JPH07334928A - 光デイスク再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】デイスク状記録媒体の直流レベル検出のための
エリアに欠陥が存在する場合でも確実にデータを再生す
ることができる光デイスク再生装置を提案しようとする
ものである。 【構成】所定周期毎に第１の再生信号の信号レベルを取
り込んで現期間の第１の再生信号の直流レベルをサンプ
ルホールドし、前期間又は前々期間にサンプルホールド
した直流レベルを現期間における当該第１の再生信号の
直流レベルとして出力する直流電圧補正回路を設け、デ
イスク状記録媒体の直流レベル検出のためのエリアに欠
陥が存在しない場合には、直流電圧補正回路は第１の再
生信号の直流レベルを所定周期毎に１周期遅延してサン
プルホールドし、デイスク状記録媒体の直流レベル検出
のためのエリアに欠陥が存在する場合には、直流電圧補
正回路は前々期間にサンプルホールドされている電圧値
をそのままホールドするようにしたことにより、確実に
データを再生することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術（図６） 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（図１〜図５） 作用（図１〜図５） 実施例 （１）全体構成（図１） （２）第１実施例 （２−１）ゲインコントローラ２０の構成（図２及び図
３） （２−２）第１実施例の動作及び効果（図１〜図３） （３）第２実施例 （３−１）ゲインコントローラ７０の構成（図４及び図
５） （３−２）第２実施例の動作及び効果（図１、図４及び
図５） （４）他の実施例 発明の効果（図１〜図５）

【０００２】

【産業上の利用分野】本発明は光デイスク再生装置に関
し、例えば熱磁気記録の手法によつて記録された所望の
データを再生する光デイスク再生装置に適用して好適な
ものである。

【０００３】

【従来の技術】従来、この種の光デイスク再生装置とし
て、熱磁気記録の手法を適用してデータを記録し、さら
にカー効果を利用して熱磁気記録したデータを再生し得
るようになされたものがある。すなわちこの光デイスク
再生装置は、所定の変調磁界を印加した状態で光ビーム
を光デイスクに連続照射し、これにより光ビームの照射
位置に順次熱磁気記録の手法を適用して垂直磁化領域を
形成し、所望のデータを記録し得るようになされてい
る。

【０００４】また再生時には光デイスクの記録面に光ビ
ームを照射して得られた反射光が、光ビーム照射位置の
磁化極性に応じて当該反射光の偏光面の方向が正逆わず
かに回転することから、相補的に偏光面の方向が変化す
る２方向の光成分に分解される。これにより光デイスク
再生装置は、この２方向の光成分をそれぞれ受光素子で
受光し、この２つの受光素子の光量差に基づいて光ビー
ム照射位置の磁化極性に応じて信号レベルが変化する再
生信号を得るようになされ、この再生信号を所定の信号
処理回路で処理することにより所望のデータを再生し得
るようになされている。

【０００５】ところでこの種の光デイスク状記録媒体
は、ポリカーボネート等を成形して基板を形成し、この
基板上に垂直磁化膜を形成するようになされている。と
ころが光デイスクの成形時において膜厚にばらつきが生
じることにより、光デイスク面が変動し、このため基板
の各部で複屈折の大きさが変化する特徴がある。これに
よりこの複屈折の変化に追従して変化する再生信号の直
流レベルが変動し、当該直流レベルの周波数帯域幅が広
くなることから、当該再生信号の直流レベルが当初の再
生信号の周波数帯域で重畳される特徴がある。

【０００６】従つて光デイスク再生装置は、このような
周波数帯域が重畳する直流レベルの変動を十分に抑圧し
得るようにサンプルホールド回路を動作させる必要があ
る。このため従来の光デイスク再生装置は、再生信号を
処理する際、再生信号の直流レベルを一定周期でサンプ
ルホールドすることにより、光デイスクの各部で複屈折
が変化することにより生じる再生信号の直流レベルの変
動をサンプルホールドされている直流レベルによつて打
ち消すようになされている。これにより確実に再生デー
タを検出し得るようになされている。

【０００７】すなわち従来の光デイスク再生装置は、図
４に示すようにＤＣレベル補正回路１を有し、当該ＤＣ
レベル補正回路１において、光ピツクアツプ（図示せ
ず）から得られる再生信号Ｓ１をバツフア回路２を介し
てサンプルホールド回路３及び差動増幅回路４の非反転
入力端に出力する。サンプルホールド回路３は各セグメ
ントの先頭に有り、データエリアに続く直流レベル検出
のための領域（以下、これをクランプエリアと呼ぶ）の
開始位置毎に立ち上がるサンプル信号Ｓ２に同期してス
イツチ５のオン又はオフを繰り返す。

【０００８】これによりサンプルホールド回路３は抵抗
６を介して設けられたホールドコンデンサ７に再生信号
Ｓ１の出力電圧と等しい電圧を充放電し、当該ホールド
コンデンサ７に充電された電圧をオペアンプ８を介して
直流レベル信号Ｓ３として差動増幅回路４の反転入力端
に出力する。この差動増幅回路４は、再生信号Ｓ１の出
力電圧から直流レベル信号Ｓ３の出力電圧を減算して再
生信号Ｓ４として出力することにより、再生信号Ｓ１の
低周波成分を除去するようになされている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところがこのように再
生信号の直流レベルの変動を十分に抑圧し得るようにサ
ンプルホールド回路を動作させると、デイスク上の所定
位置に設けられているサンプリング点に傷、ゴミ等のデ
イフエクトがある場合には、当該サンプリング点におけ
る再生信号の信号レベルが急激に変化するおそれがあ
る。このため当該サンプリング点の値を基準にして再生
信号の直流レベルの補正をしようとすると、当該サンプ
リング点におけるサンプリング周期のみ再生データを検
出し得なくなるおそれがあつた。

【００１０】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、デイスク状記録媒体の直流レベル検出のためのエリ
アに欠陥が存在する場合でも確実にデータを再生するこ
とができる光デイスク再生装置を提案しようとするもの
である。

【００１１】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、記録データが熱磁気記録されてい
るデイスク状記録媒体１１から記録データを再生する光
デイスク再生装置１０において、デイスク状記録媒体１
１に光ビームを照射し、当該デイスク状記録媒体１１か
ら得られる反射光の偏光角に応じた信号レベルが得られ
る第１の再生信号Ｓ１０を出力する光ピツクアツプ手段
１２と、所定周期毎に第１の再生信号Ｓ１０の信号レベ
ルを取り込んで現期間の第１の再生信号Ｓ１０の直流レ
ベルをサンプルホールドし、前期間又は前々期間にサン
プルホールドした直流レベルを現期間における当該第１
の再生信号Ｓ１０の直流レベルとして出力する直流電圧
補正回路５０、５１、５４、５９と、直流電圧補正回路
５０、５１、５４、５９から出力される直流レベルＳ３
３と第１の再生信号Ｓ１０との差分をとり、当該差分信
号Ｓ３４を出力する差動増幅回路５３と、差分信号Ｓ３
４をデイジタル信号に変換して第２の再生信号Ｓ１６と
して出力するアナログデイジタル変換回路６４と、第２
の再生信号Ｓ１６を入力し、当該第２の再生信号Ｓ１６
の直前期間から複数周期に亘つて得られた直流レベルの
平均値を算出する平均値算出回路６５と、平均値算出回
路６５で得られた直流レベルの平均値と、第２の再生信
号Ｓ１６の現期間の直流レベルとの差を所定の基準値と
比較し、当該比較結果に基づいて直流電圧補正回路５
０、５１、５４、５９に第１の再生信号Ｓ１０をサンプ
ルホールドさせるか否かを判断して制御する制御部６６
とを備え、デイスク状記録媒体１１の直流レベル検出の
ためのエリアＣＬに欠陥ＤＦが存在しない場合には、直
流電圧補正回路５０、５１、５４、５９は第１の再生信
号Ｓ１０の直流レベルを所定周期毎に１周期遅延してサ
ンプルホールドし、デイスク状記録媒体１１の直流レベ
ル検出のためのエリアＣＬに欠陥ＤＦが存在する場合に
は、直流電圧補正回路５０、５１、５４、５９は前々期
間にサンプルホールドされている電圧値をそのままホー
ルドするようにする。

