JPH0726392A - Removal equipment for conductor rolls in vertical plating equipment - Google Patents
Removal equipment for conductor rolls in vertical plating equipmentInfo
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- JPH0726392A JPH0726392A JP17331493A JP17331493A JPH0726392A JP H0726392 A JPH0726392 A JP H0726392A JP 17331493 A JP17331493 A JP 17331493A JP 17331493 A JP17331493 A JP 17331493A JP H0726392 A JPH0726392 A JP H0726392A
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- roll
- strip
- conductor
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 ストリップ疵検出手段11でストリップ9上
に発生した疵を検出し、演算・制御手段13で疵検出信
号に基いてコンダクタロール6上の付着物の位置を演算
するとともロール研磨手段12を研磨位置に移動させ
て、コンダクタロール6上の付着物を除去する。
【効果】 コンダクタロールに物が付着した場合には速
かに付着物を除去し、ストリップの疵付きを無くすこと
ができる。
(57) [Summary] [Structure] The flaw detected on the strip 9 is detected by the strip flaw detection means 11, and the position of the deposit on the conductor roll 6 is calculated by the calculation / control means 13 based on the flaw detection signal. In addition, the roll polishing means 12 is moved to the polishing position to remove the deposits on the conductor roll 6. [Effect] When an object adheres to the conductor roll, the adhered object can be quickly removed to eliminate the flaw on the strip.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は縦型メッキ設備における
コンダクタロール付着物除去装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a conductor roll deposit removing device for vertical plating equipment.
【0002】[0002]
【従来の技術】ストリップ(鋼帯)に電気メッキを施す
縦型メッキ設備では、ストリップによって運ばれたメッ
キ金属が下流側の通電ロール(一般に「コンダクタロー
ル」と称する。)に付着することがある。すると、この
付着物が通過中のストリップに傷を付けることとなり具
合が悪い。そこで、本出願人は先に特開平3−1303
96号でロール手入装置を提案し、コンダクタロールに
砥石を当て、この砥石をロール軸方向に往復移動するこ
とでコンダクタロールを均一に研磨することとした。均
一に研磨するために、予めロールのプロフィールを計測
し、そのデータに基いて施工する。詳しくは、付着物が
付いて径が大きくなっている箇所は砥石の押付け力を強
めるという制御を加えることに特徴がある。2. Description of the Related Art In a vertical plating facility for electroplating a strip (steel strip), the plating metal carried by the strip sometimes adheres to a current-carrying roll (generally referred to as a "conductor roll") on the downstream side. . Then, the adhered matter damages the strip being passed, which is unsatisfactory. Therefore, the applicant of the present invention has previously disclosed the Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-1303.
No. 96 proposed a roll maintenance device, and a conductor roll was hit with a grindstone, and the grindstone was reciprocally moved in the roll axial direction to uniformly polish the conductor roll. In order to evenly polish, the profile of the roll is measured in advance and construction is performed based on the data. Specifically, it is characterized by adding a control to increase the pressing force of the grindstone at the place where the diameter is large due to the attached matter.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上記提案は付着物を撤
去できる効果はあるものの、基本的にロールを砥石で常
時研磨するためにロールが比較的短い期間で縮径し、同
時に砥石も減り、従ってコンダクタロール並びに砥石の
寿命が短くなる。そこで本発明の目的は付着物を研削す
るもののコンダクタロールの寿命が短縮されない技術を
提供することにある。Although the above-mentioned proposal has the effect of removing deposits, basically the roll is reduced in diameter in a relatively short period in order to constantly grind the roll with a grindstone, and at the same time the grindstone is reduced. Therefore, the life of the conductor roll and the grindstone is shortened. Therefore, an object of the present invention is to provide a technique for grinding the deposits but not shortening the life of the conductor roll.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するべく
本発明は、ストリップ疵検出手段とロール研磨手段とコ
ンダクタロール上の付着物の位置を演算しロール研磨手
段を研磨位置に移動させる演算・制御手段とからなるコ
ンダクタロール付着物除去装置を構成する。In order to achieve the above object, the present invention calculates the position of the deposit on the strip flaw detecting means, the roll polishing means, and the conductor roll, and moves the roll polishing means to the polishing position. A conductor roll adhering substance removing device including a control means is configured.
