JPH07321497A - 半導体装置の実装方法 - Google Patents
半導体装置の実装方法Info
- Publication number
- JPH07321497A JPH07321497A JP6112616A JP11261694A JPH07321497A JP H07321497 A JPH07321497 A JP H07321497A JP 6112616 A JP6112616 A JP 6112616A JP 11261694 A JP11261694 A JP 11261694A JP H07321497 A JPH07321497 A JP H07321497A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- package
- mounting
- conductor pattern
- substrate
- Prior art date
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- Withdrawn
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
- H05K1/182—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with components mounted in printed circuit boards [PCB], e.g. insert-mounted components [IMC]
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3421—Leaded components
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 部品実装高さを低減する。
【構成】 SOP 形ICパッケージ4、QFP 形ICパッケージ
5を裏返し、基板1のICパッケージ実装位置に形成され
た穴状の半導体装置収納部1a,1bにICパッケージの
水平接触部4b,5b以外の部分の全部または一部分を
挿入し、水平接触部4b,5bの上面を、対応する導体
パターン2と接触させて、水平接触部4b,5bと回路
パターン2とを接合する。 【効果】 ICパッケージの実装高さがリード端子4a,
5aの厚さ程度となる。
5を裏返し、基板1のICパッケージ実装位置に形成され
た穴状の半導体装置収納部1a,1bにICパッケージの
水平接触部4b,5b以外の部分の全部または一部分を
挿入し、水平接触部4b,5bの上面を、対応する導体
パターン2と接触させて、水平接触部4b,5bと回路
パターン2とを接合する。 【効果】 ICパッケージの実装高さがリード端子4a,
5aの厚さ程度となる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、表面実装用のリード端
子を備えた半導体装置の実装方法に関するものである。
子を備えた半導体装置の実装方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、基板に実装する半導体装置(以
下、ICパッケージ)として、表面実装用のリード端子を
備えた、SOP 形ICパッケージ、QFP 形ICパッケージ等が
多く用いられている。図2に、表面実装用のICパッケー
ジを基板に実装した一例を示す。図2で、(a)はICパ
ッケージを実装した基板の部分斜視図で、(b)はICパ
ッケージを実装した基板の側面図である。図2で、1は
基板、2は基板1上に形成された導体パターン、3は表
面実装型のチップ部品、4は SOP形ICパッケージ、5は
QFP形ICパッケージである。
下、ICパッケージ)として、表面実装用のリード端子を
備えた、SOP 形ICパッケージ、QFP 形ICパッケージ等が
多く用いられている。図2に、表面実装用のICパッケー
ジを基板に実装した一例を示す。図2で、(a)はICパ
ッケージを実装した基板の部分斜視図で、(b)はICパ
ッケージを実装した基板の側面図である。図2で、1は
基板、2は基板1上に形成された導体パターン、3は表
面実装型のチップ部品、4は SOP形ICパッケージ、5は
QFP形ICパッケージである。
【0003】表面実装型のチップ部品3はその両端に設
けられた外部電極3aの部分で導体パターン2に半田
(図示省略)によって接合されている。 SOP形ICパッケ
ージ4及び QFP形ICパッケージ5の本体側面には、リー
ド端子4a,5aがそれぞれ引き出されており、リード
端子4a,5aには、実装された際、リード端子4a,
5aの一部が導体パターン2の表面に沿って接触するよ
うに水平接触部4b,5bが形成されている。
けられた外部電極3aの部分で導体パターン2に半田
(図示省略)によって接合されている。 SOP形ICパッケ
ージ4及び QFP形ICパッケージ5の本体側面には、リー
ド端子4a,5aがそれぞれ引き出されており、リード
端子4a,5aには、実装された際、リード端子4a,
5aの一部が導体パターン2の表面に沿って接触するよ
