JPH07235764A - 狭ピッチ部品の表面実装方法 - Google Patents

狭ピッチ部品の表面実装方法

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JPH07235764A
JPH07235764A JP6024522A JP2452294A JPH07235764A JP H07235764 A JPH07235764 A JP H07235764A JP 6024522 A JP6024522 A JP 6024522A JP 2452294 A JP2452294 A JP 2452294A JP H07235764 A JPH07235764 A JP H07235764A
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solder
pads
qfp
cream solder
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Kazuhito Yamada
和仁 山田
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Ibiden Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 狭ピッチ部品を基板上に正確にかつ確実に表
面実装することができる狭ピッチ部品の表面実装方法を
提供すること。 【構成】 狭ピッチ部品としてのQFP1用のパッド列
4を構成するパッド4a,4bのうち、特定のパッド4
aをはんだプリコート層8で被覆する。はんだプリコー
ト層8で被覆されたパッド4a以外のパッド4b上にク
リームはんだ9を供給する。はんだプリコート層8で被
覆されたパッド4a上にフラックス性接着剤としてのボ
ンドフラックス15を供給する。その後、QFP1を搭
載し、加熱することによってはんだペースト9及びはん
だプリコート層8を溶融する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、狭ピッチ部品を実装す
るためのパッド列を有する基板上にはんだを介して、例
えばQFP(クアッド・フラット・ガルウィングリーデ
ッド・パッケージ)等のような狭ピッチ部品を表面実装
する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の小型化や高性能化に伴
って、QFP等やチップ抵抗等のような部品、いわゆる
SMD(Surface Mount Device)を配線基板に表面実装
することが盛んに行われている。即ち、上記のような表
面実装方式には、ピン挿入実装方式と比べて高密度化に
適するという利点があるからである。また、最近におい
ては基板上の実装密度をさらに高めることを目的とし
て、特にQFP等のような能動部品の狭ピッチ化及びそ
れに伴う多ピン化が進められている。そして、このよう
な狭ピッチ部品をいかに正確にかつ確実に実装できるか
否かが、電子機器を製造する工程での一つの大きな課題
となっている。
【0003】ここで、QFPを基板上に表面実装する方
法の一例を紹介する。基板上には、1つのQFPに対応
して4つのパッド列が形成される。前記4つのパッド列
を構成しているパッドの数は、表面実装されるべきQF
Pのリードの数と同一になっている。これらのパッドを
あらかじめはんだで被覆する。はんだによる被覆の方法
としては、例えばめっき法や印刷法などがある。次に、
被覆されたパッド上に、ディスペンス法などによってフ
ラックス性接着剤を塗布する。フラックス性接着剤と
は、通常の液状のフラックスよりも若干粘性の高い(粘
度が数百cps の)フラックスをいう。次に、位置決めを
しながら基板上にQFPを搭載する。このとき、QFP
のリードはフラックス性接着剤の粘着力によってパッド
上に仮固定される。最後にリフローソルダリングによる
はんだ付けを行って、QFPのリードとパッドとを接合
する。以上の手順を経ると、基板上にQFPが表面実装
された状態となる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来のフラッ
クス性接着剤の粘着力の場合、パッド上にリードを保持
させる力が不十分であるという問題があった。このた
め、例えば部品搭載機の基板固定解除時の振動や、部品
搭載機からはんだ付け装置までの移送時の振動によっ
て、QFPの仮固定位置にずれが生じやすかった。
【0005】そして、このような位置ずれに起因する不
具合は、QFPのリードが狭ピッチになるほど顕著にな
る傾向があった。それゆえ、0.5mm以下、さらには
0.3mm以下の極めて狭ピッチなQFPを用いた場合に
は、実装不良の多発によって歩留りが低下してしまうと
いう問題があった。
