JPH07286899A - 焦電形赤外線検出器 - Google Patents
焦電形赤外線検出器Info
- Publication number
- JPH07286899A JPH07286899A JP6104553A JP10455394A JPH07286899A JP H07286899 A JPH07286899 A JP H07286899A JP 6104553 A JP6104553 A JP 6104553A JP 10455394 A JP10455394 A JP 10455394A JP H07286899 A JPH07286899 A JP H07286899A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- surface electrode
- receiving surface
- pyroelectric
- divided
- Prior art date
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 薄板状に形成された焦電基盤12と、被検出
体からの赤外線を受光する前記焦電基盤12の受光面に
蒸着され、かつ全体が被検出体の撮像部位に対応した大
きさに形成され、しかも全体を複数個に面分割された受
光面電極14a,14bと、前記焦電基盤12の受光面
電極14との対向面に蒸着された対向面電極と18、を
備え、前記面分割された各受光面電極14a,14bか
ら各々電圧出力を得ることを特徴とする焦電形赤外線検
出器。 【効果】 受光面電極14を複数個に面分割しているた
め、各受光面電極14a,14bの単位面積が小さくな
り、焦電素子10の電圧感度を向上させることが可能と
なる。
体からの赤外線を受光する前記焦電基盤12の受光面に
蒸着され、かつ全体が被検出体の撮像部位に対応した大
きさに形成され、しかも全体を複数個に面分割された受
光面電極14a,14bと、前記焦電基盤12の受光面
電極14との対向面に蒸着された対向面電極と18、を
備え、前記面分割された各受光面電極14a,14bか
ら各々電圧出力を得ることを特徴とする焦電形赤外線検
出器。 【効果】 受光面電極14を複数個に面分割しているた
め、各受光面電極14a,14bの単位面積が小さくな
り、焦電素子10の電圧感度を向上させることが可能と
なる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は焦電形赤外線検出器、特
にその焦電素子の改良に関する。
にその焦電素子の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】被検出体を温度検出して撮像する場合
に、該被検出体から放射される赤外線を焦電素子を用い
て検出する焦電形赤外線検出器が汎用されている。該焦
電形赤外線検出器は、被検出体から放射される赤外線エ
ネルギーを焦電基盤に吸収させ、該焦電基盤の温度変化
を利用するものである。即ち、焦電基盤に温度変化が生
じるとその自発分極の大きさが変化するため、該焦電基
盤表面にその温度変化に対応した電圧が生じる。そし
て、焦電基盤の受光面に蒸着された受光面電極から前記
電圧を出力させることにより温度検出をして撮像するの
である。
に、該被検出体から放射される赤外線を焦電素子を用い
て検出する焦電形赤外線検出器が汎用されている。該焦
電形赤外線検出器は、被検出体から放射される赤外線エ
ネルギーを焦電基盤に吸収させ、該焦電基盤の温度変化
を利用するものである。即ち、焦電基盤に温度変化が生
じるとその自発分極の大きさが変化するため、該焦電基
盤表面にその温度変化に対応した電圧が生じる。そし
て、焦電基盤の受光面に蒸着された受光面電極から前記
電圧を出力させることにより温度検出をして撮像するの
である。
【0003】ここで、前記受光面電極の表面積は、焦電
基盤が赤外線を受光する被検出体の撮像部位と同一面積
に形成される。そして、従来の焦電形赤外線検出器は、
焦電基盤に前記撮像部位に対応した単一の受光面電極を
形成して該単一受光面電極からの出力検出を行なってい
た。
基盤が赤外線を受光する被検出体の撮像部位と同一面積
に形成される。そして、従来の焦電形赤外線検出器は、
焦電基盤に前記撮像部位に対応した単一の受光面電極を
形成して該単一受光面電極からの出力検出を行なってい
