JPH07287203A - 液晶表示装置の製造方法 - Google Patents

液晶表示装置の製造方法

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JPH07287203A
JPH07287203A JP7742894A JP7742894A JPH07287203A JP H07287203 A JPH07287203 A JP H07287203A JP 7742894 A JP7742894 A JP 7742894A JP 7742894 A JP7742894 A JP 7742894A JP H07287203 A JPH07287203 A JP H07287203A
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JP
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electrode
connection terminal
external connection
electrodes
gate
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JP7742894A
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English (en)
Inventor
Shigeki Ogura
茂樹 小椋
Tamahiko Nishiki
玲彦 西木
佳代 ▲吉▼澤
Yoshiyo Yoshizawa
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ラビング工程等で発生する静電気放電により
発生していたTFT素子の破壊を防ぐことのできる液晶
表示装置の製造方法を提供する。 【構成】 TFT素子配設側の基板を製造するに際し、
基板上の表示領域11にマトリクス状に配設される画素
電極及びTFT素子と(図示せず)、各TFT素子に接
続される各ゲート電極及び各ドレイン電極と(図示せ
ず)、その電極引き回し領域15、16並びにその外部
接続端子電極群13、14と、外部接続端子電極群1
3、14の両端部外側に設ける保護電極17と、外部接
続端子電極群13、14と、保護電極17とを接続する
共通電極18を形成し、所定領域上に配向膜を形成した
後、ラビング処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は薄膜トランジスタを用い
た液晶表示装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、薄膜トランジスタ型液晶表示装置
(以下液晶表示装置という)において薄膜トランジスタ
(以下、TFTという)素子の静電気放電による損傷を
防ぐために、特開平3−239221号に開示されるよ
うな液晶表示装置があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記に
示される構造の液晶表示装置では配向膜の抵抗率が従来
より小さくなってはいるものの、配向膜は絶縁体で形成
されているためラビング工程等による静電気の発生をな
くすことは不可能であり、表示領域内での静電気放電に
よりTFT素子の破壊を防ぐことはできなかった。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明の液晶表示装置の製造方法は、互いに交差
して配列された複数のゲート電極及びドレイン電極の各
交点近傍にTFT素子及び画素電極が形成された第1の
基板と、該画素電極に対向する対向電極が形成された第
2の基板と、第1及び第2の基板間に封入された液晶と
を具備してなる液晶表示装置において、所定の表示領域
を表面に有する第1の基板を準備する工程と、表示領域
にマトリクス状に設けられる複数の画素電極と、各画素
電極にそれぞれ接続される複数のTFT素子と、各TF
T素子にそれぞれ接続されかつ互いに直交する方向に配
列された複数のゲート電極及びドレイン電極と、各ゲー
ト電極及び各ドレイン電極にそれぞれ接続され表示領域
外に延在する複数のゲート外部接続端子電極からなるゲ
ート外部接続端子電極群及び複数のドレイン外部接続端
子電極からなるドレイン外部接続端子電極群と、表示領
域外であってゲート外部接続端子電極群及びドレイン外
部接続端子電極群の両端部の外側に設けられる保護電極
と、ゲート外部接続端子電極とドレイン外部接続端子電
