JPH072964U - 光学式回路欠陥検査装置 - Google Patents

光学式回路欠陥検査装置

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JPH072964U
JPH072964U JP3138993U JP3138993U JPH072964U JP H072964 U JPH072964 U JP H072964U JP 3138993 U JP3138993 U JP 3138993U JP 3138993 U JP3138993 U JP 3138993U JP H072964 U JPH072964 U JP H072964U
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JP
Japan
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printed wiring
wiring board
camera
circuit
light
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Pending
Application number
JP3138993U
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English (en)
Inventor
聡 堀江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Showa Denko Materials Co Ltd
Resonac Corp
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Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd, Showa Denko Materials Co Ltd, Resonac Corp filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 プリント配線板の回路を構成する銅箔の部分
的な厚さの変化や、表面状態を高精度に検査する。 【構成】 検査対象であるプリント配線板7に対し垂直
方向及び斜め上方向にハロゲン光リングライト2と、照
明用ハロゲンランプ6をそれぞれ配設する。さらに、こ
れらハロゲン光リングライト2と照明用ハロゲンランプ
6の前側には、偏光方向を90°異にした垂直方向の照
明用の第1の偏光フィルタ3と、斜め上方向の照明用の
第2の偏光フィルタ5をそれぞれ設置する。そして、こ
の第1の偏光フィルタ3の前側には、カメラ用偏光フィ
ルタ4を、ハロゲン光リングライト2の後側には、カラ
ーCCDカメラ1をそれぞれ配設する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、プリント配線板の回路欠陥を検査する光学式回路欠陥検査装置に関 するものである。
【0002】
【従来の技術】
プリント配線板の回路欠陥検査装置には、従来次の装置が知られている。その 1つは、検査対象であるプリント配線板に対し、垂直方向と斜め上方から同時に 光を照射し、正反射と乱反射を同時に1台のカメラで垂直方向より取込み処理を 行っている。 その2は、プリント配線板の基板に予め混入しておいた螢光物質の発する螢光 をカメラにより取込み処理を行っている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
しかし、前記2つの方法では、プリント配線板の回路を構成する銅箔が物理的 または化学的な理由により、例えば部分的に厚みが数10μm程度減少し、かつ その平面上の形状に変化がない場合、板面に対し垂直な方向から画像として厚み の変化をとらえることは困難であった。また、錆や研磨むらなどの銅箔の微小な 表面状態をとらえることが難しかった。
【0004】 本考案は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするとこ ろは、プリント配線板の回路の微小な欠陥も正確に検査することのできる光学式 の回路欠陥検査装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本考案に係る光学式回路欠陥検査装置は、上記の目的を達成するために、検査 対象であるプリント配線板の垂直方向及び斜め上方向にそれぞれ配設された第1 の光源及び第2の光源と、この第1及び第2の光源の前側に配設され、それぞれ 偏光方向を異にした第1の偏光フィルタ及び第2の偏光フィルタと、第1の偏光 フィルタの前側に設けられたカメラ用偏光フィルタと、プリント配線板の回路面 で反射されて、前記カメラ用偏光フィルタを透過し、このカメラ用偏光フィルタ で分離された反射光による回路面の画像を結像するカラーCCDカメラとを具備 してなる構成を特徴とするものである。
【0006】
【作用】
プリント配線板の垂直方向と斜め上方向からの照明光による回路面の画像を、 カラーCCDカメラに分離して取込むことにより、回路を構成する銅箔を立体的 にとらえ、回路の微小な厚みの変化や表面状態についても細かくとらえ、回路欠 陥の検査を行う。
【0007】
【実施例】
以下、本考案の実施例を図面に基づき詳細に説明する。 図1は、本考案に係るプリント配線板の回路欠陥検査装置の説明図であり、プ リント配線板7には、銅箔で回路8が形成されている。
【0008】 前記プリント配線板7の回路面に対し垂直方向に第1の光源として、ハロゲン 光リングライト2が設けられている。また、プリント配線板7の回路面に対し、 20°の斜め上方向に第2の光源として、ハロゲンランプ6が設けられている。
【0009】 このハロゲン光リングライト2の前側には、垂直方向に照明用の第1偏光フィ ルタ3が設けられ、この第1偏光フィルタ3の前側には、カメラ用フィルタ4が 設けられている。 さらに、ハロゲン光リングライト2の後側には、偏光レンズを備えたカラーC CDカメラ1が、このハロゲン光リングライト2と同軸に設けられている。
【0010】 一方、前記ハロゲンランプ6の前側には、斜め上方向に照明用の第2の偏光フ ィルタ5が設けられている。また、第1の偏光フィルタ3と第2の偏光フィルタ 5は、位相を90°異にして配設されている。
【0011】 本実施例はこのような構成からなり、次のように回路欠陥の検査を行う。 ハロゲン光リングライト2とハロゲンランプ6により、プリント配線板7の前 面に向けて照射される光は、垂直方向の照明用の第1の偏光フィルタ3と斜め上 方向の照明用の第2の偏光フィルタ5を通り、プリント配線板7の回路8に当た って反射される。この反射された光は、カメラ用偏光フィルタ4を通り、カラー CCDカメラ1に入射される。
【0012】 カラーCCDカメラ1では、偏光レンズを回転させながら、回路面からの反射 光を撮像する。 つまり、このカラーCCDカメラ1で、カメラ用偏光フィルタ4を透過したハ ロゲン光リングライト2及び、ハロゲンランプ6からの2つの光を受け、プリン ト配線板7の回路面の画像を結像する。 ここで得られたプリント配線板7の回路画像は、カラーCCDカメラ1によっ て信号化され、図示しない画像処理回路に送られる。
【0013】 画像処理回路では、カラーCCDカメラ1から入力された2つの画像が比較さ れ、各画像信号に基づきプリント配線板7の回路画像の輝度分布が二値化される などの処理が行われた後、前記回路を構成する銅箔の部分的な厚みの微小変化や 錆などによる表面状態の変化が判定される。
【0014】 本考案者らは、このようにして画像の比較を行い、プリント配線板の回路欠陥 の検査を行ったところ、約10μ薄くなった回路欠陥を良好に検出できた。さら に、回路面の研磨むらなどの表面状態の変化も、きめ細かくとらえることができ た。
【0015】
【考案の効果】
以上説明したように、本考案によると、従来の検査装置では検出が困難であっ たプリント配線板の回路を構成する銅箔の部分的な厚みの微小な変化をとらえる ことができる。
【0016】 さらに銅箔の表面状態の変化もより細かくとらえることができて、回路欠陥の 高精度の検査が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係るプリント配線板の回路欠陥検査装
置の説明図である。
【符号の説明】
1 カラーCCDカメラ 2 ハロゲン光リングライト 3 第1の偏光フィルタ 4 カメラ用偏光フィルタ 5 第2の偏光フィルタ 6 照明用ハロゲンランプ 7 プリント配線板

