JPH0723940B2

JPH0723940B2 - 液晶投射形デイスプレイの書込み位置補正装置

Info

Publication number: JPH0723940B2
Application number: JP60049441A
Authority: JP
Inventors: 忠彦橋本; 昇梓沢; 哲也長山; 一郎勝山
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1985-03-14
Filing date: 1985-03-14
Publication date: 1995-03-15
Anticipated expiration: 2010-03-15
Also published as: JPS61209424A

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の利用分野〕本発明は液晶投射形デイスプレイの書込み位置補正装置
に係り、特に高分解能を要求されるレーザビーム照射に
より図形等を書き込む制御方式に好適な液晶投射形デイ
スプレイの書込み位置補正装置に関する。

〔発明の背景〕

従来の液晶投射形デイスプレイ（投映形液晶表示装置）
のレーザビーム書込み方式については、たとえば経営シ
ステム研究所発行「デイスプレイの先端技術集成（第２
版）」昭59.1.15,p.351〜356,第４章の「投映形液晶表
示装置」（ａ）レーザビーム書込み方式に記載のよう
に、図形等を書込むためのレーザビームの光軸を制御す
る光軸制御器としてのＹ軸,Y軸用ガルバノミラーの機能
については知られている。このレーザビーム書込み方式
は光軸制御器であるＸ軸,Y軸用ガルバノミラーによりレ
ーザビームの光軸を制御して２次元に走査し、メモリ機
能を有する液晶素子に図形等を書込むもので、表示中の
線分等を消去するには同一線分等を再照射する必要があ
る。しかしながら従来の書込み方式では光軸制御器をな
すＹ軸,Y軸用ガルバノミラーの経年ドリフトや長時間連
続運転時の電気的および機械的なドリフト等の影響につ
いては考慮されていないため、この種のレーザビーム書
込み方式による液晶投射形デイスプレイの実用化のさ
い、光軸制御器のドリフトにより表示図形等の歪みや書
き込んだ線分等を消去する時の消去もれが発生するなど
の問題点があつた。

〔発明の目的〕

本発明の目的は上記した従来技術の問題点を解決し、光
軸制御器のドリフトを自動補正して高分解能で高精度の
レーザビーム書込みを可能にする液晶投射形デイスプレ
イの書込み位置補正装置を提供するにある。

〔発明の概要〕

本発明は液晶投射形デイスプレイのレーザビーム書込み
方式において、レーザビームの照射位置を位置検出器に
より検出してレーザビームの光軸制御器を補正する液晶
投射形デイスプレイの書込み位置補正装置であつて、好
ましくは十字方向にスリツトを設けた位置検出器等を液
晶素子のレーザビーム照射面と同一平面内等の対応位置
に配置し、該位置検出器上に正方形の軌跡等を描くよう
にレーザビームを照射し、上記スリツトを通過したレー
ザビームの照射位置等を検出して、レーザビームの上下
左右方向の移動ずれおよび回転ずれを算出し、光軸制御
器を自動補正することによりレーザビームの照射位置を
補正するようにした液晶投射形デイスプレイの書込み位
置補正装置である。

