JPH0732955U - 半導体試験装置のマザーボード - Google Patents

半導体試験装置のマザーボード

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JPH0732955U
JPH0732955U JP6959693U JP6959693U JPH0732955U JP H0732955 U JPH0732955 U JP H0732955U JP 6959693 U JP6959693 U JP 6959693U JP 6959693 U JP6959693 U JP 6959693U JP H0732955 U JPH0732955 U JP H0732955U
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JP
Japan
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connect
board
ring
frog
connect board
Prior art date
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Pending
Application number
JP6959693U
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English (en)
Inventor
進 近藤
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本考案は、フロッグリングの一部を破損した
場合フロッグリング全体を交換すること、コネクトボー
ドの一部を破損した場合コネクトボード全体を交換する
こと、保守のためにフロッグリング全体を取り外すこと
による保守性の悪さの改善と、ポゴピン部でのインピー
ダンスの不整合を改善することを目的としている。 【構成】 数本の信号を接続したコネクトボードを多数
使用し、コネクトボードをフロッグリングに取付、コネ
クトボード上のポゴピンの位置を固定する。コネクトボ
ードはリングカバーによってフロッグリングに固定され
ているため、コネクトボードの取り外しはリングカバー
の取り外しによって行われ保守性が改善される。また、
コネクトボード内は特性インピーダンスを保証している
ので、波形の劣化を最小にできる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、半導体試験装置のテストヘッドとプローブカード又はパフォーマ ンスボードを電気的、機械的に接続する機能を持つ、半導体試験装置のマザーボ ードに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図2は従来のマザーボードの電気的接続を示している。マザーボードは、テス トヘッドとプローブカード又はパフォーマンスボードを電気的、機械的に接続す る部分であり、主に、ベースボード10、コネクトボード11、フロッグリング 12で構成されている。ベースボード10はテストヘッドの信号をパッド又はコ ネクタで接続し、ベースボード10とコネクトボード11間は両端を各ボードに 半田付けした同軸ケーブルで接続し、コネクトボード11とフロッグリング12 間はコネクトボード11上の金パッドにフロッグリング12のポゴピン13を圧 接することで電気的に接続している。フロッグリング12の上面にはポゴピン1 3の一方が突出しており、パフォーマンスボード又はプローブカードと電気的に 接続可能な構造になっている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
従来のマザーボードには構造的に次のような問題があった。 (1)フロッグリングのポゴピンを破損した場合、それが一部の破損であっ ても、フロッグリング全体を交換する必要がある。 (2)コネクトボードを破損した場合、それが一部の破損であっても、コネ クトボード全体を交換する必要がある。 (3)保守のためには、フロッグリング全体を取り外す必要があり、効率が 悪い。 また、電気的にも、フロッグリング部分のポゴピンが同軸構造でなく、インピ ーダンスの不整合が発生し、テスタの入出力波形が劣化する。 本考案は、これら問題点を解消することを目的としている。
【0004】
【課題を解決するための手段】
ベースボード10に半田付けしたケーブルの一端をコネクトボード20に半田 付けし、コネクトボード20の他の一端にはポゴピン23を半田付けする。一つ のコネクトボード20には数本の信号を接続するため、多数のコネクトボード2 0を接続する。多数のコネクトボード20はフロッグリング21に取り付けられ 、同時にポゴピンの位置も固定される。コネクトボード20はリングカバー22 によってフロッグリング21に固定されているため、コネクトボード20の取り 外しはリングカバー22をはずすことで行われる。
【0005】
【作用】
以上の構成により、ポゴピン23を破損した場合、又はコネクトボード20を 破損した場合は、それが接続されているコネクトボード1枚のみを交換すればよ い。又、コネクトボード20は、フロッグリング21上部のリングカバー22を 取り外すことで1枚づつ容易に取り出すことができ、保守性が高い。 電気的には、コネクトボード20内のストリップライン構造により、特性イン ピーダンスを保証しているので、波形劣化を最小に押さえている。
【0006】
【実施例】
実施例について図1を参照して説明する。本考案のマザーボードは、ベースボ ード10、フロッグリング21、コネクトボード20で構成される。 ベースボードの片面はテストヘッドとコネクタを通して接続され、もう一方の 面には、コネクトボード20を接続するケーブル24が半田付けされている。 コネクトボード20は、ケーブル24、プリント基板25、ポゴピン23で構 成され、ベースボード10上の信号をプローブカード等に接続するため、ポゴピ ン23がフロッグリング21の同心線上に並ぶように、フロッグリング21の同 心円上に配置される。 フロッグリング21は、コネクトボード20を機械的に支持し、ポゴピン23 の位置を決める。コネクトボード20の固定は、リングカバー22で最終的に固 定されており、逆にリングカバー22を取り外すことで、コネクトボード20を 1枚づつ容易に取り外すことができる。
【0007】
【考案の効果】
本考案は以上説明したように構成しているので、次のような効果が得られる。 (1)コネクトボードは1枚づつ独立であるため、破損した場合にその部分 だけ交換すればよく、保守費用を低減できる。 (2)コネクトボードは、フロッグリング上部のリングカバーを取り外すこ とで、1枚づつ容易に取り外すことができ保守性が良い。 (3)コネクトボード内は、ストリップライン構造により、特性インピーダ ンスを保証しているので、波形の劣化を最小に押さえることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案のマザーボードを示す斜視図、側面図、
上面図である。
【図2】従来のマザーボードを示す斜視図、側面図であ
る。
【符号の説明】
10 ベースボード 11、20 コネクトボード 12、21 フロッグリング 13、23 ポゴピン 22 リングカバー 24 ケーブル 25 プリント基板

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項】 半導体試験装置のマザーボードにおいて、 ポゴピン(23)とケーブル(24)を半田付けしたコ
    ネクトボード(20)を多数設け、 コネクトボード(20)を固定するフロッグリング(2
    1)を設けたことを特徴とする半導体試験装置のマザー
    ボード。
JP6959693U 1993-12-01 1993-12-01 半導体試験装置のマザーボード Pending JPH0732955U (ja)

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JP6959693U JPH0732955U (ja) 1993-12-01 1993-12-01 半導体試験装置のマザーボード

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Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0732955U true JPH0732955U (ja) 1995-06-16

Family

ID=13407380

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JP6959693U Pending JPH0732955U (ja) 1993-12-01 1993-12-01 半導体試験装置のマザーボード

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JP (1) JPH0732955U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003503712A (ja) * 1999-06-28 2003-01-28 テラダイン・インコーポレーテッド 半導体並列テスタ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003503712A (ja) * 1999-06-28 2003-01-28 テラダイン・インコーポレーテッド 半導体並列テスタ

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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19990803