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検査対象であるプリント配線板の垂直方
    向及び斜め上方向にそれぞれ配設された第1の光源及び
    第2の光源と、この第1及び第2の光源の前側に配設さ
    れ、それぞれ偏光方向を異にした第1の偏光フィルタ及
    び第2の偏光フィルタと、第1の偏光フィルタの前側に
    設けられたカメラ用偏光フィルタと、プリント配線板の
    回路面で反射され、前記カメラ用偏光フィルタを透過
    し、このカメラ用偏光フィルタで分離された反射光によ
    る回路面の画像を結像するカラーCCDカメラとを具備
    してなる光学式回路欠陥検査装置。
JP3138993U 1993-06-11 1993-06-11 光学式回路欠陥検査装置 Pending JPH072964U (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10300688A (ja) * 1997-04-25 1998-11-13 Fujimori Kogyo Kk 光学式監視装置
JP2004125434A (ja) * 2002-09-30 2004-04-22 Ngk Spark Plug Co Ltd 電子回路用部品の外観検査方法及び外観検査装置並びに電子回路用部品の製造方法。

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10300688A (ja) * 1997-04-25 1998-11-13 Fujimori Kogyo Kk 光学式監視装置
JP2004125434A (ja) * 2002-09-30 2004-04-22 Ngk Spark Plug Co Ltd 電子回路用部品の外観検査方法及び外観検査装置並びに電子回路用部品の製造方法。

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