JPH0722236A - 軟磁性薄膜 - Google Patents
軟磁性薄膜Info
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- JPH0722236A JPH0722236A JP15922293A JP15922293A JPH0722236A JP H0722236 A JPH0722236 A JP H0722236A JP 15922293 A JP15922293 A JP 15922293A JP 15922293 A JP15922293 A JP 15922293A JP H0722236 A JPH0722236 A JP H0722236A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/08—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers
- H01F10/10—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition
- H01F10/12—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys
- H01F10/14—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys containing iron or nickel
- H01F10/147—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure characterised by magnetic layers characterised by the composition being metals or alloys containing iron or nickel with lattice under strain, e.g. expanded by interstitial nitrogen
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- Power Engineering (AREA)
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- Magnetic Heads (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 良好な軟磁気特性や耐熱性を有し、耐蝕性、
耐摩耗性に優れた軟磁性薄膜を提供する。 【構成】 Fe−M−N−O系軟磁性薄膜にCu及びR
uを添加する。Cuの添加量は、金属成分中0〜8原子
%であり、Ruの添加量は、金属成分中0〜5原子%で
ある。また、CuとRuの合計添加量は、0.2〜8原
子%である。添加元素Mは、Si、Al、Ta、B、M
g、Ca、Sr、Cr、Mn、Zr、Nb、Ti、M
o、V、W、Hf、Ga、Ge、希土類元素のうち少な
くとも1種であり、Al、Ga、Ti、希土類元素のう
ち少なくとも1種であるMI と、Nb、Ta、V、Z
r、Hfのうち少なくとも1種であるMIIとを組み合わ
せてもよい。
耐摩耗性に優れた軟磁性薄膜を提供する。 【構成】 Fe−M−N−O系軟磁性薄膜にCu及びR
uを添加する。Cuの添加量は、金属成分中0〜8原子
%であり、Ruの添加量は、金属成分中0〜5原子%で
ある。また、CuとRuの合計添加量は、0.2〜8原
子%である。添加元素Mは、Si、Al、Ta、B、M
g、Ca、Sr、Cr、Mn、Zr、Nb、Ti、M
o、V、W、Hf、Ga、Ge、希土類元素のうち少な
くとも1種であり、Al、Ga、Ti、希土類元素のう
ち少なくとも1種であるMI と、Nb、Ta、V、Z
r、Hfのうち少なくとも1種であるMIIとを組み合わ
せてもよい。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、Fe−N系の軟磁性薄
膜に関するものであり、特にその耐蝕性、耐摩耗性の改
良に関するものである。
膜に関するものであり、特にその耐蝕性、耐摩耗性の改
