JPH07239711A - 過渡応答波形特徴量算出方法 - Google Patents

過渡応答波形特徴量算出方法

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JPH07239711A
JPH07239711A JP6030725A JP3072594A JPH07239711A JP H07239711 A JPH07239711 A JP H07239711A JP 6030725 A JP6030725 A JP 6030725A JP 3072594 A JP3072594 A JP 3072594A JP H07239711 A JPH07239711 A JP H07239711A
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JP
Japan
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maximum
calculating
response waveform
minimum
Prior art date
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Pending
Application number
JP6030725A
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English (en)
Inventor
Tomoji Sugano
智司 菅野
Masaya Murakami
賢哉 村上
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Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】制御対象を定位系とし、伝達関係で表現される
1入力1出力のPID制御系における設定値のステップ
変化に対する応答特性の評価の精度を高める。 【構成】CRT画面01などに表示されるステップ応答
の時系列データ02から特徴量算出手段03を介し、振
幅減衰比,オーバシュート,立ち上がり時間等の特徴量
04を算出し、その算出結果05を画面01に表示する
ことで定量的な精度の高い多くの情報を制御系設計者等
へ提供する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は制御対象を定位系(すな
わちステップ入力を与えたとき、ある一定値に収束する
ような系)とし、1入力1出力のPID制御を行うとき
に、設定値ステップに対する応答波形データからその応
答波形特徴量を算出する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図11は従来の過渡応答波形特徴量の判
別方法の概念図である。同図の01はCRTなどの画面
で、この例ではステップ応答波形が示されている。従
来、制御系の制御性能が良いかどうかは、その応答波形
を設計者がCRT画面またはハードコピーで見て、特徴
量を独自に判断していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前述のような
判断方法では、その設計者の経験などによる定性的な判
断によるところが大きく、定量的な判断ができるとは言
いがたく、応答波形の良否判定の適正さに欠ける可能性
が高い。また、その応答波形についての特徴量の算出項
目は複数あり、概念的には定着しているが、これを精度
良く数値として算出しているものはない。
【0004】本発明はこの問題を解決し、過渡応答波形
の制御系設計に関する特徴量を信頼性高く算出すること
ができるような、過渡応答波形特徴量算出方法を提供す
ることを課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項1の特徴量算出方法では、制御対象を定位
系とし、伝達関数で表現される1入力1出力の制御系に
おいて、(特徴量算出手段03などを介し)設定値をス
テップ変化したときの制御量の応答波形の時系列データ
を入力として、その特徴量(04など)を算出するよう
にする。
【0006】また、請求項2の特徴量算出方法では、請
求項1に記載の特徴量算出方法において、前記時系列デ
ータの各データ点のデータ変化の傾きを追跡して、時系
列データの極大値及び極小値を求め、この極大値,極小
