JPH0727982A - マイクロXYθステージ - Google Patents
マイクロXYθステージInfo
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- JPH0727982A JPH0727982A JP17450693A JP17450693A JPH0727982A JP H0727982 A JPH0727982 A JP H0727982A JP 17450693 A JP17450693 A JP 17450693A JP 17450693 A JP17450693 A JP 17450693A JP H0727982 A JPH0727982 A JP H0727982A
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- micro
- cylindrical piezoelectric
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- actuators
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定試料の観測対象を顕微鏡下に正確にか
つ任意の向きに設定することが可能で、かつ、SPMに
おいては、そのまま試料を走査して計測動作に入ること
ができるマイクロXYθステージの提供を目的とする。 【構成】 ベース部材1、ベース部材1上に突設された
複数のマイクロアクチュエータ21,22,23、およびアクチ
ュエータ21,22,23の上に載置された試料台3を備えたマ
イクロXYθステージにおいて、各アクチュエータ21,2
2,23の外表面に4分割された外側電極N,E,W,S を設け、
各アクチュエータ21,22,23の内部に設けた内側電極Gと
の間に電圧を印加することにより、各アクチュエータ2
1,22,23に2軸に曲げ変形させると共に、各アクチュエ
ータ21,22,23のベース1からの高さは一致させ、これら
のアクチュエータ21,22,23を、ベース部材1上に、正三
角形の概略頂点に位置するように配置して構成する。
つ任意の向きに設定することが可能で、かつ、SPMに
おいては、そのまま試料を走査して計測動作に入ること
ができるマイクロXYθステージの提供を目的とする。 【構成】 ベース部材1、ベース部材1上に突設された
複数のマイクロアクチュエータ21,22,23、およびアクチ
ュエータ21,22,23の上に載置された試料台3を備えたマ
イクロXYθステージにおいて、各アクチュエータ21,2
2,23の外表面に4分割された外側電極N,E,W,S を設け、
各アクチュエータ21,22,23の内部に設けた内側電極Gと
の間に電圧を印加することにより、各アクチュエータ2
1,22,23に2軸に曲げ変形させると共に、各アクチュエ
ータ21,22,23のベース1からの高さは一致させ、これら
のアクチュエータ21,22,23を、ベース部材1上に、正三
角形の概略頂点に位置するように配置して構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は測定対象の微細な表面形
状を観察あるいは計測するために最近開発され、多用さ
れるようになったSTMやAFM等、いわゆるスキャン
ニング・プローブ・マイクロスコープ(SPM)の試料
微動機構、および従来の光学顕微鏡の資料移動用XYθ
ステージに関するものである。
状を観察あるいは計測するために最近開発され、多用さ
れるようになったSTMやAFM等、いわゆるスキャン
ニング・プローブ・マイクロスコープ(SPM)の試料
微動機構、および従来の光学顕微鏡の資料移動用XYθ
ステージに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の光学顕微鏡では、微細なネジを用
いたXYステージと簡易な回転板を使用して、手動操作
により測定対象を移動させている。ところが、このよう
な手動操作によって測定対象を移動させる方法は精度が
悪く、測定対象を微動させにくいという問題がある。
いたXYステージと簡易な回転板を使用して、手動操作
により測定対象を移動させている。ところが、このよう
な手動操作によって測定対象を移動させる方法は精度が
悪く、測定対象を微動させにくいという問題がある。
【0003】これに対して、モータ駆動のXYステージ
や回転ステージを用いれば、精度の点は改善できるが、
装置が大型化し、装置が高価になってしまう。
や回転ステージを用いれば、精度の点は改善できるが、
装置が大型化し、装置が高価になってしまう。
【0004】そこで、SPMにおいて、XY面内の任意
の方向に試料を移動することが可能なように、円筒形圧
電アクチュエータを用いた試料台が提案されている(例
えば、特開平3−208246号公報参照)。
の方向に試料を移動することが可能なように、円筒形圧
電アクチュエータを用いた試料台が提案されている(例
えば、特開平3−208246号公報参照)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
