JPH0726055B2 - 電子部品用絶縁性保護塗膜 - Google Patents

電子部品用絶縁性保護塗膜

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JPH0726055B2
JPH0726055B2 JP61195241A JP19524186A JPH0726055B2 JP H0726055 B2 JPH0726055 B2 JP H0726055B2 JP 61195241 A JP61195241 A JP 61195241A JP 19524186 A JP19524186 A JP 19524186A JP H0726055 B2 JPH0726055 B2 JP H0726055B2
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、絶縁性塗料組成物に係わり、特にセラミック
コンデンサー、混成集積回路、インダクター等の電子部
品外装用の絶縁性保護塗膜に関する。
従来の技術 セラミックコンデンサー、混成集積回路、インダクター
等の電子部品は電気機器の回路構成部品として広く使用
されている。これらの電子部品、例えばセラミックコン
デンサーはセラミック板に電極を形成し、これにリード
をはんだ付けして構成されるが、このままでは電極間に
他の導体が触れることがあるとショートしたり、電極が
酸化される危険があるので、絶縁性保護塗膜で外装が行
なわれる。他の電子部品についても同様の目的の外装が
行われる。
この外装用の絶縁性保護塗膜には熱硬化性塗料が用いら
れているが、これにはフェノール樹脂および/またはビ
スフェノールA型エポキシ樹脂を主成分とする樹脂分
と、シリカ、アルミナ等の無機質分と、メタノール、ア
セトン等の溶剤とからなるものが挙げられる。この塗料
は、例えばディッピング等により電子部品に塗布されて
乾燥され、加熱硬化されるが、ビスフェノールA型エポ
キシ樹脂を使用する場合、硬化剤としては芳香族アミ
ン、脂肪族アミンや酸無水物が用いられている。
発明が解決しようとする問題点 ところが、芳香族アミンや脂肪族アミンを硬化剤にした
塗膜で外装したセラミックコンデンサーは、60℃、相対
湿度95%の雰囲気下に2000時間放置されると、その外装
塗膜の絶縁抵抗値が製造当初の106MΩからJIS−C−642
3に規定されている値で、保証すべき電子部品の絶縁塗
膜の絶縁抵抗値とされている103MΩ以下に低下するもの
の個数がロットサイズ1万個のうち0.1〜0.3%生じ、こ
れらの内には誘電損失Qも30%以下低下するものがあ
る。これらを前以って除去することは困難であり、これ
が問題になっている。
また、酸無水物を硬化剤にした塗膜は、170〜180℃、2
時間という高温で長い時間の硬化を必要とし、電子部品
を連続生産する上で生産効率が悪いという問題点があ
る。
特開昭59−93729号公報には、フェノール樹脂とシロキ
サン化合物とを反応させたシリコーンフェノール系化合
物と、エポキシ樹脂及び硬化促進剤を含有する塗料組成
物が記載されているが、フェノール樹脂にはノボラック
型フェノール樹脂が用いられていてレゾール型フェノー
ル樹脂は用いられておらないのみならず、この塗料組成
物の組成比についてはシリコーンフェノール系化合物が
約41%、エポキシ樹脂及び硬化促進剤が約59%の実施例
が示されているだけであって、それ以外には示されてい
ない。このようにシリコーンフェノール系化合物が約41
%と少ないと、塗膜が硬化する際の収縮率が急激に高く
なり、例えばセラミックコンデンサーにおいては静電容
量が変動するという問題点を生じるのみならず、この実
施例の硬化促進剤はトリエチルアミンテトラフェニルボ
レートであって、上記の芳香族アミンや脂肪族アミンを
硬化剤としたときにもつ問題点、上記の酸無水物を硬化
剤としたときにもつ問題点の両方を効果的に解決するこ
とができない。
問題点を解決するための手段 本発明は、上記問題点を解決するために、5〜30重量%
のシリコン変性レゾール型フェノール樹脂70〜90重量%
と、エポキシ樹脂及びイミダゾール系硬化剤30〜10%と
を含有し、かつイミダゾール系硬化剤はエポキシ樹脂に
対して0.2〜5重量%である塗料組成物の硬化膜からな
る電子部品用絶縁性保護塗膜を提供するものである。
次に本発明を詳細に説明する。
本発明におけるシリコン変性フェノール樹脂は、メチ
ル、エチル等のアルキル基、フェニル基を有するオルガ
ノポリシロキサンであるシリコン樹脂とフェノール樹脂
の反応生成物である。このようにシリコン樹脂で変性す
るのは、シリコン樹脂は耐熱性、電気絶縁性に優れるほ
かに、疎水性があり、水や水に溶解した電解質の影響を
受けにくい性質があるからである。具体的には、シリコ
ン樹脂としては例えばKR211(信越化学社製)等が挙げ
られ、フェノール樹脂としてはレゾール型の例えばプラ
イオーフェンJ325等が挙げられる。
また、本発明に用いられるエポキシ樹脂は、エピクロル
ヒドリンとビスフェノールAから製造されるビスフェノ
ールA型エポキシ樹脂、エピクロルヒドリンとビスフェ
ノールFから製造されるビスフェノールF型エポキシ樹
脂が使用できる。また、エピクロルヒドリンとノボラッ
