JPH0735965B2 - 記録媒体カード寸法測定装置 - Google Patents
記録媒体カード寸法測定装置Info
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- JPH0735965B2 JPH0735965B2 JP11676590A JP11676590A JPH0735965B2 JP H0735965 B2 JPH0735965 B2 JP H0735965B2 JP 11676590 A JP11676590 A JP 11676590A JP 11676590 A JP11676590 A JP 11676590A JP H0735965 B2 JPH0735965 B2 JP H0735965B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、記録媒体カード寸法測定装置に関し、特
に、磁気カード、光カード、またはICカード等の記録媒
体カードの厚み、幅または長さ等を高精度で測定できる
ものに関する。
に、磁気カード、光カード、またはICカード等の記録媒
体カードの厚み、幅または長さ等を高精度で測定できる
ものに関する。
第4図は、キャッシュカードやプリペイドカードなどの
磁気カードの厚みを測定する従来の測定装置の一例を示
す。該装置は、各々の一端において相対的に揺動自在な
ように相互連結された1対の支持アーム2a,2bの先端
に、ローラ4a,4bを取り付けたものであって、両ローラ4
a,4bにより測定すべき磁気カードCを厚み方向に挾持し
た状態で前記支持アーム2a,2bがなす角度θを測定し、
その角度θの測定値から前記磁気カードCの厚みを求め
ることができるようになっている。
磁気カードの厚みを測定する従来の測定装置の一例を示
す。該装置は、各々の一端において相対的に揺動自在な
ように相互連結された1対の支持アーム2a,2bの先端
に、ローラ4a,4bを取り付けたものであって、両ローラ4
a,4bにより測定すべき磁気カードCを厚み方向に挾持し
た状態で前記支持アーム2a,2bがなす角度θを測定し、
その角度θの測定値から前記磁気カードCの厚みを求め
ることができるようになっている。
しかしながら、この種の測定装置にあっては、前述のよ
うに支持アーム2a,2bがなす角度θの測定値により厚み
寸法の測定を行なうものであるので、高い測定精度を期
待することができず、また、測定精度を上げるためには
支持アーム2a,2bを相当程度長くする必要があり、装置
が大型化するという課題があった。
うに支持アーム2a,2bがなす角度θの測定値により厚み
寸法の測定を行なうものであるので、高い測定精度を期
待することができず、また、測定精度を上げるためには
支持アーム2a,2bを相当程度長くする必要があり、装置
が大型化するという課題があった。
この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、記録媒体
カードの厚み寸法等を高精度で測定でき、且つ、装置サ
イズにおいてコンパクトな記録媒体カード寸法測定装置
を提供しようとするものである。
カードの厚み寸法等を高精度で測定でき、且つ、装置サ
イズにおいてコンパクトな記録媒体カード寸法測定装置
を提供しようとするものである。
本発明に係る記録媒体カード寸法測定装置は、記録媒体
カードの厚み、幅または長さ等の所望寸法を測定する記
録媒体カード寸法測定装置であって、固定的に設けられ
た第1のローラと、該第1のローラに対し前記所望寸法
の方向に対向して設けられ、所定の移送路に沿って移送
されてくる記録媒体カードを、前記第1のローラとの間
において、前記所望寸法の方向に挾んだ状態に導入でき
るようになった第2のローラと、前記第2のローラを支
持しており、両前記ローラ間に前記記録媒体カードを挾
んだ状態に導入するため前記第2のローラが前記カード
の実際寸法に従って変位できるように回動可能なローラ
支持体と、前記第1および第2のローラ間に記録媒体カ
ードが存在していないときにおいて、前記支持体を、前
記第2のローラが、予め、記録媒体カードの前記所望寸
