JPH07333169A - パターン検査装置 - Google Patents
パターン検査装置Info
- Publication number
- JPH07333169A JPH07333169A JP15269594A JP15269594A JPH07333169A JP H07333169 A JPH07333169 A JP H07333169A JP 15269594 A JP15269594 A JP 15269594A JP 15269594 A JP15269594 A JP 15269594A JP H07333169 A JPH07333169 A JP H07333169A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- pattern
- lamp
- shaped
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被検査体のパターンに対して均一で高照度の
光照射を行なうことができ,被検査体及び板状ライトガ
イドの熱損傷がなく,正確なパターン検査を行なうこと
ができるパターン検査装置を提供すること。 【構成】 被検査体96におけるパターンを光照射する
ための光照射装置1と,上記パターンを撮像するカメラ
部2とを有するパターン検査装置10において,光源用
の棒状ランプ11と,該棒状ランプ11の光を上記被検
査体96に向けて導出するための板状ライトガイド12
と,該板状ライトガイド12と上記棒状ランプ11との
間に配置されたコールドフィルター13と,上記棒状ラ
ンプ11の後方に配置したコールドミラー14とを有す
る。
光照射を行なうことができ,被検査体及び板状ライトガ
イドの熱損傷がなく,正確なパターン検査を行なうこと
ができるパターン検査装置を提供すること。 【構成】 被検査体96におけるパターンを光照射する
ための光照射装置1と,上記パターンを撮像するカメラ
部2とを有するパターン検査装置10において,光源用
の棒状ランプ11と,該棒状ランプ11の光を上記被検
査体96に向けて導出するための板状ライトガイド12
と,該板状ライトガイド12と上記棒状ランプ11との
間に配置されたコールドフィルター13と,上記棒状ラ
ンプ11の後方に配置したコールドミラー14とを有す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,プリント配線板等の被
検査体に形成されているパターンを検査するためのパタ
ーン検査装置,特にその光照射装置に関する。
検査体に形成されているパターンを検査するためのパタ
ーン検査装置,特にその光照射装置に関する。
【0002】
【従来技術】プリント配線板に形成された回路パターン
は,その製造過程において断線,ショート等の欠陥を生
ずることがある。そのため,各プリント配線板はパター
ン検査装置を用いて検査される。このパターン検査装置
としては,パターンに対して光照射するための光照射装
置と,パターンを撮像するカメラ部とを有するものがあ
る。
は,その製造過程において断線,ショート等の欠陥を生
ずることがある。そのため,各プリント配線板はパター
ン検査装置を用いて検査される。このパターン検査装置
としては,パターンに対して光照射するための光照射装
置と,パターンを撮像するカメラ部とを有するものがあ
る。
【0003】従来,かかる光照射式のパターン検査装置
としては,図7に示すパターン検査装置9がある。この
パターン検査装置9は,光照射装置90とカメラ部95
とを有する。光照射装置90は,光源94と,プリント
配線板96上のパターン961に対してライン状に光照
射する透明円柱921と,両者間を光学的に連結する透
明光ファイバ束93とよりなる(実公平5−3156
2)。
としては,図7に示すパターン検査装置9がある。この
パターン検査装置9は,光照射装置90とカメラ部95
とを有する。光照射装置90は,光源94と,プリント
配線板96上のパターン961に対してライン状に光照
射する透明円柱921と,両者間を光学的に連結する透
明光ファイバ束93とよりなる(実公平5−3156
2)。
【0004】透明光ファイバ束93は,光源94側にお
いては略円形状に束ねられており,一方光照射側におい
ては上記透明円柱921の軸方向に沿って整列されてい
る。なお,透明光ファイバ束93の光照射端と透明円柱
921との間には,平面鏡92及び乳白色板922が設
けてある。また,被検査体としてのプリント配線板96
は,検査中は移動テーブル97上に固定されている。
いては略円形状に束ねられており,一方光照射側におい
ては上記透明円柱921の軸方向に沿って整列されてい
る。なお,透明光ファイバ束93の光照射端と透明円柱