良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】磁気記録の分野においては、高密度記録
化、短波長記録化が進められており、これに伴って磁気
記録媒体には高保磁力、高残留磁束密度を有することが
要求され、一方、磁気ヘッド材料には前記磁気記録媒体
の特性を生かすため高飽和磁束密度、高透磁率、低保磁
力を有することが要求される。
化、短波長記録化が進められており、これに伴って磁気
記録媒体には高保磁力、高残留磁束密度を有することが
要求され、一方、磁気ヘッド材料には前記磁気記録媒体
の特性を生かすため高飽和磁束密度、高透磁率、低保磁
力を有することが要求される。
【0003】このような要求を応える軟磁性材料のひと
つとして、Fe−N系材料が従来より知られており、こ
れをスパッタリング等の気相メッキ技術によって薄膜化
して磁気ヘッドのコア材として利用することが検討され
ている。
つとして、Fe−N系材料が従来より知られており、こ
れをスパッタリング等の気相メッキ技術によって薄膜化
して磁気ヘッドのコア材として利用することが検討され
ている。
【0004】しかしながら、Fe−N系の軟磁性薄膜
は、熱安定性に劣るという欠点を有する。磁気ヘッドの
製造においては、信頼性を確保するため高融点のガラス
を用いた融着工程が不可欠であり、この工程には高温の
熱処理を必要とすることから、前記欠点は大きな問題と
なる。
は、熱安定性に劣るという欠点を有する。磁気ヘッドの
製造においては、信頼性を確保するため高融点のガラス
を用いた融着工程が不可欠であり、この工程には高温の
熱処理を必要とすることから、前記欠点は大きな問題と
なる。
【0005】このような状況から、Fe−N系軟磁性薄
膜の熱安定性の改善に関して研究が続けられており、例
えば本願出願人は、特開平3−232206号におい
て、Al、Ga等の添加元素と酸素を導入することで、
Fe−N系軟磁性薄膜の熱安定性が改善されることを報
告した。
膜の熱安定性の改善に関して研究が続けられており、例
えば本願出願人は、特開平3−232206号におい
て、Al、Ga等の添加元素と酸素を導入することで、
Fe−N系軟磁性薄膜の熱安定性が改善されることを報
告した。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
添加元素が導入されたFe−N系軟磁性薄膜は、耐蝕性
の点で十分でなく、このような軟磁性薄膜をコア材とす
る磁気ヘッドは、高温高湿条件下で保存した場合に徐々
に錆が発生し、保磁力、透磁率等の軟磁気特性が劣化し
てしまう。このため、磁気ヘッドとしての実用性に欠
け、商品化する上で大きな障害となっている。
添加元素が導入されたFe−N系軟磁性薄膜は、耐蝕性
の点で十分でなく、このような軟磁性薄膜をコア材とす
る磁気ヘッドは、高温高湿条件下で保存した場合に徐々
に錆が発生し、保磁力、透磁率等の軟磁気特性が劣化し
てしまう。このため、磁気ヘッドとしての実用性に欠
け、商品化する上で大きな障害となっている。
【0007】一方、VTR等のように磁気テープと摺動
する形式の磁気記録への応用を考えた場合、磁気ヘッド
材料には高い耐摩耗性が要求される。特に、高周波記録
が進展するに伴って、より速い摺動速度に対応するため
に、従来にも増して磁気ヘッド材料に対する耐摩耗特性
の要求が高い。このような観点から見た場合にも、従来
のFe−N系軟磁性薄膜は十分なものとは言い難い。
する形式の磁気記録への応用を考えた場合、磁気ヘッド
材料には高い耐摩耗性が要求される。特に、高周波記録
が進展するに伴って、より速い摺動速度に対応するため
に、従来にも増して磁気ヘッド材料に対する耐摩耗特性
の要求が高い。このような観点から見た場合にも、従来
のFe−N系軟磁性薄膜は十分なものとは言い難い。
【0008】そこで本発明は、このような従来の実情に
鑑みて提案されたものであって、優れた耐蝕性を有し、
高温高湿条件下で保存した場合でも錆が発生せず、良好
な軟磁気特性、低磁歪、高飽和磁束密度を有し、且つ高
い耐摩耗特性を有する軟磁性薄膜を提供することを目的
とする。
鑑みて提案されたものであって、優れた耐蝕性を有し、
高温高湿条件下で保存した場合でも錆が発生せず、良好