法の予測値よりわずかに小さい所定の距離だけ前記第1
のローラから離隔するように初期位置に維持する係止手
段と、前記支持体における所定の光反射面に対して一定
方向に光ビームを投射する投光手段と、該投光手段によ
って投射され前記光反射面から反射してくる光ビームを
受光する受光部を有し、該受光部において前記支持体が
前記初期位置にあるときに前記ビームを受光する位置が
基準受光位置として設定されており、記録媒体カードが
両前記ローラ間に導入される際、前記第2のローラの変
位に伴ない前記ローラ支持体が回動し前記光反射面が前
記受光部に対して角度変位することにより、前記受光部
における光ビームの受光位置の前記基準受光位置からの
変化を検出する光検出手段と、前記受光部においてその
受光位置が変化した量を求め、該変化した量に基づいて
前記所望寸法の測定値を算出する算出手段とを具備した
ものである。
カードの厚み、幅または長さ等の所望寸法を測定する記
録媒体カード寸法測定装置であって、固定的に設けられ
た第1のローラと、該第1のローラに対し前記所望寸法
の方向に対向して設けられ、所定の移送路に沿って移送
されてくる記録媒体カードを、前記第1のローラとの間
において、前記所望寸法の方向に挾んだ状態に導入でき
るようになった第2のローラと、前記第2のローラを支
持しており、両前記ローラ間に前記記録媒体カードを挾
んだ状態に導入するため前記第2のローラが前記カード
の実際寸法に従って変位できるように回動可能なローラ
支持体と、前記第1および第2のローラ間に記録媒体カ
ードが存在していないときにおいて、前記支持体を、前
記第2のローラが、予め、記録媒体カードの前記所望寸
法の予測値よりわずかに小さい所定の距離だけ前記第1
のローラから離隔するように初期位置に維持する係止手
段と、前記支持体における所定の光反射面に対して一定
方向に光ビームを投射する投光手段と、該投光手段によ
って投射され前記光反射面から反射してくる光ビームを
受光する受光部を有し、該受光部において前記支持体が
前記初期位置にあるときに前記ビームを受光する位置が
基準受光位置として設定されており、記録媒体カードが
両前記ローラ間に導入される際、前記第2のローラの変
位に伴ない前記ローラ支持体が回動し前記光反射面が前
記受光部に対して角度変位することにより、前記受光部
における光ビームの受光位置の前記基準受光位置からの
変化を検出する光検出手段と、前記受光部においてその
受光位置が変化した量を求め、該変化した量に基づいて
前記所望寸法の測定値を算出する算出手段とを具備した
ものである。
第1および第2のローラ間に記録媒体カードが存在して
いない初期状態において、ローラ支持体は初期位置にあ
り、第2のローラは、予の、測定しようとする記録媒体
カードの所望寸法(例えば厚みとする)についての予測
値よりわずかに小さい、所定の距離(ここでは、便宜的
に、予備距離という)だけ第1のローラから離隔してい
る。従って、光検出手段の受光部では、基準受光位置で
光ビームを受光するようになっている。
いない初期状態において、ローラ支持体は初期位置にあ
り、第2のローラは、予の、測定しようとする記録媒体
カードの所望寸法(例えば厚みとする)についての予測
値よりわずかに小さい、所定の距離(ここでは、便宜的
に、予備距離という)だけ第1のローラから離隔してい
る。従って、光検出手段の受光部では、基準受光位置で
光ビームを受光するようになっている。
このような、初期状態において、例えば送りローラ等に
よって移送されてくる記録媒体カードは、その両側先端
部が第1および第2のローラに当接し、これらのローラ
を回転させながら両前記ローラ間に割り込もうとする。
このとき、両前記ローラは前述のように予め前記予備距
離離隔しているため、記録媒体カードが両前記ローラに
当接する時の衝撃は極めて微少なものとなる。次に、記
録媒体カードがさらに両ローラ間に進入し続けることに
より、第2のローラは、該カードがローラ間に完全に挾
まれた状態に導入されるまで、すなわち、該カードの実
際の厚みに従った距離だけ第1のローラから離隔する位
置に変位とする。このとき、前記予備距離の離隔によ