うに水平接触部4b,5bが形成されている。
【0004】図2に示した実装基板の場合の実装方法の
一例について説明すると、まず、導体パターンの、チッ
プ部品3の外部電極3aまたはリード端子4a,5aの
水平接触部4b,5bと接触する部分に半田を供給す
る。次に、チップ部品3の外部電極3a及び SOP形ICパ
ッケージ4のリード端子4a及び QFP形ICパッケージ5
のリード端子5aのそれぞれが、対応する導体パターン
2上にくるように、また、水平接触部4b,5bの下面
側が導体パターン2と対向するように、チップ部品3及
び SOP形ICパッケージ4及び QFP形ICパッケージ5を基
板上に配置する。その後、半田をリフロー等により溶融
させて導体パターン2と、外部電極3aまたはリード端
子4a,5aとを接合する。
一例について説明すると、まず、導体パターンの、チッ
プ部品3の外部電極3aまたはリード端子4a,5aの
水平接触部4b,5bと接触する部分に半田を供給す
る。次に、チップ部品3の外部電極3a及び SOP形ICパ
ッケージ4のリード端子4a及び QFP形ICパッケージ5
のリード端子5aのそれぞれが、対応する導体パターン
2上にくるように、また、水平接触部4b,5bの下面
側が導体パターン2と対向するように、チップ部品3及
び SOP形ICパッケージ4及び QFP形ICパッケージ5を基
板上に配置する。その後、半田をリフロー等により溶融
させて導体パターン2と、外部電極3aまたはリード端
子4a,5aとを接合する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】図2に示したように、
表面実装用の SOP形ICパッケージ4、 QFP形ICパッケー
ジ5等を用いることによって、基板上の部品実装高さを
低減することができるが、機器の薄型化を図るため、さ
らなる実装基板の薄型化、部品実装高さの低減化が要望
されている。
表面実装用の SOP形ICパッケージ4、 QFP形ICパッケー
ジ5等を用いることによって、基板上の部品実装高さを
低減することができるが、機器の薄型化を図るため、さ
らなる実装基板の薄型化、部品実装高さの低減化が要望
されている。
【0006】本発明は上記課題に鑑みなされたもので、
その目的とするところは、部品実装高さの低減化が図れ
る半導体装置の実装方法を提供することにある。
その目的とするところは、部品実装高さの低減化が図れ
る半導体装置の実装方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の半導体装置の実装方法は、実装された際に
基板上に形成された導体パターンと接触する水平接触部
を有するリード端子を備え、前記水平接触部が半導体装
置の本体側方に延設された半導体装置の実装方法におい
て、前期半導体装置を裏返し、前記基板の前記半導体装
置の実装位置に形成された凹状または穴状の半導体装置
収納部に前記半導体装置の前記水平接触部以外の部分の
全部または一部分を挿入し、前記水平接触部の上面を、
対応する前記導体パターンと接触させて、前記水平接触
部と前記回路パターンとを接合することを特徴とするも
のである。
め、本発明の半導体装置の実装方法は、実装された際に
基板上に形成された導体パターンと接触する水平接触部
を有するリード端子を備え、前記水平接触部が半導体装
置の本体側方に延設された半導体装置の実装方法におい
て、前期半導体装置を裏返し、前記基板の前記半導体装
置の実装位置に形成された凹状または穴状の半導体装置
収納部に前記半導体装置の前記水平接触部以外の部分の
全部または一部分を挿入し、前記水平接触部の上面を、
対応する前記導体パターンと接触させて、前記水平接触
部と前記回路パターンとを接合することを特徴とするも
のである。
【0008】
【作用】本発明の半導体装置の実装方法は、基板上の半
導体装置の実装位置に凹状または穴状の半導体装置収納
部を設け、半導体装置(ICパッケージ)を裏返して、半
導体装置の水平接触部以外の部分の全部または一部分が
半導体装置収納部の内部に収納され、水平接触部の上面
が、対応する導体パターンと直接または半田を介して接
触するように配置した後、半田を溶融させて半導体装置
を基板に実装することを特徴とするものである。
導体装置の実装位置に凹状または穴状の半導体装置収納
部を設け、半導体装置(ICパッケージ)を裏返して、半
導体装置の水平接触部以外の部分の全部または一部分が
半導体装置収納部の内部に収納され、水平接触部の上面
が、対応する導体パターンと直接または半田を介して接
触するように配置した後、半田を溶融させて半導体装置
を基板に実装することを特徴とするものである。
【0009】図2に示したように、表面実装用の半導体
装置(ICパッケージ)の本体の下面が基板の実装面に対
向するように、言い換えると、表面実装用の半導体装置
(ICパッケージ)の水平接触部の下面が、対応する導体
パターンに接触するように半導体装置(ICパッケージ)
を基板に実装した場合、半導体装置(ICパッケージ)自
体の高さ(水平接触部の下面から半導体装置の本体の上
面までの高さ)が、略そのまま半導体装置(ICパッケー
