JPH0726055B2 - 電子部品用絶縁性保護塗膜 - Google Patents
電子部品用絶縁性保護塗膜Info
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- JPH0726055B2 JPH0726055B2 JP61195241A JP19524186A JPH0726055B2 JP H0726055 B2 JPH0726055 B2 JP H0726055B2 JP 61195241 A JP61195241 A JP 61195241A JP 19524186 A JP19524186 A JP 19524186A JP H0726055 B2 JPH0726055 B2 JP H0726055B2
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- epoxy resin
- resin
- imidazole
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Landscapes
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
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- Epoxy Resins (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
- Organic Insulating Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、絶縁性塗料組成物に係わり、特にセラミック
コンデンサー、混成集積回路、インダクター等の電子部
品外装用の絶縁性保護塗膜に関する。
コンデンサー、混成集積回路、インダクター等の電子部
品外装用の絶縁性保護塗膜に関する。
従来の技術 セラミックコンデンサー、混成集積回路、インダクター
等の電子部品は電気機器の回路構成部品として広く使用
されている。これらの電子部品、例えばセラミックコン
デンサーはセラミック板に電極を形成し、これにリード
をはんだ付けして構成されるが、このままでは電極間に
他の導体が触れることがあるとショートしたり、電極が
酸化される危険があるので、絶縁性保護塗膜で外装が行
なわれる。他の電子部品についても同様の目的の外装が
行われる。
等の電子部品は電気機器の回路構成部品として広く使用
されている。これらの電子部品、例えばセラミックコン
デンサーはセラミック板に電極を形成し、これにリード
をはんだ付けして構成されるが、このままでは電極間に
他の導体が触れることがあるとショートしたり、電極が
酸化される危険があるので、絶縁性保護塗膜で外装が行
なわれる。他の電子部品についても同様の目的の外装が
行われる。
この外装用の絶縁性保護塗膜には熱硬化性塗料が用いら
れているが、これにはフェノール樹脂および/またはビ
スフェノールA型エポキシ樹脂を主成分とする樹脂分
と、シリカ、アルミナ等の無機質分と、メタノール、ア
セトン等の溶剤とからなるものが挙げられる。この塗料
は、例えばディッピング等により電子部品に塗布されて
乾燥され、加熱硬化されるが、ビスフェノールA型エポ
キシ樹脂を使用する場合、硬化剤としては芳香族アミ
ン、脂肪族アミンや酸無水物が用いられている。
れているが、これにはフェノール樹脂および/またはビ
スフェノールA型エポキシ樹脂を主成分とする樹脂分
と、シリカ、アルミナ等の無機質分と、メタノール、ア
セトン等の溶剤とからなるものが挙げられる。この塗料
は、例えばディッピング等により電子部品に塗布されて
乾燥され、加熱硬化されるが、ビスフェノールA型エポ
キシ樹脂を使用する場合、硬化剤としては芳香族アミ
ン、脂肪族アミンや酸無水物が用いられている。
発明が解決しようとする問題点 ところが、芳香族アミンや脂肪族アミンを硬化剤にした
塗膜で外装したセラミックコンデンサーは、60℃、相対
湿度95%の雰囲気下に2000時間放置されると、その外装
塗膜の絶縁抵抗値が製造当初の106MΩからJIS−C−642
3に規定されている値で、保証すべき電子部品の絶縁塗
膜の絶縁抵抗値とされている103MΩ以下に低下するもの
の個数がロットサイズ1万個のうち0.1〜0.3%生じ、こ
れらの内には誘電損失Qも30%以下低下するものがあ
る。これらを前以って除去することは困難であり、これ
が問題になっている。
塗膜で外装したセラミックコンデンサーは、60℃、相対
湿度95%の雰囲気下に2000時間放置されると、その外装
塗膜の絶縁抵抗値が製造当初の106MΩからJIS−C−642
3に規定されている値で、保証すべき電子部品の絶縁塗
膜の絶縁抵抗値とされている103MΩ以下に低下するもの
の個数がロットサイズ1万個のうち0.1〜0.3%生じ、こ
れらの内には誘電損失Qも30%以下低下するものがあ
