JPH07320402A - 光デイスク再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】デイスク状記録媒体の直流レベル検出のための
エリアに欠陥が存在する場合でも確実にデータを再生す
ることができる光デイスク再生装置を提案しようとする
ものである。 【構成】所定周期毎に第１の再生信号の信号レベルを取
り込み、直流レベルをサンプルホールドし、現在又は前
期間にサンプルホールドした直流レベルを出力する直流
電圧補正回路を設け、デイスク状記録媒体の直流レベル
検出のためのエリアに欠陥が存在しない場合には、第１
の再生信号の直流レベルを所定周期毎にサンプルホール
ドし、デイスク状記録媒体の直流レベル検出のためのエ
リアに欠陥が存在する場合には、前期間にサンプルホー
ルドされている電圧値をそのままホールドするようにし
たことにより、デイスク状記録媒体の直流レベル検出の
ためのエリアに欠陥が存在する場合でも確実にデータを
再生することができる光デイスク再生装置を実現し得
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術（図４） 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（図１〜図３） 作用（図１〜図３） 実施例 （１）全体構成（図１） （２）ゲインコントローラの構成（図３） （３）実施例の動作及び効果（図１〜図３） （４）他の実施例 発明の効果（図１〜図３）

【０００２】

【産業上の利用分野】本発明は光デイスク再生装置に関
し、例えば熱磁気記録の手法によつて記録された所望の
記録データを再生する光デイスク再生装置に適用して好
適なものである。

【０００３】

【従来の技術】従来、この種の光デイスク再生装置とし
て、熱磁気記録の手法を適用してデータを記録し、さら
にカー効果を利用して熱磁気記録したデータを再生し得
るようになされたものがある。すなわちこの光デイスク
再生装置は、所定の変調磁界を印加した状態で光ビーム
を光デイスクに連続照射し、これにより光ビームの照射
位置に順次熱磁気記録の手法を適用して垂直磁化領域を
形成し、所望のデータを記録し得るようになされてい
る。

【０００４】また再生時には光デイスクの記録面に光ビ
ームを照射して得られた反射光が、光ビーム照射位置の
磁化極性に応じて当該反射光の偏光面の方向が正逆わず
かに回転することから、相補的に偏光面の方向が変化す
る２方向の光成分に分解される。これにより光デイスク
再生装置は、この２方向の光成分をそれぞれ受光素子で
受光し、この２つの受光素子の光量差に基づいて光ビー
ム照射位置の磁化極性に応じて信号レベルが変化する再
生信号を得るようになされ、この再生信号を所定の信号
処理回路で処理することにより所望のデータを再生し得
るようになされている。

【０００５】ところでこの種の光デイスク状記録媒体
は、ポリカーボネート等を成形して基板を形成し、この
基板上に垂直磁化膜を形成するようになされている。と
ころが光デイスクの成形時において膜厚にばらつきが生
じることにより光デイスク面が変動し、このため基板の
各部で複屈折の大きさが変化する特徴がある。これによ
りこの複屈折の変化に追従して変化する再生信号の直流
レベルが変動し、当該直流レベルの周波数帯域幅が広く
なることから、当該再生信号の直流レベルが当初の再生
信号の周波数帯域で重畳される特徴がある。

【０００６】従つて光デイスク再生装置は、このような
周波数帯域が重畳する直流レベルの変動を十分に抑圧し
得るようにサンプルホールド回路を動作させる必要があ
る。このため従来の光デイスク再生装置は、再生信号を
処理する際、再生信号の直流レベルを一定周期でサンプ
ルホールドすることにより、光デイスクの各部で複屈折
が変化することにより生じる再生信号の直流レベルの変
動をサンプルホールドされている直流レベルによつて打
ち消すようになされている。これにより確実に再生デー
タを検出し得るようになされている。

【０００７】すなわち従来の光デイスク再生装置は、図
４に示すようにＤＣレベル補正回路１を有し、当該ＤＣ
レベル補正回路１において、光ピツクアツプ（図示せ
ず）から得られる再生信号Ｓ１をバツフア回路２を介し
てサンプルホールド回路３及び差動増幅回路４の非反転
入力端に出力する。サンプルホールド回路３は各セグメ
ントの先頭に有り、データエリアに続く直流レベル検出
のための領域（以下、これをクランプエリアと呼ぶ）の
開始位置毎に立上がるサンプル信号Ｓ２に同期してスイ
ツチ５のオン又はオフを繰り返す。

