likely to be non-uniform and local corrosion is likely to occur, a satisfactory surface state has not yet been obtained, and it is desired to improve the floating characteristics of the magnetic disk.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記した
磁気ディスクにおける浮上特性をさらに改善すべく鋭意
検討を重ねた結果、基板上に2段階のテクスチャ加工を
施して基板表面を特定の形状に維持した後、該基板表面
を酸性の電解液中で電解処理することにより、上記問題
点が解決できることを見出し、本発明を完成するに至っ
た。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The inventors of the present invention have made earnest studies to further improve the levitation characteristics of the above-mentioned magnetic disk, and as a result, have performed two-step texture processing on the substrate to specify the substrate surface. The inventors have found that the above problems can be solved by electrolytically treating the surface of the substrate in an acidic electrolytic solution after maintaining the shape, and completed the present invention.

【0007】すなわち、本発明の要旨は、非磁性基板に
テクスチャ加工を施し、この表面上に下地層及び磁性層
を順次形成する磁気記録媒体の製造方法において、該基
板の表面を第1段のテクスチャ加工により、該基板の表
面平均粗さRaを20〜150Åの表面形状に加工し、
次いで第2段のテクスチャ加工により該基板表面の最大
突起高さRpを400Å以下にした基板表面を、酸性溶
液の電解液中で、該基板に電圧を印加しながら電解処理
したのち、下地層及び磁性層を形成することを特徴とす
る磁気記録媒体の製造方法に存する。
That is, the gist of the present invention is to provide a method for manufacturing a magnetic recording medium in which a non-magnetic substrate is textured and an underlayer and a magnetic layer are sequentially formed on the surface of the non-magnetic substrate. The surface average roughness Ra of the substrate is processed into a surface shape of 20 to 150Å by texturing,
Next, after subjecting the substrate surface having the maximum protrusion height Rp of 400 Å or less on the substrate surface by the second stage texturing to electrolytic treatment in an electrolytic solution of an acidic solution while applying a voltage to the substrate, an underlayer and A method of manufacturing a magnetic recording medium is characterized by forming a magnetic layer.

【0008】以下、本発明につき更に詳細に説明する。
本発明における磁気記録媒体の基板としては、一般にア
ルミニウム合金からなるディスク状基板を所定の厚さに
加工した後、その表面を鏡面加工してから非磁性金属、
例えばNi−P合金、又はNi−Cu−P合金等を無電
解メッキ処理等により約5〜20μmの膜厚の表面層と
して形成させたものが用いられる。上記基板の表面層上
にポリッシュ加工を施したものにテクスチャ加工を施す
のが一般的である。ポリッシュ加工は例えば、表面に遊
離砥粒を付着してしみ込ませたポリッシュパッドの間に
基板をはさみこみ、界面活性剤水溶液等の研磨液を補給
しながらポリッシュ加工を行ない、通常2〜5μm程度
ポリッシュしてその表面を平均表面粗さRaが50Å以
下、望ましくは30Å以下に鏡面仕上げする。遊離砥粒
としては、代表的には、アルミナ系スラリーのポリプラ
700やポリプラ103(共に(株)フジミインコーポ
レーテッドの登録商標)、ダイヤモンド系スラリー、S
iC系スラリー等が用いられる。ポリッシュパッドとし
ては、代表的には、Surfin100やSurfin
XXX−5(共に(株)フジミインコーポレーテッドの
登録商標)等の発泡ウレタン等が用いられる。
The present invention will be described in more detail below.
As the substrate of the magnetic recording medium in the present invention, a disk-shaped substrate generally made of an aluminum alloy is processed to a predetermined thickness, and then the surface thereof is mirror-finished, and then a non-magnetic metal,
For example, a Ni-P alloy, a Ni-Cu-P alloy, or the like formed as a surface layer having a thickness of about 5 to 20 m by electroless plating is used. It is common to subject the surface layer of the above-mentioned substrate to a polishing treatment and then to perform a texture treatment. The polishing process is performed, for example, by sandwiching the substrate between polishing pads which are impregnated with free abrasive grains on the surface, and polishing the liquid while supplying a polishing solution such as a surfactant aqueous solution. The surface is mirror-finished to have an average surface roughness Ra of 50 Å or less, preferably 30 Å or less. The free abrasive grains are typically alumina slurry polypla 700 or polypla 103 (both are registered trademarks of Fujimi Incorporated), diamond slurry, S.
iC-based slurry or the like is used. As a polishing pad, typically, Surfin 100 or Surfin
A urethane foam such as XXX-5 (both are registered trademarks of Fujimi Incorporated) is used.