【００１２】また本発明においては、記録データが熱磁
気記録されているデイスク状記録媒体１１から記録デー
タを再生する光デイスク再生装置１０において、デイス
ク状記録媒体１１に光ビームを照射し、当該デイスク状
記録媒体１１から得られる反射光の偏光角に応じた信号
レベルが得られる第１の再生信号Ｓ１０を出力する光ピ
ツクアツプ手段１２と、第１の再生信号Ｓ１０と帰還直
流信号Ｓ５５の直流レベルとの差分をとり、当該差分信
号Ｓ５０を出力する差動増幅回路７４と、所定周期毎に
差分信号Ｓ５０の信号レベルを取り込んで現期間の差分
信号Ｓ５０の直流レベルをサンプルホールドし、前期間
又は前々期間にサンプルホールドした直流レベルを現期
間における当該差分信号Ｓ５０の直流レベルとして出力
する直流電圧補正回路７１、７２、７６、８１と、直流
電圧補正回路７１、７２、７６、８１から出力される直
流レベルを増幅して帰還直流信号Ｓ５５を出力するゲイ
ンアンプ回路８２と、差分信号Ｓ５０をデイジタル信号
に変換して第２の再生信号Ｓ１６として出力するアナロ
グデイジタル変換回路７５と、第２の再生信号Ｓ１６を
入力し、当該第２の再生信号Ｓ１６の直前期間から複数
周期に亘つて得られた直流レベルの平均値を算出する平
均値算出回路８３と、平均値算出回路８３で得られた直
流レベルの平均値と、第２の再生信号Ｓ１６の現期間の
直流レベルとの差を所定の基準値と比較し、当該比較結
果に基づいて直流電圧補正回路７１、７２、７６、８１
に差分信号Ｓ５０をサンプルホールドさせるか否かを判
断して制御する制御部８４とを備え、デイスク状記録媒
体１１の直流レベル検出のためのエリアＣＬに欠陥ＤＦ
が存在しない場合には、直流電圧補正回路７１、７２、
７６、８１は差分信号Ｓ５０の直流レベルを所定周期毎
に１周期遅延してサンプルホールドし、デイスク状記録
媒体１１の直流レベル検出のためのエリアＣＬに欠陥Ｄ
Ｆが存在する場合には、直流電圧補正回路７１、７２、
７６、８１は前々期間にサンプルホールドされている電
圧値をそのままホールドするようにする。

【００１３】

【作用】第１の発明においては、デイスク状記録媒体１
１の直流レベル検出のためのエリアＣＬに欠陥ＤＦが存
在する場合には、第１の再生信号Ｓ１０の出力電圧が急
激に変化することから、第２のサンプルホールド回路５
１は前々期間にサンプルホールドされている電圧値をそ
のままホールドし、これを直流レベルＳ３３として出力
する。この結果当該直流レベルＳ３３と第１の再生信号
Ｓ１０との差分結果に基づいて第１の再生信号Ｓ１０の
直流レベルの変動を検出して補正してなる第２の再生信
号Ｓ１６が得られ、かくしてデイスク状記録媒体１１の
直流レベル検出のためのエリアＣＬに欠陥ＤＦが存在す
る場合でも確実にデータを再生することができる。

【００１４】第２の発明においては、デイスク状記録媒
体１１の直流レベル検出のためのエリアＣＬに欠陥ＤＦ
が存在する場合には、第１の再生信号Ｓ１０の出力電圧
が急激に変化することから、第２のサンプルホールド回
路７２は前々期間にサンプルホールドされている電圧値
をそのままホールドし、これをゲインアンプ回路８２で
増幅して帰還直流信号Ｓ５５として出力する。この結果
当該帰還直流信号Ｓ５５と第１の再生信号Ｓ１０との差
分結果に基づいて第１の再生信号Ｓ１０の直流レベルの
変動を検出して補正してなる第２の再生信号Ｓ１６が得
られ、かくしてデイスク状記録媒体１１の直流レベル検
出のためのエリアＣＬに欠陥ＤＦが存在する場合でも確
実にデータを再生することができる。

【００１５】

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。

【００１６】（１）全体構成 図１において、１０は全体として光デイスク再生装置を
示し、磁界変調方式すなわち磁界を入力信号に従つて高
速で変調して磁化の方向を定める方式を適用して光磁気
デイスク１１に所望のデータを熱磁気記録し、さらに記
録したデータを再生する。すなわち光磁気デイスク１１
は、所定のデイスク状基板に磁性膜を形成するようにな
され、これにより熱磁気記録の手法を適用して所望のデ
ータを熱磁気記録し得るようになされている。

【００１７】ここで光磁気デイスク１１は、同心円状に
記録トラツクを形成し、各記録トラツクをセクタ単位に
分割し、さらに各セクタを複数のセグメントに分割す
る。さらに図２に示すように光磁気デイスク１１は、こ
のセクタの各セグメントをデータエリア（ＤＡＴＡ）に
割り当てる。この場合、データエリアにはデータのみな
らずアドレスも含まれている（図２（Ａ）及び図５
（Ａ））。

【００１８】さらに光磁気デイスク１１は、各セグメン
トの先頭にクランプエリア（ＣＬ）を形成し、光デイス
ク再生装置１０はこのクランプエリアの信号レベルを検
出することにより再生される再生信号の直流レベルの変
動を検出できるようになされている。すなわち光デイス
ク再生装置１０は、光磁気デイスク１１の各セグメント
の先頭、データエリアに続く領域でそれぞれ再生信号の
直流レベルの変動を検出して補正し得るようになされて
いる。

【００１９】光デイスク再生装置１０において、光学ブ
ロツク１２は、スピンドルモータ１３で光磁気デイスク
１１を所定の回転速度で回転駆動し、この状態で光磁気
デイスク１１に光ビームを照射し、これにより所望の情
報を記録再生し、さらにトラツキングエラー信号、フオ
ーカスエラー信号等を生成し得るようになされている。
すなわち光学ブロツク１２において、光ピツクアツプ１
４に内蔵したレーザダイオードの動作をＬＤ（Laser Di
ode ）ドライバ１５によつて制御すると共に、光ピツク
アツプ１４をアクチユエータ１６によつて駆動すること
により、光磁気デイスク１１に光ビームを照射する。

【００２０】これによりデータ記録時には磁界ヘツド駆
動部１７が所望の記録データに基づいて磁界発生用コイ
ル１８を駆動することにより、当該光磁気デイスク１１
の光ビームの照射位置に所定の変調磁界を印加するよう
になされ、磁界変調方式を適用して所望のデータを記録
し得るようになされている。また再生時には光ピツクア
ツプ１４は、光ビームを照射して得られる反射光を相補
的に偏光面の方向が変化する２方向の光成分に分解して
当該光ピツクアツプ１４に内蔵された所定の受光素子で
受光するようになされている。またＩ−Ｖ（電流電圧）
変換部１９がこの受光素子の出力電流を電流電圧変換し
た後、所定の加算処理及び減算処理をすることにより２
つの再生信号を生成するようになされている。

【００２１】すなわちＩ−Ｖ変換部１９は、光ピツクア
ツプ１４の受光結果に基づいて熱磁気記録したデータの
再生信号（以下、これをＭＯ信号と呼ぶ）Ｓ１０及びピ
ツトを形成して記録したデータの再生信号（以下、これ
をＲＦ信号）Ｓ１１を生成し、ＭＯ信号Ｓ１０及びＲＦ
信号Ｓ１１をそれぞれゲインコントローラ２０及び２１
に出力する。またその際、Ｉ−Ｖ変換部１９は、光ピツ
クアツプ１４の受光結果に基づいてフオーカスエラー信
号Ｓ１２、スライドエラー信号Ｓ１３及びトラツキング
エラー信号Ｓ１４を生成し、サーボ制御部２２に出力す
ると共に、ＬＤドライバ１５のレーザパワーを制御する
フロントオートパワーコントロール信号Ｓ１５を生成
し、ＡＬＰＣ（Auto Laser Power Control）２３に出力
するようになされている。

【００２２】ゲインコントローラ２０は、ＭＯ信号Ｓ１
０をクランプ処理して得られるＭＯ信号Ｓ１６をパルス
検出部２４に出力し、パルス検出部２４はこのＭＯ信号
Ｓ１６をパルス検出した後、ＰＬＬ（Phase Locked Loo
p ）部２５及びＲ／Ｗ（Read/Write）部２６に出力す
る。またゲインコントローラ２１は、ＲＦ信号Ｓ１１を
クランプ処理して得られるＲＦ信号Ｓ１７をパルス検出
部２７に出力し、パルス検出部２７はこのＲＦ信号Ｓ１
７をパルス検出した後、ＰＬＬ部２５及びＲ／Ｗ部２６
に出力する。

