JPH07296032A - 論理モデル検証装置 - Google Patents
論理モデル検証装置Info
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- JPH07296032A JPH07296032A JP6109161A JP10916194A JPH07296032A JP H07296032 A JPH07296032 A JP H07296032A JP 6109161 A JP6109161 A JP 6109161A JP 10916194 A JP10916194 A JP 10916194A JP H07296032 A JPH07296032 A JP H07296032A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】論理モデルの機能記述が正否を自動で検証する
装置を提供する。 【構成】被テストライブラリから単独ライブラリを生成
する単独ライブラリ抽出手段と、前記単独ライブラリの
論理モデルの入出力ピン数を計数し、HDL機能記述群
テンプレートより、HDL機能記述群を抽出するHDL
機能記述群抽出手段と、前記単独ライブラリを用いHD
L機能記述群の論理合成を行い、ネットリストを生成す
る論理合成ツールと、前記ネットリストについて、シミ
ュレーションを行い、第1の結果を得る第1のシミュレ
ーション手段と、前記HDL機能記述について、シミュ
レーションを行い、第2の結果を得る第2のシミュレー
ション手段と、前記第1の結果と前記第2の結果を、比
較して検証結果を得る結果比較手段と、から構成される
ことを特徴とする論理モデル検証装置。
装置を提供する。 【構成】被テストライブラリから単独ライブラリを生成
する単独ライブラリ抽出手段と、前記単独ライブラリの
論理モデルの入出力ピン数を計数し、HDL機能記述群
テンプレートより、HDL機能記述群を抽出するHDL
機能記述群抽出手段と、前記単独ライブラリを用いHD
L機能記述群の論理合成を行い、ネットリストを生成す
る論理合成ツールと、前記ネットリストについて、シミ
ュレーションを行い、第1の結果を得る第1のシミュレ
ーション手段と、前記HDL機能記述について、シミュ
レーションを行い、第2の結果を得る第2のシミュレー
ション手段と、前記第1の結果と前記第2の結果を、比
較して検証結果を得る結果比較手段と、から構成される
ことを特徴とする論理モデル検証装置。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】ASIC等の半導体集積回路を設
計する分野において使用する装置に関する。特に、ハー
ドウエア記述言語、論理式、真理値表等の高位レベルの
設計データから論理図、ネットリスト等の論理回路を自
動生成する論理合成ツール等で用いる論理モデルを集め
たライブラリにおいて、論理モデルの機能記述の検証を
行う装置に関する。
計する分野において使用する装置に関する。特に、ハー
ドウエア記述言語、論理式、真理値表等の高位レベルの
設計データから論理図、ネットリスト等の論理回路を自
動生成する論理合成ツール等で用いる論理モデルを集め
たライブラリにおいて、論理モデルの機能記述の検証を
行う装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、LSIを始めとする半導体集積回
路の設計において、HDL(ハードウエア記述言語)記
述から論理合成により回路を生成する手法が脚光を浴び
てきた。図8はHDL記述による設計データの一例を示
す図である。図8において、第1行目は設計されるモジ
ュール名がカウンター(COUNTER_4)であるこ
とを示している。第2〜6行目は、パラメータとしての
SIZEに4が代入されており、入力は、INとCLR
であり、出力は、OUTで0〜3の値をとり、その値が
繰り返すことを示している。
路の設計において、HDL(ハードウエア記述言語)記
述から論理合成により回路を生成する手法が脚光を浴び
てきた。図8はHDL記述による設計データの一例を示
す図である。図8において、第1行目は設計されるモジ
ュール名がカウンター(COUNTER_4)であるこ
とを示している。第2〜6行目は、パラメータとしての
SIZEに4が代入されており、入力は、INとCLR
であり、出力は、OUTで0〜3の値をとり、その値が
繰り返すことを示している。
【0003】また第7行以降は、このカウンターは、I
N又はCLRに入力されるパルス信号の立ち上がりによ
って動作を開始し、その信号がCLRに入力された場合
には出力OUTは0となり、INに入力された場合には
出力には1が加算されることを示している。以上説明し
たような設計データから論理合成ツールによって自動で
論理回路が合成される。
N又はCLRに入力されるパルス信号の立ち上がりによ
って動作を開始し、その信号がCLRに入力された場合
には出力OUTは0となり、INに入力された場合には
出力には1が加算されることを示している。以上説明し
たような設計データから論理合成ツールによって自動で
論理回路が合成される。
【0004】図9は、図8の設計データに基づいて論理