【0009】本発明においては、上記した基板の表面層
上に2段階のテクスチャ加工により特定の凹凸と条痕パ
ターンを形成する。まず、第1段のテクスチャ加工は研
磨テープと遊離砥粒を用いたスラリー研削、又は砥粒を
担持した研磨テープを用いたテープ研削によって、基板
の表面層を研削し、該基板表面の平均粗さRaが20〜
150Å、好ましくは40〜100Åで、最大突起高さ
Rpが100〜1000Å、好ましくは200〜400
Åの凹凸と、形成された条痕の交差する角度(クロス角
度)θが好ましくは、10〜40°、更に好ましくは1
0〜30°の表面形状を形成する。基板表面にクロスパ
ターンの条痕を形成することにより、基板表面の吸着特
性を改善することができる。
In the present invention, specific unevenness and streak patterns are formed on the surface layer of the above-mentioned substrate by two-step texturing. First, in the first stage texturing, the surface layer of the substrate is ground by slurry grinding using a polishing tape and free abrasive grains, or tape grinding using a polishing tape carrying abrasive grains, and the average roughness of the substrate surface is ground. Ra is 20 ~
150 Å, preferably 40 to 100 Å, and the maximum protrusion height Rp is 100 to 1000 Å, preferably 200 to 400
The angle (cross angle) θ at which the unevenness of Å intersects with the formed scratches is preferably 10 to 40 °, more preferably 1
Form a surface profile of 0 to 30 °. By forming the cross pattern striations on the substrate surface, the adsorption property of the substrate surface can be improved.

【0010】上記スラリー研削に用いられる研磨テープ
としてはナイロンパイル、ポリエステルパイル等のバフ
テープが好適に用いられ、また、遊離砥粒としては0.
3〜4μmのダイヤ系の砥粒が用いられ、該遊離砥粒は
液体(水又は水をベースとする液体)中に分散剤と共に
懸濁させた液体スラリーとして用いられる。上記テクス
チャ加工の例を図1により詳述する。図1において、矢
印Aの方向に回転しているディスク状基板の表裏両面
に、4本の研磨テープ2をコンタクトローラ3で押し付
けて研磨を行なう。コンタクトローラ3は、ローラ押さ
えシリンダ4により基板1の両面に研磨テープを所定の
力で押圧している。研磨テープは矢印Bの方向に走行し
ており、基板の面には常に新しいテープ面が接触して研
磨される。また、研磨テープはコンタクトローラ3の往
復動により矢印Cの方向に往復動(振動)して基板の全
面を研磨できると共に、基板上に研磨テープにより研磨
されて形成される条痕Aの交差する角度(クロス角度)
θが通常10〜40°程度の角度を有するようになって
いる。さらにスラリー研削による場合には、研磨テープ
の研磨面側へは研磨ノズル5より上記した遊離砥粒を懸
濁させた研磨液が供給される。上記スラリー研削の条件
としてはディスクの回転数が30〜450rpm、研磨
テープの振動数(往復動数)が60〜3000回/分、
シリンダの押付圧力が1.0〜3.0kg/cm2 、研
磨時間が5〜30秒の範囲内が用いられる。
A buff tape such as nylon pile or polyester pile is preferably used as the polishing tape used for the above slurry grinding, and a free abrasive grain of 0.
Diamond-based abrasive grains of 3 to 4 μm are used, and the loose abrasive grains are used as a liquid slurry in which a dispersant is suspended in a liquid (water or a water-based liquid). An example of the above texture processing will be described in detail with reference to FIG. In FIG. 1, four polishing tapes 2 are pressed by contact rollers 3 on both the front and back surfaces of a disk-shaped substrate rotating in the direction of arrow A to perform polishing. The contact roller 3 presses the polishing tape against both surfaces of the substrate 1 with a predetermined force by the roller pressing cylinder 4. The polishing tape is running in the direction of arrow B, and a new tape surface is always in contact with the surface of the substrate for polishing. Further, the polishing tape can be reciprocated (vibrated) in the direction of arrow C by the reciprocating motion of the contact roller 3 to polish the entire surface of the substrate, and the scratches A formed by polishing with the polishing tape on the substrate intersect. Angle (cross angle)
The angle θ is usually 10 to 40 °. Further, in the case of slurry grinding, the polishing liquid in which the above-mentioned free abrasive grains are suspended is supplied from the polishing nozzle 5 to the polishing surface side of the polishing tape. As the conditions for the slurry grinding, the number of rotations of the disk is 30 to 450 rpm, the frequency of the polishing tape (reciprocating motion) is 60 to 3000 times / minute,
Cylinder pressing pressure is 1.0 to 3.0 kg / cm 2 , and polishing time is 5 to 30 seconds.