【００２３】ＰＬＬ部２５は位相比較部２８及び電圧制
御型発信部（以下、これをＶＣＯ部と呼ぶ）２９を有す
る。ＰＬＬ部２５は位相比較部２８に入力するパルス検
出部２４及び２７からの出力信号とＶＣＯ部２９の発信
出力との位相差を検出することにより、当該ＶＣＯ部２
９から当該パルス検出部２４及び２７からの出力信号に
同期したデータクロツクでなる位相同期信号Ｓ１８を生
成するようになされている。

【００２４】これによりＰＬＬ部２５は、この位相同期
信号Ｓ１８を基準としてＶＣＯ部２９からゲインコント
ローラ２０及び２１にそれぞれロツク信号Ｓ１９及びＳ
２０として出力すると共に、Ｒ／Ｗ部２６に位相同期信
号Ｓ１８を出力するようになされている。さらにＲ／Ｗ
部２６は、位相同期信号Ｓ１８及びパルス検出部２４及
び２７からの出力信号に基づいて生成された信号をタイ
ミングジエネレータ（ＴＧ）３０に出力するようになさ
れている。

【００２５】タイミイグジエネレータ３０は、Ｒ／Ｗ部
２６からバス３１を介して出力された信号を基準にして
クランプパルスを生成し、当該クランプパルスをタイミ
ング信号Ｓ２４としてそれぞれゲインコントローラ２０
及び２１に送出するようになされている。さらにタイミ
イグジエネレータ３０は、ＰＬＬ部２５からバス３１を
介して出力された位相同期信号Ｓ１８を基準にして、抽
出されたデータクロツクを基準として得られる基準信号
をデータクロツク信号Ｓ２５としてそれぞれゲインコン
トローラ２０及び２１に送出するようになされている。

【００２６】因に、データクロツク信号Ｓ２５は、光磁
気デイスク１１の記録領域を同心円状に分割し、各領域
すなわち外周側及び内周側の領域でデータクロツクを切
り換える（以下、これをゾーニングと呼ぶ）ことよつて
外周側及び内周側の領域でそれぞれ変調磁界の印加周期
に同期させるために出力される信号である。

【００２７】またＲ／Ｗ部２６は、セクタマーク（Ｓ
Ｍ）の検出、データ検出、データ変復調及びアドレスデ
ータ（ＩＤ）の復号化を実行するようになされている。
またＲ／Ｗ部２６は、バス３１を介してコントローラ３
２と接続されており、ＣＰＵ３３の制御に基づいて当該
コントローラ３２との間でデータを入出力するようにな
されている。さらにコントローラ３２はＳＣＩＳバス３
４を介してホストコンピユータ３５と接続されている。

【００２８】ここで、ホストコンピユータ３５からコン
トローラ３２に所望のデータを書き込むためのコマンド
が送出されると、当該コントローラ３２は光デイスク再
生装置１０の記録系にセクタを指定すると共に、所望の
データについて誤り訂正符号（ＥＣＣ）の符号化を行つ
た後Ｒ／Ｗ部２６に転送する。

【００２９】Ｒ／Ｗ部２６は、ＰＬＬ部２５からのデー
タクロツクに同期して磁界ヘツド駆動部１７及びＬＤド
ライバ１５にそれぞれ制御信号Ｓ２１及びＳ２２を送出
し、当該制御信号Ｓ２１及びＳ２２に基づいて磁界ヘツ
ド駆動部１７及びＬＤドライバ１５を制御することによ
り、光磁気デイスク１１に所望のデータを記録するよう
になされている。

【００３０】その際ＡＬＰＣ２３は、Ｉ−Ｖ変換部１９
から出力されたフロントオートパワーコントロール信号
Ｓ１５に基づいて得られる制御信号Ｓ２３をＬＤドライ
バ１５に送出することにより、当該ＬＤドライバ１５の
レーザパワーを制御するようになされている。

【００３１】またサーボ制御部２２はＩ−Ｖ変換部１９
から出力されたフオーカスエラー信号Ｓ１２、スライド
エラー信号Ｓ１３及びトラツキングエラー信号Ｓ１４に
基づいて得られる制御信号Ｓ２６をアクチユエータ１６
に送出することにより、当該アクチユエータ１６を制御
するようになされている。これにより光デイスク再生装
置１０の記録系は、光ピツクアツプ１４を制御駆動して
当該光ピツクアツプ１４を指定セクタまでシークするこ
とができるようになされている。

【００３２】一方これに対して、ホストコンピユータ３
５からコントローラ３２に所望のデータを読み出すため
のコマンドが送出されると、当該コントローラ３２は光
デイスク再生装置１０の再生系にセクタを指定する。光
デイスク再生装置１０の再生系は、サーボ制御部２２の
制御に基づいて光ピツクアツプ１４を制御駆動して当該
光ピツクアツプ１４を指定セクタまでシークする。

【００３３】Ｒ／Ｗ部２６は再生した信号を２値化デー
タに変換した後、コントローラ３２に転送する。コント
ローラ３２は当該データについて誤り訂正符号の復号化
を行つた後ホストコンピユータ３５に転送する。これに
より光デイスク再生装置１０の再生系は、光磁気デイス
ク１１に記録された所望のデータを再生することができ
るようになされている。

【００３４】（２）第１実施例 （２−１）ゲインコントローラ２０の構成 図３に示すようにゲインコントローラ２０は、所定周期
毎に入力されたＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルをサンプル
ホールドする第１のサンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路５
０と、当該第１のＳ／Ｈ回路５０の直流レベルをサンプ
ルホールドし、現在又は前期間にサンプルホールドした
直流レベルを出力する第２のサンプルホールド（Ｓ／
Ｈ）回路５１とを有する。そしてゲインコントローラ２
０は、ＭＯ信号Ｓ１０と第２のＳ／Ｈ回路５１の直流レ
ベルとの出力電圧の差分をとり、この差分結果に基づい
てＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルの変動を検出して補正し
てなるＭＯ信号Ｓ１６を出力するようになされている。

【００３５】まずゲインコントローラ２０は、入力され
たＭＯ信号Ｓ１０をバツフア回路５２を介して第１のＳ
／Ｈ回路５０及び差動増幅回路５３に送出する。このと
きＤ型フリツプフロツプ回路５４は、Ｒ／Ｗ部２６（図
１）から出力された各クランプエリアＣＬの開始位置毎
に立ち上がるタイミング信号Ｓ２４をデータ入力端に受
けると共に、タイミングジエネレータ３０（図１）から
出力されたデータクロツク信号Ｓ２５をクロツク入力端
に受ける。

【００３６】すなわちＤ型フリツプフロツプ回路５４
は、データクロツク信号Ｓ２５の立ち上がりにトリガす
ることにより、タイミング信号Ｓ２４をデータクロツク
信号Ｓ２５に同期させ、これを遅延タイミング信号Ｓ３
０としてＱ出力端から第１のＳ／Ｈ回路５０のスイツチ
５５及び平均値算出回路６５に出力するようになされて
いる。

【００３７】第１のＳ／Ｈ回路５０は、Ｄ型フリツプフ
ロツプ回路５４から出力された遅延タイミング信号Ｓ３
０が与えられるとＭＯ信号Ｓ１０をサンプルホールドし
て第２のＳ／Ｈ回路５１に与えるようになされている。
すなわち第１のＳ／Ｈ回路５０は、遅延タイミング信号
Ｓ３０に同期してスイツチ５５をオン又はオフを繰り返
すことにより、ＭＯ信号Ｓ１０の出力電圧と等しい電圧
に抵抗５６を介して設けられたホールドコンデンサ５７
を充放電する。これにより第１のＳ／Ｈ回路５０は、ホ
ールドコンデンサ５７に充電された電圧をオペアンプ５
８を介して直流レベル信号Ｓ３１として第２のＳ／Ｈ回
路５１に出力するようになされている。

