JPH07311229A - 抵抗計測装置 - Google Patents
抵抗計測装置Info
- Publication number
- JPH07311229A JPH07311229A JP12680894A JP12680894A JPH07311229A JP H07311229 A JPH07311229 A JP H07311229A JP 12680894 A JP12680894 A JP 12680894A JP 12680894 A JP12680894 A JP 12680894A JP H07311229 A JPH07311229 A JP H07311229A
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 10
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、絶縁抵抗の計測速度を早める
と共に高速処理を行うことによって、ほぼ同時計測を可
能とした抵抗計測回路に関する。 【構成】 抵抗計測装置１は、コントローラ１０と、
バイアス電圧印加部２と、多数の試料３、３、・・と、
試料３毎に設けられて試料３に流れる電流を検出するデ
ィテクタ（電流検出器）４と、該ディテクタ４に接続さ
れる無接点リレーからなるスキャナ５と、該スキャナに
接続されたＡ／Ｄ変換器６と、測定された試料毎の絶縁
抵抗を記録する記録装置とからなっており、ディテクタ
４で検出された電流はスキャナ５で高速に切替えられる
為、各試料の絶縁抵抗を極めて高速に測定することがで
きる。
と共に高速処理を行うことによって、ほぼ同時計測を可
能とした抵抗計測回路に関する。 【構成】 抵抗計測装置１は、コントローラ１０と、
バイアス電圧印加部２と、多数の試料３、３、・・と、
試料３毎に設けられて試料３に流れる電流を検出するデ
ィテクタ（電流検出器）４と、該ディテクタ４に接続さ
れる無接点リレーからなるスキャナ５と、該スキャナに
接続されたＡ／Ｄ変換器６と、測定された試料毎の絶縁
抵抗を記録する記録装置とからなっており、ディテクタ
４で検出された電流はスキャナ５で高速に切替えられる
為、各試料の絶縁抵抗を極めて高速に測定することがで
きる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、複数試料の絶縁抵抗
の測定を高速に且つ同時に測定することができる多目的
な抵抗計測回路に関する。
の測定を高速に且つ同時に測定することができる多目的
な抵抗計測回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来は、図２に示すように、多数の試料
１３に対して絶縁抵抗を測定する場合にバイアス電圧印
加部１２から試料１３へスキャナ１５で切り替え、電流
検出器１４で計測し、Ａ／Ｄ変換器１６で処理していた
ために同時測定は不可能であり、また、回路特性上スキ
ャナ１５も有接点リレーの切替えしかできなかった。そ
のため、切替え速度の向上を図ることは非常に困難であ
った。
１３に対して絶縁抵抗を測定する場合にバイアス電圧印
加部１２から試料１３へスキャナ１５で切り替え、電流
検出器１４で計測し、Ａ／Ｄ変換器１６で処理していた
ために同時測定は不可能であり、また、回路特性上スキ
ャナ１５も有接点リレーの切替えしかできなかった。そ
のため、切替え速度の向上を図ることは非常に困難であ
った。
【０００３】
【発明が解決しようとする問題点】この発明は上記事情
に鑑みて創案されたものであって、その主たる課題は、
絶縁抵抗又は微小電流の計測の切替え速度を早めて高速
処理を行い、ほぼ同時計測を可能とした抵抗計測回路を
提供することにある。
に鑑みて創案されたものであって、その主たる課題は、
絶縁抵抗又は微小電流の計測の切替え速度を早めて高速
処理を行い、ほぼ同時計測を可能とした抵抗計測回路を
提供することにある。
【０００４】
【問題点を解決するための手段】上記課題を解決すため
に、この発明では、（ａ）．バイアス電圧印加部に並列
に接続される複数の絶縁抵抗を有する試料を設ける、
（ｂ）．該各試料にそれぞれ接続されて試料から出力さ
れる電流を検出する電流検出器を設ける、（ｃ）．該電
流検出器に接続されて無接点リレーで切り替えられるス
キャナを設ける、（ｄ）．該スキャナに接続されるＡ／
Ｄ変換器を設け複数の試料の絶縁抵抗を測定する、とい
う技術的手段を講じている。
に、この発明では、（ａ）．バイアス電圧印加部に並列
に接続される複数の絶縁抵抗を有する試料を設ける、
（ｂ）．該各試料にそれぞれ接続されて試料から出力さ
れる電流を検出する電流検出器を設ける、（ｃ）．該電
流検出器に接続されて無接点リレーで切り替えられるス
キャナを設ける、（ｄ）．該スキャナに接続されるＡ／
Ｄ変換器を設け複数の試料の絶縁抵抗を測定する、とい
う技術的手段を講じている。
【０００５】
【作用】バイアス電圧印加部から試料へ同時印加され
て、試料から出力される微小電流は、電流検出器でそれ
ぞれ検出される。この検出された信号は、無接点リレー
からなるスキャナーを通り、高速で切り替えられてＡ／
Ｄ変換器へ出力されるので、多数の試料の絶縁抵抗を極
めて高速に測定することができる。
て、試料から出力される微小電流は、電流検出器でそれ
ぞれ検出される。この検出された信号は、無接点リレー
からなるスキャナーを通り、高速で切り替えられてＡ／
Ｄ変換器へ出力されるので、多数の試料の絶縁抵抗を極
めて高速に測定することができる。
【０００６】
【実施例】以下に、この発明の抵抗計測装置の好適一実
施例を図面を参照しながら説明する。抵抗計測装置１
は、図１に示すように、バイアス電圧印加部２と、多数
の試料３、３、・・と、試料３毎に設けられるディテク
タ（電流検出器）４と、スキャナ５と、Ａ／Ｄ変換器６
とからなる回路を有している。
施例を図面を参照しながら説明する。抵抗計測装置１
は、図１に示すように、バイアス電圧印加部２と、多数
の試料３、３、・・と、試料３毎に設けられるディテク
タ（電流検出器）４と、スキャナ５と、Ａ／Ｄ変換器６
とからなる回路を有している。
【０００７】この回路は、コントローラ１０によって制
御されており、記録装置１１によって測定値を記録する
ことができるようになっている。即ち、コントローラ１
０の制御によって、バイアス電圧印加部２から同時に試
料３へ電流が印加される。
御されており、記録装置１１によって測定値を記録する
ことができるようになっている。即ち、コントローラ１
０の制御によって、バイアス電圧印加部２から同時に試
料３へ電流が印加される。
【０００８】試料３は絶縁抵抗性を有しているが、微小
な電流が流れると、試料３毎に接続されたディテクタ４
によって検出される。この検出された電流は、スキャナ
５を通るが、該スキャナ５は無接点式リレーからなって
いるので高速での切替が可能である。
な電流が流れると、試料３毎に接続されたディテクタ４
によって検出される。この検出された電流は、スキャナ
５を通るが、該スキャナ５は無接点式リレーからなって
いるので高速での切替が可能である。
【０００９】そして、コントローラ１０はスキャナ５で
の高速切替が可能なように常時試料３に電流を流し、試
料３毎にＡ／Ｄ変換器６で試料に流れた電流を計測して
絶縁抵抗を測定することができる。また、上記Ａ／Ｄ変
換器６で計測された値は、記録装置１１または外部表示
装置（図示せず）によって試料３毎に記録ないし表示さ
れる。
の高速切替が可能なように常時試料３に電流を流し、試
料３毎にＡ／Ｄ変換器６で試料に流れた電流を計測して
絶縁抵抗を測定することができる。また、上記Ａ／Ｄ変
換器６で計測された値は、記録装置１１または外部表示
装置（図示せず）によって試料３毎に記録ないし表示さ
れる。
【００１０】なお、この発明で抵抗計測装置の用途は特
に限定されず、多目的に使用することができる。また、
この発明の要旨を変更しない範囲で種々設計変更しうる
こと勿論である。
に限定されず、多目的に使用することができる。また、
この発明の要旨を変更しない範囲で種々設計変更しうる
こと勿論である。
【００１１】
【発明の効果】この発明では、多数の試料毎にそれぞれ
電流検出器を設け、それを無接点リレーのスキャナに接
続して極めて高速に切り替えて、各試料の絶縁抵抗を測
定することができる。従来の、有接点リレーを用いた計
測回路に比べて１００倍以上の高速切替が可能となり、
また、計測処理を極めて高速化する事によって同時計測
が可能となり、利便性が高く、構成が簡単であるので、
信頼性も向上し有益である。
電流検出器を設け、それを無接点リレーのスキャナに接
続して極めて高速に切り替えて、各試料の絶縁抵抗を測
定することができる。従来の、有接点リレーを用いた計
測回路に比べて１００倍以上の高速切替が可能となり、
また、計測処理を極めて高速化する事によって同時計測
が可能となり、利便性が高く、構成が簡単であるので、
信頼性も向上し有益である。