【0011】また、上記テープ研削に用いる研磨テープ
としては粒度#3000(粒径3μm)〜#10000
(粒径0.5μm)のアルミナ砥粒又はSiC砥粒を担
持した研磨テープ、望ましくはWA#4000〜WA#
8000のホワイトアルミナ砥粒を担持した研磨テープ
が用いられ、図1と同様の装置を用いて実施される。上
記テープ研削による研磨条件としては一般的な条件が採
用でき、通常ディスクの回転数が30〜200rpm、
研磨テープの振動数(往復動数)が80〜300回/
分、シリンダの押付圧力が1.0〜2.0kg/c
2 、研磨時間が5〜30秒の範囲内が用いられる。
The polishing tape used for the above-mentioned tape grinding has a grain size of # 3000 (grain size 3 μm) to # 10000.
Polishing tape carrying alumina abrasive grains (particle diameter 0.5 μm) or SiC abrasive grains, preferably WA # 4000 to WA #
A polishing tape carrying 8000 white alumina abrasive grains is used, and it is carried out using the same apparatus as in FIG. As the polishing conditions for the above-mentioned tape grinding, general conditions can be adopted, and the rotation speed of the disk is usually 30 to 200 rpm,
Vibration frequency (reciprocating motion) of the polishing tape is 80 to 300 times /
Min., Cylinder pressing pressure is 1.0 to 2.0 kg / c
m 2 and a polishing time of 5 to 30 seconds are used.

【0012】上記第1段のテクスチャ加工処理後の基板
の表面平均粗さRaは、20〜150Åであり、20Å
より低いとCSS特性が低下し、一方、Raが150Å
より高いと浮上特性が低下するので好ましくない。次
に、上記第1段のテクスチャ加工後の基板表面に、第2
段のテクチスャ加工処理を施こす。第2段のテクスチャ
加工では、研磨テープと特定の遊離砥粒を用いたスラリ
ー研削を施すことが好ましく、上記第1段における表面
平均粗さRa及びクロス角度を実質的に変化させること
なく、該表面のバリやカエリ等の突起を選択的に研磨し
て除去し、該表面の最大突起高さRpが400Å以下、
好ましくは100〜250Åの表面形状を形状する。
The surface average roughness Ra of the substrate after the first-stage texture processing is 20 to 150Å, and 20Å
If it is lower, the CSS characteristics deteriorate, while Ra is 150Å
If it is higher than this, the floating characteristics are deteriorated, which is not preferable. Next, a second layer is formed on the surface of the substrate after the first-step texture processing.
We give technic processing processing of step. In the texturing of the second step, it is preferable to perform slurry grinding using a polishing tape and specific loose abrasive grains, and without substantially changing the surface average roughness Ra and the cross angle in the first step, The protrusions such as burrs and burrs on the surface are selectively polished and removed, and the maximum protrusion height Rp of the surface is 400 Å or less,
Preferably, the surface shape of 100 to 250Å is formed.