【0006】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
であり、第1の目的は、狭ピッチ部品を基板上に正確に
かつ確実に表面実装することができる狭ピッチ部品の表
面実装方法を提供することにある。また、本発明の第2
の目的は、はんだブリッジによるパッド間のショートを
未然に回避することができる狭ピッチ部品の表面実装方
法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1に記載の発明では、狭ピッチ部品を実装
するためのパッド列を有する基板上に、はんだを介して
狭ピッチ部品を表面実装する方法において、前記パッド
列を構成しているパッドのうち特定のパッド、及び前記
特定のパッドに対応する前記狭ピッチ部品の外部接続端
子の少なくとも一方をはんだで被覆し、前記特定のパッ
ド以外のパッド上にクリームはんだを供給し、かつ前記
特定のパッド及び前記外部接続端子の少なくとも一方の
上に高粘性フラックス性接着剤を供給した状態で、前記
狭ピッチ部品の各外部接続端子を各パッド上に位置決め
しつつ仮固定した後、加熱によって前記クリームはんだ
及び前記はんだを溶融する狭ピッチ部品の表面実装方法
をその要旨としている。
【0008】また、請求項2に記載の発明では、請求項
1に記載の発明において、前記クリームはんだを、隣接
していない少なくとも2つのパッド上に供給したことを
その要旨としている。さらに、請求項3に記載の発明で
は、請求項1に記載の発明において、前記パッド列を、
4つの側面全てにリードを持つ狭ピッチ部品を表面実装
するためのパッド列とし、前記クリームはんだを、各パ
ッド列を構成しているパッドのうち最も外側に位置して
いるパッド上に供給したことをその要旨としている。
【0009】
【作用】請求項1に記載の発明によると、狭ピッチ部品
の外部接続端子が、フラックス性接着剤の粘着力ばかり
なく、クリームはんだの粘着力によっても保持される。
従って、基板を部品搭載機からはんだ付け装置に移送す
るまでの間に、同基板が多少の振動を受けたとしても、
仮固定された狭ピッチ部品に位置ずれが起こりにくくな
る。
【0010】請求項2に記載の発明によると、狭ピッチ
部品の位置ずれ低減が図られることに加え、クリームは
んだを供給すべきパッド同士が離間することになるた
め、はんだブリッジが起こりにくくなる。
【0011】特に請求項3に記載の発明によると、クリ
ームはんだによって保持されるリードが全ての側面にあ
ることから、狭ピッチ部品が4方向から確実に固定され
た状態となり、位置ずれがよりいっそう起こりにくくな
る。また、クリームはんだが供給されるパッドがパッド
列の最も外側に位置しているため、はんだブリッジがよ
りいっそう起こりにくくなる。
【0012】
【実施例】
〔実施例1〕以下、本発明をプリント配線板上への狭ピ
ッチ部品の表面実装方法に具体化した実施例1を図1〜
図8に基づき詳細に説明する。
【0013】実施例1では、実装されるべき狭ピッチ部
品として、0.3mmピッチのプラスティック製のQFP
1が選択されている。このQFP1は、その4つの側面
全てに外部接続端子としてのリード2a,2bを有して
いる。リード2a,2bの総数は512本である。リー
ド2a,2bの形状は、図7,図8に示されるようにガ
ルウィング状である。なお、前記QFP1は、図面作成
の便宜上、いくぶん省略された形で図示されている。
【0014】図1には、QFP1を実装するための基板
としてのプリント配線板3が示されている。このプリン
ト配線板3は、樹脂製基材の片側面のみに各種のパッド
4a,4b,6を有する、いわゆる片面板である。ま
た、このプリント配線板3は、4つのパッド列4を一単
位とするQFP1搭載領域を有している。QFP1を表
面実装するためのパッド列4を構成しているパッド4
a,4bは、QFP1の側面から突出する各リード2
a,2bの位置に対応するように配置されている。従っ
て、実施例1においては、1つのパッド列4を構成して
いるパッド4a,4bの数が、QFP1の1つの側面が
備えているリード2a,2bの本数と同一(即ち128
個)になっている。
【0015】パッド列4を構成するパッド4a,4b
は、実施例1の場合、いずれも長さ1.0mm×幅0.1
8mmである。また、パッド4a,4b間の距離は0.1
2μmであり、パッド4a,4bのピッチは0.3mmで
ある。
【0016】プリント配線板3には、上記のようなパッ
ド4a,4bのほかに、受動部品であるチップ抵抗5を
表面実装するためのパッド6も形成されている。前記パ
ッド6は、チップ抵抗5の外部接続端子としての電極7
に対応して、2個を一単位として設けられている。ま
た、前記パッド6の面積は、パッド列4を構成するパッ
ド4a,4bの面積よりも大きくなっている。パッド6