【0005】[0005]
【作用】ストリップ疵検出手段で出側コンダクタロール
を介して抽出されるストリップのロール接触側の面に発
生する疵を検出し、演算・制御手段で疵検出信号に基い
てコンダクタロール上の付着物の位置を演算するととも
ロール研磨手段を研磨位置に移動させてロール研磨手段
でコンダクタロール上の付着物を除去する。The flaw detected on the roll contact side surface of the strip extracted by the strip flaw detection means by the strip flaw detection means is detected, and the deposit on the conductor roll is detected by the calculation / control means based on the flaw detection signal. Is calculated, the roll polishing means is moved to the polishing position, and the deposits on the conductor roll are removed by the roll polishing means.
【0006】[0006]
【実施例】本発明の実施例を添付図面に基づいて以下に
説明する。図1は本発明に係る縦型メッキ設備の概念図
であり、縦型メッキ設備1はメッキ槽2、陽極電極3,
3、シンクロール4、入側コンダクタロール5、出側コ
ンダクタロール6、ホールドダウンロール7,7、シー
ルロール8,8およびコンダクタロール付着物除去装置
10からなる。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a conceptual diagram of vertical plating equipment according to the present invention. The vertical plating equipment 1 includes a plating tank 2, an anode electrode 3,
3, a sink roll 4, an entrance-side conductor roll 5, an exit-side conductor roll 6, hold-down rolls 7 and 7, seal rolls 8 and 8, and a conductor-roll deposit removing device 10.
【0007】前記入側・出側コンダクタロール5,6は
陰極電極ロールであり、導体であるストリップ9を図の
様に掛け渡すことにより、ストリップ9は電気メッキさ
れ、表面にメッキ被膜が形成される。シールロール8,
8はストリップ9の表裏面に付着したメッキ液をせき止
めるものである。The inlet and outlet conductor rolls 5 and 6 are cathode electrode rolls, and the strip 9 which is a conductor is bridged as shown in the figure to electroplate the strip 9 to form a plating film on the surface. It Seal roll 8,
Reference numeral 8 is for stopping the plating liquid adhering to the front and back surfaces of the strip 9.
【0008】前記コンダクタロール付着物除去装置10
は、出側コンダクタロール6の付近に設置されて抽出さ
れるストリップ9の下面(ロール接触側の面)をモニタ
するストリップ疵検出手段11と、コンダクタロール6
の下方に配置されて同ロール6の任意の位置を研磨する
ロール研磨手段12と、ストリップ疵検出手段11の疵
検出信号に基いてコンダクタロール6上の付着物の位置
を演算し、ロール研磨手段12を研磨位置に移動させる
演算・制御手段13とからなる。これら手段11,12
の詳細を次に説明する。The conductor roll deposit removing device 10
Is a strip flaw detecting means 11 for monitoring the lower surface (roll contact side surface) of the strip 9 which is installed near the exit side conductor roll 6 and extracted, and the conductor roll 6
The roll polishing means 12 disposed below the roller 6 for polishing any position of the roll 6, and the position of the deposit on the conductor roll 6 is calculated based on the flaw detection signal of the strip flaw detection means 11 to roll polishing means. And a calculation / control means 13 for moving 12 to the polishing position. These means 11, 12
Will be described in detail below.
【0009】図2は本発明に係るストリップ疵検出手段
の原理図であり、ストリップ疵検出手段11は、例えば
レーザ発振器11a、ミラー11b、レンズ群11c、
ミラー11d、8面鏡11eからなる走査部11Aと、
複数の受光素子チップ11fを直列配列した受光部11
Bとからなり、レーザ発振器11aから発射されたレー
ザ光をレンズ群11cで適度に絞り、この絞られたレー
ザ光を8面鏡11eでストリップ9の板幅方向に高速で
走査し、反射光を受光部11Bで検知して、ストリップ
表面の形状を検知するものである。スコープ11gにそ
のイメージを示すが、ストリップ9上に疵があれば凹部
11hが検出され、その信号(デジタルまたはアナログ
信号)が演算・制御手段13に送られる。FIG. 2 is a principle diagram of the strip defect detecting means according to the present invention. The strip defect detecting means 11 includes, for example, a laser oscillator 11a, a mirror 11b, a lens group 11c, and a lens group 11c.
A scanning unit 11A including a mirror 11d and an eight-sided mirror 11e;
Light receiving section 11 in which a plurality of light receiving element chips 11f are arranged in series
The laser beam emitted from the laser oscillator 11a is appropriately narrowed by the lens group 11c, and the narrowed laser beam is scanned at a high speed in the plate width direction of the strip 9 by the 8-sided mirror 11e to reflect the reflected light. The light receiving portion 11B detects the shape of the strip surface. The image is shown in the scope 11g, but if there is a flaw on the strip 9, the recess 11h is detected, and the signal (digital or analog signal) is sent to the arithmetic / control means 13.