る。これらを前以って除去することは困難であり、これ
が問題になっている。
また、酸無水物を硬化剤にした塗膜は、170〜180℃、2
時間という高温で長い時間の硬化を必要とし、電子部品
を連続生産する上で生産効率が悪いという問題点があ
る。
時間という高温で長い時間の硬化を必要とし、電子部品
を連続生産する上で生産効率が悪いという問題点があ
る。
特開昭59−93729号公報には、フェノール樹脂とシロキ
サン化合物とを反応させたシリコーンフェノール系化合
物と、エポキシ樹脂及び硬化促進剤を含有する塗料組成
物が記載されているが、フェノール樹脂にはノボラック
型フェノール樹脂が用いられていてレゾール型フェノー
ル樹脂は用いられておらないのみならず、この塗料組成
物の組成比についてはシリコーンフェノール系化合物が
約41%、エポキシ樹脂及び硬化促進剤が約59%の実施例
が示されているだけであって、それ以外には示されてい
ない。このようにシリコーンフェノール系化合物が約41
%と少ないと、塗膜が硬化する際の収縮率が急激に高く
なり、例えばセラミックコンデンサーにおいては静電容
量が変動するという問題点を生じるのみならず、この実
施例の硬化促進剤はトリエチルアミンテトラフェニルボ
レートであって、上記の芳香族アミンや脂肪族アミンを
硬化剤としたときにもつ問題点、上記の酸無水物を硬化
剤としたときにもつ問題点の両方を効果的に解決するこ
とができない。
サン化合物とを反応させたシリコーンフェノール系化合
物と、エポキシ樹脂及び硬化促進剤を含有する塗料組成
物が記載されているが、フェノール樹脂にはノボラック
型フェノール樹脂が用いられていてレゾール型フェノー
ル樹脂は用いられておらないのみならず、この塗料組成
物の組成比についてはシリコーンフェノール系化合物が
約41%、エポキシ樹脂及び硬化促進剤が約59%の実施例
が示されているだけであって、それ以外には示されてい
ない。このようにシリコーンフェノール系化合物が約41
%と少ないと、塗膜が硬化する際の収縮率が急激に高く
なり、例えばセラミックコンデンサーにおいては静電容
量が変動するという問題点を生じるのみならず、この実
施例の硬化促進剤はトリエチルアミンテトラフェニルボ
レートであって、上記の芳香族アミンや脂肪族アミンを
硬化剤としたときにもつ問題点、上記の酸無水物を硬化
剤としたときにもつ問題点の両方を効果的に解決するこ
とができない。
問題点を解決するための手段 本発明は、上記問題点を解決するために、5〜30重量%
のシリコン変性レゾール型フェノール樹脂70〜90重量%
と、エポキシ樹脂及びイミダゾール系硬化剤30〜10%と
を含有し、かつイミダゾール系硬化剤はエポキシ樹脂に
対して0.2〜5重量%である塗料組成物の硬化膜からな
る電子部品用絶縁性保護塗膜を提供するものである。
のシリコン変性レゾール型フェノール樹脂70〜90重量%
と、エポキシ樹脂及びイミダゾール系硬化剤30〜10%と
を含有し、かつイミダゾール系硬化剤はエポキシ樹脂に
対して0.2〜5重量%である塗料組成物の硬化膜からな
る電子部品用絶縁性保護塗膜を提供するものである。
次に本発明を詳細に説明する。
本発明におけるシリコン変性フェノール樹脂は、メチ
ル、エチル等のアルキル基、フェニル基を有するオルガ
ノポリシロキサンであるシリコン樹脂とフェノール樹脂
の反応生成物である。このようにシリコン樹脂で変性す
るのは、シリコン樹脂は耐熱性、電気絶縁性に優れるほ
かに、疎水性があり、水や水に溶解した電解質の影響を
受けにくい性質があるからである。具体的には、シリコ
ン樹脂としては例えばKR211(信越化学社製)等が挙げ
られ、フェノール樹脂としてはレゾール型の例えばプラ
イオーフェンJ325等が挙げられる。
ル、エチル等のアルキル基、フェニル基を有するオルガ
ノポリシロキサンであるシリコン樹脂とフェノール樹脂
の反応生成物である。このようにシリコン樹脂で変性す
るのは、シリコン樹脂は耐熱性、電気絶縁性に優れるほ
かに、疎水性があり、水や水に溶解した電解質の影響を
受けにくい性質があるからである。具体的には、シリコ
ン樹脂としては例えばKR211(信越化学社製)等が挙げ
られ、フェノール樹脂としてはレゾール型の例えばプラ
イオーフェンJ325等が挙げられる。
また、本発明に用いられるエポキシ樹脂は、エピクロル
ヒドリンとビスフェノールAから製造されるビスフェノ
ールA型エポキシ樹脂、エピクロルヒドリンとビスフェ
ノールFから製造されるビスフェノールF型エポキシ樹
脂が使用できる。また、エピクロルヒドリンとノボラッ
ク樹脂から製造されるノボラック型エポキシ樹脂も単独
又は上記エポキシ樹脂と併用される。具体的にはビスフ
ェノールA型エポキシ樹脂としては、例えばエピコート
828、1007(油化シエルエポキシ社製)、エピクロン84
0、7050(大日本インキ化学工業社製)、AER331R、667R
(旭化成社製)、アラルダイトCY205(チバガイギー社
