JPH07325011A - 消光比測定装置 - Google Patents
消光比測定装置Info
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- JPH07325011A JPH07325011A JP14077094A JP14077094A JPH07325011A JP H07325011 A JPH07325011 A JP H07325011A JP 14077094 A JP14077094 A JP 14077094A JP 14077094 A JP14077094 A JP 14077094A JP H07325011 A JPH07325011 A JP H07325011A
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Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 動的消光比を精度良く得て、時間軸方向の光
波形を表示する消光比測定装置を提供する。 【構成】 光源１は消光比が未知の光スイッチ２０に連
続な光を出力し、駆動回路２で光スイッチ２０をパルス
変調し、光検出器３で光スイッチ２０のパルス変調光を
検出し、アンプ４で光検出器３の出力を増幅するととと
もに利得を切り換え、リミッタ回路５はアンプ４の出力
振幅を制限してＡ／Ｄ変換器６に入力し、Ａ／Ｄ変換す
る。信号処理部７はＡ／Ｄ変換器６からのデータを加算
平均し、対数変換して表示部８に結果を表示する。ＣＰ
Ｕ９は光スイッチ２０のスイッチングのタイミングを制
御する信号９Ａとアンプ４の利得を制御する信号９Ｂと
Ａ／Ｄ変換のタイミングを制御する信号９Ｃと信号処理
部７を制御する信号９Ｄを出力する。
波形を表示する消光比測定装置を提供する。 【構成】 光源１は消光比が未知の光スイッチ２０に連
続な光を出力し、駆動回路２で光スイッチ２０をパルス
変調し、光検出器３で光スイッチ２０のパルス変調光を
検出し、アンプ４で光検出器３の出力を増幅するととと
もに利得を切り換え、リミッタ回路５はアンプ４の出力
振幅を制限してＡ／Ｄ変換器６に入力し、Ａ／Ｄ変換す
る。信号処理部７はＡ／Ｄ変換器６からのデータを加算
平均し、対数変換して表示部８に結果を表示する。ＣＰ
Ｕ９は光スイッチ２０のスイッチングのタイミングを制
御する信号９Ａとアンプ４の利得を制御する信号９Ｂと
Ａ／Ｄ変換のタイミングを制御する信号９Ｃと信号処理
部７を制御する信号９Ｄを出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光通信や光パルス試
験器などに用いられる光スイッチの消光比を測定する消
光比測定装置についてのものである。
験器などに用いられる光スイッチの消光比を測定する消
光比測定装置についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術による光スイッチの消光
比の測定装置の構成を図１０に示す。図１０の２１は光
源、２２は光スイッチ、２３は光パワーメータ、２４は
光スイッチ２２の切換回路である。図１０で、光源２１
は連続な光を出力する。切換回路２４は光スイッチ２２
を透過に設定する。光パワーメータ２３は光スイッチ２
２を透過した光のパワーを測定する。次に切り換え回路
２４は光スイッチ２２を遮断に設定する。再び光パワー
メータ２３は光スイッチ２２の漏れ光のパワーを測定す
る。ここで、光スイッチ２２が透過状態のときの光パワ
ーと遮断状態のときの光パワーの比を演算することによ
り、光スイッチ２２の消光比を得る。
比の測定装置の構成を図１０に示す。図１０の２１は光
源、２２は光スイッチ、２３は光パワーメータ、２４は
