JPH07254842A - ディエンファシス装置 - Google Patents
ディエンファシス装置Info
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- JPH07254842A JPH07254842A JP6045676A JP4567694A JPH07254842A JP H07254842 A JPH07254842 A JP H07254842A JP 6045676 A JP6045676 A JP 6045676A JP 4567694 A JP4567694 A JP 4567694A JP H07254842 A JPH07254842 A JP H07254842A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 サンプリング周波数を変化させても特性の変
わらないディエンファシス装置を提供する。 【構成】 基準となるサンプリング周波数での動作時に
は第１の記憶手段３０２に蓄えられたディエンファシス
特性を実現させるための係数を選択手段３０４で選択
し、基準外のサンプリング周波数での動作時には、周波
数測定手段３０６で測定されたサンプリング周波数に対
応した係数選択データにより、第１の記憶手段３０２の
係数をもとに係数の補間演算を行い、演算の結果得られ
た係数を選択して積和演算手段３０５に供給する。積和
演算手段３０５は供給された係数をもとに制御手段３０
１から出力される制御信号に基づいて入力データに対し
ディエンファシス演算を行う。
わらないディエンファシス装置を提供する。 【構成】 基準となるサンプリング周波数での動作時に
は第１の記憶手段３０２に蓄えられたディエンファシス
特性を実現させるための係数を選択手段３０４で選択
し、基準外のサンプリング周波数での動作時には、周波
数測定手段３０６で測定されたサンプリング周波数に対
応した係数選択データにより、第１の記憶手段３０２の
係数をもとに係数の補間演算を行い、演算の結果得られ
た係数を選択して積和演算手段３０５に供給する。積和
演算手段３０５は供給された係数をもとに制御手段３０
１から出力される制御信号に基づいて入力データに対し
ディエンファシス演算を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、サンプリング周波数を
変化させることで入力信号のピッチを変化させることの
できるディジタルシステムにおいて、サンプリング周波
数を変化させても特性が変化しないディエンファシス装
置に関するものである。
変化させることで入力信号のピッチを変化させることの
できるディジタルシステムにおいて、サンプリング周波
数を変化させても特性が変化しないディエンファシス装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のディエンファシス装置は、基準と
なるサンプリング周波数時にのみ所定の特性が得られる
ものであった。
なるサンプリング周波数時にのみ所定の特性が得られる
ものであった。
【０００３】以下にディジタルシステムにおける従来の
ディエンファシス装置の基本動作を図面を参照して説明
する。図５は従来のディエンファシス装置のブロック図
である。図５において、５０１は制御手段、５０２は記
憶手段、５０３は積和演算手段である。記憶手段５０２
にはディエンファシス特性を実現するための係数が蓄え
られている。記憶手段５０２は制御手段５０１より出力
される制御信号に従って係数を積和演算手段５０３へ与
える。積和演算手段５０３は入力データと、与えられた
係数よりディエンファシス演算を行い演算結果を出力す
る。
ディエンファシス装置の基本動作を図面を参照して説明
する。図５は従来のディエンファシス装置のブロック図
である。図５において、５０１は制御手段、５０２は記
憶手段、５０３は積和演算手段である。記憶手段５０２
にはディエンファシス特性を実現するための係数が蓄え
られている。記憶手段５０２は制御手段５０１より出力
される制御信号に従って係数を積和演算手段５０３へ与
える。積和演算手段５０３は入力データと、与えられた
係数よりディエンファシス演算を行い演算結果を出力す
る。
【０００４】図６にディエンファシス演算のフィルタ構
成図を示す。図６において、６０１は第１の乗算手段、
６０２は第２の乗算手段、６０３は第３の乗算手段、６
０４は１サンプル期間の遅延を与える第１の遅延手段、
６０５は１サンプル期間の遅延を与える第２の遅延手
段、６０６は加算手段である。１サンプル期間遅延され
た入力データを保持している第１の遅延手段６０４の出
力は第２の乗算手段６０２によって係数ｂが掛けられ、
加算手段６０６に入力される。また、１サンプル期間遅
延された出力データを保持している第２の遅延手段６０
５の出力は第３の乗算手段６０３によって係数ｃが掛け
られ、加算手段６０６に加えられる。さらに、入力Ｉは
第１の乗算手段６０１により係数ａが掛けられ加算手段
６０６に加えられるとともに、第１の遅延手段６０４に
保持される。加算手段６０６からは上記の加算結果であ
る出力Ｏが取り出されるとともに、出力Ｏは第２の遅延
手段６０５に保持される。
成図を示す。図６において、６０１は第１の乗算手段、