921との間には,平面鏡92及び乳白色板922が設
けてある。また,被検査体としてのプリント配線板96
は,検査中は移動テーブル97上に固定されている。
【0005】上記パターン検査装置9においては,光源
94から発した光を透明光ファイバ束93等を介して透
明円柱921に導き,プリント配線板96上に光照射す
る。このとき,プリント配線板96上のパターン961
から反射される検出光をカメラ部95においてキャッチ
する。カメラ部95でキャッチされた検出光は,2値画
像に変換され,図示しないパターン回析装置により,マ
スターパターンとの間で比較検査に付される。これによ
り,上記パターンにおける欠陥の有無が検出される。ま
た,上記光照射装置90とカメラ部95とは,フレーム
により一体化され,被検査体であるプリント配線板96
に対して相対的に走査される。
94から発した光を透明光ファイバ束93等を介して透
明円柱921に導き,プリント配線板96上に光照射す
る。このとき,プリント配線板96上のパターン961
から反射される検出光をカメラ部95においてキャッチ
する。カメラ部95でキャッチされた検出光は,2値画
像に変換され,図示しないパターン回析装置により,マ
スターパターンとの間で比較検査に付される。これによ
り,上記パターンにおける欠陥の有無が検出される。ま
た,上記光照射装置90とカメラ部95とは,フレーム
により一体化され,被検査体であるプリント配線板96
に対して相対的に走査される。
【0006】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来のパ
ターン検査装置においては,次の問題がある。即ち,上
記従来のパターン検査装置においては,光源94からの
光は透明光ファイバ束93によって導いており,該透明
光ファイバ束93は光源94に対する面は円形状に束ね
られている。そのため,透明光ファイバ束93に入る光
量が,円形の透明光ファイバ束93における中心部分と
外周部分とで異なる。それ故,パターン961に光照射
される光量が不均一となり,検査に正確性を欠く場合が
ある。
ターン検査装置においては,次の問題がある。即ち,上
記従来のパターン検査装置においては,光源94からの
光は透明光ファイバ束93によって導いており,該透明
光ファイバ束93は光源94に対する面は円形状に束ね
られている。そのため,透明光ファイバ束93に入る光
量が,円形の透明光ファイバ束93における中心部分と
外周部分とで異なる。それ故,パターン961に光照射
される光量が不均一となり,検査に正確性を欠く場合が
ある。
【0007】また,光源94の光は,透明光ファイバ束
93等を経てプリント配線板96に光照射されるが,そ
の中には可視光の他に多量の赤外線(熱線)を含んでい
るため,プリント配線板96が加熱される。そのため,
この加熱によって,プリント配線板96に損傷を受ける
おそれがある。また,長期間の使用中に,上記赤外線に
よって,透明光ファイバ束93等の光ガイド部分が損傷
を受け,パターン検査を不正確にするおそれもある。
93等を経てプリント配線板96に光照射されるが,そ
の中には可視光の他に多量の赤外線(熱線)を含んでい
るため,プリント配線板96が加熱される。そのため,
この加熱によって,プリント配線板96に損傷を受ける
おそれがある。また,長期間の使用中に,上記赤外線に
よって,透明光ファイバ束93等の光ガイド部分が損傷
を受け,パターン検査を不正確にするおそれもある。
【0008】本発明はかかる従来の問題点に鑑み,被検
査体のパターンに対して均一な光照射を行なうことがで
き,被検査体及び光ガイド部分の熱損傷がなく,正確な
パターン検査を行なうことができるパターン検査装置を
提供しようとするものである。
査体のパターンに対して均一な光照射を行なうことがで
き,被検査体及び光ガイド部分の熱損傷がなく,正確な
パターン検査を行なうことができるパターン検査装置を
提供しようとするものである。
【0009】
【課題の解決手段】本発明は,被検査体におけるパター
ンを光照射するための光照射装置と,上記パターンを撮
像するカメラ部とを有するパターン検査装置において,
上記光照射装置は,光源用の棒状ランプと,該棒状ラン
プの光を上記被検査体に向けて導出するための板状ライ
トガイドと,該板状ライトガイドと上記棒状ランプとの
間に配置されたコールドフィルターと,上記棒状ランプ
の後方に配置したコールドミラーとを有することを特徴
とするパターン検査装置にある。
ンを光照射するための光照射装置と,上記パターンを撮
像するカメラ部とを有するパターン検査装置において,
上記光照射装置は,光源用の棒状ランプと,該棒状ラン
プの光を上記被検査体に向けて導出するための板状ライ
