JPH09293092A - 電子回路のモデル化方法及び電子回路のシミュレーション方法 - Google Patents
電子回路のモデル化方法及び電子回路のシミュレーション方法Info
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- JPH09293092A JPH09293092A JP8108913A JP10891396A JPH09293092A JP H09293092 A JPH09293092 A JP H09293092A JP 8108913 A JP8108913 A JP 8108913A JP 10891396 A JP10891396 A JP 10891396A JP H09293092 A JPH09293092 A JP H09293092A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子回路の遅延時間を高精度かつ高速に求め
ることができる電子回路のモデル化方法を提供する。 【解決手段】 ステップＳ１０でアナログシミュレーシ
ョンを行ってｎ通りのパラメータＸi に対する遅延時間
Ｙi の関係（データ点）を求め、ステップＳ１１でデー
タ点の始点と終点を遅延時間のモデルのデータ点とし、
ステップＳ１２で隣接データ点間の傾きａi を求め、ス
テップＳ１３で隣接する傾きａi の絶対値差ｂi を求
め、ステップＳ１４で、傾きａi の絶対値差ｂi の最大
値から上位ｍ個を選択して遅延時間のモデルのデータ点
とし、ステップＳ１５で各データ点間を線形補間してモ
デルｆ１（Ｘi ）を形成する。
ることができる電子回路のモデル化方法を提供する。 【解決手段】 ステップＳ１０でアナログシミュレーシ
ョンを行ってｎ通りのパラメータＸi に対する遅延時間
Ｙi の関係（データ点）を求め、ステップＳ１１でデー
タ点の始点と終点を遅延時間のモデルのデータ点とし、
ステップＳ１２で隣接データ点間の傾きａi を求め、ス
テップＳ１３で隣接する傾きａi の絶対値差ｂi を求
め、ステップＳ１４で、傾きａi の絶対値差ｂi の最大
値から上位ｍ個を選択して遅延時間のモデルのデータ点
とし、ステップＳ１５で各データ点間を線形補間してモ
デルｆ１（Ｘi ）を形成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子回路の遅延時
間をモデル化するモデル化方法及び電子回路のシミュレ
ーションを行うシミュレーション方法に関する。
間をモデル化するモデル化方法及び電子回路のシミュレ
ーションを行うシミュレーション方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、電子回路の設計の補助、最適
化等を目的としてワークステーション等の情報処理装置
を用いた電子回路のシミュレーションが用いられてい
る。このようなシミュレーションでは、電子回路のモデ
ル化を行い、これらのモデルに対して入力信号に対する
過渡応答等の特性の解析を行うようになっている。この
ような解析においては、電子回路の遅延時間をモデル化
する必要がある。このような電子回路の遅延時間は出力
負荷（容量）又は入力遷移時間の関数としてモデル化さ
れている。現実には電子回路の遅延時間を正確にモデル
化することは困難であり、また、シミュレーション時の
演算量が増大するため、実際のシミュレーションでは、
図２に示すように遅延時間を１次直線で近似（線形近
似）したり、図３に示すように出力負荷（容量）又は入
力遷移時間の変域の所定区間毎に遅延時間を線形補間
（非線形近似）して求めた遅延時間に基づいてシミュレ
ーションを行っている。
化等を目的としてワークステーション等の情報処理装置
を用いた電子回路のシミュレーションが用いられてい
る。このようなシミュレーションでは、電子回路のモデ
ル化を行い、これらのモデルに対して入力信号に対する
過渡応答等の特性の解析を行うようになっている。この
ような解析においては、電子回路の遅延時間をモデル化
する必要がある。このような電子回路の遅延時間は出力
負荷（容量）又は入力遷移時間の関数としてモデル化さ
れている。現実には電子回路の遅延時間を正確にモデル
化することは困難であり、また、シミュレーション時の
演算量が増大するため、実際のシミュレーションでは、
図２に示すように遅延時間を１次直線で近似（線形近
似）したり、図３に示すように出力負荷（容量）又は入
力遷移時間の変域の所定区間毎に遅延時間を線形補間
（非線形近似）して求めた遅延時間に基づいてシミュレ
ーションを行っている。
【０００３】線形近似では、図２中に黒点で示すデータ
点を、同図中に直線で示す１次直線で近似し、出力負荷
（容量）又は入力遷移時間の１次関数として遅延時間を
求めている。また、上述のような非線形近似では、図３
中に示すようないくつかのデータ点を求め、これらのデ
ータ点の間を線形補間することで近似して遅延時間を求
めている。
点を、同図中に直線で示す１次直線で近似し、出力負荷
（容量）又は入力遷移時間の１次関数として遅延時間を
求めている。また、上述のような非線形近似では、図３
中に示すようないくつかのデータ点を求め、これらのデ
ータ点の間を線形補間することで近似して遅延時間を求
めている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
１次直線による線形近似では、１次直線から実際のデー
タ点が離れている領域において求められた遅延時間の誤
差が大きくなる。また、非線形近似においても、データ
点の間隔に比較して遅延時間の特性曲線の傾きの変化が
大きい領域では、図３中に斜線で示すような誤差を生じ
てしまう。非線形近似では、データ点間の間隔を小さく
すると誤差を小さくすることができるが、データ点の数
を増加させた場合、遅延時間のテーブルが大きくなり、
電子回路の設計及びシミュレーション時の計算量が多く
なるため、これらの処理を行うための実行時間が増加す
る。
１次直線による線形近似では、１次直線から実際のデー
タ点が離れている領域において求められた遅延時間の誤
差が大きくなる。また、非線形近似においても、データ
点の間隔に比較して遅延時間の特性曲線の傾きの変化が
大きい領域では、図３中に斜線で示すような誤差を生じ
てしまう。非線形近似では、データ点間の間隔を小さく
すると誤差を小さくすることができるが、データ点の数
を増加させた場合、遅延時間のテーブルが大きくなり、
電子回路の設計及びシミュレーション時の計算量が多く
なるため、これらの処理を行うための実行時間が増加す
る。
【０００５】本発明は、上述のような問題点に鑑みてな