【００３８】第２のＳ／Ｈ回路５１は、アンド回路５９
から出力されたアンド信号Ｓ３２が与えられると第１の
Ｓ／Ｈ回路５０から出力された直流レベル信号Ｓ３１を
サンプルホールドして差動増幅回路５３に与えるように
なされている。すなわち第２のＳ／Ｈ回路５１は、直流
レベル信号Ｓ３１に同期してスイツチ６０をオン又はオ
フを繰り返すことにより、直流レベル信号Ｓ３１の出力
電圧と等しい電圧に抵抗６１を介して設けられたホール
ドコンデンサ６２を充放電する。これにより第２のＳ／
Ｈ回路５１は、ホールドコンデンサ６２に充電された電
圧をオペアンプ６３を介して直流レベル信号Ｓ３３とし
て差動増幅回路５３の反転入力端に出力するようになさ
れている。

【００３９】ここで遅延タイミング信号Ｓ３０は、Ｄ型
フリツプフロツプ回路５４のトリガに基づいて、タイミ
ング信号Ｓ２４を立ち上げるタイミングすなわちアンド
回路５９からアンド出力信号Ｓ３２を出力するタイミン
グより２クロツク分遅延して出力されるようになされて
いる（図２（Ｄ）及び（Ｇ））。これにより遅延タイミ
ング信号Ｓ３０が第１のＳ／Ｈ回路５０に与えられる
と、当該第１のＳ／Ｈ回路５０でホールドされた電圧値
が安定した状態で、第２のＳ／Ｈ回路５１は直流レベル
信号Ｓ３１をサンプルホールドすることができるように
なされている。

【００４０】因に、光磁気デイスク１１の成形時におい
て膜厚にばらつきが生じることにより、ＭＯ信号Ｓ１０
の直流レベルが変動し、このため直流レベル信号Ｓ３１
の出力電圧のレベルはクランプ周期毎に若干変動しつつ
あり（図２（Ｅ））、さらにこれに伴つて直流レベル信
号Ｓ３３の出力電圧のレベルも変動しつつある（図２
（Ｈ））。

【００４１】差動増幅回路５３はＭＯ信号Ｓ１０と第２
のＳ／Ｈ回路５１から出力された直流レベル信号Ｓ３３
との出力電圧の差分をとり、これを出力信号Ｓ３４とし
てアナログデイジタル変換（Ａ／Ｄ）回路６４に出力す
るようになされている。アナログデイジタル変換回路６
４は、この出力信号Ｓ３４をデイジタル信号でなるＭＯ
信号Ｓ１６に変換し、パルス検出部２４（図１）、平均
値算出回路６５及びデイジタルコンパレータ回路６６に
出力するようになされている。

【００４２】ここでアナログデイジタル変換回路６４
は、当該出力信号Ｓ３４の出力電圧をＭＯ信号Ｓ１６の
デイジタルデータに変換するとき、１クランプ周期位相
差が生じる。このためＭＯ信号Ｓ１６は、出力信号Ｓ３
４より１クランプ周期遅延してアナログデイジタル変換
回路６４から出力される。

【００４３】平均値算出回路６５は、Ｄ型フリツプフロ
ツプ回路５４から出力された遅延タイミング信号Ｓ３０
に基づいて、順次クランプエリアＣＬ毎に送出されるＭ
Ｏ信号Ｓ１６のうち所定数のクランプエリアＣＬにおけ
るＭＯ信号Ｓ１６のデイジタルデータをラツチし、当該
所定数のラツチしたデイジタルデータの平均値をとり、
これを平均値信号Ｓ３５としてデイジタルコンパレータ
回路６６に出力するようになされている。

【００４４】デイジタルコンパレータ回路６６はＰＬＬ
部２５（図１）から出力されたロツク信号Ｓ１９を入力
端に受ける。すなわちＰＬＬ部２５がロツクされると、
ロツク信号Ｓ１９が論理「Ｌ」に立ち下がる（図２
（Ｂ））。この状態においてデイジタルコンパレータ回
路６６は、平均値算出回路６５から出力された平均値信
号Ｓ３５とアナログデイジタル変換回路６４から出力さ
れたＭＯ信号Ｓ１６とのデイジタルデータを比較して、
この比較結果を比較出力信号Ｓ３６としてアンド回路５
９の入力端に出力するようになされている。

【００４５】ここで当該所定数のクランプエリアＣＬの
全てにデイフエクトＤＦが存在しない場合には、平均値
算出回路６５が出力する平均値信号Ｓ３５のデイジタル
データは、当該平均値算出回路６５がラツチしたＭＯ信
号Ｓ１６のそれぞれのデイジタルデータとほぼ同程度の
値になる。従つてこの場合、デイジタルコンパレータ回
路６６において、平均値算出回路６５から出力された平
均値信号Ｓ３５とアナログデイジタル変換回路６４から
出力されたＭＯ信号Ｓ１６とのデイジタルデータの差分
は比較的小さい値になる。この結果デイジタルコンパレ
ータ回路６６は論理「Ｈ」に立ち上がつた状態にある比
較出力信号Ｓ３６をアンド回路６６の入力端に出力する
ようになされている（図２（Ｆ））。

【００４６】アンド回路５９の他方の入力端にはタイミ
ング信号Ｓ２４が与えられており、当該タイミング信号
Ｓ２４と比較出力信号Ｓ３６とが共に入力状態にあると
きアンド回路５９からアンド出力信号Ｓ３２が出力さ
れ、これが第２のＳ／Ｈ回路５１のスイツチ６０に与え
られる。その際遅延タイミング信号Ｓ３０は当該アンド
信号Ｓ３２より２クロツク分遅延して出力される（図２
（Ｄ）及び（Ｇ））。この結果第２のＳ／Ｈ回路５１で
サンプリング動作をした後に、所定時間遅れて第１のＳ
／Ｈ回路５０でサンプリング動作をすることから、第２
のＳ／Ｈ回路５１から出力される直流レベル信号Ｓ３３
は、第１のＳ／Ｈ回路５０から出力される直流レベル信
号Ｓ３１より１クランプ周期遅延して出力される（図２
（Ｅ）及び（Ｈ））。

【００４７】因に、第２のＳ／Ｈ回路５１から出力され
る直流レベル信号Ｓ３３は、第１のＳ／Ｈ回路５０から
出力される直流レベル信号Ｓ３１より１クランプ周期遅
延して出力されることとなるが、サンプリングされてい
る直流レベルの周波数に対して、複屈折が変化すること
により生じる直流レベルの変動の周波数は非常に低いた
め、実用上十分にＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルの変動を
検出して補正することができる。

【００４８】（２−２）第１実施例の動作及び効果 以上の構成において、図２に示すように光磁気デイスク
１１上のｎ番目（ｎは自然数）のクランプエリアＣＬ_n
にデイフエクトＤＦが存在する場合、当該クランプエリ
アＣＬ_n の開始位置の時点ｔ₁ では、デイフエクトＤＦ
によるクランプエリアＣＬ_n の損傷のためにＭＯ信号Ｓ
１０の出力電圧は急激に変化する（図２（Ｃ））。

【００４９】ＰＬＬ部２５から出力されたロツク信号Ｓ
１９が（ｎ−２）番目のクランプエリアＣＬ_n-2 の開始
位置から立ち下がつた状態（図２（Ｂ））すなわちデイ
フエクトＤＦを検出し得る状態において、第１のＳ／Ｈ
回路５０は、遅延タイミング信号Ｓ３０に同期してＭＯ
信号Ｓ１０の直流レベルをサンプルホールドし、この結
果を直流レベル信号Ｓ３１として第２のＳ／Ｈ回路５１
に出力する。この場合直流レベル信号Ｓ３１は、ＭＯ信
号Ｓ１０に伴つて時点ｔ₁ から１クランプ周期後の時点
ｔ₂ まで出力電圧が格段的に高い値になる（図２
（Ｅ））。

【００５０】第２のＳ／Ｈ回路５１は、アンド出力信号
Ｓ３２に同期して直流レベル信号Ｓ３１をサンプルホー
ルドし、この結果を直流レベル信号Ｓ３３として差動増
幅回路５３に出力する。差動増幅回路５３は、時点ｔ₁
における直流レベル信号Ｓ３３とＭＯ信号Ｓ１０との出
力電圧の差分をとり、これを出力信号Ｓ３４としてアナ
ログデイジタル変換回路６４に出力する。アナログデイ
ジタル変換回路６４は、この出力信号Ｓ３４をデイジタ
ル信号に変換し、これをＭＯ信号Ｓ１６として平均値算
出回路６５に出力する。