製)等が挙げられ、ビスフェノールF型エポキシ樹脂と
しては、例えばエピクロン830(大日本インキ化学工業
社製)等が挙げられ、ノボラック型エポキシ樹脂として
は、例えばエピコート154、152(油化シエルエポキシ社
製)、エピクロンN−740(大日本インキ化学工業社
製)、EPN1139(チバガイギー社製)等が挙げられる。
ヒドリンとビスフェノールAから製造されるビスフェノ
ールA型エポキシ樹脂、エピクロルヒドリンとビスフェ
ノールFから製造されるビスフェノールF型エポキシ樹
脂が使用できる。また、エピクロルヒドリンとノボラッ
ク樹脂から製造されるノボラック型エポキシ樹脂も単独
又は上記エポキシ樹脂と併用される。具体的にはビスフ
ェノールA型エポキシ樹脂としては、例えばエピコート
828、1007(油化シエルエポキシ社製)、エピクロン84
0、7050(大日本インキ化学工業社製)、AER331R、667R
(旭化成社製)、アラルダイトCY205(チバガイギー社
製)等が挙げられ、ビスフェノールF型エポキシ樹脂と
しては、例えばエピクロン830(大日本インキ化学工業
社製)等が挙げられ、ノボラック型エポキシ樹脂として
は、例えばエピコート154、152(油化シエルエポキシ社
製)、エピクロンN−740(大日本インキ化学工業社
製)、EPN1139(チバガイギー社製)等が挙げられる。
また、本発明に用いられるイミダゾール系硬化剤は、下
記一般式を有する。
記一般式を有する。
ここでは、R1はH、イソブチル基等の低級アルキル基、
ベンジル基(置換又は未置換)、シアン化エチル基(−
CH2−CH2−CN)、ドデシル基(C12H25)又は R2はH、メチル基、エチル基、プロピル基等の低級アル
キル基、ウンデシル基(−C11H23)、ヘプタデシル基
(−C17H35)等のアルキル基又はフェニル基(置換又は
未置換)、R4はH、メチル基等の低級アルキル基、ヒド
ロキシメチル基(−CH2OH)、−CH2OC2H4CN、R5はH、
低級アルキル基、ヒドロキシメチル基(−CH2OH)、−C
H2OC2H4CNを示す例が挙げられる。これらのほかに置換
又は未置換のベンズイミダゾール、その誘導体も例示で
きるが、これらにかぎられるものでない。
ベンジル基(置換又は未置換)、シアン化エチル基(−
CH2−CH2−CN)、ドデシル基(C12H25)又は R2はH、メチル基、エチル基、プロピル基等の低級アル
キル基、ウンデシル基(−C11H23)、ヘプタデシル基
(−C17H35)等のアルキル基又はフェニル基(置換又は
未置換)、R4はH、メチル基等の低級アルキル基、ヒド
ロキシメチル基(−CH2OH)、−CH2OC2H4CN、R5はH、
低級アルキル基、ヒドロキシメチル基(−CH2OH)、−C
H2OC2H4CNを示す例が挙げられる。これらのほかに置換
又は未置換のベンズイミダゾール、その誘導体も例示で
きるが、これらにかぎられるものでない。
上記のイミダゾール系硬化剤は と共に用いられ、その他酸成分と塩の形でも用いられ
る。
る。
上記の具体例としては四国化成社製商品名キュアゾール
ORIGINAL No.101(品名2MZ、以下同様にNo.と商品)、
102(2E4MZ)、103(C11Z)、104(C17Z)、105(2P
Z)、106(2P4MZ)、107(1B2MZ)、111(2EZ)、110
(2IZ)、キュアゾールCN No.201(2MZ−CN)、202(2E
4MZ−CN)、203(C11Z−CN)、211(21Z−CN)、205(2
PZ−CN)、キュアゾールCNS No.221(2MZ−CNS)、222
(2E4MZ−CNS)、223(C11Z−CNS)、225(2PZ−CN
S)、キュアゾールAZINE No.231(2MZ−AZINE)、232
(2E4MZ−AZINE)、233(C11Z−AZINE)、キュアゾール
OK No.191(2MZ−OK)、195(2PZ−OK)、キュアゾール
HZ及びその他としてNo.305(2PHZ)、306(2P4MHZ)、3
15(2PHZ−CN)、316(2P4MHZ−CN)、108(SFZ)、109
(FFZ)が挙げられる。
ORIGINAL No.101(品名2MZ、以下同様にNo.と商品)、
102(2E4MZ)、103(C11Z)、104(C17Z)、105(2P
Z)、106(2P4MZ)、107(1B2MZ)、111(2EZ)、110
(2IZ)、キュアゾールCN No.201(2MZ−CN)、202(2E
4MZ−CN)、203(C11Z−CN)、211(21Z−CN)、205(2
PZ−CN)、キュアゾールCNS No.221(2MZ−CNS)、222
(2E4MZ−CNS)、223(C11Z−CNS)、225(2PZ−CN
S)、キュアゾールAZINE No.231(2MZ−AZINE)、232
(2E4MZ−AZINE)、233(C11Z−AZINE)、キュアゾール
OK No.191(2MZ−OK)、195(2PZ−OK)、キュアゾール