極と保護電極とを電気的に接続する共通電極と、を形成
する工程と、基板の所定領域表面に配向膜を形成する工
程と、配向膜が形成された基板にラビング処理を施す工
程と、ラビングが施された基板にスクライブ処理を施
し、さらにブレイク処理を施して共通電極を切り離す工
程と、により形成されることを特徴とする。
【0005】
【作用】本発明によれば、ゲート電極及びドレイン電極
の外部接続端子電極群の両端部の外側に保護電極を設
け、さらに各外部接続端子電極と保護電極とを電気的に
接続する共通電極を設けているため、ラビング工程時に
これまで外部接続端子電極において発生しゲート電極及
びドレイン電極を通じてTFT素子の破壊を招いていた
静電気放電が保護電極において発生するようになるので
TFT素子の破壊を防ぐことができる。
【0006】
【実施例】図1は、この発明によるTFT素子を配設す
る側の基板(以下、TFT基板と称す)の領域割付を示
す平面図である。図1におけるTFT基板において、1
1は画像が表示される表示領域であり、表示領域11に
は画素電極及びそれに接続される液晶駆動用のTFT素
子がマトリクス状に形成され(図示せず)かつ各TFT
素子に接続されるゲート電極及びドレイン電極が絶縁層
を介して互いに交差してマトリクス状に形成され(図示
せず)、この各TFT素子のゲート電極及びドレイン電
極に外部から信号を入力するため表示領域11の回りに
ゲート電極引き回し領域15、ドレイン電極引き回し領
域16、さらに外側にゲート外部接続端子群13、ドレ
イン外部接続端子電極群14及び保護電極17が形成さ
れ、最も外側にはゲート電極、ドレイン電極及び保護電
極の共通電極18が形成される。12は、後のスクライ
ブ・ブレイク工程において切り離されるスクライブ線を
示している。また、電極が露出している部分(絶縁物で
覆われていない部分)をハッチングで示している。な
お、各ゲート電極引き回し領域15及び各ドレイン電極
引き回し領域16は図1では、それぞれ1つの領域とし
て簡略化して示しているが、実際にはそれぞれ複数のゲ
ート電極、複数のドレイン電極が延在して配設されてい
る。また、各ゲート外部接続端子電極群13及び各ドレ
イン外部接続端子電極群14も同様にそれぞれ1つの領
域として簡略化して図示しているが、実際にはゲート外
部接続端子電極群13は各ゲート電極に接続された複数
のゲート外部接続端子電極からなり、ドレイン外部接続
端子電極群14は、各ドレイン電極に接続された複数の
ドレイン外部接続端子電極からなっている。
【0007】ゲート電極には外部から走査電圧信号が入
れられなければならないため表示領域11外部に取り出
し端子電極を形成する必要がある。このためゲート外部
接続端子電極群13は奇数行及び偶数行のゲート電極を
それぞれ反対方向に取り出し、取り出されたゲート電極
をそれぞれ2個のブロックに分けてゲート外部接続端子
電極群13として配置した構造になっており、各ゲート
外部接続端子電極群13の各両端部の外側には保護電極
17がそれぞれ配置されている。これらの表示領域11
内部に配置される液晶駆動用のTFT素子(図示せず)
のゲート電極からゲート外部接続端子電極群13への配
線引き回しはゲート電極引き回し領域15によって示さ
れる領域によって行われる。
【0008】ゲート電極同様ドレイン電極には外部から
データ電圧信号が入れられなければならないため表示領
域11外部に取り出し端子電極を形成する必要がある。
このためドレイン外部接続端子電極群14は奇数列及び
偶数列のドレイン電極をそれぞれ反対方向に取り出し、
取り出されたドレイン電極をそれぞれ2個のブロックに
分けてドレイン外部接続端子電極群14として配置した
構造になっており、各ドレイン外部接続端子電極群14
の各両端部の外側には保護電極17がそれぞれ配置され
ている。これらの表示領域11内部に配置される液晶駆
動用のTFT素子(図示せず)のドレイン電極からドレ
イン外部接続端子電極群14への配線引き回しはドレイ
ン電極引き回し領域16によって示される領域によって
行われる。
【0009】図2は図1に示した表示領域11内のTF
T素子及び画素電極の各一個を示す部分平面図である。
図2において、TFT素子部をTとして示す。このTF
T素子Tはゲート電極19とドレイン電極20とが交差
する部分の近傍においてチャネル部が形成されている。
チャネル部には半導体層21があるため、チャネルとし
て機能するものである。ソース電極22は画素電極23
と電気的に接続しており、ゲート電極19にオン電圧が