トガイドと,該板状ライトガイドと上記棒状ランプとの
間に配置されたコールドフィルターと,上記棒状ランプ
の後方に配置したコールドミラーとを有することを特徴
とするパターン検査装置にある。
【0010】本発明においても最も注目すべきことは,
上記光照射装置が上記棒状ランプと,板状ライトガイド
と,コールドフィルターとコールドミラーとを具備して
いることである。上記棒状ランプは,直線状に伸びたラ
ンプである。また,この光源用棒状ランプとしては,ハ
ロゲンランプ,クセノンランプ等がある。
上記光照射装置が上記棒状ランプと,板状ライトガイド
と,コールドフィルターとコールドミラーとを具備して
いることである。上記棒状ランプは,直線状に伸びたラ
ンプである。また,この光源用棒状ランプとしては,ハ
ロゲンランプ,クセノンランプ等がある。
【0011】次に,上記板状ライトガイドは,棒状ラン
プからの光をライン状に導き,かつライン状にパターン
に向けて光照射するための,光ガイド部分である。この
板状ライトガイドは,図4に示すごとき透明な板状体で
ある。また,板状ライトガイドは,溶融石英ガラス,又
は合成石英ガラスを用いることが好ましい。これらの石
英系ガラスは,光をガイドする場合において光歪の発生
が極めて少なく,より正確なパターン検査を行なうこと
ができる。
プからの光をライン状に導き,かつライン状にパターン
に向けて光照射するための,光ガイド部分である。この
板状ライトガイドは,図4に示すごとき透明な板状体で
ある。また,板状ライトガイドは,溶融石英ガラス,又
は合成石英ガラスを用いることが好ましい。これらの石
英系ガラスは,光をガイドする場合において光歪の発生
が極めて少なく,より正確なパターン検査を行なうこと
ができる。
【0012】また,上記板状ライトガイドは,板状体の
六面の全てが研磨されていることが好ましい。これによ
り,散乱光が板状ライトガイド内にのみ反射される。そ
のため,パターンに対してより多くの光量を光照射する
ことができる。次に,上記コールドフィルターは,光源
からの光中の赤外線を反射し,可視光は透過させる性質
を有するもので,上記板状ライトガイドと棒状ランプと
の間に長尺状に配設する。このような性質を有するコー
ルドフィルターとしては,例えば各種ガラスの表面に真
空蒸着等により,厚さ1μm程度の薄膜を形成したもの
が知られている。
六面の全てが研磨されていることが好ましい。これによ
り,散乱光が板状ライトガイド内にのみ反射される。そ
のため,パターンに対してより多くの光量を光照射する
ことができる。次に,上記コールドフィルターは,光源
からの光中の赤外線を反射し,可視光は透過させる性質
を有するもので,上記板状ライトガイドと棒状ランプと
の間に長尺状に配設する。このような性質を有するコー
ルドフィルターとしては,例えば各種ガラスの表面に真
空蒸着等により,厚さ1μm程度の薄膜を形成したもの
が知られている。
【0013】次に,上記コールドミラーは,光源からの
光中の赤外線は透過させ,一方可視光は上記コールドフ
ィルターの方向へ反射する性質を有するもので,例えば
各種のガラス又は金属に,上記性質を有する薄膜を形成
したものがある。上記コールドミラーは,棒状ランプの
後方に長尺状に配置する。
光中の赤外線は透過させ,一方可視光は上記コールドフ
ィルターの方向へ反射する性質を有するもので,例えば
各種のガラス又は金属に,上記性質を有する薄膜を形成
したものがある。上記コールドミラーは,棒状ランプの
後方に長尺状に配置する。
【0014】上記コールドミラーは,光源の近くにあっ
て,かつ赤外線を透過させるため,オーバーヒートされ
易い。そのため,適宜の空気流通部を有する事が好まし
い。これにより,コールドミラーのオーバーヒートを防
止できる。また,光源の周囲の空気流通も盛んになるた
め,光源の冷却にも役立つ。上記空気流通部としては多
数の小孔,軸方向に沿った開口部分,スリットなどがあ
る。
て,かつ赤外線を透過させるため,オーバーヒートされ
易い。そのため,適宜の空気流通部を有する事が好まし
い。これにより,コールドミラーのオーバーヒートを防
止できる。また,光源の周囲の空気流通も盛んになるた
め,光源の冷却にも役立つ。上記空気流通部としては多
数の小孔,軸方向に沿った開口部分,スリットなどがあ
る。
【0015】上記光照射装置は,上記棒状ランプ,コー
ルドフィルター,コールドミラーを収納するランプハウ
ス(図2,図3参照)を有することが好ましい。これに
より,これら各部分品を一体的に収納し,かつそれらの
光学的位置決めを容易にすることができる。
ルドフィルター,コールドミラーを収納するランプハウ
ス(図2,図3参照)を有することが好ましい。これに
より,これら各部分品を一体的に収納し,かつそれらの