【0010】図3は本発明に係るロール研磨手段の原理
図であり、ロール研磨手段12は、例えばx軸レール1
2aに沿って送りねじ12bの正逆転動作で移動される
x軸移動ベース12cと、このベース12cに対してy
軸レール12dに沿ってシリンダ12eにて往復移動す
るロボット12fと、ロボット12fのアーム12gの
先端に取付けられ高速回転する砥石12hとからなる。
このロール研磨手段12は、アーム12gを矢印方向
に高速で揺動することにより、当該コンダクタロール6
の極く狭いポイントのみを研磨することが出きることを
特徴とする。勿論、アーム12gを固定し、送りねじ1
2bの作動でコンダクタロール6の全長に渡ってそれを
研磨することは可能である。FIG. 3 is a principle view of the roll polishing means according to the present invention. The roll polishing means 12 is, for example, the x-axis rail 1.
2a, an x-axis moving base 12c that is moved by the forward and reverse movements of the feed screw 12b, and y with respect to this base 12c.
It comprises a robot 12f that reciprocates along a shaft 12d in a cylinder 12e, and a grindstone 12h attached to the tip of an arm 12g of the robot 12f and rotating at high speed.
The roll polishing means 12 swings the arm 12g at a high speed in the direction of the arrow to move the conductor roll 6
The feature is that it is possible to polish only the very narrow point of. Of course, the arm 12g is fixed and the feed screw 1
It is possible to polish the entire length of the conductor roll 6 by the operation of 2b.
【0011】以上の構成からなるコンダクタロール付着
物除去装置の作用を次に述べる。図4は本発明のコンダ
クタロール付着物除去装置の作動フロー図であり、動作
の一例を示すものである。フロー図中、STnはステッ
プn番を示す。ST01において演算・制御手段13は
ストリップ疵検出手段11の信号を連続的に入力し、こ
の値を基準レベルと比較し、仮に疵が検出されると、S
T02でその程度を判別し、基準レベルより大きく離れ
たところの大規模な凹部であれば、即くST03〜ST
05のステップでコンダクタロール6を研磨する。The operation of the conductor roll adhering substance removing device having the above structure will be described below. FIG. 4 is an operation flow diagram of the conductor roll deposit removing device of the present invention, showing an example of the operation. In the flowchart, STn indicates step n. In ST01, the calculation / control means 13 continuously inputs the signal of the strip flaw detection means 11, compares this value with a reference level, and if a flaw is detected, S
The degree is determined at T02, and if it is a large-scale concave portion far away from the reference level, ST03 to ST immediately.
In step 05, the conductor roll 6 is polished.
【0012】即ち、ST03にて演算・制御手段13は
ロール上の付着物の箇所を逆算する。図1に示すとお
り、コンダクタロール6とストリップ疵検出手段11の
ストリップ走行方向における距離は固定されていから、
付着物がコンダクタロール6のどの回転角にあるか逆算
できるわけである。コンダクタロール6はストリップ9
で摩耗し縮径することがある。そこで別の手段でロール
径を計測し、そのデータを演算・制御手段13に送り、
演算を補正すればより計算精度が高まる。ST04にて
演算・制御手段13の制御によりロボット12fをxお
よびy方向に移動し待機させる。次の回転で該当箇所が
巡ってきたら、アーム12gを速かに揺動して砥石12
hでロール6を研磨する(ST05)。そしてアーム1
2gを速かに戻す。That is, in ST03, the calculation / control means 13 back-calculates the location of the deposit on the roll. As shown in FIG. 1, since the distance between the conductor roll 6 and the strip defect detecting means 11 in the strip traveling direction is fixed,
The rotation angle of the conductor roll 6 can be calculated backward. Conductor roll 6 is strip 9
It may wear and shrink. Therefore, the roll diameter is measured by another means, and the data is sent to the calculation / control means 13,
If the calculation is corrected, the calculation accuracy increases. In ST04, the robot 12f is moved in the x and y directions and made to stand by under the control of the calculation / control means 13. When the relevant place comes around in the next rotation, the arm 12g is swung quickly and the grindstone 12
The roll 6 is polished with h (ST05). And arm 1
Quickly return 2g.