間の距離についても同様に、パッド列4を構成するパッ
ド4a,4b間の距離よりも大きくなっている。なお、
同プリント配線板3上には、図示しない他の一般汎用部
品(例えば広ピッチのSOP[Single Outline Package]
等)用のパッドも形成されている。そして、前記プリン
ト配線板3上には図示しない配線パターンが形成されて
いる。
【0017】次に、プリント配線板3上にQFP1を表
面実装するときの手順について説明する。まず、図3に
示されるように、パッド列4を構成しているパッド4
a,4bのうちの特定のパッド4a、即ちパッド列4の
最も外側に位置しているパッド4bを除く全てのパッド
4aのみをはんだ8で被覆する(はんだプリコート)。
以下、上記のようにして形成されるはんだ8を、説明の
便宜上、はんだプリコート層8と呼ぶことにする。
【0018】はんだプリコート層8は、例えばスクリー
ン印刷法、ステンシル印刷法、めっき法、ディスペンス
法などの従来公知の塗布方法に準じて含鉛・含錫ペース
トをパッド4a上に供給した後に加熱することによって
形成される。ここで含鉛・含錫ペーストとは、クリーム
はんだのような鉛錫合金を含むペーストに限らず、有機
酸鉛と錫とを含むペースト等も指している。
【0019】実施例1では、前記含鉛・含錫ペーストと
して、450000cps 〜500000cps という高粘
度のクリームはんだ(タムラ製作所社製,商品名:SQ
−1030SZH−1)9が使用されている。このクリ
ームはんだ9は、合金組成が63Sn/37Pb、融点
が183℃、フラックスの含有量が10重量%、はんだ
粒の粒度が38μm〜45μm、はんだ粒の形状が球形
という性状を有している。また、このクリームはんだ9
は、連続印刷したときの版抜け性にも優れたものであ
る。
【0020】また、実施例1では、ステンシル印刷法で
クリームはんだ9を印刷した後に近赤外線リフロー炉で
リフローさせる、という方法がはんだプリコート層8を
形成する方法として採用されている。この印刷法では、
例えばステンレス製、りん青銅、ニッケル等の金属から
なり約50μm〜150μm程度の厚さを持つメタルマ
スク10が使用される。前記メタルマスク10は、図2
に示されるように、ペースト供給用の開口部11を多数
備えたものである。実施例1で使用されるはんだプリコ
ート層8形成用のメタルマスク10では、パッド4aと
ほぼ同面積をした開口部11が個々のパッド4aの位置
に対応するように設けられている。メタルマスク10上
に供給されたクリームはんだ9は、スキージで押し込ま
れることによってプリント配線板3の表面に転写され
る。
【0021】リフロー後におけるはんだプリコート層8
の厚さは50μm〜150μm、特には70μm〜10
0μm程度であることが好ましい。その理由は、はんだ
プリコート層8が薄くなりすぎると、はんだフィレット
が充分に形成されず、接続信頼性が悪くなるおそれがあ
るからである。一方、はんだプリコート層8が厚くなり
すぎると、はんだブリッジの発生によって、隣接するパ
ッド4a間でショートが起こりやすくなるおそれがある
からである。なお、リフロー工程を経ることによってク
リームはんだ9中のフラックス成分が揮発することか
ら、通常は設定厚みよりもいくぶん厚くクリームはんだ
9が印刷される。
【0022】次に、図5に示されるように、前記特定の
パッド4a以外のパッド4b、即ちパッド列4の最も外
側に位置しているパッド4b上に前記クリームはんだ9
を供給する。この場合の供給方法としては、前述したよ
うなスクリーン印刷法、ステンシル印刷法、ディスペン
ス法などの従来公知の塗布方法がある。実施例1では、
基本的にははんだプリコート層8を形成するときと同じ
く、ステンシル印刷法がクリームはんだ9を印刷する方
法として採用されている。
【0023】図4には、この工程において使用されるメ
タルマスク12が示されている。このメタルマスク12
の裏面側であって前記はんだプリコート層8が形成され
たパッド4aにあたる部分には、ハーフエッチ部13が
形成されている。このハーフエッチ部13があることに
よって、先に形成されたはんだプリコート層8がメタル
マスク12の裏面によって潰されないようになってい
る。また、ペースト供給用の開口部14は、はんだプリ
コート層8が形成されたパッド4a以外のパッド4b,
6の位置に対応するように設けられている。さらに、パ
ッド列4の最も外側に位置しているパッド4bに対応す
る開口部14の面積は、同パッド4bの面積よりも若干
小さめ(70%前後)になっている。これは、あらかじ
め印刷量を少なく設定することによって、はんだブリッ
ジの発生を未然に防止するためである。
【0024】クリームはんだ9の印刷厚は100μm〜
200μm、特には130μm〜150μm程度である