【００５１】ここで平均値算出回路６５は、Ｄ型フリツ
プフロツプ回路５４から出力された遅延タイミング信号
Ｓ３０に基づいて、順次クランプエリアＣＬ毎に送出さ
れるＭＯ信号Ｓ１６のうち（ｎ−４）番目のクランプエ
リアＣＬ_n-4 から（ｎ−１）番目のクランプエリアＣＬ
_n-1 までのＭＯ信号Ｓ１６のデイジタルデータをラツチ
し、当該４個のラツチしたデイジタルデータの平均値を
とり、これを平均値信号Ｓ３５としてデイジタルコンパ
レータ回路６６に出力しておく。

【００５２】デイジタルコンパレータ回路６６は、平均
値算出回路６５から出力された平均値信号Ｓ３５のデイ
ジタルデータとアナログデイジタル変換回路６４から出
力されたｎ番目のクランプエリアＣＬ_n におけるＭＯ信
号Ｓ１６のデイジタルデータとを比較する。このとき平
均値信号Ｓ３５のデイジタルデータとｎ番目のクランプ
エリアＣＬ_n におけるＭＯ信号Ｓ１６のデイジタルデー
タとの差分が格段的に大きくなることにより、デイジタ
ルコンパレータ回路６６から出力される比較出力信号Ｓ
３６は時点ｔ₁ から１クランプ周期の間では論理「Ｌ」
に立ち下がつた状態になる（図２（Ｆ））。この結果デ
イジタルコンパレータ回路６６は比較出力信号Ｓ３６を
アンド回路５９に出力しない。これに伴つてアンド回路
５９は第２のＳ／Ｈ回路５１にアンド出力信号Ｓ３２を
出力しない。

【００５３】従つてアンド回路５９は、第１のＳ／Ｈ回
路５０から出力された直流レベル信号Ｓ３１よりも１ク
ランプ周期遅延して出力されるアンド信号Ｓ３２を、当
該直流レベル信号Ｓ３１が出力された時点ｔ₁ から１ク
ランプ周期の間では第２のＳ／Ｈ回路５１にアンド出力
信号Ｓ３２を出力しない（図２（Ｇ））。この結果第２
のＳ／Ｈ回路５１は、時点ｔ₁ から１クランプ周期の間
では直流レベル信号Ｓ３１をサンプルホールドしない。

【００５４】このため第２のＳ／Ｈ回路５１は、（ｎ−
１）番目のクランプエリアＣＬ_n-1における直流レベル
信号Ｓ３１の直流レベルをサンプルホールドしたときの
電圧値をそのままホールドし、これを直流レベル信号Ｓ
３３として差動増幅回路５３に出力する（図２（Ａ）及
び（Ｈ））。

【００５５】これにより差動増幅回路５３は、当該直流
レベル信号Ｓ３３とＭＯ信号Ｓ１０との差分をとり、こ
の差分結果をアナログデイジタル変換回路６４において
デイジタル変換した後、ＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルの
変動を検出して補正してなるＭＯ信号Ｓ１６として出力
する（図２（Ｉ））。

【００５６】以上の構成によれば、ゲインコントローラ
２０は入力された現期間のＭＯ信号Ｓ１０の直流レベル
をサンプルホールドし、前期間又は前々期間にサンプル
ホールドした直流レベルを出力する。すなわち光磁気デ
イスク１１上のクランプエリアＣＬにデイフエクトＤＦ
が存在しない場合には、ゲインコントローラ２０はＭＯ
信号Ｓ１０の直流レベルを所定周期毎に１周期遅延して
サンプルホールドする。これに対して光磁気デイスク１
１上のクランプエリアＣＬにデイフエクトＤＦが存在す
る場合には、ゲインコントローラ２０は前々期間にサン
プルホールドされている電圧値をそのままホールドす
る。

【００５７】これによりゲインコントローラ２０は、当
該サンプルホールドした後の直流レベルとＭＯ信号Ｓ１
０との出力電圧の差分をとることにより、当該この差分
結果に基づいてＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルの変動を検
出して補正してなるＭＯ信号Ｓ１６を出力することがで
き、かくしてデイフエクトＤＦの有無に係わらず確実に
データを再生することができる。

【００５８】（３）第２実施例 （３−１）ゲインコントローラ７０の構成 図４に示すように、第１実施例のゲインコントローラ２
０（図３）に対応する第２実施例のゲインコントローラ
７０は、所定周期毎に入力されたＭＯ信号Ｓ１０の直流
レベルをサンプルホールドする第１のサンプルホールド
（Ｓ／Ｈ）回路７１と、当該第１のＳ／Ｈ回路７１の直
流レベルをサンプルホールドし、現在又は前期間にサン
プルホールドした直流レベルを出力する第２のサンプル
ホールド（Ｓ／Ｈ）回路７２とを有する。そしてゲイン
コントローラ７０は、ＭＯ信号Ｓ１０と第２のＳ／Ｈ回
路７２の直流レベルとの出力電圧の差分をとり、この差
分結果に基づいてＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルの変動を
検出して補正してなるＭＯ信号Ｓ１６を出力するように
なされている。

【００５９】まずゲインコントローラ７０は、入力され
たＭＯ信号Ｓ１０をバツフア回路７３を介して差動増幅
回路７４に送出する。差動増幅回路７４はＭＯ信号Ｓ１
０とゲインアンプ回路８２から出力されるゲインアンプ
信号Ｓ５５との差分をとり、これを差分出力信号Ｓ５０
として第１のＳ／Ｈ回路７１及びアナログデイジタル変
換（Ａ／Ｄ）回路７５に送出する。このときＤ型フリツ
プフロツプ回路７６は、Ｒ／Ｗ部２６（図１）から出力
された各クランプエリアＣＬの開始位置毎に立ち上がる
タイミング信号Ｓ２４をデータ入力端に受けると共に、
タイミングジエネレータ３０（図１）から出力されたデ
ータクロツク信号Ｓ２５をクロツク入力端に受ける。

【００６０】すなわちＤ型フリツプフロツプ回路７６
は、データクロツク信号Ｓ２５の立ち上がりにトリガす
ることにより、タイミング信号Ｓ２４をデータクロツク
信号Ｓ２５に同期させ、これを遅延タイミング信号Ｓ５
１としてＱ出力端から第１のＳ／Ｈ回路７１のスイツチ
７７及び平均値算出回路８３に出力するようになされて
いる。

【００６１】第１のＳ／Ｈ回路７１は、Ｄ型フリツプフ
ロツプ回路７６から出力された遅延タイミング信号Ｓ５
１が与えられると差分出力信号Ｓ５０をサンプルホール
ドして第２のＳ／Ｈ回路７２に与えるようになされてい
る。すなわち第１のＳ／Ｈ回路７１は、遅延タイミング
信号Ｓ５１に同期してスイツチ７７をオン又はオフを繰
り返すことにより、差分出力信号Ｓ５０の出力電圧と等
しい電圧に抵抗７８を介して設けられたホールドコンデ
ンサ７９を充放電する。これにより第１のＳ／Ｈ回路７
１は、ホールドコンデンサ７９に充電された電圧をオペ
アンプ８０を介して直流レベル信号Ｓ５２として第２の
Ｓ／Ｈ回路７２に出力するようになされている。

【００６２】第２のＳ／Ｈ回路７２は、アンド回路８１
から出力されたアンド信号Ｓ５３が与えられると第１の
Ｓ／Ｈ回路７１から出力された直流レベル信号Ｓ５２を
サンプルホールドしてゲインアンプ回路８２に与えるよ
うになされている。すなわち第２のＳ／Ｈ回路７２は、
直流レベル信号Ｓ５２に同期してスイツチ８３をオン又
はオフを繰り返すことにより、直流レベル信号Ｓ５２の
出力電圧と等しい電圧に抵抗８４を介して設けられたホ
ールドコンデンサ８５を充放電する。これにより第２の
Ｓ／Ｈ回路７２は、ホールドコンデンサ８５に充電され
た電圧をオペアンプ８６を介して直流レベル信号Ｓ５４
としてゲインアンプ回路８２に出力するようになされて
いる。