な軟磁気特性、低磁歪、高飽和磁束密度を有し、且つ高
い耐摩耗特性を有する軟磁性薄膜を提供することを目的
とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、前述の目
的を達成せんものと鋭意研究を重ねた結果、Cu及びR
uを添加することが高耐蝕性、低磁歪、低保磁力を維持
しつつ耐摩耗性を改善するために有効であるとの知見を
得るに至った。
的を達成せんものと鋭意研究を重ねた結果、Cu及びR
uを添加することが高耐蝕性、低磁歪、低保磁力を維持
しつつ耐摩耗性を改善するために有効であるとの知見を
得るに至った。
【0010】すなわち、本発明は、(Fea Mb Cuc
Rud )e Nf Og (ただし、a、b、c、d、e、
f、gは組成を原子%で表し、MはSi、Al、Ta、
B、Mg、Ca、Sr、Cr、Mn、Zr、Nb、T
i、Mo、V、W、Hf、Ga、Ge、希土類元素のう
ちの少なくとも1種を表す。)なる組成式で表され、そ
の組成範囲が 0.1≦b≦5 0≦c≦8 0<d≦5 0.2≦c+d≦8 a+b+c+d=100 0.5≦f≦15 0.1≦g≦13 e+f+g=100 であることを特徴とするものである。
Rud )e Nf Og (ただし、a、b、c、d、e、
f、gは組成を原子%で表し、MはSi、Al、Ta、
B、Mg、Ca、Sr、Cr、Mn、Zr、Nb、T
i、Mo、V、W、Hf、Ga、Ge、希土類元素のう
ちの少なくとも1種を表す。)なる組成式で表され、そ
の組成範囲が 0.1≦b≦5 0≦c≦8 0<d≦5 0.2≦c+d≦8 a+b+c+d=100 0.5≦f≦15 0.1≦g≦13 e+f+g=100 であることを特徴とするものである。
【0011】ここで、添加元素Mは、Al、Ga、T
i、希土類のうちの少なくとも1種であるMI と、N
b、Ta、V、Zr、Hfのうちの少なくとも1種であ
るMIIとを組み合わせてもよく、この場合には、組成式
は(Fea MI j MII k Cuc Rud )e Nf Og で表
され、またその組成範囲は、 0.1≦j≦2.5 0.1≦k≦2.5 0≦c≦8 0<d≦5 0.2≦c+d≦8 a+j+k+c+d=100 0.5≦f≦15 0.1≦g≦13 e+f+g=100 とされる。
i、希土類のうちの少なくとも1種であるMI と、N
b、Ta、V、Zr、Hfのうちの少なくとも1種であ
るMIIとを組み合わせてもよく、この場合には、組成式
は(Fea MI j MII k Cuc Rud )e Nf Og で表
され、またその組成範囲は、 0.1≦j≦2.5 0.1≦k≦2.5 0≦c≦8 0<d≦5 0.2≦c+d≦8 a+j+k+c+d=100 0.5≦f≦15 0.1≦g≦13 e+f+g=100 とされる。
【0012】前記各組成は、軟磁気特性や飽和磁束密度
等の磁気特性、耐熱性、耐蝕性を考慮して決められたも
のであるが、特にCuとRuの導入量は、合計0.2〜
8原子%とする必要がある。CuとRuの導入が少なす
ぎると、耐蝕性、耐摩耗性の改善が期待できず、逆に多
すぎると保磁力Hcが大きな値を示すようになる。
等の磁気特性、耐熱性、耐蝕性を考慮して決められたも
のであるが、特にCuとRuの導入量は、合計0.2〜
8原子%とする必要がある。CuとRuの導入が少なす
ぎると、耐蝕性、耐摩耗性の改善が期待できず、逆に多
すぎると保磁力Hcが大きな値を示すようになる。
【0013】上述の軟磁性薄膜は、スパッタリング等の
薄膜形成技術により作製されるが、添加元素の導入方法
としては、先ず、目的の添加元素とFeとの合金を調製
し、この合金をターゲットとして使用する方法が望まし
い。Feターゲットの上に各添加元素のチップを置いて
同時にスパッタする方法もあるが、この方法の場合、膜
中で組成が異なる領域が生じる可能性を有し、前述のC
u、Ru添加効果が発現する組成範囲に維持することが
困難になる虞れがある。
薄膜形成技術により作製されるが、添加元素の導入方法
としては、先ず、目的の添加元素とFeとの合金を調製
し、この合金をターゲットとして使用する方法が望まし
い。Feターゲットの上に各添加元素のチップを置いて