【0013】一方、ST02で疵が大規模ではないと判
断された場合には、N(ノー)のルートを通ってST0
6に至る。疵の程度が比較的小さいため、これがコンダ
クタロール6の付着物によって付けられたものか、スト
リップのメッキのむらによるものか判断できない場合が
ある。メッキのむら程度でいちいちロール6を研磨する
ことは有益でない。そこで、本発明は中程度の疵がコン
ダクタロール6の付着物によるものか否かを判断するフ
ロー(回路)を設けたことに特徴がある。即ち、ST0
6では中程度の疵がコンダクタロール一回転相当のピッ
チで連続的に発生していればコンダクタロール6の付着
物が存在すると判断し、ロール6を研磨(ST03〜S
T05)することにした。ST07で終了する(例えば
メッキ操業を休止する。)との指令がなければ、ST0
1に戻り、ループを繰り返す。On the other hand, if it is determined in ST02 that the flaw is not large-scale, the route is N0 (NO) and ST0
Up to 6. Since the degree of the flaw is relatively small, it may not be possible to determine whether it is caused by the deposit on the conductor roll 6 or the uneven plating of the strip. It is not beneficial to polish the roll 6 with uneven plating. Therefore, the present invention is characterized in that a flow (circuit) for determining whether or not the medium-sized flaw is caused by the deposit on the conductor roll 6 is provided. That is, ST0
In No. 6, if medium-sized flaws are continuously generated at a pitch equivalent to one rotation of the conductor roll, it is determined that there is an adhered substance on the conductor roll 6, and the roll 6 is polished (ST03 to S
T05) decided to do. If there is no command to end in ST07 (for example, stop the plating operation), ST0
Return to 1 and repeat the loop.
【0014】本発明は、ストリップ疵検出手段11の疵
信号を「無」、「中程度」、「大規模」の3段階に区分
し、中程度をさらに2区分することで軽微若しくは一過
性の疵ではロールを研磨せず、ロールに付着物が付いた
と認められる時のみロールを研磨するようにしたことに
特徴がある。しかも、ロール研磨は付着物のみを削り落
とし、他の健全なロール面は研磨しないようにしたもの
である。According to the present invention, the flaw signal of the strip flaw detecting means 11 is divided into three stages of "none", "medium", and "large scale", and the medium degree is further divided into two stages to make it slight or transient. The flaw is characterized in that the roll is not polished, and the roll is polished only when it is recognized that an adhered matter is attached to the roll. Moreover, the roll polishing is intended to scrape off only the adhered substances and not to polish other healthy roll surfaces.
【0015】尚、前記ストリップ疵検出手段11は、上
記実施例に限るものではなく、レーザ発振器と受光器と
を、レールおよびワイヤで往復動させるようにしてもよ
い。また、前記ロール研磨手段12も、上記実施例に限
るものではなく、砥石回転装置をレールおよびワイヤで
往復動させるようにしてもよい。The strip defect detecting means 11 is not limited to the above embodiment, but the laser oscillator and the photodetector may be reciprocated by rails and wires. Further, the roll polishing means 12 is not limited to the above embodiment, and the grindstone rotating device may be reciprocated by rails and wires.
【0016】[0016]
【発明の効果】以上に述べた通り本発明は、ストリップ
疵検出手段で出側コンダクタロールを介して抽出される
ストリップのロール接触側の面に発生する疵を検出し、
演算・制御手段で疵検出信号に基いてコンダクタロール
上の付着物の位置を演算するとともロール研磨手段を研
磨位置に移動させてロール研磨手段でコンダクタロール
上の付着物を除去する様にしたので、コンダクタロール
に物が付着した場合には速かに付着物を除去し、ストリ
ップの疵付きを無くすことができる。As described above, the present invention detects the flaws generated on the roll contact side surface of the strip which is extracted through the outlet side conductor roll by the strip flaw detecting means,
The calculation / control means calculates the position of the deposit on the conductor roll based on the flaw detection signal, and the roll polishing means is moved to the polishing position to remove the deposit on the conductor roll by the roll polishing means. When an object adheres to the conductor roll, the adhered object can be quickly removed to eliminate the scratches on the strip.
【0017】また、演算・制御手段に、ストリップ上の
疵がコンダクタロールの一回転長さに等しいピッチで付
いているという情報に基いて当該ロールに付着物がある
と認定する回路を備えれば、付着物の検出精度が向上
し、ロール研磨手段の作動効率を高めることができる。Further, if the arithmetic / control means is provided with a circuit for recognizing that there is a deposit on the roll based on the information that the flaws on the strip are attached at a pitch equal to one rotation length of the conductor roll. Therefore, the accuracy of detecting the adhered substances is improved, and the operation efficiency of the roll polishing means can be increased.