６０２は第２の乗算手段、６０３は第３の乗算手段、６
０４は１サンプル期間の遅延を与える第１の遅延手段、
６０５は１サンプル期間の遅延を与える第２の遅延手
段、６０６は加算手段である。１サンプル期間遅延され
た入力データを保持している第１の遅延手段６０４の出
力は第２の乗算手段６０２によって係数ｂが掛けられ、
加算手段６０６に入力される。また、１サンプル期間遅
延された出力データを保持している第２の遅延手段６０
５の出力は第３の乗算手段６０３によって係数ｃが掛け
られ、加算手段６０６に加えられる。さらに、入力Ｉは
第１の乗算手段６０１により係数ａが掛けられ加算手段
６０６に加えられるとともに、第１の遅延手段６０４に
保持される。加算手段６０６からは上記の加算結果であ
る出力Ｏが取り出されるとともに、出力Ｏは第２の遅延
手段６０５に保持される。
【０００５】図６のフィルタ構成における伝達関数は、
１サンプル遅延をＺ-1で表すと、（数１）となる。
１サンプル遅延をＺ-1で表すと、（数１）となる。
【０００６】
【数１】
【０００７】係数ａ，ｂ，ｃは、例えば１５usecおよび
５０usecの時定数を持つディエンファシスをサンプリン
グ周波数９６ｋＨｚのシステムで実現した場合、（数
２）のようになる。
５０usecの時定数を持つディエンファシスをサンプリン
グ周波数９６ｋＨｚのシステムで実現した場合、（数
２）のようになる。
【０００８】
【数２】
【０００９】上記の演算を行うための積和演算手段５０
３のハードウェア構成例を図７に示し動作を説明する。
図７において、７０１は選択手段（ＳＥＬ）、７０２は
乗算手段（ＭＰＹ）、７０３は累算手段（ＡＣＣ）、７
０４は遅延手段（ＲＡＭ）、７０５はデータ保持手段
（ＲＥＧ）である。遅延手段７０４には第１の遅延手段
６０４に保持されているデータに対応する１サンプル期
間前の入力データＩＺと、第２の遅延手段６０５に保持
されているデータに対応する１サンプル期間前の出力デ
ータＯＺが蓄えられている。遅延手段７０４は最初にデ
ータＩＺを出力し、選択手段７０１は遅延手段７０４の
出力データを選択している。乗算手段７０２は選択手段
７０１の出力、すなわちデータＩＺと記憶手段５０２よ
り出力されている係数ｂを掛け合わせ、その結果を累算
手段７０３に入力した後、遅延手段７０４におけるデー
タＩＺが保持されていた記憶場所へ入力データを保持す
る。次に、遅延手段７０４はデータＯＺを出力するが、
選択手段７０１は遅延手段７０４の出力を選択したまま
になっているので、乗算手段７０２はデータＯＺと次に
記憶手段５０２から出力される係数ｃを掛け合わせ、そ
の出力を累算手段７０３に加える。最後に、選択手段７
０１は入力データＩを選択し、次に記憶手段５０２から
出力される係数ａと掛け合わせ、その出力を累算手段７
０３に加える。この後、累算手段７０３の出力は最終結
果としてデータ保持手段７０５に蓄えられ出力される。
また、累算手段７０３の出力は、遅延手段７０４におけ
るデータＯＺが保持されていた記憶場所へ保持される。
なお、上記の演算は１サンプル期間中に行われる。
３のハードウェア構成例を図７に示し動作を説明する。
図７において、７０１は選択手段（ＳＥＬ）、７０２は
乗算手段（ＭＰＹ）、７０３は累算手段（ＡＣＣ）、７
０４は遅延手段（ＲＡＭ）、７０５はデータ保持手段
（ＲＥＧ）である。遅延手段７０４には第１の遅延手段
６０４に保持されているデータに対応する１サンプル期
間前の入力データＩＺと、第２の遅延手段６０５に保持
されているデータに対応する１サンプル期間前の出力デ
ータＯＺが蓄えられている。遅延手段７０４は最初にデ
ータＩＺを出力し、選択手段７０１は遅延手段７０４の
出力データを選択している。乗算手段７０２は選択手段
７０１の出力、すなわちデータＩＺと記憶手段５０２よ
り出力されている係数ｂを掛け合わせ、その結果を累算
手段７０３に入力した後、遅延手段７０４におけるデー
タＩＺが保持されていた記憶場所へ入力データを保持す
る。次に、遅延手段７０４はデータＯＺを出力するが、
選択手段７０１は遅延手段７０４の出力を選択したまま
になっているので、乗算手段７０２はデータＯＺと次に
記憶手段５０２から出力される係数ｃを掛け合わせ、そ
の出力を累算手段７０３に加える。最後に、選択手段７
０１は入力データＩを選択し、次に記憶手段５０２から
出力される係数ａと掛け合わせ、その出力を累算手段７
０３に加える。この後、累算手段７０３の出力は最終結
果としてデータ保持手段７０５に蓄えられ出力される。
また、累算手段７０３の出力は、遅延手段７０４におけ
るデータＯＺが保持されていた記憶場所へ保持される。
なお、上記の演算は１サンプル期間中に行われる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ようなディエンファシス装置では、出力信号のピッチを
変えるためにサンプリング周波数を変化させた場合、デ
ィエンファシス特性自身もサンプリング周波数の変化に
比例して変化してしまうという問題点があった。
ようなディエンファシス装置では、出力信号のピッチを
変えるためにサンプリング周波数を変化させた場合、デ
ィエンファシス特性自身もサンプリング周波数の変化に
比例して変化してしまうという問題点があった。
