JPH0731372B2 - 放射線画像情報の読取方法 - Google Patents
放射線画像情報の読取方法Info
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- JPH0731372B2 JPH0731372B2 JP62021157A JP2115787A JPH0731372B2 JP H0731372 B2 JPH0731372 B2 JP H0731372B2 JP 62021157 A JP62021157 A JP 62021157A JP 2115787 A JP2115787 A JP 2115787A JP H0731372 B2 JPH0731372 B2 JP H0731372B2
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- JP
- Japan
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- radiation
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- radiation image
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は放射線画像変換パネルに記録した放射線画像
情報の読取時に、被写体を通る放射線の場所的変化に基
づいて励起光の強度を変調することにより被写体の全て
の部分を鮮明に描写できるようにした放射線画像情報の
記録読取方法に関するものである。
情報の読取時に、被写体を通る放射線の場所的変化に基
づいて励起光の強度を変調することにより被写体の全て
の部分を鮮明に描写できるようにした放射線画像情報の
記録読取方法に関するものである。
Ｘ線画像のような放射線画像は医療用として多く用いら
れている。この放射線画像を得る一方法として、被写体
を通した放射線を蛍光体層（蛍光スクリーン）に照射
し、この可視光を銀塩感光材料を塗布したフィルムに照
射して現像する、いわゆる放射線写真方式がある。
れている。この放射線画像を得る一方法として、被写体
を通した放射線を蛍光体層（蛍光スクリーン）に照射
し、この可視光を銀塩感光材料を塗布したフィルムに照
射して現像する、いわゆる放射線写真方式がある。
近年、放射線画像診断技術の進歩に伴い、上記放射線写
真を走査し、そこに記録された放射線画像情報を読取
り、デジタル信号化した後にCRTや感光材料上に再生す
る方法が工夫されるようになってきた。それにより一回
の放射線撮影からより多くの診断情報が得られるように
なり、診断性能の向上と被爆線量の低減がもたらされ
る。この方法は放射線画像情報の保存や検索の効率化と
いう点でも期待がもたれている。
真を走査し、そこに記録された放射線画像情報を読取
り、デジタル信号化した後にCRTや感光材料上に再生す
る方法が工夫されるようになってきた。それにより一回
の放射線撮影からより多くの診断情報が得られるように
なり、診断性能の向上と被爆線量の低減がもたらされ
る。この方法は放射線画像情報の保存や検索の効率化と
いう点でも期待がもたれている。
前記写真フィルムを用いた放射線画像情報読取装置にお
いては、放射線画像を記録した写真フィルムを読取光で
露光走査し、その反射光又は透過光を光検出器で検出し
て電気信号に変換することが行われている。
いては、放射線画像を記録した写真フィルムを読取光で
露光走査し、その反射光又は透過光を光検出器で検出し
て電気信号に変換することが行われている。
また、一方では銀塩感光材料からなる放射線写真フィル
ムを使用しないで放射線画像情報を得る方法が工夫され
るようになった。この方法としては被写体を通した放射
線をある種の蛍光体に吸収せしめ、しかる後、この蛍光
体を例えば、光又は熱エネルギーで励起することによ
り、この蛍光体が前記吸収により蓄積している放射線エ
ネルギーを蛍光として放射せしめ、この蛍光を検出して
画像化するものがある。具体的には、例えば米国特許第
3,859,527号又は特開昭55-12144号に開示されている。
これらは輝尽性蛍光体を用い、可視光線又は赤外線を輝
尽励起光とした放射線画像変換方法を示したもので、支
持体上に輝尽性蛍光体層を形成した放射線画像変換パネ
ルを使用し、この放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体
層に被写体を透過した放射線を当てて被写体各部の放射
線透過度に対応する放射線エネルギーを蓄積させて潜像
を形成し、しかる後、この輝尽性蛍光体層を前記輝尽励
起光で走査することによって該放射線画像変換パネルの
各部に蓄積された放射線エネルギーを放射させて、これ
を光に変換し、この光の強弱による光信号を光電子増倍
管、フォトダイオード等の光電変換素子で検出して放射
線画像情報を得るものである。
ムを使用しないで放射線画像情報を得る方法が工夫され
るようになった。この方法としては被写体を通した放射
線をある種の蛍光体に吸収せしめ、しかる後、この蛍光
体を例えば、光又は熱エネルギーで励起することによ
り、この蛍光体が前記吸収により蓄積している放射線エ
ネルギーを蛍光として放射せしめ、この蛍光を検出して
画像化するものがある。具体的には、例えば米国特許第
3,859,527号又は特開昭55-12144号に開示されている。
これらは輝尽性蛍光体を用い、可視光線又は赤外線を輝
尽励起光とした放射線画像変換方法を示したもので、支
持体上に輝尽性蛍光体層を形成した放射線画像変換パネ
ルを使用し、この放射線画像変換パネルの輝尽性蛍光体
層に被写体を透過した放射線を当てて被写体各部の放射
線透過度に対応する放射線エネルギーを蓄積させて潜像