同時にスパッタする方法もあるが、この方法の場合、膜
中で組成が異なる領域が生じる可能性を有し、前述のC
u、Ru添加効果が発現する組成範囲に維持することが
困難になる虞れがある。
【0014】また、窒素や酸素の導入方法としては、通
常、成膜雰囲気中に窒素、酸素を導入する方法が用いら
れる。
常、成膜雰囲気中に窒素、酸素を導入する方法が用いら
れる。
【0015】本発明を適用した軟磁性薄膜は、単層膜で
あってもよいし、パーマロイ、Co−アモルファス等の
磁性金属や、Ag、Cu等の非磁性金属、さらにはSi
−N、SiO2 等のセラミック材料等で分断して積層構
造とした多層膜であってもよい。上述の軟磁性薄膜は、
いわゆるメタル・イン・ギャップ型や積層型、薄膜型等
の各種磁気ヘッドのコア材として使用可能である。
あってもよいし、パーマロイ、Co−アモルファス等の
磁性金属や、Ag、Cu等の非磁性金属、さらにはSi
−N、SiO2 等のセラミック材料等で分断して積層構
造とした多層膜であってもよい。上述の軟磁性薄膜は、
いわゆるメタル・イン・ギャップ型や積層型、薄膜型等
の各種磁気ヘッドのコア材として使用可能である。
【0016】
【作用】所定の添加元素が導入されたFe−N系軟磁性
薄膜にCu、Ruを導入すると、低保磁力等の軟磁気特
性や耐蝕性等を維持したまま耐摩耗性が改善される。こ
れは、Cu、RuがFeに対して直接酸化を抑え、耐摩
耗性を向上させるように作用しているからと考えられ
る。Cu、Ruの場合、窒化物を形成し難いために、窒
素雰囲気中でのスパッタリングを行った後にも選択窒化
は生じず、Feの耐蝕、耐摩耗性を向上させるものと推
測される。
薄膜にCu、Ruを導入すると、低保磁力等の軟磁気特
性や耐蝕性等を維持したまま耐摩耗性が改善される。こ
れは、Cu、RuがFeに対して直接酸化を抑え、耐摩
耗性を向上させるように作用しているからと考えられ
る。Cu、Ruの場合、窒化物を形成し難いために、窒
素雰囲気中でのスパッタリングを行った後にも選択窒化
は生じず、Feの耐蝕、耐摩耗性を向上させるものと推
測される。
【0017】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて、実験結果に基づいて詳細に説明する。
いて、実験結果に基づいて詳細に説明する。
【0018】実験例1 本実験例は、所定の元素が導入されたFe−N系軟磁性
薄膜にCu、Ruを導入し、耐蝕性及び耐摩耗性の検討
を行った例である。
薄膜にCu、Ruを導入し、耐蝕性及び耐摩耗性の検討
を行った例である。
【0019】軟磁性薄膜の成膜は、以下の手順で行っ
た。先ず、Feを主成分とする合金ターゲットを準備
し、窒素ガス及び酸素ガスを含むアルゴン雰囲気中でR
Fスパッタリングを行い、表1に示す組成を有する薄膜
を作成した。ただし、試料2及び試料5は、Fe−Al
−V−Nb−(Ru)合金にCuチップを載せてスパッ
タリングを行った。
た。先ず、Feを主成分とする合金ターゲットを準備
し、窒素ガス及び酸素ガスを含むアルゴン雰囲気中でR
Fスパッタリングを行い、表1に示す組成を有する薄膜
を作成した。ただし、試料2及び試料5は、Fe−Al
−V−Nb−(Ru)合金にCuチップを載せてスパッ
タリングを行った。
【0020】なお、スパッタリングの条件は、出力30
0W、ガス圧(全圧)1.2mTorrとした。膜中の窒素
含有量、酸素含有量は、雰囲気中への窒素ガス、酸素ガ
スの導入量で制御した。
0W、ガス圧(全圧)1.2mTorrとした。膜中の窒素
含有量、酸素含有量は、雰囲気中への窒素ガス、酸素ガ
スの導入量で制御した。
【0021】作成した各Fe−N系軟磁性薄膜につい
て、耐摩耗性、耐蝕性に関する検討を行った。耐摩耗性
の評価は以下の手順で行った。先ず、実際の8mmVT
R用磁気ヘッドと同じ寸法のCaTiO3 (チタン酸カ
ルシウム)ダミーヘッドを用意し、テープ摺動面に軟磁
性薄膜(膜厚5μm以上)を上記条件で成膜し、この上
に酸化防止膜(SiO2 、膜厚1000Å)を付着させ
た。
て、耐摩耗性、耐蝕性に関する検討を行った。耐摩耗性
の評価は以下の手順で行った。先ず、実際の8mmVT
R用磁気ヘッドと同じ寸法のCaTiO3 (チタン酸カ