【０００８】これによりサンプルホールド回路３は抵抗
６を介して設けられたホールドコンデンサ７に再生信号
Ｓ１の出力電圧と等しい電圧を充放電し、当該ホールド
コンデンサ７に充電された電圧をオペアンプ８を介して
直流レベル信号Ｓ３として差動増幅回路４の反転入力端
に出力する。この差動増幅回路４は、再生信号Ｓ１の出
力電圧から直流レベル信号Ｓ３の出力電圧を減算して再
生信号Ｓ４として出力することにより、再生信号Ｓ１の
低周波成分を除去するようになされている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところがこのように再
生信号の直流レベルの変動を十分に抑圧し得るようにサ
ンプルホールド回路を動作させると、デイスク上の所定
位置に設けられているサンプリング点に傷、ゴミ等のデ
イフエクト（欠陥）がある場合には、当該サンプリング
点における再生信号の信号レベルが急激に変化するおそ
れがある。このため当該サンプリング点の値を基準にし
て再生信号の直流レベルの補正をしようとすると、当該
サンプリング点におけるサンプリング周期のみ再生デー
タを検出し得なくなるおそれがあつた。

【００１０】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、デイスク状記録媒体の直流レベル検出のためのエリ
アに欠陥が存在する場合でも確実にデータを再生するこ
とができる光デイスク再生装置を提案しようとするもの
である。

【００１１】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、記録データが熱磁気記録されてい
るデイスク状記録媒体１１から記録データを再生する光
デイスク再生装置１０において、デイスク状記録媒体１
１に光ビームを照射し、当該デイスク状記録媒体１１か
ら得られる反射光の光方向に応じた信号レベルが得られ
る第１の再生信号Ｓ１０を出力する光ピツクアツプ手段
１２と、所定周期毎に第１の再生信号Ｓ１０の信号レベ
ルを取り込み、直流レベルをサンプルホールドし、現在
又は前期間にサンプルホールドした直流レベルＳ３２を
出力する直流電圧補正回路５０、５１、５８、６４、６
６、５９と、直流電圧補正回路５０、５１、５８、６
４、６６、５９の現在又は前期間にサンプルホールドし
た直流レベルＳ３２と第１の再生信号Ｓ１０との出力電
圧の差分をとり、当該差分電圧でなる第２の再生信号Ｓ
１６を出力する差動増幅回路５３とを備え、デイスク状
記録媒体１１の直流レベル検出のためのエリアＣＬに欠
陥ＤＦが存在しない場合には、直流電圧補正回路５０、
５１、５８、６４、６６、５９は第１の再生信号Ｓ１０
の直流レベルを所定周期毎にサンプルホールドし、デイ
スク状記録媒体１１の直流レベル検出のためのエリアＣ
Ｌに欠陥ＤＦが存在する場合には、直流電圧補正回路５
０、５１、５８、６４、６６、５９は前期間にサンプル
ホールドされている電圧値をそのままホールドするよう
にする。

【００１２】

【作用】デイスク状記録媒体１１の直流レベル検出のた
めのエリアＣＬに欠陥ＤＦが存在する場合には、第１の
再生信号Ｓ１０の出力電圧が急激に変化することから、
第２のサンプルホールド回路５１は前期間にサンプルホ
ールドされている電圧値をそのままホールドし、これを
直流レベルＳ３２として出力する。この結果当該直流レ
ベルＳ３２と第１の再生信号Ｓ１０との差分結果に基づ
いて第１の再生信号Ｓ１０の直流レベルの変動を検出し
て補正してなる第２の再生信号Ｓ１６が得られ、かくし
てデイスク状記録媒体１１の直流レベル検出のためのエ
リアＣＬに欠陥ＤＦが存在する場合でも確実にデータを
再生することができる。

【００１３】

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。

【００１４】（１）全体構成 図１において、１０は全体として光デイスク再生装置を
示し、磁界変調方式すなわち磁界を入力信号に従つて高
速で変調して磁化の方向を定める方式を適用して光磁気
デイスク１１に所望のデータを熱磁気記録し、さらに記
録したデータを再生する。すなわち光磁気デイスク１１
は、所定のデイスク状基板に磁性膜を形成するようにな
され、これにより熱磁気記録の手法を適用して所望のデ
ータを熱磁気記録し得るようになされている。