を形成し、しかる後、この輝尽性蛍光体層を前記輝尽励
起光で走査することによって該放射線画像変換パネルの
各部に蓄積された放射線エネルギーを放射させて、これ
を光に変換し、この光の強弱による光信号を光電子増倍
管、フォトダイオード等の光電変換素子で検出して放射
線画像情報を得るものである。
また、他の方法としては被写体を透過した放射線を、一
様に帯電させたセレン、シリコン等の光導電体層を有す
る半導体パネルに吸収せしめて静電潜像を形成した後、
この半導体パネルを光で走査することにより該パネル上
の静電潜像を電気的に検出して画像化するものがある
（例えば特開昭54-31219号）。
様に帯電させたセレン、シリコン等の光導電体層を有す
る半導体パネルに吸収せしめて静電潜像を形成した後、
この半導体パネルを光で走査することにより該パネル上
の静電潜像を電気的に検出して画像化するものがある
（例えば特開昭54-31219号）。
斯くして得た放射線画像情報はそのままの状態で、或い
はリアルタイムで空間周波数処理や階調処理等の画像処
理が施されて銀塩フィルム、CRT等に出力されて可視化
されるか、又は半導体記憶装置、磁気記憶装置、光ディ
スク記憶装置等の画像記憶装置に格納され、その後、必
要に応じてこれら画像記憶装置から取り出されて銀塩フ
ィルム、CRT等に出力されて可視化されている。
はリアルタイムで空間周波数処理や階調処理等の画像処
理が施されて銀塩フィルム、CRT等に出力されて可視化
されるか、又は半導体記憶装置、磁気記憶装置、光ディ
スク記憶装置等の画像記憶装置に格納され、その後、必
要に応じてこれら画像記憶装置から取り出されて銀塩フ
ィルム、CRT等に出力されて可視化されている。
前記各種の放射線画像変換パネルは、一般に放射線に対
するダイナミックレンジが広く（103〜106）、被写体の
低信号領域部分から高信号領域部分までの画像情報を記
録することが可能になっているが、被写体を通して得ら
れる画像情報のダイナミックレンジ、即ち、被写体の最
小放射線透過量（最小信号値に相当）と、最大放射線透
過量（最大信号値に相当）との比は約102程度であるた
めにコントラストにおいて充分でない。
するダイナミックレンジが広く（103〜106）、被写体の
低信号領域部分から高信号領域部分までの画像情報を記
録することが可能になっているが、被写体を通して得ら
れる画像情報のダイナミックレンジ、即ち、被写体の最
小放射線透過量（最小信号値に相当）と、最大放射線透
過量（最大信号値に相当）との比は約102程度であるた
めにコントラストにおいて充分でない。
従って、このようにして得られた放射線画像情報を可視
化する場合には、そのコントラストを強調して濃度分解
能を上げる階調処理が施されることが行われる。
化する場合には、そのコントラストを強調して濃度分解
能を上げる階調処理が施されることが行われる。
ところが、階調処理は一般には第７図右側の線Ｒの傾き
（図の傾きは１）を２〜３位になるように立てて処理す
るため、被写体を通して得られる画像情報のダイナミッ
クレンジは可視画像上では２〜３倍に広げられ104〜106
となってしまい、その結果、光学濃度で４以上となり、
真黒で何も見えなくなって仕舞う。即ち、被写体を通し
て得られる画像情報のダイナミックレンジは、102〜103
（光学濃度で約０〜2.5）であるが、最も濃度分解能の
高い領域は光学濃度で0.8〜1.5の如く狭く、被写体の低
信号領域部分から高信号領域部分まで一枚の可視画像上
で観察することは不可能となる。例えば胸部Ｘ線画像の
場合は肺野部分を最適光学濃度（0.8〜1.5）で観察しよ
うとすると、縦隔部分でのＸ線の透過量が少なくなり、
この部分で光学濃度が低くなり過ぎて白抜けとなって観
察不能となり、逆に縦隔部分を最適光学濃度とすると、
肺野部分でのＸ線の透過量が多くなり、光学濃度が高く
なり過ぎて黒くなってしまう結果、観察不能となる。
（図の傾きは１）を２〜３位になるように立てて処理す
るため、被写体を通して得られる画像情報のダイナミッ
クレンジは可視画像上では２〜３倍に広げられ104〜106
となってしまい、その結果、光学濃度で４以上となり、
真黒で何も見えなくなって仕舞う。即ち、被写体を通し
て得られる画像情報のダイナミックレンジは、102〜103
（光学濃度で約０〜2.5）であるが、最も濃度分解能の
高い領域は光学濃度で0.8〜1.5の如く狭く、被写体の低
信号領域部分から高信号領域部分まで一枚の可視画像上
で観察することは不可能となる。例えば胸部Ｘ線画像の
場合は肺野部分を最適光学濃度（0.8〜1.5）で観察しよ
うとすると、縦隔部分でのＸ線の透過量が少なくなり、
この部分で光学濃度が低くなり過ぎて白抜けとなって観
察不能となり、逆に縦隔部分を最適光学濃度とすると、
肺野部分でのＸ線の透過量が多くなり、光学濃度が高く
なり過ぎて黒くなってしまう結果、観察不能となる。
この発明は上記の点に鑑み、一枚の画像上で被写体の全
ての部分を鮮明に描写することの可能な放射線画像の記
録読取方法を提供することを目的としている。
ての部分を鮮明に描写することの可能な放射線画像の記
録読取方法を提供することを目的としている。
上記の目的を達成するため、この発明は被写体を透過し
た放射線が照射されて放射線画像変換パネル上に記録さ
れる放射線画像情報をレーザ光を当てることにより、電
気信号として読み取る放射線画像情報の読取方法におい
て、前記放射線画像変換パネル上に照射される放射線強
度の場所的変化に基づいて、前記レーザ光の強度を変調
し、ダイナミックレンジを圧縮するように構成したもの
である。一例としては、本読みに先立ち前記画像情報が
蓄積記録された変換パネルに弱い励起光を当てて被写体
を通した放射線の記録時の場所的変化を検出し、強い励
起光で本読みする際に、その励起光の強度を前記検出情