入ることによりTFT素子がオン状態となりドレイン電
極20に入力されたデータ電圧信号がソース電極22を
介し画素電圧信号となり、対向基板の対向電極(図示せ
ず)に印加される電圧と協働して画素電極23と対向電
極間の液晶を駆動し、所望の画像を表示する。また画素
電極23上には保護絶縁膜開口部32が形成されてい
る。
【0010】図3は、図2のA−A線に沿った断面を示
す断面図である。ガラス基板上にはゲート電極19、ゲ
ート電極19が陽極酸化されたゲート陽極酸化膜24、
ゲート絶縁膜25が所定のパターンに形成され、その上
に半導体層21、オーミック接合層26並びに画素電極
23が所定のパターンに形成される。さらに、この上に
ドレイン電極20、ソース電極22、保護絶縁膜27及
び配向膜28が形成される。この配向膜28は、表示領
域11の全面に形成される。
【0011】図4に図1で示したイの部分の部分拡大平
面図を示す。図4において線25aで囲まれる領域はゲ
ート絶縁膜形成領域で、また表示領域11に相当し、線
28aで囲まれる領域は配向膜形成領域である。図4に
おいて、電極が露出している部分(絶縁物で覆われてい
ない部分)をハッチングで示している。画素電極23が
表示領域11中に多数マトリクス状に配置され、この画
素電極23にTFT素子Tが接続されている。そして各
TFT素子から延びた各ゲート電極19がそれぞれ各ゲ
ート外部接続端子電極13aとして表示領域11外に形
成され、複数のゲート外部接続端子電極13aからゲー
ト外部接続端子電極群13が構成される。さらに、ゲー
ト外部接続端子電極13aは外側に延びて共通電極18
と電気的に接続されている。また各ゲート外部接続端子
電極13aは保護絶縁膜で覆われているが、その一部に
保護絶縁膜開口部32aが設けられこの電極を部分的に
露出させている。
【0012】また各TFT素子Tから延びた各ドレイン
電極20がそれぞれ各ドレイン外部接続端子電極14a
として表示領域11外に形成され、複数ドレイン外部接
続端子電極14aからドレイン外部接続端子電極群14
が構成される。さらにドレイン外部接続端子電極14a
は外側に延びて共通電極18と電気的に接続されてい
る。また、各ドレイン外部接続端子電極14aも保護絶
縁膜27で覆われているが、その一部に保護絶縁膜開口
部32bが設けられ、この電極を部分的に露出させてい
る。また図1、図4に示すように、ゲート外部接続端子
電極群13及びドレイン外部接続端子電極群14の両側
に保護電極17が設けられる。この保護電極17も共通
電極18に電気的に接続されている。そして保護電極1
7も保護絶縁膜27で覆われているが、その一部に保護
絶縁膜開口部32cが設けられこの電極を部分的に露出
させている。
【0013】また、ゲート外部接続端子電極13a及び
ドレイン外部接続端子電極14aには保護絶縁膜開口部
32a、32bが形成されており外部との電気的接続の
ため電極が部分的に露出されているが、画素電極23上
には絶縁物である配向膜28が形成されているため電極
露出部分はない。ラビング工程による静電気の発生は電
極露出部分が少ないほど顕著に現れるため電極露出部分
は多い方が好ましい。
【0014】次に、ラビング工程について説明する。図
5はTFT基板にラビング工程を施す模式図を示す。図
5に示したように一般にラビング工程とは、ステージ2
9に真空吸着されたTFT基板31に斜め45゜方向か
らラビングローラ30を所定の速度で回転させ移動させ
るものであり、TFT基板31上の配向膜を表面が絶縁
物の布状のラビングローラ30によってこすることによ
り、後にTFT基板とその対向基板とを対向させその周
囲を封止した後に配向膜上に注入される液晶分子が一定
方向に配向するようになるのである。図1に示したTF
T基板にラビング工程を施したところ、静電気放電によ
るTFT素子の破壊は認められなかった。
【0015】静電気放電は絶縁体と導電体とが接してい
る境目の導電体側に発生し易いものであり、隣合ってい
るゲート外部接続端子電極13a及びドレイン外部接続
端子電極14a同志はラビング工程の最中でも少量の静
電気充電と静電気放電が同時に行われるに等しい作用が
働き静電気が増大することはない。上述したようにラビ
ング工程は一般的にTFT基板31に斜め45゜方向か
らラビングローラ30を回転させ移動させるため、絶縁
物をこすり続けた後の蓄積増大された静電気が絶縁物と
の境目の導電体(電極)部分で放電するのである。実際
に保護電極17を設けないTFT基板の場合に静電気放
電発生により表示不良となったTFT素子を調べてみる
