JPH0738268B2 - デ−タ記録方法 - Google Patents
デ−タ記録方法Info
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- JPH0738268B2 JPH0738268B2 JP61180641A JP18064186A JPH0738268B2 JP H0738268 B2 JPH0738268 B2 JP H0738268B2 JP 61180641 A JP61180641 A JP 61180641A JP 18064186 A JP18064186 A JP 18064186A JP H0738268 B2 JPH0738268 B2 JP H0738268B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
- G11B2020/183—Testing wherein at least one additional attempt is made to read or write the data when a first attempt is unsuccessful
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気テープ装置等におけるデータ記録におい
て、記録データを読み取つてチエツクし、エラーが生じ
ている場合には再書き込みを行うデータ記録方法に関す
るものである。
て、記録データを読み取つてチエツクし、エラーが生じ
ている場合には再書き込みを行うデータ記録方法に関す
るものである。
記録ギヤツプと再生ギヤツプとを有するデユアルギヤツ
プヘツドを使用してデータを記録しながら再生（リード
アフタライト）してデータエラーをチエツクし、エラー
が生じた時には再書き込みを行う方式は公知である。こ
の種の書き込み方法は、記録再生兼用ヘツドを使用して
行うこともできる。従来の上記エラー検出は、ヘツドか
ら得られるアナログ出力がしきい値（スレツシホール
ド）以上か否かを判定すること、又はCRCチエツク等に
よつて行われている。
プヘツドを使用してデータを記録しながら再生（リード
アフタライト）してデータエラーをチエツクし、エラー
が生じた時には再書き込みを行う方式は公知である。こ
の種の書き込み方法は、記録再生兼用ヘツドを使用して
行うこともできる。従来の上記エラー検出は、ヘツドか
ら得られるアナログ出力がしきい値（スレツシホール
ド）以上か否かを判定すること、又はCRCチエツク等に
よつて行われている。
ところで、テープの瞬時速度変動（ISV）、再生波形の
ピークシフト等を十分に管理すれば、記録時及び再生時
における時間軸エラーは極めて小さくなるが、磁気テー
プ装置のコストが必然的に高くなる。また、記録密度を
高めるに従つて時間幅の変動が問題になる。従来の記録
方法においては、サンプリングパルスとデータとの間の
時間余裕（タイムマージン）のチエツクを行つていない
ために、時間余裕が小さくても書き込みが正常に行われ
たと見なして再書き込みは行わない。例えば、第４図
（Ａ）に示す読み取りデータを第４図（Ｂ）に示すサン
プリングパルスによつてサンプリングして出力する時
に、従来方法では、第４図（Ｂ）のサンプリングパルス
に対して第４図（Ａ）の読み取りデータが実線の位置の
場合であつても、点線の位置の場合であつても、正常な
記録とみなされた。もし、リードアフタライト時のサン
プリングパルスとデータとの時間軸関係と再生モードに
おけるデータ読み取り時におけるそれ等の関係とが一致
すれば、点線の場合であつても正常な読み取りが可能で
あるが、一致するとは限らない。再生モードにおいて例
えばテープの瞬時速度変動が大きくなり、第４図（Ａ）
の読み取りデータが点線の位置よりも更に右に移動する
と、データの読み取りが不可能になる。
ピークシフト等を十分に管理すれば、記録時及び再生時
における時間軸エラーは極めて小さくなるが、磁気テー
プ装置のコストが必然的に高くなる。また、記録密度を
高めるに従つて時間幅の変動が問題になる。従来の記録
方法においては、サンプリングパルスとデータとの間の
時間余裕（タイムマージン）のチエツクを行つていない
ために、時間余裕が小さくても書き込みが正常に行われ
たと見なして再書き込みは行わない。例えば、第４図
（Ａ）に示す読み取りデータを第４図（Ｂ）に示すサン
プリングパルスによつてサンプリングして出力する時