HZ及びその他としてNo.305(2PHZ)、306(2P4MHZ)、3
15(2PHZ−CN)、316(2P4MHZ−CN)、108(SFZ)、109
(FFZ)が挙げられる。
なお、上記Mはメチル、Eはエチル、Pはフェニル、B
はベンジル、Iはイソプロピル、−CNは−CH2OC2H4CN、
OKは 、HはR3又はR4における−CH2OH、AZINEは Sは C11はC11H23、C17はC17H35、Zはイミダゾールを示す。
はベンジル、Iはイソプロピル、−CNは−CH2OC2H4CN、
OKは 、HはR3又はR4における−CH2OH、AZINEは Sは C11はC11H23、C17はC17H35、Zはイミダゾールを示す。
上記シリコン変性フェノール樹脂のシリコン変性率は、
5〜30重量%の範囲が好ましい。また、このシリコン変
性フェノール樹脂、エポキシ樹脂及びイミダゾール系硬
化剤の塗膜全体に占める割合は、前者のシリコン変性フ
ェノール樹脂が70〜90重量%、後者のエポキシ樹脂及び
イミダゾール系硬化剤の合計が30〜10重量%が好まし
い。また、イミダゾール系硬化剤のエポキシ樹脂に対す
る割合は0.2〜5重量%が好ましい。
5〜30重量%の範囲が好ましい。また、このシリコン変
性フェノール樹脂、エポキシ樹脂及びイミダゾール系硬
化剤の塗膜全体に占める割合は、前者のシリコン変性フ
ェノール樹脂が70〜90重量%、後者のエポキシ樹脂及び
イミダゾール系硬化剤の合計が30〜10重量%が好まし
い。また、イミダゾール系硬化剤のエポキシ樹脂に対す
る割合は0.2〜5重量%が好ましい。
シリコン変性フェノール樹脂のシリコン変性率が5重量
%より少ないと、これらのシリコン樹脂の性質が十分に
現れなく、例えばセラミックコンデンサーの誘電損失Q
が減少し(tanδが増大し)、絶縁抵抗等の電気的特性
が急激に低下する。また、このシリコン変性率が30重量
%を越えるとセラミックス素体との密着力が劣る。シリ
コン変性フェノール樹脂が70重量%より少ないと、塗膜
が硬化する際の収縮率が急激に高くなり、例えばセラミ
ックスコンデンサーにおいては静電容量が変動し、シリ
コン変性フェノール樹脂の占める割合が90重量%を越え
ると衝撃等に対する塗膜の強度が低下する。また、イミ
ダゾール系硬化剤の量がエポキシ樹脂に対して0.2重量
%より少ないときは塗膜の硬化が不十分で機械的強度が
劣り、JIS−C−5102に準ずるような高温高湿下での絶
縁抵抗と誘電損失の特性も向上しない。また5%を越え
ると、絶縁抵抗が低下する。
%より少ないと、これらのシリコン樹脂の性質が十分に
現れなく、例えばセラミックコンデンサーの誘電損失Q
が減少し(tanδが増大し)、絶縁抵抗等の電気的特性
が急激に低下する。また、このシリコン変性率が30重量
%を越えるとセラミックス素体との密着力が劣る。シリ
コン変性フェノール樹脂が70重量%より少ないと、塗膜
が硬化する際の収縮率が急激に高くなり、例えばセラミ
ックスコンデンサーにおいては静電容量が変動し、シリ
コン変性フェノール樹脂の占める割合が90重量%を越え
ると衝撃等に対する塗膜の強度が低下する。また、イミ
ダゾール系硬化剤の量がエポキシ樹脂に対して0.2重量
%より少ないときは塗膜の硬化が不十分で機械的強度が
劣り、JIS−C−5102に準ずるような高温高湿下での絶
縁抵抗と誘電損失の特性も向上しない。また5%を越え
ると、絶縁抵抗が低下する。
作用 イミダゾール系硬化剤は、その硬化作用が酸無水物より
良く、一方芳香族アミン、脂肪族アミンより耐湿性が良
い。
良く、一方芳香族アミン、脂肪族アミンより耐湿性が良
い。
実施例 次に実施例を説明する。
実施例1 まず、プライオーフェンJ325(大日本インキ化学工業
(株)製フェノール樹脂62%溶液)150gとKR211(信越
化学(株)製シリコン樹脂70%溶液)9gとを窒素雰囲気
中で撹拌しながら、60℃、1時間反応させた。これによ
り5.7重量%シリコン変性フェノール樹脂を得た。
(株)製フェノール樹脂62%溶液)150gとKR211(信越
化学(株)製シリコン樹脂70%溶液)9gとを窒素雰囲気
中で撹拌しながら、60℃、1時間反応させた。これによ
り5.7重量%シリコン変性フェノール樹脂を得た。
次にこのシリコン変性フェノール樹脂100gとエピコート
154(油化シエルエポキシ社製ノボラック型エポキシ樹
脂)4.5gと、エピコート828(油化シエルエポキシ社製
ビスフェノールA型エポキシ樹脂)10.5gと擂潰機で30
分間混練し、これにイミダゾール系硬化剤(四国化成製
2E4MZ(2−エチル−4−メチルイミダゾール)を0.37g
(エポキシ樹脂に対して2.5重量%)加えて10分間混練
した。これに溶融シリカ650gと、メタノール200gと、ア
セトン100gとを加えて2時間混練して塗料を調整した。
154(油化シエルエポキシ社製ノボラック型エポキシ樹
脂)4.5gと、エピコート828(油化シエルエポキシ社製