ク樹脂から製造されるノボラック型エポキシ樹脂も単独
又は上記エポキシ樹脂と併用される。具体的にはビスフ
ェノールA型エポキシ樹脂としては、例えばエピコート
828、1007(油化シエルエポキシ社製)、エピクロン84
0、7050(大日本インキ化学工業社製)、AER331R、667R
(旭化成社製)、アラルダイトCY205(チバガイギー社
製)等が挙げられ、ビスフェノールF型エポキシ樹脂と
しては、例えばエピクロン830(大日本インキ化学工業
社製)等が挙げられ、ノボラック型エポキシ樹脂として
は、例えばエピコート154、152(油化シエルエポキシ社
製)、エピクロンN−740(大日本インキ化学工業社
製)、EPN1139(チバガイギー社製)等が挙げられる。
また、本発明に用いられるイミダゾール系硬化剤は、下
記一般式を有する。
ここでは、R1はH、イソブチル基等の低級アルキル基、
ベンジル基(置換又は未置換)、シアン化エチル基(−
CH2−CH2−CN)、ドデシル基(C12H25)又は R2はH、メチル基、エチル基、プロピル基等の低級アル
キル基、ウンデシル基(−C11H23)、ヘプタデシル基
(−C17H35)等のアルキル基又はフェニル基(置換又は
未置換)、R4はH、メチル基等の低級アルキル基、ヒド
ロキシメチル基(−CH2OH)、−CH2OC2H4CN、R5はH、
低級アルキル基、ヒドロキシメチル基(−CH2OH)、−C
H2OC2H4CNを示す例が挙げられる。これらのほかに置換
又は未置換のベンズイミダゾール、その誘導体も例示で
きるが、これらにかぎられるものでない。
上記のイミダゾール系硬化剤は と共に用いられ、その他酸成分と塩の形でも用いられ
る。
上記の具体例としては四国化成社製商品名キュアゾール
ORIGINAL No.101(品名2MZ、以下同様にNo.と商品)、
102(2E4MZ)、103(C11Z)、104(C17Z)、105(2P
Z)、106(2P4MZ)、107(1B2MZ)、111(2EZ)、110
(2IZ)、キュアゾールCN No.201(2MZ−CN)、202(2E
4MZ−CN)、203(C11Z−CN)、211(21Z−CN)、205(2
PZ−CN)、キュアゾールCNS No.221(2MZ−CNS)、222
(2E4MZ−CNS)、223(C11Z−CNS)、225(2PZ−CN
S)、キュアゾールAZINE No.231(2MZ−AZINE)、232
(2E4MZ−AZINE)、233(C11Z−AZINE)、キュアゾール
OK No.191(2MZ−OK)、195(2PZ−OK)、キュアゾール
HZ及びその他としてNo.305(2PHZ)、306(2P4MHZ)、3
15(2PHZ−CN)、316(2P4MHZ−CN)、108(SFZ)、109
(FFZ)が挙げられる。
なお、上記Mはメチル、Eはエチル、Pはフェニル、B
はベンジル、Iはイソプロピル、−CNは−CH2OC2H4CN、
OKは 、HはR3又はR4における−CH2OH、AZINEは Sは C11はC11H23、C17はC17H35、Zはイミダゾールを示す。
上記シリコン変性フェノール樹脂のシリコン変性率は、
5〜30重量%の範囲が好ましい。また、このシリコン変
性フェノール樹脂、エポキシ樹脂及びイミダゾール系硬
化剤の塗膜全体に占める割合は、前者のシリコン変性フ
ェノール樹脂が70〜90重量%、後者のエポキシ樹脂及び
イミダゾール系硬化剤の合計が30〜10重量%が好まし
い。また、イミダゾール系硬化剤のエポキシ樹脂に対す
る割合は0.2〜5重量%が好ましい。
シリコン変性フェノール樹脂のシリコン変性率が5重量
%より少ないと、これらのシリコン樹脂の性質が十分に
現れなく、例えばセラミックコンデンサーの誘電損失Q
が減少し(tanδが増大し)、絶縁抵抗等の電気的特性
が急激に低下する。また、このシリコン変性率が30重量
%を越えるとセラミックス素体との密着力が劣る。シリ
コン変性フェノール樹脂が70重量%より少ないと、塗膜
が硬化する際の収縮率が急激に高くなり、例えばセラミ
ックスコンデンサーにおいては静電容量が変動し、シリ
コン変性フェノール樹脂の占める割合が90重量%を越え
ると衝撃等に対する塗膜の強度が低下する。また、イミ
ダゾール系硬化剤の量がエポキシ樹脂に対して0.2重量
%より少ないときは塗膜の硬化が不十分で機械的強度が
劣り、JIS−C−5102に準ずるような高温高湿下での絶
縁抵抗と誘電損失の特性も向上しない。また5%を越え
ると、絶縁抵抗が低下する。
作用 イミダゾール系硬化剤は、その硬化作用が酸無水物より
良く、一方芳香族アミン、脂肪族アミンより耐湿性が良
い。
実施例 次に実施例を説明する。
実施例1 まず、プライオーフェンJ325(大日本インキ化学工業
(株)製フェノール樹脂62%溶液)150gとKR211(信越
化学(株)製シリコン樹脂70%溶液)9gとを窒素雰囲気
中で撹拌しながら、60℃、1時間反応させた。これによ
り5.7重量%シリコン変性フェノール樹脂を得た。
次にこのシリコン変性フェノール樹脂100gとエピコート
154(油化シエルエポキシ社製ノボラック型エポキシ樹
脂)4.5gと、エピコート828(油化シエルエポキシ社製
ビスフェノールA型エポキシ樹脂)10.5gと擂潰機で30