に、従来方法では、第４図（Ｂ）のサンプリングパルス
に対して第４図（Ａ）の読み取りデータが実線の位置の
場合であつても、点線の位置の場合であつても、正常な
記録とみなされた。もし、リードアフタライト時のサン
プリングパルスとデータとの時間軸関係と再生モードに
おけるデータ読み取り時におけるそれ等の関係とが一致
すれば、点線の場合であつても正常な読み取りが可能で
あるが、一致するとは限らない。再生モードにおいて例
えばテープの瞬時速度変動が大きくなり、第４図（Ａ）
の読み取りデータが点線の位置よりも更に右に移動する
と、データの読み取りが不可能になる。
この種の問題を解決するために、データの書き込みと同
時に読み取りを行う場合に、再生情報パルス又はクロッ
クパルスの幅を切り換えてエラーを検出することが特開
昭53−70415号公報に開示されている。しかし、パルス
の幅を切り換えるための手段を設けることが必要にな
り、装置が必然的にコスト高になる。
時に読み取りを行う場合に、再生情報パルス又はクロッ
クパルスの幅を切り換えてエラーを検出することが特開
昭53−70415号公報に開示されている。しかし、パルス
の幅を切り換えるための手段を設けることが必要にな
り、装置が必然的にコスト高になる。
そこで、本発明の目的は、再生不可能な状態の発生を防
ぐことができる高精度な記録を容易に行うことができる
データ記録方法を提供することにある。
ぐことができる高精度な記録を容易に行うことができる
データ記録方法を提供することにある。
［問題を解決するための手段］ 上記目的を達成するための本発明は、記録媒体にデータ
を書き込むステップと、前記データを読み取るステップ
と、前記読み取るステップで得られた読み取りデータを
サンプリングするためのサンプリングパルスと前記読み
取りデータを示すパルスの前縁との時間間隔から成る前
側時間余裕を測定すると共に、前記サンプリングパルス
と前記読み取りデータを示すパルスの後縁との時間間隔
から成る後側時間余裕を測定するステップと、前記前側
時間余裕及び前記後側時間余裕と再生モードにおいて生
じる可能性のある時間軸変動幅を示す単一又は前側及び
後側のための２つの所定値とをそれぞれ比較し、前記前
側時間余裕及び前記後側時間余裕が前記所定値以上か未
満かを判定するステップと、前記前側時間余裕又は前記
後側時間余裕が前記所定値未満であると判定された時
に、このデータをエラーとみなして前記記録媒体に再書
き込みするステップとから成るデータ記録方法に係わる
ものである。
を書き込むステップと、前記データを読み取るステップ
と、前記読み取るステップで得られた読み取りデータを
サンプリングするためのサンプリングパルスと前記読み
取りデータを示すパルスの前縁との時間間隔から成る前
側時間余裕を測定すると共に、前記サンプリングパルス
と前記読み取りデータを示すパルスの後縁との時間間隔
から成る後側時間余裕を測定するステップと、前記前側
時間余裕及び前記後側時間余裕と再生モードにおいて生
じる可能性のある時間軸変動幅を示す単一又は前側及び
後側のための２つの所定値とをそれぞれ比較し、前記前
側時間余裕及び前記後側時間余裕が前記所定値以上か未
満かを判定するステップと、前記前側時間余裕又は前記
後側時間余裕が前記所定値未満であると判定された時
に、このデータをエラーとみなして前記記録媒体に再書
き込みするステップとから成るデータ記録方法に係わる
ものである。
データの記録時に瞬時速度変動等によつて記録波形の時
間軸のずれが生じる。チエツクのために読み取られたデ
ータはサンプリングされる。サンプリングパルスの発生
期間中にデータが発生すれば、正常なデータの読み取り
が可能である。本発明では、たとえサンプリングパルス
が正常なサンプリングを行うことが可能な時点で発生し
ても、直ちに書き込み完了とせず、サンプリングパルス
とデータとの間の時間余裕を判定する。この時間余裕が
所定値未満であると、たとえ正常なサンプリングが可能
であつてもエラーとみなしてデータの再書き込みを行
う。この時間余裕が所定値を再生モードにおいて生じる
可能性のある時間軸変動幅以上に決定しておけば、再生
モードにおいて記録データを読み取ることが不可能にな
るという事態が生じない。
間軸のずれが生じる。チエツクのために読み取られたデ
ータはサンプリングされる。サンプリングパルスの発生
期間中にデータが発生すれば、正常なデータの読み取り