3−208246号公報に開示された試料台では、XY
面内の任意の方向に試料を移動することは可能である
が、試料をXY面内で回転操作することは不可能で、X
Y方向と回転方向に任意に試料を微動できる機構はなか
った。
3−208246号公報に開示された試料台では、XY
面内の任意の方向に試料を移動することは可能である
が、試料をXY面内で回転操作することは不可能で、X
Y方向と回転方向に任意に試料を微動できる機構はなか
った。
【0006】一方、この円筒形圧電アクチュエータを用
いた試料台に、従来のモータ駆動の回転ステージを組み
合わせれば試料を回転させることが可能であるが、モー
タ駆動の回転ステージはそれ自体で寸法が大きく、XY
方向の移動用及び回転用の2段のアクチュエータを組み
合わせるので、アクチュエータの小型化が不可能で、か
つ、高精度の表面形状測定を機能とするSPMでは、外
乱に対する機構の合成が不足する等の問題も生じる。
いた試料台に、従来のモータ駆動の回転ステージを組み
合わせれば試料を回転させることが可能であるが、モー
タ駆動の回転ステージはそれ自体で寸法が大きく、XY
方向の移動用及び回転用の2段のアクチュエータを組み
合わせるので、アクチュエータの小型化が不可能で、か
つ、高精度の表面形状測定を機能とするSPMでは、外
乱に対する機構の合成が不足する等の問題も生じる。
【0007】すなわち、従来の形状観測、測定装置にお
ける試料微動機構には、手動移動式の機構では微動精
度が悪い、精度の高い機構は装置が大型化し、装置が
高価となる、円筒形圧電アクチュエータを用いた微動
機構は回転機能がない、等の問題点がある。
ける試料微動機構には、手動移動式の機構では微動精
度が悪い、精度の高い機構は装置が大型化し、装置が
高価となる、円筒形圧電アクチュエータを用いた微動
機構は回転機能がない、等の問題点がある。
【0008】本発明は、上記課題を解消するためになさ
れたものであり、被測定試料の観測対象を顕微鏡下に正
確にかつ任意の向きに設定することが可能で、かつ、S
PMにおいては、そのまま試料を走査して計測動作に入
ることができるマイクロXYθステージを提供すること
を目的とする。
れたものであり、被測定試料の観測対象を顕微鏡下に正
確にかつ任意の向きに設定することが可能で、かつ、S
PMにおいては、そのまま試料を走査して計測動作に入
ることができるマイクロXYθステージを提供すること
を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明のマイクロXYθステージは、ベース部材、このベー
ス部材の上に突設された複数のマイクロアクチュエー
タ、およびこのマイクロアクチュエータの上に載置され
た試料台とから成るマイクロXYθステージであって、
前記各マイクロアクチュエータがその外表面に4分割さ
れた外側電極を有し、各マイクロアクチュエータの内部
に設けられた内側電極との間に電圧を印加することによ
り、2軸に曲げ変形する円筒形圧電アクチュエータとし
て構成されると共に、前記各マイクロアクチュエータの
前記ベースからの高さは一致させ、これらのマイクロア
クチュエータを、前記ベース部材の上に、正三角形の概
略頂点に位置するように配置したことを特徴としてい
る。
明のマイクロXYθステージは、ベース部材、このベー
ス部材の上に突設された複数のマイクロアクチュエー
タ、およびこのマイクロアクチュエータの上に載置され
た試料台とから成るマイクロXYθステージであって、
前記各マイクロアクチュエータがその外表面に4分割さ
れた外側電極を有し、各マイクロアクチュエータの内部
に設けられた内側電極との間に電圧を印加することによ
り、2軸に曲げ変形する円筒形圧電アクチュエータとし
て構成されると共に、前記各マイクロアクチュエータの
前記ベースからの高さは一致させ、これらのマイクロア
クチュエータを、前記ベース部材の上に、正三角形の概
略頂点に位置するように配置したことを特徴としてい
る。
【0010】
【作用】本発明のマイクロXYθステージによれば、ベ
ース部材上の正三角形の概略頂点位置に、高さの等しい
3本のマイクロアクチュエータが配置されており、その
上に試料台が載せられている。そして、各マイクロアク
チュエータは、その外表面に4分割された電極を有し、
内側電極との間に電圧を印加することにより2軸に曲げ
変形するので、これら3本のマイクロアクチュエータの
内側電極と、各マイクロアクチュエータの外側電極とを
選んで電圧を印加させることにより、試料台の上の試料
に、任意の方向の直線移動および回転移動をさせること
が可能となる。
ース部材上の正三角形の概略頂点位置に、高さの等しい
3本のマイクロアクチュエータが配置されており、その
上に試料台が載せられている。そして、各マイクロアク
チュエータは、その外表面に4分割された電極を有し、
内側電極との間に電圧を印加することにより2軸に曲げ
変形するので、これら3本のマイクロアクチュエータの
内側電極と、各マイクロアクチュエータの外側電極とを