ジ)の実装高さとなるのに比べ、基板上の半導体装置の
実装位置に凹状または穴状の半導体装置収納部を設け、
半導体装置を裏返し表面実装用の半導体装置(ICパッケ
ージ)の本体の上面が基板の実装面に対向するように、
言い換えると、表面実装用の半導体装置(ICパッケー
ジ)の水平接触部の上面が、対応する導体パターンに接
触するように半導体装置(ICパッケージ)を基板に実装
し、半導体装置収納部の内部に半導体装置の本体及びリ
ード端子の一部が収納されるように構成することによっ
て、半導体装置の実装高さはリード端子の厚み程度の高
さになる。
装置(ICパッケージ)の本体の下面が基板の実装面に対
向するように、言い換えると、表面実装用の半導体装置
(ICパッケージ)の水平接触部の下面が、対応する導体
パターンに接触するように半導体装置(ICパッケージ)
を基板に実装した場合、半導体装置(ICパッケージ)自
体の高さ(水平接触部の下面から半導体装置の本体の上
面までの高さ)が、略そのまま半導体装置(ICパッケー
ジ)の実装高さとなるのに比べ、基板上の半導体装置の
実装位置に凹状または穴状の半導体装置収納部を設け、
半導体装置を裏返し表面実装用の半導体装置(ICパッケ
ージ)の本体の上面が基板の実装面に対向するように、
言い換えると、表面実装用の半導体装置(ICパッケー
ジ)の水平接触部の上面が、対応する導体パターンに接
触するように半導体装置(ICパッケージ)を基板に実装
し、半導体装置収納部の内部に半導体装置の本体及びリ
ード端子の一部が収納されるように構成することによっ
て、半導体装置の実装高さはリード端子の厚み程度の高
さになる。
【0010】
【実施例】図1に本発明の半導体装置の実装方法を用い
て表面実装用の半導体装置(ICパッケージ)を基板に実
装した一例を示す。図2で、(a)はICパッケージを実
装した基板の部分斜視図で、(b)はICパッケージを実
装した基板のA−A断面図である。但し、図2に示した
従来例と同等構成については同符号を付すこととする。
基板1の上面には実装する部品に対応して所定位置に導
体パターン2が形成されている。また、表面実装用のリ
ード端子を備えた半導体装置( SOP形ICパッケージ4及
び QFP形ICパッケージ5)の実装位置には、それらの半
導体装置の本体及び、水平接触部4b,5b以外のリー
ド端子4a,5aの部分を収納する半導体装置収納部1
a,1bが形成されている。
て表面実装用の半導体装置(ICパッケージ)を基板に実
装した一例を示す。図2で、(a)はICパッケージを実
装した基板の部分斜視図で、(b)はICパッケージを実
装した基板のA−A断面図である。但し、図2に示した
従来例と同等構成については同符号を付すこととする。
基板1の上面には実装する部品に対応して所定位置に導
体パターン2が形成されている。また、表面実装用のリ
ード端子を備えた半導体装置( SOP形ICパッケージ4及
び QFP形ICパッケージ5)の実装位置には、それらの半
導体装置の本体及び、水平接触部4b,5b以外のリー
ド端子4a,5aの部分を収納する半導体装置収納部1
a,1bが形成されている。
【0011】SOP形ICパッケージ4及び QFP形ICパッケ
ージ5は裏返された状態で実装されており、それらのIC
パッケージに設けられたリード端子4a,5aの水平接
触部4b,5bの上面が、それぞれ対応する導体パター
ン2に対向するように実装されている。このように構成
することによって、ICパッケージの実装高さを低減する
ことができる。
ージ5は裏返された状態で実装されており、それらのIC
パッケージに設けられたリード端子4a,5aの水平接
触部4b,5bの上面が、それぞれ対応する導体パター
ン2に対向するように実装されている。このように構成
することによって、ICパッケージの実装高さを低減する
ことができる。
【0012】図1に基づいて、実装方法の一実施例につ
いて説明する。但し、チップ部品3については前述した
従来の実装方法と同様であるので説明を省略する。ま
ず、導体パターン2上の、 SOP形ICパッケージ4及び Q
FP形ICパッケージ5のリード端子4a,5aの水平接触
部4b,5bと接触する部分に半田を供給する。次に、
SOP形ICパッケージ4及び QFP形ICパッケージ5を裏返
して、半導体装置収納部1a,1bに SOP形ICパッケー
ジ4及び QFP形ICパッケージ5の本体を挿入し、SOP形I
Cパッケージ4及び QFP形ICパッケージ5のリード端子
4a,5aの水平接触部4b,5bの上面が、対応する
導体パターン2に半田を介して接触するよう配置する。
その後、半田をリフロー等により溶融させて導体パター
ン2と、リード端子4a,5aとを接合する。
いて説明する。但し、チップ部品3については前述した
従来の実装方法と同様であるので説明を省略する。ま
ず、導体パターン2上の、 SOP形ICパッケージ4及び Q
FP形ICパッケージ5のリード端子4a,5aの水平接触
部4b,5bと接触する部分に半田を供給する。次に、
SOP形ICパッケージ4及び QFP形ICパッケージ5を裏返
して、半導体装置収納部1a,1bに SOP形ICパッケー
ジ4及び QFP形ICパッケージ5の本体を挿入し、SOP形I
Cパッケージ4及び QFP形ICパッケージ5のリード端子
4a,5aの水平接触部4b,5bの上面が、対応する
導体パターン2に半田を介して接触するよう配置する。
その後、半田をリフロー等により溶融させて導体パター
ン2と、リード端子4a,5aとを接合する。
【0013】なお、半導体装置を収納する半導体装置収
納部は穴状(抜き穴)であるとして説明したが、半導体
装置を収納できる深さを有する凹部としてもよい。
納部は穴状(抜き穴)であるとして説明したが、半導体
装置を収納できる深さを有する凹部としてもよい。
【0014】
【発明の効果】以上のように、本発明の半導体装置の実
装方法によれば、表面実装用のリード端子を備えた半導
体装置の本体を基板に収納できるので、ICパッケージの
実装高さ及び基板の部品実装高さの低減を図ることがで
きる。
装方法によれば、表面実装用のリード端子を備えた半導
体装置の本体を基板に収納できるので、ICパッケージの
実装高さ及び基板の部品実装高さの低減を図ることがで
きる。
【図1】本発明の半導体装置の実装方法の一実施例を示
す図で、(a)はICパッケージを実装した基板の部分斜
視図で、(b)はICパッケージを実装した基板のA−A
断面図である。
す図で、(a)はICパッケージを実装した基板の部分斜
視図で、(b)はICパッケージを実装した基板のA−A
断面図である。
【図2】従来の半導体装置(ICパッケージ)の実装方法
の一例を示す図で、(a)はICパッケージを実装した基
板の部分斜視図で、(b)はICパッケージを実装した基
板の側面図である。
の一例を示す図で、(a)はICパッケージを実装した基
板の部分斜視図で、(b)はICパッケージを実装した基
板の側面図である。
1 基板 1a 半導体装置収納部 2 導体パターン 4 SOP形ICパッケージ(半導体装置) 5 QFP形ICパッケージ(半導体装置) 4a,5a リード端子 4b,5b 水平接触部
Claims (1)
- 【請求項1】 実装された際に基板上に形成された導体
パターンと接触する水平接触部を有するリード端子を備
え、前記水平接触部が半導体装置の本体側方に延設され
た半導体装置の実装方法において、前期半導体装置を裏
返し、前記基板の前記半導体装置の実装位置に形成され
た凹状または穴状の半導体装置収納部に前記半導体装置
の前記水平接触部以外の部分の全部または一部分を挿入
し、前記水平接触部の上面を、対応する前記導体パター
ンと接触させて、前記水平接触部と前記回路パターンと
を接合することを特徴とする半導体装置の実装方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6112616A JPH07321497A (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | 半導体装置の実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6112616A JPH07321497A (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | 半導体装置の実装方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07321497A true JPH07321497A (ja) | 1995-12-08 |
Family
ID=14591201
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6112616A Withdrawn JPH07321497A (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | 半導体装置の実装方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07321497A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10672727B2 (en) | 2018-01-02 | 2020-06-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package providing protection from electrical noise |
-
1994
- 1994-05-26 JP JP6112616A patent/JPH07321497A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10672727B2 (en) | 2018-01-02 | 2020-06-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor package providing protection from electrical noise |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010731 |