〔発明の実施例〕

以下に本発明の実施例を第１図ないし第13図により説明
する。

まず第１図は本発明による液晶投射形デイスプレイの書
込み位置補正方式の一実施例を示す全体構成ブロツク図
である。第１図において、１は書込み制御部で、２はそ
のレーザビームを発生するレーザ、３はレーザビームの
光軸を制御して２次元に走査する光軸制御器、４はレー
ザ２より発するレーザビームの光量および光軸制御器３
から出るレーザビームの光軸の２次元位置（角度）を制
御する書込み制御回路である。５はスメクチツクＡ相液
晶の熱電気光学効果を利用したレーザビーム照射により
透明度の変化する液晶素子である。６は投射光学部で、
７はその液晶素子５へ投射用の光を与える光源、８はレ
ンズ、９はハーフミラー、10は液晶素子５からの反射光
を拡大する投射レンズ、11はスクリーンである。12は書
込み制御回路４への図形等作成上の制御データおよび液
晶素子５への図形等作成上の電圧データを作成するスク
リーンコントローラである。13は本発明により液晶素子
５のレーザビーム照射面と同一平面上に配置してレーザ
ビーム照射によりその位置を検出し該位置情報をスクリ
ーンコントローラ12に与えることにより光軸制御器３の
位置ずれを補正する位置検出器である。この構成で、ス
クリーンコントローラ12の指令により、書込み制御部１
の書込み制御回路４によりレーザ２から発するレーザビ
ームの光量を制御するとともに、書込み制御回路４によ
り光軸制御器３から出るレーザビームの２次元位置（角
度）を制御することにより、光軸制御器３を介してレー
ザビームの光軸をＸ−Ｙ軸の２次元に走査し、該レーザ
ビーム照射によりスメクチツクＡ相液晶の熱電気光学効
果を利用した液晶素子５に図形等を書き込んで記憶す
る。なお該液晶素子の構造および書込み原理の詳細につ
いては上記公知例にあげた文献のp.351〜352等に述べら
れている。一方の投射光学部６の光源７からの投射用の
光はレンズ８により平行光線となつてハーフミラー９に
よりその1/2の光量が液晶素子５に与えられ、該液晶素
子５に与えられた光は上記書込み制御部１で光軸制御器
３からのレーザビーム照射により書き込まれた図形（線
分）等以外の部分だけから反射し、再びハーフミラー９
を通過してから投射レンズ10を通して拡大されスクリー
ン11に投射される。ここで液晶素子５より反射してくる
２次元の光束は液晶素子５に書き込まれた図形等を示す
光束であり、この図形等を示す光束が投射レンズ10によ
り拡大されてスクリーン11上に図形等の像を結び、これ
に書込制御部１で液晶素子５に書き込んだ図形等を表示
する。なお本発明による位置検出器13の動作については
次に説明する。

第２図は第１図の本発明による位置検出器13を含むレー
ザビーム光学系の基本構成斜視図である。第２図におい
て、第１図と同一符号は以下各図面を通じて同一または
相当部分を示すものとし、14は光軸制御器３を構成する
Ｙ軸用ガルバノミラー、15は同じくＸ軸用ガルバノミラ
ーである。この構成で、レーザ（発振器）２より発する
レーザビームはＹ軸用ガルバノミラー14およびＸ軸用ガ
ルバノミラー15から構成される光軸制御器３に入射さ
れ、このＹ軸,X軸用の２個のガルバノミラー14,15をそ
れぞれ矢印方向に回転させることにより、レーザビーム
の光軸を制御してＸ−Ｙ軸の２次元に走査し、このレー
ザビーム照射により液晶素子５上に図形（線分）等を書
き込んで行く。しかしながら光軸制御器３のＹ軸,X軸用
ガルバノミラー14,15は長時間の連続運転を行なうとき
などにドリフトを発生し、これによりレーザビーム照射
位置に位置ずれを生じて図形等を歪ませる。また液晶素
子５上に照射するレーザビーム・スポツト径は数μｍ程
度で非常に小さく、かつ液晶素子５に書き込んだ線分の
一部を消去するには該書き込んだ線分上を再度照射する
必要があるが、もし完全に同一線分上を照射できずに走
査した場合には液晶素子５上に線分が消去できないで残
つてしまう。そこでこれらを防止するため、本発明によ
れば液晶素子５と同一平面上に設置した位置検出器13に
レーザビームを照射して該レーザビームの照射位置を検
出することにより、該位置情報をフイードバツクして光
軸制御器３のＹ軸,X軸用ガルバノミラー14,15のドリフ
トによる位置ずれを補正する。