が可能である。本発明では、たとえサンプリングパルス
が正常なサンプリングを行うことが可能な時点で発生し
ても、直ちに書き込み完了とせず、サンプリングパルス
とデータとの間の時間余裕を判定する。この時間余裕が
所定値未満であると、たとえ正常なサンプリングが可能
であつてもエラーとみなしてデータの再書き込みを行
う。この時間余裕が所定値を再生モードにおいて生じる
可能性のある時間軸変動幅以上に決定しておけば、再生
モードにおいて記録データを読み取ることが不可能にな
るという事態が生じない。
次に、第１図〜第３図によつて本発明の実施例に係わる
データ記録再生方法を説明する。第１図は一般にカセツ
トマトリーマと呼ばれているカセツト型磁気記録再生装
置の一部を示す。記録媒体としての磁気テープ（１）に
は記録（ライト）ヘツド（２）と再生（リード）ヘツド
（３）とが一体化された複合磁気ヘツド（４）が接触し
ている。記録ヘツド（２）には記録（ライト）回路
（５）が接続され、再生ヘツド（３）には再生（リー
ド）回路が接続されている。記録回路（５）は、バツフ
アメモリ、CRC付加回路、NRZI（Nonreturn to Zero Inv
erted）信号形成回路等を含んでいる。
データ記録再生方法を説明する。第１図は一般にカセツ
トマトリーマと呼ばれているカセツト型磁気記録再生装
置の一部を示す。記録媒体としての磁気テープ（１）に
は記録（ライト）ヘツド（２）と再生（リード）ヘツド
（３）とが一体化された複合磁気ヘツド（４）が接触し
ている。記録ヘツド（２）には記録（ライト）回路
（５）が接続され、再生ヘツド（３）には再生（リー
ド）回路が接続されている。記録回路（５）は、バツフ
アメモリ、CRC付加回路、NRZI（Nonreturn to Zero Inv
erted）信号形成回路等を含んでいる。
再生側においては、再生ヘツド（３）がヘツド増幅器
（６）を介して復調回路（７）に接続されている。復調
回路（７）はピーク検出回路等を含んで二値形式のリー
ドデータ（RD）を得る回路である。この例ではNRZI方式
で記録されているので、復調回路からもこの方式のリー
ドデータが出力される。
（６）を介して復調回路（７）に接続されている。復調
回路（７）はピーク検出回路等を含んで二値形式のリー
ドデータ（RD）を得る回路である。この例ではNRZI方式
で記録されているので、復調回路からもこの方式のリー
ドデータが出力される。
復調回路（７）に接続されたデータサンプリング回路
（８）は、リードデータ（RD）をサンプリングしてサン
プルデータ（SD）を得るものである。
（８）は、リードデータ（RD）をサンプリングしてサン
プルデータ（SD）を得るものである。
同期発振回路（９）では、リードデータ（RD）に同期し
たサンプリングパルス（クロツクパルス）を作り、これ
をライン（10）でサンプリング回路（８）に与えると共
に、本発明に従うタイムマージン測定のための時間信号
（クロツク）をタイムマージン（時間余裕）測定回路
（11）に送るものである。
たサンプリングパルス（クロツクパルス）を作り、これ
をライン（10）でサンプリング回路（８）に与えると共
に、本発明に従うタイムマージン測定のための時間信号
（クロツク）をタイムマージン（時間余裕）測定回路
（11）に送るものである。
タイムマージン測定回路（11）には、同期発振回路
（９）の他に、復調回路（７）及びデータサンプリング
回路（８）が接続され、これ等から得られる信号に基づ
いてサンプリングパルスとデータパルスの前縁との間の
余裕（マージン）及びサンプリングパルスとデータパル
スの後縁との間の余裕（マージン）を測定するように構
成されている。
（９）の他に、復調回路（７）及びデータサンプリング
回路（８）が接続され、これ等から得られる信号に基づ
いてサンプリングパルスとデータパルスの前縁との間の
余裕（マージン）及びサンプリングパルスとデータパル
スの後縁との間の余裕（マージン）を測定するように構
成されている。
２本のライン（12）（13）によつてタイムマージン測定
回路（11）に接続されているタイムマージン判定回路
（14）は、ライン（12）に得られる前側のタイムマージ
ンMEとライン（13）に得られる後側のタイムマージンML
とのいずれもが所定値以上か又は未満かを判定し、未満
の場合にはライン（15）に時間軸エラーを示す信号を出
力する。
回路（11）に接続されているタイムマージン判定回路
