JPH0738586B2 - テスト回路 - Google Patents
テスト回路Info
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- JPH0738586B2 JPH0738586B2 JP2580587A JP2580587A JPH0738586B2 JP H0738586 B2 JPH0738586 B2 JP H0738586B2 JP 2580587 A JP2580587 A JP 2580587A JP 2580587 A JP2580587 A JP 2580587A JP H0738586 B2 JPH0738586 B2 JP H0738586B2
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 26
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003623 enhancer Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路に関し、特にデジタル・アナロ
グ変換器のテスト回路に関する。
グ変換器のテスト回路に関する。
従来デジタル・アナログ変換器（以下D/A変換器と略
す）のテストはD/A変換器の出力端子電圧を直接測定す
ることによって行っていた。
す）のテストはD/A変換器の出力端子電圧を直接測定す
ることによって行っていた。
上述した従来のテスト方法では、D/A変換器の出力端子
を直接測定するため、D/A変換器に入力するデジタル信
号のすべてのパターンに対し、出力端子電圧を測定する
ことによりD/A変換器の動作の完全なテストが行える反
面、集積回路の１チップ内にD/A変換器とこれにより制
御される被制御回路を集積した場合、D/A変換器の動作
のテストを行うためにはD/A変換器の出力端子をテスト
用の端子として集積回路のピンに出さなければならな
い。特に１チップ内に多数のD/A変換器とその被制御回
路を集積した場合には、D/A変換器の数だけピン数を増
やさなければならなくなり、集積回路のピン数が増える
という欠点がある。
を直接測定するため、D/A変換器に入力するデジタル信
号のすべてのパターンに対し、出力端子電圧を測定する
ことによりD/A変換器の動作の完全なテストが行える反
面、集積回路の１チップ内にD/A変換器とこれにより制
御される被制御回路を集積した場合、D/A変換器の動作
のテストを行うためにはD/A変換器の出力端子をテスト
用の端子として集積回路のピンに出さなければならな
い。特に１チップ内に多数のD/A変換器とその被制御回
路を集積した場合には、D/A変換器の数だけピン数を増
やさなければならなくなり、集積回路のピン数が増える
という欠点がある。
本発明のテスト回路は、Ｒ−2Rはしご型D/A変換器のよ
うなデジタル入力信号のパターンに応じて、電流源を切
り換えることによりD/A変換を行う回路構成のD/A変換器
をその被制御回路を１チップ内に多数集積した場合で
も、テスト用の端子１ピンでD/A変換器とそのD/A変換器
の入力信号を与えるコントロール回路の故障を検出でき
るという特徴を持っている。
うなデジタル入力信号のパターンに応じて、電流源を切
り換えることによりD/A変換を行う回路構成のD/A変換器
をその被制御回路を１チップ内に多数集積した場合で
も、テスト用の端子１ピンでD/A変換器とそのD/A変換器
の入力信号を与えるコントロール回路の故障を検出でき
るという特徴を持っている。
本発明の目的はテスト用のピン１つで、集積回路内の多
数のD/A変換器と、そのD/A変換器の入力信号を与えるコ
ントロール回路の故障を検出できる簡単なテスト回路を
提供することにある。
数のD/A変換器と、そのD/A変換器の入力信号を与えるコ
ントロール回路の故障を検出できる簡単なテスト回路を
提供することにある。
本発明のテスト回路は、D/A変換器のバイアス供給源の
電流変化を検出する手段を有し、この電流変化によりD/
A変換器とそのD/A変換器の入力信号を与えるコントロー
ル回路の故障を検出するものである。
電流変化を検出する手段を有し、この電流変化によりD/
A変換器とそのD/A変換器の入力信号を与えるコントロー
ル回路の故障を検出するものである。
次に本発明について図面を参照して説明する。本発明の
実施例の１つを第１図に示す。本実施例の構成は次のよ
うになっている。
実施例の１つを第１図に示す。本実施例の構成は次のよ
うになっている。
バイアスラインV6にD/A変換器２と８が並列に接続され
ている。D/A変換器２と８にはそれぞれに入力信号を与
えるコントロール回路4,10と、それぞれのD/A変換器の
出力電圧で制御される被制御回路3,9が接続されてい
る。D/A変換器２と８にバイアスを与えるバイアス供給