選んで電圧を印加させることにより、試料台の上の試料
に、任意の方向の直線移動および回転移動をさせること
が可能となる。
【0011】
【実施例】以下添付図面を用いて本発明の実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
【0012】図1(a) は本発明の第1の実施例のマイク
ロXYθステージ10の構成を示すものである。図1
(a) に示すマイクロXYθステージ10は、ベース1、
符号21,22,23で示す3本の円筒形圧電アクチュ
エータ2、および試料台3とから構成されている。3本
の円筒形圧電アクチュエータ21,22,23はほぼ等
しい高さを備え、ベース1の上に突設されている。各ア
クチュエータ21,22,23の中心O1 ,O2 ,O3
は、図1(b) に示すように、ほぼ正三角形の頂点をな
す。
ロXYθステージ10の構成を示すものである。図1
(a) に示すマイクロXYθステージ10は、ベース1、
符号21,22,23で示す3本の円筒形圧電アクチュ
エータ2、および試料台3とから構成されている。3本
の円筒形圧電アクチュエータ21,22,23はほぼ等
しい高さを備え、ベース1の上に突設されている。各ア
クチュエータ21,22,23の中心O1 ,O2 ,O3
は、図1(b) に示すように、ほぼ正三角形の頂点をな
す。
【0013】試料台3は各アクチュエータ21,22,
23の中心O1 ,O2 ,O3 を含む大きさが必要で、そ
の形状は四角でも丸でも構わない。また、試料5は試料
台3に置かれるか、固定される。そして、各アクチュエ
ータ21,22,23の外周部には4つの外部電極N,
E,W,Sが設けられており、これらの4つの外部電極
N,E,W,Sは、図1(b) に示すように、XY方向に
向いている(外部電極E,WがX方向に対向して設けら
れており、外部電極N,SがY方向に対向して設けられ
ている)。これは一例であり、4つの外部電極N,E,
W,Sは任意の方向に配置することが可能であるが、回
転動作をさせる場合には図1(b) に示す配置が回路構成
が簡単で優れている。
23の中心O1 ,O2 ,O3 を含む大きさが必要で、そ
の形状は四角でも丸でも構わない。また、試料5は試料
台3に置かれるか、固定される。そして、各アクチュエ
ータ21,22,23の外周部には4つの外部電極N,
E,W,Sが設けられており、これらの4つの外部電極
N,E,W,Sは、図1(b) に示すように、XY方向に
向いている(外部電極E,WがX方向に対向して設けら
れており、外部電極N,SがY方向に対向して設けられ
ている)。これは一例であり、4つの外部電極N,E,
W,Sは任意の方向に配置することが可能であるが、回
転動作をさせる場合には図1(b) に示す配置が回路構成
が簡単で優れている。
【0014】ここで、図1に示した円筒形圧電アクチュ
エータ2に使用するマイクロステップ機構の構造と駆動
原理について図2,図3を用いて説明する。マイクロス
テップ機構は、図2(a) ,(b) に示すように、円筒形圧
電アクチュエータ2の円周上のX、Y2方向に対向する
外部電極(例えば、外部電極N,E,W,S)を、内側
に接地用の内部電極Gを形成した円筒形圧電素子4と、
可動端側(自由端側)に試料台3を固定した簡単な構造
である。
エータ2に使用するマイクロステップ機構の構造と駆動
原理について図2,図3を用いて説明する。マイクロス
テップ機構は、図2(a) ,(b) に示すように、円筒形圧
電アクチュエータ2の円周上のX、Y2方向に対向する
外部電極(例えば、外部電極N,E,W,S)を、内側
に接地用の内部電極Gを形成した円筒形圧電素子4と、
可動端側(自由端側)に試料台3を固定した簡単な構造
である。
【0015】マイクロステップ機構は、図3(a) に示す
ように、この円筒形圧電アクチュエータ2をベース1に
固定し、一対の外部電極に図2(c) に示すような大きな
余弦波状パルス電圧を印加する。すると、円筒形圧電素
子4は、例えば、負電圧が加わった方向に図3(b) に示
すように急速に曲げ変形するので、試料台3に載せられ
た試料5は摩擦力により移動し始めるが、試料5の質量
のために試料台3との間に滑りが起こり、ずれながら前
進する。この後、一対の外部電極に印加される電圧が低
下し、円筒形圧電素子4が元に戻る瞬間には、試料5は
試料台3との摩擦に抗してまだ前進するが、慣性力が摩
擦力より小さくなった時点で、図3(c)に示すように、
円筒形圧電素子4と共に後退する。
ように、この円筒形圧電アクチュエータ2をベース1に
固定し、一対の外部電極に図2(c) に示すような大きな
余弦波状パルス電圧を印加する。すると、円筒形圧電素
子4は、例えば、負電圧が加わった方向に図3(b) に示
すように急速に曲げ変形するので、試料台3に載せられ
た試料5は摩擦力により移動し始めるが、試料5の質量
のために試料台3との間に滑りが起こり、ずれながら前
進する。この後、一対の外部電極に印加される電圧が低
下し、円筒形圧電素子4が元に戻る瞬間には、試料5は