【図１】この発明の抵抗計測装置の実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】有接点リレーを用いた従来の抵抗計測回路のブ
ロック図である。
ロック図である。
１ 抵抗計測装置 ２ バイアス電圧印加部 ３ 試料 ４ ディテクタ ５ スキャナ ６ Ａ／Ｄ変換器 １０ コントローラ １１ 記録装置
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成６年７月２８日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００７】この回路は、コントローラ１０によって制
御されており、記録装置１１によって測定値を記録する
ことができるようになっている。即ち、コントローラ１
０の制御によって、バイアス電圧印可部２から同時に試
料３へ電圧が印加される。
御されており、記録装置１１によって測定値を記録する
ことができるようになっている。即ち、コントローラ１
０の制御によって、バイアス電圧印可部２から同時に試
料３へ電圧が印加される。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岩崎 佳広 東京都八王子市越野28−１ (72)発明者 滝上 昌孝 東京都青梅市青梅433
Claims (2)
- 【請求項１】 バイアス電圧印加部に接続される複数の
絶縁抵抗を有する試料と、該各試料にそれぞれ接続され
て試料から流出される電流を電圧に変換して増幅する電
流検出器と、該電流検出器に接続されて無接点リレーで
構成されるスキャナと、該スキャナに接続されるＡ／Ｄ
変換器とを有して、複数の試料の絶縁抵抗を測定する抵
抗計測装置。 - 【請求項２】 バイアス電圧印加部から試料毎に印加
し、電流検出器よりスキャナを介してＡ／Ｄ変換器へ順
次出力させる計測制御部と、各試料のＡ／Ｄ変換器出力
値（計測値）を記録する記録装置とを備えてなることを
特徴とする抵抗計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12680894A JPH07311229A (ja) | 1994-05-17 | 1994-05-17 | 抵抗計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12680894A JPH07311229A (ja) | 1994-05-17 | 1994-05-17 | 抵抗計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07311229A true JPH07311229A (ja) | 1995-11-28 |
Family
ID=14944476
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12680894A Pending JPH07311229A (ja) | 1994-05-17 | 1994-05-17 | 抵抗計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07311229A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101113199B1 (ko) * | 2009-01-14 | 2012-02-28 | 주식회사 이노템즈 | 다채널 절연 저항 측정 장치 |
| JP2013032960A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-02-14 | Hioki Ee Corp | コンデンサの絶縁抵抗測定装置およびコンデンサの絶縁抵抗測定方法 |
-
1994
- 1994-05-17 JP JP12680894A patent/JPH07311229A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101113199B1 (ko) * | 2009-01-14 | 2012-02-28 | 주식회사 이노템즈 | 다채널 절연 저항 측정 장치 |
| JP2013032960A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-02-14 | Hioki Ee Corp | コンデンサの絶縁抵抗測定装置およびコンデンサの絶縁抵抗測定方法 |
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