JPH07301595A - 粒子測定装置およびその粒子測定方法 - Google Patents

粒子測定装置およびその粒子測定方法

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JPH07301595A
JPH07301595A JP6095206A JP9520694A JPH07301595A JP H07301595 A JPH07301595 A JP H07301595A JP 6095206 A JP6095206 A JP 6095206A JP 9520694 A JP9520694 A JP 9520694A JP H07301595 A JPH07301595 A JP H07301595A
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hole
sliding plate
sample
holes
particle
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JP6095206A
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Shinichi Ogino
眞一 荻野
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Sysmex Corp
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    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10—Investigating individual particles
    • G01N15/1031—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
    • G01N15/12—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 摺動板の交換を簡略化して貫通孔を迅速かつ
容易に測定位置に配置可能であるとともに高い測定精度
を有する電気抵抗変化検出法による粒子測定装置および
その粒子測定方法を提供する。 【構成】 粒子測定装置１は、試料容器２の間に配置さ
れ試料懸濁液が通過可能な検出孔８〜１１を有する摺動
板３と、一対の電極４ａ，４ｂとを備え、摺動板３の検
出孔８〜１１が選択可能な異なる複数の口径を有する貫
通孔群から形成されている。駆動装置７の駆動により検
出孔８〜１１のうちの１つが連通孔２ｃ，２ｄと対応す
る位置にあるとき、試料懸濁液が検出孔を通り抜ける際
の電気インピーダンスに基づき粒径分布が測定解析され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は粒子測定装置およびそ
の粒子測定方法に関し、さらに詳しくは、血球、ラテッ
クス、セメント等の粒子の測定を対象とし、試料懸濁液
を貫通孔に流し電気インピーダンスの変化に基づき試料
懸濁液中の粒子を測定する電気インピーダンス変化検出
法に基づく粒子測定装置およびその粒子測定方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、血液中の血球、あるいはセメント
の粉、ラテックス等の工業用粒子の粒径分布を測定する
には、通常、電気抵抗変化検出法による粒径分布測定が
行われている。この測定は、例えば、米国特許第３７８
３３７６号公報で開示されているように、試料懸濁液が
通過可能な貫通孔を有する摺動板を試料容器の連通部に
配置し、貫通孔を通過する粒子を測定し解析するもので
ある。粒子が貫通孔を通過する際に発せられる信号のパ
ルス数により粒子の個数を、そのパルス高さにより粒子
の容積をそれぞれ測定し粒径分布が求められる。上記開
示例では、１枚の摺動板において１つの貫通孔が形成さ
れている。
【０００３】電気抵抗変化検出法では、試料懸濁液の粒
