JPH07231125A

JPH07231125A - 永久電流スイッチの試験方法

Info

Publication number: JPH07231125A
Application number: JP6021304A
Authority: JP
Inventors: Shinichi Mukoyama; 晋一向山; Masaru Fujisawa; 大藤沢; Makoto Kudo; 誠工藤
Original assignee: CHODENDO MAGNET KK; Furukawa Electric Co Ltd
Current assignee: CHODENDO MAGNET KK; Furukawa Electric Co Ltd
Priority date: 1994-02-18
Filing date: 1994-02-18
Publication date: 1995-08-29

Abstract

(57)【要約】【構成】超電導コイル１および永久電流スイッチ２から
なる超電導回路に、第１の電源７により永久電流モード
の電流を流し、次いで永久電流スイッチ２と並列に接続
した第２の電源４により永久電流スイッチ２に前記永久
電流モードの電流と同一方向の電流を供給して永久電流
スイッチ２の試験を行い、また永久電流スイッチ２がク
エンチした場合、永久電流スイッチ２に流れる電流をバ
イパス回路５にバイパスし、速やかにバイパスした電流
に対し同程度で逆方向の電流をバイパス回路５に流すこ
とで、クエンチした永久電流スイッチ２を復帰させる方
法。【効果】小型電源で大きな電流を永久電流スイッチに流
すことができ、また寒材の蒸発の抑制を実現し、更にク
エンチした永久電流スイッチを速やかに復帰させること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は超電導マグネットが永久
電流状態で使用される際に用いられる永久電流スイッチ
の通電試験方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＭＲＩや磁気浮上列車等に用いられる超
電導マグネットは超電導線が巻かれた超電導コイルから
なる。超電導マグネット等を用いた超電導装置は、超電
導コイルに長期間にわたり一定電流を流し続ける必要が
あるため、永久電流スイッチが使用される。永久電流ス
イッチとしては超電導線の超電導状態と常伝導状態との
遷移を利用したものが一般に利用されている。

【０００３】図２を参照しながら超電導装置の運転動作
について説明する。永久電流スイッチ１０は超電導線か
らなっており、超電導状態になったときが、永久電流ス
イッチ１０の閉じた状態（オン状態）で、常伝導状態に
なったときが開いた状態（オフ状態）となる。オン状態
では永久電流スイッチ１０は超電導回路の一部を形成す
る。なお、開いた状態（オフ状態）である常伝導状態で
の抵抗は通常数〜数十Ω程度である。この超電導装置を
運転するときは、永久電流スイッチ１０が開いた状態で
超電導コイル９に所定の電流を電源１２によって供給
（励磁）した後、永久電流スイッチ１０を閉じれば、超
電導コイル９と永久電流スイッチ１０とは超電導回路を
形成して永久電流モードの周回電流が流れる仕組みにな
っている（実際には接続抵抗等を若干含む）。

【０００４】ところで永久電流スイッチ１０がクエンチ
すると、永久電流スイッチ１０が常伝導状態になり、そ
のため永久電流スイッチ１０に流れる電流により発熱
し、永久電流スイッチ１０が焼き切れる場合もある。こ
のため一般に永久電流スイッチ１０には保護抵抗１１が
並列に接続され、永久電流スイッチ１０がクエンチした
際、永久電流スイッチ１０に流れる電流を保護抵抗１１
で即座に消費させることで永久電流スイッチが保護され
るようになっている。

【０００５】保護抵抗の抵抗は、永久電流スイッチ１０
が常伝導状態になったときの抵抗より低く、かつ永久電
流モード時に保護抵抗に電流が流れない程度の抵抗であ
る必要があり、通常数百ｍΩ程度のものが使用される。
なお保護抵抗１１は超電導コイル９、永久電流スイッチ
１０と同様、通常寒材中に配置される場合が多い。この
理由は、保護抵抗１１を寒材の外に配置すると、永久電
流スイッチ１０と保護抵抗１１とをつなぐリード線を介
して寒材の冷熱が寒材の外に逃げてしまうからである。

【０００６】上述のように、永久電流モードにおいては
永久電流スイッチも超電導回路の一部を形成する訳であ
るから、永久電流スイッチがクエンチすると永久電流モ
ードが崩れることになる。従って超電導装置の安定性は
超電導コイルのみならず永久電流スイッチの信頼性にも
依存するのである。そこで永久電流スイッチの信頼性を
確認（試験）する必要がある。一般にその試験は超電導
装置が実際に使用される場合に流れる電流よりも大きな
電流を試験すべき永久電流スイッチに流して行うのが普
通である。つまり実際に使用される条件より過酷な条件
で試験する訳である。