報に基づいて変調するようにしたものである。
た放射線が照射されて放射線画像変換パネル上に記録さ
れる放射線画像情報をレーザ光を当てることにより、電
気信号として読み取る放射線画像情報の読取方法におい
て、前記放射線画像変換パネル上に照射される放射線強
度の場所的変化に基づいて、前記レーザ光の強度を変調
し、ダイナミックレンジを圧縮するように構成したもの
である。一例としては、本読みに先立ち前記画像情報が
蓄積記録された変換パネルに弱い励起光を当てて被写体
を通した放射線の記録時の場所的変化を検出し、強い励
起光で本読みする際に、その励起光の強度を前記検出情
報に基づいて変調するようにしたものである。
この発明において、放射線画像変換パネルとしては輝尽
性蛍光体が好ましく用いられる．この輝尽性蛍光体と
は，最初の光若しくは高エネルギー放射線が照射された
後に光的、熱的、機械的、化学的又は電気的等の刺激
（輝尽励起）により最初の光若しくは高エネルギー放射
線の照射量に対応した輝尽発光を示す蛍光体であるが、
実用的な面から好ましくは500nm以上の励起光によって
輝尽発光を示す蛍光体であり、特に、励起光に対する輝
尽発光の応答速度の大きい蛍光体である。半導体レーザ
の発振波長領域の光に対して効率良く輝尽発光を示す蛍
光体であればさらに好ましい。このような輝尽性蛍光体
としては、例えば米国特許第3,859,527号に記載されて
いるSrS:Ce,Sm、SrS:Eu,Sm、La2O2S:Eu,Sm及び（Zn,C
d）S:Mn、Ｘ（但し,Xはハロゲン）で表わされる蛍光体
が挙げられる。また、特開昭55-12143号に記載されてい
る一般式が （Ba1-x-yMgxCay）FX:eEu2+ （但し、ＸはBr及びClの中の少なくとも一つであり、x,
y及びｅはそれぞれ０＜ｘ＋ｙ≦0.6,xy≠０及び10-6≦
ｅ≦５×10-2なる条件を満たす数である。）で表わされ
るアルカリ土類弗化ハロゲン化物蛍光体、特開昭55-121
44号に記載されている一般式が LnOX:xA （但し、LnはLa,Y,Gd及びLuの少なくとも一つを、ＸはC
l及び／又はBrを,AはCe及び／又はTbを、ｘは０＜ｘ＜
0.1を満足する数を表わす。）で表わされる蛍光体、特
開昭55-12145号に記載されている一般式が （Ba1-xMIIx）FX:yA （但し、MIIはMg,Ca,Sr,Zn及びCdのうちの少なくとも一
つを、ＸはCl,Br及びＩのうち少なくとも一つを、ＡはE
u,Tb,Ce,Tm,Dy,Pr,Ho,Nd,Yb及びErのうちの少なくとも
一つを、ｘ及びｙは０≦ｘ≦0.6及び０≦ｙ≦0.2なる条
件を満たす数を表わす。）で表わされる蛍光体、特開昭
55-84389号に記載されている一般式が BaFX:xCe,yA （但し、ＸはCl,Br及びＩのうち少なくとも一つ、ＡはI
n,Tl,Gd,Sm及びZrのうちの少なくとも一つであり、ｘ及
びｙはそれぞれ０＜ｘ≦２×10-1及び０＜ｙ≦５×10-2
である。）で表わされる蛍光体、特開昭55-160078号に
記載されている一般式が MIIFX・xA:yLn （但し、MIIはMg,Ca,Ba,Sr,Zn及びCdのうちの少なくと
も一種、ＡはBeO,MgO,CaO,SrO,BaO,ZnO,Al2O3,Y2O3,La2
O3,In2O3,SiO2,TiO2,ZrO2,GeO2,SnO2,Nb2O5,Ta2O5及びT
hO2のうちの少なくとも一種、LnはEu,Tb,Ce,Tm,Dy,Pr,H
o,Nd,Yb,Er,SmおよびGdのうちの少なくとも一種であ
り、ＸはCl,Br及びＩのうちの少なくとも一種であり、
ｘ及びｙはそれぞれ５×10-5≦ｘ≦0.5及び０＜ｙ≦0.2
なる条件を満たす数である。）で表される希土類元素付
活２価金属フルオロハライド蛍光体、特開昭57-148285
号に記載されている下記いずれかの一般式 xM3（PO4）２・NX2:yA M3（PO4）2:yA （式中、Ｍ及びＮはそれぞれMg,Ca,Sr,Ba,Zn及びCdのう
ちの少なくとも一種、ＸはF,Cl,Br及びＩのうち少なく
とも一種、ＡはEu,Tb,Ce,Tm,Dy,Pr,Ho,Nd,Yb,Er,Sb,Tl,
Mn及びSnのうちの少なくとも一種を表わす。また、ｘ及
びｙは０＜ｘ≦６、０＜ｙ≦１なる条件を満たす数であ
る。）で表わされる蛍光体、下記いずれかの一般式 nReX3・mAX′2:xEu nReX3・mAX′2:xEu,ySm （式中、ReはLa,Gd,Y,Luのうち少なくとも一種、Ａはア
ルカリ土類金属,Ba,Sr,Caのうち少なくとも一種、Ｘ及
びＸ′はF,Cl,Brのうち少なくとも一種を表わす。ま
た、ｘ及びｙは１×10-4＜ｘ＜３×10-1、１×10-4＜ｙ
＜１×10-1なる条件を満たす数であり、n/mは１×10-3
＜n/m＜７×10-1なる条件を満たす。）で表わされる蛍
光体、及び下記一般式 MIX・aMIIX′２・bMIIIX″3:cA （但し、MIはLi,Na,K,Rb及びCsから選ばれる少なくとも
一種のアルカリ金属であり、MIIはBe,Mg,Ca,Sr,Ba,Zn,C
d,Cu及びNiから選ばれる少なくとも一種の二価金属であ
る。MIIIはSc,Y,La,Ce,Pr,Nd,Pm,Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,E
r,Tm,Yd,Lu,Al,Ga及びInから選ばれる少なくとも一種の
三価金属である。X,X′及びＸ″はF,Cl,Br及びＩから選
ばれるすくなくとも一種のハロゲンである。ＡはEu,Tb,
Ce,Tm,Dy,Pr,Ho,Nd,Yb,Er,Gd,Lu,Sm,Y,Tl,Na,Ag,Cu及び
Mgから選ばれる少なくとも一種の金属である。
性蛍光体が好ましく用いられる．この輝尽性蛍光体と