光スイッチ２２の切換回路である。図１０で、光源２１
は連続な光を出力する。切換回路２４は光スイッチ２２
を透過に設定する。光パワーメータ２３は光スイッチ２
２を透過した光のパワーを測定する。次に切り換え回路
２４は光スイッチ２２を遮断に設定する。再び光パワー
メータ２３は光スイッチ２２の漏れ光のパワーを測定す
る。ここで、光スイッチ２２が透過状態のときの光パワ
ーと遮断状態のときの光パワーの比を演算することによ
り、光スイッチ２２の消光比を得る。
【０００３】図１０の構成の他に、光スイッチ２２を実
際に光パルス試験器に組み込み、その測定波形から光ス
イッチ２２の消光比の良否判定を行う方法がある。図１
１は光パルス試験器の測定波形であり、図１１アは基準
となる測定波形を示し、図１１イは消光比の悪い光スイ
ッチ２２を使用した場合の測定波形を示している。図１
１ア・イを比較して、図１１イの方は測定波形に歪が生
じており、消光比の悪い光スイッチを使用していると判
定される。
際に光パルス試験器に組み込み、その測定波形から光ス
イッチ２２の消光比の良否判定を行う方法がある。図１
１は光パルス試験器の測定波形であり、図１１アは基準
となる測定波形を示し、図１１イは消光比の悪い光スイ
ッチ２２を使用した場合の測定波形を示している。図１
１ア・イを比較して、図１１イの方は測定波形に歪が生
じており、消光比の悪い光スイッチを使用していると判
定される。
【０００４】また、図１２は縦軸に平均の光パワー、横
軸にマーク率をとった波形図である。図１２で、マーク
率をいくつか変化させ、その時の平均光パワーを測定す
る。測定点を対数軸上で直線で結び、マーク率が１のと
きの平均光パワーＰ1 とマーク率が０のときの平均光パ
ワーＰ0 の比を消光比とする。
軸にマーク率をとった波形図である。図１２で、マーク
率をいくつか変化させ、その時の平均光パワーを測定す
る。測定点を対数軸上で直線で結び、マーク率が１のと
きの平均光パワーＰ1 とマーク率が０のときの平均光パ
ワーＰ0 の比を消光比とする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】図１０で測定した消光
比は静特性での消光比であるが、実際に光スイッチを用
いる場合は高速のスイッチング状態で用いることが多
く、消光比が異なることがある。図１１では光スイッチ
を光パルス試験器に実際に使用するので、出力波形から
光スイッチの良否判定はできるが、消光比は測定できな
い。図１２では実際の使用条件に近い状態での消光比が
間接的に得られるが、精度に問題がある。この発明は、
動的消光比を精度良く得て、時間軸方向の光波形を表示
する消光比測定装置を提供することを目的とする。
比は静特性での消光比であるが、実際に光スイッチを用
いる場合は高速のスイッチング状態で用いることが多
く、消光比が異なることがある。図１１では光スイッチ
を光パルス試験器に実際に使用するので、出力波形から
光スイッチの良否判定はできるが、消光比は測定できな
い。図１２では実際の使用条件に近い状態での消光比が
間接的に得られるが、精度に問題がある。この発明は、
動的消光比を精度良く得て、時間軸方向の光波形を表示
する消光比測定装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、消光比が未知の光スイッチ２０に連続
な光を出力する光源１と、光スイッチ２０をパルス変調
する駆動回路２と、光スイッチ２０のパルス変調光を検
出する光検出器３と、光検出器３の出力を増幅するとと
ともに、利得を切り換えるアンプ４と、アンプ４の出力
振幅を制限するリミッタ回路５と、リミッタ回路５の出
力を入力とし、Ａ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器６と、Ａ／