光学的位置決めを容易にすることができる。
【0016】また,ランプハウスは,上記光源からの熱
を放出するため,空気取入口と空気放出口とを有するこ
とが好ましい。これにより,ランプハウス内における空
気流通を促進させ,冷却を促進することができる。ま
た,上記空気放出口には,空気吸引用ブロワーを連結す
ることが好ましい。これにより,ランプハウス内の空気
を強制的に入れ替え,上記冷却を一層促進することがで
きる。
を放出するため,空気取入口と空気放出口とを有するこ
とが好ましい。これにより,ランプハウス内における空
気流通を促進させ,冷却を促進することができる。ま
た,上記空気放出口には,空気吸引用ブロワーを連結す
ることが好ましい。これにより,ランプハウス内の空気
を強制的に入れ替え,上記冷却を一層促進することがで
きる。
【0017】また,上記光照射装置は補助光源を有する
ことが好ましい(図1)。該補助光源は,本体としての
上記光照射装置と同様に棒状ランプ,コールドフィルタ
ー,コールドミラーを有することが好ましい。これによ
り,一層優れたパターン検査装置を得ることができる。
ことが好ましい(図1)。該補助光源は,本体としての
上記光照射装置と同様に棒状ランプ,コールドフィルタ
ー,コールドミラーを有することが好ましい。これによ
り,一層優れたパターン検査装置を得ることができる。
【0018】また,上記光照射装置及びカメラ部は,一
体的に移動可能に装着されている。本発明のパターン検
査装置は,実施例に示すごときプリント配線板のパター
ン検査の他,プラスチックス板,金属板等の各種板材等
に印刷した文字,図形等のパターンの検査等にも用いる
ことができる。
体的に移動可能に装着されている。本発明のパターン検
査装置は,実施例に示すごときプリント配線板のパター
ン検査の他,プラスチックス板,金属板等の各種板材等
に印刷した文字,図形等のパターンの検査等にも用いる
ことができる。
【0019】
【作用及び効果】本発明のパターン検査装置において
は,光源として棒状ランプを用い,かつその光を板状ラ
イトガイドを用いてパターンに光照射している。そのた
め,照射光は均一なライン状を呈し,カメラ部のライン
状の撮像視野内において,パターンに対し均一な光照射
を行なうことができる。
は,光源として棒状ランプを用い,かつその光を板状ラ
イトガイドを用いてパターンに光照射している。そのた
め,照射光は均一なライン状を呈し,カメラ部のライン
状の撮像視野内において,パターンに対し均一な光照射
を行なうことができる。
【0020】また,棒状ランプと板状ライトガイドとの
間にはコールドフィルターを設けているので,棒状ラン
プの光中の赤外線をカットし,可視光を板状ライトガイ
ドへ送ることができる。また,棒状ランプの背面にはコ
ールドミラーを配置しているので,棒状ランプの光中の
赤外線は透過放出し,可視光を板状ライトガイドの方向
へ反射することができる。
間にはコールドフィルターを設けているので,棒状ラン
プの光中の赤外線をカットし,可視光を板状ライトガイ
ドへ送ることができる。また,棒状ランプの背面にはコ
ールドミラーを配置しているので,棒状ランプの光中の
赤外線は透過放出し,可視光を板状ライトガイドの方向
へ反射することができる。
【0021】そのため,板状ライトガイド及び被検査体
へは,殆ど赤外線を含まない状態で,可視光が高照度で
光照射される。それ故,被検査体及び板状ライトガイド
が熱損傷を受けることがない。また,そのため,高照度
で正確なパターン検査を行なうことができる。
へは,殆ど赤外線を含まない状態で,可視光が高照度で
光照射される。それ故,被検査体及び板状ライトガイド
が熱損傷を受けることがない。また,そのため,高照度
で正確なパターン検査を行なうことができる。
【0022】上記のごとく,本発明によれば,被検査体
のパターンに対して均一で高照度の光照射を行なうこと
ができ,被検査体及び板状ライトガイドの熱損傷がな
く,正確なパターン検査を行なうことができる,パター
ン検査装置を提供することができる。
のパターンに対して均一で高照度の光照射を行なうこと
ができ,被検査体及び板状ライトガイドの熱損傷がな
く,正確なパターン検査を行なうことができる,パター
ン検査装置を提供することができる。
【0023】
【実施例】本発明の実施例にかかるパターン検査装置に
つき,図1〜図6を用いて説明する。本例のパターン検
査装置10は,図1〜図3に示すごとく,被検査体とし
てのプリント配線板96におけるパターンを光照射する
ための光照射装置1と,上記パターンを撮像するカメラ
部2とを有する。上記光照射装置1は,光源用の棒状ラ
ンプ11と,該棒状ランプ11の光を上記プリント配線
板96に向けて導出するための透明な板状ライトガイド
12を有する。