されたものであり、電子回路の遅延時間を高精度に求め
ることができる電子回路のモデル化方法を提供すること
を目的とする。
されたものであり、電子回路の遅延時間を高精度に求め
ることができる電子回路のモデル化方法を提供すること
を目的とする。
【０００６】また、本発明は、電子回路のシミュレーシ
ョンを高精度に行うことができる電子回路のシミュレー
ション方法を提供することを目的とする。
ョンを高精度に行うことができる電子回路のシミュレー
ション方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係る電子回路の
モデル化方法では、電子回路の遅延時間をモデル化する
際に、まず、例えば出力負荷（容量）、入力遷移時間等
の電子回路のパラメータをｎ（ｎ：任意）通りに変化さ
せ、各々のパラメータに対する電子回路の遅延時間を求
め、各々のパラメータと、パラメータに対応する遅延時
間の組を座標とするデータ点を求める。
モデル化方法では、電子回路の遅延時間をモデル化する
際に、まず、例えば出力負荷（容量）、入力遷移時間等
の電子回路のパラメータをｎ（ｎ：任意）通りに変化さ
せ、各々のパラメータに対する電子回路の遅延時間を求
め、各々のパラメータと、パラメータに対応する遅延時
間の組を座標とするデータ点を求める。
【０００８】次に、各データ点間のパラメータの増分に
対する遅延時間の増分を各データ点間の傾きとし、各デ
ータ点における傾きの変化を表す指標を求め、指標の上
位のｍ（ｍ＜ｎ）点を求め、ｍ点の指標に対応するデー
タ点を選択し、選択したデータ点間を線形補間して電子
回路の遅延時間をモデル化する。
対する遅延時間の増分を各データ点間の傾きとし、各デ
ータ点における傾きの変化を表す指標を求め、指標の上
位のｍ（ｍ＜ｎ）点を求め、ｍ点の指標に対応するデー
タ点を選択し、選択したデータ点間を線形補間して電子
回路の遅延時間をモデル化する。
【０００９】あるいは、各データ点間のパラメータの増
分に対する遅延時間の増分を各データ点間の傾きとし、
各データ点における傾きの変化を表す指標を求め、求め
た指標をｍ（ｍ＜ｎ）区間に分け、各区間内の指標の上
位の点を求め、各区間毎に求めた指標に対応するデータ
点を選択し、選択したデータ点間を線形補間して電子回
路の遅延時間をモデル化する。
分に対する遅延時間の増分を各データ点間の傾きとし、
各データ点における傾きの変化を表す指標を求め、求め
た指標をｍ（ｍ＜ｎ）区間に分け、各区間内の指標の上
位の点を求め、各区間毎に求めた指標に対応するデータ
点を選択し、選択したデータ点間を線形補間して電子回
路の遅延時間をモデル化する。
【００１０】指標として、各データ点と、このデータ点
に隣接する２つのデータ点との間の傾きの差の絶対値を
用いてもよく、あるいは、各データ点と、このデータ点
に隣接する２つのデータ点とを通る２次曲線の、このデ
ータ点における傾きと、このデータ点に隣接するデータ
点についての同様の２次曲線の傾きの差の絶対値、又
は、各データ点と、このデータ点に隣接する２つのデー
タ点とを通る２次曲線の、このデータ点における２次微
分値の絶対値等を用いてもよい。
に隣接する２つのデータ点との間の傾きの差の絶対値を
用いてもよく、あるいは、各データ点と、このデータ点
に隣接する２つのデータ点とを通る２次曲線の、このデ
ータ点における傾きと、このデータ点に隣接するデータ
点についての同様の２次曲線の傾きの差の絶対値、又
は、各データ点と、このデータ点に隣接する２つのデー
タ点とを通る２次曲線の、このデータ点における２次微
分値の絶対値等を用いてもよい。
【００１１】また、本発明に係る電子回路のシミュレー
ション方法では、本発明に係る電子回路の遅延時間のモ
デル化方法によりモデル化した電子回路の遅延時間に基
づいてシミュレーションを行う。
ション方法では、本発明に係る電子回路の遅延時間のモ
デル化方法によりモデル化した電子回路の遅延時間に基
づいてシミュレーションを行う。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明に係る電子回路のモデル化
方法は、ワークステーション等により電子回路の過渡応
答、周波数応答等の解析を行う際に用いることができ
る。
方法は、ワークステーション等により電子回路の過渡応
答、周波数応答等の解析を行う際に用いることができ
る。
【００１３】本発明の第１の実施形態に係るシミュレー
ション装置は、図１に示すように、ユーザからの指示等
を入力するための入力部１と、電子回路等の動作等に関
する演算等を行う演算処理部２と、演算処理部２により
データ、演算プログラム等が記憶されるメモリ３と、デ
ータ、演算プログラム等を格納するディスク装置４と、
電子回路の遅延時間をモデルする遅延時間モデル化部５
と、シミュレーション結果等を出力するための出力部６
とを備えている。
ション装置は、図１に示すように、ユーザからの指示等
を入力するための入力部１と、電子回路等の動作等に関
する演算等を行う演算処理部２と、演算処理部２により
データ、演算プログラム等が記憶されるメモリ３と、デ
ータ、演算プログラム等を格納するディスク装置４と、
電子回路の遅延時間をモデルする遅延時間モデル化部５
と、シミュレーション結果等を出力するための出力部６
とを備えている。
【００１４】このような構成のシミュレーション装置
は、図４に示すフローチャートに従って動作する。ステ
ップＳ１において、演算処理部２は、入力部１から供給
されるユーザからの指示等に基づいて、例えばディスク
装置４に登録されている電子部品のデータベース等を参
照して電子回路の構成部品、入出力端子、電源及びこれ
らの接続等を示すデータを入力する。ステップＳ２にお
いて、演算処理部２は、上述のステップＳ１で入力され
たデータに基づいて電子回路を構成する各構成部品の伝
達関数（ゲイン）等を求める。ステップＳ３において、
演算処理部２は、電子回路の遅延時間のモデル化を行
う。そして、ステップＳ４において、演算処理部２は、
ステップＳ２で求めた伝達関数、ステップＳ３で求めた
遅延時間のモデル等に基づいて電子回路の過渡応答、周
波数応答等の特性の解析を行い、解析結果を出力部６を
介して出力する。
は、図４に示すフローチャートに従って動作する。ステ
ップＳ１において、演算処理部２は、入力部１から供給
されるユーザからの指示等に基づいて、例えばディスク
装置４に登録されている電子部品のデータベース等を参
照して電子回路の構成部品、入出力端子、電源及びこれ
らの接続等を示すデータを入力する。ステップＳ２にお
いて、演算処理部２は、上述のステップＳ１で入力され
たデータに基づいて電子回路を構成する各構成部品の伝