Ｄ変換器６からのデータを加算平均し、対数変換する信
号処理部７と、信号処理部７の結果を表示する表示部８
と、光スイッチ２０のスイッチングのタイミングを制御
する信号９Ａとアンプ４の利得を制御する信号９ＢとＡ
／Ｄ変換のタイミングを制御する信号９Ｃと信号処理部
７を制御する信号９Ｄを出力するＣＰＵ９を備える。
め、この発明は、消光比が未知の光スイッチ２０に連続
な光を出力する光源１と、光スイッチ２０をパルス変調
する駆動回路２と、光スイッチ２０のパルス変調光を検
出する光検出器３と、光検出器３の出力を増幅するとと
ともに、利得を切り換えるアンプ４と、アンプ４の出力
振幅を制限するリミッタ回路５と、リミッタ回路５の出
力を入力とし、Ａ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器６と、Ａ／
Ｄ変換器６からのデータを加算平均し、対数変換する信
号処理部７と、信号処理部７の結果を表示する表示部８
と、光スイッチ２０のスイッチングのタイミングを制御
する信号９Ａとアンプ４の利得を制御する信号９ＢとＡ
／Ｄ変換のタイミングを制御する信号９Ｃと信号処理部
７を制御する信号９Ｄを出力するＣＰＵ９を備える。
【０００７】
【作用】次に、この発明による消光比測定装置の構成を
図１に示す。図１の１は光源、２は駆動回路、３は光検
出器、４はアンプ、６はリミッタ回路、６はＡ／Ｄ変換
器、７は信号処理部、８は表示部、９はＣＰＵ、２０は
測定対象の光スイッチである。
図１に示す。図１の１は光源、２は駆動回路、３は光検
出器、４はアンプ、６はリミッタ回路、６はＡ／Ｄ変換
器、７は信号処理部、８は表示部、９はＣＰＵ、２０は
測定対象の光スイッチである。
【０００８】図１で、光源１は連続な光を出力する。Ｃ
ＰＵ９は周期的な信号９Ａを出力し、駆動回路２へ光ス
イッチ２０を駆動するトリガを与える。駆動回路２は信
号９Ａにより光スイッチ２０を駆動する。光スイッチ２
０は駆動回路２の信号で光源１からの連続光をパルス変
調する。
ＰＵ９は周期的な信号９Ａを出力し、駆動回路２へ光ス
イッチ２０を駆動するトリガを与える。駆動回路２は信
号９Ａにより光スイッチ２０を駆動する。光スイッチ２
０は駆動回路２の信号で光源１からの連続光をパルス変
調する。
【０００９】図６は光検出器３への入力光の波形であ
る。光検出器３は図６に示す光スイッチ２０の出力光を
検出し、電気信号へと変換する。アンプ４は光検出器３
の出力をＣＰＵ９からの信号９Ｂにしたがった利得で増
幅する。リミッタ回路５は高い消光比を測定する場合に
必要な構成である。ここでは消光比が低い場合を説明す
るのでなくても良い。
る。光検出器３は図６に示す光スイッチ２０の出力光を
検出し、電気信号へと変換する。アンプ４は光検出器３
の出力をＣＰＵ９からの信号９Ｂにしたがった利得で増
幅する。リミッタ回路５は高い消光比を測定する場合に
必要な構成である。ここでは消光比が低い場合を説明す
るのでなくても良い。
【００１０】Ａ／Ｄ変換器６はＣＰＵ９からの信号９Ｃ
によりアナログ／デジタル変換を行う。図７はＡ／Ｄ変
換器６への入力電圧波形である。図７で、各点はＣＰＵ
９の信号９Ｃにより与えられたＡ／Ｄ変換器６のＡ／Ｄ
変換のタイミングを示したものである。なお、時間分解
能がを上げるためにタイミングを少しづつずらして繰り
返し測定しても良い。
によりアナログ／デジタル変換を行う。図７はＡ／Ｄ変
換器６への入力電圧波形である。図７で、各点はＣＰＵ
９の信号９Ｃにより与えられたＡ／Ｄ変換器６のＡ／Ｄ
変換のタイミングを示したものである。なお、時間分解
能がを上げるためにタイミングを少しづつずらして繰り
返し測定しても良い。
【００１１】信号処理部７はＡ／Ｄ変換器６から繰り返
