JPH07292484A - プラズマエッチング用電極板及びその製造法 - Google Patents
プラズマエッチング用電極板及びその製造法Info
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- JPH07292484A JPH07292484A JP6089679A JP8967994A JPH07292484A JP H07292484 A JPH07292484 A JP H07292484A JP 6089679 A JP6089679 A JP 6089679A JP 8967994 A JP8967994 A JP 8967994A JP H07292484 A JPH07292484 A JP H07292484A
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- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 claims abstract description 9
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- 238000003763 carbonization Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 5
- 229910021397 glassy carbon Inorganic materials 0.000 abstract description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 238000010000 carbonizing Methods 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- XPDWGBQVDMORPB-UHFFFAOYSA-N Fluoroform Chemical compound FC(F)F XPDWGBQVDMORPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000001354 calcination Methods 0.000 description 1
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000004811 liquid chromatography Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000000527 sonication Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 エッチング時にウェハ面に落下し付着する炭
素粒子などの異物の数が少なく、消耗速度の遅いプラズ
マエッチング用電極板及びその製造法を提供する。 【構成】 数平均分子量が250〜310及び25℃に
おける粘度が100〜320cpのフェノール・ホルム
アルデヒド樹脂を用いたガラス状炭素からなるプラズマ
エッチング用電極板並びに数平均分子量が250〜31
0及び25℃における粘度が100〜320cpのフェ
ノール・ホルムアルデヒド樹脂の溶液を成形して硬化し
た後、炭化及び高温処理するプラズマエッチング用電極
板の製造法。
素粒子などの異物の数が少なく、消耗速度の遅いプラズ
マエッチング用電極板及びその製造法を提供する。 【構成】 数平均分子量が250〜310及び25℃に
おける粘度が100〜320cpのフェノール・ホルム
アルデヒド樹脂を用いたガラス状炭素からなるプラズマ
エッチング用電極板並びに数平均分子量が250〜31
0及び25℃における粘度が100〜320cpのフェ
ノール・ホルムアルデヒド樹脂の溶液を成形して硬化し
た後、炭化及び高温処理するプラズマエッチング用電極
板の製造法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プラズマエッチング用
電極板及びその製造法に関する。
電極板及びその製造法に関する。
【0002】
【従来の技術】ガラス状炭素は、一般の炭素材料が有す
る軽量、耐熱性、耐食性、電気伝導性等の性質を備えて
いるほか、ガス不透過性で硬化が高い、発塵性が少ない
等の特長を有するところから、エレクトロニクス産業、
原子力産業、航空産業等各種の分野での広範な用途に使
用されつつある。最近は、特開昭62−252942号
公報に示されるように炭素粒子の脱落や付着がない性質
を利用して、半導体集積回路を製造する際のウエハーの
プラズマエッチング加工用電極板として使用することが
検討されている。