【００１５】ここで光磁気デイスク１１は、同心円状に
記録トラツクを形成し、各記録トラツクをセクタ単位に
分割し、さらに各セクタを複数のセグメントに分割す
る。さらに図２に示すように光磁気デイスク１１は、こ
のセクタの各セグメントをデータエリア（ＤＡＴＡ）に
割り当てる。この場合、データエリアにはデータのみな
らずアドレスも含まれている（図２（Ａ））。

【００１６】さらに光磁気デイスク１１は、各セグメン
トの先頭にクランプエリア（ＣＬ）を形成し、光デイス
ク再生装置１０はこのクランプエリアの信号レベルを検
出することにより再生される再生信号の直流レベルの変
動を検出できるようになされている。すなわち光デイス
ク再生装置１０は、光磁気デイスク１１の各セグメント
の先頭、データエリアに続く領域でそれぞれ再生信号の
直流レベルの変動を検出して補正し得るようになされて
いる。

【００１７】光デイスク再生装置１０において、光学ブ
ロツク１２は、スピンドルモータ１３で光磁気デイスク
１１を所定の回転速度で回転駆動し、この状態で光磁気
デイスク１１に光ビームを照射し、これにより所望の情
報を記録再生し、さらにトラツキングエラー信号、フオ
ーカスエラー信号等を生成し得るようになされている。
すなわち光学ブロツク１２において、光ピツクアツプ１
４に内蔵したレーザダイオードの動作をＬＤ（Laser Di
ode ）ドライバ１５によつて制御すると共に、光ピツク
アツプ１４をアクチユエータ１６によつて駆動すること
により、光磁気デイスク１１に光ビームを照射する。

【００１８】これによりデータ記録時には磁界ヘツド駆
動部１７が所望の記録データに基づいて磁界発生用コイ
ル１８を駆動することにより、当該光磁気デイスク１１
の光ビームの照射位置に所定の変調磁界を印加するよう
になされ、磁界変調方式を適用して所望のデータを記録
し得るようになされている。また再生時には光ピツクア
ツプ１４は、光ビームを照射して得られる反射光を相補
的に偏光面の方向が変化する２方向の光成分に分解して
当該光ピツクアツプ１４に内蔵された所定の受光素子で
受光するようになされている。またＩ−Ｖ（電流電圧）
変換部１９がこの受光素子の出力電流を電流電圧変換し
た後、所定の加算処理及び減算処理をすることにより２
つの再生信号を生成するようになされている。

【００１９】すなわちＩ−Ｖ変換部１９は、光ピツクア
ツプ１４の受光結果に基づいて熱磁気記録したデータの
再生信号（以下、これをＭＯ信号と呼ぶ）Ｓ１０及びピ
ツトを形成して記録したデータの再生信号（以下、これ
をＲＦ信号）Ｓ１１を生成し、このＭＯ信号Ｓ１０及び
ＲＦ信号Ｓ１１をそれぞれゲインコントローラ２０及び
２１に出力する。またその際、Ｉ−Ｖ変換部１９は、光
ピツクアツプ１４の受光結果に基づいてフオーカスエラ
ー信号Ｓ１２、スライドエラー信号Ｓ１３及びトラツキ
ングエラー信号Ｓ１４を生成し、サーボ制御部２２に出
力すると共に、ＬＤドライバ１５のレーザパワーを制御
するフロントオートパワーコントロール信号Ｓ１５を生
成し、ＡＬＰＣ（Auto Laser Power Control）２３に出
力するようになされている。

【００２０】ゲインコントローラ２０は、ＭＯ信号Ｓ１
０をクランプ処理して得られるＭＯ信号Ｓ１６をパルス
検出部２４に出力し、パルス検出部２４はこのＭＯ信号
Ｓ１６をパルス検出した後、ＰＬＬ（Phase Locked Loo
p ）部２５及びＲ／Ｗ（Read/Write）部２６に出力す
る。またゲインコントローラ２１は、ＲＦ信号Ｓ１１を
クランプ処理して得られるＲＦ信号Ｓ１７をパルス検出
部２７に出力し、パルス検出部２７はこのＲＦ信号Ｓ１
７をパルス検出した後、ＰＬＬ部２５及びＲ／Ｗ部２６
に出力する。

【００２１】ＰＬＬ部２５は位相比較部２８及び電圧制
御型発信部（以下、これをＶＣＯ部と呼ぶ）２９を有す
る。ＰＬＬ部２５は位相比較部２８に入力するパルス検
出部２４及び２７からの出力信号とＶＣＯ部２９の発信
出力との位相差を検出することにより、当該ＶＣＯ部２
９から当該パルス検出部２４及び２７からの出力信号に
同期したデータクロツクでなる位相同期信号Ｓ１８を生
成するようになされている。