【０００７】図２および図３によって、従来の永久電流
スイッチの試験方法を説明する。従来知られた試験方法
は以下の２つの方法である。第１の試験方法は、図２に
示すように試験すべき永久電流スイッチ１０を実際に超
電導装置に組み込み、実際に使用される場合より大きな
永久電流を超電導回路に流すことで試験する方法であ
る。第２の試験方法は、図３に示すように、試験すべき
永久電流スイッチ１５を永久電流スイッチ１５とは接続
されていない超電導コイル１４の中に配置し、超電導コ
イル１４に電流を流して発生させた磁場中で永久電流ス
イッチ１５に電流を流す試験方法である。上述の第１ま
たは第２のいずれの試験方法によっても、試験すべき永
久電流スイッチが実際に使用される環境（条件下）でク
エンチを起こすか否かが試験される。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の永久電
流スイッチの第１の試験方法では、図２の如く実際に永
久電流スイッチ１０を超電導装置に組み込んで行うの
で、超電導コイル９と一つの超電導回路を形成している
永久電流スイッチ１０には、超電導コイル９に流す以上
の電流を流すことはできない。従って実際に使用される
場合より大きな電流を永久電流スイッチ１０に流すため
には、当然その大きな電流値の周回電流を永久電流スイ
ッチ１０と超電導コイル９とからなる超電導回路に流さ
ざるを得ない。このため電源１２は大きな電流を励磁で
きるだけの大型電源でなければならず高い費用を要す
る、という問題がある。

【０００９】加えて、永久電流スイッチ１０がクエンチ
した場合（永久電流スイッチを試験する場合、実際の使
用条件より厳しい条件の通電を行うので、クエンチする
可能性はそれだけ高い）、周回電流はジュール熱として
消費されるが、従来の永久電流スイッチの第１の試験方
法は大きな電流値の永久電流モードにして試験を行うの
で、周回電流値を大きくする程、発生するジュール熱が
多くなってしまう。従ってそれだけ多くの寒材（液体ヘ
リウム）を蒸発させてしまう、という問題も生ずる。ヘ
リウムは高価な物質であるので寒材の蒸発の問題は試験
コストの上昇を招くだけでなく、稀少なヘリウム資源の
浪費になりかねなかった。従って寒材の蒸発の抑制が求
められていた。

【００１０】寒材の蒸発を抑制する方法であるが、例え
ば従来の永久電流スイッチの第１の試験方法において、
保護抵抗１１を寒材の外に配置すれば多少の効果が期待
できる。何故なら永久電流スイッチ１０がクエンチした
場合、周回電流は保護抵抗１１にバイパスされるが、寒
材の外に配置された保護抵抗１１で発熱しても寒材を加
熱しないからである（実際には、保護抵抗１１をつなぐ
リード線等から熱が寒材に伝わることは避けられない
が）。しかし実際には、永久電流スイッチ１０がクエン
チすると、周回電流が急激に減衰（変動）するので、超
電導コイル９にいわゆる交流損失が生じて、その結果超
電導コイル９もクエンチしてしまうことが多い。超電導
コイルは当然寒材の中に配置せざるを得ないものである
から、大きな電流値の永久電流モードで試験を行う従来
の永久電流スイッチの第１の試験方法では、超電導コイ
ル９のクエンチは、大量の寒材の蒸発を招きかねない問
題を避けることが難しかった。

【００１１】上述のような寒材の蒸発の問題以外にも次
のような問題があった。永久電流スイッチ１０がクエン
チすると、周回電流はジュール熱として消費される。消
費された結果、周回電流は消滅し、永久電流スイッチ１
０が再び寒材で冷却され超電導状態に復帰するので、試
験を再開することができる。しかし周回電流が消滅して
しまったので、試験を再開するには永久電流スイッチ１
０と超電導コイル９とからなる超電導回路に再び永久電
流モードの周回電流を供給（励磁）しなければならな
い。この場合、消滅した周回電流は無駄になってしま
う。