（14）は、ライン（12）に得られる前側のタイムマージ
ンMEとライン（13）に得られる後側のタイムマージンML
とのいずれもが所定値以上か又は未満かを判定し、未満
の場合にはライン（15）に時間軸エラーを示す信号を出
力する。
ヘツド増幅器（６）に接続されたリード電圧判定回路
（16）は電圧比較器から成り、スレツシホールド電圧
（しきい値）とリード電圧とを比較し、リード電圧がス
レツシホールド電圧よりも低い時にはライン（17）に電
圧軸エラー信号を出力する。ライン（15）（17）はORゲ
ート（18）を介してCPU又はホスト側装置から成る制御
装置（19）に接続されている。制御装置（19）にはCRC
チエツク回路（19a）も接続されているので、時間軸エ
ラーと電圧軸エラーとCRCチエツクによるエラーとのい
ずれが検出されても、再書き込み指示信号が発生し、記
録回路（５）は同一データ又はデータ群の再書き込みを
実行する。
（16）は電圧比較器から成り、スレツシホールド電圧
（しきい値）とリード電圧とを比較し、リード電圧がス
レツシホールド電圧よりも低い時にはライン（17）に電
圧軸エラー信号を出力する。ライン（15）（17）はORゲ
ート（18）を介してCPU又はホスト側装置から成る制御
装置（19）に接続されている。制御装置（19）にはCRC
チエツク回路（19a）も接続されているので、時間軸エ
ラーと電圧軸エラーとCRCチエツクによるエラーとのい
ずれが検出されても、再書き込み指示信号が発生し、記
録回路（５）は同一データ又はデータ群の再書き込みを
実行する。
第２図は第１図の同期発振回路（９）、タイムマージン
測定回路（11）、及びタイムマージン判定回路（14）を
詳しく示す。同期信号発振回路（９）は、2n＋１相のパ
ルス発生回路であり、サンプリングパルスを発生する出
力端子DSPの他に、サンプリングパルスを中心に時間差
を有して前後ｎ個のパルスを発生する前側出力端子EP1
〜EPnと後側出力端子LP1〜LPnとを有する。タイムマー
ジン測定回路（11）は、前側と後側のタイムマージン測
定回路（20）（21）から成り、前側のタイムマージン測
定回路（20）には同期発振回路（９）の出力端子EP1〜E
Pnが接続され、後側のタイムマージン測定回路（21）に
は出力端子LP1〜LPnが接続されている。また、それぞれ
の測定回路（20）（21）には第１図に復調回路（７）の
リードデータ（RD）出力ラインとサンプリング回路
（８）とが接続されている。
測定回路（11）、及びタイムマージン判定回路（14）を
詳しく示す。同期信号発振回路（９）は、2n＋１相のパ
ルス発生回路であり、サンプリングパルスを発生する出
力端子DSPの他に、サンプリングパルスを中心に時間差
を有して前後ｎ個のパルスを発生する前側出力端子EP1
〜EPnと後側出力端子LP1〜LPnとを有する。タイムマー
ジン測定回路（11）は、前側と後側のタイムマージン測
定回路（20）（21）から成り、前側のタイムマージン測
定回路（20）には同期発振回路（９）の出力端子EP1〜E
Pnが接続され、後側のタイムマージン測定回路（21）に
は出力端子LP1〜LPnが接続されている。また、それぞれ
の測定回路（20）（21）には第１図に復調回路（７）の
リードデータ（RD）出力ラインとサンプリング回路
（８）とが接続されている。
タイムマージン判定回路（14）は、２つのデイジタル比
較器（22）（23）と、２つのタイミングマージン所定値
発生回路（24）（25）と、ANDゲート（26）とから成
る。前側タイムマージン用比較器（22）の一方の入力端
子は前側タイムマージン測定回路（20）に接続され、他
方の入力端子は前側タイムマージン所定値発生回路（2
4）に接続されている。後側タイムマージン用比較器（2
3）の一方の入力端子は後側タイムマージン測定回路（2
1）に接続され、他方の入力端子は後側タイムマージン
所定値発生回路（25）に接続されている。２つのデイジ
タル比較器（22）（23）の出力端子はANDゲート（26）
に接続されている。
較器（22）（23）と、２つのタイミングマージン所定値
発生回路（24）（25）と、ANDゲート（26）とから成
る。前側タイムマージン用比較器（22）の一方の入力端
子は前側タイムマージン測定回路（20）に接続され、他
方の入力端子は前側タイムマージン所定値発生回路（2
4）に接続されている。後側タイムマージン用比較器（2