【００１１】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
ので、サンプリング周波数を変化させても所定のディエ
ンファシス特性を保つことができるディエンファシス装
置を提供することを目的とするものである。
ので、サンプリング周波数を変化させても所定のディエ
ンファシス特性を保つことができるディエンファシス装
置を提供することを目的とするものである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のディエンファシス装置は、通常時のディエ
ンファシス特性を決定する係数を蓄えておく第１の記憶
手段と、サンプリング周波数変化時の係数を蓄える第２
の記憶手段と、前記第１の記憶手段と前記第２の記憶手
段のいずれか一方の出力データを選択する選択手段と、
ディエンファシスフィルタ演算を行うための制御信号を
出力する制御手段と、前記制御手段からの制御出力信号
に従って前記選択手段の出力データと入力データとから
フィルタ演算を行う積和演算手段を具備し、通常時は第
１の記憶手段に蓄えられた係数データを用い、サンプリ
ング周波数変化時には外部より与えられ第２の記憶手段
に蓄えられた係数データを用いて前記積和演算手段から
出力データを取り出すように構成（第１の構成）してい
る。
に、本発明のディエンファシス装置は、通常時のディエ
ンファシス特性を決定する係数を蓄えておく第１の記憶
手段と、サンプリング周波数変化時の係数を蓄える第２
の記憶手段と、前記第１の記憶手段と前記第２の記憶手
段のいずれか一方の出力データを選択する選択手段と、
ディエンファシスフィルタ演算を行うための制御信号を
出力する制御手段と、前記制御手段からの制御出力信号
に従って前記選択手段の出力データと入力データとから
フィルタ演算を行う積和演算手段を具備し、通常時は第
１の記憶手段に蓄えられた係数データを用い、サンプリ
ング周波数変化時には外部より与えられ第２の記憶手段
に蓄えられた係数データを用いて前記積和演算手段から
出力データを取り出すように構成（第１の構成）してい
る。
【００１３】また、本発明のディエンファシス装置は、
通常時のディエンファシス特性を決定する係数を蓄えて
おく第１の記憶手段と、サンプリング周波数変化時には
外部より与えられる係数選択データに従って前記第１の
記憶手段に蓄えられた係数データからサンプリング周波
数に対応する係数を補間によって求める補間手段と、前
記第１の記憶手段と前記補間手段のいずれか一方の出力
データを選択する選択手段と、ディエンファシスフィル
タ演算を行うための制御信号を出力する制御手段と、前
記制御手段からの制御出力信号に従って前記選択手段の
出力データと入力データとからフィルタ演算を行う積和
演算手段を具備し、通常時は第１の記憶手段に蓄えられ
た係数データを用い、サンプリング周波数変化時には補
間手段によって求められた係数データを用いて前記積和
演算手段から出力データを取り出すように構成（第２の
構成）している。
通常時のディエンファシス特性を決定する係数を蓄えて
おく第１の記憶手段と、サンプリング周波数変化時には
外部より与えられる係数選択データに従って前記第１の
記憶手段に蓄えられた係数データからサンプリング周波
数に対応する係数を補間によって求める補間手段と、前
記第１の記憶手段と前記補間手段のいずれか一方の出力
データを選択する選択手段と、ディエンファシスフィル
タ演算を行うための制御信号を出力する制御手段と、前
記制御手段からの制御出力信号に従って前記選択手段の
出力データと入力データとからフィルタ演算を行う積和
演算手段を具備し、通常時は第１の記憶手段に蓄えられ
た係数データを用い、サンプリング周波数変化時には補
間手段によって求められた係数データを用いて前記積和
演算手段から出力データを取り出すように構成（第２の
構成）している。
【００１４】また、本発明のディエンファシス装置は、
通常時のディエンファシス特性を決定する係数を蓄えて
おく第１の記憶手段と、サンプリング周波数を測定する
周波数測定手段と、前記周波数測定手段の出力データに
従って前記第１の記憶手段に蓄えられた係数データから
サンプリング周波数に対応する係数を補間によって求め
る補間手段と、前記第１の記憶手段と前記補間手段のい
ずれか一方の出力データを選択する選択手段と、ディエ
ンファシスフィルタ演算を行うための制御信号を出力す
る制御手段と、前記制御手段からの制御出力信号に従っ
て前記選択手段の出力データと入力データとからフィル
タ演算を行う積和演算手段を具備し、通常時は第１の記
憶手段に蓄えられた係数データを用い、サンプリング周
波数変化時には補間手段によって求められた係数データ
を用いて前記積和演算手段から出力データを取り出すよ
うに構成（第３の構成）している。
通常時のディエンファシス特性を決定する係数を蓄えて
おく第１の記憶手段と、サンプリング周波数を測定する
周波数測定手段と、前記周波数測定手段の出力データに
従って前記第１の記憶手段に蓄えられた係数データから
サンプリング周波数に対応する係数を補間によって求め
る補間手段と、前記第１の記憶手段と前記補間手段のい
ずれか一方の出力データを選択する選択手段と、ディエ
ンファシスフィルタ演算を行うための制御信号を出力す
る制御手段と、前記制御手段からの制御出力信号に従っ