達関数（ゲイン）等を求める。ステップＳ３において、
演算処理部２は、電子回路の遅延時間のモデル化を行
う。そして、ステップＳ４において、演算処理部２は、
ステップＳ２で求めた伝達関数、ステップＳ３で求めた
遅延時間のモデル等に基づいて電子回路の過渡応答、周
波数応答等の特性の解析を行い、解析結果を出力部６を
介して出力する。
【００１５】上述の図４のステップＳ３における電子回
路の遅延時間のモデル化は、図５に示すフローチャート
に従って行われる。まず、演算処理部２は、ステップＳ
１０において、上述の図４のステップＳ２で求めた、各
構成部品の伝達関数等に基づいてアナログシミュレーシ
ョンを行う。
路の遅延時間のモデル化は、図５に示すフローチャート
に従って行われる。まず、演算処理部２は、ステップＳ
１０において、上述の図４のステップＳ２で求めた、各
構成部品の伝達関数等に基づいてアナログシミュレーシ
ョンを行う。
【００１６】一般に、電子回路の遅延時間は、出力負荷
（容量）又は入力遷移時間の関数としてモデル化される
ため、このステップＳ１０では、まず、これらのパラメ
ータ（例えば出力負荷）Ｘi をｎ通りに変化させ、この
変化に対応する遅延時間Ｙiの変化を測定する。これに
より、パラメータＸi の増加に従って遅延時間Ｙi が、
例えば図６に示すように変化する。以下、パラメータＸ
i と、このパラメータＸi に対応する遅延時間Ｙi の組
み（Ｘi、Ｙi）をデータ点という。
（容量）又は入力遷移時間の関数としてモデル化される
ため、このステップＳ１０では、まず、これらのパラメ
ータ（例えば出力負荷）Ｘi をｎ通りに変化させ、この
変化に対応する遅延時間Ｙiの変化を測定する。これに
より、パラメータＸi の増加に従って遅延時間Ｙi が、
例えば図６に示すように変化する。以下、パラメータＸ
i と、このパラメータＸi に対応する遅延時間Ｙi の組
み（Ｘi、Ｙi）をデータ点という。
【００１７】ステップＳ１１では、これらのデータ点の
内、パラメータＸi の変域の両端のデータ点（Ｘ1、
Ｙ1）、（Ｘn、Ｙn）を遅延時間のモデルｆ１（Ｘi ）
のデータ点Ｐ１、Ｐｎ（図６に示す場合ではＰ６）と
し、続くステップＳ１２において、次式に従って隣接デ
ータ点間の傾きａi を求める。 ａi ＝（Ｙi+1−Ｙi）／（Ｘi+1−Ｘi） （ｉ＝１、２、・・・、ｎ−２、ｎ−１） ・・・（式１）
内、パラメータＸi の変域の両端のデータ点（Ｘ1、
Ｙ1）、（Ｘn、Ｙn）を遅延時間のモデルｆ１（Ｘi ）
のデータ点Ｐ１、Ｐｎ（図６に示す場合ではＰ６）と
し、続くステップＳ１２において、次式に従って隣接デ
ータ点間の傾きａi を求める。 ａi ＝（Ｙi+1−Ｙi）／（Ｘi+1−Ｘi） （ｉ＝１、２、・・・、ｎ−２、ｎ−１） ・・・（式１）
【００１８】そして、ステップＳ１３において、次式に
従って隣接する傾きａi の絶対値差ｂi を求める。 ｂi ＝｜ａi−ａi-1｜ （ｉ＝２、・・・、ｎ−２、ｎ−１） ・・・（式２）
従って隣接する傾きａi の絶対値差ｂi を求める。 ｂi ＝｜ａi−ａi-1｜ （ｉ＝２、・・・、ｎ−２、ｎ−１） ・・・（式２）
【００１９】これらのステップＳ１２、Ｓ１３の処理に
より、図７に示すように、各々のデータ点に対して傾き
ａi 、絶対値差ｂi が求められる。このようにあるデー
タ点（ｉ）に対応する傾きａi を求める際に、データ点
（ｉ）と次のデータ点（ｉ＋１）に基づいて傾きａi を
求めた場合、この傾きａi はデータ点（ｉ）と次のデー
タ点（ｉ＋１）の中間の点における傾きとなる。しかし
ながら、データ点（ｉ）に対応する絶対値差ｂi を求め
る際に、データ点（ｉ）における傾きａi と前のデータ
点（ｉ−１）における傾きａi-1 に基づいて絶対値差ｂ
i を求めることにより、データ点（ｉ）における絶対値
差ｂi を求めることができる。
より、図７に示すように、各々のデータ点に対して傾き
ａi 、絶対値差ｂi が求められる。このようにあるデー
タ点（ｉ）に対応する傾きａi を求める際に、データ点
（ｉ）と次のデータ点（ｉ＋１）に基づいて傾きａi を
求めた場合、この傾きａi はデータ点（ｉ）と次のデー
タ点（ｉ＋１）の中間の点における傾きとなる。しかし
ながら、データ点（ｉ）に対応する絶対値差ｂi を求め
る際に、データ点（ｉ）における傾きａi と前のデータ
点（ｉ−１）における傾きａi-1 に基づいて絶対値差ｂ
i を求めることにより、データ点（ｉ）における絶対値
差ｂi を求めることができる。
【００２０】隣接する傾きａi の絶対値差ｂi が求めら
れると、ステップＳ１４において、求められた傾きａi
の絶対値差ｂi の最大値から上位ｍ個、例えば図６に示
す場合では４個のＡ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４に対応するデ
ータ点（Ｘi、Ｙi）を選び出して遅延時間のモデルｆ１
（Ｘi ）のデータ点とする。ここで、例えば図６中の各
点に対応する値を示す図７中のパラメータＸi が２．４
及び４．２のときのように、絶対値差ｂi （Ｘi ）の値
が同一であり、対応するデータ点がモデルｆ１（Ｘi ）
のｍ番目のデータ点である場合は、例えばパラメータＸ
i が小さい方のデータ点を選択する。
れると、ステップＳ１４において、求められた傾きａi
の絶対値差ｂi の最大値から上位ｍ個、例えば図６に示
す場合では４個のＡ１、Ａ２、Ａ３、Ａ４に対応するデ
ータ点（Ｘi、Ｙi）を選び出して遅延時間のモデルｆ１
（Ｘi ）のデータ点とする。ここで、例えば図６中の各
点に対応する値を示す図７中のパラメータＸi が２．４
及び４．２のときのように、絶対値差ｂi （Ｘi ）の値
が同一であり、対応するデータ点がモデルｆ１（Ｘi ）
のｍ番目のデータ点である場合は、例えばパラメータＸ
i が小さい方のデータ点を選択する。
【００２１】さらに、ステップＳ１５において合計でｍ
＋２個のデータ点間を線形補間して遅延時間のモデルｆ
１（Ｘi ）とする。これにより、図６中に実線で示す遅
延時間のモデルｆ１（Ｘi ）が求められる。このように
求めたモデルｆ１（Ｘi ）は、例えば図２に示すような
線形近似により求めたモデルに比較して誤差が非常に小
さくなっている。
＋２個のデータ点間を線形補間して遅延時間のモデルｆ
１（Ｘi ）とする。これにより、図６中に実線で示す遅
延時間のモデルｆ１（Ｘi ）が求められる。このように
求めたモデルｆ１（Ｘi ）は、例えば図２に示すような
線形近似により求めたモデルに比較して誤差が非常に小
さくなっている。
【００２２】また、このように求めたモデルｆ１
（Ｘi ）は、傾きａi の絶対値差ｂi が大きい点、すな