【００６３】ここで遅延タイミング信号Ｓ５１は、Ｄ型
フリツプフロツプ回路７６のトリガに基づいて、タイミ
ング信号Ｓ２４を立ち上げるタイミングすなわちアンド
回路８１からアンド出力信号Ｓ５３を出力するタイミン
グより２クロツク分遅延して出力されるようになされて
いる（図５（Ｄ）及び（Ｇ））。これにより遅延タイミ
ング信号Ｓ５１が第１のＳ／Ｈ回路７１に与えられる
と、当該第１のＳ／Ｈ回路７１でホールドされた電圧値
が安定した状態で、第２のＳ／Ｈ回路７２は直流レベル
信号Ｓ５２をサンプルホールドすることができるように
なされている。

【００６４】因に、光磁気デイスク１１の成形時におい
て膜厚にばらつきが生じることにより、ＭＯ信号Ｓ１０
の直流レベルが変動し、これに伴つて差動出力信号Ｓ５
０の直流レベルも変動する。このため直流レベル信号Ｓ
５２の出力電圧のレベルはクランプ周期毎に若干変動し
つつあり（図５（Ｅ））、さらにこれに伴つて直流レベ
ル信号Ｓ５４の出力電圧のレベルも変動しつつある（図
５（Ｈ））。

【００６５】ここでゲインコントローラ７０は、差動増
幅回路７４から出力された差動出力信号Ｓ５０を第１の
Ｓ／Ｈ回路７１及び続く第２のＳ／Ｈ回路７２を介して
再度当該差動増幅回路７４に帰還するフイードバツクで
なる閉回路を構成することにより、第２のＳ／Ｈ回路７
２から出力された直流レベル信号Ｓ５４の直流レベルの
周波数帯域幅は狭くなる。

【００６６】このためゲインアンプ回路８１は、第２の
Ｓ／Ｈ回路７２から出力された直流レベル信号Ｓ５４の
出力電圧を所定倍に増幅することにより、当該直流レベ
ル信号Ｓ５４の直流レベルのオフセツト電圧分の変動を
補正することができるようになされ、これをゲインアン
プ信号Ｓ５５として差動増幅回路７４に出力するように
なされている（図５（Ｉ））。その際ゲインアンプ回路
８１は、当該直流レベル信号Ｓ５４の直流レベルの周波
数帯域幅を広くすると当該直流レベル信号Ｓ５４が発振
するおそれがあることから、当該直流レベル信号Ｓ５４
が発振しないように当該直流レベル信号Ｓ５４の出力電
圧を所定倍に増幅するようになされている。

【００６７】差動増幅回路７４はＭＯ信号Ｓ１０とゲイ
ンアンプ回路８２から出力されたゲインアンプ信号Ｓ５
５との出力電圧の差分でなる差分出力信号Ｓ５０をアナ
ログデイジタル変換（Ａ／Ｄ）回路７５に出力するよう
になされている。アナログデイジタル変換回路７５は、
この差分出力信号Ｓ５０をデイジタル信号でなるＭＯ信
号Ｓ１６に変換し、パルス検出部２４（図１）、平均値
算出回路８３及びデイジタルコンパレータ回路８４に出
力するようになされている。

【００６８】ここでアナログデイジタル変換回路８４
は、当該差分出力信号Ｓ５０の出力電圧をＭＯ信号Ｓ１
６のデイジタルデータに変換するとき、１クランプ周期
位相差が生じる。このためＭＯ信号Ｓ１６は、差分出力
信号Ｓ５０より１クランプ周期遅延してアナログデイジ
タル変換回路７５から出力される。

【００６９】平均値算出回路８３は、Ｄ型フリツプフロ
ツプ回路７６から出力された遅延タイミング信号Ｓ５１
に基づいて、順次クランプエリアＣＬ毎に送出されるＭ
Ｏ信号Ｓ１６のうち所定数のクランプエリアＣＬにおけ
るＭＯ信号Ｓ１６のデイジタルデータをラツチし、当該
所定数のラツチしたデイジタルデータの平均値をとり、
これを平均値信号Ｓ５６としてデイジタルコンパレータ
回路８４に出力するようになされている。

【００７０】デイジタルコンパレータ回路８４はＰＬＬ
部２５（図１）から出力されたロツク信号Ｓ１９を入力
端に受ける。すなわちＰＬＬ部２５がロツクされると、
ロツク信号Ｓ１９が論理「Ｌ」に立ち下がる（図５
（Ｂ））。この状態においてデイジタルコンパレータ回
路８４は、平均値算出回路８３から出力された平均値信
号Ｓ５６とアナログデイジタル変換回路７５から出力さ
れたＭＯ信号Ｓ１６とのデイジタルデータを比較して、
この比較結果を比較出力信号Ｓ５７としてアンド回路８
１の入力端に出力するようになされている（図５
（Ｆ））。

【００７１】ここで当該所定数のクランプエリアＣＬの
全てにデイフエクトＤＦが存在しない場合には、平均値
算出回路８３が出力する平均値信号Ｓ５６のデイジタル
データは、当該平均値算出回路８３がラツチしたＭＯ信
号Ｓ１６のそれぞれのデイジタルデータとほぼ同程度の
値になる。従つてこの場合、デイジタルコンパレータ回
路８４において、平均値算出回路８３から出力された平
均値信号Ｓ５６とアナログデイジタル変換回路７５から
出力されたＭＯ信号Ｓ１６とのデイジタルデータの差分
は比較的小さい値になる。この結果デイジタルコンパレ
ータ回路８４は論理「Ｈ」に立ち上がつた状態にある比
較出力信号Ｓ５７をアンド回路８１の入力端に出力する
ようになされている。

【００７２】アンド回路８１の他方の入力端にはタイミ
ング信号Ｓ２４が与えられており、当該タイミング信号
Ｓ２４と比較出力信号Ｓ５７とが共に入力状態にあると
きアンド回路８１からアンド出力信号Ｓ５３が出力さ
れ、これが第２のＳ／Ｈ回路７２のスイツチ８３に与え
られる。その際遅延タイミング信号Ｓ５１は当該アンド
信号Ｓ５３より２クロツク分遅延して出力される（図５
（Ｄ）及び（Ｇ））。この結果第２のＳ／Ｈ回路７２で
サンプリング動作をした後に、所定時間遅れて第１のＳ
／Ｈ回路７１でサンプリング動作をすることから、第２
のＳ／Ｈ回路７２から出力される直流レベル信号Ｓ５４
は、第１のＳ／Ｈ回路７１から出力される直流レベル信
号Ｓ５２より１クランプ周期遅延して出力される（図５
（Ｅ）及び（Ｈ））。

【００７３】因に、第２のＳ／Ｈ回路７２から出力され
る直流レベル信号Ｓ５４は、第１のＳ／Ｈ回路７１から
出力される直流レベル信号Ｓ５２より１クランプ周期遅
延して出力されることとなるが、サンプリングされてい
る直流レベルの周波数帯域に対して、複屈折が変化する
ことにより生じる直流レベルの変動の周波数帯域は格段
的に低いため、実用上十分にＭＯ信号Ｓ１０の直流レベ
ルの変動を検出して補正することができる。

【００７４】（３−２）第２実施例の動作及び効果 以上の構成において、図５に示すように光磁気デイスク
１１上のｎ番目（ｎは自然数）のクランプエリアＣＬ_n
にデイフエクトＤＦが存在する場合、当該クランプエリ
アＣＬ_n の開始位置の時点ｔ₁ では、デイフエクトＤＦ
によるクランプエリアＣＬ_n の損傷のためにＭＯ信号Ｓ
１０の出力電圧は急激に変化する（図５（Ｃ））。

【００７５】ＰＬＬ部２５から出力されたロツク信号Ｓ
１９が（ｎ−２）番目のクランプエリアＣＬ_n-2 の開始
位置から立ち下がつた状態（図５（Ｂ））すなわちデイ
フエクトＤＦを検出し得る状態において、第１のＳ／Ｈ
回路７１は、遅延タイミング信号Ｓ５１に同期して差動
出力信号Ｓ５０の直流レベルをサンプルホールドし、こ
の結果を直流レベル信号Ｓ５２として第２のＳ／Ｈ回路
７２に出力する。この場合直流レベル信号Ｓ５２は、Ｍ
Ｏ信号Ｓ１０に伴つて時点ｔ₁ から１クランプ周期後の
時点ｔ₂ まで出力電圧が格段的に高い値になる（図５
（Ｅ））。