し波形である図７の波形を入力し、駆動回路２に入力す
る信号９Ａの周期の任意の整数倍（図７では２倍）ごと
に、Ａ／Ｄ変換器６からのデータをＣＰＵ９の信号９Ｄ
により加算平均して信号対雑音比を改善するとともに、
加算平均後の図７の○の部分、すなわち信号電圧が０に
近いところでの時間平均を計算し基準電圧を求める。さ
らに、△の部分の時間平均を計算し基準電圧で除算する
ことで消光比を得る。なお、データを基準電圧を用いて
対数変換した後、減算して消光比を求めても良い。表示
部８は信号処理部７で求めた消光比や測定波形を表示す
る。
し波形である図７の波形を入力し、駆動回路２に入力す
る信号９Ａの周期の任意の整数倍（図７では２倍）ごと
に、Ａ／Ｄ変換器６からのデータをＣＰＵ９の信号９Ｄ
により加算平均して信号対雑音比を改善するとともに、
加算平均後の図７の○の部分、すなわち信号電圧が０に
近いところでの時間平均を計算し基準電圧を求める。さ
らに、△の部分の時間平均を計算し基準電圧で除算する
ことで消光比を得る。なお、データを基準電圧を用いて
対数変換した後、減算して消光比を求めても良い。表示
部８は信号処理部７で求めた消光比や測定波形を表示す
る。
【００１２】次に、リミッタ回路５の動作を説明する。
リミッタ回路５は光スイッチ２０の消光比がＡ／Ｄ変換
器６で制限される消光比の測定限界より高い場合に必要
な構成である。
リミッタ回路５は光スイッチ２０の消光比がＡ／Ｄ変換
器６で制限される消光比の測定限界より高い場合に必要
な構成である。
【００１３】図８はＣＰＵ９の信号９Ｂでアンプ４の利
得を小さくしたときのＡ／Ｄ変換器６への入力電圧の波
形である。信号処理部７は図７で説明した動作を行う。
信号処理部７の処理が終了した後、ＣＰＵ９は信号９Ｂ
でアンプ４の利得を上げる。
得を小さくしたときのＡ／Ｄ変換器６への入力電圧の波
形である。信号処理部７は図７で説明した動作を行う。
信号処理部７の処理が終了した後、ＣＰＵ９は信号９Ｂ
でアンプ４の利得を上げる。
【００１４】図９は利得が高い場合のＡ／Ｄ変換器６の
入力電圧の波形である。リミッタ回路５は図９のリミッ
タ電圧以上をカットし、Ａ／Ｄ変換器６への過大入力を
防ぐ。信号処理部７は再び図７で説明した動作を行い、
先に測定した利得の低い場合のデータを、変化させた利
得倍して合成する。アンプ４の利得を順次切り換え、信
号処理部７でこの作業を繰り返すことにより、高い消光
比の光スイッチ２０を測定できる。
入力電圧の波形である。リミッタ回路５は図９のリミッ
タ電圧以上をカットし、Ａ／Ｄ変換器６への過大入力を
防ぐ。信号処理部７は再び図７で説明した動作を行い、
先に測定した利得の低い場合のデータを、変化させた利
得倍して合成する。アンプ４の利得を順次切り換え、信
号処理部７でこの作業を繰り返すことにより、高い消光
比の光スイッチ２０を測定できる。
【００１５】光源１には半導体レーザをはじめ各種レー
ザ光源を使用することができる。また、測定対象である
光スイッチ２０は導波路型光スイッチやＡ／Ｏスイッチ
をはじめ各種光スイッチが使用できる。光検出器３は一
般に、ホトダイオードや光電子増倍管などが使用され
る。
ザ光源を使用することができる。また、測定対象である
光スイッチ２０は導波路型光スイッチやＡ／Ｏスイッチ
をはじめ各種光スイッチが使用できる。光検出器３は一
般に、ホトダイオードや光電子増倍管などが使用され
る。
【００１６】
【実施例】次に、第２の発明による実施例の構成を図２
に示す。図２の１０は可変波長光源であり、他は図１と
同じである。すなわち、図２は光源１の代わりにＣＰＵ
９の信号９Ｅで発振波長を変化させる可変波長光源１０
を備えたものである。これにより光スイッチ２の消光比
の波長特性を測定する構成となる。可変波長光源１０は