る軽量、耐熱性、耐食性、電気伝導性等の性質を備えて
いるほか、ガス不透過性で硬化が高い、発塵性が少ない
等の特長を有するところから、エレクトロニクス産業、
原子力産業、航空産業等各種の分野での広範な用途に使
用されつつある。最近は、特開昭62−252942号
公報に示されるように炭素粒子の脱落や付着がない性質
を利用して、半導体集積回路を製造する際のウエハーの
プラズマエッチング加工用電極板として使用することが
検討されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら近年の半
導体集積回路は高性能化が進み、従来問題とされなかっ
たより微細な異物の発生、エッチング速度の不安定等の
問題がある。プラズマエッチング用電極板に対する要求
性能は一層高度になってきており、特にエッチング時に
ウエハ面に落下し付着する炭素粒子などの異物の数の少
ないものが要求されている。本発明は上記した要求を満
足するプラズマエッチング用電極板及びその製造法を提
供するものである。
導体集積回路は高性能化が進み、従来問題とされなかっ
たより微細な異物の発生、エッチング速度の不安定等の
問題がある。プラズマエッチング用電極板に対する要求
性能は一層高度になってきており、特にエッチング時に
ウエハ面に落下し付着する炭素粒子などの異物の数の少
ないものが要求されている。本発明は上記した要求を満
足するプラズマエッチング用電極板及びその製造法を提
供するものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明者らはフェノール・ホルムアルデヒド樹脂の
数平均分子量及び粘度について検討を重ねた結果、数平
均分子量が250〜310で、25℃における粘度が1
00〜320cpの範囲であれば本発明の目的が達成で
きるということをつきとめ本発明を完成するに至った。
め、本発明者らはフェノール・ホルムアルデヒド樹脂の
数平均分子量及び粘度について検討を重ねた結果、数平
均分子量が250〜310で、25℃における粘度が1
00〜320cpの範囲であれば本発明の目的が達成で
きるということをつきとめ本発明を完成するに至った。
【0005】本発明は数平均分子量が250〜310及
び25℃における粘度が100〜320cpのフェノー
ル・ホルムアルデヒド樹脂の溶液を成形して硬化した
後、炭化及び高温処理するプラズマエッチング用電極板
の製造法及びこの製造法で得られたプラズマエッチング
用電極板に関する。
び25℃における粘度が100〜320cpのフェノー
ル・ホルムアルデヒド樹脂の溶液を成形して硬化した
後、炭化及び高温処理するプラズマエッチング用電極板
の製造法及びこの製造法で得られたプラズマエッチング
用電極板に関する。
【0006】本発明においてフェノール・ホルムアルデ
ヒド樹脂の数平均分子量は250〜310好ましくは2
70〜280の範囲及び25℃における粘度は100〜
320cp好ましくは110〜250cpの範囲とさ
れ、それぞれが上記の範囲から外れると異物の数が多く
なり、また消耗速度が速くなり、実質上の特性向上は実
現しなくなるおそれがある。なお粘度はアルコールなど
の溶剤で所望の値に調整される。なおフェノール・ホル
ムアルデヒド樹脂の数平均分子量は液体クロマトグラフ
ィにより求めた値であり、また粘度は25℃の粘度をB
型粘度計で測定した値である。
ヒド樹脂の数平均分子量は250〜310好ましくは2
70〜280の範囲及び25℃における粘度は100〜
320cp好ましくは110〜250cpの範囲とさ
れ、それぞれが上記の範囲から外れると異物の数が多く
なり、また消耗速度が速くなり、実質上の特性向上は実
現しなくなるおそれがある。なお粘度はアルコールなど
の溶剤で所望の値に調整される。なおフェノール・ホル
ムアルデヒド樹脂の数平均分子量は液体クロマトグラフ
ィにより求めた値であり、また粘度は25℃の粘度をB
型粘度計で測定した値である。
【0007】本発明のプラズマエッチング用電極板は、
例えば次のようにして製造される。即ち数平均分子量が
250〜310及び25℃における粘度が100〜32
0cpのフェノール・ホルムアルデヒド樹脂を所定の形
状に成形した後、130〜200℃の温度で硬化させ、
次いで、電極板の形状にするため所定の加工を行った
後、高純度雰囲気炉を用い不活性雰囲気中(通常、ヘリ
ウム、アルゴン等の不活性ガスや窒素、水素、ハロゲン
ガス等の非酸化性ガスの少なくとも一種の気体からなる
酸素を含まない雰囲気、減圧又は真空下)において約1
000℃の温度で焼成炭化し、更に1500℃以上の温
度、好ましくは2000℃以上の温度で高温処理するこ
とによりガラス状炭素からなるプラズマエッチング用電
極板が得られる。