【００２２】これによりＰＬＬ部２５は、この位相同期
信号Ｓ１８を基準としてＶＣＯ部２９からゲインコント
ローラ２０及び２１にそれぞれロツク信号Ｓ１９及びＳ
２０として出力すると共に、Ｒ／Ｗ部２６に位相同期信
号Ｓ１８を出力するようになされている。さらにＲ／Ｗ
部２６は、位相同期信号Ｓ１８及びパルス検出部２４及
び２７からの出力信号に基づいて生成された信号をタイ
ミングジエネレータ（ＴＧ）３０に出力するようになさ
れている。

【００２３】タイミイグジエネレータ３０は、Ｒ／Ｗ部
２６からバス３１を介して出力された信号を基準にして
クランプパルスを生成し、当該クランプパルスをタイミ
ング信号Ｓ２４としてそれぞれゲインコントローラ２０
及び２１に送出するようになされている。さらにタイミ
イグジエネレータ３０は、ＰＬＬ部２５からバス３１を
介して出力された位相同期信号Ｓ１８を基準にして、抽
出されたデータクロツクを基準として得られる基準信号
をデータクロツク信号Ｓ２５としてそれぞれゲインコン
トローラ２０及び２１に送出するようになされている。

【００２４】因に、データクロツク信号Ｓ２５は、光磁
気デイスク１１の記録領域を同心円状に分割し、各領域
すなわち外周側及び内周側の領域でデータクロツクを切
り換える（以下、これをゾーニングと呼ぶ）ことよつて
外周側及び内周側の領域でそれぞれ変調磁界の印加周期
に同期させるために出力される信号である。

【００２５】またＲ／Ｗ部２６は、セクタマーク（Ｓ
Ｍ）の検出、データ検出、データ変復調及びアドレスデ
ータ（ＩＤ）の復号化を実行するようになされている。
またＲ／Ｗ部２６は、バス３１を介してコントローラ３
２と接続されており、ＣＰＵ３３の制御に基づいて当該
コントローラ３２との間でデータを入出力するようにな
されている。さらにコントローラ３２はＳＣＩＳバス３
４を介してホストコンピユータ３５と接続されている。

【００２６】ここで、ホストコンピユータ３５からコン
トローラ３２に所望のデータを書き込むためのコマンド
が送出されると、当該コントローラ３２は光デイスク再
生装置１０の記録系にセクタを指定すると共に、所望の
データについて誤り訂正符号（ＥＣＣ）の符号化を行つ
た後Ｒ／Ｗ部２６に転送する。

【００２７】Ｒ／Ｗ部２６は、ＰＬＬ部２５からのデー
タクロツクに同期して磁界ヘツド駆動部１７及びＬＤド
ライバ１５にそれぞれ制御信号Ｓ２１及びＳ２２を送出
し、当該制御信号Ｓ２１及びＳ２２に基づいて磁界ヘツ
ド駆動部１７及びＬＤドライバ１５を制御することによ
り、光磁気デイスク１１に所望のデータを記録するよう
になされている。

【００２８】その際ＡＬＰＣ２３は、Ｉ−Ｖ変換部１９
から出力されたフロントオートパワーコントロール信号
Ｓ１５に基づいて得られる制御信号Ｓ２３をＬＤドライ
バ１５に送出することにより、当該ＬＤドライバ１５の
レーザパワーを制御するようになされている。

【００２９】またサーボ制御部２２はＩ−Ｖ変換部１９
から出力されたフオーカスエラー信号Ｓ１２、スライド
エラー信号Ｓ１３及びトラツキングエラー信号Ｓ１４に
基づいて得られる制御信号Ｓ２６をアクチユエータ１６
に送出することにより、当該アクチユエータ１６を制御
するようになされている。これにより光デイスク再生装
置１０の記録系は、光ピツクアツプ１４を制御駆動して
当該光ピツクアツプ１４を指定セクタまでシークするこ
とができるようになされている。

【００３０】一方これに対して、ホストコンピユータ３
５からコントローラ３２に所望のデータを読み出すため
のコマンドが送出されると、当該コントローラ３２は光
デイスク再生装置１０の再生系にセクタを指定する。光
デイスク再生装置１０の再生系は、サーボ制御部２２の
制御に基づいて光ピツクアツプ１４を制御駆動して当該
光ピツクアツプ１４を指定セクタまでシークする。