半導体レーザ単体のものや半導体レーザに外部共振器や
回折格子を付けたものやＹＡＧレーザのような固体レー
ザなどを使用することができる。
に示す。図２の１０は可変波長光源であり、他は図１と
同じである。すなわち、図２は光源１の代わりにＣＰＵ
９の信号９Ｅで発振波長を変化させる可変波長光源１０
を備えたものである。これにより光スイッチ２の消光比
の波長特性を測定する構成となる。可変波長光源１０は
半導体レーザ単体のものや半導体レーザに外部共振器や
回折格子を付けたものやＹＡＧレーザのような固体レー
ザなどを使用することができる。
【００１７】次に第３の発明による実施例の構成を図３
に示す。図３の１１は偏波コントローラであり、他は図
１と同じである。すなわち、図３は光源１と光スイッチ
２０の間にＣＰＵ９からの信号９Ｆにより光源１からの
光を任意の偏波に変換し出力する偏波コントローラ１１
を備えたものである。これにより導波路型光スイッチに
多く見られるＴＥモードのみに対応する光スイッチの消
光比も測定することができる。偏波コントローラ１１に
はファイバコイル型のものやλ／２とλ／４を組み合わ
せたもの、あるいはファイバに側圧をかけたもの、導波
路型のものなどを使用する。図４は可変波長光源１０と
偏波コントローラ１１を組み合わせた場合の構成図であ
る。
に示す。図３の１１は偏波コントローラであり、他は図
１と同じである。すなわち、図３は光源１と光スイッチ
２０の間にＣＰＵ９からの信号９Ｆにより光源１からの
光を任意の偏波に変換し出力する偏波コントローラ１１
を備えたものである。これにより導波路型光スイッチに
多く見られるＴＥモードのみに対応する光スイッチの消
光比も測定することができる。偏波コントローラ１１に
はファイバコイル型のものやλ／２とλ／４を組み合わ
せたもの、あるいはファイバに側圧をかけたもの、導波
路型のものなどを使用する。図４は可変波長光源１０と
偏波コントローラ１１を組み合わせた場合の構成図であ
る。
【００１８】次に図４による実施例の具体的な構成図を
図５に示す。図５の１０は可変波長光源であり、回折格
子１０Ａと回転ステージ１０Ｂと半導体レーザ１０Ｃを
備え、ＣＰＵ９の信号９Ｅにより回転ステージ１０Ｂを
回転させて波長を変える。
図５に示す。図５の１０は可変波長光源であり、回折格
子１０Ａと回転ステージ１０Ｂと半導体レーザ１０Ｃを
備え、ＣＰＵ９の信号９Ｅにより回転ステージ１０Ｂを
回転させて波長を変える。
【００１９】１１はλ／２波長板とλ／４波長板を組み
合わせた偏波コントローラであり、ＣＰＵ９の信号９Ｆ
によりλ／２板とλ／４板を回転させて任意の偏波を得
る。２０は測定対象のＡ／Ｏスイッチである。
合わせた偏波コントローラであり、ＣＰＵ９の信号９Ｆ
によりλ／２板とλ／４板を回転させて任意の偏波を得
る。２０は測定対象のＡ／Ｏスイッチである。
【００２０】２はＴＴＬで組んだ駆動回路であり、２Ａ
はモノステーブル、２Ｂはシュミットトリガ型のバッフ
ァである。モノステーブル２ＡはＣＰＵ９からの信号９
Ａの立ち上がりエッジにより、たとえば１μｓのパルス
を出力する。バッファ２Ｂはモノステーブル２Ａの出力
パルスを整形し、Ａ／Ｏスイッチ２０に出力する。光検
出器３はＰＩＮ−ＰＤ３Ａを用い、トランスインピーダ
ンスアンプ３Ｂで電流電圧変換を行う。
はモノステーブル、２Ｂはシュミットトリガ型のバッフ
ァである。モノステーブル２ＡはＣＰＵ９からの信号９
Ａの立ち上がりエッジにより、たとえば１μｓのパルス
を出力する。バッファ２Ｂはモノステーブル２Ａの出力
パルスを整形し、Ａ／Ｏスイッチ２０に出力する。光検
出器３はＰＩＮ−ＰＤ３Ａを用い、トランスインピーダ
ンスアンプ３Ｂで電流電圧変換を行う。
【００２１】４はアンプであり、４Ａはツェナーダイオ