第３図（ａ），（ｂ），（ｃ）は第１図および第２図の
位置検出器13のそれぞれ構成斜視図、平面図、レーザビ
ーム照射平面図である。第３図（ａ）において、16は位
置検出器13を構成する位置センサ板（位置検出素子）、
17は同じくその前面に配置される数μｍ程度の４本のス
リツトを設けたレーザビーム遮蔽板である。第３図
（ｂ）において、レーザビーム遮蔽板17の４本のスリツ
トを実線で示し、その位置関係は中心より十字方向（Ｘ
−Ｙの４方向）にある。また第３図（ｃ）において、レ
ーザビームの位置ずれ（ドリフト）がない場合に位置検
出器13のレーザビーム遮蔽板17を照射したときのレーザ
ビームの軌跡を破線で示し、その位置形状は各頂点が４
本のスリツトと交差するような正方形をなす。もしレー
ザビームの位置ずれ（ドリフト）が発生した場合には第
３図（ｃ）の状態にレーザビームの軌跡が戻るように補
正を行なう。また第４図は第３図（ａ）の位置検出器13
の位置センサ板（位置検出素子）16の等価回路図であ
る。第４図において、18はレーザビーム受光面、19はレ
ーザビームを光電流に変換した電流源、20,21はＸ軸位
置検出出力（端子）、22,23はＹ軸位置検出出力（端
子）である。この構成で、レーザビーム受光面18内の一
点に照射されたレーザビームは受光面において光電流に
変換される。この電流源19の光電流はＸ軸位置検出出力
（端子）20,21までの抵抗比およびＹ軸位置検出出力
（端子）22,23までの抵抗比に応じて分配されて、それ
ぞれＸ軸位置検出出力（端子）20,21およびＹ軸位置検
出出力（端子）22,23から取り出すことができ、この電
流値比によりそれぞれレーザビーム照射点のＸ軸および
Ｙ軸の位置を算出することができる。なお位置検出器13
の位置センサ板（位置検出素子）16の構造および検出原
理の詳細については浜松ホトニクス株式会社カタログ
「半導体位置検出素子（PSD）」T84・３・20などに示さ
れている。

第５図は第１図の本発明による位置検出器13を含むレー
ザビーム位置補正制御系の基本構成ブロツク図である。
第５図において、24は位置検出器13の出力をデイジタル
位置情報に変換する位置検出回路である。この構成で、
位置検出器13により検出した位置検出出力を位置検出回
路24を介してデイジタル信号に変換した位置情報25をス
クリーンコントローラ12により読み出し、位置補正のア
ルゴリズムで簡単な補正演算を行ない、補正値を含む位
置指令26により書込み制御回路４を介して光軸制御器に
補正値を含む制御信号27を出力する。第６図は第５図の
位置検出回路24の回路ブロツク図である。第６図におい
て、28はＹ軸位置検出部、29はＸ軸位置検出部、30,31
はＹ軸位置b,d格納レジスタ、32,33はＸ軸位置a,c格納
レジスタ、34はＹ軸データ格納用信号、35はＸ軸データ
格納用信号である。この構成で、位置検出器13の位置セ
ンサ板16にレーザビーム遮蔽板17の４本のスリツトを通
して入射する正方形軌跡（破線矢印で示す）のレーザビ
ームのＹ軸位置b,dおよびＸ軸位置a,cを検出したＹ軸位
置検出出力（端子）22,23およびＸ軸位置検出出力（端
子）20,21の光電流値は位置検出回路24の各Ｙ軸,X軸位
置検出部28,29により各Ｙ軸位置b,d、Ｘ軸位置a,cのデ
ジタル位置情報に変換され、各Ｙ軸,X軸データ格納用信
号34,35により各Ｙ軸位置b,dレジスタ30,31、Ｘ軸位置
a,cレジスタ32,33に格納され、これらの位置情報25をス
クリーンコントローラ12により読み出して次のように位
置補正のアルゴリズムにより補正演算を行なう。

