JPH0738802A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
- Publication number
- JPH0738802A JPH0738802A JP5181558A JP18155893A JPH0738802A JP H0738802 A JPH0738802 A JP H0738802A JP 5181558 A JP5181558 A JP 5181558A JP 18155893 A JP18155893 A JP 18155893A JP H0738802 A JPH0738802 A JP H0738802A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stop
- diaphragm
- amplification factor
- level
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 画面の輝度レベルを評価して、この輝度レベ
ルと基準レベルとの差を絞り機構に帰還して絞り量を調
節するに際して、輝度レベルの評価に基づいて絞り機構
が起動するまでの時間遅れに起因し、特に絞り量が比較
的大きな場合に生じ易い絞り機構の発振現象を抑圧す
る。 【構成】 撮像映像信号の輝度レベルを所定の基準レベ
ルと比較し、比較結果を可変の増幅率で増幅して出力す
る差動増幅器15の増幅率を、撮像素子への入射光量を
調節する絞り機構21での絞り量が大きい時に比較的小
さくすることを特徴とする。
ルと基準レベルとの差を絞り機構に帰還して絞り量を調
節するに際して、輝度レベルの評価に基づいて絞り機構
が起動するまでの時間遅れに起因し、特に絞り量が比較
的大きな場合に生じ易い絞り機構の発振現象を抑圧す
る。 【構成】 撮像映像信号の輝度レベルを所定の基準レベ
ルと比較し、比較結果を可変の増幅率で増幅して出力す
る差動増幅器15の増幅率を、撮像素子への入射光量を
調節する絞り機構21での絞り量が大きい時に比較的小
さくすることを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、輝度信号レベルを帰還
して絞り機構の絞り量を調節し、輝度信号レベルを自動
的に一定値に維持するオートアイリス装置を備えたビデ
オカメラ等の撮像装置に関する。
して絞り機構の絞り量を調節し、輝度信号レベルを自動
的に一定値に維持するオートアイリス装置を備えたビデ
オカメラ等の撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ビテオカメラにおいては、一般に撮影す
る場面の輝度変化に対して、自動的に絞りを調節して、
輝度レベルを一定に保つオートアイリス装置が搭載され
ている。特開昭61−123368号公報(H04N5
/238)には、このオートアイリス装置の代表的な一
例が開示されている。図2はこの一般的なオートアイリ
ス装置の回路ブロック図である。
る場面の輝度変化に対して、自動的に絞りを調節して、
輝度レベルを一定に保つオートアイリス装置が搭載され
ている。特開昭61−123368号公報(H04N5
/238)には、このオートアイリス装置の代表的な一
例が開示されている。図2はこの一般的なオートアイリ
ス装置の回路ブロック図である。
【0003】撮像レンズ1を通過した入射光は、絞り機
構21にて光量が調節されて撮像素子に入射されて結像
される。撮像素子3では入射光が光電変換され、撮像回
路(図示省略)にて信号処理されて撮像映像信号とし
て、後段の映像信号処理回路(図示省略)に出力され、
同時にこの撮像映像信号は、低域通過フィルタ(LP
F)4で、現画面の輝度レベルが取り出されて差動増幅
器5の負側端子に入力される。
構21にて光量が調節されて撮像素子に入射されて結像
される。撮像素子3では入射光が光電変換され、撮像回
路(図示省略)にて信号処理されて撮像映像信号とし
て、後段の映像信号処理回路(図示省略)に出力され、
同時にこの撮像映像信号は、低域通過フィルタ(LP
F)4で、現画面の輝度レベルが取り出されて差動増幅
器5の負側端子に入力される。
【0004】差動増幅器5は、入力される輝度レベル
と、予め設定されている基準レベルを比較して両者の差
電圧を取り出し、更にこの差電圧を固定の増幅率で増幅