子が貫通孔を通過する際の電気抵抗の変化を測定するた
め、検出される信号の強度が粒子の体積と直線的な比例
関係を持っている。しかし、貫通孔の直径により測定で
きる粒子の大きさが制限される。たとえば、粒子の大き
さが貫通孔の直径の１／３０以下になると粒子からの信
号とノイズの区別が困難になる。逆に、粒子が大き過ぎ
ると検出孔が詰まり粒子の通過が阻害される。したがっ
て、正確な測定が不可能になる。このため、広い粒径分
布を有する試料を測定しようとすれば、異なる直径の貫
通孔を有する摺動板を準備する必要がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の電気抵
抗変化検出法による粒径分布測定では、選択された貫通
孔を有する摺動板を手動で一枚ずつ取り外し交換せねば
ならない。このため、操作が煩雑となり測定の迅速化の
障害となっている。
【０００５】この発明の目的は、摺動板の交換を簡略化
して貫通孔を迅速かつ容易に測定位置に配置可能な電気
抵抗変化検出法による粒子測定装置およびその粒子測定
方法を提供するとともに、高い測定精度を有する電気抵
抗変化検出法による粒子測定装置およびその粒子測定方
法を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる粒子測
定装置は、２つの試料容器の間に摺動可能に配置され試
料懸濁液が双方の試料容器間を通過可能な貫通孔を有す
る摺動板と、双方の試料容器内に配置され試料容器に搬
送される試料懸濁液と接触可能な一対の電極とを備え、
これらの電極により、試料懸濁液が貫通孔を通過する際
に生じる電気インピーダンスを測定し、その電気インピ
ーダンスに基づき試料懸濁液中の粒子を測定する粒子測
定装置であり、摺動板の貫通孔が、選択可能な異なる複
数の口径を有する貫通孔群から形成されている。
【０００７】ここで、貫通孔は、摺動板において略同心
円上に配置され、外部から回転駆動されることにより貫
通孔を選択可能な構成であってもよい。また、貫通孔
は、摺動板において略一軸方向に配置され、外部から一
軸方向に移動されることにより貫通孔を選択可能な構成
であってもよい。
【０００８】摺動板の貫通孔は、開口両端部に外方に向
かって拡大したテーパ面をそれぞれ有しているのが好ま
しい。これにより、貫通孔の開口縁部に対する過度の電
界の集中が防止されるという利点が得られる。ここでい
うテーパ面とは、断面形状が直線となるよう整形された
Ｃ面、断面形状が曲線となるよう整形されたＲ面あるい
は放物面を含んでいる。摺動板の少なくとも貫通孔穿設
部分は、ルビーサファイアまたはセラミックスからなる
のが好ましい。これにより、きれいな孔加工が可能とな
り精度の高い貫通孔を形成できるという利点が得られ
る。摺動板の全体を上記材料で構成してもよいし、貫通
孔穿設部分のみを上記材料で構成してもよい。摺動板
は、試料容器と密着する凸部を備え、貫通孔はその凸部
に形成されるのが好ましい。これにより、摺動板と試料
容器との接触面積が減り摺動時の摩擦および摩耗が低減
されるという利点が得られる。
【０００９】この発明にかかる粒子測定方法は、２つの
試料容器の間に配置された摺動板に形成された第１貫通
孔に試料懸濁液を通過させ、その際に生じる電気インピ
ーダンスを測定し、その電気インピーダンスの変化に基
づき試料懸濁液中の粒子を測定する第１測定工程と、試
料懸濁液を摺動板に形成された第２貫通孔に通過させ、
その際に生じる電気インピーダンスを測定し、その電気
インピーダンスの変化に基づき試料懸濁液中の粒子を測
定する第２測定工程とを備え、さらに、第１測定工程と
第２測定工程との間に、第１測定工程の測定結果にもと
ずき第１貫通孔と異なる口径を有する貫通孔群のうちの
１つを第２貫通孔として選択し、摺動板を摺動させるこ
とにより試料懸濁液の通路を第１貫通孔から第２貫通孔
に切り替える貫通孔選択切替工程を具備してなる。この
粒子測定方法は、第２測定工程で選択された第２貫通孔
が、第１貫通孔より小さい口径となるのが好ましい。こ
れにより、大径粒子から小径粒子までを順次段階的に測