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記焦電形
赤外線検出器における焦電素子の電圧感度はその受光面
積に反比例する。即ち、前記受光面電極の面積が大きく
なる程、電圧感度は低下して高感度検出ができなくなっ
てしまう。一方、前述したように受光面電極は、被検出
体の撮像部位と同一面積に形成しなければならず、該撮
像部位が大きくなれば、それに応じて受光面電極も大き
くしなければならない。
赤外線検出器における焦電素子の電圧感度はその受光面
積に反比例する。即ち、前記受光面電極の面積が大きく
なる程、電圧感度は低下して高感度検出ができなくなっ
てしまう。一方、前述したように受光面電極は、被検出
体の撮像部位と同一面積に形成しなければならず、該撮
像部位が大きくなれば、それに応じて受光面電極も大き
くしなければならない。
【0005】しかしながら、従来の焦電形赤外線検出器
における焦電素子は、前述したように焦電基盤の受光面
電極を一つに形成した単一受光面としているため、前記
撮像部位に対応させて受光面電極を大きくすると電圧感
度が極めて低下してしまうという課題があった。本発明
は前記従来技術の課題に鑑みなされたものであり、その
目的は被検出体の撮像部位が大きい場合でも、焦電素子
の電圧感度を低下させることなく、高感度検出が可能な
焦電形赤外線検出器を提供することにある。
における焦電素子は、前述したように焦電基盤の受光面
電極を一つに形成した単一受光面としているため、前記
撮像部位に対応させて受光面電極を大きくすると電圧感
度が極めて低下してしまうという課題があった。本発明
は前記従来技術の課題に鑑みなされたものであり、その
目的は被検出体の撮像部位が大きい場合でも、焦電素子
の電圧感度を低下させることなく、高感度検出が可能な
焦電形赤外線検出器を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明にかかる焦電形赤外線検出器は、薄板状に形成
された焦電基盤と、被検出体からの赤外線を受光する前
記焦電基盤の受光面に蒸着され、かつ全体が被検出体の
撮像部位に対応した大きさに形成され、しかも全体が複
数個に面分割された受光面電極と、前記焦電基盤の受光
面電極との対向面に蒸着された対向面電極とを備え、前
記面分割された各受光面電極から各々電圧出力を得るこ
とを特徴とする。また、請求項2記載の焦電形赤外線検
出器は、前記面分割された各受光面電極が各々接続され
た個別アンプと、前記各個別アンプが接続され、該個別
アンプからの出力を合成して出力する加算アンプと、を
備えたことを特徴とする。
に本発明にかかる焦電形赤外線検出器は、薄板状に形成
された焦電基盤と、被検出体からの赤外線を受光する前
記焦電基盤の受光面に蒸着され、かつ全体が被検出体の
撮像部位に対応した大きさに形成され、しかも全体が複
数個に面分割された受光面電極と、前記焦電基盤の受光
面電極との対向面に蒸着された対向面電極とを備え、前
記面分割された各受光面電極から各々電圧出力を得るこ
とを特徴とする。また、請求項2記載の焦電形赤外線検
出器は、前記面分割された各受光面電極が各々接続され
た個別アンプと、前記各個別アンプが接続され、該個別
アンプからの出力を合成して出力する加算アンプと、を
備えたことを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明にかかる焦電形赤外線検出器は、前述し
たように焦電基盤の受光面に蒸着された受光面電極を複
数個に面分割して形成した複数受光面構造の焦電素子を
備えている。即ち、被検出体の撮像部位が大きい場合に
は、該撮像部位に対応して形成される全体の受光面電極
を、一つの受光面電極が良好な電圧感度が得られる面積
となるように面分割している。従って、撮像部位に対応
した受光面電極の全体面積が大きい場合であっても、分
割された各受光面電極の単位面積は小さくなり、良好な
電圧感度を得ることが可能となる。
たように焦電基盤の受光面に蒸着された受光面電極を複
数個に面分割して形成した複数受光面構造の焦電素子を
備えている。即ち、被検出体の撮像部位が大きい場合に
は、該撮像部位に対応して形成される全体の受光面電極
を、一つの受光面電極が良好な電圧感度が得られる面積
となるように面分割している。従って、撮像部位に対応
した受光面電極の全体面積が大きい場合であっても、分
割された各受光面電極の単位面積は小さくなり、良好な