ことがよい。その理由は、印刷厚が少なすぎると、仮固
定のときにリード2aを確実に保持できなくなるおそれ
があるからである。また、はんだフィレットが充分に形
成されず、接続信頼性が悪くなるおそれがあるからであ
る。一方、印刷厚が多すぎると、はんだブリッジの発生
によって、前記パッド4bとそれに隣接するパッド4a
との間でショートが起こりやすくなるおそれがあるから
である。
【0025】次に、図6に示されるように、はんだプリ
コート層8が形成されたパッド4a上に、ディスペンス
法によってフラックス性接着剤としてのボンドフラック
ス15を供給する。実施例1では前記条件を満たす高粘
性フラックス性接着剤15として、「MSP510フラ
ックス」(九州松下電器製,粘度6000cps ,描画に
て塗布可能なもの)が使用されている。
【0026】ボンドフラックス15を供給する手段とし
ては、例えばディスペンサがある。前記ディスペンサに
は、ディスペンス性がよいことやダレがないことなどが
要求される。図6に示されるように、実施例1では各パ
ッド4aのほぼ中央部を横切るように一文字にボンドフ
ラックス15が塗布される。
【0027】次に、プリント配線板3を部品搭載機に移
送する。部品搭載機は視覚認識によって装着位置のX−
Y方向及び回転方向の補正を行いながら、正確にかつ迅
速に各部品を搭載する。その結果、図7に示されるよう
に、チップ抵抗5の両電極7がパッド6上に仮固定さ
れ、かつQFP1の各リード2a,2bが各パッド4
a,4b上に仮固定される。
【0028】このとき、まずQFP1以外の表面実装部
品(即ちチップ抵抗5やSOPなど)を搭載し、その後
で狭ピッチ部品であるQFP1を搭載する。このような
順序にしたほうが位置ずれ防止の徹底化を図るうえで好
ましいからである。なお、実装されるQFP1について
は、なるべくリード2a,2bのコプラナリティ精度に
優れたものが選択される。
【0029】次に、QFP1やチップ部品5等が搭載さ
れたプリント配線板3を近赤外線方式のリフロー炉に移
送し、一括リフローソルダリング(100℃〜160℃
で約60秒間のプリヒート,200℃以上で10秒間の
溶融)を実施する。
【0030】すると、クリームはんだ9が溶融しかつは
んだプリコート層8が再溶融する。また、このときの熱
によってボンドフラックス15が揮発する。その結果、
図8に示されるように、QFP1の各リード2a,2b
と各パッド4a,4bとが接合し、チップ抵抗5の両電
極7とパッド6とが接合した状態となる。以上の手順を
経ることにより、QFP1やチップ抵抗5等がプリント
配線板3上に表面実装される。
【0031】さて、実施例1のプリント配線板3上への
QFP1の表面実装方法の作用効果を説明する。この方
法によると、ボンドフラックス15の粘着力ばかりでな
く、クリームはんだ9の粘着力によっても、パッド4
a,4b上にQFP1のリード2a,2bが保持される
ことになる。従って、部品搭載機からリフロー炉に移送
するまでの間にプリント配線板3が多少の振動を受けた
としても、仮固定されたQFP1の位置ずれが起こりに
くい。
【0032】特にこの方法によると、クリームはんだ9
によって保持されるリード2bが複数本あり、しかもそ
れらがQFP1の全ての側面にあることから、QFP1
が4方向から確実に固定された状態となる。よって、Q
FP1の位置ずれが極めて起こりにくくなり、正確な位
置に仮固定された状態でリフローソルダリングを実施す
ることができるようになる。このため、QFP1をプリ
ント配線板3上に正確にかつ確実に表面実装することが
できる。つまり、各リード2a,2bが所定のいパッド
4a,4bに対して確実に接合されることとなる。その
結果、従来に比較して実装不良も少なくなり、歩留りも
向上する。
【0033】また、この方法によると、クリームはんだ
9が供給されたパッド4bどうしが充分に離間している
ため、それらのパッド4b間ではんだブリッジが起こる
ことはない。勿論、このことは同じパッド列4に属して
いるパッド4b間のみならず、属していないパッド4b
間についても同様である。その結果、はんだブリッジに
起因するパッド4b間のショートを未然に回避すること
ができる。
【0034】特にこの方法の場合、パッド列4の最も外
側に位置しているパッド4bにクリームはんだ9を供給
することとしている。この場合、同パッド4bの片側の
みにしかパッド4aが存在していないことから、そのパ
ッド4aとの間ではんだブリッジが発生する確率が極め
て小さくなる。その結果、はんだブリッジに起因するパ
ッド4a,4b間のショートも未然に回避することがで
きる。
【0035】また、実施例1の方法によると、QFP1
の位置ずれ防止が図られることから、次のような利点が
ある。つまり、従来以上の振動にも耐えることができる