合成ツールにおいて合成された論理回路を示す図であ
る。図9において、論理記号で示されたNAND、NO
R、NOT、FF等は、論理回路の合成において設計部
品として用いられた論理モデルである。ライブラリはこ
れら論理モデルを集めたものである。このように半導体
集積回路におけるモジュールの論理回路設計は、設計デ
ータとしてモジュールの機能記述を行うことによって、
その機能記述から論理合成ツールによって論理回路を合
成することができる。
合成ツールにおいて合成された論理回路を示す図であ
る。図9において、論理記号で示されたNAND、NO
R、NOT、FF等は、論理回路の合成において設計部
品として用いられた論理モデルである。ライブラリはこ
れら論理モデルを集めたものである。このように半導体
集積回路におけるモジュールの論理回路設計は、設計デ
ータとしてモジュールの機能記述を行うことによって、
その機能記述から論理合成ツールによって論理回路を合
成することができる。
【0005】
【本発明が解決しようとする課題】ところで、ユーザと
しては任意に選択した半導体メーカーが提供するライブ
ラリを用いて任意に選択したCAD開発メーカーが提供
する論理合成ツールによって論理回路を合成することが
できることが望ましい。そのためには半導体メーカーの
数と論理合成ツールの数を掛け合わせた数のライブラリ
を必要とするが、メーカーにおいては全てが用意されて
いるわけではない。
しては任意に選択した半導体メーカーが提供するライブ
ラリを用いて任意に選択したCAD開発メーカーが提供
する論理合成ツールによって論理回路を合成することが
できることが望ましい。そのためには半導体メーカーの
数と論理合成ツールの数を掛け合わせた数のライブラリ
を必要とするが、メーカーにおいては全てが用意されて
いるわけではない。
【0006】従ってユーザとしては必要に応じてライブ
ラリを作成することになるが、作成されたライブラリに
含まれている論理モデルの機能を自動的に検証する方法
はなく、論理モデル設計者の目視によって論理モデルの
検証を論理モデルごとに行っているのが現状である。こ
のため、検証は効率が悪く、信頼性も低いものであっ
た。そこで本発明の目的は、論理モデルの機能記述が正
しいか否かを自動で検証する装置を提供することにあ
る。
ラリを作成することになるが、作成されたライブラリに
含まれている論理モデルの機能を自動的に検証する方法
はなく、論理モデル設計者の目視によって論理モデルの
検証を論理モデルごとに行っているのが現状である。こ
のため、検証は効率が悪く、信頼性も低いものであっ
た。そこで本発明の目的は、論理モデルの機能記述が正
しいか否かを自動で検証する装置を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的は下記の本発明
によって達成される。即ち、論理合成用の被テストライ
ブラリからテストする個々の論理合成用の論理モデルを
抽出して単独ライブラリを生成する単独ライブラリ抽出
手段と、前記単独ライブラリの論理モデルの入出力ピン
数を計数し、HDL機能記述群テンプレートより、ピン
数が対応するHDL機能記述群を抽出するHDL機能記
述群抽出手段と、前記単独ライブラリを用い、前記HD
L機能記述群の論理合成を行い、ネットリストを生成す
る論理合成ツールと、前記ネットリストについて、それ
に対応するシミュレーションテストパターンと論理シミ
ュレーション用の論理モデルを用いシミュレーションを
行い、第1の結果を得る第1のシミュレーション手段
と、前記論理合成されたHDL機能記述について、前記
シミュレーションテストパターンを用いシミュレーショ
ンを行い、第2の結果を得る第2のシミュレーション手
段と、前記第1の結果と前記第2の結果を比較して検証
結果を得る結果比較手段と、前記検証結果を出力する出
力手段と、から構成されることを特徴とする論理モデル
検証装置。
によって達成される。即ち、論理合成用の被テストライ
ブラリからテストする個々の論理合成用の論理モデルを
抽出して単独ライブラリを生成する単独ライブラリ抽出
手段と、前記単独ライブラリの論理モデルの入出力ピン
数を計数し、HDL機能記述群テンプレートより、ピン
数が対応するHDL機能記述群を抽出するHDL機能記
述群抽出手段と、前記単独ライブラリを用い、前記HD
L機能記述群の論理合成を行い、ネットリストを生成す
る論理合成ツールと、前記ネットリストについて、それ
に対応するシミュレーションテストパターンと論理シミ
ュレーション用の論理モデルを用いシミュレーションを
行い、第1の結果を得る第1のシミュレーション手段
と、前記論理合成されたHDL機能記述について、前記
シミュレーションテストパターンを用いシミュレーショ
ンを行い、第2の結果を得る第2のシミュレーション手
段と、前記第1の結果と前記第2の結果を比較して検証
結果を得る結果比較手段と、前記検証結果を出力する出
力手段と、から構成されることを特徴とする論理モデル
検証装置。
【0008】
【作用】本発明の論理モデル検証装置によれば、単独ラ
イブラリ抽出手段により、論理合成用の被テストライブ
ラリからテストする個々の論理合成用の論理モデルを抽
出して単独ライブラリが生成され、HDL機能記述群抽