わち傾きａi の変化が大きいデータ点から順に、モデル
のデータ点として選択しているため、例えば図３に示す
データ点を等間隔に設定した場合と同様なデータ点の数
で、誤差が大幅に小さいモデルを作成することができ
る。
（Ｘi ）は、傾きａi の絶対値差ｂi が大きい点、すな
わち傾きａi の変化が大きいデータ点から順に、モデル
のデータ点として選択しているため、例えば図３に示す
データ点を等間隔に設定した場合と同様なデータ点の数
で、誤差が大幅に小さいモデルを作成することができ
る。
【００２３】従って、このようなモデルを用いることに
より、データ点の数を増加させずに誤差を大幅に小さく
することができるため、電子回路の設計及びシミュレー
ションを高速かつ高精度に行うことができる。
より、データ点の数を増加させずに誤差を大幅に小さく
することができるため、電子回路の設計及びシミュレー
ションを高速かつ高精度に行うことができる。
【００２４】上述の第１の実施形態では、上述の図２及
び図３に示す線形近似、非線型近似に比較して大幅に誤
差を減少させることができるが、図５中のステップＳ１
２において、隣接する２つのデータ点の片側のデータ点
との差分により傾きａi を求めているため、傾きａi に
若干の誤差が含まれてしまう。
び図３に示す線形近似、非線型近似に比較して大幅に誤
差を減少させることができるが、図５中のステップＳ１
２において、隣接する２つのデータ点の片側のデータ点
との差分により傾きａi を求めているため、傾きａi に
若干の誤差が含まれてしまう。
【００２５】このため、第２の実施形態では、上述の図
４に示すフローチャートのステップＳ３において、デー
タ点（ｉ）と、この両側の２つのデータ点（ｉ−１）、
（ｉ＋１）の３点を通る２次曲線を求め、この２次曲線
を微分して傾きａi を求めるようになっている。
４に示すフローチャートのステップＳ３において、デー
タ点（ｉ）と、この両側の２つのデータ点（ｉ−１）、
（ｉ＋１）の３点を通る２次曲線を求め、この２次曲線
を微分して傾きａi を求めるようになっている。
【００２６】すなわち、この第２の実施形態では、図８
に示すフローチャートに従って、電子回路の遅延時間の
モデル化を行うようになっている。まず、演算処理部２
は、ステップＳ２１において、上述の図５のステップＳ
１０〜Ｓ１１と同様に、アナログシミュレーションを行
ってｎ個のデータ点（Ｘi、Ｙi）を求め、始点と終点の
データ点をモデルｆ２（Ｘi ）のデータ点とする。
に示すフローチャートに従って、電子回路の遅延時間の
モデル化を行うようになっている。まず、演算処理部２
は、ステップＳ２１において、上述の図５のステップＳ
１０〜Ｓ１１と同様に、アナログシミュレーションを行
ってｎ個のデータ点（Ｘi、Ｙi）を求め、始点と終点の
データ点をモデルｆ２（Ｘi ）のデータ点とする。
【００２７】次に、ステップＳ２２においてこれらのデ
ータ中の連続する３点（Ｘi-1、Ｙi -1）、（Ｘi、
Ｙi）、（Ｘi+1、Ｙi+1）を通る２次曲線ｇi （Ｘi ）
を求め、続くステップＳ２３においてこの２次曲線ｇ
（Ｘi ）を微分してデータ点（Ｘi 、Ｙi ）における傾
きａi （＝ｇi ’（Ｘi ））を求める。ｇi （Ｘi ）＝
ａＸi 2＋ｂＸi ＋ｃ（ａ、ｂ、ｃ：定数）とすると傾き
ａi は２ａＸi ＋ｂとなる。ここで、両端のデータ点
（１）、（ｎ）では、上述の２次曲線ｇi （Ｘi ）を求
めることができないため、これらの隣のデータ点
（２）、（ｎ−１）における２次曲線ｇ2（Ｘi）、ｇ
n-1（Ｘi）を用い、これらの曲線のデータ点（１）、
（ｎ）における傾きｇ2’（Ｘ1）、ｇn-1’（Ｘn）を両
端のデータ点における傾きａiとする。
ータ中の連続する３点（Ｘi-1、Ｙi -1）、（Ｘi、
Ｙi）、（Ｘi+1、Ｙi+1）を通る２次曲線ｇi （Ｘi ）
を求め、続くステップＳ２３においてこの２次曲線ｇ
（Ｘi ）を微分してデータ点（Ｘi 、Ｙi ）における傾
きａi （＝ｇi ’（Ｘi ））を求める。ｇi （Ｘi ）＝
ａＸi 2＋ｂＸi ＋ｃ（ａ、ｂ、ｃ：定数）とすると傾き
ａi は２ａＸi ＋ｂとなる。ここで、両端のデータ点
（１）、（ｎ）では、上述の２次曲線ｇi （Ｘi ）を求
めることができないため、これらの隣のデータ点
（２）、（ｎ−１）における２次曲線ｇ2（Ｘi）、ｇ
n-1（Ｘi）を用い、これらの曲線のデータ点（１）、
（ｎ）における傾きｇ2’（Ｘ1）、ｇn-1’（Ｘn）を両
端のデータ点における傾きａiとする。
【００２８】あるいは、ステップＳ２２及びステップＳ
２３において、次式によりデータ点（Ｘi、Ｙi）におけ
る傾きａi を求めてもよい。 ａi ＝（Ｙi+1−Ｙi-1）／（Ｘi+1−Ｘi-1） （ｉ＝２、・・・、ｎ−２、ｎ−１） ・・・（式３）
２３において、次式によりデータ点（Ｘi、Ｙi）におけ
る傾きａi を求めてもよい。 ａi ＝（Ｙi+1−Ｙi-1）／（Ｘi+1−Ｘi-1） （ｉ＝２、・・・、ｎ−２、ｎ−１） ・・・（式３）
【００２９】このように各データ点（Ｘi、Ｙi）におけ
る傾きａi が求められると、ステップＳ２４〜Ｓ２６に
おいて、上述の図５に示すフローチャートのステップＳ
１３〜Ｓ１５と同様に、隣接する傾きａi の絶対値差ｂ
i （Δｇi’（Ｘi）を求め、求められた傾きａi の絶対
値差ｂi の最大値から上位ｍ個、例えば図９及び図１０
に示す場合では４個のＢ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４に対応す
るデータ点（Ｘi、Ｙi）を選び出して遅延時間のモデル
ｆ２（Ｘi ）のデータ点とし、さらに、ステップＳ２６
において合計でｍ＋２個のデータ点間を線形補間して遅
延時間のモデルｆ２（Ｘi ）とする。これにより、図１
０中に実線で示す遅延時間のモデルｆ２（Ｘi ）が求め
られる。この図１０に示すモデルｆ２（Ｘi ）はＸi が
３以上の領域において、上述の図６に示すモデルｆ１
（Ｘi ）より誤差が小さくなっている。
る傾きａi が求められると、ステップＳ２４〜Ｓ２６に
おいて、上述の図５に示すフローチャートのステップＳ
１３〜Ｓ１５と同様に、隣接する傾きａi の絶対値差ｂ
i （Δｇi’（Ｘi）を求め、求められた傾きａi の絶対
値差ｂi の最大値から上位ｍ個、例えば図９及び図１０
に示す場合では４個のＢ１、Ｂ２、Ｂ３、Ｂ４に対応す
るデータ点（Ｘi、Ｙi）を選び出して遅延時間のモデル
ｆ２（Ｘi ）のデータ点とし、さらに、ステップＳ２６
において合計でｍ＋２個のデータ点間を線形補間して遅
延時間のモデルｆ２（Ｘi ）とする。これにより、図１