【００３１】Ｒ／Ｗ部２６は再生した信号を２値化デー
タに変換した後、コントローラ３２に転送する。コント
ローラ３２は当該データについて誤り訂正符号の復号化
を行つた後ホストコンピユータ３５に転送する。これに
より光デイスク再生装置１０の再生系は、光磁気デイス
ク１１に記録された所望のデータを再生することができ
るようになされている。

【００３２】（２）ゲインコントローラの構成 図３に示すようにゲインコントローラ２０は、所定周期
毎に入力されたＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルをサンプル
ホールドする第１のサンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路５
０と、当該第１のＳ／Ｈ回路５０の直流レベルをサンプ
ルホールドし、現在又は前期間にサンプルホールドした
直流レベルを出力する第２のサンプルホールド（Ｓ／
Ｈ）回路５１とを有する。そしてゲインコントローラ２
０は、ＭＯ信号Ｓ１０と第２のＳ／Ｈ回路５１の直流レ
ベルとの出力電圧の差分をとり、この差分結果に基づい
てＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルの変動を検出して補正し
てなるＭＯ信号Ｓ１６を出力するようになされている。

【００３３】まずゲインコントローラ２０は、入力され
たＭＯ信号Ｓ１０をバツフア回路５２を介して第１のＳ
／Ｈ回路５０及び差動増幅回路５３に送出する。第１の
Ｓ／Ｈ回路５０は、Ｒ／Ｗ部２６（図１）から出力され
た各クランプエリアの開始位置毎に立ち上がるタイミン
グ信号Ｓ２４が与えられると、ＭＯ信号Ｓ１０の直流レ
ベルをサンプルホールドして第２のＳ／Ｈ回路５１及び
差動増幅回路５８に与えるようになされている。

【００３４】すなわち第１のＳ／Ｈ回路５０は、タイミ
ング信号Ｓ２４に同期してスイツチ５４をオン又はオフ
を繰り返すことにより、ＭＯ信号Ｓ１０の出力電圧と等
しい電圧に抵抗５５を介して設けられたホールドコンデ
ンサ５６を充放電する。これにより第１のＳ／Ｈ回路５
０は、ホールドコンデンサ５６に充電された電圧をオペ
アンプ５７を介して直流レベル信号Ｓ３０として第２の
Ｓ／Ｈ回路５１及び差動増幅回路５８の非反転入力端に
出力するようになされている。

【００３５】第２のＳ／Ｈ回路５１は、Ｄ型フリツプフ
ロツプ回路５９から出力された遅延タイミング信号Ｓ３
１が与えられると第１のＳ／Ｈ回路５０から出力された
直流レベル信号Ｓ３０をサンプルホールドして差動増幅
回路５３及び５８に与えるようになされている。すなわ
ち第２のＳ／Ｈ回路５１は、遅延タイミング信号Ｓ３１
に同期してスイツチ６０をオン又はオフを繰り返すこと
により、直流レベル信号Ｓ３０の出力電圧と等しい電圧
に抵抗６１を介して設けられたホールドコンデンサ６２
を充放電する。これにより第２のＳ／Ｈ回路５１は、ホ
ールドコンデンサ６２に充電された電圧をオペアンプ６
３を介して直流レベル信号Ｓ３２として差動増幅回路５
３の反転入力端及び差動増幅回路５８の反転入力端に出
力するようになされている。

【００３６】ここで遅延タイミング信号Ｓ３１（図２
（Ｇ））は、Ｄ型フリツプフロツプ回路５９のトリガに
基づいて、タイミング信号Ｓ２４（図２（Ｄ））を立上
げるタイミングより２クロツク分遅延して出力されるよ
うになされている。これにより遅延タイミング信号Ｓ３
１が与えられたときには、第１のＳ／Ｈ回路５０でホー
ルドされている電圧値が安定した状態で、第２のＳ／Ｈ
回路５１は直流レベル信号Ｓ３０をサンプルホールドす
ることができるようになされている。

【００３７】また遅延タイミング信号Ｓ３１が与えられ
ないときには、第２のＳ／Ｈ回路５１は、第１のＳ／Ｈ
回路５０から直流レベル信号Ｓ３０が出力される１クラ
ンプ周期前に当該第２のＳ／Ｈ回路５１でホールドされ
ている電圧値をそのまま直流レベル信号Ｓ３２として出
力するようになされている。因に、光磁気デイスク１１
の成形時において膜厚にばらつきが生じることにより、
ＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルが変動し、このため直流レ
ベル信号Ｓ３０の出力電圧のレベルはクランプ周期毎に
若干変動しつつあり、さらにこれに伴つて直流レベル信
号Ｓ３２の出力電圧のレベルも変動しつつある。