り、第2のローラの変位量は微少なものとなる。これに
伴ない、ローラ支持体も前記初期位置から回動変位する
ため、光反射面も前記受光部に対して角度変位すること
となる。従って、このような状態にあっては、投光手段
から一定方向で投射される光ビームは前記初期状態とは
前記光反射面に対する入射角および反射面において異な
るため、前記受光部における光ビームの受光位置は前記
基準受光位置から変位したものとなる。前記受光位置の
変化量は第2のローラが記録媒体カードの実際の厚みに
従って変位した量に対応(比例)するものである。そこ
で、算出手段では、前記基準受光位置と変位後の受光位
置とを減算することにより受光位置の変化量を求め、該
変化量に基づいて記録媒体カードの厚み測定値を算出す
る。
よって移送されてくる記録媒体カードは、その両側先端
部が第1および第2のローラに当接し、これらのローラ
を回転させながら両前記ローラ間に割り込もうとする。
このとき、両前記ローラは前述のように予め前記予備距
離離隔しているため、記録媒体カードが両前記ローラに
当接する時の衝撃は極めて微少なものとなる。次に、記
録媒体カードがさらに両ローラ間に進入し続けることに
より、第2のローラは、該カードがローラ間に完全に挾
まれた状態に導入されるまで、すなわち、該カードの実
際の厚みに従った距離だけ第1のローラから離隔する位
置に変位とする。このとき、前記予備距離の離隔によ
り、第2のローラの変位量は微少なものとなる。これに
伴ない、ローラ支持体も前記初期位置から回動変位する
ため、光反射面も前記受光部に対して角度変位すること
となる。従って、このような状態にあっては、投光手段
から一定方向で投射される光ビームは前記初期状態とは
前記光反射面に対する入射角および反射面において異な
るため、前記受光部における光ビームの受光位置は前記
基準受光位置から変位したものとなる。前記受光位置の
変化量は第2のローラが記録媒体カードの実際の厚みに
従って変位した量に対応(比例)するものである。そこ
で、算出手段では、前記基準受光位置と変位後の受光位
置とを減算することにより受光位置の変化量を求め、該
変化量に基づいて記録媒体カードの厚み測定値を算出す
る。
本発明は記録媒体カードの厚みのみならず、幅または長
さ等の寸法を測定する場合にも適用可能であり、これら
の場合においても前述のものと同様な作用を行なう。
さ等の寸法を測定する場合にも適用可能であり、これら
の場合においても前述のものと同様な作用を行なう。
以上のように、本発明にあっては、(1)光ビームによ
る測定を行なうため、(2)初期状態において、第1お
よび第2のローラ間が、予め、記録媒体カードの所望寸
法についての予測値よりわずかに小さい距離だけ離隔し
ていることにより、第2のローラが記録媒体カードの実
際寸法に従って変位することとなる量かせ小さく、従っ
て、受光部において受光位置の変化量をきめ細かく検出
することができるため、コンパクトな装置で、精度の高
い測定が可能になる。光検出手段として受光ビット数の
多いイメージセンサを用いた場合には、特に、高精度の
測定が可能である。
る測定を行なうため、(2)初期状態において、第1お
よび第2のローラ間が、予め、記録媒体カードの所望寸
法についての予測値よりわずかに小さい距離だけ離隔し
ていることにより、第2のローラが記録媒体カードの実
際寸法に従って変位することとなる量かせ小さく、従っ
て、受光部において受光位置の変化量をきめ細かく検出
することができるため、コンパクトな装置で、精度の高
い測定が可能になる。光検出手段として受光ビット数の
多いイメージセンサを用いた場合には、特に、高精度の
測定が可能である。
以下、添付図面に示す一実施例に基づいて本発明を詳細
に説明する。
に説明する。
第1図および第2図は、本発明の一実施例に係る磁気カ
ード寸法測定装置の要部を示す。該装置において、測定
すべき磁気カードCは、磁気カード移送方向Aに離隔し
て配設された第1の送りローラ対8および第2の送りロ
ーラ対9によって移送されるようになっており、各送り
ローラ対8,9はフィードローラ8a,9aとピンチローラ8b,9