０中に実線で示す遅延時間のモデルｆ２（Ｘi ）が求め
られる。この図１０に示すモデルｆ２（Ｘi ）はＸi が
３以上の領域において、上述の図６に示すモデルｆ１
（Ｘi ）より誤差が小さくなっている。
【００３０】この第２の実施形態によれば、限られたデ
ータ点でより誤差の小さい遅延時間のモデル化を行うこ
とができる。このモデルは第１の実施の形態より作成に
は手間を要するが、より高い精度が期待できる。従っ
て、このようなモデル化方法によるモデルを用いること
により、電子回路の設計及びシミュレーションを高速に
行うことができると共に、これらの設計、シミュレーシ
ョンをより高精度に行うことができる。
ータ点でより誤差の小さい遅延時間のモデル化を行うこ
とができる。このモデルは第１の実施の形態より作成に
は手間を要するが、より高い精度が期待できる。従っ
て、このようなモデル化方法によるモデルを用いること
により、電子回路の設計及びシミュレーションを高速に
行うことができると共に、これらの設計、シミュレーシ
ョンをより高精度に行うことができる。
【００３１】上述の第１及び第２の実施形態では、図５
のステップＳ１３、図８のステップＳ２４において、隣
接する２つの傾きａi の差分により絶対値差ｂi （傾き
ａiの変化）を求めているため、絶対値差ｂi に若干の
誤差が含まれてしまう。
のステップＳ１３、図８のステップＳ２４において、隣
接する２つの傾きａi の差分により絶対値差ｂi （傾き
ａiの変化）を求めているため、絶対値差ｂi に若干の
誤差が含まれてしまう。
【００３２】このため、第３の実施形態では、上述の図
４に示すフローチャートのステップＳ３において、各デ
ータ点と、その両側の２つのデータ点を通る２次曲線の
２次微分値を求め、この２次微分値に基づいて遅延時間
のモデルｆ３（Ｘi ）を求めるようになっている。
４に示すフローチャートのステップＳ３において、各デ
ータ点と、その両側の２つのデータ点を通る２次曲線の
２次微分値を求め、この２次微分値に基づいて遅延時間
のモデルｆ３（Ｘi ）を求めるようになっている。
【００３３】すなわち、この第３の実施形態では、図１
１に示すフローチャートに従って、電子回路の遅延時間
のモデル化を行うようになっている。まず、演算処理部
２は、ステップＳ３１において、上述の図５のステップ
Ｓ１０〜Ｓ１１、図８のステップＳ２１と同様に、アナ
ログシミュレーションを行ってｎ個のデータ点（Ｘi、
Ｙi ）を求め、始点と終点のデータ点をモデルｆ３（Ｘ
i ）のデータ点とする。
１に示すフローチャートに従って、電子回路の遅延時間
のモデル化を行うようになっている。まず、演算処理部
２は、ステップＳ３１において、上述の図５のステップ
Ｓ１０〜Ｓ１１、図８のステップＳ２１と同様に、アナ
ログシミュレーションを行ってｎ個のデータ点（Ｘi、
Ｙi ）を求め、始点と終点のデータ点をモデルｆ３（Ｘ
i ）のデータ点とする。
【００３４】次に、ステップＳ３２において上述の図８
のステップＳ２２と同様にデータ中の連続する３点（Ｘ
i-1、Ｙi-1）、（Ｘi、Ｙi）、（Ｘi+1、Ｙi+1）を通る
２次曲線ｈi （Ｘi ）を求める。次に、ステップＳ３３
において、この２次曲線ｈi（Ｘi ）を２次微分してデ
ータ点（Ｘi、Ｙi）における傾きの変化率ｈi”（Ｘi）
を求める。ｈi（Ｘi）＝ａＸi 2＋ｂＸi ＋ｃ（ａ、ｂ、
ｃ：定数）とすると傾きの変化率ｈi”（Ｘi）は２ａ
（２次項の係数）となる。
のステップＳ２２と同様にデータ中の連続する３点（Ｘ
i-1、Ｙi-1）、（Ｘi、Ｙi）、（Ｘi+1、Ｙi+1）を通る
２次曲線ｈi （Ｘi ）を求める。次に、ステップＳ３３
において、この２次曲線ｈi（Ｘi ）を２次微分してデ
ータ点（Ｘi、Ｙi）における傾きの変化率ｈi”（Ｘi）
を求める。ｈi（Ｘi）＝ａＸi 2＋ｂＸi ＋ｃ（ａ、ｂ、
ｃ：定数）とすると傾きの変化率ｈi”（Ｘi）は２ａ
（２次項の係数）となる。
【００３５】あるいは、ステップＳ３２及びステップＳ
３３において、次式によりデータ点（Ｘi、Ｙi）から直
接に傾きの変化率Ｈ”（Ｘi ）を求めてもよい。 ｈi ”（Ｘi ）＝（Ｙi+1＋Ｙi-1−２×Ｘi ）／（Ｘi−Ｘi-1）2 （ｉ＝２、・・・、ｎ−２、ｎ−１） ・・・（式４）
３３において、次式によりデータ点（Ｘi、Ｙi）から直
接に傾きの変化率Ｈ”（Ｘi ）を求めてもよい。 ｈi ”（Ｘi ）＝（Ｙi+1＋Ｙi-1−２×Ｘi ）／（Ｘi−Ｘi-1）2 （ｉ＝２、・・・、ｎ−２、ｎ−１） ・・・（式４）
【００３６】このような各データ点に対応する傾きの変
化率ｈi”（Ｘi）の最大値から上位ｍ個、例えば図１２
及び図１３に示す場合では４個のＣ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｃ
４に対応するデータ点（Ｘi、Ｙi）を選び出して遅延時
間のモデルｆ３（Ｘi ）のデータ点とし、さらに、ステ
ップＳ３６において合計でｍ＋２個のデータ点間を線形
補間して遅延時間のモデルｆ３（Ｘi ）とする。ここ
で、例えば図１２中のパラメータＸi が２．４及び４．
２のときのように、傾きの変化率ｈi”（Ｘi）の値が同
一であり、対応するデータ点がモデルｆ３（Ｘi ）のｍ
番目のデータ点である場合は、例えばパラメータＸi が
大きい方のデータ点を選択する。
化率ｈi”（Ｘi）の最大値から上位ｍ個、例えば図１２
及び図１３に示す場合では４個のＣ１、Ｃ２、Ｃ３、Ｃ
４に対応するデータ点（Ｘi、Ｙi）を選び出して遅延時
間のモデルｆ３（Ｘi ）のデータ点とし、さらに、ステ
ップＳ３６において合計でｍ＋２個のデータ点間を線形
補間して遅延時間のモデルｆ３（Ｘi ）とする。ここ
で、例えば図１２中のパラメータＸi が２．４及び４．
２のときのように、傾きの変化率ｈi”（Ｘi）の値が同
一であり、対応するデータ点がモデルｆ３（Ｘi ）のｍ
番目のデータ点である場合は、例えばパラメータＸi が
大きい方のデータ点を選択する。
【００３７】これにより、図１３中に実線で示す遅延時
間のモデルｆ３（Ｘi ）が求められる。この図１３に示
すモデルｆ３（Ｘi ）は図１０に示す第２の実施形態に
よるモデルｆ２（Ｘi ）よりさらに誤差が低減されてい
る。
間のモデルｆ３（Ｘi ）が求められる。この図１３に示
すモデルｆ３（Ｘi ）は図１０に示す第２の実施形態に
よるモデルｆ２（Ｘi ）よりさらに誤差が低減されてい
る。
【００３８】この第３の実施の形態によれば、限られた
データ点でより誤差の小さい遅延時間のモデル化を行う
ことができる。また、２次曲線の２次微分値は上述のよ
うに２次項の係数であるため、２次曲線を求めた時点で