定できるという利点が得られる。
【００１０】
【作用】この発明にかかる粒子測定装置により粒子測定
を行うには、まず、２つの試料容器の間に配置された摺
動板に形成された第１貫通孔に試料懸濁液を通過させ、
その際に生じる電気インピーダンスを測定し、その電気
インピーダンスの変化に基づき試料懸濁液中の粒子を測
定する（第１測定工程）。次に、第１測定工程の測定結
果にもとずき第１貫通孔と異なる口径を有する貫通孔群
のうちの１つを第２貫通孔として選択し、摺動板を摺動
させることにより試料懸濁液の通路を第１貫通孔から第
２貫通孔に切り替える（貫通孔選択切替工程）。
【００１１】次に、試料懸濁液を摺動板に形成された第
２貫通孔に通過させ、その際に生じる電気インピーダン
スを測定し、その電気インピーダンスの変化に基づき試
料懸濁液中の粒子を測定する（第２測定工程）。貫通孔
選択切替工程を第２貫通孔が第１貫通孔より小さい口径
となるよう設定すれば、広い粒径分布を有する粒子の測
定を迅速に行える。
【００１２】この発明にかかる粒子測定装置では、貫通
孔を外部から回転駆動すること、あるいは外部から一軸
方向に移動することにより、貫通孔を容易に交換でき広
範囲にわたる粒径分布を迅速に測定できる。また、貫通
孔の開口両端部に外方に向かって拡大したテーパ面をそ
れぞれ形成すれば過度の電界の集中が防止され、測定の
精度が向上する。また、摺動板の少なくとも貫通孔穿設
部分をルビーサファイアまたはセラミックスから形成す
ると精度の高い貫通孔を形成できる。また、摺動板は、
試料容器と密着する凸部を備え、貫通孔はその凸部に形
成されるよう構成すれば、摺動板と試料容器との接触面
積が減り摺動時の摩擦および摩耗が低減される。
【００１３】
【実施例１】図１は、この発明の一実施例による粒子測
定装置を示す。粒子測定装置１は、試料容器２と、摺動
板３とから主に構成されている。試料容器２は、２つの
容器２ａ，２ｂからなり、各容器２ａ，２ｂの下部に
は、互いに対向する連通孔２ｃ，２ｄが形成されてい
る。また、各容器２ａ，２ｂの内部には、極板４ａおよ
び４ｂからなる一対の電極４が配置されている。さら
に、一方の容器２ｂ内には、試料吸引管５が挿入されて
いる。
【００１４】摺動板３は、図２に示すように、外径４０
ｍｍ、厚み５ｍｍのルビーまたはセラミックスを材料と
する円板であり、中心の孔３ａには、駆動軸６を介して
駆動装置７が取り付けられている。駆動装置７は、ステ
ッピングモータあるいはＤＣモータ等のモータである。
摺動板３の同心円上には口径の異なる貫通孔としての４
つの検出孔８〜１１が略等距離に配置されている。検出
孔８〜１１のそれぞれの口径／粒子測定領域は、検出孔
８が３ｍｍ／１５０〜１２００μｍ、検出孔９が８００
μｍ／４０〜３２０μｍ、検出孔１０が２００μｍ／１
０〜８０μｍ、検出孔１１が５０μｍ／２．５〜２０μ
ｍである。
【００１５】摺動板３は、検出孔８〜１１が連通孔２
ｃ，２ｄに対応するよう容器２ａ，２ｂの間に摺動可能
に配置されている。これにより、駆動装置７の駆動によ
る摺動板３の変位により検出孔８〜１１が連通孔２ｃ，
２ｄと対応する位置にあるとき、２つの容器２ａ，２ｂ
は連通する。極板４ａ，４ｂには、電源１２、信号検出
装置１３及び粒径解析装置１４が接続されている。ま
た、容器２ａ内には、試料容器２内に充填された試料を
流動させるための流体制御装置１５が接続されている。
流体制御装置１５には、試料吸引管５およびろ過装置１
６が接続されている。
【００１６】流体制御装置１５は、図示しない制御部の
駆動により試料容器２内に充填された試料を、試料吸引
管５を介して容器２ｂ側に吸引することができ、また、
図示しない制御部の駆動により試料容器２内に充填され
た試料を、ろ過装置１６に導くことにより試料の粒径を
整えることができる。なお、摺動板３の検出孔は、任意
の孔数で設定することができる。上記のように等回転角
運動で回転するモータを用いる場合には２〜１２個の異
なる口径を有する検出孔群が望ましい。
【００１７】この実施例の粒子測定装置１は、以下の操