3）の一方の入力端子は後側タイムマージン測定回路（2
1）に接続され、他方の入力端子は後側タイムマージン
所定値発生回路（25）に接続されている。２つのデイジ
タル比較器（22）（23）の出力端子はANDゲート（26）
に接続されている。
（動作） 次に、第２図の各部の状態を示す第３図を参照してタイ
ムマージンの測定及び判定を説明する。第３図でRDで示
すNRZI形式のリードデータが発生し、同期発振回路
（９）の出力端子からDSPで示すサンプリングパルスが
発生したとすれば、これがサンプリング回路（８）に送
られ、第３図でSDで示されるサンプルデータが得られ
る。サンプリングパルスの前側と後側とのタイムマージ
ン測定回路（20）（21）は、ここに入力するリードデー
タRDを、同期発振回路（９）の出力パルスEP1〜EPn、LP
1〜LPnでサンプリングする。EPnからDSP、及びDSPからL
Pnまでの時間幅は１ビツト幅の1/2よりもいくらか長く
決定されている。第３図においてリードデータRDが低レ
ベルから高レベルに転換する時点t1よりも前にEPnが発
生しているので、EPnによるサンプリング出力は“0"で
ある。しかし、t1よりも後で発生するパルスEP3、EP2、
EP1等によるサンプリング出力は“1"である。これ等の
サンプリング出力は、測定回路（20）に含まれているフ
リツプフロツプから成るメモリに書き込まれる。しかる
後、t2時点でDSPで示すサンプリングパルスが発生する
と、これによつてサンプリングされたサンプルデータSD
がサンプリング回路（８）から得られ、これが測定回路
（20）に送られる。測定回路（20）ではサンプルデータ
SDと同一値のものをタイムマージンデータとして測定す
る。即ち、第３図のt1〜t2ではリードデータ（RD）が高
レベルであるので、サンプリング出力“1"をタイムマー
ジンに関係を有するデータとして使用する。例えばEPn
…EP3、EP2、EP1によるサンプリング出力に対応させて
〔０…111〕をタイムマージンデータとして出力する。
ムマージンの測定及び判定を説明する。第３図でRDで示
すNRZI形式のリードデータが発生し、同期発振回路
（９）の出力端子からDSPで示すサンプリングパルスが
発生したとすれば、これがサンプリング回路（８）に送
られ、第３図でSDで示されるサンプルデータが得られ
る。サンプリングパルスの前側と後側とのタイムマージ
ン測定回路（20）（21）は、ここに入力するリードデー
タRDを、同期発振回路（９）の出力パルスEP1〜EPn、LP
1〜LPnでサンプリングする。EPnからDSP、及びDSPからL
Pnまでの時間幅は１ビツト幅の1/2よりもいくらか長く
決定されている。第３図においてリードデータRDが低レ
ベルから高レベルに転換する時点t1よりも前にEPnが発
生しているので、EPnによるサンプリング出力は“0"で
ある。しかし、t1よりも後で発生するパルスEP3、EP2、
EP1等によるサンプリング出力は“1"である。これ等の
サンプリング出力は、測定回路（20）に含まれているフ
リツプフロツプから成るメモリに書き込まれる。しかる
後、t2時点でDSPで示すサンプリングパルスが発生する
と、これによつてサンプリングされたサンプルデータSD
がサンプリング回路（８）から得られ、これが測定回路
（20）に送られる。測定回路（20）ではサンプルデータ
SDと同一値のものをタイムマージンデータとして測定す
る。即ち、第３図のt1〜t2ではリードデータ（RD）が高
レベルであるので、サンプリング出力“1"をタイムマー
ジンに関係を有するデータとして使用する。例えばEPn
…EP3、EP2、EP1によるサンプリング出力に対応させて
〔０…111〕をタイムマージンデータとして出力する。
タイムマージンの測定はDSPで示すサンプリングパルス
の周期で実施される。従つてt2〜t3区間においてもタイ
ムマージンの測定が行われる。t2〜t3の期間にはEP1〜E
Pn、LP1〜LPnの全サンプリング出力が“1"となるので、
十分なタイムマージンを示すデータが得られる。
の周期で実施される。従つてt2〜t3区間においてもタイ
ムマージンの測定が行われる。t2〜t3の期間にはEP1〜E
Pn、LP1〜LPnの全サンプリング出力が“1"となるので、
十分なタイムマージンを示すデータが得られる。
t3〜t5の区間においては、t3時点のDSPの後にLP1〜LPn