値の少なくとも何れかを前記特徴量の算出に用いるよう
にする。
【0007】また、請求項3の特徴量算出方法では、請
求項1に記載の特徴量算出方法において、前記時系列デ
ータとその収束値または設定値との交差点を検出し、こ
の順次隣接する交差点相互間の最大値または最小値を検
出して、夫々極大値または極小値とし、この極大値,極
小値の少なくとも何れかを前記特徴量の算出に用いるよ
うにする。
【0008】また、請求項4の特徴量算出方法では、請
求項1ないし請求項3に記載の特徴量算出方法におい
て、前記算出される特徴量は応答波形の型,オーバーシ
ュート,振幅減衰比,安定性,整定時間,立ち上がり時
間等のうち、制御系の設計要求に対応して指定したもの
であるようにする。
【0009】
【作用】本発明では過渡応答の時系列データから応答波
形の極大値,極小値を検出し、さらに前記応答時系列デ
ータ及び検出された極大値,極小値を用いて以下の特徴
量を算出し、応答特性を定量的に精度よく評価する。 応答波形の型分類 オーバーシュート(の大きさ) 振幅減衰比 安定性 整定時間 立ち上がり時間
【0010】
【実施例】図1は本発明における特徴量評価の概念図で
ある。すなわち、画面01等に表示される設定値ステッ
プ変化時の制御量の応答の時系列データ02を、ソフト
ウェア手段としての特徴量算出手段03への入力データ
とすることにより、振幅減衰比,オーバーシュート等の
種々の特徴量04が算出され、特徴量算出結果05とし
て画面01に表示される。これにより、対象とする制御
系の特性についての精度のよい多くの情報量を得ること
ができる。
【0011】図2は図1の特徴量算出手段03の処理手
順を示すフローチャートで、1〜8はそのステップを示
す。ここでステップ2〜5は、極大点・極小点検出方法
#1における処理を示し、ステップ6,7は極大点・極
小点検出方法#2における処理を示す。また、8は特徴
量算出の処理を示す。次に図3は、前記極大点・極小点
検出方法#1を説明するための2種類の極大・極小パタ
ーンA,Bを示す。また、図4は図3のパターンAの詳
細を示し、図5は図4で極大・極小範囲と判定した領域
における極大点,極小点を示している。
【0012】また、図6は前記極大点・極小点検出方法
#2を説明するための応答波形図である。まず、図2な
いし図6を参照しつつ図2の極大点,極小点検出方法を
説明する。ステップ1にて応答時系列データ02を読込
む。そして、過渡応答波形特徴量04を算出するため
に、過渡応答時系列データ02から次に述べる極大点・
極小点検出方法#1または#2を用いて、極大点,極小
点を検出する。
【0013】(1)極大点・極小点検出方法#1:ま
ず、ステップ2で応答時時系列データ02の値X(i)
に対し、次式に示すような差分ddX(i)を求める。
【0014】
【数1】 ddX(i)=[X(i+1)−X(i)]/h ただし、 i:時系列に並ぶデータの順番(換言すれば番号または
座標)を示す変数 h:サンプリング間隔 次にステップ3で上記の差分ddX(i)を用い、次式
に示す条件で時系列データX(i)が正・負・零いずれ
か傾きかを判定し、この傾きを示す符号(傾き符号とい
う)igr(i)を求める。
【0015】
【数2】 −1: ddX(i)<−g・・・傾きが負 igr(i)= 0: −g≦ddX(i)≦g ・・・傾きが0 1: g<ddX(i) ・・・傾きが正 ただし、gは傾きのしきい値 つまりしきい値をgとしたとき、差分ddX(i)が−
gより小か、−g以上+g以下の範囲にあるか、gより
大かに応じて傾き符号igr(i)を夫々−1(傾きが
負),0(傾きが0),1(傾きが正)と判定する。
【0016】次に傾き符号igr(i)が変化するデー
タ番号iを検出する。そして、igr(i)≠igr
(i+1)となる傾き変化点を順番に、q(1),q
(2),・・・q(k)とする。上記のデータを作成し
ておき、極大値,極小値検出を行う。極大,極小をとる
ときの応答波形には、図3に示すA,Bの2つのパター
ンがある。
【0017】i)パターンA:この場合は図2のステッ
プ4の処理を実行し、極大・極小パターンAにおける極
大・極小領域検出(4A)、及び極大・極小点検出(4
B)を行う。すなわち、傾き変化点q(1),q
(2),・・・のうちigr(q(k)+1)=0、す
なわち傾きが0でないものから0へ変化する点q(k)
を選ぶ。さらにこの点q(k)のうち、図4に示すよう