【００３８】差動増幅回路５８は、第１のＳ／Ｈ回路５
０から出力された直流レベル信号Ｓ３０と第２のＳ／Ｈ
回路５１から出力された直流レベル信号Ｓ３２との出力
電圧の差分をとり、これを出力信号Ｓ３３としてコンパ
レータ回路６４に出力する。コンパレータ回路６４はこ
の出力信号Ｓ３３の出力電圧をオフセツト電源６５のオ
フセツト電圧と比較して、この比較結果を比較出力信号
Ｓ３４としてアンド回路６６に出力する。ここでオフセ
ツト電圧は、デイフエクトＤＦが存在しないクランプエ
リアＣＬにおける出力信号Ｓ３３の出力電圧より大きい
所定の値に設定するようになされている。

【００３９】デイフエクトＤＦが存在しないクランプエ
リアＣＬにおいては、出力信号Ｓ３３の出力電圧とオフ
セツト電圧との差分が比較的小さい値になる。この結果
コンパレータ回路６４は論理「Ｈ」に立上がつた状態に
ある比較出力信号Ｓ３４をアンド回路６６の入力端に出
力するようになされている。

【００４０】アンド回路６６の他方の入力端にはタイミ
ング信号Ｓ２４が与えられており、当該タイミング信号
Ｓ２４と比較出力信号Ｓ３４とが共に入力状態にあると
きアンド回路６６からアンド出力信号Ｓ３５が出力さ
れ、これがＤ型フリツプフロツプ回路５９のデータ入力
端に与えられる。またＤ型フリツプフロツプ回路５９は
タイミングジエネレータ３０（図１）から出力されたデ
ータクロツク信号Ｓ２５をクロツク入力端に受けると共
に、ＰＬＬ部２５（図１）から出力されたロツク信号Ｓ
１９を同期パルス入力端に受けるようになされている。

【００４１】すなわちＤ型フリツプフロツプ回路５９は
ＰＬＬ部２５がロツクされると、ロツク信号Ｓ１９が論
理「Ｌ」に立下がる（図２（Ｂ））。この状態において
Ｄ型フリツプフロツプ回路５９は、データクロツク信号
Ｓ２５の立ち上がりにトリガすることにより、アンド出
力信号Ｓ３５を立上げるタイミングより２クロツク分遅
延して出力される遅延タイミング信号Ｓ３１をＱ出力端
から第２のＳ／Ｈ回路５１のスイツチ６０に出力するよ
うになされている。

【００４２】（３）実施例の動作及び効果 以上の構成において、図２に示すように光磁気デイスク
１１上のクランプエリアＣＬにデイフエクトＤＦが存在
する場合、当該クランプエリアＣＬの開始位置の時点ｔ
₁ では、デイフエクトＤＦによるクランプエリアＣＬの
損傷のためにＭＯ信号Ｓ１０の出力電圧は急激に変化す
る（図２（Ｃ））。

【００４３】ＰＬＬ部２５から出力されたロツク信号Ｓ
１９が立下がつている状態（図２（Ｂ））すなわちデイ
フエクトＤＦを検出し得る状態において、第１のＳ／Ｈ
回路５０は、各クランプエリアＣＬの開始位置毎に立上
がるタイミング信号Ｓ２４（図２（Ｄ））に同期してＭ
Ｏ信号Ｓ１０の直流レベルをサンプルホールドし、この
結果を直流レベル信号Ｓ３０として第２のＳ／Ｈ回路５
１及び差動増幅回路５８に出力する。この場合直流レベ
ル信号Ｓ３０は、ＭＯ信号Ｓ１０に伴つて時点ｔ₁ から
１クランプ周期後の時点ｔ₂ まで出力電圧が格段的に高
い値になる（図２（Ｅ））。

【００４４】第２のＳ／Ｈ回路５１は、遅延タイミング
信号Ｓ３１に同期して直流レベル信号Ｓ３０をサンプル
ホールドし、この結果を直流レベル信号Ｓ３２として差
動増幅回路５８に出力する。このとき直流レベル信号Ｓ
３２は直流レベル信号Ｓ３０よりも１クランプ周期前に
出力されることにより、時点ｔ₁ における直流レベル信
号Ｓ３２の出力電圧は時点ｔ₁ より１クランプ周期前に
おける直流レベル信号Ｓ３０をサンプルホールドしたと
きの出力電圧と同じ値になる（図２（Ｈ））。