源１は、電源６を、トランジスタQ1を介してポルテージ
フォロワ回路を構成する増振器７と、電流源11で構成さ
れる。トランジスタQ1のコレクタはテスト端子Ｔに接続
されている。本実施例は同一のバイアスラインに並列に
接続されたD/A変換器とそのコントロール回路の故障を
テスト用の端子１ピンで検出できる例である。
ている。D/A変換器２と８にはそれぞれに入力信号を与
えるコントロール回路4,10と、それぞれのD/A変換器の
出力電圧で制御される被制御回路3,9が接続されてい
る。D/A変換器２と８にバイアスを与えるバイアス供給
源１は、電源６を、トランジスタQ1を介してポルテージ
フォロワ回路を構成する増振器７と、電流源11で構成さ
れる。トランジスタQ1のコレクタはテスト端子Ｔに接続
されている。本実施例は同一のバイアスラインに並列に
接続されたD/A変換器とそのコントロール回路の故障を
テスト用の端子１ピンで検出できる例である。
次に本実施例の動作を説明する。D/A変換器２と８はと
もにＲ−2Rはしご型のD/A変換器であり、同様の動作を
するのでD/A変換器８をとってその動作を説明する。ス
イッチS4,S5,S6はそれぞれD/A変換器８の入力信号D4,
D5,D6が１（ハイレベル）の時ONになり、０（ロウレベ
ル）の時OFFになるものとする。
もにＲ−2Rはしご型のD/A変換器であり、同様の動作を
するのでD/A変換器８をとってその動作を説明する。ス
イッチS4,S5,S6はそれぞれD/A変換器８の入力信号D4,
D5,D6が１（ハイレベル）の時ONになり、０（ロウレベ
ル）の時OFFになるものとする。
抵抗R8〜R12と電流源I4〜I6には次の関係がある。
R8＝R9＝R11＝Ｒ R10＝R12＝2R I4＝I5＝I6＝Ｉ 電流源I4により出力端子V02に生じる電圧降下を△V
02（D4）とすると 同様に電流源I5,I6により出力端子V02に生じる電圧降下
を△V02（D5），△V02（D6）とすると ただし、ＲＲ′はＲとＲ′の並列インピーダンスを表
わすものとする。
02（D4）とすると 同様に電流源I5,I6により出力端子V02に生じる電圧降下
を△V02（D5），△V02（D6）とすると ただし、ＲＲ′はＲとＲ′の並列インピーダンスを表
わすものとする。
これより出力電圧V02は以下のようになる。
これよりV02はD6を最上位ビットとする入力信号（D4,D5
D6）のD/A変換出力であることがわかる。D/A変換器２の
出力V01も同様に次のようになる。
D6）のD/A変換出力であることがわかる。D/A変換器２の
出力V01も同様に次のようになる。
ただし、R1＝R2＝R4＝R6＝Ｒ′,R3＝R5＝R7＝2R′,I0＝
I1＝I2＝I3＝Ｉ′ バイアスラインV6の電位は増振器7,トランジスタQ1がボ
ルテージフォロワ回路をなしているので、増振器７の＋
側の入力に与えられる電源６の電位と等しくなる。電流
源11はD/A変換器2,8のスイッチS0〜S6がすべてOFFにな
ってもトランジスタQ1をONしておくために必要な定電流
源である。
I1＝I2＝I3＝Ｉ′ バイアスラインV6の電位は増振器7,トランジスタQ1がボ
ルテージフォロワ回路をなしているので、増振器７の＋
側の入力に与えられる電源６の電位と等しくなる。電流
源11はD/A変換器2,8のスイッチS0〜S6がすべてOFFにな
ってもトランジスタQ1をONしておくために必要な定電流
源である。
２つのD/A変換器2,8と、その入力信号を与えるコントロ
ール回路4,10の故障の検出はたとえば次のようにして行
う。まずコントロール回路10を制御して、D/A変換器８
の入力信号（D4,D5,D6）が（0,0,0）となるようにし
て、D/A変換器８のスイッチS4〜S6をOFFにする。この時
バイアスラインV6からD/A変換器８に流入する電流I8は
０になるはずである。そしてD/A変換器２の入力信号（D
0,D1,D2,D3）を（0,0,0,0）から（1,1,1,1）まで順に変
化させる。もしコントロール回路４とD/A変換器２に故
障がなければ、（D0,D1,D2,D3）の１つの個数に応じて
バイアスラインV6からD/A変換器２に電流が流れる。す
なわちV6からD/A変換器への流入電流I2とすればI2は次
のようになる。
ール回路4,10の故障の検出はたとえば次のようにして行
う。まずコントロール回路10を制御して、D/A変換器８
の入力信号（D4,D5,D6）が（0,0,0）となるようにし
て、D/A変換器８のスイッチS4〜S6をOFFにする。この時
バイアスラインV6からD/A変換器８に流入する電流I8は
０になるはずである。そしてD/A変換器２の入力信号（D
0,D1,D2,D3）を（0,0,0,0）から（1,1,1,1）まで順に変
化させる。もしコントロール回路４とD/A変換器２に故
障がなければ、（D0,D1,D2,D3）の１つの個数に応じて
バイアスラインV6からD/A変換器２に電流が流れる。す
なわちV6からD/A変換器への流入電流I2とすればI2は次
のようになる。
I2＝nI′ ……（１） ただし、ｎは（D0,D1,D2,D3）の１つの個数 もし設定した入力信号（D0,D1,D2,D3）のパターンに対
し、（１）式が満たされなければ、コントロール回路４
あるいはD/A変換器２に故障があると判断できる。
し、（１）式が満たされなければ、コントロール回路４
あるいはD/A変換器２に故障があると判断できる。
通常、増振器７の−側の入力インピーダンスは非常に高
く、トランジスタQ1のベース電流も無視することが可能
で、また電流源11は定電流なので、トランジスタQ1のコ
レクタ電流をIT、定電流源11の電流をi11とするとITは
次式のようになる。
く、トランジスタQ1のベース電流も無視することが可能
で、また電流源11は定電流なので、トランジスタQ1のコ
レクタ電流をIT、定電流源11の電流をi11とするとITは
次式のようになる。
IT＝I2＋i11＝nI′＋i11 したがって、ITの変化は入力信号（D0,D1,D2,D3）のパ
ターンの変化に対応する。
ターンの変化に対応する。
第１図のようにトランジスタQ1のコレクタをテスト用の
端子Ｔに接続し、電流計５を電源端子VCCに接続して、I
Tを測定するようにすれば入力信号（D0,D1,D2,D3）のパ
ターンに対応してITが変化しない場合にD/A変換器２、
あるいはそのコントロール回路４に故障があると判断で
きる。
端子Ｔに接続し、電流計５を電源端子VCCに接続して、I
Tを測定するようにすれば入力信号（D0,D1,D2,D3）のパ
ターンに対応してITが変化しない場合にD/A変換器２、
あるいはそのコントロール回路４に故障があると判断で
きる。
次にD/A変換器８とコントロール回路10の故障検出は入
力信号（D0,D1,D2,D3）を（0,0,0,0）にして、I2を０と
し、入力信号（D4,D5,D6）のパターンを変化させれば電
流計５でITの変化を検出することにより同様に行える。
以上同一のバイアスラインに２つのD/A変換器が接続さ
れた場合について説明したが、３つ以上のD/A変換器が
接続された場合についても同様に故障検出ができること
は明らかである。
力信号（D0,D1,D2,D3）を（0,0,0,0）にして、I2を０と
し、入力信号（D4,D5,D6）のパターンを変化させれば電
流計５でITの変化を検出することにより同様に行える。
以上同一のバイアスラインに２つのD/A変換器が接続さ
れた場合について説明したが、３つ以上のD/A変換器が
接続された場合についても同様に故障検出ができること
は明らかである。
第２図は本発明の第２の実施例である。本実施例はバイ
アスラインの異なるD/A変換器及びそのコントロール回
路の故障をテスト用の端子１ピンで検出するテスト回路
である。またD/A変換器の流入電流の変化を検出する手
段として第１図の電流計のかわりに抵抗と電圧計を用い
ている。
アスラインの異なるD/A変換器及びそのコントロール回
路の故障をテスト用の端子１ピンで検出するテスト回路
である。またD/A変換器の流入電流の変化を検出する手
段として第１図の電流計のかわりに抵抗と電圧計を用い
ている。
本実施例の構成は次のようになっている。バイアスライ
ンV6はD/A変換器２が接続されている。これは第１図と
同様にコントロール回路４と被制御回路３が接続されて
いる。バイアスラインV6には第１図と同様に多数のD/A
変換器が接続されていてもよい。これらのD/A変換器の
バイアス供給源16は第１図のバイアス供給源１と同じ構
成である。バイアスラインV6とは異なる電位のバイアス
ラインV16に接続されたD/A変換器13及びそのコントロー
ル回路15,被制御回路14がある。これらの構成は第１図
と同じである。第１図と同様にさらに多数をD/A変換器
が接続されていてもよい。これらのバイアス供給源20も
第１図のバイアス供給源１と同じ回路構成である。バイ
アスラインV6のバイアス供給源16のトランジスタQ1とバ
イアスラインV16のバイアス供給源20のトンランジスタQ
2のコレクタを接続して抵抗20とテスト用の端子Ｔに接
続する。抵抗R20の他端は電源端子VCCに接続する。
ンV6はD/A変換器２が接続されている。これは第１図と
同様にコントロール回路４と被制御回路３が接続されて
いる。バイアスラインV6には第１図と同様に多数のD/A
変換器が接続されていてもよい。これらのD/A変換器の
バイアス供給源16は第１図のバイアス供給源１と同じ構
成である。バイアスラインV6とは異なる電位のバイアス
ラインV16に接続されたD/A変換器13及びそのコントロー
ル回路15,被制御回路14がある。これらの構成は第１図
と同じである。第１図と同様にさらに多数をD/A変換器
が接続されていてもよい。これらのバイアス供給源20も
第１図のバイアス供給源１と同じ回路構成である。バイ
アスラインV6のバイアス供給源16のトランジスタQ1とバ
イアスラインV16のバイアス供給源20のトンランジスタQ
2のコレクタを接続して抵抗20とテスト用の端子Ｔに接
続する。抵抗R20の他端は電源端子VCCに接続する。
本実施例の故障検出はたとえば次のように行う。トラン
ジスタQ1,Q2のコレクタ電流をそれぞれIT1,IT2とする。
バイアスラインV6に接続されるD/A変換器２の流入電流
を入力信号（D0,D1,D2,D3）を（0,0,0,0）にすることに
より０にする。バイアスラインV6にさらにD/A変換器が
接続されている場合も同様に流入電流を０にする。する
とIT1は定電流源11による一定電流だけになる。そして
バイアスラインV16に接続されるD/A変換器を第１図の例
と同様に入力信号のパターンを変化させればIT2はその
入力信号のパターンに対応して変化する。抵抗R20にはI
T1とIT2の和の電流が流れるので、電源端子VCCとテスト
用端子Ｔの間の電圧の変化を電圧計19で測ればV16に接
続されるD/A変換器とコントロール回路の故障を検出で
きる。次にバイアスラインV16に接続されるD/A変換器の
流入電流を０にして、バイアスラインV6に接続されるD/
A変換器とコントロール回路の故障をバイアスラインV16
に接続されたD/A変換器とコントロール回路の故障検出
と同様に行う。また本実施例ではR20を集積回路に内蔵
すればテスト端子Ｔはテスト時以外は開放していてよい
という特徴がある。また第２図の例ではバイアスライン
の数は２本だが、３本以上の場合もバイアス供給源を第
１図と同じ構成にし、トランジスタのコレクタをテスト
用端子Ｔに接続すれば同様に故障検出ができる。
ジスタQ1,Q2のコレクタ電流をそれぞれIT1,IT2とする。
バイアスラインV6に接続されるD/A変換器２の流入電流
を入力信号（D0,D1,D2,D3）を（0,0,0,0）にすることに
より０にする。バイアスラインV6にさらにD/A変換器が
接続されている場合も同様に流入電流を０にする。する
とIT1は定電流源11による一定電流だけになる。そして
バイアスラインV16に接続されるD/A変換器を第１図の例
と同様に入力信号のパターンを変化させればIT2はその
入力信号のパターンに対応して変化する。抵抗R20にはI
T1とIT2の和の電流が流れるので、電源端子VCCとテスト
用端子Ｔの間の電圧の変化を電圧計19で測ればV16に接
続されるD/A変換器とコントロール回路の故障を検出で
きる。次にバイアスラインV16に接続されるD/A変換器の
流入電流を０にして、バイアスラインV6に接続されるD/
A変換器とコントロール回路の故障をバイアスラインV16
に接続されたD/A変換器とコントロール回路の故障検出
と同様に行う。また本実施例ではR20を集積回路に内蔵
すればテスト端子Ｔはテスト時以外は開放していてよい
という特徴がある。また第２図の例ではバイアスライン
の数は２本だが、３本以上の場合もバイアス供給源を第
１図と同じ構成にし、トランジスタのコレクタをテスト
用端子Ｔに接続すれば同様に故障検出ができる。
以上の例ではD/A変換器にＲ−2Rはしご型の回路を使っ
ているが、電流源をスイッチにより切り換えてD/A変換
をするD/A変換器で電流源の電流がバイアス供給回路か
ら供給される構成になっているD/A変換器ならばＲ−2R
はしご型に限らず本発明を適用できる。そのようなD/A
変換器の例としてはたとえば第３図に示すD/A変換器21
がある。22はコントロール回路及び23は被制御回路、V
21はバイアスラインである。電流源I11〜I14を次の関係
に選ぶ。
ているが、電流源をスイッチにより切り換えてD/A変換
をするD/A変換器で電流源の電流がバイアス供給回路か
ら供給される構成になっているD/A変換器ならばＲ−2R
はしご型に限らず本発明を適用できる。そのようなD/A
変換器の例としてはたとえば第３図に示すD/A変換器21
がある。22はコントロール回路及び23は被制御回路、V
21はバイアスラインである。電流源I11〜I14を次の関係
に選ぶ。
8I11＝4I12＝2I13＝I14＝Ｉ″ 入力信号D11〜D14が１のときスイッチS11〜S14がON、０
のときOFFとすればD/A変換器21の出力電圧V03は次のよ
うになる。
のときOFFとすればD/A変換器21の出力電圧V03は次のよ
うになる。
したがってD14を最上位ビットとする入力信号（D11,
D12,D13,D14）をD/A変換した値であることがわかる。
D12,D13,D14）をD/A変換した値であることがわかる。
以上説明したように本発明は、D/A変換器のバイアス供
給源の電流変化を検出することにより、テスト用の端子
を１ピン設けるだけで多数のD/A変換器の故障検出がで
きる効果がある。
給源の電流変化を検出することにより、テスト用の端子
を１ピン設けるだけで多数のD/A変換器の故障検出がで
きる効果がある。
第１図，第２図は本発明の実施例、第３図は本発明を適
用できるD/A変換器の例のブロック図である。 1,16,20……バイアス供給源、6,16,18……電源、2,8,1
3,21……D/A変換器、3,9,14,23……被制御回路、4,10,1
5,22……コントロール回路、５……電流計、19……電圧
計、7,17……増幅器、11,12……電流源、R1〜R21……抵
抗、I0〜I14……電流源、S0〜S14……スイッチ、D0〜D
14……入力信号、V01,V02,V03……出力端子、V6,V16,V
21……バイアスライン、Q1,Q2……トランジスタ、VCC…
…電源端子、Ｔ……テスト端子、I2,I8,I11,IT,IT1,IT2
……電流。
用できるD/A変換器の例のブロック図である。 1,16,20……バイアス供給源、6,16,18……電源、2,8,1
3,21……D/A変換器、3,9,14,23……被制御回路、4,10,1
5,22……コントロール回路、５……電流計、19……電圧
計、7,17……増幅器、11,12……電流源、R1〜R21……抵
抗、I0〜I14……電流源、S0〜S14……スイッチ、D0〜D
14……入力信号、V01,V02,V03……出力端子、V6,V16,V
21……バイアスライン、Q1,Q2……トランジスタ、VCC…
…電源端子、Ｔ……テスト端子、I2,I8,I11,IT,IT1,IT2
……電流。
Claims (1)
- 【請求項１】入力信号の各ビットの値に対応して複数の
電流源を選択的に切り換え、バイアスラインの電位から
前記入力信号に対応した電圧降下を発生させてデジタル
アナログ変換を行うデジタルアナログ変換器に用いるテ
スト回路において、テスト端子と、コレクタが前記テス
ト端子にエミッタが前記バイアスラインにそれぞれ接続
されたトランジスタを含み前記トランジスタのベース電
位を制御することにより前記バイアスラインの電位を一
定電位に保持するバイアス供給源とを備え、前記テスト
端子における電流変化の検出より前記デジタルアナログ
変換器の故障検出を行うようにしたことを特徴とするデ
ジタルアナログ変換器のテスト回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2580587A JPH0738586B2 (ja) | 1987-02-05 | 1987-02-05 | テスト回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2580587A JPH0738586B2 (ja) | 1987-02-05 | 1987-02-05 | テスト回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63193615A JPS63193615A (ja) | 1988-08-10 |
| JPH0738586B2 true JPH0738586B2 (ja) | 1995-04-26 |
Family
ID=12176078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2580587A Expired - Lifetime JPH0738586B2 (ja) | 1987-02-05 | 1987-02-05 | テスト回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0738586B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3169884B2 (ja) | 1998-02-26 | 2001-05-28 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | ディジタル・アナログ変換器及びそのテスト方法 |
| DE102008034784B4 (de) * | 2008-06-13 | 2023-04-13 | Gühring KG | Fräswerkzeug zum Fräsen faserverstärkter Kunststoffe |
-
1987
- 1987-02-05 JP JP2580587A patent/JPH0738586B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63193615A (ja) | 1988-08-10 |
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