は，最初の光若しくは高エネルギー放射線が照射された
後に光的、熱的、機械的、化学的又は電気的等の刺激
（輝尽励起）により最初の光若しくは高エネルギー放射
線の照射量に対応した輝尽発光を示す蛍光体であるが、
実用的な面から好ましくは500nm以上の励起光によって
輝尽発光を示す蛍光体であり、特に、励起光に対する輝
尽発光の応答速度の大きい蛍光体である。半導体レーザ
の発振波長領域の光に対して効率良く輝尽発光を示す蛍
光体であればさらに好ましい。このような輝尽性蛍光体
としては、例えば米国特許第3,859,527号に記載されて
いるSrS:Ce,Sm、SrS:Eu,Sm、La2O2S:Eu,Sm及び（Zn,C
d）S:Mn、Ｘ（但し,Xはハロゲン）で表わされる蛍光体
が挙げられる。また、特開昭55-12143号に記載されてい
る一般式が （Ba1-x-yMgxCay）FX:eEu2+ （但し、ＸはBr及びClの中の少なくとも一つであり、x,
y及びｅはそれぞれ０＜ｘ＋ｙ≦0.6,xy≠０及び10-6≦
ｅ≦５×10-2なる条件を満たす数である。）で表わされ
るアルカリ土類弗化ハロゲン化物蛍光体、特開昭55-121
44号に記載されている一般式が LnOX:xA （但し、LnはLa,Y,Gd及びLuの少なくとも一つを、ＸはC
l及び／又はBrを,AはCe及び／又はTbを、ｘは０＜ｘ＜
0.1を満足する数を表わす。）で表わされる蛍光体、特
開昭55-12145号に記載されている一般式が （Ba1-xMIIx）FX:yA （但し、MIIはMg,Ca,Sr,Zn及びCdのうちの少なくとも一
つを、ＸはCl,Br及びＩのうち少なくとも一つを、ＡはE
u,Tb,Ce,Tm,Dy,Pr,Ho,Nd,Yb及びErのうちの少なくとも
一つを、ｘ及びｙは０≦ｘ≦0.6及び０≦ｙ≦0.2なる条
件を満たす数を表わす。）で表わされる蛍光体、特開昭
55-84389号に記載されている一般式が BaFX:xCe,yA （但し、ＸはCl,Br及びＩのうち少なくとも一つ、ＡはI
n,Tl,Gd,Sm及びZrのうちの少なくとも一つであり、ｘ及
びｙはそれぞれ０＜ｘ≦２×10-1及び０＜ｙ≦５×10-2
である。）で表わされる蛍光体、特開昭55-160078号に
記載されている一般式が MIIFX・xA:yLn （但し、MIIはMg,Ca,Ba,Sr,Zn及びCdのうちの少なくと
も一種、ＡはBeO,MgO,CaO,SrO,BaO,ZnO,Al2O3,Y2O3,La2
O3,In2O3,SiO2,TiO2,ZrO2,GeO2,SnO2,Nb2O5,Ta2O5及びT
hO2のうちの少なくとも一種、LnはEu,Tb,Ce,Tm,Dy,Pr,H
o,Nd,Yb,Er,SmおよびGdのうちの少なくとも一種であ
り、ＸはCl,Br及びＩのうちの少なくとも一種であり、
ｘ及びｙはそれぞれ５×10-5≦ｘ≦0.5及び０＜ｙ≦0.2
なる条件を満たす数である。）で表される希土類元素付
活２価金属フルオロハライド蛍光体、特開昭57-148285
号に記載されている下記いずれかの一般式 xM3（PO4）２・NX2:yA M3（PO4）2:yA （式中、Ｍ及びＮはそれぞれMg,Ca,Sr,Ba,Zn及びCdのう
ちの少なくとも一種、ＸはF,Cl,Br及びＩのうち少なく
とも一種、ＡはEu,Tb,Ce,Tm,Dy,Pr,Ho,Nd,Yb,Er,Sb,Tl,
Mn及びSnのうちの少なくとも一種を表わす。また、ｘ及
びｙは０＜ｘ≦６、０＜ｙ≦１なる条件を満たす数であ
る。）で表わされる蛍光体、下記いずれかの一般式 nReX3・mAX′2:xEu nReX3・mAX′2:xEu,ySm （式中、ReはLa,Gd,Y,Luのうち少なくとも一種、Ａはア
ルカリ土類金属,Ba,Sr,Caのうち少なくとも一種、Ｘ及
びＸ′はF,Cl,Brのうち少なくとも一種を表わす。ま
た、ｘ及びｙは１×10-4＜ｘ＜３×10-1、１×10-4＜ｙ
＜１×10-1なる条件を満たす数であり、n/mは１×10-3
＜n/m＜７×10-1なる条件を満たす。）で表わされる蛍
光体、及び下記一般式 MIX・aMIIX′２・bMIIIX″3:cA （但し、MIはLi,Na,K,Rb及びCsから選ばれる少なくとも
一種のアルカリ金属であり、MIIはBe,Mg,Ca,Sr,Ba,Zn,C
d,Cu及びNiから選ばれる少なくとも一種の二価金属であ
る。MIIIはSc,Y,La,Ce,Pr,Nd,Pm,Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,E
r,Tm,Yd,Lu,Al,Ga及びInから選ばれる少なくとも一種の
三価金属である。X,X′及びＸ″はF,Cl,Br及びＩから選
ばれるすくなくとも一種のハロゲンである。ＡはEu,Tb,
Ce,Tm,Dy,Pr,Ho,Nd,Yb,Er,Gd,Lu,Sm,Y,Tl,Na,Ag,Cu及び
Mgから選ばれる少なくとも一種の金属である。
また、ａは０≦ａ＜0.5の範囲の数値であり、ｂは０≦
ｂ＜0.5の範囲の数値であり、ｃは０＜ｃ＜0.2の範囲の
数値である。）で表わされるアルカリハライド蛍光体等
が挙げられる。特に、前記輝尽性蛍光体のうち、アルカ
リ土類弗化ハロゲン化物系の蛍光体、及びアルカリハラ
イド系の蛍光体が励起光に対する輝尽発光の応答速度が
大きく、また半導体レーザの発振波長領域とのマッチン
グがよく好ましい。
ｂ＜0.5の範囲の数値であり、ｃは０＜ｃ＜0.2の範囲の
数値である。）で表わされるアルカリハライド蛍光体等
が挙げられる。特に、前記輝尽性蛍光体のうち、アルカ
リ土類弗化ハロゲン化物系の蛍光体、及びアルカリハラ
イド系の蛍光体が励起光に対する輝尽発光の応答速度が
大きく、また半導体レーザの発振波長領域とのマッチン
グがよく好ましい。
しかし、前記放射線画像変換パネルに用いられる輝尽性