して駆動電圧として出力し、絞り機構21はこの駆動電
圧に基づいて作動し絞り量を調節する。即ち、現在の輝
度レベルが基準レベルを上回る時に絞り量を大きくして
絞りを閉じる方向に絞り機構21が作動し、下回るとき
に絞り量を小さくして絞りを開く方向に作動するような
駆動電圧が差動増幅器5より出力される。
と、予め設定されている基準レベルを比較して両者の差
電圧を取り出し、更にこの差電圧を固定の増幅率で増幅
して駆動電圧として出力し、絞り機構21はこの駆動電
圧に基づいて作動し絞り量を調節する。即ち、現在の輝
度レベルが基準レベルを上回る時に絞り量を大きくして
絞りを閉じる方向に絞り機構21が作動し、下回るとき
に絞り量を小さくして絞りを開く方向に作動するような
駆動電圧が差動増幅器5より出力される。
【0005】絞り機構21は、図3に示すように、下側
にV字状の切欠き部24aを有する可動羽根24と上側
にV字状の切欠き部25aを有する可動羽根25が、夫
々の腕部24b、25bを支軸26、27にて回転子2
9に枢支し、更にこの回転子29を支軸40にてカメラ
本体に枢支することにより、カメラの鏡筒内に配される
ことになり、両切欠き部24a、25aにて四角形の絞
り開口部28が形成され、この開口部28を光軸上に位
置させることにより、この絞り開口部28を通して入射
光が撮像素子3に到達可能になる。
にV字状の切欠き部24aを有する可動羽根24と上側
にV字状の切欠き部25aを有する可動羽根25が、夫
々の腕部24b、25bを支軸26、27にて回転子2
9に枢支し、更にこの回転子29を支軸40にてカメラ
本体に枢支することにより、カメラの鏡筒内に配される
ことになり、両切欠き部24a、25aにて四角形の絞
り開口部28が形成され、この開口部28を光軸上に位
置させることにより、この絞り開口部28を通して入射
光が撮像素子3に到達可能になる。
【0006】ここで、回転子29を反時計方向に回転さ
せると、可動羽根25は下方に移動し、逆に可動羽根2
4は上方に移動し、絞り開口部28の面積が大きくな
り、絞り量が小さくなって、絞りが開かれて入射光量が
増加することになる。また、回転子29を時計方向に回
転させると、可動羽根25は上方に、可動羽根24は下
方に移動して絞り開口部28の面積が小さくなり、絞り
量が大きくなって、絞りは閉じて入射光量が抑制されて
減少することになる。
せると、可動羽根25は下方に移動し、逆に可動羽根2
4は上方に移動し、絞り開口部28の面積が大きくな
り、絞り量が小さくなって、絞りが開かれて入射光量が
増加することになる。また、回転子29を時計方向に回
転させると、可動羽根25は上方に、可動羽根24は下
方に移動して絞り開口部28の面積が小さくなり、絞り
量が大きくなって、絞りは閉じて入射光量が抑制されて
減少することになる。
【0007】このように構成することにより、被写体の
明るさが変化しても撮像映像信号の輝度レベルは基準レ
ベルに等しい一定の値に制御される。
明るさが変化しても撮像映像信号の輝度レベルは基準レ
ベルに等しい一定の値に制御される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】前述のような構成の従
来技術には、以下に示すような欠点が生じる。即ち、実
際の被写体からの光の入射時点から、これに伴う輝度レ
ベルの評価に基づく駆動電圧が絞り機構に帰還されて絞
り機構が作動するまでには、ある程度の時間遅れが発生
することは避けられず、絞り制御系のゲインが高いと、
前記時間遅れを伴う制御により、絞り機構が開閉を繰り
返して安定状態が得られない発振現象を生じる可能性が
ある。
来技術には、以下に示すような欠点が生じる。即ち、実
際の被写体からの光の入射時点から、これに伴う輝度レ
ベルの評価に基づく駆動電圧が絞り機構に帰還されて絞
り機構が作動するまでには、ある程度の時間遅れが発生
することは避けられず、絞り制御系のゲインが高いと、
前記時間遅れを伴う制御により、絞り機構が開閉を繰り
返して安定状態が得られない発振現象を生じる可能性が
ある。
【0009】例えば、輝度レベルが基準レベルより若干
大きな画面を撮影している場合に、この画面の輝度レベ
ルの1度目の評価により絞りを閉じるような制御が為さ
れるが、実際の絞り機構が作動するまでに時間差がある