【００４５】差動増幅回路５８は、時点ｔ₁ における直
流レベル信号Ｓ３０と直流レベル信号Ｓ３２との出力電
圧の差分をとり、これを出力信号Ｓ３３としてコンパレ
ータ回路６４に出力する。このとき直流レベル信号Ｓ３
０の出力電圧が時点ｔ₁ から１クランプ周期の間では格
段的に高い値になり（図２（Ｅ））、直流レベル信号Ｓ
３２の出力電圧が時点ｔ₁ より１クランプ周期前の出力
電圧と同じ値になることにより（図２（Ｈ））、出力信
号Ｓ３３の出力電圧は直流レベル信号Ｓ３０の出力電圧
とほぼ同じ値になる。

【００４６】コンパレータ回路６４は、出力信号Ｓ３３
の出力電圧と所定のオフセツト電圧とを比較すると、出
力信号Ｓ３３の出力電圧と所定のオフセツト電圧との差
分が格段的に大きくなることにより、比較出力信号Ｓ３
４は時点ｔ₁ から１クランプ周期の間では論理「Ｌ」に
立下がつた状態になる（図２（Ｆ））。この結果コンパ
レータ回路６４は比較出力信号Ｓ３４をアンド回路６６
に出力しない。これに伴つてアンド回路６６はＤ型フリ
ツプフロツプ回路５９にアンド出力信号Ｓ３５を出力し
ない。

【００４７】従つてＤ型フリツプフロツプ回路５９は、
時点ｔ₁ では第２のＳ／Ｈ回路５１に遅延タイミング信
号Ｓ３１を出力しないことにより（図２（Ｇ））、第２
のＳ／Ｈ回路５１は直流レベル信号Ｓ３０をサンプルホ
ールドしない。この結果第２のＳ／Ｈ回路５１は、時点
ｔ₁ から１クランプ周期前に当該第２のＳ／Ｈ回路５１
でホールドされている電圧値をそのままホールドし、こ
れを直流レベル信号Ｓ３２として差動増幅回路５３に出
力する。

【００４８】これにより差動増幅回路５３は、当該直流
レベル信号Ｓ３２とＭＯ信号Ｓ１０との差分をとり、こ
の差分結果に基づいてゲインコントローラ２０はＭＯ信
号Ｓ１０の直流レベルの変動を検出して補正してなるＭ
Ｏ信号Ｓ１６を出力する（図２（Ｉ））。

【００４９】以上の構成によれば、ゲインコントローラ
２０は入力されたＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルをサンプ
ルホールドし、現在又は前期間にサンプルホールドした
直流レベルを出力する。すなわち光磁気デイスク１１上
のクランプエリアＣＬにデイフエクトＤＦが存在しない
場合には、ゲインコントローラ２０はＭＯ信号Ｓ１０の
直流レベルを所定周期毎にサンプルホールドする。これ
に対して光磁気デイスク１１上のクランプエリアＣＬに
デイフエクトＤＦが存在する場合には、ゲインコントロ
ーラ２０は前期間にサンプルホールドされている電圧値
をそのままホールドする。

【００５０】これによりゲインコントローラ２０は、当
該サンプルホールドした後の直流レベルとＭＯ信号Ｓ１
０との出力電圧の差分をとることにより、当該この差分
結果に基づいてＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルの変動を検
出して補正してなるＭＯ信号Ｓ１６を出力することがで
き、かくしてデイフエクトＤＦの有無に係わらず確実に
データを再生することができる。

【００５１】（４）他の実施例 なお上述の実施例においては、タイミイグジエネレータ
３０から出力されるタイミング信号Ｓ２４とＤ型フリツ
プフロツプ回路５９から出力される遅延タイミング信号
Ｓ３１との関係について、遅延タイミング信号Ｓ３１は
タイミング信号Ｓ２４が立ち上がるタイミングよりも２
クロツク分遅延して出力されるようにした場合について
述べたが、本発明はこれに限らず、遅延タイミング信号
Ｓ３１がタイミング信号Ｓ２４が立ち上がるタイミング
よりも２以外の数、例えば１又は３以上の数クロツク分
遅延して出力されるようにした場合にも本発明を適用し
得る。この場合第１のＳ／Ｈ回路５０でホールドされて
いる電圧値が安定した状態で、第２のＳ／Ｈ回路５１は
直流レベル信号Ｓ３０をサンプルホールドすることがで
きるようにする。