第７図（ａ），（ｂ），（ｃ）は主に第３図の位置検出
器13のレーザビームの位置検出により第５図のスクリー
ンコントローラ12が行なう上下左右方向（Ｘ−Ｙ方向）
の移動ずれの各補正手順説明用平面図である。第７図
（ａ）において、位置検出器13のレーザビーム照射に上
下左右方向の移動ずれおよび回転ずれが発生している場
合が例示され、第３図（ｃ）に実線のスリツトに対応し
て破線で示した位置ずれのない場合の正方形に照射した
レーザビームの軌跡に対し、第７図（ａ）に実線で示す
上下左右方向（Ｘ−Ｙ方向）のスリツトに対応して破線
で示す位置ずれのある場合の正方形に照射したレーザビ
ームの軌跡は上下左右方向および回転方向にずれが発生
している。すなわち正方形の中心はスリツトの中心から
中心位置p₀に移動し、かつ回転角θ_０のずれも発生して
いる。この状態で位置検出器13の位置センサ板16がレー
ザビーム遮蔽板17の４本のスリツトを通してレーザビー
ム照射位置を検出できるのは第７図（ａ）の実線の４本
のスリツトと破線の正方形のレーザビーム軌跡との交点
である点q₀〜q₃の４点である。なおこの４点q₀〜q₃の値
は位置検出器13より位置検出回路24を介しデイジタル位
置情報25としてスクリーンコントローラ12に入力でき
る。スクリーンコントローラ12はこの検出された４点q₀
〜q₃を通つて図の一点鎖線で示す水平・垂直方向の直線
を引いて形成される長方形の中心p₁（p₁x,p₁y）を次式
により求める。

ただし（１）式のq₀〜q₃などは以下同様に点q₀〜q₃など
のＸ−Ｙ座標値を示す。こうして求まつた中心p₁の値
（p₁x,p₁y）＝（Δx,Δｙ）を移動ずれの補正値とし
て、中心p₁がスリツト交点と一致するように書込み制御
回路４を介して光軸制御器３のドリフトを補正する。第
７図（ｂ）において、このようにして移動ずれを補正し
た場合が例示され、この状態で同様にして位置検出され
る４点q₄〜q₇の形成する長方形の中心がスリツト中心と
一致するように移動ずれを補正する。第７図（ｃ）にお
いて、こうしてさらに移動ずれを補正した場合が例示さ
れ、なお状態に応じて移動ずれの補正を繰り返えすこと
により、徐々に一点鎖線の長方形の中心p₁と実線のスリ
ツトの中心とが一致するとともに、破線の正方形のレー
ザビーム軌跡の中心p₀とスリツトの中心も一致するよう
に移動ずれが補正される。この上下左右方向の移動ずれ
の補正が完了したことの判定は次式のように行なう。

ただしΔ_１は微小定数である。

ついで第８図（ａ），（ｂ），（ｃ）は同じく回転ずれ
の各補正手順説明用平面図である。第８図（ａ）におい
て、第７図（ｃ）の上下左右方向の移動ずれの補正が完
了して回転角θ_０の回転ずれが残つている場合が例示さ
れ、同じく実線の上下左右方向（Ｘ−Ｙ方向）のスリツ
トに対応して破線で示す正方形のレーザビーム軌跡は回
転角θ_０だけずれている。この状態で位置検出器13によ
り例えばＹ軸方向のスリツトを通して検出できるレーザ
ビーム照射位置は点r₀,r₁の２点であり、点r₁から点r₀
までのＹ軸の長さをl₁とする。同じく一点鎖線で示す回
転ずれの補正を行なつた後の正方形のレーザビーム軌跡
のＹ軸方向のスリツトを通して検出できるレーザビーム
照射位置は点r₂,r₃であり、点r₂から点r₃までのＹ軸の
長さをl₂とする。すなわち回転ずれの補正の前，後のＹ
軸の長さl₁,l₂は次式で与えられる。

l₁＝r₀−r₁,l₂＝r₂−r₃ ………（３）ただし（３）式でr₀〜r₃は各点r₀〜r₃のＹ座標値であ
る。いま補正前の長さl₁と補正後の長さl₂を比較する
と、第８図（ａ）においては回転ずれの正しい補正が行
なわれている場合が例示され、この正しい補正の場合に
は次の条件式が成立する。

l₁l₂ ………（４）また第８図（ｂ）においては回転ずれの補正が逆方向に
行なわれている場合が例示され、この場合にはl₁＞l₂と
なり（４）式が成立しない。さらに第８図（ｃ）におい
ては回転ずれの補正が第10図（ａ）と同一方向に行なわ
れているが補正をかけすぎた場合が例示され、この場合
にもl₁＞l₂となり（４）式が成立しなくなることを示し
ている。このようにして補正前の長さl₁と補正後の長さ
l₂を比較しつつ、（４）式の条件のl₁l₂が成立してい
る間は繰り返して補正を行ない、l₁l₂が成立しなくな
ると補正を完了する。この回転ずれの補正が完了したこ
との判定は次式のように行なう。