【００１２】このため周回電流を消滅させないでクエン
チした永久電流スイッチ１０を復帰させる方法が最近提
案されている（特開平５−３４３２２４）。この方法は
永久電流スイッチの試験方法ではないが、クエンチした
永久電流スイッチを自己復帰させる方法が提案されてい
る。この方法は、永久電流スイッチに回避ループ（バイ
パス）を並列に接続し、永久電流スイッチがクエンチし
た場合、回避ループに電流をバイパスすることで、周回
電流を消滅させないでクエンチした永久電流スイッチを
復帰させることができる、というものである。しかしな
がらこの方法によっても実際にはクエンチした永久電流
スイッチにも若干の電流が流れるので、ジュール熱によ
り加熱され永久電流スイッチの冷却まで時間がかかるた
め、速やかに復帰させることはできなかった。

【００１３】一方従来の永久電流スイッチの第２の試験
方法では、図３の如く磁場を発生させる超電導コイル１
４の電源１７と、永久電流スイッチ１５の電源１６を別
個に準備する必要があり、永久電流スイッチ１５には実
際に使用する場合以上の電流を流すことになる訳である
から、電源１６は大型電源でなければならない。このた
め設備的に高い費用を要する問題がある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明はかかる状況に鑑
み、鋭意研究を行った結果なされたもので、その目的は
永久電流スイッチに大きな電流を流す試験に関し、大型
電源を必要とせず小型電源だけで安価にできる方法を提
供し、また寒材（液体ヘリウム）の蒸発を抑制するとと
もに、永久電流スイッチがクエンチしても速やかに復帰
させることができる永久電流スイッチの試験方法を提供
しようとするものである。即ち、請求項１記載の発明
は、超電導コイルおよび永久電流スイッチからなる超電
導回路で、前記超電導コイルに接続した第１の電源によ
って前記超電導回路に永久電流モードの周回電流を流
し、前記永久電流スイッチの両端に接続した第２の電源
によって前記周回電流と同一方向の直流電流を前記永久
電流スイッチに流す永久電流スイッチの試験方法であ
る。

【００１５】また前記永久電流スイッチと前記第２の電
源とをつなぐリード線間にバイパス回路を設け、前記永
久電流スイッチがクエンチしたとき、前記超電導回路に
流れている周回電流の大部分を前記バイパス回路にバイ
パスし、次いで前記バイパス回路にバイパスしたバイパ
ス電流に対し逆向きでかつ該バイパス電流よりやや小さ
い電流値の電流を前記バイパス回路に流して、クエンチ
した前記永久電流スイッチを超電導状態に復帰させる永
久電流スイッチの試験方法である。

【００１６】

【作用】図１を参照しながら本発明の請求項１記載の永
久電流スイッチの試験方法を説明する。先ず第１の電源
７により超電導コイル１および永久電流スイッチ２から
なる閉ループに電流値Ｉ₀（図示する方向に流すとす
る）の永久電流を励磁させ、永久電流モードにする。次
いで、第２の電源４により、永久電流スイッチ２に、図
示する方向にＩ_inなる直流電流を流す。こうすると、永
久電流スイッチ２の自己インダクタンスＬ_s、超電導コ
イルの自己インダクタンスＬ_cの場合、上記Ｉ_inの内、
永久電流スイッチ２に分流される電流をＩ_s、超電導コ
イル１に分流される電流をＩ_cとすると、Ｉ_s、Ｉ
_cは、Ｉ_s＝Ｉ_in×Ｌ_c／（Ｌ_s＋Ｌ_c）、Ｉ_c＝Ｉ_in×Ｌ_s／（Ｌ_s＋Ｌ_c）、で表せられることになる。

【００１７】しかるに永久電流スイッチ２の自己インダ
クタンスＬ_sは超電導コイル９の自己インダクタンスＬ
_cに比べ極めて小さいため、上式は実質的にはＩ_s≒Ｉ
_in、Ｉ_c≒０、となる。従って、永久電流スイッチ２に
は、実質的にはＩ₀＋Ｉ_inとほぼ同程度の電流を流すこ
とができる。従来の試験方法ではＩ₀＋Ｉ_inの大きさの
電流の周回電流を流さないと、永久電流スイッチ２にＩ
₀＋Ｉ_inの大きさの電流を流す試験ができなかったのに
比べ、本発明によれば、第１の電源７および第２の電源
４が各々小型電源であってもよい。従って大型電源が必
要なく、設備コストが下がる。