出手段により、前記単独ライブラリの論理モデルの入出
力ピン数を計数し、HDL機能記述群テンプレートよ
り、ピン数が対応するHDL機能記述群が抽出され、論
理合成ツールにより、前記単独ライブラリを用い、前記
HDL機能記述群の論理合成を行い、ネットリストが生
成され、第1のシミュレーション手段により、前記ネッ
トリストについて、それに対応するシミュレーションテ
ストパターンと論理シミュレーション用の論理モデルを
用いシミュレーションを行い、第1の結果が得られ、第
2のシミュレーション手段により、前記論理合成された
HDL機能記述について、前記シミュレーションテスト
パターンを用いシミュレーションを行い、第2の結果が
得られ、結果比較手段により、前記第1の結果と前記第
2の結果を比較して検証結果が得られ、出力手段によ
り、前記検証結果が出力される。そして、以上の処理過
程を検証済み以外の論理モジュールについて繰り返すこ
とによって、全ての論理モジュールの検証結果を得るこ
とができる。
イブラリ抽出手段により、論理合成用の被テストライブ
ラリからテストする個々の論理合成用の論理モデルを抽
出して単独ライブラリが生成され、HDL機能記述群抽
出手段により、前記単独ライブラリの論理モデルの入出
力ピン数を計数し、HDL機能記述群テンプレートよ
り、ピン数が対応するHDL機能記述群が抽出され、論
理合成ツールにより、前記単独ライブラリを用い、前記
HDL機能記述群の論理合成を行い、ネットリストが生
成され、第1のシミュレーション手段により、前記ネッ
トリストについて、それに対応するシミュレーションテ
ストパターンと論理シミュレーション用の論理モデルを
用いシミュレーションを行い、第1の結果が得られ、第
2のシミュレーション手段により、前記論理合成された
HDL機能記述について、前記シミュレーションテスト
パターンを用いシミュレーションを行い、第2の結果が
得られ、結果比較手段により、前記第1の結果と前記第
2の結果を比較して検証結果が得られ、出力手段によ
り、前記検証結果が出力される。そして、以上の処理過
程を検証済み以外の論理モジュールについて繰り返すこ
とによって、全ての論理モジュールの検証結果を得るこ
とができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明について好適な実施例を挙げて
説明する。図1は本発明の論理モデル検証装置のハード
ウエア構成を示す図である。図1において、1はエンジ
ニアリングワークステーション、パーソナルコンピュー
ター等のコンピューターの本体である演算処理装置、
2、3はコンピューターの本体に接続された入力装置で
あるキーボード、マウス、4はCRTカラーディスプレ
イモニター等の表示装置、5はフロッピーディスク装置
であるFD装置、6は固定磁気ディスク装置等の記憶装
置、7はプリンター、8がイーサーネット等のLAN
(ローカルエリアネットワーク)である。
説明する。図1は本発明の論理モデル検証装置のハード
ウエア構成を示す図である。図1において、1はエンジ
ニアリングワークステーション、パーソナルコンピュー
ター等のコンピューターの本体である演算処理装置、
2、3はコンピューターの本体に接続された入力装置で
あるキーボード、マウス、4はCRTカラーディスプレ
イモニター等の表示装置、5はフロッピーディスク装置
であるFD装置、6は固定磁気ディスク装置等の記憶装
置、7はプリンター、8がイーサーネット等のLAN
(ローカルエリアネットワーク)である。
【0010】図1のハードウエア構成において本発明の
論理モデル検証装置は図2に示す処理を行う。図2は本
発明の論理モデル検証装置による処理過程を示すフロー
図である。図2において、9は論理合成用の被テストラ
イブラリ、10はHDL機能記述群テンプレート、11
は単独ライブラリ、12はHDL機能記述群、13はシ
ミュレーション用の論理モデル、14はネットリスト、
15は単独ライブラリが合成されたHDL機能記述、1
6は論理シミュレーション用のテストパターン、17は
データファイル等の検証結果である。
論理モデル検証装置は図2に示す処理を行う。図2は本
発明の論理モデル検証装置による処理過程を示すフロー
図である。図2において、9は論理合成用の被テストラ
イブラリ、10はHDL機能記述群テンプレート、11
は単独ライブラリ、12はHDL機能記述群、13はシ
ミュレーション用の論理モデル、14はネットリスト、
15は単独ライブラリが合成されたHDL機能記述、1
6は論理シミュレーション用のテストパターン、17は
データファイル等の検証結果である。
【0011】これら9〜16は記憶装置6に格納され
た、あるいは格納されるデータファイルであって、本発
明の処理が行われる際は演算処理装置1に読込まれ、あ
るいは書込まれる。17は処理を行った後に得られるシ
ミュレーション結果のデータであってデータファイルと
してFD装置5または記憶装置6に格納され、あるいは
プリントアウトされる。また図2において、、18は単
独ライブラリ抽出手段、19はHDL機能記述群抽出手
段、20は論理合成ツール、21は第1のシミュレーシ
ョン手段、22は第2のシミュレーション手段、23は
結果比較手段、24は出力手段である。これら18〜2