作により測定を行う。なお、図３はその測定手順をしめ
すフローチャートである。まず、ステップＳ１において
初期設定が行われる。次に、ステップＳ２において対象
とする試料の粒径に対応する検出孔８〜１１の１つを選
択し連通孔２ｃ，２ｄと対応する位置に変位させる。こ
こでは、検出孔８〜１１の内で最も大きい口径を有する
検出孔８（口径３０００μｍ）を選択する。検出孔８〜
１１のうちの１つを所定位置に正しく設置させるための
設置手段およびその設置位置を検知する検知手段は公知
のものを用いることができる。例えば、摺動板３の原点
を当接部材とマイクロスイッチの組み合わせで検知し、
摺動板３の回転角を駆動装置７であるモータのステップ
数で読み取ったり（ステッピングモータの場合）、モー
タに設けられたロータリーエンコーダで読み取ったりす
ることにより、正しい位置に設置できる。
【００１８】次に、ステップＳ２において試料容器２内
に測定の対象となる懸濁液試料を約１０ｍｌ充填し、流
体制御装置１５を駆動させることによりこの試料を、試
料吸引管５を介して容器２ｂに吸引する。これにより、
試料は検出孔８を通り抜ける。なお、容器２ｂに吸引さ
れた試料は試料吸引管５から系外へ排出される。
【００１９】ステップＳ４では、検出孔８を通り抜ける
際の試料の粒子が測定・解析される。ここでは、検出孔
８を通り抜ける際の試料の粒子数がパルス数として、試
料粒子の容積がパルス高さとして、電極４を介して信号
検出装置１３で検出され粒径解析装置１４によって粒径
分布が測定解析される。検出孔８による粒径分布の測定
解析結果は、例えば、図４で示したように、グラフとな
って表示画面に表示される。（この解析例では、粒径が
おおよそ１５０μｍ以下の粒子も存在することが予想さ
れる。）
【００２０】次に、ステップＳ５ではステップＳ４にお
ける粒径分布の測定結果により、３００μｍ以下の粒径
を有する粒子が測定されたか否かを測定者が判断する。
３００μｍ以下の粒径を有する粒子が測定された場合に
は、ステップＳ５からステップＳ６に移行し、試料のろ
過をおこなうか否かを測定者が判断する。試料のろ過を
行う場合には、ステップＳ７において試料のろ過を行
う。試料のろ過が終了するとステップＳ７からステップ
Ｓ２に移行し、より口径の小さい検出孔の設定を行える
よう摺動板３を回転させる。ここでは、検出孔８を検出
孔９に切り換える。以下同様に測定を行い、より口径の
小さい検出孔の設定を順次行う。
【００２１】ステップＳ６において試料のろ過をおこな
うと測定者が判断した場合には、ステップＳ６からステ
ップＳ８に移行する。ステップＳ８では試料のろ過を行
わずに再度試料の測定を行うか否かを判断する。ステッ
プＳ８での判断がＹＥＳの場合には、ステップＳ２へ移
行する。また、ステップＳ４における粒径分布の測定結
果により、３００μｍ以下の粒径を有する粒子が測定さ
れない場合およびステップＳ８での判断がＮＯの場合に
は、ステップＳ９に移行し測定を終了するか否かを測定
者が判断する。試料の測定を終了すると判断した場合
は、試料容器２の洗浄等を行った後、測定を終了する。
試料の測定を終了しない場合は、ステップＳ９からステ
ップＳ１に移行する。なお、検出孔９〜１１を設定し上
記測定操作により得られた粒径分布の測定解析結果のそ
れぞれの一例を図５〜７に示す。
【００２２】
【実施例２】実施例１では、摺動板３の検出孔８〜１１
が、両端まで同径で形成したが、図８〜１１に示すよう
に、検出孔１８〜２１の開口両端部に外方に向かって拡
大したテーパ面１８ａ〜２１ａをそれぞれ形成してもよ
い。テーパ面１８ａ〜２１ａはこの場合、Ｃ面、すなわ
ち、断面形状が直線で整形された面であって同一の傾斜
角を有し、好ましくは３０〜６０°、より好ましくは４
５°である。また、テーパ面１８ａ〜２１ａをＲ面、す
なわち、断面形状が曲線で整形された面で形成してもよ
い。この場合、Ｒ面の曲率半径は検出孔の口径によって
異なるが、半径１０〜５０μｍが好ましい。また、図１
０で示すように、検出孔の長さに対する口径の比Ｄ／Ｌ