蛍光体は、前述の蛍光体に限られるものではなく、放射
線を照射した後、輝尽励起光を照射した場合に輝尽発光
を示す蛍光体であればいかなる蛍光体であってもよい。
蛍光体は、前述の蛍光体に限られるものではなく、放射
線を照射した後、輝尽励起光を照射した場合に輝尽発光
を示す蛍光体であればいかなる蛍光体であってもよい。
次に、この発明の方法を実施例により詳細に説明する。
放射線画像情報の記録装置は第１図示の如く放射線源10
1から発し、被写体102を通した放射線を放射線画像情報
変換パネル（以下変換パネルという）103に照射するこ
とにより、その放射線画像情報が変換パネル103に蓄積
記録される。この変換パネル103に蓄積記録された放射
線画像情報は放射線画像読取装置により読取られる。こ
の放射線画像読取装置は第２図示の如く励起光発生用の
光源201を備え、該光源201はドライバ回路202によって
ドライブされる。光源201より発生したビームはフィル
タ203、スプリットミラー204、ビーム光学系205及びミ
ラー206を経て偏向器207に達する。該偏向器207は偏向
器ドライバ208によってドライブされるガルバノミラー
を備え、前記ビームを走査領域内に一定角度で偏向す
る。偏向されたビームはｆθレンズ209によって走査線
上で一定速度となるよう調整され、ミラー210を経て被
写体102を通した画像情報を蓄積記録した変換パネル103
上を矢印ａの方向に走査する。該変換パネル103は同時
に副走査方向（矢印ｂ方向）に適当な移動手段により移
動し、全面が走査される。前記ビームにて走査され、画
像変換パネル103から発生する輝尽発光は集光器212で集
光され、フィルタ213を通って光電子増倍管等の光電変
換器214に至り、ここでアナログ電気信号（画像信号）
に変換される。215は光電子増倍管に高圧を供給する電
源である。光電子増倍管から電流として出力された画像
信号は電流−電圧変換増幅器216を通って電圧増幅さ
れ、さらに発光強度信号を画像濃度信号に変換するLog
変換器217,サンプルホールド回路218を通った後、A/D変
換器219によってデジタル信号に変換され、メモリ220に
格納される．このメモリ220はデジタル演算を行うCPU22
1に接続され、該CPU221はインターフェース222を介して
外部の機器、例えばデータを保存加工するための大型コ
ンピュータ、ミニコンピュータ、画像を出力するCRT表
示装置、各種ハードコピー作成装置等に連結することが
でき、かつメモリ220に蓄えられたデータの演算・転送
を行うようになっている。なお、前記励起光発生用の光
源201としては変換パネル103に蓄積された放射線エネル
ギーを放射させて光に変換するものであれば、特に問わ
ないが、半導体レーザ、He-Neレーザ、He-Cdレーザ、Ar
イオンレーザ、Krイオンレーザ、Ｎレーザ、YAGレーザ
及びその第２高調波、ルビーレーザ等の各種のレーザが
使用できる． しかして、前記放射線画像情報の読取時に、前記被写体
102を通る画像情報のダイナミックレンジを圧縮する。
このダイナミックレンジの圧縮は、先ず、本読みに先
立ち、前記画像情報が蓄積記録された変換パネル103に
弱い励起光を当てて記録時の放射線の強度の場所的変化
即ち透過し易い部位と透過し難い部位を検出し、演算記
憶部105に記憶する。しかる後、本読みに際して光源2
01の出力を上げで変換パネル103に強い励起光を照射す
るとともに、前記演算記憶部105からの情報に基づきコ
ントローラ109を介して光源201のドライバ202を駆動
し、励起光の強度を変調することにより行われる。例え
ば、第３図（Ｉ）のa-a′線の如く変換パネル103に弱い
励起光を当てて記録画像を読取る際のデータが、同図
（II）の如き曲線ｂを描いた場合には、本読み時の励起
光強度を同図（III）曲線ｂ′の如く変調させることに
より、同図（IV）の曲線ｂ″の如く画像情報のダイナミ
ックレンジが圧縮することとなる。
1から発し、被写体102を通した放射線を放射線画像情報
変換パネル（以下変換パネルという）103に照射するこ
とにより、その放射線画像情報が変換パネル103に蓄積
記録される。この変換パネル103に蓄積記録された放射
線画像情報は放射線画像読取装置により読取られる。こ
の放射線画像読取装置は第２図示の如く励起光発生用の
光源201を備え、該光源201はドライバ回路202によって
ドライブされる。光源201より発生したビームはフィル
タ203、スプリットミラー204、ビーム光学系205及びミ
ラー206を経て偏向器207に達する。該偏向器207は偏向
器ドライバ208によってドライブされるガルバノミラー
を備え、前記ビームを走査領域内に一定角度で偏向す
る。偏向されたビームはｆθレンズ209によって走査線
上で一定速度となるよう調整され、ミラー210を経て被
写体102を通した画像情報を蓄積記録した変換パネル103
上を矢印ａの方向に走査する。該変換パネル103は同時
に副走査方向（矢印ｂ方向）に適当な移動手段により移
動し、全面が走査される。前記ビームにて走査され、画
像変換パネル103から発生する輝尽発光は集光器212で集
光され、フィルタ213を通って光電子増倍管等の光電変
換器214に至り、ここでアナログ電気信号（画像信号）
に変換される。215は光電子増倍管に高圧を供給する電
源である。光電子増倍管から電流として出力された画像
信号は電流−電圧変換増幅器216を通って電圧増幅さ
れ、さらに発光強度信号を画像濃度信号に変換するLog
変換器217,サンプルホールド回路218を通った後、A/D変
換器219によってデジタル信号に変換され、メモリ220に
格納される．このメモリ220はデジタル演算を行うCPU22
1に接続され、該CPU221はインターフェース222を介して