既知となるので、例えば上述の第２の実施形態において
２次曲線の１次微分値を求めた後に、隣接する１次微分
値の絶対値差を求める場合より簡単に求めることができ
る。従って、この第３の実施形態によれば、より簡単
に、精度をさらに向上させたモデル化を行うことができ
る。このようなモデルを用いることにより、電子回路の
設計及びシミュレーションを高速かつ高精度に行うこと
ができる。
データ点でより誤差の小さい遅延時間のモデル化を行う
ことができる。また、２次曲線の２次微分値は上述のよ
うに２次項の係数であるため、２次曲線を求めた時点で
既知となるので、例えば上述の第２の実施形態において
２次曲線の１次微分値を求めた後に、隣接する１次微分
値の絶対値差を求める場合より簡単に求めることができ
る。従って、この第３の実施形態によれば、より簡単
に、精度をさらに向上させたモデル化を行うことができ
る。このようなモデルを用いることにより、電子回路の
設計及びシミュレーションを高速かつ高精度に行うこと
ができる。
【００３９】ところで、上述の第１〜第３の実施形態に
より電子回路のモデルｆ１（Ｘi ）、ｆ２（Ｘi ）、ｆ
３（Ｘi ）を求める場合では、傾きの変化が大きい領域
（例えば図７、１０、１３では、Ｘi が５以下の領域）
のデータ点を優先的にモデルのデータ点とすることによ
り、モデルの精度を全体的に向上させているが、データ
点の区間に偏りが生じ、傾きの小さい領域の精度が不十
分となる場合もある。このような傾きの小さい領域のモ
デルのみが必要である場合等には、この領域の精度を向
上させることが望まれる。
より電子回路のモデルｆ１（Ｘi ）、ｆ２（Ｘi ）、ｆ
３（Ｘi ）を求める場合では、傾きの変化が大きい領域
（例えば図７、１０、１３では、Ｘi が５以下の領域）
のデータ点を優先的にモデルのデータ点とすることによ
り、モデルの精度を全体的に向上させているが、データ
点の区間に偏りが生じ、傾きの小さい領域の精度が不十
分となる場合もある。このような傾きの小さい領域のモ
デルのみが必要である場合等には、この領域の精度を向
上させることが望まれる。
【００４０】このため、第４の実施形態では、上述の図
４に示すフローチャートのステップＳ３において、始
点、終点以外のデータ点をパラメータＸi の所定区間毎
にｍ個のグループに分け、各グループ内で、上述の第１
実施例と同様に求めた絶対値差ｂi が最大のデータ点を
そのグループに対応する区間のデータ点としてモデルｆ
４（Ｘi ）を求める。
４に示すフローチャートのステップＳ３において、始
点、終点以外のデータ点をパラメータＸi の所定区間毎
にｍ個のグループに分け、各グループ内で、上述の第１
実施例と同様に求めた絶対値差ｂi が最大のデータ点を
そのグループに対応する区間のデータ点としてモデルｆ
４（Ｘi ）を求める。
【００４１】すなわち、この第４の実施形態では、図１
４に示すフローチャートに従って、電子回路の遅延時間
のモデル化を行うようになっている。まず、演算処理部
２は、ステップＳ４１〜Ｓ４３において、上述の図５の
ステップＳ１０〜ステップＳ１４と同様に、アナログシ
ミュレーションを行ってｎ個のデータ点（Ｘi、Ｙi）を
求め、始点、終点のデータ点をモデルｆ４（Ｘi ）のデ
ータ点とし、隣接するデータ点間の傾きａi を求め、さ
らに、隣接する傾きａi 間の絶対値差ｂi を求める。
４に示すフローチャートに従って、電子回路の遅延時間
のモデル化を行うようになっている。まず、演算処理部
２は、ステップＳ４１〜Ｓ４３において、上述の図５の
ステップＳ１０〜ステップＳ１４と同様に、アナログシ
ミュレーションを行ってｎ個のデータ点（Ｘi、Ｙi）を
求め、始点、終点のデータ点をモデルｆ４（Ｘi ）のデ
ータ点とし、隣接するデータ点間の傾きａi を求め、さ
らに、隣接する傾きａi 間の絶対値差ｂi を求める。
【００４２】次に、ステップＳ４４において、例えば図
１５に示すように始点と終点以外のデータ点を各々４つ
のデータ点からなる４つのグループに分ける。そして、
各々のグループ内のデータ点に対する絶対値差ｂi のう
ち値が最大のものを求め、求めた絶対値差ｂi に対応す
るデータ点を求める。
１５に示すように始点と終点以外のデータ点を各々４つ
のデータ点からなる４つのグループに分ける。そして、
各々のグループ内のデータ点に対する絶対値差ｂi のう
ち値が最大のものを求め、求めた絶対値差ｂi に対応す
るデータ点を求める。
【００４３】そしてステップＳ４５においてステップＳ
４４で求められた各データ点間を線形補間して遅延時間
のモデルｆ４（Ｘi ）とする。これにより、図１６中に
実線で示す遅延時間のモデルｆ４（Ｘi ）が求められ
る。
４４で求められた各データ点間を線形補間して遅延時間
のモデルｆ４（Ｘi ）とする。これにより、図１６中に
実線で示す遅延時間のモデルｆ４（Ｘi ）が求められ
る。
【００４４】この第４の実施形態では、パラメータＸi
の所定区間毎に絶対値差ｂi の最大値を求め、このデー
タに対応するデータ点をモデルｆ４（Ｘi ）のデータ点
としているので、パラメータＸi の区間に偏りのないデ
ータ点で遅延時間のモデル化を行うことができる。
の所定区間毎に絶対値差ｂi の最大値を求め、このデー
タに対応するデータ点をモデルｆ４（Ｘi ）のデータ点
としているので、パラメータＸi の区間に偏りのないデ
ータ点で遅延時間のモデル化を行うことができる。
【００４５】例えばデータ点間の傾きの変化の大きい領
域が特定の区間に集中している場合には、この領域以外
で傾きが若干変化する領域がある場合、上述の第１〜第
３の実施形態ではこのような領域における傾きの若干の
変化を検出することができない場合もあるが、この第４
の実施形態では、このような傾きの若干の変化を検出す
ることができる。
域が特定の区間に集中している場合には、この領域以外
で傾きが若干変化する領域がある場合、上述の第１〜第
３の実施形態ではこのような領域における傾きの若干の
変化を検出することができない場合もあるが、この第４
の実施形態では、このような傾きの若干の変化を検出す
ることができる。
【００４６】従って、このようなモデルを用いることに
より、電子回路の設計及びシミュレーションを高速かつ
高精度に行うことができる。
より、電子回路の設計及びシミュレーションを高速かつ
高精度に行うことができる。
【００４７】なお、本発明は、上述の各実施形態に限定
されるものではなく、例えば上述の第２あるいは第３の
実施形態と同様に各データ点の傾きａi の絶対値差ｂi
を求め、これらの絶対値差ｂi を第４の実施形態と同様
にｍ個のグループに分け、各グループ内で絶対値差ｂi