4は図1の演算処理装置1に組み込まれているソフトウ
エアであって、これらによって図2における処理が実行
される。
た、あるいは格納されるデータファイルであって、本発
明の処理が行われる際は演算処理装置1に読込まれ、あ
るいは書込まれる。17は処理を行った後に得られるシ
ミュレーション結果のデータであってデータファイルと
してFD装置5または記憶装置6に格納され、あるいは
プリントアウトされる。また図2において、、18は単
独ライブラリ抽出手段、19はHDL機能記述群抽出手
段、20は論理合成ツール、21は第1のシミュレーシ
ョン手段、22は第2のシミュレーション手段、23は
結果比較手段、24は出力手段である。これら18〜2
4は図1の演算処理装置1に組み込まれているソフトウ
エアであって、これらによって図2における処理が実行
される。
【0012】以下、本発明の論理モデル検証装置につい
て、各構成手段ごとに詳細を説明する。 §1.単独ライブラリ抽出手段 単独ライブラリ抽出手段18によって、論理合成用の被
テストライブラリ9からテストする個々の論理合成用の
論理モデルを抽出して単独ライブラリ11が生成され
る。抽出するときは、すでに検証が済んでいる論理モデ
ル以外の論理モデルが抽出されるように行われる。そう
することによって、以下に説明する検証処理を繰り返す
ことで、被テストライブラリに含まれる全ての論理モデ
ルの検証処理を行うことができる。
て、各構成手段ごとに詳細を説明する。 §1.単独ライブラリ抽出手段 単独ライブラリ抽出手段18によって、論理合成用の被
テストライブラリ9からテストする個々の論理合成用の
論理モデルを抽出して単独ライブラリ11が生成され
る。抽出するときは、すでに検証が済んでいる論理モデ
ル以外の論理モデルが抽出されるように行われる。そう
することによって、以下に説明する検証処理を繰り返す
ことで、被テストライブラリに含まれる全ての論理モデ
ルの検証処理を行うことができる。
【0013】図3は論理合成用の被テストライブラリ9
の中身の一部を一例として示す図である。図3におい
て、第1行目はライブラリの名称がMODELであるこ
とを示している。また第2〜4行目は半導体集積回路の
製造プロセスが「1」で示されるプロセスであること、
特性解析が行われたときの条件が周囲温度26℃、駆動
電圧3.0ボルトであることを示している。そして、第
5行目は論理モデル名としてのセル名であって、この場
合はNANDである。図3においては、他にセル名とし
てDFF(D─プフリップフロップ)、INV(インバ
ータ)、LATCH(ラッチ)が記述されている。
の中身の一部を一例として示す図である。図3におい
て、第1行目はライブラリの名称がMODELであるこ
とを示している。また第2〜4行目は半導体集積回路の
製造プロセスが「1」で示されるプロセスであること、
特性解析が行われたときの条件が周囲温度26℃、駆動
電圧3.0ボルトであることを示している。そして、第
5行目は論理モデル名としてのセル名であって、この場
合はNANDである。図3においては、他にセル名とし
てDFF(D─プフリップフロップ)、INV(インバ
ータ)、LATCH(ラッチ)が記述されている。
【0014】論理モデルはHDLによって記述され、H
DLによってモジュールを設計する際に用いられる部品
データである。図4は論理合成用の被テストライブラリ
9のから生成された単独ライブラリ11の一例(NAN
D)を示す図である。この例は論理モデルとしてNAN
D論理をHDLによって記述したものである。図3にお
いて、第1〜7行目は、論理モデル名としてのセル名称
がNANDで、セルの面積が300、I1、I2はとも
に入力でファンアウトが1.1、容量が0.03である
ことを示している。また第13行目以降は、O1が出力
でファンアウトが10、機能が「(I1&I2)’」即
ちI1とI2のAND論理の否定でありNAND論理で
あることが記述されている。
DLによってモジュールを設計する際に用いられる部品
データである。図4は論理合成用の被テストライブラリ
9のから生成された単独ライブラリ11の一例(NAN
D)を示す図である。この例は論理モデルとしてNAN
D論理をHDLによって記述したものである。図3にお
いて、第1〜7行目は、論理モデル名としてのセル名称
がNANDで、セルの面積が300、I1、I2はとも
に入力でファンアウトが1.1、容量が0.03である
ことを示している。また第13行目以降は、O1が出力
でファンアウトが10、機能が「(I1&I2)’」即
ちI1とI2のAND論理の否定でありNAND論理で
あることが記述されている。
【0015】また、図5は論理合成用の被テストライブ
ラリ9のから生成された単独ライブラリ11の一例(D
FF)を示す図である。図5においてセル名称がDFF
(D─フリップフロップ)で、セルの面積が1500、
CLK、D、CLRはともに入力で容量が0.0である
ことを示している。また第15行目以降は、機能の記述
とQが出力であることが記述されている。本発明は、上
記のような論理モデルに対応するライブラリに登録され
ている論理名と上述の論理モデルの記述における論理の
機能記述とが一致していて正しいか否かを検証するもの
である。