つき,図1〜図6を用いて説明する。本例のパターン検
査装置10は,図1〜図3に示すごとく,被検査体とし
てのプリント配線板96におけるパターンを光照射する
ための光照射装置1と,上記パターンを撮像するカメラ
部2とを有する。上記光照射装置1は,光源用の棒状ラ
ンプ11と,該棒状ランプ11の光を上記プリント配線
板96に向けて導出するための透明な板状ライトガイド
12を有する。
【0024】また,該板状ライトガイド12と上記棒状
ランプ11との間に配置したコールドフィルター13
と,上記棒状ランプ11の後方に配置したコールドミラ
ー14とを有する。上記棒状ランプ11,コールドフィ
ルター13及びコールドミラー14は,図2,図3に示
すごとく,ランプハウス15内に設けてある。また,板
状ライトガイド12は,ランプハウス15の下方に垂設
した固定板155により,その両側を固定されている。
ランプ11との間に配置したコールドフィルター13
と,上記棒状ランプ11の後方に配置したコールドミラ
ー14とを有する。上記棒状ランプ11,コールドフィ
ルター13及びコールドミラー14は,図2,図3に示
すごとく,ランプハウス15内に設けてある。また,板
状ライトガイド12は,ランプハウス15の下方に垂設
した固定板155により,その両側を固定されている。
【0025】上記棒状ランプ11は,直線円管状のハロ
ゲンランプであり,図3に示すごとく,その両端は,ソ
ケット115により支持されている。上記板状ライトガ
イド12は,図2〜図4に示すごとく,透明な板状体
で,厚み約10mmの溶融石英ガラスにより作製されて
いる。また,板状ライトガイド12の六面は,鏡面仕上
げされている。
ゲンランプであり,図3に示すごとく,その両端は,ソ
ケット115により支持されている。上記板状ライトガ
イド12は,図2〜図4に示すごとく,透明な板状体
で,厚み約10mmの溶融石英ガラスにより作製されて
いる。また,板状ライトガイド12の六面は,鏡面仕上
げされている。
【0026】上記コールドフィルター13は,図1〜図
3に示すごとく,長板状である。コールドフィルター1
3は,赤外線は反射し,可視光は透過させる性質を有す
る。上記コールドミラー14は,図2,図3,図5に示
すごとく,左右一対の円弧状体により形成し,その頂部
に空気流通部としての,スリット状の空気穴141を有
する。コールドミラー14は,赤外線は透過し,可視光
は反射する性質を有する。
3に示すごとく,長板状である。コールドフィルター1
3は,赤外線は反射し,可視光は透過させる性質を有す
る。上記コールドミラー14は,図2,図3,図5に示
すごとく,左右一対の円弧状体により形成し,その頂部
に空気流通部としての,スリット状の空気穴141を有
する。コールドミラー14は,赤外線は透過し,可視光
は反射する性質を有する。
【0027】また,上記ランプハウス15は,図2,図
3に示すごとく,断面略六角形の長いボックスで,その
下部両側には,上記板状ライトガイド12を固定するた
めの固定プレート155を有する。また,ランプハウス
15は,その前面及び後面に複数の空気取入口151,
152を有し,更にその底面にも空気取入口(図示略)
を有する。前面の空気取入口151には,遮光板156
が設けてある(図2)。
3に示すごとく,断面略六角形の長いボックスで,その
下部両側には,上記板状ライトガイド12を固定するた
めの固定プレート155を有する。また,ランプハウス
15は,その前面及び後面に複数の空気取入口151,
152を有し,更にその底面にも空気取入口(図示略)
を有する。前面の空気取入口151には,遮光板156
が設けてある(図2)。
【0028】ランプハウス15は,図2,図3に示すご
とく,その上面に2つの空気放出口161を有し,該空
気放出口161は,図3に示すごとく,パイプ164に
より空気吸引用ブロワー165に連結されている。上記
カメラ部2は,図1に示すごとく,CCD素子を用いた
ラインセンサ21と,レンズ22と,これらを収納する
カメラボックス23とを有する。
とく,その上面に2つの空気放出口161を有し,該空
気放出口161は,図3に示すごとく,パイプ164に
より空気吸引用ブロワー165に連結されている。上記
カメラ部2は,図1に示すごとく,CCD素子を用いた
ラインセンサ21と,レンズ22と,これらを収納する
カメラボックス23とを有する。
【0029】また,図1に示すごとく,本例において
は,補助光源4を設けている。補助光源4は,上記光照
射装置1と同じ構造を有している。上記板状ライトガイ
ド12,補助光源4の板状ライトガイド42及びカメラ
部2は,フレーム19により,一体的移動可能に固定さ
れている。そして,これらの各軸芯120,420,2
0は,プリント配線板96上の同一部位に,ライン状に