Δ＝l₂−l₁Δmin ………（５）ただしΔminは正の微小定数である。スクリーンコント
ローラ12は位置検出器13で検出され位置検出回路24を介
して変換された位置情報25により、上記の上下左右方向
の移動ずれおよび回転ずれの位置補正アルゴリズムの簡
単な演算を行ないつつ書込み制御回路４を介して光軸制
御器３の補正を完了したのち、液晶素子の上記補正値を
含めた位置指令を出力する。

つぎに第９図は本発明による液晶投射形デイスプレイの
書込み位置補正方式の一実施例を示すレーザビーム光学
系の具体的構成斜視図である。第９図において、36はビ
ームエクスパンダ、37はＹ軸用ガルバノミラー14が取り
付けられるＹ軸ステージ、38はＸ軸用ガルバノミラー15
が取り付けられるＸ軸ステージ、39はｆ−θレンズであ
る。なお、Ｙ軸,X軸用ガルバノミラー14,15には各ガル
バノミラーの制御回路（駆動回路）が実装され、またＹ
軸,X軸ステージ37,38には各ステージの制御回路が実装
されパルスモータが取り付けられていて各Ｙ軸,X軸用ガ
ルバノミラー14,15のミラー軸のずれを補正する機能を
有する。この構成で、レーザ（発振器）２から発したレ
ーザビームはビームエクスパンダ36によりビーム径を拡
大し、光軸制御器３のＹ軸用ガルバノミラー14およびＸ
軸用ガルバノミラー15を経由してＸ−Ｙ方向の２次元に
走査され、ｆ−θレンズ39を介して液晶素子５に照射さ
れる。また第10図は同じくレーザビーム制御系の具体的
構成ブロツク図である。第10図において、40,41は位置
検出回路24を構成する各Ｘ軸,Y軸位置検出回路である。
42,43は書込み制御回路４を構成するD/A変換器、44,45
はパルス発生回路、46,47は駆動用増幅器である。48は
スクリーンコントローラ12を構成するCPU（中央処理装
置）、49はメモリである。この構成で、位置検出器13に
より検出されるレーザビーム照射のＸ軸,Y軸位置に対応
の電流値は各Ｘ軸,Y軸位置検出回路40,41により電圧値
に変換のうえA/D変換されてX,Y座標の位置情報のデイジ
タルデータとしてCPU48に提供される。またＹ軸,X軸用
ガルバノミラー14,15には各ガルバノミラーの制御回路
（駆動回路）が実装されていて、CPU48からの各Ｙ軸,X
軸位置（角度）指令により、該Ｙ軸,X軸位置（角度）指
令を各D/A変換器42,43でアナログ量に変換した出力値と
各Ｙ軸,X軸用ガルバノミラー14,15からのＹ軸,X軸位置
（角度）フイードバツク値との突き合せを行ない、その
偏差値を各Ｙ軸,X軸ガルバノミラー14,15の移動信号と
して各駆動用増幅器46,47で増幅したのち各Ｙ軸,X軸ガ
ルバノミラー14,15に印加して駆動される。さらに各Ｙ
軸,X軸ガルバノミラー14,15のＹ軸,X軸ステージ37,38に
は各ステージの制御回路が実装されパルスモータが取り
付けられていて、CPU48からの各Ｙ軸,X軸指令によりパ
ルス発生回路44,45を介して各Ｙ軸,X軸パルスモータのU
P,DOWNパルスを出力して回転制御を行なうことができ
る。