ラリ9のから生成された単独ライブラリ11の一例(D
FF)を示す図である。図5においてセル名称がDFF
(D─フリップフロップ)で、セルの面積が1500、
CLK、D、CLRはともに入力で容量が0.0である
ことを示している。また第15行目以降は、機能の記述
とQが出力であることが記述されている。本発明は、上
記のような論理モデルに対応するライブラリに登録され
ている論理名と上述の論理モデルの記述における論理の
機能記述とが一致していて正しいか否かを検証するもの
である。
【0016】§2.HDL機能記述群抽出手段 HDL機能記述群抽出手段19により、前記単独ライブ
ラリ11の論理モデルの入出力ピン数が計数され、HD
L機能記述群テンプレート10より、対応するピン数の
HDL機能記述群12が抽出される。図6は、HDL機
能記述群抽出手段19によって生成されたピン数が3の
HDL機能記述群12の一例を示す図である。また図
7、HDL機能記述群抽出手段19によって生成された
ピン数が4のHDL機能記述群12の一例を示す図であ
る。HDL機能記述群テンプレート10は、これら図
6、図7に示すようなHDL機能記述群12の集合であ
る。
ラリ11の論理モデルの入出力ピン数が計数され、HD
L機能記述群テンプレート10より、対応するピン数の
HDL機能記述群12が抽出される。図6は、HDL機
能記述群抽出手段19によって生成されたピン数が3の
HDL機能記述群12の一例を示す図である。また図
7、HDL機能記述群抽出手段19によって生成された
ピン数が4のHDL機能記述群12の一例を示す図であ
る。HDL機能記述群テンプレート10は、これら図
6、図7に示すようなHDL機能記述群12の集合であ
る。
【0017】図4において、セルNANDのピンは、p
in(I1)、pin(I2)、pin(O1)と記述
されているから、ピン数は3である。従って、HDL機
能記述群テンプレート10において、モジュール名(m
odule名) 3pinsが検索され、図6に示すHD
L機能記述群12が抽出される。図6において、in1
_1、in2_1、out_1、in1_2、in2_
2、out_2、in_3、out_3、clk_3は
入出力ピンであって、inは入力を、outは出力を示
している。またinまたはoutの直後の数値は1つの
HDL機能記述内に複数の入出力ピンがある場合の区別
の為に付されたものであり、_の直後の数値は複数のH
DL機能記述からなるHDL機能記述群において、HD
L機能記述を特定するために付されたものである。図6
の例においては、HDL機能記述は、2NAND(2入
力のNAND論理)、2NOR(2入力のNOR論
理)、D Flip−Flop(Dフリップフロップ)
について機能が記述されている。
in(I1)、pin(I2)、pin(O1)と記述
されているから、ピン数は3である。従って、HDL機
能記述群テンプレート10において、モジュール名(m
odule名) 3pinsが検索され、図6に示すHD
L機能記述群12が抽出される。図6において、in1
_1、in2_1、out_1、in1_2、in2_
2、out_2、in_3、out_3、clk_3は
入出力ピンであって、inは入力を、outは出力を示
している。またinまたはoutの直後の数値は1つの
HDL機能記述内に複数の入出力ピンがある場合の区別
の為に付されたものであり、_の直後の数値は複数のH
DL機能記述からなるHDL機能記述群において、HD
L機能記述を特定するために付されたものである。図6
の例においては、HDL機能記述は、2NAND(2入
力のNAND論理)、2NOR(2入力のNOR論
理)、D Flip−Flop(Dフリップフロップ)
について機能が記述されている。
【0018】同様に図5において、セルDFFのピン
は、pin(CLK)、pin(D)、pin(RES
ET)、pin(Q)であるから、ピン数は4である。
従って、HDL機能記述群テンプレート10において、
モジュール名(module名) 4pinsが検索さ
れ、図7に示すHDL機能記述群12が抽出される。図
7の例においては、HDL機能記述は、D Flip−
Flop withasynchronous res
et(非同期リセット付きDフリップフロップ)、D
Flip−Flop with asynchrono
us set(非同期セット付きDフリップフロップ)
について機能が記述されている。
は、pin(CLK)、pin(D)、pin(RES
ET)、pin(Q)であるから、ピン数は4である。
従って、HDL機能記述群テンプレート10において、
モジュール名(module名) 4pinsが検索さ
れ、図7に示すHDL機能記述群12が抽出される。図
7の例においては、HDL機能記述は、D Flip−
Flop withasynchronous res
et(非同期リセット付きDフリップフロップ)、D
Flip−Flop with asynchrono
us set(非同期セット付きDフリップフロップ)
について機能が記述されている。
【0019】§3.論理合成ツール 論理合成ツール20によって、図4(または図5)に示
す論理合成用の単独ライブラリを用い、図6(または図