一致するよう位置合わせされている。
は,補助光源4を設けている。補助光源4は,上記光照
射装置1と同じ構造を有している。上記板状ライトガイ
ド12,補助光源4の板状ライトガイド42及びカメラ
部2は,フレーム19により,一体的移動可能に固定さ
れている。そして,これらの各軸芯120,420,2
0は,プリント配線板96上の同一部位に,ライン状に
一致するよう位置合わせされている。
【0030】上記パターン検査装置10は,図6に示す
ごとく,これをプリント配線板96に対して,そのの走
査方向に移動できるよう構成すると共に,カメラ部2か
らの検出信号を回析するためのパターン回析装置100
に電気的に接続されている。図6には,上記パターン検
査装置10による,パターン検査時における走査方向を
矢印で示してある。同図の区画109が,一回の走査に
おいて検査される検査ライン幅,つまりカメラ部2の撮
像視野幅である。
ごとく,これをプリント配線板96に対して,そのの走
査方向に移動できるよう構成すると共に,カメラ部2か
らの検出信号を回析するためのパターン回析装置100
に電気的に接続されている。図6には,上記パターン検
査装置10による,パターン検査時における走査方向を
矢印で示してある。同図の区画109が,一回の走査に
おいて検査される検査ライン幅,つまりカメラ部2の撮
像視野幅である。
【0031】上記プリント配線板96は,検査時には,
図1に示すごとく,移動テーブル8の上に固定されてい
る。移動テーブル8は,サーボモータ81によってX方
向に移動する。一方上記パターン検査装置10は,Y方
向に移動する。
図1に示すごとく,移動テーブル8の上に固定されてい
る。移動テーブル8は,サーボモータ81によってX方
向に移動する。一方上記パターン検査装置10は,Y方
向に移動する。
【0032】次に,本例の作用効果につき説明する。本
例のパターン検査装置10においては,光源として棒状
ランプ11を用いており,かつその光を板状ライトガイ
ド12を用いてパターンに光照射している。そのため,
照射光は均一なライン状に照射され,カメラ部2のライ
ン状の撮像視野内において,プリント配線板96のパタ
ーンに対して均一な光照射を行なうことができる。
例のパターン検査装置10においては,光源として棒状
ランプ11を用いており,かつその光を板状ライトガイ
ド12を用いてパターンに光照射している。そのため,
照射光は均一なライン状に照射され,カメラ部2のライ
ン状の撮像視野内において,プリント配線板96のパタ
ーンに対して均一な光照射を行なうことができる。
【0033】また,上記コールドフィルター13によっ
て,棒状ランプ11の光中の赤外線がカットされ,更に
棒状ランプ背面のコールドミラー14においては赤外線
が放出され可視光が反射される。そのため,棒状ランプ
11の光中の可視光の殆どが板状ライトガイド12に導
かれ,高照度でプリント配線板96に照射される。ま
た,板状ライトガイド12へは赤外線が殆ど導かれない
ため,プリント配線板96及び板状ライトガイド12が
損傷を受けることがない。そのため,高照度で正確なパ
ターン検査を行なうことができる。
て,棒状ランプ11の光中の赤外線がカットされ,更に
棒状ランプ背面のコールドミラー14においては赤外線
が放出され可視光が反射される。そのため,棒状ランプ
11の光中の可視光の殆どが板状ライトガイド12に導
かれ,高照度でプリント配線板96に照射される。ま
た,板状ライトガイド12へは赤外線が殆ど導かれない
ため,プリント配線板96及び板状ライトガイド12が
損傷を受けることがない。そのため,高照度で正確なパ
ターン検査を行なうことができる。
【0034】また,ランプハウス15には,上記空気取
入口151,152を設け,空気放出口161から空気
吸引用ブロワー165によってランプハウス内の空気を
強制的に入れ替えている。そのため,ランプハウス15
及び棒状ランプ11,コールドフィルター13,コール
ドミラー14もオーバーヒートすることがない。
入口151,152を設け,空気放出口161から空気
吸引用ブロワー165によってランプハウス内の空気を
強制的に入れ替えている。そのため,ランプハウス15
及び棒状ランプ11,コールドフィルター13,コール
ドミラー14もオーバーヒートすることがない。
【0035】また,板状ライトガイド12は,その六面
が全て研磨されているので,プリント配線板への光伝達
性に優れている。さらに,一対のコールドミラー14
は,その間に空気穴141を有するので,そのオーバー
ヒートもない。
が全て研磨されているので,プリント配線板への光伝達
性に優れている。さらに,一対のコールドミラー14
は,その間に空気穴141を有するので,そのオーバー