電圧感度を得ることが可能となる。
【0008】さらに、本発明の焦電形赤外線検出器は、
前記分割された各受光面電極に各々個別アンプを接続
し、さらに該個別アンプをその出力を合成する加算アン
プに接続している。従って、受光面電極をn個に分割し
た場合には、前記個別アンプはn個必要となるため、全
体のノイズは単一アンプに比べn1/2倍に増加してしま
う。しかし、個別アンプからの全出力はn倍となるた
め、結果としてS/N比をn1/2倍向上させることが可
能となる。
前記分割された各受光面電極に各々個別アンプを接続
し、さらに該個別アンプをその出力を合成する加算アン
プに接続している。従って、受光面電極をn個に分割し
た場合には、前記個別アンプはn個必要となるため、全
体のノイズは単一アンプに比べn1/2倍に増加してしま
う。しかし、個別アンプからの全出力はn倍となるた
め、結果としてS/N比をn1/2倍向上させることが可
能となる。
【0009】
【実施例】以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を
説明する。図1には、本発明の一実施例にかかる焦電形
赤外線検出器に用いられる焦電素子の分解斜視図が示さ
れている。同図に示す焦電素子10は、薄板状に形成さ
れたTGS結晶片からなる焦電基盤12と、該焦電基盤
12の受光面に蒸着されたニクロム製の受光面電極膜1
4と、該受光面電極膜14上に設けられた熱吸収膜16
と、前記焦電基盤12の受光面電極膜14との対向面に
蒸着されたニクロム製の対向面電極膜18と、前記焦電
基盤12の対向面電極膜18側が接着された銅製のヒー
トシンク板20と、該ヒートシング板20を支持する石
英からなる支持台22と、を有している。
説明する。図1には、本発明の一実施例にかかる焦電形
赤外線検出器に用いられる焦電素子の分解斜視図が示さ
れている。同図に示す焦電素子10は、薄板状に形成さ
れたTGS結晶片からなる焦電基盤12と、該焦電基盤
12の受光面に蒸着されたニクロム製の受光面電極膜1
4と、該受光面電極膜14上に設けられた熱吸収膜16
と、前記焦電基盤12の受光面電極膜14との対向面に
蒸着されたニクロム製の対向面電極膜18と、前記焦電
基盤12の対向面電極膜18側が接着された銅製のヒー
トシンク板20と、該ヒートシング板20を支持する石
英からなる支持台22と、を有している。
【0010】なお、前記ヒートシンク板20の対向面電
極膜18との接着面には、銀ペーストとダイヤモンド粉
とを混合した溶剤21が塗布されている。また、前記受
光面電極膜14と対向面電極膜18とは、略同一形状に
形成されている。そして、前記焦電基盤12の受光面電
極膜14側に被検出体が配置されると、該被検出体から
放射される赤外線エネルギーが前記熱吸収膜16より焦
電基盤12に吸収される。さらに、前記赤外線エネルギ
ーを吸収した焦電基盤12に温度変化が生じ、この結果
焦電基盤12表面に電圧が生じる。そして、該電圧を受
光面電極膜14から出力させ、温度検出による撮像を行
なう。
極膜18との接着面には、銀ペーストとダイヤモンド粉
とを混合した溶剤21が塗布されている。また、前記受
光面電極膜14と対向面電極膜18とは、略同一形状に
形成されている。そして、前記焦電基盤12の受光面電
極膜14側に被検出体が配置されると、該被検出体から
放射される赤外線エネルギーが前記熱吸収膜16より焦
電基盤12に吸収される。さらに、前記赤外線エネルギ
ーを吸収した焦電基盤12に温度変化が生じ、この結果
焦電基盤12表面に電圧が生じる。そして、該電圧を受
光面電極膜14から出力させ、温度検出による撮像を行
なう。
【0011】ここで、前述したように受光面電極膜14
の面積は、被検出体の撮像部位と同一に形成される。一
方、焦電素子10の電圧感度はその受光面積、即ち前記
受光面電極膜14の面積に反比例してしまう。即ち、前
記電圧感度の理論式は下記式1のように表される。
の面積は、被検出体の撮像部位と同一に形成される。一
方、焦電素子10の電圧感度はその受光面積、即ち前記
受光面電極膜14の面積に反比例してしまう。即ち、前
記電圧感度の理論式は下記式1のように表される。
【0012】
【式1】 但し、η:電極表面からの放射率 ω:角周波数(=2πν,ν:変調周波数) A:受光面積 Rg:入力抵抗 λ:焦電係数 H:熱容量 τt:熱的時定数 τe:電気的時定数 また、前記式1の熱容量H、熱的時定数τt、及び電気