【0013】第2段のテクスチャ加工に用いる研磨テー
プとしては、下記の液体スラリーが研磨テープ中を浸透
できるように十分に多孔質を有するもの、例えばナイロ
ン、セルロース、レーヨン等の不織布テープ、バフテー
プ、織布テープ等が好適に用いられ、また遊離砥粒とし
ては、例えば0.3〜6μmのホワイトアルミナ系の砥
粒が用いられ、該遊離砥粒を水をベースとする液体中に
分散剤と共に懸濁させた液体スラリーが研磨液として用
いられる。該研磨液中の遊離砥粒は、該研磨テープとデ
ィスクとの接触領域でトラップされディスク表面に押し
つけられて、所望の研磨作用を実現する。第2段のテク
スチャ装置としては、図1に示すものと同様の装置が用
いられる。第2段のテクスチャ加工における該スラリー
研削の条件としては、特に制限されるものではなく、通
常ディスク回転数50〜400rpm、研磨テープの振
動数(往復動数)50〜200回/分、シリンダの押付
圧力1.0〜3.0kg/cm2 、研磨時間3〜20秒
の範囲内が用いられる。上記第2段のテクスチャ加工処
理後の最大突起高さRpは400Å以下であるが、40
0Åより高いと浮上特性が低下するので好ましくない。
The polishing tape used for the second-stage texturing has sufficient porosity so that the following liquid slurry can penetrate into the polishing tape, for example, a non-woven tape such as nylon, cellulose or rayon, a buff tape, Woven tape or the like is preferably used, and as the free abrasive grains, for example, white alumina-based abrasive grains of 0.3 to 6 μm are used, and the free abrasive grains together with a dispersant in a water-based liquid. The suspended liquid slurry is used as a polishing liquid. The loose abrasive grains in the polishing liquid are trapped in the contact area between the polishing tape and the disc and pressed against the disc surface to realize a desired polishing action. As the second stage texture device, a device similar to that shown in FIG. 1 is used. The conditions for the slurry grinding in the second-stage texturing are not particularly limited, and are usually a disk rotation speed of 50 to 400 rpm, a polishing tape vibration frequency (reciprocating frequency) of 50 to 200 times / min, and a cylinder rotation speed. A pressing pressure of 1.0 to 3.0 kg / cm 2 and a polishing time of 3 to 20 seconds are used. The maximum protrusion height Rp after the second-stage texture processing is 400 Å or less, but 40
If it is higher than 0Å, the floating characteristics are deteriorated, which is not preferable.

【0014】本発明の2段階のテクスチャ加工処理で得
られた基板は、その表面平均粗さRaが20〜150
Å、好ましくは40〜100Å、最大突起高さRpが1
00〜400Å、好ましくは100〜250Åで、且つ
Rp/Raの比率が5以下の凹凸と、クロス角度θが1
0〜40°、好ましくは10〜30°の形状を有する。
本発明の2段階のテクスチャ加工を施すことにより、磁
気ヘッドと磁気記録媒体の吸着が防止でき、且つCSS
特性が改善され、さらに磁気異方性が良好となる。
The substrate obtained by the two-step texture processing of the present invention has a surface average roughness Ra of 20 to 150.
Å, preferably 40 to 100Å, maximum protrusion height Rp is 1
Unevenness of 0 to 400Å, preferably 100 to 250Å, and an Rp / Ra ratio of 5 or less, and a cross angle θ of 1
It has a shape of 0 to 40 °, preferably 10 to 30 °.
By performing the two-step texture processing of the present invention, adsorption of the magnetic head and the magnetic recording medium can be prevented, and the CSS
The characteristics are improved and the magnetic anisotropy is improved.

【0015】本発明においては、テクスチャ加工を施し
た基板表面を、酸性溶液の電解液中で、該基板に電圧を
印加しながら電解処理する。上記電解液としては、例え
ば硫酸、硝酸、塩酸、クロム酸、リン酸、シュウ酸、酢
酸等の一種又は二種以上を組合せた0.5〜40重量
%、望ましくは1〜30重量%の範囲の濃度の水溶液が
用いられ、特にリン酸が好適である。電解処理条件とし
ては、液温10〜70℃、電流密度0.1〜50mA/
cm2 、好ましくは0.5〜45mA/cm2 、さらに
好ましくは1.0〜25mA/cm2 、電解時間1〜4
00秒、好ましくは2〜200秒、電気量(電流密度と
電解時間の積)10〜1000mA・秒/cm2 、好ま
しくは50〜600mA・秒/c 2 の範囲内で実施され
る。
In the present invention, texture processing is applied.
The surface of the substrate is immersed in an electrolytic solution of an acidic solution and a voltage is applied to the substrate.
Electrolyte while applying. As the above electrolyte, for example,
For example, sulfuric acid, nitric acid, hydrochloric acid, chromic acid, phosphoric acid, oxalic acid, vinegar
0.5 to 40 weight of one or a combination of two or more acids
%, Preferably 1 to 30% by weight of the aqueous solution
It is used, and phosphoric acid is particularly preferable. Electrolytic treatment conditions
For liquid temperature 10-70 ° C, current density 0.1-50mA /
cm2, Preferably 0.5 to 45 mA / cm2,further
Preferably 1.0 to 25 mA / cm2, Electrolysis time 1-4
00 seconds, preferably 2 to 200 seconds, quantity of electricity (current density and
Product of electrolysis time) 10 to 1000 mA · sec / cm2, Preferred
50 to 600 mA · sec / c 2Carried out within
It

【0016】本発明における電解処理に供する電位とし
ては、直流又は正負の極性が交互に変換する交番波形電
流が挙げられ、特に交番波形電流が好適である。該交番
波形電流としては、例えば正弦波の単相交流、正弦波の
三相交流、矩形波、三角波、台形波等の波形電流が挙げ
られる。該交番波形電流の周波数としては、好ましくは
0.1〜500Hz未満、更に好ましくは0.1〜30
0Hz、特に好ましくは0.5〜200Hzの範囲内で
実施される。該交番波形電流を用いた場合における陽極
時電気量(QA)と陰極時電気量(QA)との比(QA
/QC)としては0〜2.0、好ましくは0.8〜1.
5、更に好ましくは0.9〜1.1の範囲である。
As the potential used in the electrolysis treatment in the present invention, an alternating waveform current in which direct current or positive and negative polarities are alternately converted can be mentioned, and an alternating waveform current is particularly preferable. Examples of the alternating waveform current include waveform currents such as sine wave single-phase alternating current, sine wave three-phase alternating current, rectangular wave, triangular wave, and trapezoidal wave. The frequency of the alternating waveform current is preferably 0.1 to less than 500 Hz, more preferably 0.1 to 30 Hz.
It is carried out in the range 0 Hz, particularly preferably in the range 0.5 to 200 Hz. The ratio (QA) of the amount of electricity at the anode (QA) and the amount of electricity at the cathode (QA) when the alternating waveform current is used.
/ QC) is 0 to 2.0, preferably 0.8 to 1.
5, more preferably 0.9 to 1.1.

【0017】本発明においては、上記した電解処理によ
って、テクスチャ加工後の基板表面に残った突起やバリ
等がエッチングにより除去され、基板表面がなめらかな
表面状態となり、ヘッドの浮上特性やCSS特性が大幅
に改善される。特に交番波形電流を用いた場合には、上
記改善に加えて基板表面のピット(孔食)の発生が抑制
でき、且つ保磁力等の磁気特性も向上するので好まし
い。また、電解エッチング処理終了後、必要に応じて、
下地層及び磁性層積層に先立って、遊離砥粒をセルロー
ス製不織布等の基材表面に付着してしみ込ませたもの、
あるいはアルミナ等の砥粒の比較的細かいものを担持し
たテープ等を基板面に押圧して再度テクスチャ処理を施
す仕上げ処理を行ってもよい。
In the present invention, the electrolytic treatment described above removes the protrusions, burrs, and the like remaining on the substrate surface after the texturing by etching, so that the substrate surface becomes a smooth surface state, and the flying characteristics and CSS characteristics of the head are improved. Greatly improved. In particular, the use of an alternating waveform current is preferable because in addition to the above improvement, the occurrence of pits (pitting corrosion) on the substrate surface can be suppressed and the magnetic characteristics such as coercive force are improved. Also, after the electrolytic etching treatment, if necessary,
Prior to lamination of the underlayer and the magnetic layer, loose abrasive grains are adhered and impregnated on the surface of a substrate such as a cellulose nonwoven fabric,
Alternatively, a finishing process may be performed in which a tape carrying relatively fine abrasive grains such as alumina is pressed against the surface of the substrate and the texture process is performed again.