て前記選択手段の出力データと入力データとからフィル
タ演算を行う積和演算手段を具備し、通常時は第１の記
憶手段に蓄えられた係数データを用い、サンプリング周
波数変化時には補間手段によって求められた係数データ
を用いて前記積和演算手段から出力データを取り出すよ
うに構成（第３の構成）している。
【００１５】また、本発明のディエンファシス装置は、
通常時のディエンファシス特性を決定する係数を蓄えて
おく第１の記憶手段と、サンプリング周波数変化時に外
部より与えられる係数選択データの変化を測定する周波
数変化測定手段と、前記周波数変化測定手段の出力に従
って前記第１の記憶手段に蓄えられた係数データからサ
ンプリング周波数に対応する係数を補間によって求め、
さらに現在のサンプリング周波数の前後の周波数に対応
する複数の係数を予め補間によって求めておき現在の周
波数に対応する係数を出力する補間手段と、前記第１の
記憶手段と前記補間手段のいずれか一方の出力データを
選択する選択手段と、ディエンファシスフィルタ演算を
行うための制御信号を出力する制御手段と、前記制御手
段からの制御出力信号に従って前記選択手段の出力デー
タと入力データとからフィルタ演算を行う積和演算手段
を具備し、通常時は第１の記憶手段に蓄えられた係数デ
ータを用い、サンプリング周波数変化時には補間手段に
よって求められた係数データを用いて前記積和演算手段
から出力データを取り出すように構成（第４の構成）し
ている。
通常時のディエンファシス特性を決定する係数を蓄えて
おく第１の記憶手段と、サンプリング周波数変化時に外
部より与えられる係数選択データの変化を測定する周波
数変化測定手段と、前記周波数変化測定手段の出力に従
って前記第１の記憶手段に蓄えられた係数データからサ
ンプリング周波数に対応する係数を補間によって求め、
さらに現在のサンプリング周波数の前後の周波数に対応
する複数の係数を予め補間によって求めておき現在の周
波数に対応する係数を出力する補間手段と、前記第１の
記憶手段と前記補間手段のいずれか一方の出力データを
選択する選択手段と、ディエンファシスフィルタ演算を
行うための制御信号を出力する制御手段と、前記制御手
段からの制御出力信号に従って前記選択手段の出力デー
タと入力データとからフィルタ演算を行う積和演算手段
を具備し、通常時は第１の記憶手段に蓄えられた係数デ
ータを用い、サンプリング周波数変化時には補間手段に
よって求められた係数データを用いて前記積和演算手段
から出力データを取り出すように構成（第４の構成）し
ている。
【００１６】
【作用】上記した第１の構成によって、基準のサンプリ
ング周波数で動作させる場合には第１の記憶装置に蓄え
られた固定の係数を用い、サンプリング周波数を変化さ
せた場合には外部からサンプリング周波数の変化に対応
する係数を第２の記憶手段に与え、第２の記憶手段の係
数を用いて積和演算を行うことで、入力データに所定の
ディエンファシス特性を与えて出力する。
ング周波数で動作させる場合には第１の記憶装置に蓄え
られた固定の係数を用い、サンプリング周波数を変化さ
せた場合には外部からサンプリング周波数の変化に対応
する係数を第２の記憶手段に与え、第２の記憶手段の係
数を用いて積和演算を行うことで、入力データに所定の
ディエンファシス特性を与えて出力する。
【００１７】また、上記した第２の構成によって、基準
のサンプリング周波数で動作させる場合には第１の記憶
装置に蓄えられた固定の係数を用い、サンプリング周波
数を変化させた場合には外部からサンプリング周波数の
変化に対応した係数選択データを補間手段に与え、補間
手段は係数選択データに従って第１の記憶手段に蓄えら
れた複数の固定係数から変化したサンプリング周波数に
対応する係数を補間によって求め、求めた係数を用いて
積和演算を行うことで、入力データに所定のディエンフ
ァシス特性を与えて出力する。
のサンプリング周波数で動作させる場合には第１の記憶
装置に蓄えられた固定の係数を用い、サンプリング周波
数を変化させた場合には外部からサンプリング周波数の
変化に対応した係数選択データを補間手段に与え、補間
手段は係数選択データに従って第１の記憶手段に蓄えら
れた複数の固定係数から変化したサンプリング周波数に
対応する係数を補間によって求め、求めた係数を用いて
積和演算を行うことで、入力データに所定のディエンフ
ァシス特性を与えて出力する。
【００１８】また、上記した第３の構成によって、基準
のサンプリング周波数で動作させる場合には第１の記憶
装置に蓄えられた固定の係数を用い、サンプリング周波
数を変化させた場合には周波数測定手段によってサンプ
リング周波数の変化を求め、変化に対応した係数選択デ
ータを補間手段に与え、補間手段は係数選択データに従
って第１の記憶手段に蓄えられた複数の固定係数から変
化したサンプリング周波数に対応する係数を補間によっ
て求め、求めた係数を用いて積和演算を行うことで、入
力データに所定のディエンファシス特性を与えて出力す
る。
のサンプリング周波数で動作させる場合には第１の記憶
装置に蓄えられた固定の係数を用い、サンプリング周波
数を変化させた場合には周波数測定手段によってサンプ
リング周波数の変化を求め、変化に対応した係数選択デ
ータを補間手段に与え、補間手段は係数選択データに従