【００５２】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、所定周期
毎に第１の再生信号の信号レベルを取り込み、直流レベ
ルをサンプルホールドし、現在又は前期間にサンプルホ
ールドした直流レベルを出力する直流電圧補正回路を設
け、デイスク状記録媒体の直流レベル検出のためのエリ
アに欠陥が存在しない場合には、第１の再生信号の直流
レベルを所定周期毎にサンプルホールドし、デイスク状
記録媒体の直流レベル検出のためのエリアに欠陥が存在
する場合には、前期間にサンプルホールドされている電
圧値をそのままホールドするようにしたことにより、デ
イスク状記録媒体の直流レベル検出のためのエリアに欠
陥が存在する場合でも確実にデータを再生することがで
きる光デイスク再生装置を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による光デイスク再生装置を
示すブロツク図である。

【図２】デイフエクトが発生した場合の動作の説明に供
する信号波形図である。

【図３】ゲインコントローラを示すブロツク図である。

【図４】従来の光デイスク再生装置のＤＣレベル補正回
路を示すブロツク図である。

【符号の説明】

１０……光デイスク再生装置、１１……光磁気デイス
ク、１２……光学ブロツク、１４……光ピツクアツプ、
１９……Ｉ−Ｖ変換部、２０、２１……ゲインコントロ
ーラ、２５……ＰＬＬ部、２６……Ｒ／Ｗ部、３０……
タイミングジエネレータ、３２……コントローラ、３５
……ホストコンピユータ、５０……第１のＳ／Ｈ回路、
５１……第２のＳ／Ｈ回路、５３、５８……差動増幅回
路、５９……Ｄ型フリツプフロツプ回路、６４……コン
パレータ回路、６６……アンド回路。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】記録データが熱磁気記録されているデイス
   ク状記録媒体から上記記録データを再生する光デイスク
   再生装置において、 上記デイスク状記録媒体に光ビームを照射し、当該デイ
   スク状記録媒体から得られる反射光の光方向に応じた信
   号レベルが得られる第１の再生信号を出力する光ピツク
   アツプ手段と、 所定周期毎に上記第１の再生信号の信号レベルを取り込
   み、直流レベルをサンプルホールドし、現在又は前期間
   にサンプルホールドした直流レベルを出力する直流電圧
   補正回路と、 上記直流電圧補正回路の現在又は前期間にサンプルホー
   ルドした直流レベルと上記第１の再生信号との出力電圧
   の差分をとり、当該差分電圧でなる第２の再生信号を出
   力する差動増幅回路とを具え、上記デイスク状記録媒体
   の直流レベル検出のためのエリアに欠陥が存在しない場
   合には、上記直流電圧補正回路は上記第１の再生信号の
   直流レベルを上記所定周期毎にサンプルホールドし、上
   記デイスク状記録媒体の直流レベル検出のためのエリア
   に欠陥が存在する場合には、上記直流電圧補正回路は前
   期間にサンプルホールドされている電圧値をそのままホ
   ールドすることを特徴とする光デイスク再生装置。
2. 【請求項２】上記直流電圧補正回路は、 所定周期毎に上記第１の再生信号の信号レベルを取り込
   み、直流レベルをサンプルホールドする第１のサンプル
   ホールド回路と、 上記第１のサンプルホールド回路の直流レベルをサンプ
   ルホールドし、現在又は前期間にサンプルホールドした
   直流レベルを出力する第２のサンプルホールド回路と、 上記第１のサンプルホールド回路の直流レベルと上記第
   ２のサンプルホールド回路の直流レベルとの出力電圧の
   差分をとり、当該差分電圧を所定の基準電圧と比較し、
   当該比較結果に基づいて上記第２のサンプルホールド回
   路にサンプルホールドさせるか否かを判断して制御する
   制御部とを具えることを特徴とする請求項１に記載の光
   デイスク再生装置。
3. 【請求項３】上記第１のサンプルホールド回路が上記第
   １の再生信号を所定周期毎にサンプルホールドするタイ
   ミングを、上記第２のサンプルホールド回路が上記第１
   のサンプルホールド回路の直流レベルをサンプルホール
   ドするタイミングよりも所定時間ずらすことを特徴とす
   る請求項２に記載の光デイスク再生装置。