7)に示すHDL機能記述群の論理合成を行い、ネット
リスト14が生成される。また、そのとき論理合成され
た(マッピングされた)HDL機能記述群12のHDL
機能記述が抽出され、単独ライブラリが合成されたHD
L機能記述15が生成される。
す論理合成用の単独ライブラリを用い、図6(または図
7)に示すHDL機能記述群の論理合成を行い、ネット
リスト14が生成される。また、そのとき論理合成され
た(マッピングされた)HDL機能記述群12のHDL
機能記述が抽出され、単独ライブラリが合成されたHD
L機能記述15が生成される。
【0020】単独ライブラリ11が2入力のNANDで
あれば、その単独ライブラリ11を使ってHDL機能記
述群12の論理合成を行うと、HDL機能記述の中で2
入力のNANDについてはマッピングを行うことができ
る。一方、他のHDL機能記述については、単独ライブ
ラリ11は2入力のNANDだけであるから、マッピン
グを行うことができない。すなわち、単独ライブラリ1
1を使ってHDL機能記述群12の論理合成を行うと、
マッピングが可能な単独ライブラリ11と論理が一致す
るHDL機能記述のネットリストだけが合成後得られる
こととなる。図2の論理合成ツール20の図に示されて
いるように、単独ライブラリ11のNANDはHDL機
能記述のnandにはマッピングされるが、他のHDL
機能記述にはマッピングされず、ネットリスト14はN
ANDのみのネットリスト14となる。
あれば、その単独ライブラリ11を使ってHDL機能記
述群12の論理合成を行うと、HDL機能記述の中で2
入力のNANDについてはマッピングを行うことができ
る。一方、他のHDL機能記述については、単独ライブ
ラリ11は2入力のNANDだけであるから、マッピン
グを行うことができない。すなわち、単独ライブラリ1
1を使ってHDL機能記述群12の論理合成を行うと、
マッピングが可能な単独ライブラリ11と論理が一致す
るHDL機能記述のネットリストだけが合成後得られる
こととなる。図2の論理合成ツール20の図に示されて
いるように、単独ライブラリ11のNANDはHDL機
能記述のnandにはマッピングされるが、他のHDL
機能記述にはマッピングされず、ネットリスト14はN
ANDのみのネットリスト14となる。
【0021】§4.第1のシミュレーション手段 第1のシミュレーション手段21により、ネットリスト
14について、それに対応するシミュレーションテスト
パターン16と論理シミュレーション用の論理モデルを
用いシミュレーションを行い、第1の結果が得られる。
14について、それに対応するシミュレーションテスト
パターン16と論理シミュレーション用の論理モデルを
用いシミュレーションを行い、第1の結果が得られる。
【0022】シミュレーションテストパターン16は、
HDL機能記述群テンプレート10のHDL機能記述と
1対1の関係で用意されている。図2に示すように、H
DL機能記述群テンプレート10のHDL機能記述、i
nv、nand、nor、and、or、dffの各々
に対して、シミュレーションテストパターン16にはi
nv.pat、nand.pat、nor.pat、a
nd.pat、or.pat、dff.patが用意さ
れている。従って、ネットリスト14がNANDであれ
ばシミュレーションテストパターン16としてはnan
d.patが選択されて、シミュレーションが行われ
る。
HDL機能記述群テンプレート10のHDL機能記述と
1対1の関係で用意されている。図2に示すように、H
DL機能記述群テンプレート10のHDL機能記述、i
nv、nand、nor、and、or、dffの各々
に対して、シミュレーションテストパターン16にはi
nv.pat、nand.pat、nor.pat、a
nd.pat、or.pat、dff.patが用意さ
れている。従って、ネットリスト14がNANDであれ
ばシミュレーションテストパターン16としてはnan
d.patが選択されて、シミュレーションが行われ
る。
【0023】例えば表1に示すようにパターンが与えら
れて、表1に示すように第1の結果が得られる。
れて、表1に示すように第1の結果が得られる。
【表1】 表1に示すように、シミュレーションされるネットリス
トNANDが可能な全ての状態を取り得るようなパター
ンを、パターンnand.patは有している。他のシ
ミュレーションテストパターン16においても同様であ
る。
トNANDが可能な全ての状態を取り得るようなパター
ンを、パターンnand.patは有している。他のシ
ミュレーションテストパターン16においても同様であ
る。
【0024】もう1つの例として、非同期リセット付き
Dフリップフロップのシミュレーションテストパターン
16であるdff.patの場合のパターンを下記の表
2に示す。
Dフリップフロップのシミュレーションテストパターン
16であるdff.patの場合のパターンを下記の表
2に示す。
【表2】 表2に示すようにパターン(in,clk,rese
t)が与えられて、表2に示すように結果outが得ら
れる。 resetが1の場合においてinが0でclkがL
owからHighに立ち上がるとoutは0、res
etが1の場合においてinが1でclkがLowから