試料台3との摩擦に抗してまだ前進するが、慣性力が摩
擦力より小さくなった時点で、図3(c)に示すように、
円筒形圧電素子4と共に後退する。
【0016】従って、試料5は結果的には、図3(d) に
示すように、試料台3に対して前進方向で少しずれた位
置で停止することになる。よって、以上の動作を連続的
に行えば、試料5を試料台3に対して無限に移動でき
る。そして、X及びY方向に位置する外部電極の印加電
圧比を変えることにより、試料台3のXY面内の任意の
方向に試料5を移動することができる。
示すように、試料台3に対して前進方向で少しずれた位
置で停止することになる。よって、以上の動作を連続的
に行えば、試料5を試料台3に対して無限に移動でき
る。そして、X及びY方向に位置する外部電極の印加電
圧比を変えることにより、試料台3のXY面内の任意の
方向に試料5を移動することができる。
【0017】次に、以上のように動作するマイクロステ
ップ機構を備えた3本の円筒形圧電アクチュエータ2を
有する図1の実施例のマイクロXYθステージ10の動
作について説明する。
ップ機構を備えた3本の円筒形圧電アクチュエータ2を
有する図1の実施例のマイクロXYθステージ10の動
作について説明する。
【0018】各アクチュエータ21,22,23にはほ
ぼ等しい大きさの余弦波パルスを印加する。試料台3の
上の試料5をXY方向へ直線運動させるときの余弦波パ
ルスの電圧配分(基準電圧に対する比)を表1に示す。
また、試料台3の上の試料5を回転運動をさせるときの
余弦波パルスの電圧配分(基準電圧に対する比)を表2
に示す。
ぼ等しい大きさの余弦波パルスを印加する。試料台3の
上の試料5をXY方向へ直線運動させるときの余弦波パ
ルスの電圧配分(基準電圧に対する比)を表1に示す。
また、試料台3の上の試料5を回転運動をさせるときの
余弦波パルスの電圧配分(基準電圧に対する比)を表2
に示す。
【0019】なお、表1,表2には各アクチュエータ2
1,22,23は、PZT21,22,23として示し
てある。そして、基準電圧としては、長さ40mm、外
径10mm、内径8mmの円筒形圧電アクチュエータ2
の場合、50Vから200Vである。
1,22,23は、PZT21,22,23として示し
てある。そして、基準電圧としては、長さ40mm、外
径10mm、内径8mmの円筒形圧電アクチュエータ2
の場合、50Vから200Vである。
【0020】
【表1】
【表2】 表1から分かるように、試料台3の上の試料5をXY方
向へ直線運動させる場合には、図1(b) に示す外部電極
N,E,W,Sの配置では、明らかにX方向に駆動する
場合には外部電極E,Wのみに、Y方向に駆動するとき
には外部電極N,Sのみに電圧を印加すれば良い。ま
た、表2から分かるように、試料台3の上の試料5を回
転運動をさせる場合には、各アクチュエータ21,2
2,23の外部電極N,E,W,Sに表2に示す電圧比
で基準電圧を印加すれば良い。
向へ直線運動させる場合には、図1(b) に示す外部電極
N,E,W,Sの配置では、明らかにX方向に駆動する
場合には外部電極E,Wのみに、Y方向に駆動するとき
には外部電極N,Sのみに電圧を印加すれば良い。ま
た、表2から分かるように、試料台3の上の試料5を回
転運動をさせる場合には、各アクチュエータ21,2
2,23の外部電極N,E,W,Sに表2に示す電圧比
で基準電圧を印加すれば良い。
【0021】表2に示した比の値の場合、各アクチュエ
ータ21,22,23は、その中心O1 ,O2 ,O3 が
形成する円(中心O1 ,O2 ,O3 を通る円)の接線方
向に急速に変形する。その結果、試料5はこの円のほぼ
中心の周りに回転移動する。表2に示した電圧比の発生
方法は、抵抗の組合せによりハード的に行うことも、デ
ィジタル制御によりソフト的に発生させた電圧により行
うことも可能で、その方法は問わない。
ータ21,22,23は、その中心O1 ,O2 ,O3 が
形成する円(中心O1 ,O2 ,O3 を通る円)の接線方
向に急速に変形する。その結果、試料5はこの円のほぼ
中心の周りに回転移動する。表2に示した電圧比の発生
方法は、抵抗の組合せによりハード的に行うことも、デ
ィジタル制御によりソフト的に発生させた電圧により行
うことも可能で、その方法は問わない。
【0022】試料台3の上に置かれた、または固定され
た試料5は、前述の電圧の印加に伴って直線または回転
移動する。そして、直線駆動時に、ジョイスティックを
用いてジョイスティックのレバーの向きを変えて各アク
チュエータ21,22,23の外部電極N,E,W,S
に配分される電圧比を変えれば、任意の方向にアクチュ
エータ21,22,23を変形させられるので、試料5
を任意の方向にステップ移動させることができる。
た試料5は、前述の電圧の印加に伴って直線または回転
移動する。そして、直線駆動時に、ジョイスティックを
用いてジョイスティックのレバーの向きを変えて各アク
チュエータ21,22,23の外部電極N,E,W,S
に配分される電圧比を変えれば、任意の方向にアクチュ