【００７６】第２のＳ／Ｈ回路７２は、アンド出力信号
Ｓ５３に同期して直流レベル信号Ｓ５２の直流レベルを
サンプルホールドし、この結果を直流レベル信号Ｓ５４
としてゲインアンプ回路８２に出力する。ゲインアンプ
回路８２はこの直流レベル信号Ｓ５４の直流レベルのオ
フセツト電圧分の変動を補正した後、ゲインアンプ信号
Ｓ５５を差動増幅回路７４に出力する。

【００７７】差動増幅回路７４は、時点ｔ₁ におけるゲ
インアンプ信号Ｓ５５とＭＯ信号Ｓ１０との出力電圧の
差分をとり、これを差分出力信号Ｓ５０としてアナログ
デイジタル変換回路７５に出力する。アナログデイジタ
ル変換回路７５は、この差分出力信号Ｓ５０をデイジタ
ル信号に変換し、これをＭＯ信号Ｓ１６として平均値算
出回路８３に出力する。

【００７８】ここで平均値算出回路８３は、Ｄ型フリツ
プフロツプ回路５４から出力された遅延タイミング信号
Ｓ５１に基づいて、順次クランプエリアＣＬ毎に送出さ
れるＭＯ信号Ｓ１６のうち（ｎ−４）番目のクランプエ
リアＣＬ_n-4 から（ｎ−１）番目のクランプエリアＣＬ
_n-1 までのＭＯ信号Ｓ１６のデイジタルデータをラツチ
し、当該４個のラツチしたデイジタルデータの平均値を
とり、これを平均値信号Ｓ５６としてデイジタルコンパ
レータ回路８４に出力しておく。

【００７９】デイジタルコンパレータ回路８４は、平均
値算出回路８３から出力された平均値信号Ｓ５６のデイ
ジタルデータとアナログデイジタル変換回路７５から出
力されたｎ番目のクランプエリアＣＬ_n におけるＭＯ信
号Ｓ１６のデイジタルデータとを比較する。このとき平
均値信号Ｓ５６のデイジタルデータとｎ番目のクランプ
エリアＣＬ_n におけるＭＯ信号Ｓ１６のデイジタルデー
タとの差分が格段的に大きくなることにより、デイジタ
ルコンパレータ回路８４から出力される比較出力信号Ｓ
５７は時点ｔ₂ から１クランプ周期の間では論理「Ｌ」
に立ち下がつた状態になる（図５（Ｆ））。この結果デ
イジタルコンパレータ回路８４は比較出力信号Ｓ５７を
アンド回路８１に出力しない。これに伴つてアンド回路
８１は第２のＳ／Ｈ回路７２にアンド出力信号Ｓ５３を
出力しない。

【００８０】従つてアンド回路８１は、第１のＳ／Ｈ回
路７１から出力された直流レベル信号Ｓ５２よりも１ク
ランプ周期遅延して出力されるアンド出力信号Ｓ５３
を、当該直流レベル信号Ｓ５２が出力された時点ｔ₁ か
ら１クランプ周期の間では第２のＳ／Ｈ回路７２にアン
ド出力信号Ｓ５３を出力しない（図５（Ｇ））。この結
果第２のＳ／Ｈ回路７２は、時点ｔ₁ から１クランプ周
期の間では直流レベル信号Ｓ５２をサンプルホールドし
ない。

【００８１】このため第２のＳ／Ｈ回路７２は、（ｎ−
１）番目のクランプエリアＣＬ_n-1における直流レベル
信号Ｓ５２の直流レベルをサンプルホールドしたときの
電圧値をそのままホールドし、これを直流レベル信号Ｓ
５４としてゲインアンプ回路８２を介してこれをゲイン
アンプ信号Ｓ５５として差動増幅回路７４に出力する
（図５（Ａ）、（Ｈ）及び（Ｉ））。

【００８２】これにより差動増幅回路７４は、当該ゲイ
ンアンプ信号Ｓ５５とＭＯ信号Ｓ１０との差分をとり、
この差分結果をアナログデイジタル変換回路７５におい
てデイジタル変換した後、ＭＯ信号Ｓ１０の直流レベル
の変動を検出して補正してなるＭＯ信号Ｓ１６として出
力する（図５（Ｉ））。

【００８３】以上の構成によれば、ゲインコントローラ
７０は入力された現期間のＭＯ信号Ｓ１０の直流レベル
をサンプルホールドし、前期間又は前々期間にサンプル
ホールドした直流レベルを出力する。すなわち光磁気デ
イスク１１上のクランプエリアＣＬにデイフエクトＤＦ
が存在しない場合には、ゲインコントローラ７０はＭＯ
信号Ｓ１０の直流レベルを所定周期毎に１周期遅延して
サンプルホールドする。これに対して光磁気デイスク１
１上のクランプエリアＣＬにデイフエクトＤＦが存在す
る場合には、ゲインコントローラ７０は前々期間にサン
プルホールドされている電圧値をそのままホールドす
る。

【００８４】これによりゲインコントローラ７０は、当
該サンプルホールドした後の直流レベルとＭＯ信号Ｓ１
０との出力電圧の差分をとることにより、当該この差分
結果に基づいてＭＯ信号Ｓ１０の直流レベルの変動を検
出して補正してなるＭＯ信号Ｓ１６を出力することがで
き、かくしてデイフエクトＤＦの有無に係わらず確実に
データを再生することができる。

【００８５】（４）他の実施例 なお第１及び第２の実施例においては、タイミングジエ
ネレータ３０から出力されるタイミング信号Ｓ２４とＤ
型フリツプフロツプ回路５９、７６から出力される遅延
タイミング信号Ｓ３０、Ｓ５１との関係について、遅延
タイミング信号Ｓ３０、Ｓ５１はタイミング信号Ｓ２４
が立ち上がるタイミングよりも２クロツク分遅延して出
力されるようにした場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、遅延タイミング信号Ｓ３０、Ｓ５１がタイ
ミング信号Ｓ２４が立ち上がるタイミングよりも２以外
の数、例えば１又は３以上の数クロツク分遅延して出力
されるようにした場合にも本発明を適用し得る。この場
合第１のＳ／Ｈ回路５０、７１でホールドされている電
圧値が安定した状態で、第２のＳ／Ｈ回路５１、７２は
直流レベル信号Ｓ３３、Ｓ５４をサンプルホールドする
ことができるようにする。

【００８６】また第１及び第２の実施例においては、図
２（Ｂ）及び図５（Ｂ）に示すようにデイフエクトＤＦ
を検出し得る状態をＰＬＬ部２５から出力されたロツク
信号Ｓ１９が（ｎ−２）番目のクランプエリアＣＬ_n-2
の開始位置から立ち下がつた状態になるようにした場合
について述べたが、本発明はこれに限らず、ＰＬＬ部２
５から出力されたロツク信号Ｓ１９が（ｎ−ａ）番目
（ａは２以外の自然数）のクランプエリアＣＬ_n-a の開
始位置から立ち下がつた状態になるようにしても本発明
を適用し得る。

【００８７】さらに第１及び第２の実施例においては、
平均値算出回路６５、８３は順次クランプエリアＣＬ毎
に送出されるＭＯ信号Ｓ１６のうち（ｎ−４）番目のク
ランプエリアＣＬ_n-4 から（ｎ−１）番目のクランプエ
リアＣＬ_n-1 までのＭＯ信号Ｓ１６のデイジタルデータ
をラツチし、当該４個のラツチしたデイジタルデータの
平均値をとるようにした場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、順次クランプエリアＣＬ毎に送出され
るＭＯ信号Ｓ１６のうち（ｎ−ａ）番目（ａは４以外の
自然数）のクランプエリアＣＬ_n-a から（ｎ−１）番目
のクランプエリアＣＬ_n-1 までのＭＯ信号Ｓ１６のデイ
ジタルデータをラツチし、当該ａ個のラツチしたデイジ
タルデータの平均値をとるようにした場合にも本発明を
適用し得る。