bとで構成されている。図示例において、磁気カードC
は第1の送りローラ対8から第2の送りローラ対9に向
かう方向Aに移送されるようになっている。
ード寸法測定装置の要部を示す。該装置において、測定
すべき磁気カードCは、磁気カード移送方向Aに離隔し
て配設された第1の送りローラ対8および第2の送りロ
ーラ対9によって移送されるようになっており、各送り
ローラ対8,9はフィードローラ8a,9aとピンチローラ8b,9
bとで構成されている。図示例において、磁気カードC
は第1の送りローラ対8から第2の送りローラ対9に向
かう方向Aに移送されるようになっている。
前記フィードローラ8a,9aの間には、ベース部B(第2
図においてのみ示す)に対して固定された基準ローラ10
が前記フィードローラ8a,9aと整列した状態で設けられ
ている。また、ピンチローラ8b,9bの間には、基準ロー
ラ10に対して、前述のようにして移送される磁気カード
Cの厚みT方向に対向する測定ローラ12が設けられてい
る。該測定ローラ12は、縦部14aと横部14bとからなるL
字状の揺動アーム14における、前記横部14bの先端に取
り付けられている。該揺動アーム14は、軸15により、縦
部14aと横部14Bとの交差部において、スペーサS1,S2
(第2図)を介して前記ベース部Bに着脱可能に固定さ
れた取付けブロック16に対して揺動自在に取り付けられ
ている。また、揺動アーム14には、その縦部14aの上方
部分において、平面状の光反射面ORが固定的に設けられ
ている。揺動アーム14において、軸15から光反射面ORま
での長さは、軸15から測定ローラ12の中心軸までの長さ
の数倍(例えば約3倍)となっている。さらに、該揺動
アーム14は、引張バネ18により、その縦部14aがストッ
パ19に当接するような初期起立位置に向けて常時付勢さ
れている。このようにして、両前記ローラ12,10間に磁
気カードCが存在していないとき、揺動アーム14は、前
記起立位置に係止されるようになっている。ストッパ19
は、取付けブロック16に固定されている。このように揺
動アーム14が初期起立位置にあるときにおいて、測定ロ
ーラ12は基準ローラ10から所定距離DRだけ予め離隔する
ように設けられており、該距離DRは、磁気カードCの厚
みTについての予測値よりわずかに小さい(例えば該予
測値より1mm小さい)距離である。
図においてのみ示す)に対して固定された基準ローラ10
が前記フィードローラ8a,9aと整列した状態で設けられ
ている。また、ピンチローラ8b,9bの間には、基準ロー
ラ10に対して、前述のようにして移送される磁気カード
Cの厚みT方向に対向する測定ローラ12が設けられてい
る。該測定ローラ12は、縦部14aと横部14bとからなるL
字状の揺動アーム14における、前記横部14bの先端に取
り付けられている。該揺動アーム14は、軸15により、縦
部14aと横部14Bとの交差部において、スペーサS1,S2
(第2図)を介して前記ベース部Bに着脱可能に固定さ
れた取付けブロック16に対して揺動自在に取り付けられ
ている。また、揺動アーム14には、その縦部14aの上方
部分において、平面状の光反射面ORが固定的に設けられ
ている。揺動アーム14において、軸15から光反射面ORま
での長さは、軸15から測定ローラ12の中心軸までの長さ
の数倍(例えば約3倍)となっている。さらに、該揺動
アーム14は、引張バネ18により、その縦部14aがストッ
パ19に当接するような初期起立位置に向けて常時付勢さ
れている。このようにして、両前記ローラ12,10間に磁
気カードCが存在していないとき、揺動アーム14は、前
記起立位置に係止されるようになっている。ストッパ19
は、取付けブロック16に固定されている。このように揺
動アーム14が初期起立位置にあるときにおいて、測定ロ
ーラ12は基準ローラ10から所定距離DRだけ予め離隔する
ように設けられており、該距離DRは、磁気カードCの厚
みTについての予測値よりわずかに小さい(例えば該予
測値より1mm小さい)距離である。
例えば約5,000ビットのイメージセンサからなる光セン