エータ21,22,23を変形させられるので、試料5
を任意の方向にステップ移動させることができる。
【0023】また、レバーの傾きを制御すれば、基準電
圧を0から圧電アクチュエータ21,22,23に許容
される電圧、例えば、200Vまで変えられ、各ステッ
プ移動量を制御することにより、試料5のステップ移動
速度を制御できる。更に、回転駆動時には、表2に示す
電圧配分を抵抗の組合せで構成し、ジョイスティックの
レバーの傾き方向に対応させれば、傾ける方向で回転方
向を、また、傾き角を基準電圧に対応させれば回転速度
をそれぞれ制御できる。
圧を0から圧電アクチュエータ21,22,23に許容
される電圧、例えば、200Vまで変えられ、各ステッ
プ移動量を制御することにより、試料5のステップ移動
速度を制御できる。更に、回転駆動時には、表2に示す
電圧配分を抵抗の組合せで構成し、ジョイスティックの
レバーの傾き方向に対応させれば、傾ける方向で回転方
向を、また、傾き角を基準電圧に対応させれば回転速度
をそれぞれ制御できる。
【0024】なお、前述の方法で試料台3を駆動する
と、各アクチュエータ21,22,23の端面と試料台
3との摩擦係数が一定でない限り、回転駆動時の回転中
心が移動したり、直線駆動時に非直線的移動をしたりす
る。
と、各アクチュエータ21,22,23の端面と試料台
3との摩擦係数が一定でない限り、回転駆動時の回転中
心が移動したり、直線駆動時に非直線的移動をしたりす
る。
【0025】これを解決する方法の1つとして、各アク
チュエータ21,22,23の端面に、図4に示すよう
に、駆動面部材6を取り付けることが有効である。この
駆動面部材6は表面の摩擦係数を下げ、かつ均一化する
ため、例えば、テフロンコート処理が施されている。ま
た、摩擦駆動における駆動点を明確にするため、駆動面
部材6には、曲率半径Rが1m程度の球面加工が施さ
れ、その頂点は各アクチュエータ21,22,23の円
筒の中心とほぼ一致させている。
チュエータ21,22,23の端面に、図4に示すよう
に、駆動面部材6を取り付けることが有効である。この
駆動面部材6は表面の摩擦係数を下げ、かつ均一化する
ため、例えば、テフロンコート処理が施されている。ま
た、摩擦駆動における駆動点を明確にするため、駆動面
部材6には、曲率半径Rが1m程度の球面加工が施さ
れ、その頂点は各アクチュエータ21,22,23の円
筒の中心とほぼ一致させている。
【0026】これより、試料台3を回転駆動させた時の
回転中心の移動や、直線駆動時の非直線的な移動を殆ど
避けることができ、万一、回転中心が移動しても、回転
移動後にXY方向への移動により位置を補正することが
できる。
回転中心の移動や、直線駆動時の非直線的な移動を殆ど
避けることができ、万一、回転中心が移動しても、回転
移動後にXY方向への移動により位置を補正することが
できる。
【0027】ところで、SPM(走査型プローブ顕微
鏡)等では、μmオーダの領域を観察対象とすることが
日常的に行われている。この場合には、回転駆動時の回
転中心の移動が大きな問題となる。
鏡)等では、μmオーダの領域を観察対象とすることが
日常的に行われている。この場合には、回転駆動時の回
転中心の移動が大きな問題となる。
【0028】図5はこのような課題に対処する本発明の
第2の実施例のマイクロXYθステージ20の構成を示
すものであり、図1で説明したマイクロXYθステージ
10と同じ構成部材には同じ符号が付してある。
第2の実施例のマイクロXYθステージ20の構成を示
すものであり、図1で説明したマイクロXYθステージ
10と同じ構成部材には同じ符号が付してある。
【0029】図5(a) に示す実施例のマイクロXYθス
テージ20では、円筒形圧電アクチュエータ2(3つの
アクチュエータ21,22,23)、および試料台3の
構成はほぼ同じであるが、ベース1のみが第1の実施例
よりも大きく形成されている。そして、ベース1の拡大
部11には、ばね取り付け台12が突設されており、こ
のばね取り付け台12の上端部にはばね13が固定され
ている。
テージ20では、円筒形圧電アクチュエータ2(3つの
アクチュエータ21,22,23)、および試料台3の
構成はほぼ同じであるが、ベース1のみが第1の実施例
よりも大きく形成されている。そして、ベース1の拡大
部11には、ばね取り付け台12が突設されており、こ
のばね取り付け台12の上端部にはばね13が固定され
ている。
【0030】ばね13の自由端にはダイヤモンドで形成
された針14が接着等により取り付けられており、この
針14の先端部は試料台3の下面の3つのアクチュエー
タ21,22,23で囲まれる領域の中に位置してい
る。また、ばね13の下面のベース1の上にはこのばね
13を吸引するためのソレノイド15が設けられてい
る。そして、このソレノイド15に印加する電圧を取り
去ると、ばね13がソレノイド15側に移動し、針14
が試料台3の下面から離れる。逆に、ソレノイド15に
電圧を印加することにより、ばね13がソレノイド15
に押され、針14が試料台3の下面に接触する。このよ