【0018】上記電解処理を施した基板表面上に第2次
下地層としてクロムをスパッタリングにより形成する。
該クロム下地層の膜厚としては通常50〜2000Åの
範囲である。このような基板のCr下地層上に形成され
る金属磁性薄膜層としては、Co−Cr、Co−Ni、
Co−Cr−X、Co−Ni−X、Co−W−X等で表
わされるCo系合金の磁性薄膜層が好適である。ここで
XとしてはLi,Si,Ca,Ti,V,Cr,Ni,
As,Y,Zr,Nb,Mo,Ru,Rh,Ag,S
b,Hf,Ta,W,Re,Os,Ir,Pt,Au,
La,Ce,Pr,Nd,Pm,Sm、及び、Euより
なる群から選ばれた1種又は2種以上の元素が挙げられ
る。このようなCo系合金からなる金属磁性薄膜層は、
通常スパッタリング等の手段によって基板の下地層上に
被着形成される。該金属磁性薄膜層の膜厚としては、通
常100〜1000Åの範囲とされる。
On the surface of the substrate that has been subjected to the electrolytic treatment, chromium is formed as a secondary underlayer by sputtering.
The thickness of the chromium underlayer is usually in the range of 50 to 2000 Å. As the metal magnetic thin film layer formed on the Cr underlayer of such a substrate, Co--Cr, Co--Ni,
A magnetic thin film layer of a Co-based alloy represented by Co-Cr-X, Co-Ni-X, Co-W-X or the like is suitable. Here, X is Li, Si, Ca, Ti, V, Cr, Ni,
As, Y, Zr, Nb, Mo, Ru, Rh, Ag, S
b, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au,
Examples include one or more elements selected from the group consisting of La, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, and Eu. The metal magnetic thin film layer made of such a Co alloy is
Usually, it is deposited and formed on the base layer of the substrate by means such as sputtering. The film thickness of the metal magnetic thin film layer is usually in the range of 100 to 1000Å.

【0019】上記金属磁性薄膜層上に形成される保護薄
膜層としては炭素質膜が好ましく、炭素質保護薄膜層
は、通常、アルゴン、He等の希ガスの雰囲気下又は少
量の水素の存在下で、カーボンをターゲットとしてスパ
ッタリングによりアモルファス状カーボン膜や水素化カ
ーボン膜等が被着形成される。該保護薄膜層の膜厚は、
通常50〜500Åの範囲とされる。また、保護薄膜層
上に、摩擦係数を小さくするために、更に潤滑膜を形成
させてもよい。
A carbonaceous film is preferable as the protective thin film layer formed on the metal magnetic thin film layer, and the carbonaceous protective thin film layer is usually in the atmosphere of a rare gas such as argon or He or in the presence of a small amount of hydrogen. Then, an amorphous carbon film, a hydrogenated carbon film or the like is deposited by sputtering using carbon as a target. The thickness of the protective thin film layer is
It is usually in the range of 50 to 500Å. Further, a lubricating film may be further formed on the protective thin film layer in order to reduce the coefficient of friction.