ため、例えばコンベア等といった搬送手段の運転速度を
速く設定することができる。ゆえに、表面実装工程全体
の時間短縮化が達成される。
【0036】さらに、実施例1の方法では一括リフロー
ソルダリングを採用しているため、作業効率がよく、し
かもフローソルダリングのときと比較して装置が簡単に
なるという利点がある。また、この方法の場合、クリー
ムはんだ9を供給すべきパッド4bの位置がパッド列4
の最も外側の位置であるため、クリームはんだ9の印刷
も比較的容易である。 〔実施例2〕次に、実施例2のプリント配線板3上への
QFP1の表面実装方法を図9〜図12に基づいて説明
する。
【0037】実施例2では、基本的には実施例1と同じ
く、パッド4a上へのはんだプリコート層8の形成、パ
ッド4b上へのクリームはんだ9の供給、ボンドフラッ
クス15の供給、チップ部品5やQFP1等の搭載、リ
フローソルダリングの順で表面実装が行われる。ここで
は実施例1との相違点を中心に説明する。
【0038】実施例2のプリント配線板20では、図9
に示されるように、パッド列4を構成するパッド4a,
4bのうち、最も外側に位置しているパッド4bが他の
パッド4aに比べて若干幅広になっている。
【0039】まず、このプリント配線板20に設けられ
たパッド4a上に、はんだプリコート層8を形成する。
実施例2では、実施例1のステンシル印刷法に代えて、
析出反応によりはんだをパッド4a上のみに選択的に形
成する方法(以下、単に析出反応法と呼ぶ)を採用して
いる。この方法では、微細錫粉末と有機酸鉛とを主成分
とするペースト21が含鉛・含錫ペースト21として使
用される。前記ペースト21は、ディスペンサ法や印刷
法等に準じて塗布された後、所定温度に加熱される。そ
の結果、ペースト21中の微細錫粉末と有機酸鉛との置
換反応による金属鉛の析出、さらに微細錫粉末内への金
属鉛の拡散によって、はんだ合金が形成される。この析
出反応法の利点は、工程が容易であること、膜厚が安定
していること等である。
【0040】なお、実施例2においては、具体的には前
記ペースト21として「スーパーソルダーFCタイプコ
ート(商品名:古河電気工業株式会社製)」が使用され
ている。また、図9に示されるように、このペースト2
1はディスペンサ22によってパッド4a上に供給され
る。実施例2では、前記ペースト21はこのときパッド
列4に沿ってべた塗りされる。この後、リフロー炉での
210℃,2分間の加熱を経てはんだプリコート層8が
形成される。
【0041】次に、チップ部品5用のパッド6等の上面
やその他の一般汎用部品用のパッドの上面に、ステンシ
ル印刷法によってクリームはんだ9を供給する。さら
に、パッド列4の最も外側に位置しているパッド4b上
に、同じくクリームはんだ9を供給する。なお、図10
に示されるように、実施例2においては、パッド4b上
へのクリームはんだ9の供給をディスペンサ23によっ
て個別に行っている。
【0042】次に、はんだプリコート層8が形成された
パッド4a上に、一文字状にボンドフラックス15を供
給する。なお、ここではボンドフラックス15として、
「ファインボンドBF211(商品名,古河電気工業株
式会社製,粘度150000cps )」が使用されてい
る。
【0043】次に、プリント配線板20を部品搭載機に
移送し、そこで各部品を搭載する。すると、図11に示
されるように、チップ抵抗5の電極7がパッド6上に仮
固定され、かつQFP1の各リード2a,2bが各パッ
ド4a,4b上に仮固定される。以下、実施例1の方法
に準じてリフロー炉による一括リフローソルダリングを
行う。すると、クリームはんだ9が溶融し、はんだプリ
コート層8が再溶融する、また、ボンドフラックス15
が熱によって揮発する。その結果、図12に示されるよ
うに、QFP1の各リード2a,2bと各パッド4a,
4bとが接合し、チップ抵抗5の電極7とパッド6とが
接合した状態となる。以上の手順を経ることによって、
QFP1やチップ抵抗5等がプリント配線板20上に表
面実装される。
【0044】上記のような実施例2のプリント配線板2
0へのQFP1の表面実装方法であっても、実施例1の
ときと同様の作用効果を得ることができる。即ち、位
置ずれ防止の達成による正確かつ確実な表面実装の実
現、それに伴う実装不良の減少及び歩留り向上、パッ
ド4a,4b間やパッド4a同士の間でのはんだブリッ
ジの防止によるショートの未然回避、搬送高速化が許
容されることによる表面実装工程全体の時間短縮化など
である。
【0045】そして、実施例2によると、実施例1のと
きよりも高粘度のボンドフラックス15が使用されてい
ることから、パッド4a上にリード2aがより確実に保
持され、仮固定がいっそう確実になるという利点があ
る。 〔実施例3〕次に、実施例3のプリント配線板3上への