外部の機器、例えばデータを保存加工するための大型コ
ンピュータ、ミニコンピュータ、画像を出力するCRT表
示装置、各種ハードコピー作成装置等に連結することが
でき、かつメモリ220に蓄えられたデータの演算・転送
を行うようになっている。なお、前記励起光発生用の光
源201としては変換パネル103に蓄積された放射線エネル
ギーを放射させて光に変換するものであれば、特に問わ
ないが、半導体レーザ、He-Neレーザ、He-Cdレーザ、Ar
イオンレーザ、Krイオンレーザ、Ｎレーザ、YAGレーザ
及びその第２高調波、ルビーレーザ等の各種のレーザが
使用できる． しかして、前記放射線画像情報の読取時に、前記被写体
102を通る画像情報のダイナミックレンジを圧縮する。
このダイナミックレンジの圧縮は、先ず、本読みに先
立ち、前記画像情報が蓄積記録された変換パネル103に
弱い励起光を当てて記録時の放射線の強度の場所的変化
即ち透過し易い部位と透過し難い部位を検出し、演算記
憶部105に記憶する。しかる後、本読みに際して光源2
01の出力を上げで変換パネル103に強い励起光を照射す
るとともに、前記演算記憶部105からの情報に基づきコ
ントローラ109を介して光源201のドライバ202を駆動
し、励起光の強度を変調することにより行われる。例え
ば、第３図（Ｉ）のa-a′線の如く変換パネル103に弱い
励起光を当てて記録画像を読取る際のデータが、同図
（II）の如き曲線ｂを描いた場合には、本読み時の励起
光強度を同図（III）曲線ｂ′の如く変調させることに
より、同図（IV）の曲線ｂ″の如く画像情報のダイナミ
ックレンジが圧縮することとなる。
前記において、被写体102の放射線の透過率の低い部
分を補償する場合、その全ての空間周波数領域で補正す
ると、必要な画像情報も失われてしまうので、0.2lp/mm
以下、好ましくは0.1lp/mm以下の領域のみで補償するこ
とが必要である。即ち、放射線画像は被写体102のう
ち、放射線の通り易い部位と通り難い部位との透過量の
微妙な差で形成されるため、全ての空間周波数領域で補
償し、透過量の差を無くしてしまったのでは画像が作れ
なくなるから、例えば、心臓と肺、背骨と肺の如く大き
な構造物間での補償が行われるようにすることが必要と
なる。このような低空間周波数領域の信号のみを検出す
る方法として、最初からディテクタを粗く配し、空間分
解能を低く設定して置いてもよいが、細かく配して置
き、一旦、検出した信号に平均化処理（フィルタリン
グ）を施す方法がより好ましいと言える。
分を補償する場合、その全ての空間周波数領域で補正す
ると、必要な画像情報も失われてしまうので、0.2lp/mm
以下、好ましくは0.1lp/mm以下の領域のみで補償するこ
とが必要である。即ち、放射線画像は被写体102のう
ち、放射線の通り易い部位と通り難い部位との透過量の
微妙な差で形成されるため、全ての空間周波数領域で補
償し、透過量の差を無くしてしまったのでは画像が作れ
なくなるから、例えば、心臓と肺、背骨と肺の如く大き
な構造物間での補償が行われるようにすることが必要と
なる。このような低空間周波数領域の信号のみを検出す
る方法として、最初からディテクタを粗く配し、空間分
解能を低く設定して置いてもよいが、細かく配して置
き、一旦、検出した信号に平均化処理（フィルタリン
グ）を施す方法がより好ましいと言える。
また、この発明は（ａ）被写体102に放射線を照射し、
該放射線の場所的変化を検出した後、（ｂ）変換パネル
103に本撮影する。しかる後、（ｃ）変換パネルに蓄積
記録された画像情報の読取りの際に前記（ａ）の情報に
基づいて励起光強度を変調しながら放射線画像情報の読
取るようにしてもよい。この場合において、前記（ａ）
の検出は第４図（Ｉ）の如く放射線源101からの放射線
の照射を受ける被写体102の反対側においてラインディ
テクタ104をスキャンすることにより行い、その検出結
果は演算記憶部105に記憶される。このラインディテク
タ104のスキャンは、同図（II）の如く放射線源101とし
て放射線ファンビーム発生装置を用いるときは、これよ
り発するファンビームと同期させることとなる。また、
同図（III）の如くラインディテクタ104に代えて放射線
イメージインテンシファイヤ106を用い、これにより被
写体102の画像情報を増幅してテレビカメラ107で撮影
し、画像情報の強い部位と弱い部位を検出して演算記憶
部105に記憶するようにしてもよい。この検出のための
放射線は弱くてよいし、前記ラインディテクタ104及び
テレビカメラ107の空間分解能は低くてもよい。
該放射線の場所的変化を検出した後、（ｂ）変換パネル
103に本撮影する。しかる後、（ｃ）変換パネルに蓄積
記録された画像情報の読取りの際に前記（ａ）の情報に
基づいて励起光強度を変調しながら放射線画像情報の読
取るようにしてもよい。この場合において、前記（ａ）
の検出は第４図（Ｉ）の如く放射線源101からの放射線
の照射を受ける被写体102の反対側においてラインディ
テクタ104をスキャンすることにより行い、その検出結
果は演算記憶部105に記憶される。このラインディテク
タ104のスキャンは、同図（II）の如く放射線源101とし
て放射線ファンビーム発生装置を用いるときは、これよ
り発するファンビームと同期させることとなる。また、
同図（III）の如くラインディテクタ104に代えて放射線
イメージインテンシファイヤ106を用い、これにより被
写体102の画像情報を増幅してテレビカメラ107で撮影
し、画像情報の強い部位と弱い部位を検出して演算記憶
部105に記憶するようにしてもよい。この検出のための
放射線は弱くてよいし、前記ラインディテクタ104及び
テレビカメラ107の空間分解能は低くてもよい。