例えば次のようにして製造される。即ち数平均分子量が
250〜310及び25℃における粘度が100〜32
0cpのフェノール・ホルムアルデヒド樹脂を所定の形
状に成形した後、130〜200℃の温度で硬化させ、
次いで、電極板の形状にするため所定の加工を行った
後、高純度雰囲気炉を用い不活性雰囲気中(通常、ヘリ
ウム、アルゴン等の不活性ガスや窒素、水素、ハロゲン
ガス等の非酸化性ガスの少なくとも一種の気体からなる
酸素を含まない雰囲気、減圧又は真空下)において約1
000℃の温度で焼成炭化し、更に1500℃以上の温
度、好ましくは2000℃以上の温度で高温処理するこ
とによりガラス状炭素からなるプラズマエッチング用電
極板が得られる。
【0008】本発明になるプラズマエッチング用電極板
は、上記の方法以外に樹脂を硬化させた後、上記と同様
の方法で炭化、高温処理し、ガラス状炭素を得た後、放
電加工あるいは超音波加工で所定の形状のプラズマエッ
チング用電極板に加工してもよい。樹脂の成形について
は特に制限はなく従来公知の方法で行われ、また硬化
は、縮合水などが外部に抜け易い加熱条件及び昇温速度
で行うか又は硬化の為の触媒量を適正な量に設定して行
うことが好ましい。ガラス状炭素の不純物含有量は20
ppm以下が好ましい。得られるプラズマエッチング用
電極板は、見掛け密度が1.48〜1.55g/cm3及
び気孔径が0.1μm以下であることが好ましい。上記
における見掛け密度はJIS R 2701に準じる方法
により求めた値であり、また気孔径は1平方センチメー
トル中に含まれる気孔の平均径から求めた値である。
は、上記の方法以外に樹脂を硬化させた後、上記と同様
の方法で炭化、高温処理し、ガラス状炭素を得た後、放
電加工あるいは超音波加工で所定の形状のプラズマエッ
チング用電極板に加工してもよい。樹脂の成形について
は特に制限はなく従来公知の方法で行われ、また硬化
は、縮合水などが外部に抜け易い加熱条件及び昇温速度
で行うか又は硬化の為の触媒量を適正な量に設定して行
うことが好ましい。ガラス状炭素の不純物含有量は20
ppm以下が好ましい。得られるプラズマエッチング用
電極板は、見掛け密度が1.48〜1.55g/cm3及
び気孔径が0.1μm以下であることが好ましい。上記
における見掛け密度はJIS R 2701に準じる方法
により求めた値であり、また気孔径は1平方センチメー
トル中に含まれる気孔の平均径から求めた値である。
【0009】
【実施例】以下本発明の実施例を説明する。一般に
(a)C6H5OH+CH2O→C6H4OH・CH2OH及
び(b)C6H4OH・CH2OH→(−C6H3OH・C
H2−)n+H2Oの生成反応で表1に示す5種類のフェ
ノール・ホルムアルデヒド樹脂を得た。該樹脂を成形型
に注入して成形し、50℃で3日、70℃で3日及び9
0℃で3日乾燥した後、160℃まで5℃/時間の速度
で昇温し、160℃で3日間保持して硬化処理を行い厚
さが4mmで直径が285mmの円板状樹脂成形体を得た。
(a)C6H5OH+CH2O→C6H4OH・CH2OH及
び(b)C6H4OH・CH2OH→(−C6H3OH・C
H2−)n+H2Oの生成反応で表1に示す5種類のフェ
ノール・ホルムアルデヒド樹脂を得た。該樹脂を成形型
に注入して成形し、50℃で3日、70℃で3日及び9
0℃で3日乾燥した後、160℃まで5℃/時間の速度
で昇温し、160℃で3日間保持して硬化処理を行い厚
さが4mmで直径が285mmの円板状樹脂成形体を得た。
【0010】該成形体を環状炉に入れ、窒素気流中で1
300℃の温度で10日焼成炭化した後、高純度の雰囲
気炉を用い窒素気流中で2000℃の温度で40時間高
温処理を行いガラス状炭素を得た。次いで該ガラス状炭
素に直径が0.8mmの貫通小孔を3mmのピッチで多数穿
孔しプラズマエッチング用電極板を得た。得られたプラ
ズマエッチング用電極板の不純物量はいずれも20ppm
以下であった。
300℃の温度で10日焼成炭化した後、高純度の雰囲
気炉を用い窒素気流中で2000℃の温度で40時間高
温処理を行いガラス状炭素を得た。次いで該ガラス状炭
素に直径が0.8mmの貫通小孔を3mmのピッチで多数穿
孔しプラズマエッチング用電極板を得た。得られたプラ
ズマエッチング用電極板の不純物量はいずれも20ppm
以下であった。
【0011】次に得られたプラズマエッチング用電極板
をプラズマエッチング装置にセットし、反応ガス:トリ
フロロメタン(CHF3)、キャリアガス:アルゴン
(Ar)、反応チャンバー内のガス圧:1Torr、電源周
波数:13.5MHzの条件で直径6インチのシリコンウ
ェハの酸化膜エッチングを行った。このときシリコンウ
ェハの表面に付着した0.15μm以上の粉末粒子(異
物数)の個数を数えた。この結果を表1に示す。表1に