的時定数τeは、それぞれ下記式2、式3及び式4によ
って表される。
的時定数τeは、それぞれ下記式2、式3及び式4によ
って表される。
【0013】
【式2】 但し、Cp:比熱 ρ:密度 d:焦電素子の厚み
【0014】
【式3】 但し、G:素子から周囲への熱伝導率(=gtA,gt:
熱伝導率)
熱伝導率)
【0015】
【式4】 但し、ε:比誘電率 ε0:真空の誘電率 従って、前記式1〜式4より下記式5が導き出され、該
式5から焦電素子10の電圧感度は受光面積A、即ち受
光面電極膜14の面積が大きくなる程低下してしまうこ
とが理解される。
式5から焦電素子10の電圧感度は受光面積A、即ち受
光面電極膜14の面積が大きくなる程低下してしまうこ
とが理解される。
【0016】
【式5】 このため、前記撮像部位が大きい場合に、該撮像部位と
同一面積に受光面電極膜14を形成したのでは、電圧感
度が極めて低下してしまう。
同一面積に受光面電極膜14を形成したのでは、電圧感
度が極めて低下してしまう。
【0017】そこで、本実施例においては、前記受光面
電極膜14を受光面電極14aと受光面電極膜14bと
に2分割し、該受光面電極膜14a,14bにそれぞれ
リード線を接続し独立して電圧出力をすることにより電
圧感度を向上させている。なお、前記受光面電極膜14
a,14bには、図1(B)に示すようにリード線を接
続するための取付電極15a,15bが形成されてい
る。また、前記対向面電極膜18は電圧基準として接地
されるため、該対向面電極膜18は分割する必要がな
く、図1(C)に示すように一体に形成されている。ま
た、前記受光面電極膜14a,14b上に設けられた熱
吸収膜16は、該受光面電極膜14a,14bと同一形
状に形成され、熱吸収膜16a,16bに2分割されて
いる。このように、前記受光面電極膜14a,14bの
各面積は、受光面電極膜14全体の面積の半分となり、
受光面電極膜14を単一に形成した場合と比較して電圧
感度が2倍に向上することとなる。
電極膜14を受光面電極14aと受光面電極膜14bと
に2分割し、該受光面電極膜14a,14bにそれぞれ
リード線を接続し独立して電圧出力をすることにより電
圧感度を向上させている。なお、前記受光面電極膜14
a,14bには、図1(B)に示すようにリード線を接
続するための取付電極15a,15bが形成されてい
る。また、前記対向面電極膜18は電圧基準として接地
されるため、該対向面電極膜18は分割する必要がな
く、図1(C)に示すように一体に形成されている。ま
た、前記受光面電極膜14a,14b上に設けられた熱
吸収膜16は、該受光面電極膜14a,14bと同一形
状に形成され、熱吸収膜16a,16bに2分割されて
いる。このように、前記受光面電極膜14a,14bの
各面積は、受光面電極膜14全体の面積の半分となり、
受光面電極膜14を単一に形成した場合と比較して電圧
感度が2倍に向上することとなる。
【0018】また、本実施例においては、前記受光面電
極膜14a,14bをそれぞれ個別アンプに接続し、該
個別アンプからの各出力を加算アンプにより合成して出
力を得ている。図2には、前記受光面電極膜14a,1
4bとアンプとの回路図が示されている。同図に示すよ
うに、受光面電極膜14a,14bは、第1電解効果ト
ランジスター(以下、第1FET)24、第2電解効果
トランジスター(以下、第2FET)26にそれぞれ接
続され、インピーダンス変換がなされる。即ち、受光面
電極膜14aは第1FET24のゲートに、受光面電極
膜14bは第2FET26のゲートにそれぞれ接続さ
れ、また該第1FET24、及び第2FET26のソー
スには一定電圧が印加されている。さらに、第1FET
24のドレインには第1個別アンプ28が、第2FET
26のドレインには第2個別アンプ30がそれぞれ接続
されている。このため、受光面電極膜14a,14bか
らの電圧がそれぞれ第1FET24、第2FET26に
加わると、該電圧に応じた電流が第1個別アンプ28と
第2個別アンプ30に流れる。
極膜14a,14bをそれぞれ個別アンプに接続し、該
個別アンプからの各出力を加算アンプにより合成して出
力を得ている。図2には、前記受光面電極膜14a,1
4bとアンプとの回路図が示されている。同図に示すよ
うに、受光面電極膜14a,14bは、第1電解効果ト
ランジスター(以下、第1FET)24、第2電解効果