が順次に発生するので、後側のタイムマージン測定回路
（21）において、LP1〜LPnによりリードデータ（RD）が
サンプリングされ、これにより得られるサンプリング出
力がフリツプフロツプから成るメモリに書き込まれる。
後側のタイムマージン測定回路（21）においては、LP1
〜LPnよりも先行のDSPによるサンプルデータ（SD）に基
づいてタイムマージンを読み取る。即ちt3時点における
DSPによるサンプルデータ（SD）である“1"に基づき、
これと同一の“1"のサンプリング出力が得られる例えば
LP1、LP2、LP3におけるサンプリング出力“1"“1"“1"
をタイムマージンMLを示すデータとして出力する。
が順次に発生するので、後側のタイムマージン測定回路
（21）において、LP1〜LPnによりリードデータ（RD）が
サンプリングされ、これにより得られるサンプリング出
力がフリツプフロツプから成るメモリに書き込まれる。
後側のタイムマージン測定回路（21）においては、LP1
〜LPnよりも先行のDSPによるサンプルデータ（SD）に基
づいてタイムマージンを読み取る。即ちt3時点における
DSPによるサンプルデータ（SD）である“1"に基づき、
これと同一の“1"のサンプリング出力が得られる例えば
LP1、LP2、LP3におけるサンプリング出力“1"“1"“1"
をタイムマージンMLを示すデータとして出力する。
t3〜t5区間においては、前側タイムマージン測定回路
（20）にEPn〜EP1が入力している。従つて、これによる
リードデータ（RD）のサンプリング出力が得られる。こ
の場合は、EPnで“1"の出力が得られるが、EP3、EP2、E
P1等ではそれぞれ“0"の出力が得られる。t5におけるDS
Pによるサンプルデータ（SD）は“0"であるので、この
サンプルデータ（SD）と同じ内容“0"のサンプリング出
力を前後タイムマージンMEとして使用する。この様にDS
Pによるサンプルデータ（SD）が“0"の場合には、EP1〜
EPn、及びLP1〜EPnのデータの極性を反転することによ
つてタイムマージン測定データが得られる。例えばt5に
おいてEPn〜EP1に対応して〔１…000〕のサンプリング
出力が得られたとしたら、これを反転した〔０…111〕
をタイムマージンMEを示すデータとして出力する。
（20）にEPn〜EP1が入力している。従つて、これによる
リードデータ（RD）のサンプリング出力が得られる。こ
の場合は、EPnで“1"の出力が得られるが、EP3、EP2、E
P1等ではそれぞれ“0"の出力が得られる。t5におけるDS
Pによるサンプルデータ（SD）は“0"であるので、この
サンプルデータ（SD）と同じ内容“0"のサンプリング出
力を前後タイムマージンMEとして使用する。この様にDS
Pによるサンプルデータ（SD）が“0"の場合には、EP1〜
EPn、及びLP1〜EPnのデータの極性を反転することによ
つてタイムマージン測定データが得られる。例えばt5に
おいてEPn〜EP1に対応して〔１…000〕のサンプリング
出力が得られたとしたら、これを反転した〔０…111〕
をタイムマージンMEを示すデータとして出力する。
前側と後側のタイムマージン測定結果即ちME、MLデータ
はDSPの周期毎に判定回路（14）のデイジタル比較器（2
2）（23）に与えられる。
はDSPの周期毎に判定回路（14）のデイジタル比較器（2
2）（23）に与えられる。
各測定回路（20）（21）から得られたタイムマージン
ME、MLは、前側及び後側のタイムマージン所定値（基準
値）発生回路（24）（25）から送出される所定値TE、TL
（TE＝TLでもよい）とデイジタル比較器（22）（23）で
比較され、ME≧TE、ML≧TLの時は各比較器（22）（23）
からタイムマージンは十分であることを示す高レベル
“1"の出力が発生する。一方、比較器（22）（23）でME
＜TE、ML＜TLで判定されると、エラーを示す低レベル出
力が得られる。比較器（22）（23）の出力はANDゲート
（26）に入力しているので、いずれか一方がエラーであ
つても、ANDゲート（26）の出力が低レベルとなり、時
間軸エラーを示す信号が出力される。時間軸エラーを示
す信号が発生すると、同じデータ又はデータ群を先の記
録領域の後にもう一度書き込む。再書き込みしたもの
も、上述と同様にタイムマージンのチエツクを行い、再
び時間軸エラーが検出されたら、再び再書き込みを行