おいて粘度は25℃の粘度を示し、気孔径は水銀ポロシ
メータより求めた値を示し、消耗速度は次式により求め
た。
をプラズマエッチング装置にセットし、反応ガス:トリ
フロロメタン(CHF3)、キャリアガス:アルゴン
(Ar)、反応チャンバー内のガス圧:1Torr、電源周
波数:13.5MHzの条件で直径6インチのシリコンウ
ェハの酸化膜エッチングを行った。このときシリコンウ
ェハの表面に付着した0.15μm以上の粉末粒子(異
物数)の個数を数えた。この結果を表1に示す。表1に
おいて粘度は25℃の粘度を示し、気孔径は水銀ポロシ
メータより求めた値を示し、消耗速度は次式により求め
た。
【0012】
【数1】
【0013】
【表1】
【0014】表1に示されるように、試料No.4は異物
数が5個で消耗速度が5.3μm/時間と遅く、消耗量
の少ないことが示される。
数が5個で消耗速度が5.3μm/時間と遅く、消耗量
の少ないことが示される。
【0015】
【発明の効果】本発明によれば、エッチング時に発生す
る有害な炭素微粒子などの異物の数を大幅に少なくする
ことができ、消耗速度が遅く、長時間の使用が可能であ
る。従ってトラブルがなく安定なエッチング加工を行う
ことが可能であり、産業上極めて好適である。
る有害な炭素微粒子などの異物の数を大幅に少なくする
ことができ、消耗速度が遅く、長時間の使用が可能であ
る。従ってトラブルがなく安定なエッチング加工を行う
ことが可能であり、産業上極めて好適である。
Claims (4)
- 【請求項1】 数平均分子量が250〜310及び25
℃における粘度が100〜320cpのフェノール・ホ
ルムアルデヒド樹脂の溶液を成形して硬化した後、炭化
及び高温処理することを特徴とするプラズマエッチング
用電極板の製造法。 - 【請求項2】 請求項1記載の製造法で得られたプラズ
マエッチング用電極板。 - 【請求項3】 見掛け密度が1.48〜1.55g/cm
3である請求項2記載のプラズマエッチング用電極板。 - 【請求項4】 気孔径が0.1μm以下である請求項2
又は3記載のプラズマエッチング用電極板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6089679A JPH07292484A (ja) | 1994-04-27 | 1994-04-27 | プラズマエッチング用電極板及びその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6089679A JPH07292484A (ja) | 1994-04-27 | 1994-04-27 | プラズマエッチング用電極板及びその製造法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07292484A true JPH07292484A (ja) | 1995-11-07 |
Family
ID=13977452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6089679A Pending JPH07292484A (ja) | 1994-04-27 | 1994-04-27 | プラズマエッチング用電極板及びその製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07292484A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998008772A1 (en) * | 1996-08-28 | 1998-03-05 | Nisshinbo Industries, Inc. | Glassy carbon and process for the preparation thereof |
-
1994
- 1994-04-27 JP JP6089679A patent/JPH07292484A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998008772A1 (en) * | 1996-08-28 | 1998-03-05 | Nisshinbo Industries, Inc. | Glassy carbon and process for the preparation thereof |
| KR100430460B1 (ko) * | 1996-08-28 | 2004-07-19 | 닛신보세키 가부시키 가이샤 | 유리형상탄소및그제조방법,자기기록매체용기판및플라즈머에칭용전극판 |
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