とゲート外部接続端子電極群及びドレイン外部接続端子
電極群の両最端部及びその近傍のゲート外部接続端子電
極13a及びドレイン外部接続端子電極14aに接続さ
れているTFT素子が大多数を占めていた。本発明では
従来静電気放電が起こり易かったゲート外部接続端子電
極群及びドレイン外部接続端子電極群の両端部の外側に
保護電極17を設けることで保護電極において静電気放
電を起こさせている。
【0016】保護電極17における静電気放電はTFT
素子に影響を及ぼすものでなく、TFT素子の破壊等は
起こらない。保護電極17での静電気放電は共通電極1
8へと流れるため、共通電極18と電気的に接続されて
いるゲート外部接続端子電極群13、ドレイン外部接続
端子電極群14及びTFT素子のゲート電極19及びド
レイン電極20へも流れ込むことが予想されるがTFT
素子の破壊にまで至った例はない。このことからする
と、保護電極17が設けられていない場合でもゲート外
部接続端子電極群13、ドレイン外部接続端子電極群1
4での静電気放電が共通電極18へと流れTFT素子の
ゲート電極19及びドレイン電極20へは流れ込まない
とも考えられるが、現実には上述したようにゲート外部
接続端子電極群13及びドレイン外部接続端子電極群1
4の両最端部及びその近傍の電極に接続されているTF
T素子に破壊が多く認められた。
【0017】次に、スクライブ・ブレイク工程について
説明する。このスクライブ工程に先だって、予めTFT
基板と対向電極を有する対向基板とを、所定の間隙を介
して対向させ、表示領域11の外周近傍で両基板を接着
させておく。次いでスクライブ処理を行う。このスクラ
イブ処理では、両基板の裏面側にスクライブ線12がダ
イヤモンドカッター等により形成され、その後のブレイ
ク工程により共通電極18部分が切り離され、この共通
電極18に接続されていたゲート外部接続端子電極群1
3、ドレイン外部接続端子電極群14及び保護電極17
が互いに電気的に分離されることとなる。このスクライ
ブ・ブレイク工程後、両基板間に液晶を封入することに
より液晶表示装置が完成する。
【0018】第2実施例 図6は本発明のその他の実施例によるTFT基板の領域
割付を示す平面図である。図6において、第1実施例で
示したゲート外部接続端子電極群13及びドレイン外部
接続端子電極群14は基板の各周辺部においてそれぞれ
3つのブロックに分けられている。第2実施例の場合も
第1実施例同様に各ゲート外部接続端子電極群13及び
各ドレイン外部接続端子電極群14の各両端に保護電極
17を設け、さらに共通電極18を設けているため、ラ
ビング工程時の静電気放電によるTFT素子の破壊を防
ぐことができる。
【0019】第3実施例 図7は本発明のその他の実施例によるTFT基板の領域
割付を示す平面図である。図7において、第1及び第2
実施例で示したゲート外部接続端子電極群13及びドレ
イン外部接続端子電極群14は基板の各周辺部において
それぞれ1つのブロックになっている。第3実施例の場
合も他の実施例同様にゲート外部接続端子電極群13、
ドレイン外部接続端子電極群14の両端に保護電極17
を設け、さらに共通電極18を設けているため、ラビン
グ工程時の静電気放電によるTFT素子の破壊を防ぐこ
とができる。
【0020】以上の実施例により、保護電極を設けるこ
とによる効果はゲート外部接続端子電極群13及びドレ
イン外部接続端子電極群14のブロック数にはよらない
ことがわかる。上述したように静電気放電は絶縁体と導
電体とが接している境目の導電体側に発生し易いもので
あることから、導電体であるゲート外部接続端子電極群
13及びドレイン外部接続端子電極群14の両端部の外
側に保護電極17を設けることにより、静電気放電を保
護電極17において発生させている。
【0021】以上のことから、保護電極17の位置がゲ
ート外部接続端子電極群13並びに保護電極17とドレ
イン外部接続端子電極群14から離れていると静電気放
電の効果が軽減されてしまうため、保護電極17とゲー
ト外部接続端子電極群13及びドレイン外部接続端子電
極群14との間隔は、ゲート外部接続端子電極群13の
内部のゲート外部接続端子電極13a同志の間隔並びに
ドレイン外部接続端子電極群14の内部のドレイン外部
接続端子電極14a同志の間隔と等しい間隔とすること
が望ましい。さらに、発生する静電気の量が多すぎる場
合にはゲート外部接続端子電極群13及びドレイン外部
接続端子電極群14の1つの両端部の外側に1つずつ保
護電極17を設けたのでは、ゲート外部接続端子電極群