サ20は、その受光部20aにおいて揺動アーム14の光反射
面ORに対向するように、取付けブロック16に固定されて
いる。該センサ20は、投光器21により揺動アーム14の前
記光反射面ORに対して一定方向に投射され該光反射面OR
から反射する光ビームBを受光部20aで受光し、その受
光部20aにおける受光位置(受光ビット)に対応した電
気信号を出力するようになっている。第1図のように揺
動アーム14が初期起立位置にあるとき、投光器21により
投射され光反射面ORから反射する光ビームBは、受光部
20aにおける所定の基準ビットRBに受光されるようにな
っている。
サ20は、その受光部20aにおいて揺動アーム14の光反射
面ORに対向するように、取付けブロック16に固定されて
いる。該センサ20は、投光器21により揺動アーム14の前
記光反射面ORに対して一定方向に投射され該光反射面OR
から反射する光ビームBを受光部20aで受光し、その受
光部20aにおける受光位置(受光ビット)に対応した電
気信号を出力するようになっている。第1図のように揺
動アーム14が初期起立位置にあるとき、投光器21により
投射され光反射面ORから反射する光ビームBは、受光部
20aにおける所定の基準ビットRBに受光されるようにな
っている。
次に、第3図を参照して前記装置の動作の一例を説明す
る。
る。
先ず、測定すべき磁気カードCは、第1の送りローラ対
8によって第2の送りローラ対に向けて移送される途中
で、その両側縁先端部において、基準ローラ10と測定ロ
ーラ12とに当接し、これらローラ10,12を回転させなが
ら両前記ローラ10,12間に割り込もうとする。このと
き、前述のように両前記ローラ10,12が磁気カードCの
厚みTの予測値よりわずかに小さい距離DRだけ予め離隔
しているため、磁気カードCが両ローラ10,12に当接す
る際の衝撃が緩和される。次に、第1の送りローラ対8
により磁気カードCがさらに移送されることにより、測
定ローラ12は、両ローラ10,12間に磁気カードCが完全
に進入するまで基準ローラ10から離隔する方向に変位す
る。この際、前記距離DRにより、第2のローラ12が変位
する量(距離)は小さいものとなり、後述するようにき
め細かい測定が可能になる。これに伴ない、測定ローラ
12を取り付けている揺動アーム14は、該ローラ12の変位
に応じて、引張バネ18の付勢力に抗し、軸15を中心とし
て逆時計回り方向に回動変位し、光反射面ORが送光器21
および光センサ20の受光部20aに対して角度変位する。
この際、揺動アーム14において軸15から光反射面ORまで
の長さは軸15から測定ローラ12までの長さの数倍である
ため、測定ローラ12が磁気カードCの厚みに従って変位
する量が小さくても、光反射面ORは、測定ローラ12の変
位量を増幅した変位を示すこととなる。このようにし
て、磁気カードCは、基準ローラ10と測定ローラ12とに
より厚み方向に挾まれながらその先端部が第2のローラ
対9に達するまで送られたとき、フィードローラ8aの回
転停止に伴ない停止される。このとき、磁気カードC
は、その両端部において第1および第2の送りローラ対
8,9によって挾持され、その中間部において基準ローラ1
0と測定ローラ12とによって挾持された状態となる。次
に、前記光反射面ORに対して投光器21から光ビームBが
投射され、該ビームBは光反射面ORで反射した後光セン
サ20の受光部20aに受光される。この際、前述のよう
に、磁気カードCの厚みに従って測定ローラ12の変位に
伴ない光反射面ORが角度変位したことにより、該反射面
ORに対する入射角および反射角も初期状態とは異なるこ
ととなり、受光部20aにおいて前記ビームBを受光する
受光ビットABも前記基準ビットRBSとは異なった(変化
した)ものとなる。そこで、図示しない演算部では、前
記受光ビットABおよび基準ビットRBから受光部20aにお
ける受光位置変化量を求め、該変化量に基づいて前記磁
気カードCの厚み測定値を算出する。この測定値は、例
えば、図示しない表示器等に出力される。以上のように
して、磁気カードCの厚みTについての測定動作が終了
する。また、この装置によって測定しようとする磁気カ