ビスフェノールA型エポキシ樹脂)10.5gと擂潰機で30
分間混練し、これにイミダゾール系硬化剤(四国化成製
2E4MZ(2−エチル−4−メチルイミダゾール)を0.37g
(エポキシ樹脂に対して2.5重量%)加えて10分間混練
した。これに溶融シリカ650gと、メタノール200gと、ア
セトン100gとを加えて2時間混練して塗料を調整した。
この塗料にあらかじめリード線が半田付けされた円板形
のセラミックコンデンサ素子本体を浸漬して引き上げ、
乾燥し、150℃、30分間加熱して硬化し、絶縁性保護塗
膜を形成し、外装をした。このような外装コンデンサを
10000個製作した。これらのコンデンサの誘電損失
(Q)とリード線の絶縁抵抗(IR)を市販の絶縁抵抗計
で50V印加して測定したところ、全てのコンデンサが105
MΩ以上のIRを示した。その後このコンデンサを60℃、
相対湿度95%の槽中に無負荷放置し、1000時間と2000時
間経過後のQ及びIRを測定し、Q値の最小値とコンデン
サ1000個のうちIRが103MΩ以下の値を示したコンデンサ
の個数を表に示す。
のセラミックコンデンサ素子本体を浸漬して引き上げ、
乾燥し、150℃、30分間加熱して硬化し、絶縁性保護塗
膜を形成し、外装をした。このような外装コンデンサを
10000個製作した。これらのコンデンサの誘電損失
(Q)とリード線の絶縁抵抗(IR)を市販の絶縁抵抗計
で50V印加して測定したところ、全てのコンデンサが105
MΩ以上のIRを示した。その後このコンデンサを60℃、
相対湿度95%の槽中に無負荷放置し、1000時間と2000時
間経過後のQ及びIRを測定し、Q値の最小値とコンデン
サ1000個のうちIRが103MΩ以下の値を示したコンデンサ
の個数を表に示す。
実施例2 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性フェノール
樹脂の代わりに、同様にして得られた18%シリコン変性
フェノール樹脂を同じ量用い、イミダゾール系硬化剤に
同じものを用いこれを0.37gの代わりに0.03g(エポキシ
樹脂に対して0.2重量%)用いた以外は同様にして絶縁
性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これ
らについても実施例1と同様に操作して測定した結果を
表に示す。
樹脂の代わりに、同様にして得られた18%シリコン変性
フェノール樹脂を同じ量用い、イミダゾール系硬化剤に
同じものを用いこれを0.37gの代わりに0.03g(エポキシ
樹脂に対して0.2重量%)用いた以外は同様にして絶縁
性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これ
らについても実施例1と同様に操作して測定した結果を
表に示す。
実施例3 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性フェノール
樹脂の代わりに、同様にして得られた29%シリコン変性
フェノール樹脂を同じ量用い、イミダゾール系硬化剤に
同じものを用いこれを0.37gの代わりに0.75g(エポキシ
樹脂に対して5重量%)用いた以外は同様にして絶縁性
保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これら
についても実施例1と同様に操作して測定した結果を表
に示す。
樹脂の代わりに、同様にして得られた29%シリコン変性
フェノール樹脂を同じ量用い、イミダゾール系硬化剤に
同じものを用いこれを0.37gの代わりに0.75g(エポキシ
樹脂に対して5重量%)用いた以外は同様にして絶縁性
保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これら
についても実施例1と同様に操作して測定した結果を表
に示す。
実施例4 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性フェノール
樹脂の代わりに、同様にして得られた9%シリコン変性
フェノール樹脂を同じ量用い、イミダゾール系硬化剤を
1−ベンジル−2メチルイミダゾール(四国化成社製)
に代えてこれを0.15g(エポキシ樹脂に対して1重量
%)用いた以外は同様にして絶縁性保護塗膜を形成し、
外装したコンデンサを作り、これらについても実施例1
と同様に操作して測定した結果を表に示す。
樹脂の代わりに、同様にして得られた9%シリコン変性
フェノール樹脂を同じ量用い、イミダゾール系硬化剤を
1−ベンジル−2メチルイミダゾール(四国化成社製)
に代えてこれを0.15g(エポキシ樹脂に対して1重量
%)用いた以外は同様にして絶縁性保護塗膜を形成し、
外装したコンデンサを作り、これらについても実施例1
と同様に操作して測定した結果を表に示す。
実施例5 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤を2−フェニ