うに、ソレノイド15はばね13を上下させ、針14を
試料台3に接触させたり、離したりする。針14の試料
台3の下面への接触点Pは、図5(b) に示す中心O1 ,
O2 ,O3 が形成する円のほぼ中心であることが望まし
い。
された針14が接着等により取り付けられており、この
針14の先端部は試料台3の下面の3つのアクチュエー
タ21,22,23で囲まれる領域の中に位置してい
る。また、ばね13の下面のベース1の上にはこのばね
13を吸引するためのソレノイド15が設けられてい
る。そして、このソレノイド15に印加する電圧を取り
去ると、ばね13がソレノイド15側に移動し、針14
が試料台3の下面から離れる。逆に、ソレノイド15に
電圧を印加することにより、ばね13がソレノイド15
に押され、針14が試料台3の下面に接触する。このよ
うに、ソレノイド15はばね13を上下させ、針14を
試料台3に接触させたり、離したりする。針14の試料
台3の下面への接触点Pは、図5(b) に示す中心O1 ,
O2 ,O3 が形成する円のほぼ中心であることが望まし
い。
【0031】以上より、試料台3の回転駆動時には、ソ
レノイド15に電圧を印加し、針14を試料台3に接触
させると、各アクチュエータ21,22,23の中心O
1 ,O2 ,O3 における摩擦係数の不均一に伴う駆動力
のばらつきが、各アクチュエータ21,22,23にあ
っても、その値がある一定値以下であれば、試料台3は
針14の接触点Pを中心にして回転する。針14の先端
を1μm程度に先鋭化しておけば、回転中心の移動をμ
mオーダに抑えることができる。
レノイド15に電圧を印加し、針14を試料台3に接触
させると、各アクチュエータ21,22,23の中心O
1 ,O2 ,O3 における摩擦係数の不均一に伴う駆動力
のばらつきが、各アクチュエータ21,22,23にあ
っても、その値がある一定値以下であれば、試料台3は
針14の接触点Pを中心にして回転する。針14の先端
を1μm程度に先鋭化しておけば、回転中心の移動をμ
mオーダに抑えることができる。
【0032】図6は回転動作時の試料台3の表面のある
点の軌跡を、高倍率顕微鏡のブラウン管上で追跡したも
のである。試料台3の重量Mが132mNの場合で、針
14の押し付け荷重fが7.1mNの場合には、点の軌
跡はほぼ円形をなし、回転中心Cは一定範囲にあること
が分かる。しかし、針14の押し付け荷重が5.3mN
以下の場合には、試料台3の回転中心が定まらず、回転
中心が数100μm以上移動している。実験によれば、
試料台3の重量の6%程度の荷重を針14に与えれば回
転中心の移動が避けられる。
点の軌跡を、高倍率顕微鏡のブラウン管上で追跡したも
のである。試料台3の重量Mが132mNの場合で、針
14の押し付け荷重fが7.1mNの場合には、点の軌
跡はほぼ円形をなし、回転中心Cは一定範囲にあること
が分かる。しかし、針14の押し付け荷重が5.3mN
以下の場合には、試料台3の回転中心が定まらず、回転
中心が数100μm以上移動している。実験によれば、
試料台3の重量の6%程度の荷重を針14に与えれば回
転中心の移動が避けられる。
【0033】図8(a) ,(b) は本発明の第3の実施例の
マイクロXYθステージ30の構成を示すものであり、
前述の実施例と同じ構成部材には同じ符号を付してあ
る。
マイクロXYθステージ30の構成を示すものであり、
前述の実施例と同じ構成部材には同じ符号を付してあ
る。
【0034】この実施例のマイクロXYθステージ30
は、SPM(走査型プローブ顕微鏡)に用いるものであ
り、ラスタスキャン用の円筒型圧電アクチュエータ31
を別個、3本の円筒型圧電アクチュエータ21,22,
23で囲まれる領域の中央部分に設けている点が、前述
の実施例と異なる点である。
は、SPM(走査型プローブ顕微鏡)に用いるものであ
り、ラスタスキャン用の円筒型圧電アクチュエータ31
を別個、3本の円筒型圧電アクチュエータ21,22,
23で囲まれる領域の中央部分に設けている点が、前述
の実施例と異なる点である。
【0035】この実施例のマイクロXYθステージ30
の動作について説明すると、まず始めに、ラスタスキャ
ン用の円筒型圧電アクチュエータ31の周囲にある3本
の円筒形圧電アクチュエータ21,22,23を伸張さ
せて、図5において説明したのと同様な方法で試料5の
位置決めを行い、その位置決めが終了した時点で、3本
の円筒形圧電アクチュエータ21,22,23を収縮さ
せ、試料台3を中央の円筒形圧電アクチュエータ31に
載せる。そして、その後、中央の円筒形圧電アクチュエ
ータ31のみでラスタスキャンを行う。
の動作について説明すると、まず始めに、ラスタスキャ
ン用の円筒型圧電アクチュエータ31の周囲にある3本
の円筒形圧電アクチュエータ21,22,23を伸張さ
せて、図5において説明したのと同様な方法で試料5の
位置決めを行い、その位置決めが終了した時点で、3本
の円筒形圧電アクチュエータ21,22,23を収縮さ
せ、試料台3を中央の円筒形圧電アクチュエータ31に