う。要するに十分なタイムマージンが得られるまで、同
一のデータ又はデータ群の書き込みを続ける。
ME、MLは、前側及び後側のタイムマージン所定値（基準
値）発生回路（24）（25）から送出される所定値TE、TL
（TE＝TLでもよい）とデイジタル比較器（22）（23）で
比較され、ME≧TE、ML≧TLの時は各比較器（22）（23）
からタイムマージンは十分であることを示す高レベル
“1"の出力が発生する。一方、比較器（22）（23）でME
＜TE、ML＜TLで判定されると、エラーを示す低レベル出
力が得られる。比較器（22）（23）の出力はANDゲート
（26）に入力しているので、いずれか一方がエラーであ
つても、ANDゲート（26）の出力が低レベルとなり、時
間軸エラーを示す信号が出力される。時間軸エラーを示
す信号が発生すると、同じデータ又はデータ群を先の記
録領域の後にもう一度書き込む。再書き込みしたもの
も、上述と同様にタイムマージンのチエツクを行い、再
び時間軸エラーが検出されたら、再び再書き込みを行
う。要するに十分なタイムマージンが得られるまで、同
一のデータ又はデータ群の書き込みを続ける。
再生モードにおいては、再書き込みが行われている場合
であつても、第１回目の書き込みに係わるデータ又はデ
ータ群を読み出す。この読み出し時には、時間軸エラー
のチエツクは行わない。第１回目の書き込みに係わるデ
ータであつても、CRCチエツク等でエラーが発生しなけ
れば有効データとして出力し、再書き込みに係わるデー
タの読み出しは行わない。しかし、再生時に瞬時速度変
動が生じ、タイムマージンの少ない第１回目の書き込み
に係わるデータを正確に読み取ることができない場合
は、CRCチエツクでエラーが検出されるので、再書き込
みに係わるデータを読み取る。正常に再書き込みされた
データは十分なタイムマージンを有しているので、読み
取り不可能になる確率は少ない。
であつても、第１回目の書き込みに係わるデータ又はデ
ータ群を読み出す。この読み出し時には、時間軸エラー
のチエツクは行わない。第１回目の書き込みに係わるデ
ータであつても、CRCチエツク等でエラーが発生しなけ
れば有効データとして出力し、再書き込みに係わるデー
タの読み出しは行わない。しかし、再生時に瞬時速度変
動が生じ、タイムマージンの少ない第１回目の書き込み
に係わるデータを正確に読み取ることができない場合
は、CRCチエツクでエラーが検出されるので、再書き込
みに係わるデータを読み取る。正常に再書き込みされた
データは十分なタイムマージンを有しているので、読み
取り不可能になる確率は少ない。
本発明は上述の実施例に限定されるものでなく、例えば
次の変形例が可能なものである。
次の変形例が可能なものである。
（１）PE（Phase Encoding）方式でデータを記録再生す
る場合、又はその他の種々の方式で記録再生する場合に
も適用可能である。
る場合、又はその他の種々の方式で記録再生する場合に
も適用可能である。
（２）実施例では再書き込みを行う場合に、元の書き込
みをそのまま残しているが、元の書き込みを消去し、こ
こに再書き込みをしてもよい。また再書き込みをした時
には、元の書き込みにエラーを示す信号を付加してもよ
い。
みをそのまま残しているが、元の書き込みを消去し、こ
こに再書き込みをしてもよい。また再書き込みをした時
には、元の書き込みにエラーを示す信号を付加してもよ
い。
本発明によれば、読み取りデータを示すパルスとサンプ
リングパルスとの時間間隔の測定に基いて後の再生時に
おいてエラーの発生する可能性を判断し、可能性のある
時にはデータの再書き込みを行うので、データパルス又
はクロックパルスの幅を変更するという従来の複雑な制
御を伴なわずに、容易に高精度な書き込みを実行するこ
とができる。
リングパルスとの時間間隔の測定に基いて後の再生時に
おいてエラーの発生する可能性を判断し、可能性のある
時にはデータの再書き込みを行うので、データパルス又
はクロックパルスの幅を変更するという従来の複雑な制
御を伴なわずに、容易に高精度な書き込みを実行するこ
とができる。
第１図は本発明の実施例に係わる磁気テープ装置の一部
を示すブロツク図、 第２図は第１図の一部を詳しく示すブロツク図、 第３図は第２図の各部の状態を示す電圧波形図、 第４図はサンプリングパルスとデータとの関係を示す波
形図である。 （２）…記録ヘツド、（３）…再生ヘツド、（８）…デ