この制御系における位置ずれ補正のアルゴリズムを次に
説明する。まず第11図は第10図の制御系の上下左右方向
（Ｘ−Ｙ方向）の移動ずれの補正処理フローチヤートで
ある。この上下左右方向の移動ずれはＹ軸,X軸用ガルバ
ノミラー14,15の実装する駆動回路のドリフトにより発
生する。この移動ずれの補正手順については、上記の第
７図で説明したのと同様にして、Ｙ軸,X軸用ガルバノミ
ラー14,15を移動させて位置検出器13上でレーザビーム
を照射して所定の正方形の軌跡を描く。これにより位置
検出器13の４本のスリツトを通して得られる照射位置の
４点q₀〜q₃のデイジタルデータをＸ軸,Y軸位置検出回路
40,41を介してCPU48に取り込む。CPU48内では（１）式
を用いて演算を行ない、逐次に補正値Δｘ＝p₁x,Δｙ＝
p₁yを算出して、現在値に対して加算または減算を行な
い、この加算または減算した値δx,δｙを以後の補正値
（バイアス値）として点p₁をスリツト中心へ移動するこ
とによりレーザビームの正方形の軌跡の中心p₀をスリツ
ト中心へ一致させるように移動ずれの補正を行なう。こ
の移動ずれの補正の完了は（２）式を用いてΔx,Δｙ
Δ_１（定数）により判定する。次に第12図（ａ）および
第13図は同じく回転ずれの補正処理フローチヤート、第
12図（ｂ）は第12図（ａ）の８種類の補正表である。こ
の回転ずれはＹ軸,X軸ガルバノミラー14,15のミラー軸
方向に対する移動であり、Ｙ軸,X軸ガルバノミラー14,1
5の機械系のドリフトにより発生する。この回転ずれの
補正手順については、上記の第８図で説明したのと同様
にして、Ｙ軸,X軸用ガルバノミラー14,15を移動させて
位置検出器13上でレーザビームを照射して所定の正方形
の軌跡を描く。これにより位置検出器13の例えば上下方
向（Ｙ軸方向）の２本のスリツトを通して得られる照射
位置の点r₀,r₁のデイジタルデータをＸ軸,Y軸位置検出
回路40,41を介してCPU48に取り込む。CPU48では（３）
式を用いてＹ軸の長さl₁＝r₀−r₁の値を算出して補正を
行なう。すなわち第12図（ｂ）に表示するようにＸ軸,Y
軸パルスモータへのパルス発生回路44,45のアツプ，ダ
ウンパルスの８種類の組合せの一定数パルスを各々独立
に順次出力して、再びＹ軸,X軸ガルバノミラー14,15を
移動させて位置検出器13上でレーザビーム照射による正
方形の軌跡を描き、そのときのＹ軸上の点r₂,r₃をCPU48
に取り込んで、Δ＝（r₂−r₃）−l₁の値を算出して記憶
する。この８種類の組合せの補正が完了したら、Δ０
の値の最大となる補正効果の最大の種類の組合せを見い
出して、このΔの最大となる組合せのパルス発生回路4
4,45からのパルス数可変のアツプ，ダウンパルスを出力
して補正を行ない、再び位置検出器13上でのレーザビー
ムの正方形の軌跡のＹ軸上の点r₄,r₅をCPU48に取り込ん
で、Δ＝（r₄−r₃）−l₂の値を算出して逐次に回転ずれ
θ_０の補正を行ない、ΔΔminの条件により補正を完
了する。

以上によりＹ軸,X軸ガルバノミラー14,15などを含む光
軸制御器３の電気回路系および機械系のドリフトによる
レーザビーム照射の上下左右方向の移動ずれおよび回転
ずれの位置ずれ補正が可能である。

〔発明の効果〕

以上の説明のように本発明によれば、液晶投射形デイス
プレイの液晶素子にレーザビーム照射により書き込まれ
た図形等の位置ずれによる歪を自動的に補正し、かつ書
き込まれている線分等を消去するさいの消去もれも補償
できるため、高分解能でかつ歪の少ない優れた表示が可
能となる。