って第１の記憶手段に蓄えられた複数の固定係数から変
化したサンプリング周波数に対応する係数を補間によっ
て求め、求めた係数を用いて積和演算を行うことで、入
力データに所定のディエンファシス特性を与えて出力す
る。
【００１９】また、上記した第４の構成によって、基準
のサンプリング周波数で動作させる場合には第１の記憶
装置に蓄えられた固定の係数を用い、サンプリング周波
数を変化させた場合には周波数変化測定手段によってサ
ンプリング周波数の変化を求め、変化に対応した係数選
択データを補間手段に与え、補間手段は係数選択データ
に従って第１の記憶手段に蓄えられた複数の固定係数か
ら変化したサンプリング周波数に対応する係数と現在の
サンプリング周波数の前後のサンプリング周波数に対応
する複数の係数を予め補間によって求めておき、現在の
サンプリング周波数に対応した係数を用いて積和演算を
行うことで、入力データに所定のディエンファシス特性
を与えて出力するとともに、急激なサンプリング周波数
の変化にも追従できる。
のサンプリング周波数で動作させる場合には第１の記憶
装置に蓄えられた固定の係数を用い、サンプリング周波
数を変化させた場合には周波数変化測定手段によってサ
ンプリング周波数の変化を求め、変化に対応した係数選
択データを補間手段に与え、補間手段は係数選択データ
に従って第１の記憶手段に蓄えられた複数の固定係数か
ら変化したサンプリング周波数に対応する係数と現在の
サンプリング周波数の前後のサンプリング周波数に対応
する複数の係数を予め補間によって求めておき、現在の
サンプリング周波数に対応した係数を用いて積和演算を
行うことで、入力データに所定のディエンファシス特性
を与えて出力するとともに、急激なサンプリング周波数
の変化にも追従できる。
【００２０】
【実施例】以下、本発明のディエンファシス装置の実施
例について図面を参照しながら説明する。
例について図面を参照しながら説明する。
【００２１】図１は本発明の第１の実施例のディエンフ
ァシス装置のブロック図を示すものである。図１におい
て、１０１は制御手段、１０２は第１の記憶手段、１０
３は第２の記憶手段、１０４は選択手段、１０５は積和
演算手段である。基準となるサンプリング周波数、例え
ば９６ｋＨｚの時には第１の記憶手段１０２に従来例と
同様の係数ａ，ｂ，ｃを蓄えておき、これらの係数を選
択手段１０４によって選択し積和演算手段１０５に供給
する。基準の出力信号のピッチを１としたとき、ピッチ
をα（≠１）に変化させるためには、サンプリング周波
数を現在のα倍に変化すればよいが、この時、基準のデ
ィエンファシス特性のカットオフ周波数を１／αとした
ときの特性を実現する係数を、外部より第２の記憶手段
１０３に与え、選択手段１０４が第２の記憶手段１０３
の出力を選択するように制御する。
ァシス装置のブロック図を示すものである。図１におい
て、１０１は制御手段、１０２は第１の記憶手段、１０
３は第２の記憶手段、１０４は選択手段、１０５は積和
演算手段である。基準となるサンプリング周波数、例え
ば９６ｋＨｚの時には第１の記憶手段１０２に従来例と
同様の係数ａ，ｂ，ｃを蓄えておき、これらの係数を選
択手段１０４によって選択し積和演算手段１０５に供給
する。基準の出力信号のピッチを１としたとき、ピッチ
をα（≠１）に変化させるためには、サンプリング周波
数を現在のα倍に変化すればよいが、この時、基準のデ
ィエンファシス特性のカットオフ周波数を１／αとした
ときの特性を実現する係数を、外部より第２の記憶手段
１０３に与え、選択手段１０４が第２の記憶手段１０３
の出力を選択するように制御する。
【００２２】例えば、基準のサンプリング周波数が９６
ｋＨｚであって、動作時のサンプリング周波数が基準に
対し＋１２．５％であったとき、１５usecおよび５０us
ecの時定数を持つディエンファシス特性を実現するため
の係数は（数３）となる。
ｋＨｚであって、動作時のサンプリング周波数が基準に
対し＋１２．５％であったとき、１５usecおよび５０us
ecの時定数を持つディエンファシス特性を実現するため
の係数は（数３）となる。
【００２３】
【数３】
【００２４】積和演算手段１０５で行われるディエンフ
ァシス演算については従来例と同じであるので動作の詳
細な説明は省略する。
ァシス演算については従来例と同じであるので動作の詳
細な説明は省略する。
【００２５】次に、本発明のディエンファシス装置の第
２の実施例について図面を参照しながら説明する。
２の実施例について図面を参照しながら説明する。
【００２６】図２は本発明の第２の実施例のディエンフ
ァシス装置のブロック図を示すものである。図２におい
て、２０１は制御手段、２０２は第１の記憶手段、２０
３は補間手段、２０４は選択手段、２０５は積和演算手
段である。２０１，２０４，２０５の符号を添付した構
成要素は第１の実施例における１０１，１０４，１０５
と同じものである。第１の記憶手段２０２には基準とな
るサンプリング周波数に対応した係数と、基準以外のサ
ンプリング周波数に対応した複数の係数を蓄えておく。
動作時のサンプリング周波数ｆｓ１に応じた係数選択デ
ータを外部より与えることにより、第１の記憶手段２０
２よりｆｓ０≦ｆｓ１＜ｆｓ２を満たす２つのサンプリ
ング周波数ｆｓ０，ｆｓ２に対応した係数群を読み出