【００１８】また、永久電流スイッチ２に流れる電流
（≒Ｉ₀＋Ｉ_in）の内、Ｉ₀は永久電流モードの周回電
流であるが、Ｉ_inは第２の電源４から供給し続ける電流
であって周回電流ではない。従って永久電流スイッチ２
がクエンチしたとき速やかに第２の電源４からの供給を
止めれば、電流Ｉ_inは永久電流スイッチ２でジュール熱
として消費されることはなく、電流Ｉ₀のみがジュール
熱として消費されることになる。この方法によれば、上
述の従来の第１の試験方法のように、Ｉ₀＋Ｉ_inの大き
さの永久電流モードで試験する場合より、発生するジュ
ール熱が少ないことは明白で、寒材の蒸発が抑制できる
のである。なお、第２の電源４から直流電流Ｉ_inの供給
を止める方法であるが、第２の電源４を停止させる方法
の他、第２の電源４によって永久電流スイッチ２の端末
間に掛ける電圧を十分に小さくする方法でもよい。この
場合、永久電流スイッチ２がクエンチして永久電流スイ
ッチ２の端末間の抵抗が上昇したとき自動的に電流Ｉ_in
が殆ど流れなくなるので、実質的には第２の電源４から
直流電流が供給されなくなるからである。

【００１９】加えて本発明の方法によれば、永久電流ス
イッチ２がクエンチすることで超電導コイル１のクエン
チが誘発されたとしても、超電導コイル１および永久電
流スイッチ２からなる閉ループには周回電流Ｉ₀が流れ
ているだけなので、超電導コイル１で発生するジュール
熱は従来の第１の試験方法（超電導コイルにはＩ₀＋Ｉ
_in程度の周回電流が流されている）に比べ少ない。

【００２０】次に本発明の請求項２記載の発明を説明す
る。永久電流スイッチ１０がクエンチすると、永久電流
スイッチ１０が復帰するまで試験を行うことができな
い。請求項２記載の発明は、永久電流スイッチの試験に
おいて、クエンチした永久電流スイッチ１０を速やかに
復帰させる方法を提供し、迅速に試験ができる永久電流
スイッチの試験方法を提供している。また周回電流を消
滅させないで試験を再開できるようにし、電力の節約を
図るものである。図１を参照しながら説明すると、永久
電流スイッチ２と第２の電源４とをつなぐリード線６、
６’間にバイパス回路５を設け、永久電流スイッチ２が
クエンチしたとき、永久電流スイッチ２に流れている電
流がバイパス回路５とクエンチした永久電流スイッチ１
０に分流されるようにする。その大部分はバイパス回路
５に流れ、寒材の外に配置されたバイパス回路５でジュ
ール熱が発生しても寒材を蒸発させない。またクエンチ
した永久電流スイッチ１０に分流された微小電流による
発熱は永久電流スイッチ１０の復帰を妨げるものの、発
熱量自体は微小であり寒材の蒸発は殆ど無視できる程度
である。

【００２１】ところでバイパス回路およびクエンチした
永久電流スイッチ１０は何れも超電導状態でないため、
バイパス回路に流れるバイパス電流および永久電流スイ
ッチ１０に流れる微小電流は当然時間とともに減衰して
いく。この状態でバイパス回路５にバイパス電流よりや
や小さい逆向きの電流を第２の電源４によってバイパス
回路５に流すと、この電流はバイパス回路５と永久電流
スイッチ１０とに分流され、バイパス回路５と永久電流
スイッチ１０に流れている電流を相殺する方向に流れ
る。上述したように永久電流スイッチ１０に流れる微小
電流は減衰していくので、上記相殺する方向に流れる電
流の大きさと前記微小電流の大きさが一致した時点で永
久電流スイッチ１０に流れる電流値は０になる。こうな
ると永久電流スイッチ１０はジュール熱によって加熱さ
れないので寒材によって冷却され再び超電導状態に復帰
する。

【００２２】この際、第２の電源４によってバイパス回
路５に流す電流の大きさがバイパス回路５に流れている
電流に比べ小さ過ぎると、永久電流スイッチ１０に流れ
る電流が０になるまでに要する時間が長くなり、またそ
れだけ寒材が多く蒸発してしまうので望ましくない。な
お、バイパス回路５は保護抵抗１１とは異なり電流を消
費することが目的ではないので、その抵抗は小さい方が
望ましい。また第２の電源によって供給する電流は図示
しない別の電源によって供給してもよいことは当然であ
る。