ード、４Ｂは加算器、４Ｃと４Ｄはリレー、４Ｅはリレ
ー駆動回路、４Ｆは４０ｄＢの利得のアンプである。ア
ンプ４の利得切り換えはリレー４Ｃ・４Ｄを用い、図５
では利得の切り換えは一段としている。ツェナーダイオ
ード４Ａと加算器４Ｂは信号に白色雑音を付加すること
で、Ａ／Ｄ変換器６においてディザの効果を得るための
ものである。リレー駆動回路４Ｅにはたとえばダーリン
トントランジスタを使用する。リミッタ回路５はダイオ
ードブリッジを用い、ここでは、±１．４Ｖのリミッタ
電圧としている。
ード、４Ｂは加算器、４Ｃと４Ｄはリレー、４Ｅはリレ
ー駆動回路、４Ｆは４０ｄＢの利得のアンプである。ア
ンプ４の利得切り換えはリレー４Ｃ・４Ｄを用い、図５
では利得の切り換えは一段としている。ツェナーダイオ
ード４Ａと加算器４Ｂは信号に白色雑音を付加すること
で、Ａ／Ｄ変換器６においてディザの効果を得るための
ものである。リレー駆動回路４Ｅにはたとえばダーリン
トントランジスタを使用する。リミッタ回路５はダイオ
ードブリッジを用い、ここでは、±１．４Ｖのリミッタ
電圧としている。
【００２２】Ａ／Ｄ変換器６は８ｂｉｔで入力電圧が０
から＋２Ｖのものを用いた。信号処理部７の加算平均部
はボックスカー積分器を用い、他の演算処理と表示部８
にはパーソナルコンピュータを用いた。
から＋２Ｖのものを用いた。信号処理部７の加算平均部
はボックスカー積分器を用い、他の演算処理と表示部８
にはパーソナルコンピュータを用いた。
【００２３】動作を簡単に説明すると、光検出器３で検
出したパルス信号は、まずアンプ４の加算器４Ｂ側を通
り、ピーク電圧１Ｖ程度として、リミッタ回路５に入力
する。リミッタ回路５のリミッタ電圧は１．４Ｖである
ので、ここではパルス信号はリミッタ回路５を素通りす
る。Ａ／Ｄ変換器６でＡ／Ｄ変換したのち、信号処理部
７のボックスカー積分器で加算平均する。
出したパルス信号は、まずアンプ４の加算器４Ｂ側を通
り、ピーク電圧１Ｖ程度として、リミッタ回路５に入力
する。リミッタ回路５のリミッタ電圧は１．４Ｖである
ので、ここではパルス信号はリミッタ回路５を素通りす
る。Ａ／Ｄ変換器６でＡ／Ｄ変換したのち、信号処理部
７のボックスカー積分器で加算平均する。
【００２４】図５の回路では、加算平均の結果からＨＩ
ＧＨレベルのいくつかのデータを時間軸方向に平均し、
パルスのピーク値の平均を算出し０．９３Ｖを得た。次
に信号９Ｂによりアンプ４の信号経路をアンプ４Ｆ側と
して利得を４０ｄＢ上げる。リミッタ回路５により１．
４Ｖ以上の電圧はカットし、低いレベルの信号だけをＡ
／Ｄ変換器６に入力する。加算平均後にＬＯＷレベルの
いくつかのデータの時間平均をとることにより、１２ｍ
Ｖが得られる。
ＧＨレベルのいくつかのデータを時間軸方向に平均し、
パルスのピーク値の平均を算出し０．９３Ｖを得た。次
に信号９Ｂによりアンプ４の信号経路をアンプ４Ｆ側と
して利得を４０ｄＢ上げる。リミッタ回路５により１．
４Ｖ以上の電圧はカットし、低いレベルの信号だけをＡ
／Ｄ変換器６に入力する。加算平均後にＬＯＷレベルの
いくつかのデータの時間平均をとることにより、１２ｍ
Ｖが得られる。
【００２５】この平均値を基準電圧として先に平均した
ＨＩＧＨレベルの平均値を対数変換すると、３７．８ｄ
Ｂが得られる。対数変換した結果にアンプ４での利得分
４０ｄＢを加算し、３７．８＋４０＝７７．８ｄＢとな
る。ここでホトダイオードでは光パワーは電流に比例す
るため、Ａ／Ｏスイッチ２０の消光比は７７．８／２＝
３８．９ｄＢとなる。表示器８はこのデータを表示し、
波形を確認する。さらに、データを対数変換し、波形デ
ータとして表示することで微少レベルでの波形歪みなど
が観測できる。
ＨＩＧＨレベルの平均値を対数変換すると、３７．８ｄ