ードCにおける被測定箇所を変更したいときには、スベ
ーサS1,S2を適宜個数取り外して測定ローラ12の位置を
調節すればよい。
8によって第2の送りローラ対に向けて移送される途中
で、その両側縁先端部において、基準ローラ10と測定ロ
ーラ12とに当接し、これらローラ10,12を回転させなが
ら両前記ローラ10,12間に割り込もうとする。このと
き、前述のように両前記ローラ10,12が磁気カードCの
厚みTの予測値よりわずかに小さい距離DRだけ予め離隔
しているため、磁気カードCが両ローラ10,12に当接す
る際の衝撃が緩和される。次に、第1の送りローラ対8
により磁気カードCがさらに移送されることにより、測
定ローラ12は、両ローラ10,12間に磁気カードCが完全
に進入するまで基準ローラ10から離隔する方向に変位す
る。この際、前記距離DRにより、第2のローラ12が変位
する量(距離)は小さいものとなり、後述するようにき
め細かい測定が可能になる。これに伴ない、測定ローラ
12を取り付けている揺動アーム14は、該ローラ12の変位
に応じて、引張バネ18の付勢力に抗し、軸15を中心とし
て逆時計回り方向に回動変位し、光反射面ORが送光器21
および光センサ20の受光部20aに対して角度変位する。
この際、揺動アーム14において軸15から光反射面ORまで
の長さは軸15から測定ローラ12までの長さの数倍である
ため、測定ローラ12が磁気カードCの厚みに従って変位
する量が小さくても、光反射面ORは、測定ローラ12の変
位量を増幅した変位を示すこととなる。このようにし
て、磁気カードCは、基準ローラ10と測定ローラ12とに
より厚み方向に挾まれながらその先端部が第2のローラ
対9に達するまで送られたとき、フィードローラ8aの回
転停止に伴ない停止される。このとき、磁気カードC
は、その両端部において第1および第2の送りローラ対
8,9によって挾持され、その中間部において基準ローラ1
0と測定ローラ12とによって挾持された状態となる。次
に、前記光反射面ORに対して投光器21から光ビームBが
投射され、該ビームBは光反射面ORで反射した後光セン
サ20の受光部20aに受光される。この際、前述のよう
に、磁気カードCの厚みに従って測定ローラ12の変位に
伴ない光反射面ORが角度変位したことにより、該反射面
ORに対する入射角および反射角も初期状態とは異なるこ
ととなり、受光部20aにおいて前記ビームBを受光する
受光ビットABも前記基準ビットRBSとは異なった(変化
した)ものとなる。そこで、図示しない演算部では、前
記受光ビットABおよび基準ビットRBから受光部20aにお
ける受光位置変化量を求め、該変化量に基づいて前記磁
気カードCの厚み測定値を算出する。この測定値は、例
えば、図示しない表示器等に出力される。以上のように
して、磁気カードCの厚みTについての測定動作が終了
する。また、この装置によって測定しようとする磁気カ
ードCにおける被測定箇所を変更したいときには、スベ
ーサS1,S2を適宜個数取り外して測定ローラ12の位置を
調節すればよい。
本発明は、磁気カードCの厚みTのみならず、磁気カー
ドCの幅または長さを測定するために用いることもでき
る。すなわち、例えば磁気カードCの幅を測定するた
め、揺動アーム14および光センサ20等を一体的に取り付
けている取付けブロック16は、測定ローラ12と基準ロー
ラ10とが測定すべき磁気カードCの幅方向に対向し、且
つ、初期状態において両ローラ12,10が磁気カードCの
幅についての予測値よりわずかに小さい所定の距離予め
離隔するような、方向および位置に取り付けらける。ま
た、各送りローラ対8,9も磁気カードCを幅方向に挾持
して移送できるような配置となる。このような装置のそ
の他の構成および動作は、第1図の装置のものと略同様
であるので、その説明を省略する。
ドCの幅または長さを測定するために用いることもでき
る。すなわち、例えば磁気カードCの幅を測定するた
め、揺動アーム14および光センサ20等を一体的に取り付
けている取付けブロック16は、測定ローラ12と基準ロー
ラ10とが測定すべき磁気カードCの幅方向に対向し、且