【0020】[0020]

【実施例】次に、実施例により本発明を更に具体的に説
明するが、本発明はその要旨を越えない限り以下の実施
例によって限定されるものではない。 実施例1〜3 無電解メッキ法によりNi−Pメッキを15μm程度の
厚みで施したアルミニウム合金ディスク状基板の表面
を、ポリッシュ加工により表面平均粗さ(Ra)が約2
0〜30Åの膜面とし、次いで表1に示した条件で行っ
た第1段のテクスチャ加工により微細な溝を形成し、更
にそのディスクに遊離砥粒を用いた第2段のテクスチャ
加工を施す処理を行い、表面平均粗さ(Ra)約60Å
程度及び最大突起高さ(Rp)270Å程度の大きさで
仕上げた。次に10wt.%りん酸水溶液中で、該ディ
スク基板に電流が矩形波の交番波形となるよう電圧を印
加しながら、液温20℃、表2に示した条件下で電解処
理を行った。得られたディスクの表面平均粗さ(Ra)
は63Å、最大突起高さ(Rp)は240Åであった。
次いで該基板の表面層上に一般的なCr下地膜、Co−
Cr−Ta合金から成る磁性層及びカーボン膜から成る
保護膜を、順次スパッタリング被膜して、磁気ディスク
を製造した。得られたディスクについての表面形状(R
a及びRp)、グライド浮上特性、及びCSS特性を下
記方法で評価した。その結果を表2に示す。
EXAMPLES Next, the present invention will be described more specifically by way of examples, but the present invention is not limited to the following examples unless it exceeds the gist. Examples 1 to 3 The surface average roughness (Ra) of the aluminum alloy disk-shaped substrate, which was Ni-P plated to a thickness of about 15 μm by electroless plating, was about 2 by polishing.
A film surface of 0 to 30Å is formed, and then fine grooves are formed by the first-step texturing performed under the conditions shown in Table 1, and the disk is subjected to the second-step texturing using loose abrasive grains. Treated, average surface roughness (Ra) of about 60Å
And the maximum protrusion height (Rp) of 270Å. Next, 10 wt. % Aqueous solution of phosphoric acid, electrolysis was carried out under the conditions shown in Table 2 at a liquid temperature of 20 ° C. while applying a voltage to the disk substrate so that the current had an alternating rectangular waveform. Surface average roughness (Ra) of the obtained disk
Was 63Å, and the maximum protrusion height (Rp) was 240Å.
Then, on the surface layer of the substrate, a general Cr underlayer, Co-
A magnetic disk was manufactured by sequentially sputter-coating a magnetic layer made of a Cr-Ta alloy and a protective film made of a carbon film. Surface shape of the obtained disk (R
a and Rp), glide flying characteristics, and CSS characteristics were evaluated by the following methods. The results are shown in Table 2.

【0021】評価方法 表面形状(表面平均粗さ(Ra)、最大突起高さ(R
p)):先端が0.5μm円錐の触針を有する表面粗さ
計(小坂研究所製「ET−30HK」)により、計測長
250μmで測定した。測定方法としては基板上の円周
部任意の直線上の表面について半径方向に測定し、表面
平均粗さRa及び最大突起高さRpを求めた。 グライド浮上特性:日立DECO製RG550を用い
てPZT素子によりヘッドとディスクの突起の衝突を検
出し、外界ヘッド浮上高さとして評価した。 CSS特性 ディスクを実ドライブに組み込みスタート、ストップを
繰り返し行い、CSS20000回行った後のヘッドと
ディスクとの静止摩擦係数で評価した。 比較例1及び2 第1段のテクスチャ加工を表1に示す条件下で行い、リ
ン酸による電解処理を行わなかったこと以外は、実施例
1〜3と同様にして、磁気ディスクを製造した。得られ
たディスクについての評価結果を表2に示す。
Evaluation method Surface shape (surface average roughness (Ra), maximum projection height (R
p)): The surface length was measured with a surface roughness meter (“ET-30HK” manufactured by Kosaka Laboratory) having a 0.5 μm conical stylus with a measurement length of 250 μm. As a measuring method, the surface on an arbitrary straight line on the circumference of the substrate was measured in the radial direction, and the surface average roughness Ra and the maximum protrusion height Rp were obtained. Glide flying characteristics: RG550 manufactured by Hitachi DECO was used to detect the collision of the head and the protrusion of the disk with the PZT element, and was evaluated as the flying height of the external head. CSS characteristics A disk was incorporated into an actual drive, and start and stop were repeated. After performing CSS20000 times, the static friction coefficient between the head and the disk was evaluated. Comparative Examples 1 and 2 Magnetic disks were manufactured in the same manner as in Examples 1 to 3 except that the first-stage texturing was performed under the conditions shown in Table 1 and the electrolytic treatment with phosphoric acid was not performed. Table 2 shows the evaluation results of the obtained disks.