Ｂが得られる。対数変換した結果にアンプ４での利得分
４０ｄＢを加算し、３７．８＋４０＝７７．８ｄＢとな
る。ここでホトダイオードでは光パワーは電流に比例す
るため、Ａ／Ｏスイッチ２０の消光比は７７．８／２＝
３８．９ｄＢとなる。表示器８はこのデータを表示し、
波形を確認する。さらに、データを対数変換し、波形デ
ータとして表示することで微少レベルでの波形歪みなど
が観測できる。
【００２６】
【発明の効果】この発明によれば、光スイッチを周期的
に動作させ、その周期の整数倍を測定範囲として加算平
均をとり、さらに対数変換するので精度良く動的消光比
を得ることができ、時間軸方向の光波形を表示する消光
比測定装置を提供することができる。また、光スイッチ
に入射する光源を可変波長光源とすることにより、光ス
イッチ２０の消光比の波長特性を測定することができ
る。さらに、光源１と光スイッチ２０の間にＣＰＵ９の
信号９Ｆにより入力光を任意の偏波に変換する偏波コン
トローラ１１を挿入することにより、導波路型光スイッ
チに多く見られるＴＥモードのみに対応する光スイッチ
の消光比も測定することができる。
に動作させ、その周期の整数倍を測定範囲として加算平
均をとり、さらに対数変換するので精度良く動的消光比
を得ることができ、時間軸方向の光波形を表示する消光
比測定装置を提供することができる。また、光スイッチ
に入射する光源を可変波長光源とすることにより、光ス
イッチ２０の消光比の波長特性を測定することができ
る。さらに、光源１と光スイッチ２０の間にＣＰＵ９の
信号９Ｆにより入力光を任意の偏波に変換する偏波コン
トローラ１１を挿入することにより、導波路型光スイッ
チに多く見られるＴＥモードのみに対応する光スイッチ
の消光比も測定することができる。
【図１】第１の発明による消光比測定装置の構成図であ
る。
る。
【図２】第２の発明による消光比測定装置の構成図であ
る。
る。
【図３】第３の発明による消光比測定装置の構成図であ
る。
る。
【図４】可変波長光源１０と偏波コントローラ１１を組
み合わせた構成図である。
み合わせた構成図である。
【図５】図４の実施例の構成図である。
【図６】図１の光スイッチ２０の出力光波形図である。
【図７】図１のＡ／Ｄ変換器６の入力電圧波形図であ
る。
る。
【図８】図１のアンプ４の利得の低い場合のＡ／Ｄ変換
器６の入力電圧波形図である。
器６の入力電圧波形図である。
【図９】図１のアンプ４の利得の高い場合のＡ／Ｄ変換
器６の入力電圧波形図である。
器６の入力電圧波形図である。
【図１０】従来技術による消光比測定装置の構成図であ
る。
る。
【図１１】光パルス試験器の測定波形図である。
【図１２】平均の光パワーとマーク率の波形図である。
１ 光源 ２ 駆動回路 ３ 光検出器 ４ アンプ ５ リミッタ回路 ６ Ａ／Ｄ変換器 ７ 信号処理部 ８ 表示部 ９ ＣＰＵ １０ 可変波長光源 １１ 偏波コントローラ ２０ 光スイッチ ２１ 光源 ２２ 光スイッチ ２３ 光パワーメータ ２４ 切り換え回路
Claims (3)
- 【請求項１】 消光比が未知の光スイッチ(20)に連続な
光を出力する光源(1) と、 光スイッチ(20)をパルス変調する駆動回路(2) と、 光スイッチ(20)のパルス変調光を検出する光検出器(3)
と、 光検出器(3) の出力を増幅するととともに、利得を切り
換えるアンプ(4) と、 アンプ(4) の出力振幅を制限するリミッタ回路(5) と、 リミッタ回路(5) の出力を入力とし、Ａ／Ｄ変換するＡ
／Ｄ変換器(6) と、 Ａ／Ｄ変換器(6) からのデータを加算平均し、対数変換
する信号処理部(7) と、 信号処理部(7) の結果を表示する表示部(8) と、 光スイッチ(20)のスイッチングのタイミングを制御する