13及びドレイン外部接続端子電極群14にまで静電気
放電が及ぶことがあるため、複数の保護電極を並設する
ことが望ましい。
【0022】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の液
晶表示装置の製造方法によれば各TFT素子に接続され
た各ゲート電極及び各ドレイン電極と、これらそれぞれ
に電気的に接続された外部接続端子電極群の両端部の外
側に保護電極を設け、さらに各外部接続端子電極と保護
電極とを電気的に接続する共通電極を設けたため、ラビ
ング工程時に静電気が保護電極において放電するように
なるのでTFT素子の破壊を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例によるTFT基板の領域割
付を示す平面図である。
【図2】本発明の第1実施例によるTFT素子及び画素
電極各1個を示す部分平面図である。
【図3】図2のA−A線に沿った断面を示す断面図であ
る。
【図4】図1のイで示した部分の部分拡大平面図であ
る。
【図5】TFT基板にラビング工程を施す模式図であ
る。
【図6】本発明の第2実施例によるTFT基板の領域割
付を示す平面図である。
【図7】本発明の第3実施例によるTFT基板の領域割
付を示す平面図である。
【符号の説明】
11:表示領域 12:スクライブ線 13:ゲート外部接続端子電極群 13a:ゲート外部接続端子電極 14:ドレイン外部接続端子電極群 14a:ドレイン外部接続端子電極 15:ゲート電極引き回し領域 16:ドレイン電極引き回し領域 17:保護電極 18:共通電極 19:ゲート電極 20:ドレイン電極 21:ソース電極

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに交差して配列された複数のゲート
    電極及びドレイン電極の各交点近傍にTFT素子及び画
    素電極が形成された第1の基板と、該画素電極に対向す
    る対向電極が形成された第2の基板と、前記第1及び第
    2の基板間に封入された液晶とを具備してなる液晶表示
    装置の製造方法において、所定の表示領域を表面に有す
    る前記第1の基板を準備する工程と、前記表示領域にマ
    トリクス状に設けられる複数の画素電極と、各画素電極
    にそれぞれ接続される複数のTFT素子と、前記各TF
    T素子にそれぞれ接続されかつ互いに直交する方向に配
    列された複数のゲート電極及びドレイン電極と、前記各
    ゲート電極及び前記各ドレイン電極にそれぞれ接続され
    前記表示領域外に延在する複数のゲート外部接続端子電
    極からなるゲート外部接続端子電極群及び複数のドレイ
    ン外部接続端子電極からなるドレイン外部接続端子電極
    群と、前記表示領域外であって前記ゲート外部接続端子
    電極群及び前記ドレイン外部接続端子電極群の両端部の
    外側に設けられる保護電極と、前記ゲート外部接続端子
    電極と前記ドレイン外部接続端子電極と前記保護電極と
    を電気的に接続する共通電極と、を形成する工程と、前
    記第1の基板の所定領域表面に配向膜を形成する工程
    と、前記配向膜が形成された基板にラビング処理を施す
    工程と、前記ラビングが施された基板にスクライブ処理
    を施し、さらにブレイク処理を施して前記共通電極を切
    り離す工程と、により形成されることを特徴とする液晶
    表示装置の製造方法。
JP7742894A 1994-04-15 1994-04-15 液晶表示装置の製造方法 Pending JPH07287203A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006071957A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Sony Corp 電子デバイス・チップ集合体、電子デバイス・チップ、回折格子−光変調装置集合体、及び、回折格子−光変調装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006071957A (ja) * 2004-09-02 2006-03-16 Sony Corp 電子デバイス・チップ集合体、電子デバイス・チップ、回折格子−光変調装置集合体、及び、回折格子−光変調装置

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