Highに立ち上がるとoutは1、resetが0
の場合はin、clkに係わらずoutは0である。
t)が与えられて、表2に示すように結果outが得ら
れる。 resetが1の場合においてinが0でclkがL
owからHighに立ち上がるとoutは0、res
etが1の場合においてinが1でclkがLowから
Highに立ち上がるとoutは1、resetが0
の場合はin、clkに係わらずoutは0である。
【0025】§5.第2のシミュレーション手段 第2のシミュレーション手段22により、抽出された単
独ライブラリ11がマッピングされたHDL機能記述1
5について、第1のシミュレーション手段で用いられた
と同じシミュレーションテストパターン16を用いシミ
ュレーションを行い、第2の結果が得られる。
独ライブラリ11がマッピングされたHDL機能記述1
5について、第1のシミュレーション手段で用いられた
と同じシミュレーションテストパターン16を用いシミ
ュレーションを行い、第2の結果が得られる。
【0026】§6.結果比較手段及び出力手段 結果比較手段23により、上記第1の結果と上記第2の
結果が同一パターンの出力どうしの出力値がが同一であ
るか否かが比較され、検証結果が得られる。そして出力
手段24により、その検証結果が出力される。出力形態
は、表示装置4の表示画面、データファイル、あるいは
プリントアウトされたリストとして出力される。
結果が同一パターンの出力どうしの出力値がが同一であ
るか否かが比較され、検証結果が得られる。そして出力
手段24により、その検証結果が出力される。出力形態
は、表示装置4の表示画面、データファイル、あるいは
プリントアウトされたリストとして出力される。
【0027】出力される内容としては、被テストライブ
ラリの名称、テストされた論理モデルの名称、基準ライ
ブラリの名称、テストに使用された基準ライブラリの論
理モデルの名称、結果比較手段23によって判定した結
果の正否の別、判定が否の場合は、否の場合のテストパ
ターン、否と判定された論理モデルの名称等である。
ラリの名称、テストされた論理モデルの名称、基準ライ
ブラリの名称、テストに使用された基準ライブラリの論
理モデルの名称、結果比較手段23によって判定した結
果の正否の別、判定が否の場合は、否の場合のテストパ
ターン、否と判定された論理モデルの名称等である。
【0028】そして、以上の処理過程§1.〜§6.を
検証済み以外の論理モジュールについて繰り返すことに
よって、全ての論理モジュールの検証結果を得ることが
できる。出力手段24による検証結果の出力は、前述の
ように一つの論理モジュールを検証するごとに逐次出力
する方法であっても、また全ての論理モジュールの検証
後に一括して出力する方法であってもよい。
検証済み以外の論理モジュールについて繰り返すことに
よって、全ての論理モジュールの検証結果を得ることが
できる。出力手段24による検証結果の出力は、前述の
ように一つの論理モジュールを検証するごとに逐次出力
する方法であっても、また全ての論理モジュールの検証
後に一括して出力する方法であってもよい。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、人
による判定を必要とせず自動的に、かつ被テストライブ
ラリ中の複数の論理モデルについて検証を行う事ができ
る。またHDL機能記述群のテンプレートが、全ての論
理モデルの機能を網羅していれば、上述したような逐次
処理により全ての論理モデルの検証をおこなうことがで
きる。従って、検証の信頼性が高く、効率が良い。ま
た、検証作業を行う上で、各論理モデルの機能を知って
理解する必要が無く、検証作業を単に決められた手順に
従って行えばよいから、検証作業者の習熟度による差異
が無い。
による判定を必要とせず自動的に、かつ被テストライブ
ラリ中の複数の論理モデルについて検証を行う事ができ
る。またHDL機能記述群のテンプレートが、全ての論
理モデルの機能を網羅していれば、上述したような逐次
処理により全ての論理モデルの検証をおこなうことがで
きる。従って、検証の信頼性が高く、効率が良い。ま
た、検証作業を行う上で、各論理モデルの機能を知って
理解する必要が無く、検証作業を単に決められた手順に
従って行えばよいから、検証作業者の習熟度による差異
が無い。
【図1】本発明の論理モデル検証装置のハードウエア構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図2】本発明の論理モデル検証装置による処理過程を
示すフロー図である。
示すフロー図である。
【図3】論理合成用の被テストライブラリの中身の一部
を示す図である。
を示す図である。
【図4】論理合成用の被テストライブラリから生成され
た単独ライブラリの一例(NAND)を示す図である。
た単独ライブラリの一例(NAND)を示す図である。
【図5】論理合成用の被テストライブラリから生成され
た単独ライブラリの一例(DFF)を示す図である。
た単独ライブラリの一例(DFF)を示す図である。
【図6】HDL機能記述群抽出手段によって生成された
ピン数が3のHDL機能記述群を示す図である。
ピン数が3のHDL機能記述群を示す図である。
