JPH0741386A - Substrate coated with diamond-like film and formation thereof - Google Patents

Substrate coated with diamond-like film and formation thereof

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JPH0741386A
JPH0741386A JP18808493A JP18808493A JPH0741386A JP H0741386 A JPH0741386 A JP H0741386A JP 18808493 A JP18808493 A JP 18808493A JP 18808493 A JP18808493 A JP 18808493A JP H0741386 A JPH0741386 A JP H0741386A
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Japan
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substrate
diamond
intermediate layer
plasma
coating
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JP18808493A
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Japanese (ja)
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Keiichi Kuramoto
慶一 蔵本
Yoichi Domoto
洋一 堂本
Hitoshi Hirano
均 平野
Seiichi Kiyama
精一 木山
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide a substrate coated with a diamond-like film and formation thereof by which adhesion between the substrate such as an electric shaver blade and the diamond-like coating film has been improved and peeling of the diamond-like film is decreased. CONSTITUTION:A diamond like coating film with an intermediate layer essentially comprising Ru is formed on a substrate 7 essentially comprising Ni or Al or consisting of stainless steel in the following processes. In the first process, the substrate in a chamber 8 is radiated with ions of inert gas. Simultaneously, Ru atoms are radiated from a vapor source 13 to the substrate to form the intermediate layer comprising Ru on the surface of the substrate 7. In the second process, a reaction gas containing carbon is supplied to the vacuum chamber 8 and changed into plasma. This plasma is made to radiate the intermediate layer to form a diamond-like coating film on the surface of the intermediate layer.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電気かみそり刃等の基
板表面に、その特性の向上、及び表面保護の目的でダイ
ヤモンド状被膜を形成するものに関し、特に基板とダイ
ヤモンド状被膜との密着性に優れたダイヤモンド状被膜
基板およびその形成方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a diamond-like coating formed on the surface of a substrate such as an electric razor blade for the purpose of improving its characteristics and protecting the surface, and in particular the adhesion between the substrate and the diamond-like coating. The present invention relates to a diamond-like coated substrate excellent in heat resistance and a method for forming the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、基板とダイヤモンド状被膜との密
着性を向上させるために、その基板とダイヤモンド状被
膜との間に中間層を形成させるものが提案されており、
例えば特開平1−317197号公報には、プラズマC
VD法により基板上にシリコン(Si)を主成分とする
中間層を形成し、その中間層の上にダイヤモンド状被膜
を形成する技術が示されている。これにより、セラミッ
クス基板やSi基板などの基板上に直接ダイヤモンド状
被膜を形成した場合に比べて基板に対するダイヤモンド
状被膜の密着性を向上させることが可能であった。
2. Description of the Related Art Conventionally, in order to improve the adhesion between a substrate and a diamond-like coating, it has been proposed to form an intermediate layer between the substrate and the diamond-like coating,
For example, in JP-A-1-317197, plasma C
A technique is disclosed in which an intermediate layer containing silicon (Si) as a main component is formed on a substrate by the VD method, and a diamond-like coating is formed on the intermediate layer. This makes it possible to improve the adhesion of the diamond-like coating to the substrate as compared with the case where the diamond-like coating is directly formed on the substrate such as the ceramics substrate or the Si substrate.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術はセラミックス基板やSi基板などの基板上にダ
イヤモンド状被膜を形成する場合を想定しており、電気
かみそり刃等に良く用いられるニッケル(Ni)、アル
ミニウム(Al)、又はステンレス鋼にダイヤモンド状
被膜を形成する場合については検討されておらず、例え
ばNi基板にSiCやSi34らなる中間層を形成し、そ
の上にダイヤモンド状被膜を形成した場合には、密着強
度不足のためにダイヤモンド状被膜の剥離が発生する場
合があった。
However, the above-mentioned prior art assumes the case where a diamond-like film is formed on a substrate such as a ceramic substrate or a Si substrate, and nickel (Ni) which is often used for electric razor blades and the like. The case of forming a diamond-like coating on aluminum, aluminum (Al), or stainless steel has not been studied. For example, an intermediate layer of SiC or Si 3 N 4 is formed on a Ni substrate, and the diamond-like coating is formed on the intermediate layer. When formed, the diamond-like coating may peel off due to insufficient adhesion strength.

【0004】従って、電気かみそり刃等の基板に対して
どのような種類の中間層が最も適しているのか不明瞭で
あった。
Therefore, it was unclear what kind of intermediate layer is most suitable for a substrate such as an electric razor blade.