第５図は被写体102を通した放射線を変換パネル103に照
射してその画像情報を記録すると同時的に、該画像情報
を読取る場合を示したものであり、放射線の場所的変化
の検出と、その検出情報に基づいて励起光の強度の変調
とを同時的に行うようにしている。即ち、被写体102を
最初から変換パネル103の前面に立たせ、放射線源101で
発生するスリット状のファンビームで被写体102ととも
に、変換パネル103をスキャンする。これと同時に変換
パネル103の後ろに設置した第４図（Ｉ）、（II）と同
様なラインディテクタ104を連動させて放射線の場所的
変化（透過し易い部位と透過し難い部位）を検出し、こ
れを直ちに演算記憶部105にフィードバックし、コント
ローラ109を介して光源201のドライバ202を駆動し、励
起光強度を変調させて画像情報が読取れるようにしてい
る。
射してその画像情報を記録すると同時的に、該画像情報
を読取る場合を示したものであり、放射線の場所的変化
の検出と、その検出情報に基づいて励起光の強度の変調
とを同時的に行うようにしている。即ち、被写体102を
最初から変換パネル103の前面に立たせ、放射線源101で
発生するスリット状のファンビームで被写体102ととも
に、変換パネル103をスキャンする。これと同時に変換
パネル103の後ろに設置した第４図（Ｉ）、（II）と同
様なラインディテクタ104を連動させて放射線の場所的
変化（透過し易い部位と透過し難い部位）を検出し、こ
れを直ちに演算記憶部105にフィードバックし、コント
ローラ109を介して光源201のドライバ202を駆動し、励
起光強度を変調させて画像情報が読取れるようにしてい
る。
第６図（Ｉ）〜（III）は変換パネル103の記録状態の検
出と本読み時のスキャンを交互に行う場合の例を示して
いる。同図（Ｉ）の場合は、先ず、画像情報の蓄積記録
された変換パネル103に弱い励起光で副スキャンS1し、
被写体102を通した放射線の強度の場所的変化即ち透過
し易い部位と透過し難い部位を検出した後、その情報に
基づいて強い励起光で同じラインを励起光強度を変化さ
せながら主スキャンS2して画像情報の読取りを行い、こ
れを繰り返す方法である。同図（II）の場合は、主スキ
ャンS2と、主スキャンS2との間に副スキャンS1を入れ、
副スキャンS1時に被写体102を通した放射線の強度の場
所的変化を検出し、その情報に基づいて主スキャンS2時
に励起光強度を変化させながら画像情報の読取りを行
い、これを繰り返す方法である。同図（III）の場合
は、主スキャンS2の戻りに副スキャンS1し、副スキャン
S1時に放射線の強度の場所的変化を検出し、その情報に
基づいて主スキャンS2時の励起光強度を変化させながら
放射線画像情報の読取りを行い、これを繰り返す方法で
ある。これら（Ｉ）〜（III）はいずれも副スキャンS1
の励起光強度は主スキャンS2より弱い方が好ましい。ま
た、副スキャンS1は主スキャンS2よりスキャン速度は速
くてもかまわないものである。
出と本読み時のスキャンを交互に行う場合の例を示して
いる。同図（Ｉ）の場合は、先ず、画像情報の蓄積記録
された変換パネル103に弱い励起光で副スキャンS1し、
被写体102を通した放射線の強度の場所的変化即ち透過
し易い部位と透過し難い部位を検出した後、その情報に
基づいて強い励起光で同じラインを励起光強度を変化さ
せながら主スキャンS2して画像情報の読取りを行い、こ
れを繰り返す方法である。同図（II）の場合は、主スキ
ャンS2と、主スキャンS2との間に副スキャンS1を入れ、
副スキャンS1時に被写体102を通した放射線の強度の場
所的変化を検出し、その情報に基づいて主スキャンS2時
に励起光強度を変化させながら画像情報の読取りを行
い、これを繰り返す方法である。同図（III）の場合
は、主スキャンS2の戻りに副スキャンS1し、副スキャン
S1時に放射線の強度の場所的変化を検出し、その情報に
基づいて主スキャンS2時の励起光強度を変化させながら
放射線画像情報の読取りを行い、これを繰り返す方法で
ある。これら（Ｉ）〜（III）はいずれも副スキャンS1
の励起光強度は主スキャンS2より弱い方が好ましい。ま
た、副スキャンS1は主スキャンS2よりスキャン速度は速
くてもかまわないものである。
なお、特に図において明示しないが、（ａ）一度デジタ
ル化してメモリに記憶した後、この画像情報より放射線
の透過し難い部位を検出し、（ｂ）その情報に基づいて
画像情報データを補正するようにすることも可能であ
る。
ル化してメモリに記憶した後、この画像情報より放射線
の透過し難い部位を検出し、（ｂ）その情報に基づいて
画像情報データを補正するようにすることも可能であ
る。
また、上記実施例で変換パネル103として輝尽性蛍光体
を用いた例を示したが、これに限定しない。例えば、光
導電体を用い、これに静電潜像を記録するときにも応用
できることは勿論である． 〔発明の効果〕 本願発明の構成によれば、一枚の画像内で放射線の透過
し易い部位と透過し難い部位が混在しても、各部位によ
って、ダイナミックレンジの圧縮を行っているため、全
ての部位を鮮明に描写することが可能となった。従っ
て、部位によって、光学濃度が低くなりすぎて起こる白
抜け、光学濃度が高くなりすぎて黒くなる等の不具合を
解消できる。さらに、S/N比を向上させた状態にて読み
取り可能であり、被写体全面にわたって鮮明な描写がで
きるという優れた効果を奏するものである
を用いた例を示したが、これに限定しない。例えば、光
導電体を用い、これに静電潜像を記録するときにも応用
できることは勿論である． 〔発明の効果〕 本願発明の構成によれば、一枚の画像内で放射線の透過
し易い部位と透過し難い部位が混在しても、各部位によ
って、ダイナミックレンジの圧縮を行っているため、全