【図7】HDL機能記述群抽出手段によって生成された
ピン数が4のHDL機能記述群を示す図である。
ピン数が4のHDL機能記述群を示す図である。
【図8】HDL記述による設計データの一例を示す図で
ある。
ある。
【図9】論理合成ツールにおいて合成された論理回路の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
1 演算処理装置 2 キーボード 3 マウス 4 表示装置 5 FD装置 6 記憶装置 7 プリンター 8 LAN 9 論理合成用の被テストライブラリ 10 HDL機能記述群テンプレート 11 単独ライブラリ 12 HDL機能記述群 13 シミュレーション用の論理モデル 14 ネットリスト 15 HDL機能記述 16 シミュレーションテストパターン 17 検証結果 18 単独ライブラリ生成手段 19 HDL機能記述群抽出手段 20 論理合成ツール 21 第1のシミュレーション手段 22 第2のシミュレーション手段 23 結果比較手段 24 出力手段
Claims (1)
- 【請求項1】論理合成用の被テストライブラリからテス
トする個々の論理合成用の論理モデルを抽出して単独ラ
イブラリを生成する単独ライブラリ抽出手段と、 前記単独ライブラリの論理モデルの入出力ピン数を計数
し、HDL機能記述群テンプレートより、ピン数が対応
するHDL機能記述群を抽出するHDL機能記述群抽出
手段と、 前記単独ライブラリを用い、前記HDL機能記述群の論
理合成を行い、ネットリストを生成する論理合成ツール
と、 前記ネットリストについて、それに対応するシミュレー
ションテストパターンと論理シミュレーション用の論理
モデルを用いシミュレーションを行い、第1の結果を得
る第1のシミュレーション手段と、 前記論理合成されたHDL機能記述について、前記シミ
ュレーションテストパターンを用いシミュレーションを
行い、第2の結果を得る第2のシミュレーション手段
と、 前記第1の結果と前記第2の結果を比較して検証結果を
得る結果比較手段と、 前記検証結果を出力する出力手段と、 から構成されることを特徴とする論理モデル検証装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6109161A JPH07296032A (ja) | 1994-04-26 | 1994-04-26 | 論理モデル検証装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6109161A JPH07296032A (ja) | 1994-04-26 | 1994-04-26 | 論理モデル検証装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07296032A true JPH07296032A (ja) | 1995-11-10 |
Family
ID=14503196
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6109161A Pending JPH07296032A (ja) | 1994-04-26 | 1994-04-26 | 論理モデル検証装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07296032A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2362728A (en) * | 1999-10-29 | 2001-11-28 | Sgs Thomson Microelectronics | Verifying the accuracy of a digital model of an integrated circuit |
| JP2010157194A (ja) * | 2009-01-05 | 2010-07-15 | Ricoh Co Ltd | シミュレーション用ネットリスト生成装置 |
-
1994
- 1994-04-26 JP JP6109161A patent/JPH07296032A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2362728A (en) * | 1999-10-29 | 2001-11-28 | Sgs Thomson Microelectronics | Verifying the accuracy of a digital model of an integrated circuit |
| GB2362728B (en) * | 1999-10-29 | 2002-04-24 | Sgs Thomson Microelectronics | A method of verifying the accuracy of a digital model |
| JP2010157194A (ja) * | 2009-01-05 | 2010-07-15 | Ricoh Co Ltd | シミュレーション用ネットリスト生成装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030325 |