に変化の前後で傾き符号の異なるq(k)を選ぶ。すな
わち、この点については次式が成り立つ。
【0018】
【数3】 igr(q(k))*igr(q(k+1)+1)=−1 ここで、変化の前の傾き符号igr(i)=1、すなわ
ち傾きが正のときは極大部分と判定し、変化の前の傾き
符号igr(i)=−1、すなわち傾きが負のときは極
小部分と判定する。すなわち、igr(q(k))=
1,igr(q(k+1)+1)=−1のとき極大部
分、igr(q(k))=−1,igr(q(k+1)
+1)=1のとき極小部分とする。
【0019】次に図5に示すように極大部分の範囲のう
ち、過渡応答波形データ値X(i)が最大の点を極大点
xmaとし、極小部分の範囲のうち、応答波形データ値
X(i)が最小の点を極小点xmiとする。 ii)パターンB:この場合は図2のステップ5の処理を
実行し、極大・極小パターンBにおける極大・極小点検
出(5A)を行う。すなわち、傾きの符号が変わる点、
すなわちigr(q(k))=1,igr(q(k)+
1)=−1となる点を極大点xmaとし、igr(q
(k))=−1,igr(q(k)+1)=1となる点
を極小点xmiとする (2)極大点・極小点検出方法#2:図2のステップ6
で図5に示すように、設定値SVと応答波形データの交
差した点を検出して、P(1),P(2),・・・P
(k)とする。ただし、設定値とのオフセットがある場
合、収束した値を検出し(変動の幅が±5%以内になっ
たとき)その値を設定値SVとする。そしてステップ7
で、交差点と交差点との間の極大点及び極小点の検出を
行う。すなわち、交差点P(k)とP(k+1)の間で
最大値をとる点の応答データを極大値xma(i)と
し、交差点P(k)とP(k+1)の間で最小値をとる
点の応答データを極小値xmi(i)とする。換言すれ
ば、奇数番目の交差点P(2k−1)と偶数番目の交差
点P(2k)との間の最大値を極大点、偶数番目の交差
点P(2k)と奇数番目の交差点P(2k+1)との間
の最小値を極小値とする。
【0020】次に図2のステップ8では、前記の極大点
・極小点検出方法#1および#2の検出結果を用いて、
制御系設計要求に対応する特徴量の算出を行う。次に主
な特徴量04の算出方法を説明する。 応答波形の型の分類:応答波形の型を“S字型”及
び“振動型”に分類する。1番目の極大値xma(1)
=0、すなわち極大点がない場合を“S字型”、1番目
の極大値xma(1)≠0の場合“振動型”とする。
【0021】 オーバーシュート:xma(i)>S
V、つまり極大値xma(i)が設定値または収束値S
Vより大きい最大の極大値xma(i)をオーバーシュ
ートosとし、os=100(xma(i)−SV)と
する。 振幅減衰比:最初に極大値xma(i)がxma
(i)>SVとなった極大値の番号iについて、第1振
幅をWd1=xma(i)−xmi(i)、第2振幅を
Wd2=xma(i+1)−xmi(i)と定義し、振
幅減衰比drtioを
【0022】
【数4】drtio=Wd2/Wd1 とする。ただし、極小値xmi(i)=0、すなわち振
動が1回しか起こらない場合、xma(i+1)=0と
なりdrtio=0とする。また、xmi(i)≠0で
かつxma(i+1)=0、すなわち2回目の振動の波
形が極大点をもたない場合、1番目の最大値xma
(1)以降における最大値xaxを求め、第2振幅Wd
2=xax−xmi(i)とする。
【0023】 安定性:で求めた減衰振幅比drt
ioの値をもとに、drtio<0.98の場合、“安
定”、0.98≦drtio≦1.02の場合、“持続
振動”、1.02≦drtioの場合、“不安定”と波
形を分類する。 整定時間:応答波形の時系列データの最後からX
(n),X(n−1),・・・というようにデータを調
べていき、初めてX(i)>SV*1.05またはX
(i)<SV*0.95となったとき、つまり、そのi
番目の応答波形データ値X(i)が設定値、または収束
値SVの±5%の範囲に入ったときのデータ番号iを用
いて整定時間を次式で求める。
【0024】
【数5】(i+1)*h ただし、 h:サンプリング間隔である。
【0025】 立ち上がり時間:応答波形が10%か
ら90%まで立ち上がるまでにかかる時間Trである
(後述の図9参照)。次に図2の処理で具体的に過渡応
答波形の特徴量を抽出した実施例を示す。ここでは、図