信号(9A)とアンプ(4)の利得を制御する信号(9B)とＡ／
Ｄ変換のタイミングを制御する信号(9C)と信号処理部
(7) を制御する信号(9D)を出力するＣＰＵ(9) を備える
ことを特徴とする消光比測定装置。 - 【請求項２】 ＣＰＵ(9) の信号(9E)により波長を可変
する波長可変光源(10)を備える請求項１に記載の消光比
測定装置。 - 【請求項３】 ＣＰＵ(9) の信号(9F)により光スイッチ
(20)の入力光を任意の偏波に制御する偏波コントローラ
(11)を備えることを特徴とする請求項１に記載の消光比
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14077094A JPH07325011A (ja) | 1994-05-31 | 1994-05-31 | 消光比測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14077094A JPH07325011A (ja) | 1994-05-31 | 1994-05-31 | 消光比測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07325011A true JPH07325011A (ja) | 1995-12-12 |
Family
ID=15276348
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14077094A Pending JPH07325011A (ja) | 1994-05-31 | 1994-05-31 | 消光比測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07325011A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010281708A (ja) * | 2009-06-05 | 2010-12-16 | Anritsu Corp | 光部品評価装置 |
| CN106596071A (zh) * | 2016-12-27 | 2017-04-26 | 镇江奥菲特光电科技有限公司 | 一种消光比测试仪的控制系统 |
| CN110057546A (zh) * | 2019-01-23 | 2019-07-26 | 尚宁光电无锡有限公司 | 一种低成本简易光眼图消光比测量方法及系统 |
| CN114689275A (zh) * | 2020-12-29 | 2022-07-01 | 科大国盾量子技术股份有限公司 | 一种声光调制器消光比测量装置及方法 |
-
1994
- 1994-05-31 JP JP14077094A patent/JPH07325011A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010281708A (ja) * | 2009-06-05 | 2010-12-16 | Anritsu Corp | 光部品評価装置 |
| CN106596071A (zh) * | 2016-12-27 | 2017-04-26 | 镇江奥菲特光电科技有限公司 | 一种消光比测试仪的控制系统 |
| CN110057546A (zh) * | 2019-01-23 | 2019-07-26 | 尚宁光电无锡有限公司 | 一种低成本简易光眼图消光比测量方法及系统 |
| CN114689275A (zh) * | 2020-12-29 | 2022-07-01 | 科大国盾量子技术股份有限公司 | 一种声光调制器消光比测量装置及方法 |
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