が最大のデータ点をそのグループに対応する区間のデー
タ点としてモデルを求めてもよい。
されるものではなく、例えば上述の第２あるいは第３の
実施形態と同様に各データ点の傾きａi の絶対値差ｂi
を求め、これらの絶対値差ｂi を第４の実施形態と同様
にｍ個のグループに分け、各グループ内で絶対値差ｂi
が最大のデータ点をそのグループに対応する区間のデー
タ点としてモデルを求めてもよい。
【００４８】その他、上述の各実施形態と同様に、それ
ぞれ遅延時間のモデルを求め、求めた各々のモデルと実
際に測定した遅延時間の誤差を例えば各データ点におけ
る誤差の平均値として求め、誤差が最小であるモデルを
最終的に用いる構成とする等、適宜変更を加えることが
できる。
ぞれ遅延時間のモデルを求め、求めた各々のモデルと実
際に測定した遅延時間の誤差を例えば各データ点におけ
る誤差の平均値として求め、誤差が最小であるモデルを
最終的に用いる構成とする等、適宜変更を加えることが
できる。
【００４９】
【発明の効果】本発明に係る電子回路のモデル化方法で
は、電子回路のパラメータをｎ（ｎ：任意）通りに変化
させ、各々のパラメータに対する電子回路の遅延時間を
求め、各々のパラメータと、パラメータに対応する遅延
時間の組を座標とするデータ点を求め、各データ点間の
パラメータの増分に対する遅延時間の増分を各データ点
間の傾きとし、各データ点における傾きの変化を表す指
標を求め、指標の上位のｍ（ｍ＜ｎ）点を求め、ｍ点の
指標に対応するデータ点を選択し、選択したデータ点間
を線形補間して電子回路の遅延時間をモデル化すること
により、指標に基づいて傾きの変化の大きい位置のデー
タ点を優先的に用いてモデル化を行うことができる。
は、電子回路のパラメータをｎ（ｎ：任意）通りに変化
させ、各々のパラメータに対する電子回路の遅延時間を
求め、各々のパラメータと、パラメータに対応する遅延
時間の組を座標とするデータ点を求め、各データ点間の
パラメータの増分に対する遅延時間の増分を各データ点
間の傾きとし、各データ点における傾きの変化を表す指
標を求め、指標の上位のｍ（ｍ＜ｎ）点を求め、ｍ点の
指標に対応するデータ点を選択し、選択したデータ点間
を線形補間して電子回路の遅延時間をモデル化すること
により、指標に基づいて傾きの変化の大きい位置のデー
タ点を優先的に用いてモデル化を行うことができる。
【００５０】従って、データ点を増加させずに電子回路
の遅延時間のモデルの精度を向上させることができ、こ
のような遅延時間のモデルを用いることにより、電子回
路の設計及びシミュレーションを高速かつ高精度に行う
ことができる。
の遅延時間のモデルの精度を向上させることができ、こ
のような遅延時間のモデルを用いることにより、電子回
路の設計及びシミュレーションを高速かつ高精度に行う
ことができる。
【００５１】また、各データ点間のパラメータの増分に
対する遅延時間の増分を各データ点間の傾きとし、各デ
ータ点における傾きの変化を表す指標を求め、求めた指
標をｍ（ｍ＜ｎ）区間に分け、各区間内の指標の上位の
点を求め、各区間毎に求めた指標に対応するデータ点を
選択し、選択したデータ点間を線形補間して電子回路の
遅延時間をモデル化することにより、選択するデータ点
の位置が偏ることを防止して遅延時間のモデルの精度を
向上させることができる。
対する遅延時間の増分を各データ点間の傾きとし、各デ
ータ点における傾きの変化を表す指標を求め、求めた指
標をｍ（ｍ＜ｎ）区間に分け、各区間内の指標の上位の
点を求め、各区間毎に求めた指標に対応するデータ点を
選択し、選択したデータ点間を線形補間して電子回路の
遅延時間をモデル化することにより、選択するデータ点
の位置が偏ることを防止して遅延時間のモデルの精度を
向上させることができる。
【００５２】また、本発明に係る電子回路のシミュレー
ション方法では、本発明に係る電子回路の遅延時間のモ
デル化方法によりモデル化した電子回路の遅延時間に基
づいてシミュレーションを行うことができるため、シミ
ュレーションに要する時間を短縮することができると共
に、精度を向上させることができる。
ション方法では、本発明に係る電子回路の遅延時間のモ
デル化方法によりモデル化した電子回路の遅延時間に基
づいてシミュレーションを行うことができるため、シミ
ュレーションに要する時間を短縮することができると共
に、精度を向上させることができる。
【図１】 本発明の第１の実施形態に係るシミュレーシ
ョン装置の構成を示すブロック図である。
ョン装置の構成を示すブロック図である。
【図２】 従来の線形近似方法により求めた電子回路の
遅延時間のモデルの一例を示す図である。
遅延時間のモデルの一例を示す図である。
【図３】 従来の非線形近似方法により求めた電子回路
の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
【図４】 上記シミュレーション装置によるシミュレー
ションの手順を示すフローチャートである。
ションの手順を示すフローチャートである。
【図５】 上記シミュレーション手順中の電子回路のモ
デル化手順を示すフローチャートである。
デル化手順を示すフローチャートである。
【図６】 上記電子回路のモデル化手順により求めた電
子回路の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
子回路の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
【図７】 上記モデル化手順の各ステップにおいて求め
られる計算結果の一例を示す図である。
られる計算結果の一例を示す図である。
【図８】 本発明の第２の実施形態における電子回路の
モデル化手順を示すフローチャートである。
モデル化手順を示すフローチャートである。
【図９】 上記モデル化手順の各ステップにおいて求め
られる計算結果の一例を示す図である。
られる計算結果の一例を示す図である。
【図１０】 上記電子回路のモデル化手順により求めた
電子回路の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
電子回路の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
【図１１】 本発明の第３の実施形態における電子回路
のモデル化手順の要部の処理を示すフローチャートであ
る。
のモデル化手順の要部の処理を示すフローチャートであ
る。
【図１２】 上記モデル化手順の各ステップにおいて求
められる計算結果の一例を示す図である。
められる計算結果の一例を示す図である。
【図１３】 上記電子回路のモデル化手順により求めた