ル−4−メチルイミダゾール(四国化成社製)に代え、
これを0.6g(エポキシ樹脂に対して4重量%)用いた以
外は同様にして絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコン
デンサを作り、これらについても実施例1と同様に操作
して測定した結果を表に示す。
ル−4−メチルイミダゾール(四国化成社製)に代え、
これを0.6g(エポキシ樹脂に対して4重量%)用いた以
外は同様にして絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコン
デンサを作り、これらについても実施例1と同様に操作
して測定した結果を表に示す。
実施例6 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤を2P4MHZ(2
−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダ
ゾール)(四国化成社製)に代えて用いた以外は同様に
して絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作
り、これらについても実施例1と同様に操作して測定し
た結果を表に示す。
−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダ
ゾール)(四国化成社製)に代えて用いた以外は同様に
して絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作
り、これらについても実施例1と同様に操作して測定し
た結果を表に示す。
実施例7〜10 実施例1〜4に於いて、それぞれイミダゾール系硬化剤
を2−メチルイミダゾールに代えて用いた以外は同様に
して絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作
り、これらについても実施例1と同様に操作して測定し
た結果はそれぞれ対応する実施例1〜4の表の値とほぼ
同じであった。
を2−メチルイミダゾールに代えて用いた以外は同様に
して絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作
り、これらについても実施例1と同様に操作して測定し
た結果はそれぞれ対応する実施例1〜4の表の値とほぼ
同じであった。
実施例11〜14 実施例1〜4に於いては、それぞれイミダゾール系硬化
剤を1−イソブチル−2−メチルイミダゾール(四国化
成社製)に代えて用いた以外は同様にして絶縁性保護塗
膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これらについ
ても実施例1と同様に操作して測定した結果はそれぞれ
対応する実施例1〜5の表の値とほぼ同じであった。
剤を1−イソブチル−2−メチルイミダゾール(四国化
成社製)に代えて用いた以外は同様にして絶縁性保護塗
膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これらについ
ても実施例1と同様に操作して測定した結果はそれぞれ
対応する実施例1〜5の表の値とほぼ同じであった。
比較例1 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤を用いない
で、この代わりに酸無水物系硬化剤(YH−306油化シエ
ルエポキシ社製)7.5gを用いた以外は同様にして絶縁性
保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これら
についても実施例1と同様に操作して測定した結果を表
に示す。
で、この代わりに酸無水物系硬化剤(YH−306油化シエ
ルエポキシ社製)7.5gを用いた以外は同様にして絶縁性
保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これら
についても実施例1と同様に操作して測定した結果を表
に示す。
比較例2 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤を用いないの
で、この代わりに芳香族アミン系硬化剤(エピキュアー
Z油化シエルエポキシ社製)3.0gを用いた以外は同様に
して絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作
り、これらについても実施例1と同様に操作して測定し
た結果を表に示す。
で、この代わりに芳香族アミン系硬化剤(エピキュアー
Z油化シエルエポキシ社製)3.0gを用いた以外は同様に
して絶縁性保護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作
り、これらについても実施例1と同様に操作して測定し
た結果を表に示す。