を、１／１．２〜１．４となるよう形成することが望ま
しい。ここで、Ｄ／Ｌが大きすぎると開口部の電界の形
成が不均一となり粒子の容積とパルス高さの比例関係が
成立しにくくなる。また、Ｄ／Ｌが小さすぎると、検出
孔内に複数の粒子が入ってくるという問題がある。
【００２３】
【実施例３】実施例１では、摺動板３の検出孔８〜１１
の穿設面を平坦に形成したが、図１２および図１３に示
すように、検出孔の開口周辺部の摺動板２２主面上に凸
部２２ａを形成してもよい。この場合、凸部２２ａは円
環状となる。これにより、摺動板３と試料容器２との接
触面積を小さくして摺動時の摩擦および摩耗を低減する
ことができる。なお、凸部２２ａの高さは、０．１〜１
ｍｍ程度が好ましい。
【００２４】
【実施例４】実施例１では、摺動板３を外部から回転駆
動されることにより検出孔を選択可能な構成としたが、
図１４及び１５に示すように、摺動板３０を略矩形に形
成して、検出孔３１〜３４を摺動板３０に略一軸方向に
配置し外部から一軸方向に移動されることにより、検出
孔３１〜３４を選択可能な構成とすることができる。こ
こでは、検出孔３１〜３４は摺動板３０の長手方向に口
径の順に形成されている。摺動板３０を一軸方向に移動
させる駆動装置は、例えば、ＤＣモータの回転軸にカッ
プリングを介してボールネジを接続し、このボールネジ
に係合された移動子に軸１０を接続する構成が可能であ
る（図示せず）。このような構成により、実施例１に記
載した測定手順で試料の粒径分布の測定及び解析ができ
る。
【００２５】摺動板３０は、図１７および１８に示すよ
うに、検出孔３１〜３４の開口両端部に外方に向かって
拡大したテーパ面（Ｃ面またはＲ面）３１ａ〜３４ａを
それぞれ形成してもよい。ここでは、テーパ面３１ａ〜
３４ａは、傾斜角約４５°のＣ面で形成され、各テーパ
面３１ａ〜３４ａは、前記と同様にＤ／Ｌが１／１．２
〜１．４となるよう形成されている。これにより、検出
孔８〜１１の開口縁部に対する電界の過度の集中が防止
される。さらに、前記検出孔３１〜３４の検出孔の開口
周辺部の摺動板３０主面上に連続する直線状の凸部３０
ａを形成してもよい。これにより、摺動板３０と試料容
器２との接触面積を小さくして摺動時の摩擦および摩耗
を低減することができる。
【００２６】
【実施例５】実施例１では、試料の流れを概略水平方向
としたが、ここでは図２０に示すように、測定粒子の周
囲をシース液とよばれる粒子を含まない液で包みこんだ
後に、流体力学的収束力を利用して粒子を一列に並べて
測定する、いわゆる、シースフロー方式の電気抵抗変化
検出法による粒子測定装置の一構成例を示す。
【００２７】従来、電気抵抗変化検出法の欠点として検
出孔を粒子が通過する際の検出孔内の通過位置によって
検出信号の強度に差が生じたり、検出孔を複数の粒子が
接近して通過すると２個以上の粒子が通過したにもかか
わらず１個の粒子として判断されたりすること、およ
び、検出孔通過後に流速が急激に低下するという構造上
の問題から検出孔を通過した粒子が検出用細管周辺に滞
留しノイズの原因になる場合があること等の試料粒子の
検出孔内での近接通過が問題となっている。ここでは、
シースフロー方式を適用して試料粒子の検出孔内での近
接通過を抑えるよう構成したものである。
【００２８】試料制御装置３５で調整された懸濁液試料
は、試料ノズル３６から吐出されて検出孔を通過した
後、試料吸引管３７によって回収される。シースフロー
検出法の場合、フロントシース流入口３８からシース液
が流入し試料ノズル３６の周囲を包み込むようにして検
出用細管部に流入している。試料ノズル３６から吐出さ
れた懸濁液試料はフロントシース液に包まれながら徐々
に収束され、検出孔３９を通過する際には、粒子が一列
に並んだ状態になる。また、検出孔３９を通過した粒子
を周囲から包みこんで試料吸引管３７に導くバックシー
ス液をバックシース流入口４０から導入する。これによ
り、検出孔３９を通過した粒子が流速の急激な低下によ
り検出孔３９周辺に滞留するという問題点が改善でき
る。
【００２９】