トランジスター(以下、第2FET)26にそれぞれ接
続され、インピーダンス変換がなされる。即ち、受光面
電極膜14aは第1FET24のゲートに、受光面電極
膜14bは第2FET26のゲートにそれぞれ接続さ
れ、また該第1FET24、及び第2FET26のソー
スには一定電圧が印加されている。さらに、第1FET
24のドレインには第1個別アンプ28が、第2FET
26のドレインには第2個別アンプ30がそれぞれ接続
されている。このため、受光面電極膜14a,14bか
らの電圧がそれぞれ第1FET24、第2FET26に
加わると、該電圧に応じた電流が第1個別アンプ28と
第2個別アンプ30に流れる。
【0019】そして、前記第1個別アンプ28及び第2
個別アンプ30の出力側は抵抗32、抵抗34をそれぞ
れ介して加算アンプ32に接続されており、各個別アン
プの出力が合成され加算アンプ36から抵抗38を介し
て出力される。なお、前記受光面電極膜14a,14b
と第1FET24、第2FET26との間には、一端が
接地された抵抗40、抵抗42の他端がそれぞれ接続さ
れている。また、前記第1FET24、第2FET26
の各ソースと第1個別アンプ28、第2個別アンプ30
の間には、一端が低電圧或いは接地された抵抗44、抵
抗46の他端がそれぞれ接続されている。
個別アンプ30の出力側は抵抗32、抵抗34をそれぞ
れ介して加算アンプ32に接続されており、各個別アン
プの出力が合成され加算アンプ36から抵抗38を介し
て出力される。なお、前記受光面電極膜14a,14b
と第1FET24、第2FET26との間には、一端が
接地された抵抗40、抵抗42の他端がそれぞれ接続さ
れている。また、前記第1FET24、第2FET26
の各ソースと第1個別アンプ28、第2個別アンプ30
の間には、一端が低電圧或いは接地された抵抗44、抵
抗46の他端がそれぞれ接続されている。
【0020】このように、本実施例においては、インピ
ーダンス変換された受光面電極膜14a,14bからの
各出力を2つの個別アンプ28、30を介して加算アン
プ36により合成しているため、受光面電極膜14を単
一に形成し一つのアンプから出力させたものと比較して
2倍の出力を得ることができる。なお、前記2つの個別
アンプ28、30を用いることにより、一つのアンプを
用いた場合と比較してノイズは21/2倍に増加してしま
うが、出力が2倍得られるためS/N比としては21/2
倍向上することとなる。なお、本実施例においては受光
面電極膜を2分割としたが、この分割数は全体の受光面
電極膜の面積を考慮して、分割された受光面電極膜の単
位面積が良好な電圧感度を得るために充分小さくなるよ
うに適宜決定するのが好適である。
ーダンス変換された受光面電極膜14a,14bからの
各出力を2つの個別アンプ28、30を介して加算アン
プ36により合成しているため、受光面電極膜14を単
一に形成し一つのアンプから出力させたものと比較して
2倍の出力を得ることができる。なお、前記2つの個別
アンプ28、30を用いることにより、一つのアンプを
用いた場合と比較してノイズは21/2倍に増加してしま
うが、出力が2倍得られるためS/N比としては21/2
倍向上することとなる。なお、本実施例においては受光
面電極膜を2分割としたが、この分割数は全体の受光面
電極膜の面積を考慮して、分割された受光面電極膜の単
位面積が良好な電圧感度を得るために充分小さくなるよ
うに適宜決定するのが好適である。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかる焦
電形赤外線検出器は、受光面電極を複数個に面分割して
いるため、各受光面電極の単位面積が小さくなり、焦電
素子の電圧感度を向上させることが可能となる。
電形赤外線検出器は、受光面電極を複数個に面分割して
いるため、各受光面電極の単位面積が小さくなり、焦電
素子の電圧感度を向上させることが可能となる。
【図1】本発明の一実施例にかかる焦電形赤外線検出器
に用いられる焦電素子の概略構成の説明図である。
に用いられる焦電素子の概略構成の説明図である。
【図2】前記図1に示す焦電素子とアンプとの回路構成
の説明図である。
の説明図である。
10 … 焦電素子 12 … 焦電基盤 14 … 受光面電極膜 16 … 熱吸収膜 18 … 対向面電極膜 20 … ヒートシンク板 22 … 支持台 24 … 第1FET 26 … 第2FET 28 … 第1個別アンプ 30 … 第2個別アンプ 36 … 加算アンプ