ヒートもない。
【図1】実施例におけるパターン検査装置の全体説明
図。
図。
【図2】実施例の検査装置におけるランプハウスの,図
3のA−A線矢視断面図。
3のA−A線矢視断面図。
【図3】実施例のパターン検査装置におけるランプハウ
スの,図2のB−B線矢視断面図。
スの,図2のB−B線矢視断面図。
【図4】実施例における板状ライトガイドの斜視図。
【図5】実施例におけるコールドミラーの斜視図。
【図6】実施例におけるパターン検査装置の検査時の説
明図。
明図。
【図7】従来例におけるパターン検査装置の説明図。
1...光照射装置, 10...パターン検査装置, 11...棒状ランプ, 12...板状ライトガイド, 13...コールドフィルター, 14...コールドミラー, 15...ランプハウス, 161...空気放出口, 19...フレーム, 2...カメラ部, 4...補助光源, 42...板状ライトガイド,
Claims (4)
- 【請求項1】 被検査体におけるパターンを光照射する
ための光照射装置と,上記パターンを撮像するカメラ部
とを有するパターン検査装置において,上記光照射装置
は,光源用の棒状ランプと,該棒状ランプの光を上記被
検査体に向けて導出するための板状ライトガイドと,該
板状ライトガイドと上記棒状ランプとの間に配置された
コールドフィルターと,上記棒状ランプの後方に配置し
たコールドミラーとを有することを特徴とするパターン
検査装置。 - 【請求項2】 請求項1において,上記コールドミラー
は,空気流通部を有することを特徴とするパターン検査
装置。 - 【請求項3】 請求項1,2のいずれか1項において,
上記光照射装置は上記棒状ランプとコールドフィルター
とコールドミラーとを収納するランプハウスを有し,上
記ランプハウスは空気取入口と空気放出口とを有するこ
とを特徴とするパターン検査装置。 - 【請求項4】 請求項1〜3のいずれか1項において,
上記板状ライトガイドは板状体の六面が研磨されている
ことを特徴とするパターン検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15269594A JPH07333169A (ja) | 1994-06-10 | 1994-06-10 | パターン検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15269594A JPH07333169A (ja) | 1994-06-10 | 1994-06-10 | パターン検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07333169A true JPH07333169A (ja) | 1995-12-22 |
Family
ID=15546126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15269594A Pending JPH07333169A (ja) | 1994-06-10 | 1994-06-10 | パターン検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07333169A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006201015A (ja) * | 2005-01-20 | 2006-08-03 | Toppan Printing Co Ltd | 直線ライン状紫外照明光を用いた検査装置 |
| US7281835B2 (en) * | 2005-02-16 | 2007-10-16 | Au Optronics Corp. | Backlight module for flat panel display |
| KR100784854B1 (ko) * | 2007-02-14 | 2007-12-14 | 한국기초과학지원연구원 | 여기광원유닛 및 이를 갖는 루미네선스 계측시스템 |
| US7601544B2 (en) | 2001-01-17 | 2009-10-13 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Method and apparatus for using infrared readings to detect misidentification of a diagnostic test strip in a reflectance spectrometer |
| JP2013092469A (ja) * | 2011-10-26 | 2013-05-16 | Nippon Filcon Co Ltd | ワーク検査システム |