ルシウム)ダミーヘッドを用意し、テープ摺動面に軟磁
性薄膜(膜厚5μm以上)を上記条件で成膜し、この上
に酸化防止膜(SiO2 、膜厚1000Å)を付着させ
た。
【0022】これを実際の結晶状態が通常の磁気ヘッド
の場合と同じになるように550℃で1時間アニールし
た後、ヘッドベースに貼り付け、酸化防止膜をラップテ
ープにより除去した。次いで、8mmVTR用ドラムに
セットし、マイクロビッカース硬度測定用のダイヤモン
ド圧子を押しつけ、四角錐型の凹部を軟磁性薄膜上に接
触させた。
の場合と同じになるように550℃で1時間アニールし
た後、ヘッドベースに貼り付け、酸化防止膜をラップテ
ープにより除去した。次いで、8mmVTR用ドラムに
セットし、マイクロビッカース硬度測定用のダイヤモン
ド圧子を押しつけ、四角錐型の凹部を軟磁性薄膜上に接
触させた。
【0023】次に、実際の8mmVTRに取付け、恒温
恒湿槽(相対湿度60%、温度25℃)中で実際の8m
mVTR用テープ(蒸着テープ)を走行させた。所定の
時間テープを走行させた後、ドラムをVTRより取り出
し、四角錐型の凹部の寸法を測定することにより、軟磁
性薄膜の摩耗量を評価した。
恒湿槽(相対湿度60%、温度25℃)中で実際の8m
mVTR用テープ(蒸着テープ)を走行させた。所定の
時間テープを走行させた後、ドラムをVTRより取り出
し、四角錐型の凹部の寸法を測定することにより、軟磁
性薄膜の摩耗量を評価した。
【0024】耐蝕性の評価は以下の手順で行った。結晶
化ガラス基板に軟磁性薄膜(膜厚3μm)を上記条件で
成膜し、その上に酸化防止膜(SiO2 、膜厚1000
Å)を付着させ、これを550℃で1時間アニールし
た。次に、酸化防止膜をラップテープにより除去した
後、15mm×15mmの寸法に切断し、2%NaCl
水溶液50ml中に浸し、振動しながら30℃で96時
間保持した。この後、NaCl水溶液からサンプルを取
り出し、水溶液中の沈澱物も含めた全Fe量を定量分析
し、耐蝕性を評価した。
化ガラス基板に軟磁性薄膜(膜厚3μm)を上記条件で
成膜し、その上に酸化防止膜(SiO2 、膜厚1000
Å)を付着させ、これを550℃で1時間アニールし
た。次に、酸化防止膜をラップテープにより除去した
後、15mm×15mmの寸法に切断し、2%NaCl
水溶液50ml中に浸し、振動しながら30℃で96時
間保持した。この後、NaCl水溶液からサンプルを取
り出し、水溶液中の沈澱物も含めた全Fe量を定量分析
し、耐蝕性を評価した。
【0025】耐蝕性試験、耐摩耗性試験ともに、拡散ポ
ンプを用いた真空中で行ったが、10-6Torr台の真空度
では熱処理中に表面酸化層が形成されてしまうことが確
認できたため、酸化防止のためのSiO2 膜を酸化防止
膜として成膜している。酸化防止膜なしでアニールした
場合には、表面が実際の磁性膜とは異なっており、耐
蝕、耐摩耗等の表面に関わる特性の評価には注意が必要
である。
ンプを用いた真空中で行ったが、10-6Torr台の真空度
では熱処理中に表面酸化層が形成されてしまうことが確
認できたため、酸化防止のためのSiO2 膜を酸化防止
膜として成膜している。酸化防止膜なしでアニールした
場合には、表面が実際の磁性膜とは異なっており、耐
蝕、耐摩耗等の表面に関わる特性の評価には注意が必要
である。
【0026】結果を表1に示す。
【0027】
【表1】
【0028】表1を見ると、合金ターゲットによりCu
を導入し、Ruを添加したサンプルは、優れた耐蝕、耐
摩耗性を示し、且つ低保磁力、低磁歪を維持しているこ
とがわかる。また、Cuチップを載せてスパッタした膜
では、Cuの偏析のため、あまり耐蝕性の改善が見られ
ない。これらの結果から、合金ターゲットにより所定の
添加元素が導入されたFe−N系軟磁性薄膜へのCu、
Ruの導入は、耐蝕性や耐摩耗性、軟磁気特性に優れた
薄膜を得る上で有効であることが示された。
を導入し、Ruを添加したサンプルは、優れた耐蝕、耐
摩耗性を示し、且つ低保磁力、低磁歪を維持しているこ
とがわかる。また、Cuチップを載せてスパッタした膜
では、Cuの偏析のため、あまり耐蝕性の改善が見られ
ない。これらの結果から、合金ターゲットにより所定の