【００２３】ところで図１に示すようにバイパス回路５
は第２の電源４を永久電流スイッチ２につなぐリード線
６、６’間に設けられているので、（永久電流スイッチ
２がクエンチしていない段階で）第２の電源４から永久
電流スイッチ２に供給した直流電流の一部が常にバイパ
ス回路５に分流してしまう。分流されれば永久電流スイ
ッチ２に流れる電流は少なくなるので、それだけ第２の
電源から大きな電流を供給しなければならなくなる上、
第２の電源４から供給する電力の一部が無駄になってし
まう。そこで必須ではないが図１に示すようにバイパス
回路５に機械式スイッチ８を設けると、前述の無駄がな
くなるので望ましい。つまり永久電流スイッチ２に検出
器を取り付け、クエンチしていないときは機械式スイッ
チ８を開いた状態にし、クエンチを検出したら速やかに
機械式スイッチ８が閉じるようにしておけばよいのであ
る。

【００２４】バイパス回路５の機能としては機械式スイ
ッチ８に換えて低抵抗体で代用した場合、永久電流スイ
ッチ２に流れる電流は以下のように計算される。機械式
スイッチ８に換えて低抵抗体（抵抗Ｒ）をつないだとし
て、リード線６、６’の抵抗をＲ_rとすると、永久電流
スイッチ２がクエンチしない状態で、第２の電源４から
供給される電流Ｉ_inの内、バイパス回路５に分流される
電流Ｉ_bは、Ｉ_b＝Ｒ_L／（Ｒ＋Ｒ_L）×Ｉ_in となる。機械式スイッチ８に換えて低抵抗体で代用する
利点は、設備的に安価である点であるから、低電流値で
試験する場合等、Ｉ_inが分流されても問題は少ない場合
は機械式スイッチ８に換えて低抵抗体で代用することも
有効である。このように試験条件により使い分ければよ
いのである。なお上記低抵抗体の抵抗は、数ｍΩ程度が
適当であるが、リード線６、６’の抵抗より大きいほう
がよい。リード線６、６’の抵抗より小さい（Ｒ＜
Ｒ_L）と、Ｉ_inの内、半分以上がバイパス回路５に分流
されてしまうからである。

【００２５】

【実施例】次に実施例を図１を参照しながら説明する。
超電導コイル１の自己インダクタンスＬ_Cは１０Ｈであ
る。永久電流スイッチ２は超電導線により作られたもの
で、自己インダクタンスＬ_sは１μＨ以下である。オフ
状態の抵抗Ｒ_SWは１０Ωである。また保護抵抗３の抵抗
Ｒ_Pは０．５Ωである。さて第２の電源４と永久電流ス
イッチ２とをつなぐリード線６、６’は５００Ａの電流
を流せるもので、その抵抗Ｒ_Lは４ｍΩである。また永
久電流スイッチ２の両端には図示しない電圧測定器が接
続され、クエンチを検知すれば機械式スイッチ８が速や
かに閉じる仕組みになっている。また機械式スイッチ８
が閉じたときの抵抗Ｒ_MSは２ｍΩである。

【００２６】さて先ず第１の電源７により超電導コイル
１および永久電流スイッチ２からなる閉ループにＩ₀＝
５００Ａの周回電流（永久電流モード）を流す。永久電
流スイッチ２は超電導コイル１が発生する磁場中に位置
し、０．８Ｔの磁場環境にある。この状態で第２の電源
４により永久電流スイッチ２の両端からＩ₀と同じ方向
に種々の値の電流値Ｉ_inの直流電流を供給した結果、供
給した電流Ｉ_inが殆ど永久電流スイッチ２に流れ込むこ
とが確認できた。例えば、１０００Ａの通電試験をした
い場合は、Ｉ_in＝５００Ａの電流を供給すればよい。