QFP1の表面実装方法を図13,図14に基づいて説
明する。
【0046】実施例3は、はんだプリコート層8の形
成、パッド4b上へのクリームはんだ9の供給、ボンド
フラックス15の供給、チップ部品5やQFP1等の搭
載、リフローソルダリングの順で表面実装を行う点が、
実施例1と共通する。
【0047】ただし、図13に示されるように、パッド
4a上ではなくQFP1のリード(即ち最も外側に位置
するリード2b以外のリード)2aの先端部にはんだプ
リコート層8が形成される。この点が実施例1との大き
な相違点になっている。
【0048】リード2aの先端部にはんだプリコート層
8を形成する方法としては、例えば前記リード2bのみ
をレジストで保護した状態で、リード2aへのはんだめ
っきを実施するという方法がある。その他にも、リード
フレームの状態でリード2aの先端部に所定のマスクを
配置してクリームはんだを印刷し、リードフォーミング
後に加熱溶融するという方法がある。また、リード2a
の先端部にはんだリボンを当てておき、レーザー光の照
射によってはんだリボンを溶融するという方法もある。
これらの方法を行う場合、はんだプリコート層8の厚さ
を70μm〜100μm程度にすることが好ましい。そ
の理由は、実施例1において詳述した通りである。
【0049】この後、実施例1の手順に準じてパッド4
b上へのクリームはんだ9の塗布、パッド4a上へのボ
ンドフラックス15の供給を行う。そして、プリント配
線板3を部品搭載機に流動し、QFP1の搭載を行う。
その結果、図14に示されるように、QFP1の各リー
ド2a,2bが各パッド4a,4b上に仮固定される。
つまり、この実施例3の場合、最も外側に位置している
リード2bがクリームはんだ9の粘着力によって保持さ
れ、それ以外のリード2aがボンドフラックス15の粘
着力によって保持される。この後、リフロー炉での一括
リフローソルダリングを経て、各リード2a,2bと各
パッド4a,4bとが接合される。
【0050】上記のような実施例3のプリント配線板3
へのQFP1の表面実装方法であっても、実施例2のと
きと同じく〜ような作用効果を得ることができる。
即ち、表面実装の実現とそれに伴う実装不良の減少及
び歩留り向上、はんだブリッジの防止によるショート
の未然回避、搬送高速化による表面実装工程全体の時
間短縮化などである。
【0051】特に、実施例3によると、はんだプリコー
ト層8をプリント配線板3上に印刷するための精緻なメ
タルマスク10が不要になる。このため、メタルマスク
10を作製する手間が省かれる分だけ、作業性が向上し
かつ低コスト化も達成される。
【0052】なお、本発明は上記実施例1〜3のみに限
定されることはなく、次のように変更することが可能で
ある。例えば、 (1) はんだプリコート層8の形成、パッド4b上へ
のはんだペースト9の供給、ボンドフラックス15の供
給、チップ部品5やQFP1等の搭載、加熱による溶
融、という工程の順序を変更することも可能である。例
えば、ボンドフラックス15の供給をパッド4b上への
はんだペースト9の供給以前に実施してもよい。
【0053】(2) 最も外側に位置しているパッド4
b上にクリームはんだ9を供給する仕方としては、例え
ば次のようなものがある。図15(a)に示される別例
1では、クリームはんだ9をパッド4bのほぼ中央部に
線状に供給する方法を採っている。図15(b)に示さ
れる別例2では、クリームはんだ9をパッド4bの外側
寄りの位置に線状に供給する方法を採っている。そし
て、図15(c)に示される別例3では、クリームはん
だ9をパッド4bのほぼ中央部にドット状に供給する方
法を採っている。
【0054】(3) 図16(a)に示される別例4の
ように、隣接するパッド25上にクリームはんだ9を供
給することとしてもよい。この別例4の場合、他のパッ
ド(即ち特定のパッド)24に比較して、前記両パッド
(即ち特定のパッド24以外のパッド)25は若干細長
くなっている。つまり、これらのパッド25は、先端に
いわばはんだ逃がし部26を備えていることになる。こ
のようにすれば、クリームはんだ9が供給された両パッ
ド25間に、はんだブリッジが形成されることもない。
また、図16(b)に示される別例5のように、略円形
状のはんだ逃がし部28を備えたパッド27上にクリー
ムはんだ9を供給することとしてもよい。勿論、はんだ
逃がし部26,28の形状は、上記のものに限定される
わけではない。
【0055】(4) 実施例1〜4において実施した一
括リフローソルダリングに代えて、個別はんだ付け法を
行ってもよい。個別はんだ付けの手段としては、例えば
ヒートツール等を用いた接触個別実装、レーザーや光ビ
ーム等を用いた非接触個別実装がある。個別はんだ付け
法は、例えばリードピッチが0.2mm以下のQFP1を
表面実装するときなどに有効な方法である。