添加元素が導入されたFe−N系軟磁性薄膜へのCu、
Ruの導入は、耐蝕性や耐摩耗性、軟磁気特性に優れた
薄膜を得る上で有効であることが示された。
【0029】実験例2 本実験例は、所定の元素が導入されたFe−N系軟磁性
薄膜に、Cu、Ruを種々の濃度で添加し、耐摩耗性、
耐蝕性について検討を行った例である。なお、本実験例
でも、スパッタリング条件、アニール条件、耐蝕性試験
条件、耐摩耗性試験条件は、実験例1と同様とした。
薄膜に、Cu、Ruを種々の濃度で添加し、耐摩耗性、
耐蝕性について検討を行った例である。なお、本実験例
でも、スパッタリング条件、アニール条件、耐蝕性試験
条件、耐摩耗性試験条件は、実験例1と同様とした。
【0030】図1は、Fe−N系軟磁性薄膜にCu+R
uを添加したサンプルについて、Cuの添加量xとRu
の添加量yと保磁力Hc(550℃でアニールした後の
値)の関係を示すものである。それぞれの組成式は以下
の通りである。 (Fe98.1-x-yAl1.1 V0.4 Nb0.4 Cux Ruy )
92O2 N6 (ただし、式中の数値は組成を原子%で表す。)
uを添加したサンプルについて、Cuの添加量xとRu
の添加量yと保磁力Hc(550℃でアニールした後の
値)の関係を示すものである。それぞれの組成式は以下
の通りである。 (Fe98.1-x-yAl1.1 V0.4 Nb0.4 Cux Ruy )
92O2 N6 (ただし、式中の数値は組成を原子%で表す。)
【0031】また、図2は、図1と同一のサンプルにつ
いて、実験例1で示した耐蝕性評価法により、NaCl
溶液中に溶け出したFe量を測定したものである。図3
は、実験例1で示したように、CaTiO3 基板に成膜
した軟磁性薄膜を8mmVTRテープ(蒸着テープ)に
より摩耗させた際の摩耗量を測定したものである。
いて、実験例1で示した耐蝕性評価法により、NaCl
溶液中に溶け出したFe量を測定したものである。図3
は、実験例1で示したように、CaTiO3 基板に成膜
した軟磁性薄膜を8mmVTRテープ(蒸着テープ)に
より摩耗させた際の摩耗量を測定したものである。
【0032】これら図面を見ても明らかなように、Cu
は、比較的軟磁気特性を劣化させずに耐蝕性を改善可能
であり、Ruは、耐摩耗性改善に効果があるものの、5
原子%以上の添加により軟磁気特性が劣化する。したが
って、良好な耐摩耗性、軟磁気特性を得るためのCu+
Ru添加量の範囲は、0.2〜8原子%であることが判
明した。ただし、Ruの添加量は前述のように5原子%
以下が望ましい。
は、比較的軟磁気特性を劣化させずに耐蝕性を改善可能
であり、Ruは、耐摩耗性改善に効果があるものの、5
原子%以上の添加により軟磁気特性が劣化する。したが
って、良好な耐摩耗性、軟磁気特性を得るためのCu+
Ru添加量の範囲は、0.2〜8原子%であることが判
明した。ただし、Ruの添加量は前述のように5原子%
以下が望ましい。
【0033】なお、今回の実験で、200A/m以下の
良好な保磁力が得られた軟磁性薄膜では、磁歪はいずれ
も3×10-6よりも絶対値が小さく、良好な磁歪を示し
ていた。
良好な保磁力が得られた軟磁性薄膜では、磁歪はいずれ
も3×10-6よりも絶対値が小さく、良好な磁歪を示し
ていた。
【0034】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明においては、所定の元素が導入されたFe−N系の軟
磁性薄膜にCu,Ruを添加しているので、軟磁気特性
及び耐熱性を維持したまま、優れた耐蝕性、耐摩耗性を
得ることが可能である。したがって、このような軟磁性
薄膜を磁気ヘッドのコア材料として使用すれば、耐蝕性
に優れた、寿命の長い、実用性の高い磁気ヘッドを得る
ことが可能となる。
明においては、所定の元素が導入されたFe−N系の軟
磁性薄膜にCu,Ruを添加しているので、軟磁気特性
及び耐熱性を維持したまま、優れた耐蝕性、耐摩耗性を
得ることが可能である。したがって、このような軟磁性
薄膜を磁気ヘッドのコア材料として使用すれば、耐蝕性
に優れた、寿命の長い、実用性の高い磁気ヘッドを得る
ことが可能となる。
【図1】Fe−N系軟磁性薄膜におけるCu添加量x、
Ru添加量yと保磁力Hc(550℃でアニールした後