Claims (2)
- 【請求項1】 焦電素子を有する焦電形赤外線検出器に
おいて、該焦電素子が、 薄板状に形成された焦電基盤と、 被検出体からの赤外線を受光する前記焦電基盤の受光面
に蒸着され、かつ全体が被検出体の撮像部位に対応した
大きさに形成され、しかも全体を複数個に面分割された
受光面電極と、 前記焦電基盤の受光面電極との対向面に蒸着された対向
面電極と、を備え、 前記面分割された各受光面電極から各々電圧出力を得る
ことを特徴とする焦電形赤外線検出器。 - 【請求項2】 請求項1記載の焦電形赤外線検出器にお
いて、 前記面分割された各受光面電極が各々接続された個別ア
ンプと、 前記各個別アンプが接続され、該個別アンプからの出力
を合成して出力する加算アンプと、を備えたことを特徴
とする焦電形赤外線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6104553A JPH07286899A (ja) | 1994-04-19 | 1994-04-19 | 焦電形赤外線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6104553A JPH07286899A (ja) | 1994-04-19 | 1994-04-19 | 焦電形赤外線検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07286899A true JPH07286899A (ja) | 1995-10-31 |
Family
ID=14383667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6104553A Pending JPH07286899A (ja) | 1994-04-19 | 1994-04-19 | 焦電形赤外線検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07286899A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9297077B2 (en) | 2010-02-11 | 2016-03-29 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Method and apparatus for depositing atomic layers on a substrate |
| US9761458B2 (en) | 2010-02-26 | 2017-09-12 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Apparatus and method for reactive ion etching |
-
1994
- 1994-04-19 JP JP6104553A patent/JPH07286899A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9297077B2 (en) | 2010-02-11 | 2016-03-29 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Method and apparatus for depositing atomic layers on a substrate |
| US9803280B2 (en) | 2010-02-11 | 2017-10-31 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Method and apparatus for depositing atomic layers on a substrate |
| US10676822B2 (en) | 2010-02-11 | 2020-06-09 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Method and apparatus for depositing atomic layers on a substrate |
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