つ、初期状態において両ローラ12,10が磁気カードCの
幅についての予測値よりわずかに小さい所定の距離予め
離隔するような、方向および位置に取り付けらける。ま
た、各送りローラ対8,9も磁気カードCを幅方向に挾持
して移送できるような配置となる。このような装置のそ
の他の構成および動作は、第1図の装置のものと略同様
であるので、その説明を省略する。
本装置にあっては、前述のように、測定ローラ12が初期
状態において基準ローラ10から所定の距離予め離隔する
ような位置に設けられていることにより、磁気カードC
の厚みTまたは幅等に応じて該測定ローラ12が変位する
量が小さいため揺動アーム14の光反射面ORの変位量も小
さくなり、従って、光センサ20の受光部20aにおける光
ビームBの受光位置変化量もそれに応じて小さいものと
なり光センサ20ではきめの細かい受光位置の変化を検出
できる。このため、光センサ20として受光ビット数の多
いイメージセンサを用いることにより、特に、例えば、
ミクロン単位に及ぶ精度の高い測定が可能になる。
状態において基準ローラ10から所定の距離予め離隔する
ような位置に設けられていることにより、磁気カードC
の厚みTまたは幅等に応じて該測定ローラ12が変位する
量が小さいため揺動アーム14の光反射面ORの変位量も小
さくなり、従って、光センサ20の受光部20aにおける光
ビームBの受光位置変化量もそれに応じて小さいものと
なり光センサ20ではきめの細かい受光位置の変化を検出
できる。このため、光センサ20として受光ビット数の多
いイメージセンサを用いることにより、特に、例えば、
ミクロン単位に及ぶ精度の高い測定が可能になる。
なお、本発明は、磁気カードのみならず、光カードやIC
カード等その他の記録媒体カードの寸法測定にも適用可
能である。
カード等その他の記録媒体カードの寸法測定にも適用可
能である。
以上のように、本発明にあっては、光ビームによる測定
を行なうため、ならびに、初期状態において、第1およ
び第2のローラ間が、予め、記録媒体カードの所望寸法
についての予測値よりかずかに小さい距離だけ離隔して
いることにより、第2のローラが記録媒体カードの実際
寸法に従って変位することとなる量が小さく、従って、
受光部において受光位置の変化量をきめ細かく検出する
ことができるため、コンパクトな装置で、精度の高い測
定を行なうことができるという優れた効果を奏する。ま
た、光検出手段として受光ビット数の多いイメージセン
サを用いた場合には、特に、高精度の測定が可能であ
る。
を行なうため、ならびに、初期状態において、第1およ
び第2のローラ間が、予め、記録媒体カードの所望寸法
についての予測値よりかずかに小さい距離だけ離隔して
いることにより、第2のローラが記録媒体カードの実際
寸法に従って変位することとなる量が小さく、従って、
受光部において受光位置の変化量をきめ細かく検出する
ことができるため、コンパクトな装置で、精度の高い測
定を行なうことができるという優れた効果を奏する。ま
た、光検出手段として受光ビット数の多いイメージセン
サを用いた場合には、特に、高精度の測定が可能であ
る。
第1図は本発明の一実施例に係る記録媒体カード寸法測
定装置の概略を示す正面図、第2図は第1図のII−II線
矢視図、第3図は第1図の測定装置の動作を説明する
図、第4図は従来の技術を説明する図である。 10……基準ローラ、12……測定ローラ、14……揺動アー
ム、18……引張バネ、19……ストッパ、20……光セン
サ、20a……受光部、21……投光器、B……光ビーム、
C……磁気カード、OR……光反射面。
定装置の概略を示す正面図、第2図は第1図のII−II線
矢視図、第3図は第1図の測定装置の動作を説明する
図、第4図は従来の技術を説明する図である。 10……基準ローラ、12……測定ローラ、14……揺動アー
ム、18……引張バネ、19……ストッパ、20……光セン
サ、20a……受光部、21……投光器、B……光ビーム、