【図1】本発明に係る縦型メッキ設備の概念図FIG. 1 is a conceptual diagram of vertical plating equipment according to the present invention.
【図2】本発明に係るストリップ疵検出手段の原理図FIG. 2 is a principle diagram of strip flaw detection means according to the present invention.
【図3】本発明に係るロール研磨手段の原理図FIG. 3 is a principle diagram of a roll polishing means according to the present invention.
【図4】本発明のコンダクタロール付着物除去装置の作
動フロー図FIG. 4 is an operation flow chart of the conductor roll deposit removing device of the present invention.
1…縦型メッキ設備、2…メッキ槽、3…陽極電極、6
…コンダクタロール(出側コンダクタロール)、9…ス
トリップ、10…コンダクタロール付着物除去装置、1
1…ストリップ疵除去手段、11A…走査部、11B…
受光部、11a…レーザ発振器、12…ロール研磨手
段、12f…ロボット、12g…アーム、12h…砥
石、13…演算・制御手段。1 ... Vertical plating equipment, 2 ... Plating tank, 3 ... Anode electrode, 6
… Conductor roll (outgoing conductor roll), 9… Strip, 10… Conductor roll deposit remover, 1
1 ... Strip flaw removing means, 11A ... Scanning section, 11B ...
Light receiving part, 11a ... Laser oscillator, 12 ... Roll polishing means, 12f ... Robot, 12g ... Arm, 12h ... Grindstone, 13 ... Computation / control means.
Claims (2)
るストリップのロール接触側の面をモニタするストリッ
プ疵検出手段と、前記コンダクタロールの任意の位置を
研磨するロール研磨手段と、前記ストリップ疵検出手段
の疵検出信号に基いて前記コンダクタロール上の付着物
の位置を演算し、前記ロール研磨手段を研磨位置に移動
させる演算・制御手段とからなることを特徴とした縦型
メッキ設備のコンダクタロール付着物除去装置。1. A strip flaw detecting means for monitoring a roll contact side surface of a strip extracted through an outlet side conductor roll, a roll polishing means for polishing an arbitrary position of the conductor roll, and the strip flaw detecting. A conductor roll for vertical plating equipment, comprising: a calculation / control means for calculating the position of the deposit on the conductor roll based on the flaw detection signal of the means and moving the roll polishing means to the polishing position. Adhesion remover.
疵がコンダクタロールの一回転長さに等しいピッチで付
いているという情報に基いて当該ロールに付着物がある
と認定する回路を備えていることを特徴とする請求項1
記載の縦型メッキ設備のコンダクタロール付着物除去装
置。2. The calculation / control means comprises a circuit for recognizing that there is a deposit on the roll based on the information that the flaws on the strip are attached at a pitch equal to one rotation length of the conductor roll. Claim 1 characterized in that
A device for removing deposits on a conductor roll of the vertical plating facility described.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17331493A JPH0726392A (en) | 1993-07-13 | 1993-07-13 | Removal equipment for conductor rolls in vertical plating equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17331493A JPH0726392A (en) | 1993-07-13 | 1993-07-13 | Removal equipment for conductor rolls in vertical plating equipment |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0726392A true JPH0726392A (en) | 1995-01-27 |
Family
ID=15958150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17331493A Pending JPH0726392A (en) | 1993-07-13 | 1993-07-13 | Removal equipment for conductor rolls in vertical plating equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0726392A (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100782697B1 (en) * | 2001-11-26 | 2007-12-07 | 주식회사 포스코 | Blister removal device on the conductive rubber surface |
| KR100796925B1 (en) * | 2001-11-16 | 2008-01-22 | 주식회사 포스코 | Foreign material removal device on the upper roll of cooling tower for continuous zinc plating equipment |
| KR100983363B1 (en) * | 2003-07-10 | 2010-09-20 | 주식회사 포스코 | Direct roll strip roofing device |
| KR101434995B1 (en) * | 2014-04-14 | 2014-08-28 | 주식회사 나노이앤피 | Copper plating electrode roller apparatus for film |
| WO2025161146A1 (en) * | 2024-01-31 | 2025-08-07 | 苏州辰瓴光学有限公司 | Automatic production system for composite copper foil |
-
1993
- 1993-07-13 JP JP17331493A patent/JPH0726392A/en active Pending
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|---|---|---|---|---|
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