また、位置ずれ補正のための位置検出を書込み用と同じ
レーザビームで行なうようにしたので、装置構成を小規
模化することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による液晶投射形デイスプレイの書込み
位置補正装置の一実施例を示す全体構成ブロツク図、第
２図は第１図の本発明による位置検出器13を含むレーザ
ビーム光学系の基本構成斜視図、第３図（ａ），
（ｂ），（ｃ）は第１図および第２図の位置検出器13の
各構成斜視図，平面図，レーザビーム照射平面図、第４
図は第３図（ａ）の位置検出器13の位置センサ板16の等
価回路図、第５図は第１図の本発明による位置検出器13
を含むレーザビーム位置補正制御系の基本構成ブロツク
図、第６図は第５図の位置検出回路24の回路ブロツク
図、第７図（ａ），（ｂ），（ｃ）は本発明による上下
左右方向の移動ずれの各補正手順説明用平面図、第８図
（ａ），（ｂ），（ｃ）は同じく回転ずれの各補正手順
説明用平面図、第９図は本発明による液晶投射形デイス
プレイの書込み位置補正方式の一実施例を示すレーザビ
ーム光学系の具体的構成斜視図、第10図は同じくレーザ
ビーム制御系の具体的構成ブロツク図、第11図は第10図
の上下左右方向の移動ずれの補正処理フローチヤート、
第12図（ａ）および第13図は同じく回転ずれの補正処理
フローチヤート、第12図（ｂ）は第12図（ａ）の８種類
の補正表を示す図である。１……書込み制御部、２……レーザ（発振器）、３……
光軸制御器、４……書込み制御回路、５……液晶素子、
６……投射光学部、７……光源、８……レンズ、９……
ハーフミラー、10……投射レンズ、11……スクリーン、
12……スクリーンコントローラ、13……位置検出器、14
……Ｙ軸用ガルバノミラー、15……Ｘ軸用ガルバノミラ
ー、16……位置センサ板、17……十字方向のスリツトを
もつレーザビーム遮蔽板、20,21……Ｘ軸位置検出出力
（端子）、22,23……Ｙ軸位置検出出力（端子）、24…
…位置検出回路、25……Ｘ軸,Y軸位置情報デイジタルデ
ータ、37,38……ステージ、40……Ｘ軸位置検出回路、4
1……Ｙ軸位置検出回路、42,43……D/A変換器、44,45…
…パルス発生回路、46,47……駆動用増幅器、48……CP
U、49……メモリ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者長山哲也茨城県日立市大みか町５丁目２番１号株式会社日立製作所大みか工場内 (72)発明者勝山一郎茨城県日立市大みか町５丁目２番１号日立プロセスコンピユータエンジニアリング株式会社内 (56)参考文献特開昭51−114143（ＪＰ，Ａ) 特開昭54−58042（ＪＰ，Ａ) 特開昭55−67722（ＪＰ，Ａ) 特開昭56−1018（ＪＰ，Ａ)

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】レーザビームを発生するレーザと、上記レ
ーザビームの光軸を制御する光軸制御器と、上記光軸を
制御されたレーザビームの照射により透明度の変化する
液晶素子と、該透明度の変化する液晶素子に投射用の光
を与える光源と、上記投射用の光を与えた液晶素子から
の光を拡大してスクリーンに投射する投射レンズと、上
記光軸制御器等を制御する書込み制御回路と、該書込み
制御回路等へ制御データを指令するスクリーンコントロ
ーラーとからなる液晶投射形ディスプレイの書き込み位
置補正装置において、上記レーザビームの照射位置を位
置検出手段により検出して上記光軸制御器を補正制御す
る手段を備え、上記位置検出手段は、Ｘ軸及びＹ軸十字
方向にスリットを設けたスリット遮蔽板と、該スリット
遮蔽板上に正方形の軌跡を描くように上記レーザビーム
を照射して上記スリットを通過したレーザビームの位置
を検出する位置検出素子と、該位置検出素子の検出した
位置検出出力をＸ軸及びＹ軸方向の４点デジタル位置情
報に変換する位置検出回路とから成り、上記光軸制御器
の補正制御手段は、上記位置検出回路からの４点デジタ
ル位置情報から位置補正の補正演算を行ない該４点の中
心が上記スリツトの交点と一致するように上記光軸制御
器の書込み制御回路に位置ずれ補正指令を出力して上記
光軸制御器の上下左右方向の位置ずれ補正をし、更に上
記位置検出回路からのＹ軸方向の２点デジタル位置情報
から回転ずれの補正の補正演算を行ないＹ軸方向の２点
間長さが最大となるように上記光軸制御器の書込み制御
回路に回転ずれ補正指令を出力して上記光軸制御器の回
転ずれの補正を行なう上記スクリーンコントローラから
成ることを特徴とする液晶投射形ディスプレイの書込み
位置補正装置。