分間混練し、これにイミダゾール系硬化剤(四国化成製
2E4MZ(2−エチル−4−メチルイミダゾール)を0.37g
(エポキシ樹脂に対して2.5重量%)加えて10分間混練
した。これに溶融シリカ650gと、メタノール200gと、ア
セトン100gとを加えて2時間混練して塗料を調整した。
この塗料にあらかじめリード線が半田付けされた円板形
のセラミックコンデンサ素子本体を浸漬して引き上げ、
乾燥し、150℃、30分間加熱して硬化し、絶縁性保護塗
膜を形成し、外装をした。このような外装コンデンサを
10000個製作した。これらのコンデンサの誘電損失
(Q)とリード線の絶縁抵抗(IR)を市販の絶縁抵抗計
で50V印加して測定したところ、全てのコンデンサが105
MΩ以上のIRを示した。その後このコンデンサを60℃、
相対湿度95%の槽中に無負荷放置し、1000時間と2000時
間経過後のQ及びIRを測定し、Q値の最小値とコンデン
サ1000個のうちIRが103MΩ以下の値を示したコンデンサ
の個数を表に示す。
実施例2 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性フェノール
樹脂の代わりに、同様にして得られた18%シリコン変性
フェノール樹脂を同じ量用い、イミダゾール系硬化剤に
同じものを用いこれを0.37gの代わりに0.03g(エポキシ
樹脂に対して0.2重量%)用いた以外は同様にして絶縁
性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これ
らについても実施例1と同様に操作して測定した結果を
表に示す。
実施例3 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性フェノール
樹脂の代わりに、同様にして得られた29%シリコン変性
フェノール樹脂を同じ量用い、イミダゾール系硬化剤に
同じものを用いこれを0.37gの代わりに0.75g(エポキシ
樹脂に対して5重量%)用いた以外は同様にして絶縁性
保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これら
についても実施例1と同様に操作して測定した結果を表
に示す。
実施例4 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性フェノール
樹脂の代わりに、同様にして得られた9%シリコン変性
フェノール樹脂を同じ量用い、イミダゾール系硬化剤を
1−ベンジル−2メチルイミダゾール(四国化成社製)
に代えてこれを0.15g(エポキシ樹脂に対して1重量
%)用いた以外は同様にして絶縁性保護塗膜を形成し、
外装したコンデンサを作り、これらについても実施例1
と同様に操作して測定した結果を表に示す。
実施例5 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤を2−フェニ
ル−4−メチルイミダゾール(四国化成社製)に代え、
これを0.6g(エポキシ樹脂に対して4重量%)用いた以
外は同様にして絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコン
デンサを作り、これらについても実施例1と同様に操作
して測定した結果を表に示す。
実施例6 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤を2P4MHZ(2
−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダ
ゾール)(四国化成社製)に代えて用いた以外は同様に
して絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作
り、これらについても実施例1と同様に操作して測定し
た結果を表に示す。
実施例7〜10 実施例1〜4に於いて、それぞれイミダゾール系硬化剤
を2−メチルイミダゾールに代えて用いた以外は同様に
して絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作
り、これらについても実施例1と同様に操作して測定し
た結果はそれぞれ対応する実施例1〜4の表の値とほぼ
同じであった。
実施例11〜14 実施例1〜4に於いては、それぞれイミダゾール系硬化
剤を1−イソブチル−2−メチルイミダゾール(四国化
成社製)に代えて用いた以外は同様にして絶縁性保護塗
膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これらについ
ても実施例1と同様に操作して測定した結果はそれぞれ
対応する実施例1〜5の表の値とほぼ同じであった。
比較例1 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤を用いない
で、この代わりに酸無水物系硬化剤(YH−306油化シエ
ルエポキシ社製)7.5gを用いた以外は同様にして絶縁性
保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これら
についても実施例1と同様に操作して測定した結果を表
に示す。