【0056】(5) 実施例3において、リード2a及
びパッド4aの両方に対してはんだプリコート層8を形
成するという方法を採ってもよい。この方法であると、
リード2aまたはパッド4aのいずれかのみにはんだプ
リコート層8を形成するときに比較して、はんだプリコ
ート層8を薄くすることできる。
【0057】(6) 実施例1等において実施したリフ
ロー法(近赤外線法)に代えて、例えば熱風法、遠赤外
線法、もしくはこれらを組み合せた方法、またはVPS
(Vapor Phase Soldering )法などを採用してもよい。
【0058】(7) はんだプリコート層8が形成され
たパッド4a上にボンドフラックス15を供給する際、
ボンドフラックス15が特定のパッド4a以外のパッド
4bを覆っても特に差し支えはない。ボンドフラックス
15はリフロー時の熱によって揮発してしまうからであ
る。
【0059】(8) 実施例1において、はんだプリコ
ート層8形成用のメタルマスク10の開口部11に代
え、例えば一文字印刷を行うための細長いスリット状の
開口部にしてもよい。なお、パッド4bを避けてパッド
4aのみに印刷をしたい場合、開口部両端の幅のみを若
干広くしておけばよい。このようにすれば、パッド4b
に隣接しているパッド4a上にも確実にかつ容易にはん
だペースト9を印刷することができる。
【0060】(9) パッド4a,4b,6等の酸化防
止という観点から考えると、一括リフローソルダリング
を空気中で実施するよりも、不活性雰囲気中(例えば窒
素雰囲気中)で実施することが好ましい。
【0061】(10) QFP1を搭載するとき、ボン
ドフラックス15をリード2a側に塗布することとして
もよい。勿論、リード2a側及びパッド4a側の両方に
塗布することとしてもよい。
【0062】ここで、特許請求の範囲に記載された技術
的思想のほかに、前述した各実施例及び別例によって把
握される技術的思想をその効果とともに以下に列挙す
る。 (1) 請求項1,2のいずれかに記載の発明におい
て、クリームはんだ9が供給されるべきパッド4bは異
なるパッド列4に属していること。この方法であると、
位置ずれがよりいっそう起こりにくくなる。
【0063】(2) 請求項1〜3、技術的思想1のい
ずれかにおいて、クリームはんだ9の供給をディスペン
ス法によって行うこと。この方法であると、印刷用のメ
タルマスクが不要になる分だけ作業性が向上する。
【0064】(3) 請求項1〜3、技術的思想1,2
のいずれかにおいて、加熱によるクリームはんだ9の溶
融及びはんだプリコート層8の再溶融を一括リフローソ
ルダリングで行うこと。この方法であると、作業効率化
及び装置の簡略化を図ることができる。
【0065】(4) 請求項1〜3、技術的思想1〜3
のいずれかにおいて、パッド列4の最も外側に位置して
いるパッド4bは他のパッド4aよりも幅広であるこ
と。このようにすると、はんだブリッジ防止効果が高く
なる。
【0066】なお、本明細書中において使用した用語
,を次のように定義する。 「狭ピッチ部品:例えばQFP(Quad Flat Gull-Wing
Leaded Package),QFL(Quad Flat L-Leaded Packag
e),QFN(Quad Flat Non-Leaded Package),QTCP
(Quad Tape Carrier Package) 等のように4つの側面全
てに外部接続端子を持つパッケージや、例えばBGA(B
ump Grid Array) ,LGA(Land Grid Array) ,表面実
装型のPGA(Pin Grid Array)等のように底面に外部接
続端子を持つパッケージや、USOP(Ultra Small Out
-line Package),TSOP(ThinSmall Out-line Packag
e) ,SVP(Surface Vertical Package)等のようなパ
ッケージ等をいい、さらにプラスティック、金属、セラ
ミックス、ガラスまたはこれらの複合材料からなる部品
をいう。なお、ここでいう狭ピッチとは通常は0.5mm
以下、特には0.3mm以下のものをいう。」 「パッド列:QFPなどのリード等を接合するための
導体部分として一列状や千鳥状に配列されたパッド集合
体のほか、BGAなどのバンプ等を接合するための導体
部分として群状に配置されたパッド集合体もいう。」
【0067】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1に記載の
発明によれば、仮固定された狭ピッチ部品に位置ずれが
起こりにくくなるため、狭ピッチ部品を基板上に正確に
かつ確実に表面実装することができる。
【0068】請求項2,3に記載の発明によれば、位置
ずれが極めて起こりにくいことに加え、クリームはんだ