と、同一画面で2度目の輝度レベルの評価が為され、こ
の時、絞り機構はまだ作動していないので、この2度目
の評価にて再び絞りを閉じるような制御を為そうとす
る。ところが、この2度目の評価に基づく制御を実行し
ようとする時点では、すでに1度目の評価により絞り機
構は作動して絞りは閉じて輝度レベルは基準レベルに一
致しているため、2度目の評価に基づく制御により絞り
は過度に閉じられることになる。この後、これを元に戻
そうとして、再び同様の原理で絞りが過度に開かれ、結
果的に絞り機構は開閉を繰り返すことになる。
大きな画面を撮影している場合に、この画面の輝度レベ
ルの1度目の評価により絞りを閉じるような制御が為さ
れるが、実際の絞り機構が作動するまでに時間差がある
と、同一画面で2度目の輝度レベルの評価が為され、こ
の時、絞り機構はまだ作動していないので、この2度目
の評価にて再び絞りを閉じるような制御を為そうとす
る。ところが、この2度目の評価に基づく制御を実行し
ようとする時点では、すでに1度目の評価により絞り機
構は作動して絞りは閉じて輝度レベルは基準レベルに一
致しているため、2度目の評価に基づく制御により絞り
は過度に閉じられることになる。この後、これを元に戻
そうとして、再び同様の原理で絞りが過度に開かれ、結
果的に絞り機構は開閉を繰り返すことになる。
【0010】特に、近年、特殊な映像処理を目的とし
て、映像信号を一旦画像メモリに蓄積し、この後でメモ
リの内容を取り出して処理する手法が賞用されている
が、このような場合には、時間遅れは更に拡大し、発振
現象が生じ易くなる。
て、映像信号を一旦画像メモリに蓄積し、この後でメモ
リの内容を取り出して処理する手法が賞用されている
が、このような場合には、時間遅れは更に拡大し、発振
現象が生じ易くなる。
【0011】一方、回転子29を回転させる際、例えば
反時計方向に回転させた場合、可動羽根25の基準位置
からの移動距離の下方向への成分を距離Xとすると、絞
り開口部28の面積Sはこの距離Xの2乗に比例するの
で、可動羽根25の一定量の変位による絞り開口部の面
積の変化率、言い換えると輝度レベルの変化率は、絞り
量が大きな状態の方が、絞り量が小さい状態よりも大き
いことになる。
反時計方向に回転させた場合、可動羽根25の基準位置
からの移動距離の下方向への成分を距離Xとすると、絞
り開口部28の面積Sはこの距離Xの2乗に比例するの
で、可動羽根25の一定量の変位による絞り開口部の面
積の変化率、言い換えると輝度レベルの変化率は、絞り
量が大きな状態の方が、絞り量が小さい状態よりも大き
いことになる。
【0012】従って、差動増幅器5の増幅率が一定値に
固定されていれば、絞りが比較的閉じた状態では、絞り
量が小さく絞りを比較的開いた状態に比べ、実質的に絞
り調整のゲインが高くなっていることを意味する。この
ため、絞りが閉じることになる輝度の高い被写体に対し
て、前述の発振現象が生じやすいことになる。
固定されていれば、絞りが比較的閉じた状態では、絞り
量が小さく絞りを比較的開いた状態に比べ、実質的に絞
り調整のゲインが高くなっていることを意味する。この
ため、絞りが閉じることになる輝度の高い被写体に対し
て、前述の発振現象が生じやすいことになる。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、撮像映像信号
の輝度レベルを所定の基準レベルと比較し、該比較結果
を可変の増幅率で増幅して出力する比較手段と、比較手
段出力に応じて撮像素子への入射光量を調節する絞り機
構を備え、絞り量が大きい時に比較手段の増幅率を小さ
くすることを特徴とする。
の輝度レベルを所定の基準レベルと比較し、該比較結果
を可変の増幅率で増幅して出力する比較手段と、比較手
段出力に応じて撮像素子への入射光量を調節する絞り機
構を備え、絞り量が大きい時に比較手段の増幅率を小さ
くすることを特徴とする。
【0014】
【作用】本発明は、上述のように構成することにより、
高輝度の被写体の撮影時に、絞り調整のゲインは低くな
り、発振現象の発生が抑えられる。
高輝度の被写体の撮影時に、絞り調整のゲインは低くな
り、発振現象の発生が抑えられる。
【0015】
【実施例】以下、図面に従い本発明の実施例について説
明する。
明する。
【0016】図1は第1実施例のビデオカメラのオート
アイリス装置の全体の回路ブロックを示し、図2と同一