比較例3 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性樹脂の代わ
りにフェノール樹脂(プライオーフェンJ325)を用い、
エポキシ樹脂としてエピコート828だけを5.3gを用い、
硬化剤を用いなかった以外は同様にして絶縁性保護塗膜
を形成し、外装したコンデンサを作り、これらについて
も実施例1と同様に操作して測定しその結果を表に示
す。
りにフェノール樹脂(プライオーフェンJ325)を用い、
エポキシ樹脂としてエピコート828だけを5.3gを用い、
硬化剤を用いなかった以外は同様にして絶縁性保護塗膜
を形成し、外装したコンデンサを作り、これらについて
も実施例1と同様に操作して測定しその結果を表に示
す。
比較例4 実施例1に於いて、イミダゾール系硬化剤に同じ硬化剤
を用い、これを0.37gの代わりに1.05g(エポキシ樹脂に
対して7重量%)用いた以外は同様にして絶縁性保護塗
膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これらについ
ても実施例1と同様に操作して測定しその結果を表に示
す。
を用い、これを0.37gの代わりに1.05g(エポキシ樹脂に
対して7重量%)用いた以外は同様にして絶縁性保護塗
膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これらについ
ても実施例1と同様に操作して測定しその結果を表に示
す。
比較例5 実施例1に於いて、5.7重量%シリコン変性フェノール
樹脂の代わりに同様にして得られた35重量%シリコン変
性フェノール樹脂を用いた以外は同様にしても絶縁性保
護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これらに
ついても実施例1と同様に操作して測定しその結果を表
に示す。
樹脂の代わりに同様にして得られた35重量%シリコン変
性フェノール樹脂を用いた以外は同様にしても絶縁性保
護塗膜を形成し、外装したコンデンサを作り、これらに
ついても実施例1と同様に操作して測定しその結果を表
に示す。
上記の結果から、実施例のものはいずれもQは、2000時
間経過後で25%以下の低下に過ぎないのに比べ、比較例
のもののQは2000時間経過後38%以下低下する。一方、
IRが103MΩ以下の個数は実施例のものがいずれも0であ
るのに対し、比較例のものは100時間後では9〜13、200
0時間後ではほぼ倍の20〜31になる。これらの結果は実
施例のものが、Q、IRとも比較例のものより格段に優れ
ていることを示すものである。
間経過後で25%以下の低下に過ぎないのに比べ、比較例
のもののQは2000時間経過後38%以下低下する。一方、
IRが103MΩ以下の個数は実施例のものがいずれも0であ
るのに対し、比較例のものは100時間後では9〜13、200
0時間後ではほぼ倍の20〜31になる。これらの結果は実
施例のものが、Q、IRとも比較例のものより格段に優れ
ていることを示すものである。
なお、本実施例の塗料は硬化剤にイミダゾール系硬化剤
の代わりに芳香族アミン硬化剤、脂肪族アミン硬化剤を
用いた塗料に比べ、硬化剤配合後の可使時間、すなわち
ポットライフが長い。
の代わりに芳香族アミン硬化剤、脂肪族アミン硬化剤を
用いた塗料に比べ、硬化剤配合後の可使時間、すなわち
ポットライフが長い。
発明の効果 以上説明したように、本発明によれば、5〜30重量%の
シリコン変性レゾール型フェノール樹脂70〜90重量%
と、エポキシ樹脂及びイミダゾール系硬化剤30〜10重量
%含有させるので、シリコン変性レゾール型フェノール
樹脂を用いることにより、シリコン変性ノボラック型フ
ェノール樹脂を用いるよりも架橋点の数が多くなる上
に、分子量が低く、このため塗料としての性状(粘度が
低く、溶剤との相溶性が良い等の特に溶剤性塗料の重要
ファクター)や電気特性及び機械特性において優れたも
のとなり、しかも、シリコン変性レゾール型フェノール
樹脂とエポキシ樹脂及びイミダゾール系硬化剤との混合
割合が適切であることと相まって、その塗膜が硬化する
際の収縮率が過度に高くなるようなことがなく、例えば
セラミックコンデンサの静電容量を変動させるようなこ
とがないのみならず、その硬化膜の衝撃等に対する強度
も維持することができる。また、エポキシ樹脂の硬化剤
にイミダゾール系硬化剤を使用したので、本発明の塗膜
で外装した電子部品は、60℃、相対湿度95%のような高
温、高湿度雰囲気に2000時間のような長時間放置しても
絶縁抵抗の低下が例えば103MΩを下回るようなことがな
いのみならず、誘電損失Qの減少率も低く抑えることが
でき、従来の芳香族アミン、脂肪族アミンを硬化剤に使
用したものより格段にこれら性能を向上できる。また、
本発明による塗膜の硬化は酸無水物硬化剤のように高
温、長時間を必要としないので、連続的に生産される電