C……磁気カード、OR……光反射面。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中根 幸保 東京都台東区台東1丁目5番1号 凸版印 刷株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−142201(JP,A) 実開 昭55−165208(JP,U)
Claims (1)
- 【請求項1】記録媒体カードの厚み、幅または長さ等の
所望寸法を測定する記録媒体カード寸法測定装置であっ
て、 固定的に設けられた第1のローラと、 該第1のローラに対し前記所望寸法の方向に対向して設
けられ、所定の移送路に沿って移送されてくる記録媒体
カードを、前記第1のローラとの間において、前記所望
寸法の方向に挾んだ状態に導入できるようになった第2
のローラと、 前記第2のローラを支持しており、両前記ローラ間に前
記記録媒体カードを挾んだ状態に導入するため前記第2
のローラが前記カードの実際寸法に従って変位できるよ
うに回動可能なローラ支持体と、 前記第1および第2のローラ間に記録媒体カードが存在
していないときにおいて、前記支持体を、前記第2のロ
ーラが、予め、記録媒体カードの前記所望寸法の予測値
よりわずかに小さい所定の距離だけ前記第1のローラか
ら離隔するような初期位置に維持する係止手段と、 前記支持体における所定の光反射面に対して一定方向に
光ビームを投射する投光手段と、 該投光手段によって投射され前記光反射面から反射して
くる光ビームを受光する受光部を有し、該受光部におい
て前記支持体が前記初期位置にあるときに前記ビームを
受光する位置が基準受光位置として設定されており、記
録媒体カードが両前記ローラ間に導入される際、前記第
2のローラの変位に伴ない前記ローラ支持体が回動し前
記光反射面が前記受光部に対して角度変位することによ
り、前記受光部における光ビームの受光位置の前記基準
受光位置からの変化を検出する光検出手段と、 前記受光部においてその受光位置が変化した量を求め、
該変化した量に基づいて前記所望寸法の測定値を算出す
る算出手段と を具備した、記録媒体カード寸法測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11676590A JPH0735965B2 (ja) | 1990-05-08 | 1990-05-08 | 記録媒体カード寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11676590A JPH0735965B2 (ja) | 1990-05-08 | 1990-05-08 | 記録媒体カード寸法測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0413909A JPH0413909A (ja) | 1992-01-17 |
| JPH0735965B2 true JPH0735965B2 (ja) | 1995-04-19 |
Family
ID=14695180
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11676590A Expired - Fee Related JPH0735965B2 (ja) | 1990-05-08 | 1990-05-08 | 記録媒体カード寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0735965B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114589471B (zh) * | 2022-02-22 | 2024-02-13 | 浙江传承动力制造有限公司 | 一种汽车变速箱高耐磨传动齿轮的制造方法及其生产设备 |
-
1990
- 1990-05-08 JP JP11676590A patent/JPH0735965B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0413909A (ja) | 1992-01-17 |
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