ータサンプリング回路、（９）…同期発振回路、（11）
…タイムマージン測定回路、（14）タイムマージン判定
回路。
を示すブロツク図、 第２図は第１図の一部を詳しく示すブロツク図、 第３図は第２図の各部の状態を示す電圧波形図、 第４図はサンプリングパルスとデータとの関係を示す波
形図である。 （２）…記録ヘツド、（３）…再生ヘツド、（８）…デ
ータサンプリング回路、（９）…同期発振回路、（11）
…タイムマージン測定回路、（14）タイムマージン判定
回路。
Claims (1)
- 【請求項１】記録媒体にデータを書き込むステップと、 前記データを読み取るステップと、 前記読み取るステップで得られた読み取りデータをサン
プリングするためのサンプリングパルスと前記読み取り
データを示すパルスの前縁との時間間隔から成る前側時
間余裕を測定すると共に、前記サンプリングパルスと前
記読み取りデータを示すパルスの後縁との時間間隔から
成る後側時間余裕を測定するステップと、 前記前側時間余裕及び前記後側時間余裕と再生モードに
おいて生じる可能性のある時間軸変動幅を示す単一又は
前側及び後側のための２つの所定値とをそれぞれ比較
し、前記前側時間余裕及び前記後側時間余裕が前記所定
値以上か未満かを判定するステップと、 前記前側時間余裕又は前記後側時間余裕が前記所定値未
満であると判定された時に、このデータをエラーとみな
して前記記録媒体に再書き込みするステップと から成るデータ記録方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61180641A JPH0738268B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | デ−タ記録方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61180641A JPH0738268B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | デ−タ記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6337869A JPS6337869A (ja) | 1988-02-18 |
| JPH0738268B2 true JPH0738268B2 (ja) | 1995-04-26 |
Family
ID=16086744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61180641A Expired - Fee Related JPH0738268B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | デ−タ記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0738268B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10132412B2 (en) | 2016-08-05 | 2018-11-20 | Exxonmobil Upstream Research Company | Device and method for controlling rotating equipment seal without buffer support equipment |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5370415A (en) * | 1976-12-03 | 1978-06-22 | Nec Corp | Synchronizing circuit for magnetic memory |
| JPS59116937A (ja) * | 1983-11-18 | 1984-07-06 | Hitachi Ltd | 光学的デ−タ記録再生装置 |
-
1986
- 1986-07-31 JP JP61180641A patent/JPH0738268B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6337869A (ja) | 1988-02-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |