JPH0723278B2 - ダイヤモンド薄膜の形成方法 - Google Patents

ダイヤモンド薄膜の形成方法

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JPH0723278B2
JPH0723278B2 JP8462786A JP8462786A JPH0723278B2 JP H0723278 B2 JPH0723278 B2 JP H0723278B2 JP 8462786 A JP8462786 A JP 8462786A JP 8462786 A JP8462786 A JP 8462786A JP H0723278 B2 JPH0723278 B2 JP H0723278B2
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diamond thin
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diamond
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哲夫 清水
博 三平
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株式会社エステツク
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ダイヤモンド薄膜の形成方法に関する。
〔従来の技術〕
例えば耐摩耗性の良好な切削材料、高効率の放熱材料又
は耐蝕性のコーティングを得るため、種々の基体材料に
多結晶のダイヤモンドの薄膜を形成することが知られて
おり、従来は公知のCVD法やイオン化蒸着法によって基
体材料の表面に直接ダイヤモンド薄膜を成長させるよう
にして、ダイヤモンド薄膜を基体材料の表面に形成して
いた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記従来技術によれば、使用できる基体
材料が、Si,SiC,Mo,W,Ta,Nb,C等に限定されてしまい、
他の多くの基体材料にダイヤモンド薄膜を形成すること
ができないと云う問題点がある他、ダイヤモンド薄膜が
形成される基体材料の表面をダイヤモンドペーストによ
って研磨する等の前処理が必要であり、更に、ダイヤモ
ンド薄膜が粒子状に成長するため、ダイヤモンド薄膜の
基体材料に対する付着強度やダイヤモンド薄膜の表面粗
度に解決すべき問題があった。
本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
目的とするところは、多くの種類の基体材料の表面に、
研磨等の前処理を施さなくても強固かつ均一にダイヤモ
ンド薄膜を形成し得る方法を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上述の目的を達成するため、本発明に係るダイヤモンド
薄膜の形成方法は、基体材料の表面にアモルファスカー
ボン膜を形成し、更に、該アモルファスファスカーボン
膜の表面にダイヤモンド薄膜を成長させるようにした点
に特徴がある。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明に係るダイヤモンド薄膜の形成方法を説
明するための図で、先ず、所定寸法に切断された基体材
料1を用意する(同図(A)参照)。この基体材料1の
表面に、イオンプレーティング(イオン化メッキ)法又
はイオンビームスパッタ法により、大気圧〜10-4tollの
圧力下において、アモルファスカーボン薄膜2を形成す
る(同図(B)参照)。このとき用いられる膜材料はグ
ラファイトである。又、基体材料1の温度は室温〜150
℃に保持される。このようにして形成されるアモルファ
スカーボン膜2の膜厚は0.01〜1ミクロンである。
尚、前記アミルファスカーボン膜2の形成方法として上
記方法の他、スパッタ法やCVD法があり、スパッタ法の
場合、膜材料や形成条件は前記イオンプレーティング法
等と同様であり、又、CVD法の場合、膜材料としてはメ
タン、プロパン、ベンゼン等の炭化水素やエチルアルコ
ール等の有機化合物を用い、前記と同様の条件下で行
う。
次いで、熱フィラメントCVD法やマイクロプラズマCVD法
等のCVD法やイオン化蒸着法により、大気圧〜10-2toll
の圧力下において、前記アモルファスカーボン薄膜2の
表面にダイヤモンド薄膜3を成長させることによりダイ
ヤモンド薄膜3を基体材料1に形成する(同図(C)参
照)。このとき用いられる膜材料はメタン、プロパン、
ベンゼン等の炭化水素やエチルアルコール等の有機化合
物である。又、基体材料1の温度は400〜1000℃に保持
される。このようにして形成されるダイヤモンド薄膜3
の膜厚は1〜20ミクロンである。
而して、上記イオンプレーティング法等によって形成さ
れたアモルファスカーボン薄膜2は、それが付着する下
地(この場合は、基体材料1)に対する選択性がなく、
しかも下地に対する付着力が極めて大きいので、従来方
法では困難であったFe,Ni,ステンレス,WCの如き耐摩耗
性に優れた基体材料1に対してもアモルファスカーボン
薄膜2を介してダイヤモンド薄膜3を形成することがで
きるようになったのである。
そして、前記ダイヤモンド薄膜3はアモルファスカーボ
ン薄膜2上では膜状に成長し、アモルファスカーボン薄
膜2に対する付着力も大きいので、研磨等の前処理を施
さなくても所望のダイヤモンド薄膜3を多くの種類の基
体材料1に形成することができる。
第2図はダイヤモンド薄膜がSi基板の鏡面研磨面上には
全く成長しないことにより、ダイヤモンド薄膜を選択成
長させ得ることを示すもので、先ず、公知の方法によっ
て基体材料であるSi基板4上に、フォトレジストより成
るレジストパターン5を形成する(同図(A)参照)。
次に、前記レジストパターン5上からイオンプレーティ
ング法又はイオンビームスパッタ法によって、Si基板4
上にアモルファスカーボン薄膜6を形成する(同図
(B)参照)。
そして、薬品処理によってアモルファスカーボン薄膜6
より成るカーボンパターン7を形成する(同図(C)参
照)。
最後に、CVD法やイオン化蒸着法によってダイヤモンド
薄膜8を前記カーボンパターン7上に成長させる(同図
(D)参照)。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明に係るダイヤモンド薄膜の
形成方法は、基体材料の表面にアモルファスカーボン膜
を形成し、更に、該アモルファスカーボン膜の表面にダ
イヤモンド薄膜を成長させるようにしているので、多く
の種類の基体材料の表面に、研磨等の前処理を施さなく
ても強固かつ均一にダイヤモンド薄膜を形成することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図はそれぞれ本発明に係るダイヤモンド薄
膜の形成方法を説明するためのプロセス図である。 1,4……基体材料、2,6……アモルファスカーボン薄膜、
3,8……ダイヤモンド薄膜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基体材料の表面にアモルファスカーボン膜
    を形成し、更に、該アモルファスカーボン膜の表面にダ
    イヤモンド薄膜を成長させるようにしたことを特徴とす
    るダイヤモンド薄膜の形成方法。
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