の値)の関係を示す特性図である。
Ru添加量yと保磁力Hc(550℃でアニールした後
の値)の関係を示す特性図である。
【図2】Fe−N系軟磁性薄膜におけるCu添加量x、
Ru添加量yと耐蝕性(2%NaCl水溶液中に溶け出
した全Fe量)の関係を示す特性図である。
Ru添加量yと耐蝕性(2%NaCl水溶液中に溶け出
した全Fe量)の関係を示す特性図である。
【図3】Fe−N系軟磁性薄膜におけるCu添加量x、
Ru添加量yと耐摩耗性(12時間蒸着テープ走行後の
摩耗量)の関係を示す特性図である。
Ru添加量yと耐摩耗性(12時間蒸着テープ走行後の
摩耗量)の関係を示す特性図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 林 和彦 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内
Claims (4)
- 【請求項1】 (Fea Mb Cuc Rud )e Nf Og
(ただし、a、b、c、d、e、f、gは組成を原子%
で表し、MはSi、Al、Ta、B、Mg、Ca、S
r、Cr、Mn、Zr、Nb、Ti、Mo、V、W、H
f、Ga、Ge、希土類元素のうちの少なくとも1種を
表す。)なる組成式で表され、その組成範囲が 0.1≦b≦5 0≦c≦8 0<d≦5 0.2≦c+d≦8 a+b+c+d=100 0.5≦f≦15 0.1≦g≦13 e+f+g=100 であることを特徴とする軟磁性薄膜。 - 【請求項2】 組成式中のMb がMI j MII k (ただ
し、j、kは組成を原子%で表し、MI はAl、Ga、
Ti、希土類のうちの少なくとも1種を、MIIはNb、
Ta、V、Zr、Hfのうちの少なくとも1種を表
す。)で表され、 0.1≦j≦2.5 0.1≦k≦2.5 であることを特徴とする請求項1記載の軟磁性薄膜。 - 【請求項3】 Fe−M−Cu−Ru((ただし、Mは
Si、Al、Ta、B、Mg、Ca、Sr、Cr、M
n、Zr、Nb、Ti、Mo、V、W、Hf、Ga、G
e、希土類元素のうちの少なくとも1種を表す。)合金
ターゲットを用い、窒素及び酸素を導入した反応スパッ
タにより成膜されてなる請求項1記載の軟磁性薄膜。 - 【請求項4】 Fe−MI −MII−Cu−Ru(ただ
し、MI はAl、Ga、Ti、希土類のうちの少なくと
も1種を、MIIはNb、Ta、V、Zr、Hfのうちの
少なくとも1種を表す。)合金ターゲットを用い、窒素
及び酸素を導入した反応スパッタにより成膜されてなる
請求項2記載の軟磁性薄膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15922293A JPH0722236A (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 軟磁性薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15922293A JPH0722236A (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 軟磁性薄膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0722236A true JPH0722236A (ja) | 1995-01-24 |
Family
ID=15689009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15922293A Pending JPH0722236A (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 軟磁性薄膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0722236A (ja) |
-
1993
- 1993-06-29 JP JP15922293A patent/JPH0722236A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030318 |