部分には同一符号を付して説明を省略する。
アイリス装置の全体の回路ブロックを示し、図2と同一
部分には同一符号を付して説明を省略する。
【0017】10は光学撮像系内に配された機械的な絞
り機構21の絞り位置、即ち絞り量を検出する絞り位置
検出器であり、具体的にはホールセンサ22及び磁石4
1にて構成される。
り機構21の絞り位置、即ち絞り量を検出する絞り位置
検出器であり、具体的にはホールセンサ22及び磁石4
1にて構成される。
【0018】絞り位置検出器10と絞り機構21の具体
的な関係は、図4に示されている。絞り機構21の可動
羽根25の腕部25bに磁石41が固着され、ホールセ
ンサ22がこの磁石41の近傍位置にてカメラシャーシ
に固着されており、回転子29が回転して絞り量が変化
するとホ−ルセンサ22と磁石41間の距離が変化し、
これによりホ−ルセンサ22の出力レベルが変化する。
即ち、ホ−ルセンサ22出力レベルは磁石41が接近し
て磁石41からの磁力が強まるにつれて上昇する。即
ち、基準位置にホ−ルセンサ22が配置されていると、
この基準位置からの距離Xが短くなると、センサ出力レ
ベルEは上昇することになる。このセンサ出力は処理回
路30に入力される。
的な関係は、図4に示されている。絞り機構21の可動
羽根25の腕部25bに磁石41が固着され、ホールセ
ンサ22がこの磁石41の近傍位置にてカメラシャーシ
に固着されており、回転子29が回転して絞り量が変化
するとホ−ルセンサ22と磁石41間の距離が変化し、
これによりホ−ルセンサ22の出力レベルが変化する。
即ち、ホ−ルセンサ22出力レベルは磁石41が接近し
て磁石41からの磁力が強まるにつれて上昇する。即
ち、基準位置にホ−ルセンサ22が配置されていると、
この基準位置からの距離Xが短くなると、センサ出力レ
ベルEは上昇することになる。このセンサ出力は処理回
路30に入力される。
【0019】処理回路30では、所定レベルYからセン
サ22出力Eを減じ、この減算値を絞り位置信号Vのレ
ベルとして出力する。従って、絞り位置信号Vは絞り量
が大きい程、レベルが小さい値となる。こうして得られ
た絞り位置信号Vは増幅率制御回路11に供給される。
サ22出力Eを減じ、この減算値を絞り位置信号Vのレ
ベルとして出力する。従って、絞り位置信号Vは絞り量
が大きい程、レベルが小さい値となる。こうして得られ
た絞り位置信号Vは増幅率制御回路11に供給される。
【0020】増幅率制御回路11は、絞り位置信号Vに
より示される絞り量に応じて差動増幅器15の増幅率G
を制御する役割を有し、絞り量が大きい程、増幅率を小
さく設定し、逆に絞り量が小さい程、増幅率を大きく設
定する。例えば、増幅率の設定方法として、絞り位置信
号レベルVに比例定数aを乗じ、これにオフセット値b
を加算して増幅率G=a×V+bの算出式により設定さ
れる。
より示される絞り量に応じて差動増幅器15の増幅率G
を制御する役割を有し、絞り量が大きい程、増幅率を小
さく設定し、逆に絞り量が小さい程、増幅率を大きく設
定する。例えば、増幅率の設定方法として、絞り位置信
号レベルVに比例定数aを乗じ、これにオフセット値b
を加算して増幅率G=a×V+bの算出式により設定さ
れる。
【0021】差動増幅器15は基準レベルからLPF4
から得られる現画面の平均的な輝度レベルを減算し、こ
の減算値を増幅率制御回路11にて上述のように設定さ
れた増幅率Gで増幅して絞り機構21に駆動信号として
出力する。
から得られる現画面の平均的な輝度レベルを減算し、こ
の減算値を増幅率制御回路11にて上述のように設定さ
れた増幅率Gで増幅して絞り機構21に駆動信号として
出力する。
【0022】この結果、被写体の輝度レベルが高く被写
体を撮影していることにより絞り量が大きく、絞り位置
変化、即ち回転子29の回転に伴う可動羽根24、25
の変位量に対する輝度レベルの変化が大きい時には、差
動増幅器15の増幅率、即ち帰還ゲインを下げることに
なり、輝度レベルが低い場合に比べて絞り機構21の可
動羽根24、25が変位しにくくなる。これにより絞り
の開閉に伴う発振現象を抑制することができる。
体を撮影していることにより絞り量が大きく、絞り位置
変化、即ち回転子29の回転に伴う可動羽根24、25
の変位量に対する輝度レベルの変化が大きい時には、差
動増幅器15の増幅率、即ち帰還ゲインを下げることに
なり、輝度レベルが低い場合に比べて絞り機構21の可
動羽根24、25が変位しにくくなる。これにより絞り
の開閉に伴う発振現象を抑制することができる。
【0023】前記第1実施例では、絞り位置に応じて差
動増幅器15の増幅率を変化させたが、これに代えて図
5に示すような構成を採用することも可能である。図5
の第2実施例では差動増幅器5の増幅率は固定であり、
LPF4と差動増幅器5の間に輝度レベル帰還回路12
を挿入したもので、この輝度レベル帰還回路12は基準
レベルを中心にLPF4出力を増幅もしくは減衰して差
動増幅器5に出力する働きを為し、LPF出力レベルが
基準レベルを上回る場合には可変の増幅/減衰率でLP
F4出力を増幅させ、逆にLPF4出力レベルが基準レ
ベルを下回る場合には可変の増幅/減衰率でLPF4出
力を減衰させる。ここで増幅/減衰率は増幅率制御回路
11からの制御信号により制御され、絞り量が大きい程
に絶対値が小さくなり、絞り量が小さい程に絶対値が大
きくなる。
動増幅器15の増幅率を変化させたが、これに代えて図
5に示すような構成を採用することも可能である。図5
の第2実施例では差動増幅器5の増幅率は固定であり、
LPF4と差動増幅器5の間に輝度レベル帰還回路12
を挿入したもので、この輝度レベル帰還回路12は基準
レベルを中心にLPF4出力を増幅もしくは減衰して差
動増幅器5に出力する働きを為し、LPF出力レベルが
基準レベルを上回る場合には可変の増幅/減衰率でLP
F4出力を増幅させ、逆にLPF4出力レベルが基準レ
ベルを下回る場合には可変の増幅/減衰率でLPF4出
力を減衰させる。ここで増幅/減衰率は増幅率制御回路
11からの制御信号により制御され、絞り量が大きい程
に絶対値が小さくなり、絞り量が小さい程に絶対値が大
きくなる。
【0024】このような構成でも、前記第1実施例と等
価な結果を得ることができることを簡単に説明すると、
前記第1実施例で差動増幅器15の増幅率は、絞り量が
比較的大きな特定の値にある時に200%、逆に絞り量
が比較的小さな特定の値にある時に500%になり、更
に基準レベルが(100)、LPF4出力レベルが(5
0)になると仮定すると、絞り量が大きい時には、差動
増幅器15の出力値は(100−50)×2=100、
小さい時には(100−50)×5=250となる。
価な結果を得ることができることを簡単に説明すると、
前記第1実施例で差動増幅器15の増幅率は、絞り量が
比較的大きな特定の値にある時に200%、逆に絞り量
が比較的小さな特定の値にある時に500%になり、更
に基準レベルが(100)、LPF4出力レベルが(5
0)になると仮定すると、絞り量が大きい時には、差動
増幅器15の出力値は(100−50)×2=100、
小さい時には(100−50)×5=250となる。
【0025】この状況を第2実施例に当てはめ、輝度レ
ベル帰還回路12の増幅/減衰率のを絞り量が大きい時
に200%、小さい時に500%、差動増幅器5の増幅
率を常に100%と仮定すると、上述のような状況下で
は、LPF4出力レベルが基準レベルを下回ることにな
るので、基準レベルを中心にLPF4出力が増幅/減衰
率で減衰されることになる。即ち、絞り量が大きい時に
は、基準レベルからLPF4出力を減じた値(50)を
2倍して基準レベルから減じた、即ち100−50×2
=0が差動増幅器5に出力されて、基準レベルからこの
帰還回路12の出力レベルが減算されて差動増幅器5出
力値が100−0=100となる。
ベル帰還回路12の増幅/減衰率のを絞り量が大きい時
に200%、小さい時に500%、差動増幅器5の増幅
率を常に100%と仮定すると、上述のような状況下で
は、LPF4出力レベルが基準レベルを下回ることにな
るので、基準レベルを中心にLPF4出力が増幅/減衰
率で減衰されることになる。即ち、絞り量が大きい時に
は、基準レベルからLPF4出力を減じた値(50)を
2倍して基準レベルから減じた、即ち100−50×2
=0が差動増幅器5に出力されて、基準レベルからこの
帰還回路12の出力レベルが減算されて差動増幅器5出
力値が100−0=100となる。
【0026】一方、絞り量が小さい時には、基準レベル
からLPF4出力を減じた値(50)を5倍して基準レ
ベルから減じた、即ち100−50×5=−150が差