【００８８】さらに第１及び第２の実施例においては、
ゲインコントローラ２０、７０において、光ピツクアツ
プ１４の受光結果に基づく熱磁気記録したデータのＭＯ
信号Ｓ１０の直流レベルの検出して補正する場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、ゲインコントロー
ラ２１において、光ピツクアツプ１４の受光結果に基づ
くピツトを形成して記録したデータのＲＦ信号Ｓ１１の
直流レベルの検出して補正する場合についても本発明を
適用し得る。

【００８９】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、所定周期
毎に第１の再生信号の信号レベルを取り込んで現期間の
第１の再生信号の直流レベルをサンプルホールドし、前
期間又は前々期間にサンプルホールドした直流レベルを
当該第１の再生信号の直流レベルを現期間における当該
第１の再生信号の直流レベルとして出力する直流電圧補
正回路を設け、デイスク状記録媒体の直流レベル検出の
ためのエリアに欠陥が存在しない場合には、第１の再生
信号の直流レベルを所定周期毎に１周期遅延してサンプ
ルホールドし、デイスク状記録媒体の直流レベル検出の
ためのエリアに欠陥が存在する場合には、前々期間にサ
ンプルホールドされている電圧値をそのままホールドす
るようにしたことにより、デイスク状記録媒体の直流レ
ベル検出のためのエリアに欠陥が存在する場合でも確実
にデータを再生することができる光デイスク再生装置を
実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１及び第２実施例による光デイスク
再生装置を示すブロツク図である。

【図２】第１実施例においてデイフエクトが発生した場
合の動作の説明に供する信号波形図である。

【図３】第１実施例におけるゲインコントローラを示す
ブロツク図である。

【図４】第２実施例におけるゲインコントローラを示す
ブロツク図である。

【図５】第２実施例においてデイフエクトが発生した場
合の動作の説明に供する信号波形図である。

【図６】従来の光デイスク再生装置の再生信号補正部を
示すブロツク図である。

【符号の説明】

１０……光デイスク再生装置、１１……光磁気デイス
ク、１２……光学ブロツク、１４……光ピツクアツプ、
１９……Ｉ−Ｖ変換部、２０、２１、７０……ゲインコ
ントローラ、２５……ＰＰＬ部、２６……Ｒ／Ｗ部、３
０……タイミングジエネレータ、３２……コントロー
ラ、３５……ホストコンピユータ、５０、７１……第１
のＳ／Ｈ回路、５１、７２……第２のＳ／Ｈ回路、５
３、７４……差動増幅回路、５４、７６……Ｄ型フリツ
プフロツプ回路、５９、８１……アンド回路、６４、７
５……アナログデイジタル変換回路、６５、８３……平
均値算出回路、６６、８４……デイジタルコンパレータ
回路、８２……ゲインアンプ回路。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】記録データが熱磁気記録されているデイス
   ク状記録媒体から上記記録データを再生する光デイスク
   再生装置において、 上記デイスク状記録媒体に光ビームを照射し、当該デイ
   スク状記録媒体から得られる反射光の偏光角に応じた信
   号レベルが得られる第１の再生信号を出力する光ピツク
   アツプ手段と、 所定周期毎に上記第１の再生信号の信号レベルを取り込
   んで現期間の上記第１の再生信号の直流レベルをサンプ
   ルホールドし、前期間又は前々期間にサンプルホールド
   した直流レベルを現期間における当該第１の再生信号の
   直流レベルとして出力する直流電圧補正回路と、 上記直流電圧補正回路から出力される直流レベルと上記
   第１の再生信号との差分をとり、当該差分信号を出力す
   る差動増幅回路と、 上記差分信号をデイジタル信号に変換して第２の再生信
   号として出力するアナログデイジタル変換回路と、 上記第２の再生信号を入力し、当該第２の再生信号の直
   前期間から複数周期に亘つて得られた直流レベルの平均
   値を算出する平均値算出回路と、 上記平均値算出回路で得られた直流レベルの平均値と、
   上記第２の再生信号の現期間の直流レベルとの差を所定
   の基準値と比較し、当該比較結果に基づいて上記直流電
   圧補正回路に上記第１の再生信号をサンプルホールドさ
   せるか否かを判断して制御する制御部とを具え、上記デ
   イスク状記録媒体の直流レベル検出のためのエリアに欠
   陥が存在しない場合には、上記直流電圧補正回路は上記
   第１の再生信号の直流レベルを上記所定周期毎に１周期
   遅延してサンプルホールドし、上記デイスク状記録媒体
   の直流レベル検出のためのエリアに欠陥が存在する場合
   には、上記直流電圧補正回路は前々期間にサンプルホー
   ルドされている電圧値をそのままホールドすることを特
   徴とする光デイスク再生装置。
2. 【請求項２】上記直流電圧補正回路は、 所定周期毎に上記第１の再生信号の信号レベルを取り込
   んで現期間の上記第１の再生信号の直流レベルをサンプ
   ルホールドする第１のサンプルホールド回路と、 上記第１のサンプルホールド回路から１周期遅延して出
   力される直流レベルをサンプルホールドし、又は前々期
   間にサンプルホールドした直流レベルをそのままホール
   ドする第２のサンプルホールド回路とを具えることを特
   徴とする請求項１に記載の光デイスク再生装置。
3. 【請求項３】上記第１のサンプルホールド回路が上記第
   １の再生信号を所定周期毎にサンプルホールドするタイ
   ミングを、上記第２のサンプルホールド回路が上記第１
   のサンプルホールド回路の直流レベルをサンプルホール
   ドするタイミングよりも所定時間遅くなるようにずらす
   ことを特徴とする請求項２に記載の光デイスク再生装
   置。
4. 【請求項４】記録データが熱磁気記録されているデイス
   ク状記録媒体から上記記録データを再生する光デイスク
   再生装置において、 上記デイスク状記録媒体に光ビームを照射し、当該デイ
   スク状記録媒体から得られる反射光の偏光角に応じた信
   号レベルが得られる第１の再生信号を出力する光ピツク
   アツプ手段と、 上記第１の再生信号と帰還直流信号の直流レベルとの差
   分をとり、当該差分信号を出力する差動増幅回路と、 所定周期毎に上記差分信号の信号レベルを取り込んで現
   期間の上記差分信号の直流レベルをサンプルホールド
   し、前期間又は前々期間にサンプルホールドした直流レ
   ベルを現期間における当該差分信号の直流レベルとして
   出力する直流電圧補正回路と、 上記直流電圧補正回路から出力される直流レベルを増幅
   して上記帰還直流信号を出力するゲインアンプ回路と、 上記差分信号をデイジタル信号に変換して第２の再生信
   号として出力するアナログデイジタル変換回路と、 上記第２の再生信号を入力し、当該第２の再生信号の直
   前期間から複数周期に亘つて得られた直流レベルの平均
   値を算出する平均値算出回路と、 上記平均値算出回路で得られた直流レベルの平均値と、
   上記第２の再生信号の現期間の直流レベルとの差を所定
   の基準値と比較し、当該比較結果に基づいて上記直流電
   圧補正回路に上記差分信号をサンプルホールドさせるか
   否かを判断して制御する制御部とを具え、上記デイスク
   状記録媒体の直流レベル検出のためのエリアに欠陥が存
   在しない場合には、上記直流電圧補正回路は上記差分信
   号の直流レベルを上記所定周期毎に１周期遅延してサン
   プルホールドし、上記デイスク状記録媒体の直流レベル
   検出のためのエリアに欠陥が存在する場合には、上記直
   流電圧補正回路は前々期間にサンプルホールドされてい
   る電圧値をそのままホールドすることを特徴とする光デ
   イスク再生装置。
5. 【請求項５】上記直流電圧補正回路は、 所定周期毎に上記差分信号の信号レベルを取り込んで現
   期間の上記差分信号の直流レベルをサンプルホールドす
   る第１のサンプルホールド回路と、 上記第１のサンプルホールド回路から１周期遅延して出
   力される直流レベルをサンプルホールドし、又は前々期
   間にサンプルホールドした直流レベルをそのままホール
   ドする第２のサンプルホールド回路とを具えることを特
   徴とする請求項４に記載の光デイスク再生装置。
6. 【請求項６】上記第１のサンプルホールド回路が上記差
   分信号を所定周期毎にサンプルホールドするタイミング
   を、上記第２のサンプルホールド回路が上記第１のサン
   プルホールド回路の直流レベルをサンプルホールドする
   タイミングよりも所定時間遅くなるようにずらすことを
   特徴とする請求項５に記載の光デイスク再生装置。