【実施例６】上記した実施例１〜５では、駆動装置を用
いて摺動板を移動させる構成を示したが、ここでは図２
１，２２に示すように、摺動板を手動で変位させること
により、検出孔を選択できる構成を示す。図２１では、
摺動板３を軸４１を介して軸受け４２に回転可能に支持
し、さらに、摺動板３には、操作者が手動で回転させる
ための把手４３が形成されている。図２２では、摺動板
３０に把手４４が形成されている。これにより、操作者
は、把手４３を回転し、あるいは把手４４を一軸方向に
移動させることにより順次段階的に任意の検出孔を測定
位置に配置することができる。検出孔の位置調節は、例
えば、回転用あるいは直線用のエンコーダを用いて孔の
位置情報をモニタリングしながら行うことができる。ま
た、検出孔の位置決めは付勢されたボールを有するボー
ルプランジャと、このボールを係止するくぼみとの組み
合わせでより確実に行うことができる。
【００３０】これらの実施例では、摺動板３を外部から
回転駆動することにより、あるいは、摺動板３０を一軸
方向に移動させることにより検出孔８〜１１、１８〜２
１、あるいは３１〜３４を順次交換できる。このため、
迅速かつ容易に貫通孔を測定位置に配置することができ
る。粒径分布が広範囲にわたる測定の場合には、特に有
効である。
【００３１】
【発明の効果】この発明の請求項１にかかる粒子測定装
置によれば、摺動板の貫通孔が、選択可能な異なる複数
の口径を有する貫通孔群から形成されているので、貫通
孔を迅速かつ容易に測定位置に配置できる。この発明の
請求項２にかかる粒子測定装置によれば、貫通孔が摺動
板において略同心円上に配置され、外部から回転駆動さ
れることにより貫通孔を選択できるので、貫通孔を迅速
かつ容易に測定位置に配置できる。
【００３２】この発明の請求項３にかかる粒子測定装置
によれば、貫通孔が摺動板において略一軸方向に配置さ
れ、外部から一軸方向に移動されることにより貫通孔を
選択できるので、貫通孔を迅速かつ容易に測定位置に配
置できる。この発明の請求項４にかかる粒子測定装置に
よれば、摺動板の貫通孔が、開口両端部に外方に向かっ
て拡大したテーパ面をそれぞれ有しているので、貫通孔
の開口両端部に対し電界が均一に形成され、高い測定精
度を得ることができる。
【００３３】この発明の請求項５にかかる粒子測定装置
によれば、摺動板の少なくとも貫通孔穿設部分が、ルビ
ーまたはセラミックスで構成されているので、きれいな
孔加工が可能となり、高い測定精度を得ることができ
る。この発明の請求項６にかかる粒子測定装置によれ
ば、摺動板が、試料容器と密着する凸部を備え、貫通孔
はその凸部に形成されているので、摺動板と試料容器と
の接触面積が減り摺動時の摩擦および摩耗が低減され
る。このため、高い測定精度を長期にわたり維持するこ
とができる。
【００３４】この発明の請求項７にかかる粒子測定方法
によれば、第１測定工程と第２測定工程との間に、第１
測定工程の測定結果にもとずき第１貫通孔と異なる口径
を有する貫通孔群のうちの１つを第２貫通孔として選択
し、摺動板を摺動させることにより試料懸濁液の通路を
第１貫通孔から第２貫通孔に切り替える貫通孔選択切替
工程を設けたので、貫通孔を迅速かつ容易に測定位置に
配置できる。この発明の請求項８にかかる粒子測定方法
によれば、第２測定工程で選択された第２貫通孔が、第
１貫通孔より小さい口径となっているので、粒径分布に
応じて貫通孔を順次段階的に交換する操作が容易となり
迅速な測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の一実施例による粒子測定装置の概略
構成図。
【図２】その粒子測定装置における摺動板の正面図。
【図３】その粒子測定装置の測定方法を示すフローチャ
ート。
【図４】図３の測定方法により得られた粒径分布の測定
解析結果の一例となるグラフ。
【図５】図３の測定方法により得られた粒径分布の測定
解析結果の一例となるグラフ。
【図６】図３の測定方法により得られた粒径分布の測定
解析結果の一例となるグラフ。