動増幅器5に出力されて、基準レベルからこの帰還回路
12の出力レベルが減算されて差動増幅器5出力値が1
00−(−150)=250となる。以上の結果より、
第2実施例は第1実施例と等価の構成を為すものと見做
せる。
からLPF4出力を減じた値(50)を5倍して基準レ
ベルから減じた、即ち100−50×5=−150が差
動増幅器5に出力されて、基準レベルからこの帰還回路
12の出力レベルが減算されて差動増幅器5出力値が1
00−(−150)=250となる。以上の結果より、
第2実施例は第1実施例と等価の構成を為すものと見做
せる。
【0027】尚、前記両実施例の回路動作は、マイクロ
プロセッサによりソフトウェア的に処理可能であること
は言うまでもない。
プロセッサによりソフトウェア的に処理可能であること
は言うまでもない。
【0028】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、絞り量に応
じて画面の輝度レベルと基準レベルとの差を絞り機構に
帰還する際に、帰還ゲインを可変することで、絞り機構
の発振現象を抑圧することができる。
じて画面の輝度レベルと基準レベルとの差を絞り機構に
帰還する際に、帰還ゲインを可変することで、絞り機構
の発振現象を抑圧することができる。
【図1】本発明の第1実施例の回路ブロック図である。
【図2】従来例の回路ブロック図である。
【図3】従来例の絞り機構の説明図である。
【図4】本発明の第1実施例の絞り機構の説明図であ
る。
る。
【図5】本発明の第2実施例の回路ブロック図である。
3 撮像回路 5 差動増幅器 15 差動増幅器 21 絞り機構 10 絞り位置検出器
Claims (2)
- 【請求項1】 入射光を撮像素子上に結像して撮像映像
信号を作成する撮像手段と、 撮像映像信号の輝度レベルを所定の基準レベルと比較
し、該比較結果を可変の増幅率で増幅して出力する比較
手段と、 該比較手段出力に基づいて前記撮像素子への入射光量を
調節する絞り機構と、 該絞り機構の絞り量に応じて前記比較手段の増幅率を変
更することを特徴とする撮像装置。 - 【請求項2】 前記絞り機構の絞り量が大きい時に前記
増幅率を小さくすることを特徴とする請求項1記載の撮
像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5181558A JPH0738802A (ja) | 1993-07-22 | 1993-07-22 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5181558A JPH0738802A (ja) | 1993-07-22 | 1993-07-22 | 撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0738802A true JPH0738802A (ja) | 1995-02-07 |
Family
ID=16102894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5181558A Pending JPH0738802A (ja) | 1993-07-22 | 1993-07-22 | 撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0738802A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100747576B1 (ko) * | 2005-12-21 | 2007-08-08 | 엘지전자 주식회사 | 카메라의 노출 제어장치 및 그 방법 |
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1993
- 1993-07-22 JP JP5181558A patent/JPH0738802A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100747576B1 (ko) * | 2005-12-21 | 2007-08-08 | 엘지전자 주식회사 | 카메라의 노출 제어장치 및 그 방법 |
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