【0022】[0022]

【表1】 [Table 1]

【0023】[0023]

【表2】 [Table 2]

【0024】[0024]

【発明の効果】本発明の方法で基板の表面処理を行うこ
とにより、浮上特性、潤滑性及び耐摩耗性に優れた、磁
気記録媒体を提供することができるため、工業的な利用
価値が高い。
The surface treatment of the substrate according to the method of the present invention makes it possible to provide a magnetic recording medium which is excellent in floating characteristics, lubricity and wear resistance, and thus has high industrial utility value. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)本発明で用いられるテクスチャ加工装置
の構成要素の一部概略正面図である。 (b)(a)の概略側面図である。
FIG. 1 (a) is a partial schematic front view of components of a texture processing apparatus used in the present invention. (B) It is a schematic side view of (a).

【符号の説明】 1 基板 2 研磨テープ 3 コンタクトローラ 4 ローラ押さえシリンダ 5 研磨ノズル[Explanation of symbols] 1 substrate 2 polishing tape 3 contact roller 4 roller pressing cylinder 5 polishing nozzle

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板にテクスチャ加工を施し、この表面
上に下地層及び磁性層を順次形成する磁気記録媒体の製
造方法において、該基板の表面を第1段のテクスチャ加
工により、該基板の表面平均粗さRaを20〜150Å
の表面形状に加工し、次いで第2段のテクスチャ加工に
より該基板表面の最大突起高さRpを400Å以下にし
た基板表面を、酸性溶液の電解液中で、該基板に電圧を
印加しながら電解処理したのち、下地層及び磁性層を形
成することを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
1. A method of manufacturing a magnetic recording medium, wherein a substrate is textured, and an underlayer and a magnetic layer are sequentially formed on the surface of the substrate. Average roughness Ra of 20 to 150Å
The surface shape of the substrate is set to 400 Å or less by the second step texturing, and the maximum protrusion height Rp of the substrate surface is 400 Å or less. A method of manufacturing a magnetic recording medium, comprising forming an underlayer and a magnetic layer after the treatment.
【請求項2】 第2段のテクスチャ加工を、遊離砥粒を
用いたスラリー研削により行う請求項1に記載の磁気記
録媒体の製造方法。
2. The method for producing a magnetic recording medium according to claim 1, wherein the second-step texturing is performed by slurry grinding using loose abrasive grains.
【請求項3】 第2段のテクスチャ加工後の基板表面
が、最大突起粗さ(Rp)と表面平均粗さ(Ra)の比
率が5以下の凹凸を有しており、基板表面に形成された
条痕の交差する角度が10〜40°の範囲内である請求
項1又は2に記載の磁気記録媒体の製造方法。
3. The surface of the substrate after the texturing of the second step has irregularities in which the ratio of the maximum protrusion roughness (Rp) to the average surface roughness (Ra) is 5 or less, and is formed on the substrate surface. 3. The method for manufacturing a magnetic recording medium according to claim 1, wherein the intersecting angle of the scratches is in the range of 10 to 40 °.
【請求項4】 電解処理を、該基板に電流が交番波形と
なるように電圧を印加しながら行う請求項1〜3に記載
の磁気記録媒体の製造方法。
4. The method for producing a magnetic recording medium according to claim 1, wherein the electrolytic treatment is performed while applying a voltage to the substrate so that an electric current has an alternating waveform.
JP1105494A 1994-02-02 1994-02-02 Method of manufacturing magnetic recording medium Pending JPH07220268A (en)

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