7の1入力1出力PID制御系を対象の制御系モデルと
し、設定値をステップ変化させたときの応答時系列デー
タを用いて、特徴量の算出を行ったものである。
【0026】図8はここで用いた応答時系列データ02
を示す。同図において、〈X〉は図7に示す制御量であ
り、特徴量を算出する対象の応答時系列データである。
また、同図の〈U〉は図7に示す操作量である。図9は
この図8の〈X〉の応答時系列データを入力データとし
て、極大,極小点検出を行った様子を示す。図10は制
御系の設計要求に対応する特徴量算出結果05を示す。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、応答波形の特徴量を正
確に算出するようにしたので、実際の応答特性を制御系
の設計要求と一致させるために有効な判断材料を与える
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における特徴量評価の概念図
【図2】図1における特徴量算出手段の処理手順を示す
フローチャート
【図3】図2の極大点・極小点検出方法#1における極
大・極小パターンの例を示す図
【図4】図3の極大・極小パターンAの詳細図
【図5】図4で極大・極小部分と判定した領域における
極大点,極小点を示す図
【図6】図2の極大点・極小点検出方法#2を説明する
ための応答波形図
【図7】図2の処理を適用する実施例としての制御系モ
デルの構成図
【図8】図7の制御系モデルにおける応答の時系列デー
タを示す図
【図9】図8の応答時系列データから算出された極大,
極小点を示す応答波形図
【図10】同じく算出された特徴量算出結果を示す図
【図11】従来の特徴量判別の概念図
【符号の説明】
01 画面 02 応答時系列データ 03 特徴量算出手段 04 特徴量 05 特徴量算出結果

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】制御対象を定位系とし、伝達関数で表現さ
    れる1入力1出力の制御系において、設定値をステップ
    変化したときの制御量の応答波形の時系列データを入力
    として、その特徴量を算出することを特徴とする過渡応
    答波形特徴量算出方法。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の特徴量算出方法におい
    て、 前記時系列データの各データ点のデータ変化の傾きを追
    跡して時系列データの極大値及び極小値を求め、この極
    大値,極小値の少なくとも何れかを前記特徴量の算出に
    用いることを特徴とする過渡応答波形特徴量算出方法。
  3. 【請求項3】請求項1に記載の特徴量算出方法におい
    て、 前記時系列データとその収束値または設定値との交差点
    を検出し、この順次隣接する交差点相互間の最大値また
    は最小値を検出して、夫々極大値または極小値とし、こ
    の極大値,極小値の少なくとも何れかを前記特徴量の算
    出に用いることを特徴とする過渡応答波形特徴量算出方
    法。
  4. 【請求項4】請求項1ないし請求項3に記載の特徴量算
    出方法において、 前記算出される特徴量は応答波形の型,オーバーシュー
    ト,振幅減衰比,安定性,整定時間,立ち上がり時間等
    のうち、制御系の設計要求に対応して指定したものであ
    ることを特徴とする過渡応答波形特徴量算出方法。
JP6030725A 1994-03-01 1994-03-01 過渡応答波形特徴量算出方法 Pending JPH07239711A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016223780A (ja) * 2015-05-27 2016-12-28 いすゞ自動車株式会社 判別式決定方法及び判別装置
CN113820067A (zh) * 2021-11-22 2021-12-21 北京理工大学 强冲击传感器下阶跃响应动态特性计算方法及发生装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016223780A (ja) * 2015-05-27 2016-12-28 いすゞ自動車株式会社 判別式決定方法及び判別装置
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