【図７】図３の測定方法により得られた粒径分布の測定
解析結果の一例となるグラフ。
【図８】その粒子測定装置における摺動板の他の実施例
を示す正面図。
【図９】図８の摺動板の側面図。
【図１０】図９の一部拡大図。
【図１１】図８の摺動板を使用した粒子測定装置の概略
構成図。
【図１２】その粒子測定装置における摺動板のさらに他
の実施例を示す正面図。
【図１３】図１２の摺動板の側面図。
【図１４】粒子測定装置の他の実施例を示す概略構成
図。
【図１５】図１４の粒子測定装置における摺動板の正面
図。
【図１６】その摺動板の他の実施例を示す正面図。
【図１７】図１６の摺動板の側面図。
【図１８】図１６に対応する摺動板のさらに他の実施例
を示す正面図。
【図１９】図１８の摺動板の側面図。
【図２０】この発明のさらに他の実施例による粒子測定
装置の概略構成図。
【図２１】この発明のさらに他の実施例による摺動板の
正面断面図。
【図２２】この発明のさらに他の実施例による摺動板の
斜視図。
【符号の説明】
１ 粒子測定装置 ２ 試料容器 ３，１７，２２，３０ 摺動板 ４ａ，４ｂ 電極 ８〜１１，３１〜３４ 検出孔（貫通孔） １８ａ〜２１ａ，３１ａ〜３４ａ テーパ面 ２２ａ，３０ａ 凸部

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 ２つの試料容器の間に摺動可能に配置さ
    れ試料懸濁液が前記双方の試料容器間を通過可能な貫通
    孔を有する摺動板と、 前記双方の試料容器内に配置され試料容器に搬送される
    試料懸濁液と接触可能な一対の電極とを備え、 これらの電極により、試料懸濁液が貫通孔を通過する際
    に生じる電気インピーダンスを測定し、その電気インピ
    ーダンスに基づき試料懸濁液中の粒子を測定する粒子測
    定装置であって、 前記摺動板の貫通孔が、選択可能な異なる複数の口径を
    有する貫通孔群から形成されてなる粒子測定装置。
  2. 【請求項２】 貫通孔が、摺動板において略同心円上に
    配置され、外部から回転駆動されることにより貫通孔を
    選択可能とする請求項１記載の粒子測定装置。
  3. 【請求項３】 貫通孔が、摺動板において略一軸方向に
    配置され、外部から一軸方向に移動されることにより貫
    通孔を選択可能とする請求項１記載の粒子測定装置。
  4. 【請求項４】 摺動板の貫通孔が、開口両端部に外方に
    向かって拡大したテーパ面をそれぞれ有する請求項１記
    載の粒子測定装置。
  5. 【請求項５】 摺動板の少なくとも貫通孔穿設部分が、
    ルビーまたはセラミックスからなる請求項１記載の粒子
    測定装置。
  6. 【請求項６】 摺動板が、試料容器と密着する凸部を備
    え、貫通孔はその凸部に形成されてなる請求項１記載の
    粒子測定装置。
  7. 【請求項７】 ２つの試料容器の間に配置された摺動板
    に形成された第１貫通孔に試料懸濁液を通過させ、その
    際に生じる電気インピーダンスを測定し、その電気イン
    ピーダンスの変化に基づき試料懸濁液中の粒子を測定す
    る第１測定工程と、 試料懸濁液を摺動板に形成された第２貫通孔に通過さ
    せ、その際に生じる電気インピーダンスを測定し、その
    電気インピーダンスの変化に基づき試料懸濁液中の粒子
    を測定する第２測定工程とを備え、 さらに、前記第１測定工程と第２測定工程との間に、第
    １測定工程の測定結果にもとずき第１貫通孔と異なる口
    径を有する貫通孔群のうちの１つを第２貫通孔として選
    択し、摺動板を摺動させることにより試料懸濁液の通路
    を第１貫通孔から第２貫通孔に切り替える貫通孔選択切
    替工程を具備してなる粒子測定方法。
  8. 【請求項８】 第２測定工程で選択された第２貫通孔
    が、第１貫通孔より小さい口径となる請求項７記載の粒
    子測定方法。
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