載せる。そして、その後、中央の円筒形圧電アクチュエ
ータ31のみでラスタスキャンを行う。
【0036】なお、全ての実施例について言えるが、試
料台3に載せた試料5の位置決めがなされた時点で、磁
石等により試料台3を円筒形圧電アクチュエータ21,
22,23に固定する等の、試料5を固定する手段を設
けることは、測定の安定化を図る上で有効であるが、い
かなる手段を講じても本発明の有効性を損なうものでは
ない。
料台3に載せた試料5の位置決めがなされた時点で、磁
石等により試料台3を円筒形圧電アクチュエータ21,
22,23に固定する等の、試料5を固定する手段を設
けることは、測定の安定化を図る上で有効であるが、い
かなる手段を講じても本発明の有効性を損なうものでは
ない。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
簡単な構成で、試料台の上の試料のXY面内の直線移
動、および回転移動を可能にし、マイクロXYθステー
ジがコンパクトに構成できる。また、走査形プローブ顕
微鏡等の場合は、そのまま3本の円筒形圧電アクチュエ
ータをXY駆動させることにより、いわゆるラスタスキ
ャンが可能であるので、部品点数が少なく、外部からの
振動に対しても強く、機構の信頼性を高めることができ
る。
簡単な構成で、試料台の上の試料のXY面内の直線移
動、および回転移動を可能にし、マイクロXYθステー
ジがコンパクトに構成できる。また、走査形プローブ顕
微鏡等の場合は、そのまま3本の円筒形圧電アクチュエ
ータをXY駆動させることにより、いわゆるラスタスキ
ャンが可能であるので、部品点数が少なく、外部からの
振動に対しても強く、機構の信頼性を高めることができ
る。
【0038】更に、ジョイスティックを用いることによ
り、電気的に移動走査を行わせることができるので、手
動走査で発生しがちな機構の振動がなく、極めてスムー
ズに試料を移動させられ、短時間に試料の位置決めが可
能である。更にまた、電圧制御を微細に行うことによ
り、直線移動ではサブμmオーダの精度で試料の位置決
めが可能となり、回転移動ではサブミリラジアンの精度
で試料の位置決めが可能となり、走査形プローブ顕微鏡
において必須の機能を実現できる。
り、電気的に移動走査を行わせることができるので、手
動走査で発生しがちな機構の振動がなく、極めてスムー
ズに試料を移動させられ、短時間に試料の位置決めが可
能である。更にまた、電圧制御を微細に行うことによ
り、直線移動ではサブμmオーダの精度で試料の位置決
めが可能となり、回転移動ではサブミリラジアンの精度
で試料の位置決めが可能となり、走査形プローブ顕微鏡
において必須の機能を実現できる。
【図1】(a) は本発明の第1の実施例のマイクロXYθ
ステージの構成を示す斜視図、(b) は(a) の円筒形圧電
アクチュエータの配置を示す水平断面図である。
ステージの構成を示す斜視図、(b) は(a) の円筒形圧電
アクチュエータの配置を示す水平断面図である。
【図2】(a) は図1に示した円筒形圧電アクチュエータ
単体の斜視図、(b) は(a) の円筒形圧電アクチュエータ
単体の外部電極と内部電極の配置を示す平面図、(c) は
(a) の円筒形圧電アクチュエータ単体に印加する余弦波
状パルス電圧の波形を示す波形図である。
単体の斜視図、(b) は(a) の円筒形圧電アクチュエータ
単体の外部電極と内部電極の配置を示す平面図、(c) は
(a) の円筒形圧電アクチュエータ単体に印加する余弦波
状パルス電圧の波形を示す波形図である。
【図3】(a) から(d) は、図2(a) に示した円筒形圧電
アクチュエータをベースに固定し、一対の外部電極に図
2(c) に示す余弦波状パルス電圧を印加して取り去った
場合の円筒形圧電アクチュエータ、試料台、および試料
の動作を説明する動作説明図である。
アクチュエータをベースに固定し、一対の外部電極に図
2(c) に示す余弦波状パルス電圧を印加して取り去った
場合の円筒形圧電アクチュエータ、試料台、および試料
の動作を説明する動作説明図である。
【図4】図1の構成のマイクロXYθステージの円筒形
圧電アクチュエータの先端部に、駆動面部材を取り付け
た場合の構成を示す、円筒形圧電アクチュエータの先端
部の部分断面図である。
圧電アクチュエータの先端部に、駆動面部材を取り付け
た場合の構成を示す、円筒形圧電アクチュエータの先端
部の部分断面図である。
【図5】(a) は本発明の第2の実施例のマイクロXYθ
ステージの構成を示す斜視図、(b) は(a) の円筒形圧電
アクチュエータの配置と針の先端位置を示す水平断面図
である。
ステージの構成を示す斜視図、(b) は(a) の円筒形圧電
アクチュエータの配置と針の先端位置を示す水平断面図
である。
【図6】図5の回転動作時の試料台の表面のある点の軌
跡を、高倍率顕微鏡のブラウン管上で追跡した軌跡図で
ある。
跡を、高倍率顕微鏡のブラウン管上で追跡した軌跡図で
ある。
【図7】(a) は本発明の第3の実施例のマイクロXYθ
ステージの構成を示す斜視図、(b) は(a) の円筒形圧電