比較例2 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤を用いないの
で、この代わりに芳香族アミン系硬化剤(エピキュアー
Z油化シエルエポキシ社製)3.0gを用いた以外は同様に
して絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作
り、これらについても実施例1と同様に操作して測定し
た結果を表に示す。
比較例3 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性樹脂の代わ
りにフェノール樹脂(プライオーフェンJ325)を用い、
エポキシ樹脂としてエピコート828だけを5.3gを用い、
硬化剤を用いなかった以外は同様にして絶縁性保護塗膜
を形成し、外装したコンデンサを作り、これらについて
も実施例1と同様に操作して測定しその結果を表に示
す。
比較例4 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤に同じ硬化剤
を用い、これを0.37gの代わりに1.05g(エポキシ樹脂に
対して7重量%)用いた以外は同様にして絶縁性保護塗
膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これらについ
ても実施例1と同様に操作して測定しその結果を表に示
す。
比較例5 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性フェノール
樹脂の代わりに同様にして得られた35重量%シリコン変
性フェノール樹脂を用いた以外は同様にしても絶縁性保
護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これらに
ついても実施例1と同様に操作して測定しその結果を表
に示す。
上記の結果から、実施例のものはいずれもQは、2000時
間経過後で25%以下の低下に過ぎないのに比べ、比較例
のもののQは2000時間経過後38%以下低下する。一方、
IRが103MΩ以下の個数は実施例のものがいずれも0であ
るのに対し、比較例のものは100時間後では9〜13、200
0時間後ではほぼ倍の20〜31になる。これらの結果は実
施例のものが、Q、IRとも比較例のものより格段に優れ
ていることを示すものである。
なお、本実施例の塗料は硬化剤にイミダゾール系硬化剤
の代わりに芳香族アミン硬化剤、脂肪族アミン硬化剤を
用いた塗料に比べ、硬化剤配合後の可使時間、すなわち
ポットライフが長い。
発明の効果 以上説明したように、本発明によれば、5〜30重量%の
シリコン変性レゾール型フェノール樹脂70〜90重量%
と、エポキシ樹脂及びイミダゾール系硬化剤30〜10重量
%含有させるので、シリコン変性レゾール型フェノール
樹脂を用いることにより、シリコン変性ノボラック型フ
ェノール樹脂を用いるよりも架橋点の数が多くなる上
に、分子量が低く、このため塗料としての性状(粘度が
低く、溶剤との相溶性が良い等の特に溶剤性塗料の重要
ファクター)や電気特性及び機械特性において優れたも
のとなり、しかも、シリコン変性レゾール型フェノール
樹脂とエポキシ樹脂及びイミダゾール系硬化剤との混合
割合が適切であることと相まって、その塗膜が硬化する
際の収縮率が過度に高くなるようなことがなく、例えば
セラミックコンデンサの静電容量を変動させるようなこ
とがないのみならず、その硬化膜の衝撃等に対する強度
も維持することができる。また、エポキシ樹脂の硬化剤
にイミダゾール系硬化剤を使用したので、本発明の塗膜
で外装した電子部品は、60℃、相対湿度95%のような高
温、高湿度雰囲気に2000時間のような長時間放置しても
絶縁抵抗の低下が例えば103MΩを下回るようなことがな
いのみならず、誘電損失Qの減少率も低く抑えることが
でき、従来の芳香族アミン、脂肪族アミンを硬化剤に使
用したものより格段にこれら性能を向上できる。また、
本発明による塗膜の硬化は酸無水物硬化剤のように高
温、長時間を必要としないので、連続的に生産される電
子部品の外装作業性も損なわないようにできる。このよ
うにして多量生産される電子部品の不良品を少なくし、
その信頼性を高めることができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C09D 5/25 163/00 PHG H01B 3/40 K 9059−5G

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】5〜30重量%のシリコン変性レゾール型フ
    ェノール樹脂70〜90重量%と、エポキシ樹脂及びイミダ
    ゾール系硬化剤30〜10%とを含有し、かつイミダゾール
    系硬化剤はエポキシ樹脂に対して0.2〜5重量%である
    塗料組成物の硬化膜からなることを特徴とする電子部品
    用絶縁性保護塗膜。
JP61195241A 1986-08-22 1986-08-22 電子部品用絶縁性保護塗膜 Expired - Lifetime JPH0726055B2 (ja)

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