ての部位を鮮明に描写することが可能となった。従っ
て、部位によって、光学濃度が低くなりすぎて起こる白
抜け、光学濃度が高くなりすぎて黒くなる等の不具合を
解消できる。さらに、S/N比を向上させた状態にて読み
取り可能であり、被写体全面にわたって鮮明な描写がで
きるという優れた効果を奏するものである
第１図はこの発明の方法を実施する記録装置の一例を示
す略示的斜視図、第２図は読取装置の略示的斜視図、第
３図（Ｉ）〜（IV）は画像情報のダイナミックレンジの
圧縮過程を示す説明図、第４図（Ｉ）〜（III）は被写
体の放射線の場所的変化の検出手段を示す説明図、第５
図は記録と読取を同時的になす例の略示的斜視図、第６
図は主スキャンと副スキャンを交互に実施する場合の説
明図、第７図はパネル及び被写体のダイナミックレンジ
と信号強度及び画像濃度との関係を示す図である。 101……放射線源 102……被写体 103……蓄積型放射線画像変換パネル 104……ラインディテクタ 105……演算記録部 109……コントローラ 201……励起光発生用の光源 202……ドライバ回路 212……集光器 214……光電子増倍管等の光電変換器 216……電流−電圧変換増幅器 219……A/D変換器 220……メモリ 221……CPU 222……インターフェース
す略示的斜視図、第２図は読取装置の略示的斜視図、第
３図（Ｉ）〜（IV）は画像情報のダイナミックレンジの
圧縮過程を示す説明図、第４図（Ｉ）〜（III）は被写
体の放射線の場所的変化の検出手段を示す説明図、第５
図は記録と読取を同時的になす例の略示的斜視図、第６
図は主スキャンと副スキャンを交互に実施する場合の説
明図、第７図はパネル及び被写体のダイナミックレンジ
と信号強度及び画像濃度との関係を示す図である。 101……放射線源 102……被写体 103……蓄積型放射線画像変換パネル 104……ラインディテクタ 105……演算記録部 109……コントローラ 201……励起光発生用の光源 202……ドライバ回路 212……集光器 214……光電子増倍管等の光電変換器 216……電流−電圧変換増幅器 219……A/D変換器 220……メモリ 221……CPU 222……インターフェース
Claims (4)
- 【請求項１】被写体を透過した放射線が照射されて放射
線画像変換パネル上に記録される放射線画像情報をレー
ザ光に当てることにより、電気信号として読み取る放射
線画像情報の読取方法において、前記放射線画像変換パ
ネル上に照射される放射線強度の場所的変化に基づい
て、前記レーザ光の強度を変調し、ダイナミックレンジ
を圧縮することを特徴とする放射線画像情報の読取方
法。 - 【請求項２】本読みに先立ち前記画像情報が記録された
変換パネルに、弱いレーザ光を当てることにより、前記
放射線強度の場所的変化の検出を行うことを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載の放射線画像情報の読取方
法。 - 【請求項３】前記被写体を透過した放射線を検出する検
出手段により、前記放射線強度の場所的変化の検出を行
うことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の放射線
画像情報の読取方法。 - 【請求項４】前記被写体を透過した放射線強度の場所的
変化の検出と、前記検出した情報に基づいたレーザ光の
強度の変調とを同時に行うようにしたことを特徴とする
特許請求の範囲第１項または第２項記載の放射線画像情
報の読取方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62021157A JPH0731372B2 (ja) | 1987-01-31 | 1987-01-31 | 放射線画像情報の読取方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62021157A JPH0731372B2 (ja) | 1987-01-31 | 1987-01-31 | 放射線画像情報の読取方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63189854A JPS63189854A (ja) | 1988-08-05 |
| JPH0731372B2 true JPH0731372B2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=12047077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62021157A Expired - Fee Related JPH0731372B2 (ja) | 1987-01-31 | 1987-01-31 | 放射線画像情報の読取方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0731372B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0638150B2 (ja) * | 1984-03-05 | 1994-05-18 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線画像情報読取条件決定方法 |
-
1987
- 1987-01-31 JP JP62021157A patent/JPH0731372B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63189854A (ja) | 1988-08-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |