JPH07249687A - バス配線 - Google Patents
バス配線Info
- Publication number
- JPH07249687A JPH07249687A JP6039886A JP3988694A JPH07249687A JP H07249687 A JPH07249687 A JP H07249687A JP 6039886 A JP6039886 A JP 6039886A JP 3988694 A JP3988694 A JP 3988694A JP H07249687 A JPH07249687 A JP H07249687A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- bus
- wirings
- bit
- power consumption
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、半導体集積回路の集積度を落と
すことなく、バス配線に係る消費電力を低減する配線構
造を得る。 【構成】 バスを構成する配線のうち少なくとも1つの
配線を他の配線の配線間隔よりも広い配線間隔で配置す
る。バスを構成する配線のうち少なくとも1つの配線は
他の配線と基板との基板間隔よりも広い基板間隔で配置
する。制御信号に基づいて動作するスイッチ回路を設け
る。
すことなく、バス配線に係る消費電力を低減する配線構
造を得る。 【構成】 バスを構成する配線のうち少なくとも1つの
配線を他の配線の配線間隔よりも広い配線間隔で配置す
る。バスを構成する配線のうち少なくとも1つの配線は
他の配線と基板との基板間隔よりも広い基板間隔で配置
する。制御信号に基づいて動作するスイッチ回路を設け
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、配線の寄生容量を低
減する構造を有するバス配線に関する。
減する構造を有するバス配線に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路における消費電力は、半
導体集積回路内でのスイッチング動作時に充放電する電
気的な負荷容量に大きく依存している。この負荷容量
は、配線部の配線寄生容量とトランジスタ等のデバイス
部のゲート寄生容量とに分けられる。近年の半導体製造
プロセスの微細化に伴い、半導体チップに占める負荷容
量の内、前記配線寄生容量の占める割合が前記ゲート寄
生容量よりも多くなってきている。配線の中でアドレス
やデータなど特定の情報を決まった幅でやり取りするた
めに複数本の配線をまとめて配置している。こうしたも
のをアドレスバス配線、データバス配線という。半導体
の中でもメモリやプロセッサにおいては、これらバス配
線の占める割合が特に多く、バス配線部分の低消費電力
化が必要とされている。
導体集積回路内でのスイッチング動作時に充放電する電
気的な負荷容量に大きく依存している。この負荷容量
は、配線部の配線寄生容量とトランジスタ等のデバイス
部のゲート寄生容量とに分けられる。近年の半導体製造
プロセスの微細化に伴い、半導体チップに占める負荷容
量の内、前記配線寄生容量の占める割合が前記ゲート寄
生容量よりも多くなってきている。配線の中でアドレス
やデータなど特定の情報を決まった幅でやり取りするた
めに複数本の配線をまとめて配置している。こうしたも
のをアドレスバス配線、データバス配線という。半導体
の中でもメモリやプロセッサにおいては、これらバス配
線の占める割合が特に多く、バス配線部分の低消費電力
化が必要とされている。
【0003】前記両バス配線の寄生容量としては、各バ
ス配線を構成するある配線と別の配線との間に生ずる配
線間容量、各バス配線を構成するある配線と半導体基板
との間に生ずる基板間容量があり、双方の低減が必要と
される。図8に従来のバス配線の一例として8ビット構
成の場合のアドレスバス配線を示す。図8において、1
は一組の8ビットアドレスバス配線、10はアドレスバス
配線1の最下位ビット(第0ビット目)の配線を示し、
以下11〜17はそれぞれ第1ビット目〜第7ビット目のア
ドレスバス配線を示している。
ス配線を構成するある配線と別の配線との間に生ずる配
線間容量、各バス配線を構成するある配線と半導体基板
との間に生ずる基板間容量があり、双方の低減が必要と
される。図8に従来のバス配線の一例として8ビット構
成の場合のアドレスバス配線を示す。図8において、1
は一組の8ビットアドレスバス配線、10はアドレスバス
配線1の最下位ビット(第0ビット目)の配線を示し、
以下11〜17はそれぞれ第1ビット目〜第7ビット目のア
ドレスバス配線を示している。
【0004】図8に示す様、従来のアドレスバス配線1
を構成する各ビット線の配線10〜17は半導体製造プロセ
スの許容範囲内でできる限り近づけて配置し製造してい
る。配線をできる限り近づけて配置する理由は、これら
配線をCADにより自動配置していることや、半導体の
製造コストを下げるため半導体のチップサイズをより小
さくする様に最小間隔で配置していることによる。
を構成する各ビット線の配線10〜17は半導体製造プロセ
スの許容範囲内でできる限り近づけて配置し製造してい
る。配線をできる限り近づけて配置する理由は、これら
配線をCADにより自動配置していることや、半導体の
製造コストを下げるため半導体のチップサイズをより小
さくする様に最小間隔で配置していることによる。
【0005】図9は図8に示したバス配線1の断面図を
示している。この図で100 は半導体基板を示し、Ch2は
バス配線1と半導体基板100 との間に生ずる静電容量で
ある基板間容量を示し、Cw3はバス配線間に生ずる静電
容量である配線間容量を示す。この様に配線容量は図9
に示す様基板間容量Ch2と配線間容量Cw3とから構成さ
れる。
示している。この図で100 は半導体基板を示し、Ch2は
バス配線1と半導体基板100 との間に生ずる静電容量で
ある基板間容量を示し、Cw3はバス配線間に生ずる静電
容量である配線間容量を示す。この様に配線容量は図9
に示す様基板間容量Ch2と配線間容量Cw3とから構成さ
れる。
【0006】配線である導体間に生ずる静電容量Cは、
次の平行平板近似式により表される。 C=ε・S/L ・・・・・・(1式) この式において、εは導体と導体の間の絶縁物質の誘電
率、Sは導体と導体の対向面積、Lは導体間の間隔を示
す。
次の平行平板近似式により表される。 C=ε・S/L ・・・・・・(1式) この式において、εは導体と導体の間の絶縁物質の誘電
率、Sは導体と導体の対向面積、Lは導体間の間隔を示
す。
【0007】従って、基板間容量Ch2を減らすには、絶
縁物質の誘電率(ε)および配線面積(S)が一定であ
る時には導体であるバス配線1を構成するビット配線10
〜17どうし、あるいは半導体基板100 との距離(L)を
大きくして離す方法がある。
縁物質の誘電率(ε)および配線面積(S)が一定であ
る時には導体であるバス配線1を構成するビット配線10
〜17どうし、あるいは半導体基板100 との距離(L)を
大きくして離す方法がある。
【0008】これらを実現する手段としては、例えば次
の様な方法が考えられる。 (1) 配線間容量Cw3を減らすために、配線間隔(L)を
広げる (2) 多層配線プロセスを用いている場合は、より上層に
配置している配線を積極的に使用し、半導体基板との基
板間隔(L)を広げる
の様な方法が考えられる。 (1) 配線間容量Cw3を減らすために、配線間隔(L)を
広げる (2) 多層配線プロセスを用いている場合は、より上層に
配置している配線を積極的に使用し、半導体基板との基
板間隔(L)を広げる
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、すべてのバス
配線の配線間隔を広げてレイアウト(上述の(1) の方
法)したり、すべてのバス配線を上層に配置された配線
でレイアウト(上述の(2)の方法)すると、半導体集積
回路の集積度を上げることができない。
配線の配線間隔を広げてレイアウト(上述の(1) の方
法)したり、すべてのバス配線を上層に配置された配線
でレイアウト(上述の(2)の方法)すると、半導体集積
回路の集積度を上げることができない。
【0010】その理由は、上述の(1) の方法では、単位
面積当たりに配線できる量が減り、その結果で集積度を
上げられないことはあきらかであり、上述の(2) の方法
では、半導体基板から距離的に離れる程、配線を敷く基
準面たる層間膜の平坦性を確保することが難しくなると
いう新たな課題が生じ、配線の間隔を広げたり、配線を
太くしてこの課題を回避している。
面積当たりに配線できる量が減り、その結果で集積度を
上げられないことはあきらかであり、上述の(2) の方法
では、半導体基板から距離的に離れる程、配線を敷く基
準面たる層間膜の平坦性を確保することが難しくなると
いう新たな課題が生じ、配線の間隔を広げたり、配線を
太くしてこの課題を回避している。
【0011】本発明は以上の問題を解決するためになさ
れたものであり、半導体集積回路の集積度を落とすこと
なく、バス配線に係る消費電力を低減することを目的と
している。
れたものであり、半導体集積回路の集積度を落とすこと
なく、バス配線に係る消費電力を低減することを目的と
している。
【0012】
【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項1
においては、バスを構成する配線のうち少なくとも1つ
の配線(特異な配線)を、この配線の他の配線(特異で
はない配線)の配線間隔よりも広い配線間隔で配置す
る。この発明に係る請求項2においては、バスを構成す
る配線のうち少なくとも1つの配線(特異な配線)を、
この配線の他の配線(特異ではない配線)と半導体基板
との基板間隔とは異なる基板間隔で配置する。この発明
に係る請求項3においては、制御信号に基づいてバス配
線の特異な配線と特異ではない配線とを選択して接続す
るスイッチ回路をバス配線上に設ける。
においては、バスを構成する配線のうち少なくとも1つ
の配線(特異な配線)を、この配線の他の配線(特異で
はない配線)の配線間隔よりも広い配線間隔で配置す
る。この発明に係る請求項2においては、バスを構成す
る配線のうち少なくとも1つの配線(特異な配線)を、
この配線の他の配線(特異ではない配線)と半導体基板
との基板間隔とは異なる基板間隔で配置する。この発明
に係る請求項3においては、制御信号に基づいてバス配
線の特異な配線と特異ではない配線とを選択して接続す
るスイッチ回路をバス配線上に設ける。
【0013】
【作用】この発明に係る請求項1において、配線と配線
との距離を広げるため、配線と配線との間に生ずる静電
容量を低減し、半導体集積回路の消費電力が低減され
る。この発明に係る請求項2において、配線と半導体基
板との距離を広げるため、配線と基板との間に生ずる静
電容量を低減し、半導体集積回路の消費電力が低減され
る。この発明に係る請求項3において、特異な配線と特
異ではない配線とを選択するスイッチ回路をバス配線上
に設けたので、低消費電力用とされない特異ではない配
線で生じていた静電容量をスイッチ回路で選択された低
消費電力用の特異な配線が低減し、半導体集積回路の消
費電力が低減される。
との距離を広げるため、配線と配線との間に生ずる静電
容量を低減し、半導体集積回路の消費電力が低減され
る。この発明に係る請求項2において、配線と半導体基
板との距離を広げるため、配線と基板との間に生ずる静
電容量を低減し、半導体集積回路の消費電力が低減され
る。この発明に係る請求項3において、特異な配線と特
異ではない配線とを選択するスイッチ回路をバス配線上
に設けたので、低消費電力用とされない特異ではない配
線で生じていた静電容量をスイッチ回路で選択された低
消費電力用の特異な配線が低減し、半導体集積回路の消
費電力が低減される。
【0014】
実施例1.図1に本発明の一実施例を示す。この実施例
では8ビット幅のバス配線のレイアウトを示している。
図1において、1は8ビット分のバス配線、10は8ビッ
トのバス配線1の最下位ビットすなわち0ビット目の配
線である。以下11〜17はそれぞれ1ビット目〜7ビット
目の配線である。図2に、図1のバス配線を垂直に切っ
た場合の断面図を示す。
では8ビット幅のバス配線のレイアウトを示している。
図1において、1は8ビット分のバス配線、10は8ビッ
トのバス配線1の最下位ビットすなわち0ビット目の配
線である。以下11〜17はそれぞれ1ビット目〜7ビット
目の配線である。図2に、図1のバス配線を垂直に切っ
た場合の断面図を示す。
【0015】図2において100 は半導体集積回路の半導
体基板である。また、Ch0はバス配線と半導体基板100
との基板間容量であり、Cw0、Cw1およびCw2はバス配
線どうしの配線間容量である。なお、本実施例では8ビ
ット幅のバス配線1において下位2ビットの配線10およ
び11は隣接する配線との間隔w1およびw2が他の6ビット
の配線間隔w0より広くしている(w0<w1<w2)。
体基板である。また、Ch0はバス配線と半導体基板100
との基板間容量であり、Cw0、Cw1およびCw2はバス配
線どうしの配線間容量である。なお、本実施例では8ビ
ット幅のバス配線1において下位2ビットの配線10およ
び11は隣接する配線との間隔w1およびw2が他の6ビット
の配線間隔w0より広くしている(w0<w1<w2)。
【0016】導体間に生ずる静電容量Cは、従来技術の
説明に示した平行平板近似式(数式1)により表され
る。 C=ε・S/L ・・・・・・(1式) この式において、εは導体と導体の間の絶縁物質の誘電
率、Sは導体と導体の対向面積、Lは導体間の間隔を示
す。この数式1によると、配線間容量Cは配線間隔w に
反比例する。従って、この配線間容量は配線間隔w1やw2
が大きくなると、それに係る配線間容量Cw1やCw2は配
線間隔を広げていない場合の配線間容量Cw0よりも少な
くなる。
説明に示した平行平板近似式(数式1)により表され
る。 C=ε・S/L ・・・・・・(1式) この式において、εは導体と導体の間の絶縁物質の誘電
率、Sは導体と導体の対向面積、Lは導体間の間隔を示
す。この数式1によると、配線間容量Cは配線間隔w に
反比例する。従って、この配線間容量は配線間隔w1やw2
が大きくなると、それに係る配線間容量Cw1やCw2は配
線間隔を広げていない場合の配線間容量Cw0よりも少な
くなる。
【0017】配線と基板との間の静電容量Ch0について
も同様に平行平板近似を行うと、配線と基板との間の距
離h0が一定であり、かつ半導体基板100 に対向する配線
の面積も一定であれば、配線と基板との間の静電容量は
一定である。従って、図2に示す様にバスを配置する
と、配線の一本当りで比べると下位2ビットの配線の負
荷容量が他の6ビットの配線の負荷容量より小さくな
る。
も同様に平行平板近似を行うと、配線と基板との間の距
離h0が一定であり、かつ半導体基板100 に対向する配線
の面積も一定であれば、配線と基板との間の静電容量は
一定である。従って、図2に示す様にバスを配置する
と、配線の一本当りで比べると下位2ビットの配線の負
荷容量が他の6ビットの配線の負荷容量より小さくな
る。
【0018】いま、図1のバス配線1において、例えば
バス配線1の状態(または値)が0→1→2→3→4→
……と連続して変化(カウントアップ)するものとす
る。例えばこの変化の一部分である0→1→2→3→4
の部分を説明すれば、バス配線は次の変化をする。 (1) バス配線1の状態が0のとき、全ての各ビットの配
線10〜17は電気的に“L”である。 (2) 0→1に変化するとき、バス配線1のうち最下位ビ
ットの配線10のみが“L”→“H”に変化し、他の7つ
の各ビットの配線11〜17は変化せず“L”である。 (3) 1→2に変化するとき、最下位ビットの配線10が
“H”→“L”に変化し、1ビット目の配線11が“L”
→“H”に変化する。他の6つの各ビットの配線12〜17
は変化しない。 (4) 2→3に変化するとき、0→1の変化時と同様でバ
ス配線のうち最下位ビットの配線10のみが“L”→
“H”に変化し、他の7つの各ビットの配線11〜17は変
化しない。 (5) 3→4に変化するとき、配線10および11が“H”→
“L”に変化し、2ビット目の配線12が“L”→“H”
に変化し、他の5つの各ビットの配線13〜17は変化しな
い。
バス配線1の状態(または値)が0→1→2→3→4→
……と連続して変化(カウントアップ)するものとす
る。例えばこの変化の一部分である0→1→2→3→4
の部分を説明すれば、バス配線は次の変化をする。 (1) バス配線1の状態が0のとき、全ての各ビットの配
線10〜17は電気的に“L”である。 (2) 0→1に変化するとき、バス配線1のうち最下位ビ
ットの配線10のみが“L”→“H”に変化し、他の7つ
の各ビットの配線11〜17は変化せず“L”である。 (3) 1→2に変化するとき、最下位ビットの配線10が
“H”→“L”に変化し、1ビット目の配線11が“L”
→“H”に変化する。他の6つの各ビットの配線12〜17
は変化しない。 (4) 2→3に変化するとき、0→1の変化時と同様でバ
ス配線のうち最下位ビットの配線10のみが“L”→
“H”に変化し、他の7つの各ビットの配線11〜17は変
化しない。 (5) 3→4に変化するとき、配線10および11が“H”→
“L”に変化し、2ビット目の配線12が“L”→“H”
に変化し、他の5つの各ビットの配線13〜17は変化しな
い。
【0019】この様にバス配線の状態(または値)はデ
ータがカウントアップする様に変化の少ない場合には、
上位側の配線はほとんど変化せず、変化する配線は下位
側に偏っている。その様子を図4に示す。図4では最下
位の配線10はその状態が進む度に変化するが、次のビッ
トの配線11は配線10が2度変化する毎に変化し、さら
に、配線12は配線10が4度変化することで1回変化する
という様に上位側ほど下位側に比べて変化する機会が少
ない。
ータがカウントアップする様に変化の少ない場合には、
上位側の配線はほとんど変化せず、変化する配線は下位
側に偏っている。その様子を図4に示す。図4では最下
位の配線10はその状態が進む度に変化するが、次のビッ
トの配線11は配線10が2度変化する毎に変化し、さら
に、配線12は配線10が4度変化することで1回変化する
という様に上位側ほど下位側に比べて変化する機会が少
ない。
【0020】そこで図1のように配線しておくと、変化
頻度の高いビット配線10、11の負荷容量を少なくし、バ
ス配線に係る消費電力を低減できる。
頻度の高いビット配線10、11の負荷容量を少なくし、バ
ス配線に係る消費電力を低減できる。
【0021】ただ、低消費電力化のため最も良い方法は
バス配線の全ての配線間隔を広げれば良いことは簡単に
理解できるが、先の発明が解決すべき課題の説明にも述
べた理由の通り、かえって半導体集積回路の集積度を下
げることになり、バス配線の全ての配線間隔を広げるこ
とはあまり現実的な手法とは言えない。このため、本実
施例では比較的変化頻度の高い部分の配線間隔を広げて
総合的な効果を出している。従って、少ない面積増加で
最適に消費電力の少ないバス配線を実現できる。
バス配線の全ての配線間隔を広げれば良いことは簡単に
理解できるが、先の発明が解決すべき課題の説明にも述
べた理由の通り、かえって半導体集積回路の集積度を下
げることになり、バス配線の全ての配線間隔を広げるこ
とはあまり現実的な手法とは言えない。このため、本実
施例では比較的変化頻度の高い部分の配線間隔を広げて
総合的な効果を出している。従って、少ない面積増加で
最適に消費電力の少ないバス配線を実現できる。
【0022】なお、本実施例では、バス配線を3種類の
配線間隔w0、w1、w2で構成した例を示したが、配線間隔
を広げることにより効果が出る配線を他の配線と距離を
離して配線すればよく、種類を限定して構成する必要は
なく2種類または4種類以上であっても構わない。これ
は所望の半導体の性能・用途面やチップ面積の制約等を
考慮し、個々に最適な構成とすればよい。
配線間隔w0、w1、w2で構成した例を示したが、配線間隔
を広げることにより効果が出る配線を他の配線と距離を
離して配線すればよく、種類を限定して構成する必要は
なく2種類または4種類以上であっても構わない。これ
は所望の半導体の性能・用途面やチップ面積の制約等を
考慮し、個々に最適な構成とすればよい。
【0023】さらに、本実施例では下位側の配線に限っ
て負荷容量を減らす様に説明したが、バスの変化頻度の
多少に応じて、適当な配線の負荷容量を減らすようにし
てもよい。例えばブロック単位でデータ転送が行われる
システムの場合は、下位側よりも上位側の変化が多いの
で、上位側の配線間隔を広げるようにすればよい。
て負荷容量を減らす様に説明したが、バスの変化頻度の
多少に応じて、適当な配線の負荷容量を減らすようにし
てもよい。例えばブロック単位でデータ転送が行われる
システムの場合は、下位側よりも上位側の変化が多いの
で、上位側の配線間隔を広げるようにすればよい。
【0024】図3は本実施例のバス配線1をメモリのア
ドレスバスに適用した場合の一例である。図3におい
て、3はプログラムまたはデータを記憶するためのメモ
リ(または周辺装置)であり、2はメモリ3にアドレス
信号を出力するアドレス生成回路である。図3のメモリ
3には命令またはデータが記憶されており、メモリ3は
アドレス生成回路2から出力されるアドレス信号に従っ
て順次命令またはデータを出力する。ジャンプ命令やコ
ール命令のようなアドレッシングを乱す命令が実行され
る場合を除いて、アドレス生成回路2はn番地、(n+
1)番地、(n+2)番地、…というようにシーケンシ
ャルにアドレス信号を出力する。
ドレスバスに適用した場合の一例である。図3におい
て、3はプログラムまたはデータを記憶するためのメモ
リ(または周辺装置)であり、2はメモリ3にアドレス
信号を出力するアドレス生成回路である。図3のメモリ
3には命令またはデータが記憶されており、メモリ3は
アドレス生成回路2から出力されるアドレス信号に従っ
て順次命令またはデータを出力する。ジャンプ命令やコ
ール命令のようなアドレッシングを乱す命令が実行され
る場合を除いて、アドレス生成回路2はn番地、(n+
1)番地、(n+2)番地、…というようにシーケンシ
ャルにアドレス信号を出力する。
【0025】この様に変化するアドレスバス配線に本発
明のバス配線を適用したので、特に変化頻度の高い下位
側のビットの配線負荷容量を減らすことができ、面積増
加を少なく抑え、かつ低消費電力化に最適な効果を得る
ことができる。
明のバス配線を適用したので、特に変化頻度の高い下位
側のビットの配線負荷容量を減らすことができ、面積増
加を少なく抑え、かつ低消費電力化に最適な効果を得る
ことができる。
【0026】また、上記の説明ではメモリには主として
命令が記憶されているよう述べたが、データが記憶され
ていても効果的である。一般にまとまった処理に必要な
データは、メモリ3上にある連続した空間にまとめて記
憶させる場合が多く、また、データのアクセスに際して
も連続してアクセスすることが多い。したがってアドレ
スバス配線の変化頻度は下位側が多くなり、本発明のバ
ス配線により効果的に低消費電力化を図ることができ
る。また、本発明はアドレスバス以外にも、先に説明し
たカウンタ等のデータバスに適用しても効果がある。
命令が記憶されているよう述べたが、データが記憶され
ていても効果的である。一般にまとまった処理に必要な
データは、メモリ3上にある連続した空間にまとめて記
憶させる場合が多く、また、データのアクセスに際して
も連続してアクセスすることが多い。したがってアドレ
スバス配線の変化頻度は下位側が多くなり、本発明のバ
ス配線により効果的に低消費電力化を図ることができ
る。また、本発明はアドレスバス以外にも、先に説明し
たカウンタ等のデータバスに適用しても効果がある。
【0027】実施例2.次に本発明の実施例2について
説明する。図5は本発明の実施例2の8ビット幅のバス
配線のレイアウトを示している。図5において、1は8
ビット分のバス配線、10は8ビットのバス配線1の最下
位ビットすなわち0ビット目の配線である。以下11〜17
はそれぞれ1ビット目〜7ビット目の配線である。図6
に、図5のバス配線を垂直に切った場合の断面図を示
す。
説明する。図5は本発明の実施例2の8ビット幅のバス
配線のレイアウトを示している。図5において、1は8
ビット分のバス配線、10は8ビットのバス配線1の最下
位ビットすなわち0ビット目の配線である。以下11〜17
はそれぞれ1ビット目〜7ビット目の配線である。図6
に、図5のバス配線を垂直に切った場合の断面図を示
す。
【0028】図6において100 は半導体集積回路の半導
体基板である。また、Ch0およびCh1はそれぞれのバス
配線10〜17と半導体基板100 との基板間容量であり、C
w0およびCw1’はバス配線10〜17どうしの配線間容量で
ある。なお、本実施例では8ビット幅のバス配線1にお
いて下位2ビットの配線10および11は隣接する配線とは
半導体基板からの間隔h1が他の6ビットの配線間隔h
0より広くしている(h0<h1)。
体基板である。また、Ch0およびCh1はそれぞれのバス
配線10〜17と半導体基板100 との基板間容量であり、C
w0およびCw1’はバス配線10〜17どうしの配線間容量で
ある。なお、本実施例では8ビット幅のバス配線1にお
いて下位2ビットの配線10および11は隣接する配線とは
半導体基板からの間隔h1が他の6ビットの配線間隔h
0より広くしている(h0<h1)。
【0029】導体間に生ずる静電容量Cは、実施例1の
説明にも示した平行平板近似式(数式1)により表され
る。この式によると、配線間容量Cは導体である配線と
半導体基板との間隔hに反比例する。
説明にも示した平行平板近似式(数式1)により表され
る。この式によると、配線間容量Cは導体である配線と
半導体基板との間隔hに反比例する。
【0030】図5および図6において、バス配線1の下
位側の2ビットである配線10、11は層間膜上に形成した
2層目の配線を用い、他の上位側の6ビットは1層目の
配線を用いている。1層目の配線10と2層目の配線13の
配線負荷容量を比べたとき、半導体基板100 との間隔に
差があり静電容量に差が生じ、2層目の配線の方が小さ
くなる。従って、下位2ビットの配線負荷容量を上位6
ビットの配線負荷容量よりも小さくすることができる。
変化頻度の高いビットの配線には2層目の配線を用い、
変化頻度の低いビットの配線には1層目の配線を用いる
ことによりバス動作時の消費電力を低減することができ
る。ただ、全ての配線を2層目の配線を用いて配線すれ
ば消費電力を低減することは可能であるが、先の発明が
解決すべき課題の説明にも述べた理由の通り、かえって
半導体集積回路の集積度を下げることになるので、上述
したように変化頻度の高いビットの配線には2層目の配
線を用い、変化頻度の低いビットの配線には1層目の配
線を用いている。
位側の2ビットである配線10、11は層間膜上に形成した
2層目の配線を用い、他の上位側の6ビットは1層目の
配線を用いている。1層目の配線10と2層目の配線13の
配線負荷容量を比べたとき、半導体基板100 との間隔に
差があり静電容量に差が生じ、2層目の配線の方が小さ
くなる。従って、下位2ビットの配線負荷容量を上位6
ビットの配線負荷容量よりも小さくすることができる。
変化頻度の高いビットの配線には2層目の配線を用い、
変化頻度の低いビットの配線には1層目の配線を用いる
ことによりバス動作時の消費電力を低減することができ
る。ただ、全ての配線を2層目の配線を用いて配線すれ
ば消費電力を低減することは可能であるが、先の発明が
解決すべき課題の説明にも述べた理由の通り、かえって
半導体集積回路の集積度を下げることになるので、上述
したように変化頻度の高いビットの配線には2層目の配
線を用い、変化頻度の低いビットの配線には1層目の配
線を用いている。
【0031】このため、本実施例では比較的変化頻度の
高い部分の基板間隔を大きくし総合的な効果を出してい
る。従って、少ない面積増加で最適に消費電力の少ない
バス配線を実現できる。なお、本実施例では、バス配線
を2種類の基板間隔h0、h1で構成した例を示した
が、基板間隔を大きくすることにより低消費電力化に効
果が出る配線を他の配線の基板間隔とは異なる様に配線
すればよく、種類を限定して構成する必要はなく3種類
またはそれ以上であっても構わない。また、1層目と3
層目以上の配線で構成することもでき本発明を適用する
配線層が限定されるものでもない。これは所望の半導体
の性能・用途面やチップ面積の制約等を考慮し、個々に
最適な構成とすればよい。
高い部分の基板間隔を大きくし総合的な効果を出してい
る。従って、少ない面積増加で最適に消費電力の少ない
バス配線を実現できる。なお、本実施例では、バス配線
を2種類の基板間隔h0、h1で構成した例を示した
が、基板間隔を大きくすることにより低消費電力化に効
果が出る配線を他の配線の基板間隔とは異なる様に配線
すればよく、種類を限定して構成する必要はなく3種類
またはそれ以上であっても構わない。また、1層目と3
層目以上の配線で構成することもでき本発明を適用する
配線層が限定されるものでもない。これは所望の半導体
の性能・用途面やチップ面積の制約等を考慮し、個々に
最適な構成とすればよい。
【0032】実施例3.次に本発明の実施例3について
説明する。図7は本発明の一実施例であり、図3に示し
た応用システム例におけるバス配線1の両側にクロスバ
ースイッチを設けたものである。図7において、1はバ
ス配線であって、下位側の配線10〜13に低消費電力化に
効果を奏する様構成したもの、61、62はクロスバースイ
ッチであり、63はこのスロスバースイッチ61、62をコン
トロールする制御信号である。制御信号63は、図示しな
いCPU等から出力される信号である。50〜57および40
〜47はP型トランジスタである。71はインバータであ
り、制御信号63を反転させる。上位側の配線14〜17は、
低消費電力化に効果を奏しない普通の構成としてある。
説明する。図7は本発明の一実施例であり、図3に示し
た応用システム例におけるバス配線1の両側にクロスバ
ースイッチを設けたものである。図7において、1はバ
ス配線であって、下位側の配線10〜13に低消費電力化に
効果を奏する様構成したもの、61、62はクロスバースイ
ッチであり、63はこのスロスバースイッチ61、62をコン
トロールする制御信号である。制御信号63は、図示しな
いCPU等から出力される信号である。50〜57および40
〜47はP型トランジスタである。71はインバータであ
り、制御信号63を反転させる。上位側の配線14〜17は、
低消費電力化に効果を奏しない普通の構成としてある。
【0033】クロスバースイッチ61、62は、制御信号63
をイネーブルにすると、その入力の上位側と下位側とを
入れ換え出力する働きを有するものである。なお、クロ
スバースイッチ61とクロスバースイッチ62の回路構成は
同じである。次に動作について説明する。
をイネーブルにすると、その入力の上位側と下位側とを
入れ換え出力する働きを有するものである。なお、クロ
スバースイッチ61とクロスバースイッチ62の回路構成は
同じである。次に動作について説明する。
【0034】先ず、制御信号63がディセーブル(非活性
状態の時)の場合、P型トランジスタ50〜57がONし、
P型トランジスタ40〜47はOFFする。この場合、クロ
スバースイッチ61はその入力であるアドレス生成回路2
の出力すなわちアドレス信号の上位側と下位側とを入れ
換えず、そのままバス配線1にアドレス信号を出力す
る。即ち、クロスバースイッチ61および62は機能しない
ので、アドレス生成回路2の出力したアドレス信号はビ
ットイメージ通りにバス配線1を伝達し、メモリ3に入
力される。
状態の時)の場合、P型トランジスタ50〜57がONし、
P型トランジスタ40〜47はOFFする。この場合、クロ
スバースイッチ61はその入力であるアドレス生成回路2
の出力すなわちアドレス信号の上位側と下位側とを入れ
換えず、そのままバス配線1にアドレス信号を出力す
る。即ち、クロスバースイッチ61および62は機能しない
ので、アドレス生成回路2の出力したアドレス信号はビ
ットイメージ通りにバス配線1を伝達し、メモリ3に入
力される。
【0035】次に制御信号63がイネーブル(活性状態の
時)の場合、P型トランジスタ50〜57がOFFし、P型
トランジスタ40〜47はONする。この場合、クロスバー
スイッチ61、62が機能する。アドレス生成回路2の出力
であるアドレス信号は、クロスバースイッチ61を通過す
ることで、アドレス生成回路2が出力した上位側のアド
レス信号は下位側のアドレス信号に、下位側のアドレス
信号は上位側のアドレス信号に入れ替えられる。つま
り、配線10と配線17、配線11と配線16、配線12と配線1
5、配線13と配線14はそれぞれが対の関係に構成してお
き、対となっている配線間で信号が入れ替えられる。最
上位側と最下位側とを入れ替えられたアドレス信号は、
バス配線1を入れ換えられたまま伝達する。
時)の場合、P型トランジスタ50〜57がOFFし、P型
トランジスタ40〜47はONする。この場合、クロスバー
スイッチ61、62が機能する。アドレス生成回路2の出力
であるアドレス信号は、クロスバースイッチ61を通過す
ることで、アドレス生成回路2が出力した上位側のアド
レス信号は下位側のアドレス信号に、下位側のアドレス
信号は上位側のアドレス信号に入れ替えられる。つま
り、配線10と配線17、配線11と配線16、配線12と配線1
5、配線13と配線14はそれぞれが対の関係に構成してお
き、対となっている配線間で信号が入れ替えられる。最
上位側と最下位側とを入れ替えられたアドレス信号は、
バス配線1を入れ換えられたまま伝達する。
【0036】メモリ3側のクロスバースイッチ62は、前
記バス配線1を入れ換えられたまま伝達されたアドレス
信号を再び上位側と下位側とを入れ換え、メモリ3には
アドレス生成回路2が出力した当初のビットイメージ通
りにアドレス信号を復元し、正しくメモリ3へ入力す
る。制御信号63は、メモリのブロック転送時など下位側
のアドレス配線を使用せず、むしろ上位側のアドレス配
線を使用する様な場合に有効である。例えば、1ブロッ
クのサイズが1000000 (2進数)であり、2ブロック分
のデータをまとめて転送する場合、配線16と配線17のみ
が変化するので、制御信号63をイネーブルにして配線10
と配線17および配線11と配線16を入れ換えておけば効果
的であることは容易に判断できる。したがって、ユーザ
はユーザのアプリケーションプログラムから制御信号63
をイネーブルに設定する。
記バス配線1を入れ換えられたまま伝達されたアドレス
信号を再び上位側と下位側とを入れ換え、メモリ3には
アドレス生成回路2が出力した当初のビットイメージ通
りにアドレス信号を復元し、正しくメモリ3へ入力す
る。制御信号63は、メモリのブロック転送時など下位側
のアドレス配線を使用せず、むしろ上位側のアドレス配
線を使用する様な場合に有効である。例えば、1ブロッ
クのサイズが1000000 (2進数)であり、2ブロック分
のデータをまとめて転送する場合、配線16と配線17のみ
が変化するので、制御信号63をイネーブルにして配線10
と配線17および配線11と配線16を入れ換えておけば効果
的であることは容易に判断できる。したがって、ユーザ
はユーザのアプリケーションプログラムから制御信号63
をイネーブルに設定する。
【0037】また、上述の説明では、アドレスバスにつ
いてを述べたが、データバスに適用する場合、図示しな
いCPUがメモリやレジスタの特定ビットだけを繰り返
しセット/リセットする命令を実行する場合に有効であ
る。図示しないCPUは、前記のセット/リセットする
命令を実行する際に、命令の実行によって変化する特定
ビットが配線17であった場合には、この配線17を低消費
電力化した配線10に入れ替える様に制御信号63をイネー
ブルに設定する。特定ビットが配線10〜13に係るもので
ある場合には、制御信号63はディセーブルのままであ
る。
いてを述べたが、データバスに適用する場合、図示しな
いCPUがメモリやレジスタの特定ビットだけを繰り返
しセット/リセットする命令を実行する場合に有効であ
る。図示しないCPUは、前記のセット/リセットする
命令を実行する際に、命令の実行によって変化する特定
ビットが配線17であった場合には、この配線17を低消費
電力化した配線10に入れ替える様に制御信号63をイネー
ブルに設定する。特定ビットが配線10〜13に係るもので
ある場合には、制御信号63はディセーブルのままであ
る。
【0038】本発明により、下位側の低消費電力化のみ
ならず、上位側で低消費電力化が必要な時にも対応でき
るので汎用性が高まる。また、必要に応じてバス配線の
配線負荷容量分布を調整することができる。
ならず、上位側で低消費電力化が必要な時にも対応でき
るので汎用性が高まる。また、必要に応じてバス配線の
配線負荷容量分布を調整することができる。
【0039】実施例ではバスを構成する8本の配線10〜
17全てを対称に入れ替える様説明したが、対を限定する
ものではなく、配線10と配線14という対を構成してもよ
いし、配線10〜17全てを入れ替えなくとも配線10と配線
14、配線11と配線15だけにクロスバースイッチを設けて
もよい。これは所望の半導体の性能・用途面やチップ面
積の制約等を考慮し、個々に最適な構成とすればよい。
17全てを対称に入れ替える様説明したが、対を限定する
ものではなく、配線10と配線14という対を構成してもよ
いし、配線10〜17全てを入れ替えなくとも配線10と配線
14、配線11と配線15だけにクロスバースイッチを設けて
もよい。これは所望の半導体の性能・用途面やチップ面
積の制約等を考慮し、個々に最適な構成とすればよい。
【0040】
【発明の効果】請求項1においては、配線と配線との距
離を広くすることにより、配線間に生ずる静電容量を低
減し、半導体集積回路の消費電力を減らすことができ
る。請求項2においては、配線と半導体基板との距離を
広くすることにより配線と基板間に生ずる静電容量を低
減し、半導体集積回路の消費電力を減らすことができ
る。請求項3においては、特異な配線と特異ではない配
線とを選択するスイッチ回路をバス配線上に設けること
により、低消費電力用とされない特異ではない配線で生
じていた静電容量をスイッチ回路で選択された低消費電
力用の特異な配線が低減し、半導体集積回路の消費電力
を低減することができる。以上のように、この発明によ
ればバス配線の複数の配線のうち必要な配線のみ配線容
量を減らすようにレイアウトしているため、半導体集積
回路の集積度を落とすことなくバス動作時の消費電力を
低減することができる。
離を広くすることにより、配線間に生ずる静電容量を低
減し、半導体集積回路の消費電力を減らすことができ
る。請求項2においては、配線と半導体基板との距離を
広くすることにより配線と基板間に生ずる静電容量を低
減し、半導体集積回路の消費電力を減らすことができ
る。請求項3においては、特異な配線と特異ではない配
線とを選択するスイッチ回路をバス配線上に設けること
により、低消費電力用とされない特異ではない配線で生
じていた静電容量をスイッチ回路で選択された低消費電
力用の特異な配線が低減し、半導体集積回路の消費電力
を低減することができる。以上のように、この発明によ
ればバス配線の複数の配線のうち必要な配線のみ配線容
量を減らすようにレイアウトしているため、半導体集積
回路の集積度を落とすことなくバス動作時の消費電力を
低減することができる。
【図1】この発明の一実施例によるバス配線を示す図で
ある。
ある。
【図2】この発明の一実施例によるバス配線の断面図で
ある。
ある。
【図3】この発明の一実施例を用いた応用システム例を
示す図である。
示す図である。
【図4】この発明の一実施例によるバス配線の変化する
様子を示す図である。
様子を示す図である。
【図5】この発明の一実施例によるバス配線を示す図で
ある。
ある。
【図6】この発明の一実施例によるバス配線の断面図で
ある。
ある。
【図7】この発明の一実施例の応用システム例を示す図
である。
である。
【図8】従来のバス配線を示す図である。
【図9】従来のバス配線を示す断面図である。
1 バス配線 10〜17 バス配線を構成する配線 2 アドレス生成回路 3 メモリ 40〜47 P型トランジスタ 50〜57 P型トランジスタ 61、62 クロスバースイッチ 63 制御信号 71 インバータ 100 半導体基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 27/04 A
Claims (3)
- 【請求項1】 半導体集積回路の半導体基板上に半導体
基板に形成されるバス配線において、 バスを構成する配線のうち少なくとも1つの配線は、こ
の配線の他の配線を配置する配線間隔よりも広い配線間
隔で配置されていることを特徴とするバス配線。 - 【請求項2】 半導体集積回路の半導体基板上に形成さ
れるバス配線において、 バスを構成する配線のうち少なくとも1つの配線は、こ
の配線の他の配線と半導体基板との基板間隔よりも広い
基板間隔で配置されていることを特徴とするバス配線。 - 【請求項3】 請求項1又は請求項2又はこれらを組み
合せたバス配線において、 バス配線上に設けられ、制御信号に基づいて前記バス配
線の特異な配線と特異ではない配線とを選択して配線接
続するスイッチ回路を具備したことを特徴とするバス配
線。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6039886A JPH07249687A (ja) | 1994-03-10 | 1994-03-10 | バス配線 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6039886A JPH07249687A (ja) | 1994-03-10 | 1994-03-10 | バス配線 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07249687A true JPH07249687A (ja) | 1995-09-26 |
Family
ID=12565467
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6039886A Pending JPH07249687A (ja) | 1994-03-10 | 1994-03-10 | バス配線 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07249687A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19743244A1 (de) * | 1997-09-30 | 1999-04-08 | Siemens Ag | Verfahren zur Kompaktierung von Leiterbahnen-Layouts von integrierten Schaltungen |
| WO2003088311A1 (en) * | 2002-04-17 | 2003-10-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Data communication bus |
| KR100655068B1 (ko) * | 2000-09-14 | 2006-12-08 | 삼성전자주식회사 | 셋업/홀드 윈도우 및 스큐를 개선하는 신호라인배치구조를 가지는 반도체 장치 |
-
1994
- 1994-03-10 JP JP6039886A patent/JPH07249687A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19743244A1 (de) * | 1997-09-30 | 1999-04-08 | Siemens Ag | Verfahren zur Kompaktierung von Leiterbahnen-Layouts von integrierten Schaltungen |
| KR100655068B1 (ko) * | 2000-09-14 | 2006-12-08 | 삼성전자주식회사 | 셋업/홀드 윈도우 및 스큐를 개선하는 신호라인배치구조를 가지는 반도체 장치 |
| WO2003088311A1 (en) * | 2002-04-17 | 2003-10-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Data communication bus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3433731B2 (ja) | I/oセル配置方法及び半導体装置 | |
| KR100433025B1 (ko) | 반도체장치,반도체집적회로장치,플립플롭회로,배타적논리합회로,멀티플렉서및가산기 | |
| US4811073A (en) | Gate array arrangement | |
| US5327023A (en) | Programmable logic device | |
| EP0066605A1 (en) | "CHIP" TOPOGRAPHY FOR INTEGRATED CIRCUIT COMMUNICATION CONTROLLER. | |
| US6479845B2 (en) | Pattern for routing power and ground for an integrated circuit chip | |
| US5111271A (en) | Semiconductor device using standard cell system | |
| WO1984000252A1 (en) | Power bus routing for gate arrays | |
| JPH11167433A (ja) | コネクタ | |
| JP2000277944A (ja) | 増設用の基板および基板の増設方法 | |
| JPH07249687A (ja) | バス配線 | |
| EP0408060A2 (en) | Semiconductor integrated circuit device and logic correcting method of the same | |
| KR100211768B1 (ko) | 삼중 금속층을 가지는 반도체 메모리 장치 | |
| US10020295B2 (en) | Semiconductor device comprising a plurality of drivers formed in different active regions having all source regions, drain regions of a plurality of MOSFETs connected together | |
| JP7848630B2 (ja) | 半導体装置 | |
| US6998655B2 (en) | Semiconductor device comprising memories on the inside and outside of bonding pad | |
| US4800487A (en) | Topography of integrated circuit including a microprocessor | |
| JPH06232262A (ja) | 多層配線層を用いた集積回路 | |
| JPH03195045A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JP3546582B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH06140566A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP2025145195A (ja) | 半導体モジュール、及び、半導体装置 | |
| JP2003318263A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS63196060A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JPH01108742A (ja) | 半導体集積装置 |