し、補間手段２０３においてサンプリング周波数ｆｓ１
に対応した係数を補間により求める。以上のようにして
求めた係数を選択手段２０４で選択し、積和演算手段２
０５に供給する。
ァシス装置のブロック図を示すものである。図２におい
て、２０１は制御手段、２０２は第１の記憶手段、２０
３は補間手段、２０４は選択手段、２０５は積和演算手
段である。２０１，２０４，２０５の符号を添付した構
成要素は第１の実施例における１０１，１０４，１０５
と同じものである。第１の記憶手段２０２には基準とな
るサンプリング周波数に対応した係数と、基準以外のサ
ンプリング周波数に対応した複数の係数を蓄えておく。
動作時のサンプリング周波数ｆｓ１に応じた係数選択デ
ータを外部より与えることにより、第１の記憶手段２０
２よりｆｓ０≦ｆｓ１＜ｆｓ２を満たす２つのサンプリ
ング周波数ｆｓ０，ｆｓ２に対応した係数群を読み出
し、補間手段２０３においてサンプリング周波数ｆｓ１
に対応した係数を補間により求める。以上のようにして
求めた係数を選択手段２０４で選択し、積和演算手段２
０５に供給する。
【００２７】今、基準のサンプリング周波数に対し１／
α（α＞１）倍の周波数に対応した係数群ａ０，ｂ０，
ｃ０とβ（＞１）倍の周波数に対応した係数群ａ２，ｂ
２，ｃ２が第１の記憶手段２０２に蓄えられていると
し、動作時のサンプリング周波数が基準のサンプリング
周波数に対しＸ（＞１）倍であったとする。
α（α＞１）倍の周波数に対応した係数群ａ０，ｂ０，
ｃ０とβ（＞１）倍の周波数に対応した係数群ａ２，ｂ
２，ｃ２が第１の記憶手段２０２に蓄えられていると
し、動作時のサンプリング周波数が基準のサンプリング
周波数に対しＸ（＞１）倍であったとする。
【００２８】この時、第１の記憶手段２０２より、基準
のサンプリング周波数に対応した係数群ａ，ｂ，ｃと＋
１２．５％の周波数に対応した係数群ａ２，ｂ２，ｃ２
を読み出し、例えば直線補間により係数群ａ１，ｂ１，
ｃ１を求める場合には、（数４）に示す補間演算を行え
ば良い。
のサンプリング周波数に対応した係数群ａ，ｂ，ｃと＋
１２．５％の周波数に対応した係数群ａ２，ｂ２，ｃ２
を読み出し、例えば直線補間により係数群ａ１，ｂ１，
ｃ１を求める場合には、（数４）に示す補間演算を行え
ば良い。
【００２９】
【数４】
【００３０】積和演算手段２０５で行われるディエンフ
ァシス演算については従来例と同じであるので動作の詳
細な説明は省略する。なお、第２の実施例では補間演算
として直線補間について述べたが、さらに高次の補間で
あっても構わない。
ァシス演算については従来例と同じであるので動作の詳
細な説明は省略する。なお、第２の実施例では補間演算
として直線補間について述べたが、さらに高次の補間で
あっても構わない。
【００３１】次に、本発明のディエンファシス装置の第
３の実施例について図面を参照しながら説明する。
３の実施例について図面を参照しながら説明する。
【００３２】図３は本発明の第３の実施例のディエンフ
ァシス装置のブロック図を示すものである。図３におい
て、３０１は制御手段、３０２は第１の記憶手段、３０
３は補間手段、３０４は選択手段、３０５は積和演算手
段、３０６は周波数測定手段である。３０１，３０２，
３０３，３０４，３０５の符号を添付した構成要素は第
２の実施例における２０１，２０２，２０３，２０４，
２０５と同じものである。周波数測定手段３０６は外部
より与えられるサンプリングクロックおよび基準クロッ
クより動作時のサンプリング周波数を求め、第２の実施
例で述べた係数選択データを出力する。他の構成要素の
動作は第２の実施例と同様であるので説明は省略する。
ァシス装置のブロック図を示すものである。図３におい
て、３０１は制御手段、３０２は第１の記憶手段、３０
３は補間手段、３０４は選択手段、３０５は積和演算手
段、３０６は周波数測定手段である。３０１，３０２，
３０３，３０４，３０５の符号を添付した構成要素は第
２の実施例における２０１，２０２，２０３，２０４，
２０５と同じものである。周波数測定手段３０６は外部
より与えられるサンプリングクロックおよび基準クロッ
クより動作時のサンプリング周波数を求め、第２の実施
例で述べた係数選択データを出力する。他の構成要素の
動作は第２の実施例と同様であるので説明は省略する。
【００３３】次に、本発明のディエンファシス装置の第
４の実施例について図面を参照しながら説明する。
４の実施例について図面を参照しながら説明する。
【００３４】図４は本発明の第４の実施例のディエンフ
ァシス装置のブロック図を示すものである。図４におい
て、４０１は制御手段、４０２は第１の記憶手段、４０
３は補間手段、４０４は選択手段、４０５は積和演算手
段、４０６は周波数変化測定手段である。４０１，４０
２，４０４，４０５の符号を添付した構成要素は第２の
実施例における２０１，２０２，２０４，２０５と同じ
ものである。周波数測定手段４０６は外部より与えられ
るサンプリングクロックおよび基準クロックより動作時
のサンプリング周波数の変化を求め、現在のサンプリン
グ周波数とサンプリング周波数の変化を測定する。補間
手段４０３は周波数変化測定手段４０６の出力により、
第３の実施例で述べたような方法で現在のサンプリング
周波数に対応する係数を求めると共に、現在のサンプリ