| CN110057835A (zh) * | 2019-05-29 | 2019-07-26 | 深圳中科飞测科技有限公司 | 一种检测装置及检测方法 |
-
1994
- 1994-06-10 JP JP15269594A patent/JPH07333169A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7601544B2 (en) | 2001-01-17 | 2009-10-13 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Method and apparatus for using infrared readings to detect misidentification of a diagnostic test strip in a reflectance spectrometer |
| JP2006201015A (ja) * | 2005-01-20 | 2006-08-03 | Toppan Printing Co Ltd | 直線ライン状紫外照明光を用いた検査装置 |
| US7281835B2 (en) * | 2005-02-16 | 2007-10-16 | Au Optronics Corp. | Backlight module for flat panel display |
| KR100784854B1 (ko) * | 2007-02-14 | 2007-12-14 | 한국기초과학지원연구원 | 여기광원유닛 및 이를 갖는 루미네선스 계측시스템 |
| JP2013092469A (ja) * | 2011-10-26 | 2013-05-16 | Nippon Filcon Co Ltd | ワーク検査システム |
| CN110057835A (zh) * | 2019-05-29 | 2019-07-26 | 深圳中科飞测科技有限公司 | 一种检测装置及检测方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE69531805D1 (de) | Inspektion einer Kontaktlinse mit einer Beleuchtung mit Doppelfokus | |
| CN101049022B (zh) | 用于识别玻璃板表面缺陷和体缺陷的检查系统和方法 | |
| JPH05288685A (ja) | コンピュータ制御による多重角照射システム | |
| ATE424757T1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung und abbildung von gewebeläsionen | |
| JP2000074837A (ja) | 撮影装置 | |
| CN212845071U (zh) | 键帽检测装置和键帽检测设备 | |
| TW202417832A (zh) | 光學檢測設備、多光譜led光源箱及多光譜led照明方法 | |
| JP2008002836A (ja) | ライン型照明装置 | |
| KR20110125906A (ko) | 레티클 검사장치 | |
| JP2002214158A (ja) | 透明板状体の欠点検出方法および検出装置 | |
| JPH07234187A (ja) | ガラス基板の表面欠点検出方法およびその装置 | |
| JP4278386B2 (ja) | 改良された照明器を有するカメラ | |
| JP3360429B2 (ja) | 外観検査用照明装置 | |
| CN119654206A (zh) | 用于监测制造系统的保护玻璃的状态的装置和方法以及用于增材制造方法的制造系统 | |
| JP2914967B2 (ja) | 外観検査方法 | |
| JP2003042971A (ja) | パターン検査装置および検査方法 | |
| CN223037817U (zh) | 一种视觉检测装置 | |
| JP2801941B2 (ja) | 外観検査装置及びそれに用いる照明装置 | |
| JPH05322780A (ja) | 光透過性成形品の検査方法 | |
| JPH03210410A (ja) | ピングリッドアレイ検査装置 | |
| CN215952490U (zh) | 一种表面平整度检测光源 | |
| JPH08163322A (ja) | 画像入力装置 | |
| CN120240984A (zh) | 激光大面积照射结构及动物活体成像设备 | |
| CN121876391A (zh) | 光源组件和外观检测设备 | |
| JP3760518B2 (ja) | 反射型撮像装置 |