アクチュエータの配置を示す水平断面図である。
ステージの構成を示す斜視図、(b) は(a) の円筒形圧電
アクチュエータの配置を示す水平断面図である。
1 ベース 2 円筒形圧電アクチュエータ 3 試料台 4 円筒形圧電素子 5 試料 6 駆動面部材 10 本発明の第1の実施例のマイクロXYθステージ 11 ベースの拡大部 12 ばね取り付け台 13 ばね 14 針 15 ソレノイド 20 本発明の第2の実施例のマイクロXYθステージ 21 円筒形圧電アクチュエータ 22 円筒形圧電アクチュエータ 23 円筒形圧電アクチュエータ 30 本発明の第3の実施例のマイクロXYθステージ 31 ラスタスキャン用の円筒型圧電アクチュエータ G 内部電極 N,E,W,S 外部電極 O1 ,O2 ,O3 各アクチュエータの中心
Claims (1)
- 【請求項1】 ベース部材、このベース部材の上に突設
された複数のマイクロアクチュエータ、およびこのマイ
クロアクチュエータの上に載置された試料台とから成る
マイクロXYθステージであって、 前記各マイクロアクチュエータがその外表面に4分割さ
れた外側電極を有し、各マイクロアクチュエータの内部
に設けられた内側電極との間に電圧を印加することによ
り、2軸に曲げ変形する円筒形圧電アクチュエータとし
て構成されると共に、 前記各マイクロアクチュエータの前記ベースからの高さ
は一致させ、これらのマイクロアクチュエータを、前記
ベース部材の上に、正三角形の概略頂点に位置するよう
に配置したことを特徴とするマイクロXYθステージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17450693A JPH0727982A (ja) | 1993-07-14 | 1993-07-14 | マイクロXYθステージ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17450693A JPH0727982A (ja) | 1993-07-14 | 1993-07-14 | マイクロXYθステージ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0727982A true JPH0727982A (ja) | 1995-01-31 |
Family
ID=15979700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17450693A Pending JPH0727982A (ja) | 1993-07-14 | 1993-07-14 | マイクロXYθステージ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0727982A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004257844A (ja) * | 2003-02-26 | 2004-09-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 高精度微小移動装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62264543A (ja) * | 1986-03-27 | 1987-11-17 | フォルシュングスツエントルム・ユーリッヒ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 対象物の微小移動のための装置 |
| JPH03208246A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 移動テーブル |
-
1993
- 1993-07-14 JP JP17450693A patent/JPH0727982A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62264543A (ja) * | 1986-03-27 | 1987-11-17 | フォルシュングスツエントルム・ユーリッヒ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 対象物の微小移動のための装置 |
| JPH03208246A (ja) * | 1990-01-11 | 1991-09-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 移動テーブル |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004257844A (ja) * | 2003-02-26 | 2004-09-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 高精度微小移動装置 |
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