【００２７】次に永久電流スイッチ２がクエンチした場
合、ジュール熱の発生による寒材の蒸発を抑制しながら
速やかに永久電流スイッチ２を超電導状態に復帰させる
実験を行った。試験すべき永久電流スイッチ２がクエン
チする電流値は試験して初めて知れるのであるが、ここ
では上記Ｉ_in＝４２０Ａでクエンチした場合を例にして
説明する。さて第２の電源４によって供給する電流がＩ
_in＝４２０Ａになったときクエンチが生じたのである
が、永久電流スイッチ２の両端に接続した（図示しな
い）電圧測定器で、クエンチを検知し、速やかに機械式
スイッチ８を閉じた。更に第２の電源も（手動で）止め
たので、クエンチした当初では、バイパス回路５と永久
電流スイッチ２に流れる電流Ｉ’は周回電流Ｉ₀＝５０
０Ａだけになった。しかしリード線６、６’やバイパス
回路５の抵抗（機械式スイッチ８の接触抵抗等）により
約６％／分でＩ’が減衰していった（電流Ｉ’は大部分
がバイパス回路５に分流され、永久電流スイッチ２には
微小電流が流れている）。

【００２８】このようにバイパス回路５と永久電流スイ
ッチ２に上記Ｉ’が流れている状態で、なるべく早く機
械式スイッチ８の両端（図１のＡ、Ｂ）から第２の電源
４を用いて、上記Ｉ’と逆方向の電流を流しはじめた。
そして電流値を徐々に上げていき、バイパス回路５に流
れている電流に対しやや小さい電流値になったとき永久
電流スイッチ２に流れている微小電流が相殺され０にな
り、永久電流スイッチ２が速やかに超電導状態に復帰し
た。このように永久電流スイッチ２を復帰させる過程に
おいて、クエンチした永久電流スイッチ２で大量にジュ
ール熱を発生させることがなく、寒材の蒸発も少なかっ
た。

【００２９】また機械式スイッチ８に換えて１０ｍΩの
低抵抗体に換えて実験し（リード線の抵抗は８ｍΩ）、
永久電流スイッチ２がクエンチした際、永久電流スイッ
チ２に流れていた電流を分流させることが可能であるこ
とを確認した。この場合、クエンチする以前から、第２
の電源４から供給する電流の約５５％しか永久電流スイ
ッチに流れず不経済ではあったが、機械式スイッチより
低抵抗体は安価であるから設備的には安価であった。こ
の実験においては、第２の電源４から供給する電流の約
５５％しか永久電流スイッチに流れなかったので、大き
な電流を流す試験の場合、第２の電源４を大型にしなけ
ればならないが、試験すべき電流値が小さい場合には有
効である。

【００３０】

【効果】以上説明したように、本発明の永久電流スイッ
チの試験方法は、小型電源で大きな電流を永久電流スイ
ッチに流す試験が可能である。また永久電流スイッチが
クエンチしても寒材（液体ヘリウム）の蒸発を抑制で
き、更に速やかに超電導状態に復帰させることが可能で
ある。このように本発明の永久電流スイッチの試験方法
は、設備的にも寒材消費の点でも安価であり、また迅速
な試験を可能とする等、著しい産業上の貢献を奏するも
のである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の永久電流スイッチの試験方法で用いる
回路図である。

【図２】永久電流スイッチと超電導コイルを用いた超電
導装置の回路図である。

【図３】従来の永久電流スイッチの試験方法で用いる回
路図である。

【符号の説明】

１超電導コイル２永久電流スイッチ３保護抵抗４第２の電源５バイパス回路６、６’ リード線７第１の電源８機械式スイッチ９超電導コイル１０永久電流スイッチ１１保護抵抗１２電源１３リード線１４超電導コイル１５永久電流スイッチ１６電源１７電源１８リード線

フロントページの続き (72)発明者工藤誠千葉県市原市八幡海岸通り６番地超電導マグネット株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】超電導コイルおよび永久電流スイッチか
らなる超電導回路で、前記超電導コイルに接続した第１
の電源によって前記超電導回路に永久電流モードの周回
電流を流し、前記永久電流スイッチの両端に接続した第
２の電源によって前記周回電流と同一方向の直流電流を
前記永久電流スイッチに流すことを特徴とする永久電流
スイッチの試験方法。
【請求項２】前記永久電流スイッチと前記第２の電源
とをつなぐリード線間にバイパス回路を設け、前記永久
電流スイッチがクエンチしたとき、前記超電導回路に流
れている周回電流の大部分を前記バイパス回路にバイパ
スし、次いで前記バイパス回路にバイパスしたバイパス
電流に対し逆向きでかつ該バイパス電流よりやや小さい
電流値の電流を前記バイパス回路に流して、クエンチし
た前記永久電流スイッチを超電導状態に復帰させること
を特徴とする請求項１記載の永久電流スイッチの試験方
法。