子部品の外装作業性も損なわないようにできる。このよ
うにして多量生産される電子部品の不良品を少なくし、
その信頼性を高めることができる。
シリコン変性レゾール型フェノール樹脂70〜90重量%
と、エポキシ樹脂及びイミダゾール系硬化剤30〜10重量
%含有させるので、シリコン変性レゾール型フェノール
樹脂を用いることにより、シリコン変性ノボラック型フ
ェノール樹脂を用いるよりも架橋点の数が多くなる上
に、分子量が低く、このため塗料としての性状(粘度が
低く、溶剤との相溶性が良い等の特に溶剤性塗料の重要
ファクター)や電気特性及び機械特性において優れたも
のとなり、しかも、シリコン変性レゾール型フェノール
樹脂とエポキシ樹脂及びイミダゾール系硬化剤との混合
割合が適切であることと相まって、その塗膜が硬化する
際の収縮率が過度に高くなるようなことがなく、例えば
セラミックコンデンサの静電容量を変動させるようなこ
とがないのみならず、その硬化膜の衝撃等に対する強度
も維持することができる。また、エポキシ樹脂の硬化剤
にイミダゾール系硬化剤を使用したので、本発明の塗膜
で外装した電子部品は、60℃、相対湿度95%のような高
温、高湿度雰囲気に2000時間のような長時間放置しても
絶縁抵抗の低下が例えば103MΩを下回るようなことがな
いのみならず、誘電損失Qの減少率も低く抑えることが
でき、従来の芳香族アミン、脂肪族アミンを硬化剤に使
用したものより格段にこれら性能を向上できる。また、
本発明による塗膜の硬化は酸無水物硬化剤のように高
温、長時間を必要としないので、連続的に生産される電
子部品の外装作業性も損なわないようにできる。このよ
うにして多量生産される電子部品の不良品を少なくし、
その信頼性を高めることができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C09D 5/25 163/00 PHG H01B 3/40 K 9059−5G
Claims (1)
- 【請求項1】5〜30重量%のシリコン変性レゾール型フ
ェノール樹脂70〜90重量%と、エポキシ樹脂及びイミダ
ゾール系硬化剤30〜10%とを含有し、かつイミダゾール
系硬化剤はエポキシ樹脂に対して0.2〜5重量%である
塗料組成物の硬化膜からなることを特徴とする電子部品
用絶縁性保護塗膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61195241A JPH0726055B2 (ja) | 1986-08-22 | 1986-08-22 | 電子部品用絶縁性保護塗膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61195241A JPH0726055B2 (ja) | 1986-08-22 | 1986-08-22 | 電子部品用絶縁性保護塗膜 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6351473A JPS6351473A (ja) | 1988-03-04 |
| JPH0726055B2 true JPH0726055B2 (ja) | 1995-03-22 |
Family
ID=16337837
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61195241A Expired - Lifetime JPH0726055B2 (ja) | 1986-08-22 | 1986-08-22 | 電子部品用絶縁性保護塗膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0726055B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107573986B (zh) * | 2017-03-24 | 2020-06-05 | 卓聪(上海)环保科技发展有限公司 | 一种电力电气设备在线养护保护剂及其制备方法和用途 |
| CN117487435B (zh) * | 2023-11-20 | 2025-04-15 | 擎天材料科技有限公司 | 一种提升基材附着力的绝缘粉末涂料及其制备方法和应用 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5993729A (ja) * | 1982-11-22 | 1984-05-30 | Hitachi Ltd | シリコ−ンフエノ−ル系化合物の製造方法 |
-
1986
- 1986-08-22 JP JP61195241A patent/JPH0726055B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6351473A (ja) | 1988-03-04 |
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