を供給すべきパッド同士を離間させたことによりはんだ
ブリッジによるパッド間のショートを未然に回避するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を具体化した実施例1において、QFP
が表面実装される前のプリント配線板を示す部分概略平
面図である。
【図2】同じく、はんだプリコート層形成前のプリント
配線板とメタルマスクとを示す部分概略斜視図である。
【図3】同じく、パッド上にはんだプリコート層を形成
した状態を示す部分概略断面図である。
【図4】同じく、クリームはんだ印刷前のプリント配線
板とメタルマスクとを示す部分概略斜視図である。
【図5】同じく、最も外側に位置しているパッド上にク
リームはんだを印刷した状態を示す部分概略断面図であ
る。
【図6】同じく、はんだプリコート層が形成されたパッ
ド上にボンドフラックスを供給した状態を示す部分概略
断面図である。
【図7】同じく、チップ部品やQFPを搭載した状態を
示す部分概略断面図である。
【図8】同じく、一括リフローソルダリング後の状態を
示す部分概略断面図である。
【図9】実施例2において、はんだプリコート層形成用
のペーストを供給しているところを示す部分概略斜視図
である。
【図10】同じく、最も外側に位置しているパッド上に
クリームはんだを供給しているところを示す部分概略斜
視図である。
【図11】同じく、チップ部品やQFPを搭載した状態
を示す部分概略断面図である。
【図12】同じく、一括リフローソルダリング後の状態
を示す部分概略断面図である。
【図13】実施例3において、はんだプリコート層が形
成されたQFPと、パッド上にクリームはんだが供給さ
れたプリント配線板とを示す部分概略断面図である。
【図14】同じく、一括リフローソルダリング後の状態
を示す部分概略断面図である。
【図15】(a)〜(c)は、別例1〜3におけるクリ
ームはんだの供給の仕方を説明するための部分概略平面
図である。
【図16】(a),(b)は、別例4,5におけるパッ
ドの形状を示す部分概略平面図である。
【符号の説明】
1…狭ピッチ部品としてのQFP、2a,2b…外部接
続端子としてのリード、3,20…基板としてのプリン
ト配線板、4…パッド列、4a,24…(特定の)パッ
ド、4b,25,27…(特定のパッド以外の)パッ
ド、8…はんだとしてのはんだプリコート層、9…クリ
ームはんだ、15…フラックス性接着剤としてのボンド
フラックス。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】狭ピッチ部品を実装するためのパッド列を
    有する基板上に、はんだを介して狭ピッチ部品を表面実
    装する方法において、 前記パッド列を構成しているパッドのうち特定のパッ
    ド、及び前記特定のパッドに対応する前記狭ピッチ部品
    の外部接続端子の少なくとも一方をはんだで被覆し、前
    記特定のパッド以外のパッド上にクリームはんだを供給
    し、かつ前記特定のパッド及び前記外部接続端子の少な
    くとも一方の上にフラックス性接着剤を供給した状態
    で、前記狭ピッチ部品の各外部接続端子を各パッド上に
    位置決めしつつ仮固定した後、加熱によって前記クリー
    ムはんだ及び前記はんだを溶融する狭ピッチ部品の表面
    実装方法。
  2. 【請求項2】前記クリームはんだは、隣接していない少
    なくとも2つのパッド上に供給される請求項1に記載の
    狭ピッチ部品の表面実装方法。
  3. 【請求項3】前記パッド列は、4つの側面全てにリード
    を持つ狭ピッチ部品を表面実装するためのパッド列であ
    り、前記クリームはんだは、各パッド列を構成している
    パッドのうち最も外側に位置しているパッド上に供給さ
    れる請求項2に記載の狭ピッチ部品の表面実装方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10224027A (ja) * 1997-02-04 1998-08-21 Denso Corp 半導体装置の製造方法
JPH11121915A (ja) * 1997-10-08 1999-04-30 Tdk Corp 電子部品の実装方法及び電子部品実装用フラックス
KR100488222B1 (ko) * 2001-06-01 2005-05-10 닛뽕덴끼 가부시끼가이샤 실장 구조체의 제조 방법, 실장 구조체, 및 금속 마스크
JP2023163663A (ja) * 2022-04-28 2023-11-10 パナソニックIpマネジメント株式会社 半田フラックスおよび電子部品実装基板の製造方法

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