ング周波数の前後のサンプリング周波数に対応する複数
の係数を予め求めておき、現在のサンプリング周波数に
対応した係数を出力する。サンプリング周波数の変化が
急激に起こった場合は予め求めておいた係数を用い、な
めらかな変化を実現する。他の構成要素の動作は第２の
実施例と同様であるので説明は省略する。
ァシス装置のブロック図を示すものである。図４におい
て、４０１は制御手段、４０２は第１の記憶手段、４０
３は補間手段、４０４は選択手段、４０５は積和演算手
段、４０６は周波数変化測定手段である。４０１，４０
２，４０４，４０５の符号を添付した構成要素は第２の
実施例における２０１，２０２，２０４，２０５と同じ
ものである。周波数測定手段４０６は外部より与えられ
るサンプリングクロックおよび基準クロックより動作時
のサンプリング周波数の変化を求め、現在のサンプリン
グ周波数とサンプリング周波数の変化を測定する。補間
手段４０３は周波数変化測定手段４０６の出力により、
第３の実施例で述べたような方法で現在のサンプリング
周波数に対応する係数を求めると共に、現在のサンプリ
ング周波数の前後のサンプリング周波数に対応する複数
の係数を予め求めておき、現在のサンプリング周波数に
対応した係数を出力する。サンプリング周波数の変化が
急激に起こった場合は予め求めておいた係数を用い、な
めらかな変化を実現する。他の構成要素の動作は第２の
実施例と同様であるので説明は省略する。
【００３５】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明のディエン
ファシス装置は、サンプリング周波数を変化させても、
所定のディエンファシス特性を保つことができる。
ファシス装置は、サンプリング周波数を変化させても、
所定のディエンファシス特性を保つことができる。
【図１】本発明の第１の実施例におけるディエンファシ
ス装置の構成を示すブロック図
ス装置の構成を示すブロック図
【図２】本発明の第２の実施例におけるディエンファシ
ス装置の構成を示すブロック図
ス装置の構成を示すブロック図
【図３】本発明の第３の実施例におけるディエンファシ
ス装置の構成を示すブロック図
ス装置の構成を示すブロック図
【図４】本発明の第４の実施例におけるディエンファシ
ス装置の構成を示すブロック図
ス装置の構成を示すブロック図
【図５】従来のディエンファシス装置の構成を示すブロ
ック図
ック図
【図６】従来のディエンファシス演算のフィルタ構成を
示すブロック図
示すブロック図
【図７】図５における積和演算手段５０３の構成を示す
ブロック図
ブロック図
１０１，２０１，３０１，４０１ 制御手段 １０２，２０２，３０２，４０２ 第１の記憶手段 １０３ 第２の記憶手段 １０４，２０４，３０４，４０４ 選択手段 １０５，２０５，３０５，４０５ 積和演算手段 ２０３，３０３，４０３ 補間手段 ３０６ 周波数測定手段 ４０６ 周波数変化測定手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０３Ｈ 17/02 Ｐ 8842−5Ｊ (72)発明者 畠中 秀晃 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】 通常時のディエンファシス特性を決定す
る係数を蓄えておく第１の記憶手段と、 サンプリング周波数変化時の係数を蓄える第２の記憶手
段と、 前記第１の記憶手段と前記第２の記憶手段のいずれか一
方の出力データを選択する選択手段と、 ディエンファシスフィルタ演算を行うための制御信号を
出力する制御手段と、前記制御手段からの制御出力信号
に従って前記選択手段の出力データと入力データとから
フィルタ演算を行う積和演算手段とを具備し、 通常時は前記第１の記憶手段に蓄えられた係数データを
用い、サンプリング周波数変化時には外部より与えられ
前記第２の記憶手段に蓄えられた係数データを用いて前
記積和演算手段から出力データを取り出すことを特徴と
したディエンファシス装置。 - 【請求項２】 通常時のディエンファシス特性を決定す
る係数を蓄えておく第１の記憶手段と、 サンプリング周波数変化時には外部より与えられる係数
選択データに従って前記第１の記憶手段に蓄えられた係
数データからサンプリング周波数に対応する係数を補間
によって求める補間手段と、 前記第１の記憶手段と前記補間手段のいずれか一方の出
力データを選択する選択手段と、 ディエンファシスフィルタ演算を行うための制御信号を
出力する制御手段と、 前記制御手段からの制御出力信号に従って前記選択手段
の出力データと入力データとからフィルタ演算を行う積
和演算手段とを具備し、 通常時は前記第１の記憶手段に蓄えられた係数データを
用い、サンプリング周波数変化時には前記補間手段によ
って求められた係数データを用いて前記積和演算手段か
ら出力データを取り出すことを特徴としたディエンファ
シス装置。 - 【請求項３】 通常時のディエンファシス特性を決定す
る係数を蓄えておく第１の記憶手段と、 サンプリング周波数を測定する周波数測定手段と、 前記周波数測定手段の出力データに従って前記第１の記
憶手段に蓄えられた係数データからサンプリング周波数
に対応する係数を補間によって求める補間手段と、 前記第１の記憶手段と前記補間手段のいずれか一方の出