電子回路の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
電子回路の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
【図１４】 本発明の第４の実施形態における電子回路
のモデル化手順の要部の処理を示すフローチャートであ
る。
のモデル化手順の要部の処理を示すフローチャートであ
る。
【図１５】 上記モデル化手順の各ステップにおいて求
められる計算結果の一例を示す図である。
められる計算結果の一例を示す図である。
【図１６】 上記電子回路のモデル化手順により求めた
電子回路の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
電子回路の遅延時間のモデルの一例を示す図である。
Ｘi パラメータ、Ｙi 遅延時間、ｆ１（Ｘi ）〜ｆ
４（Ｘi ） モデル
４（Ｘi ） モデル
Claims (6)
- 【請求項１】 電子回路の遅延時間をモデル化する方法
において、 電子回路のパラメータをｎ（ｎ：任意）通りに変化さ
せ、各々のパラメータに対する電子回路の遅延時間を求
め、 上記各々のパラメータと、該パラメータに対応する遅延
時間の組を座標とするデータ点を求め、 各データ点間のパラメータの増分に対する遅延時間の増
分を各データ点間の傾きとし、各データ点における上記
傾きの変化を表す指標を求め、 該指標の上位のｍ（ｍ＜ｎ）点を求め、 該ｍ点の指標に対応するデータ点を選択し、 該選択したデータ点間を線形補間して電子回路の遅延時
間をモデル化することを特徴とする電子回路のモデル化
方法。 - 【請求項２】 電子回路の遅延時間をモデル化する方法
において、 電子回路のパラメータをｎ（ｎ：任意）通りに変化さ
せ、各々のパラメータに対する電子回路の遅延時間を求
め、 上記各々のパラメータと、該パラメータに対応する遅延
時間の組を座標とするデータ点を求め、 各データ点間のパラメータの増分に対する遅延時間の増
分を各データ点間の傾きとし、各データ点における傾き
の変化を表す指標を求め、 求めた指標をｍ（ｍ＜ｎ）区間に分け、各区間内の指標
の上位の点を求め、 各区間毎に求めた指標に対応するデータ点を選択し、 該選択したデータ点間を線形補間して電子回路の遅延時
間をモデル化することを特徴とする電子回路のモデル化
方法。 - 【請求項３】 上記指標として、上記各データ点と、該
データ点に隣接する２つのデータ点との間の傾きの差の
絶対値を用いることを特徴とする請求項１又は請求項２
のいずれか１項に記載の電子回路のモデル化方法。 - 【請求項４】 上記指標として、上記各データ点と、該
データ点に隣接する２つのデータ点とを通る２次曲線の
上記各データ点における傾きと、上記各データ点に隣接
するデータ点についての同様の２次曲線の傾きの差の絶
対値を用いることを特徴とする請求項１又は請求項２の
いずれか１項に記載の電子回路のモデル化方法。 - 【請求項５】 上記指標として、上記各データ点と、該
データ点に隣接する２つのデータ点とを通る２次曲線の
上記各データ点における２次微分値の絶対値を用いるこ
とを特徴とする請求項１又は請求項２のいずれか１項に
記載の電子回路のモデル化方法。 - 【請求項６】 上記請求項１又は請求項２又は請求項３
又は請求項４又は請求項５のいずれか１項に記載の電子
回路の遅延時間のモデル化方法によりモデル化した電子
回路の遅延時間に基づいてシミュレーションを行うこと
を特徴とする電子回路のシミュレーション方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8108913A JPH09293092A (ja) | 1996-04-30 | 1996-04-30 | 電子回路のモデル化方法及び電子回路のシミュレーション方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8108913A JPH09293092A (ja) | 1996-04-30 | 1996-04-30 | 電子回路のモデル化方法及び電子回路のシミュレーション方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09293092A true JPH09293092A (ja) | 1997-11-11 |
Family
ID=14496824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8108913A Withdrawn JPH09293092A (ja) | 1996-04-30 | 1996-04-30 | 電子回路のモデル化方法及び電子回路のシミュレーション方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09293092A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10105581A (ja) * | 1996-09-27 | 1998-04-24 | Dainippon Printing Co Ltd | 集積回路の論理シミュレーション方法 |
| JP2001330116A (ja) * | 2000-03-14 | 2001-11-30 | Honda Motor Co Ltd | 変速制御装置の開発支援装置 |
| JP2002122223A (ja) * | 2000-08-11 | 2002-04-26 | Honda Motor Co Ltd | 車両用自動変速機の制御装置の開発支援装置 |
| JP2002122222A (ja) * | 2000-08-11 | 2002-04-26 | Honda Motor Co Ltd | 車両用自動変速機の制御装置の開発支援装置 |
| JP2011191837A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Hitachi Ltd | 装置モデル変換器およびそれを用いた情報システム |
| JP2018194302A (ja) * | 2017-05-12 | 2018-12-06 | 株式会社日立製作所 | 磁化曲線補間方法および磁界解析システム |
-
1996
- 1996-04-30 JP JP8108913A patent/JPH09293092A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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