力データを選択する選択手段と、 ディエンファシスフィルタ演算を行うための制御信号を
出力する制御手段と、 前記制御手段からの制御出力信号に従って前記選択手段
の出力データと入力データとからフィルタ演算を行う積
和演算手段とを具備し、 通常時は前記第１の記憶手段に蓄えられた係数データを
用い、サンプリング周波数変化時には前記補間手段によ
って求められた係数データを用いて前記積和演算手段か
ら出力データを取り出すことを特徴としたディエンファ
シス装置。 - 【請求項４】 通常時のディエンファシス特性を決定す
る係数を蓄えておく第１の記憶手段と、 サンプリング周波数変化時に外部より与えられる係数選
択データの変化を測定する周波数変化測定手段と、 前記周波数変化測定手段の出力に従って前記第１の記憶
手段に蓄えられた係数データからサンプリング周波数に
対応する係数を補間によって求め、さらに現在のサンプ
リング周波数の前後の周波数に対応する複数の係数を予
め補間によって求めておき現在の周波数に対応する係数
を出力する補間手段と、 前記第１の記憶手段と前記補間手段のいずれか一方の出
力データを選択する選択手段と、 ディエンファシスフィルタ演算を行うための制御信号を
出力する制御手段と、 前記制御手段からの制御出力信号に従って前記選択手段
の出力データと入力データとからフィルタ演算を行う積
和演算手段とを具備し、 通常時は前記第１の記憶手段に蓄えられた係数データを
用い、サンプリング周波数変化時には前記補間手段によ
って求められた係数データを用いて前記積和演算手段か
ら出力データを取り出すことを特徴としたディエンファ
シス装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6045676A JPH07254842A (ja) | 1994-03-16 | 1994-03-16 | ディエンファシス装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6045676A JPH07254842A (ja) | 1994-03-16 | 1994-03-16 | ディエンファシス装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07254842A true JPH07254842A (ja) | 1995-10-03 |
Family
ID=12726001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6045676A Pending JPH07254842A (ja) | 1994-03-16 | 1994-03-16 | ディエンファシス装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07254842A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007063745A1 (ja) * | 2005-12-01 | 2007-06-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 無線受信機 |
| US7684883B2 (en) | 2004-04-28 | 2010-03-23 | Sony Corporation | Information processing apparatus, information processing method, and program |
-
1994
- 1994-03-16 JP JP6045676A patent/JPH07254842A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7684883B2 (en) | 2004-04-28 | 2010-03-23 | Sony Corporation | Information processing apparatus, information processing method, and program |
| WO2007063745A1 (ja) * | 2005-12-01 | 2007-06-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 無線受信機 |
| JP2007158545A (ja) * | 2005-12-01 | 2007-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 無線受信機 |
| US8077818B2 (en) | 2005-12-01 | 2011-12-13 | Panasonic Corporation | Radio receiver |
| EP1947776A4 (en) * | 2005-12-01 | 2012-03-21 | Panasonic Corp | RADIO RECEIVER |
| CN101322320B (zh) | 2005-12-01 | 2012-07-25 | 松下电器产业株式会社 | 无线接收机 |
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