【0005】本発明は、斯かる点に鑑みてなされたもの
であって、電気かみそり刃等の基板とダイヤモンド状被
膜との密着性を向上させ、ダイヤモンド状被膜の剥離発
生を低減させたダイヤモンド状被膜基板およびその形成
方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and is a diamond-like film in which the adhesion between a substrate such as an electric razor blade and the diamond-like film is improved and the occurrence of peeling of the diamond-like film is reduced. An object is to provide a coated substrate and a method for forming the same.

【0006】[0006]

【課題を解決するために手段】本発明のダイヤモンド状
被膜基板は、ダイヤモンド状被膜をRuを主成分とする
中間層を介してNi、若しくはAlを主成分とする基板
上、又はステンレス鋼からなる基板上に設けたことを特
徴し、また、その中間層を組成比率が傾斜構造を有する
RuとCの混合層とすることを特徴とする。
The diamond-like coating substrate of the present invention comprises a diamond-like coating on a substrate containing Ni or Al as a main component through an intermediate layer containing Ru as a main component, or made of stainless steel. It is characterized in that it is provided on the substrate, and that the intermediate layer is a mixed layer of Ru and C having a composition ratio gradient structure.

【0007】そして、本発明の第1のダイヤモンド状被
膜基板形成方法は、真空チャンバ内に配置されたNi、
若しくはAlを主成分とする基板、又はステンレス鋼か
らなる基板に向けて不活性ガスのイオンを放射すると同
時に、蒸発源からRu原子を前記基板に向けて放射する
ことによって、前記基板の表面にRuからなる中間層を
形成する第1工程と、前記真空チャンバ内に供給した炭
素を含む反応ガスをプラズマ化し、該プラズマを前記中
間層に向けて放射することによって、該中間層の表面に
ダイヤモンド状被膜を形成する第2工程と、からなるこ
とを特徴とする。
The first diamond-like coated substrate forming method according to the present invention comprises:
Alternatively, by radiating an inert gas ion toward a substrate containing Al as a main component or a substrate made of stainless steel, and simultaneously radiating Ru atoms from the evaporation source toward the substrate, Ru on the surface of the substrate. A first step of forming an intermediate layer consisting of: a reaction gas containing carbon supplied into the vacuum chamber is converted into a plasma, and the plasma is radiated toward the intermediate layer to form a diamond-like pattern on the surface of the intermediate layer. And a second step of forming a coating film.

【0008】また、本発明の第2のダイヤモンド状被膜
基板形成方法は、ガス供給量が所定値まで漸次増加する
ように真空チャンバ内に供給した炭素を含む反応ガスを
プラズマ化し、該プラズマを前記真空チャンバ内に配置
されたNi、若しくはAlを主成分とする基板、又はステ
ンレス鋼からなる基板に向けて放射すると共に、前記基
板に向けて不活性ガスのイオンを放射すると同時に、蒸
発源からRu原子を蒸発速度が零値まで漸次低減するよ
うに前記基板に向けて放射することによって、前記基板
の表面にRuとCの混合層からなる中間層を形成する第
1工程と、前記真空チャンバ内に供給した炭素を含む反
応ガスをプラズマ化し、該プラズマを前記中間層に向け
て放射することによって、該中間層の表面にダイヤモン
ド状被膜を形成する第2工程と、からなることを特徴と
する。
Further, in the second diamond-like coated substrate forming method of the present invention, the reaction gas containing carbon supplied into the vacuum chamber is made into plasma so that the gas supply amount is gradually increased to a predetermined value, and the plasma is converted into the above-mentioned plasma. Radiate toward a substrate containing Ni or Al as a main component or a substrate made of stainless steel placed in a vacuum chamber and at the same time radiate an inert gas ion toward the substrate, and at the same time, from the evaporation source to Ru. A first step of forming an intermediate layer made of a mixed layer of Ru and C on the surface of the substrate by radiating atoms toward the substrate so that the evaporation rate is gradually reduced to zero; Forming a diamond-like coating on the surface of the intermediate layer by converting the reaction gas containing carbon supplied to the plasma into plasma and radiating the plasma toward the intermediate layer. It is characterized by comprising two steps.

【0009】[0009]

【作用】本発明によれば、Ni、若しくはAlを主成分と
する基板、又はステンレス鋼からなる基板とダイヤモン
ド状被膜との密着性を向上させ、ダイヤモンド状被膜の
剥離発生を低減させたダイヤモンド状被膜基板が形成さ
れる。
According to the present invention, the diamond-like coating which improves the adhesion between the substrate containing Ni or Al as a main component or the substrate made of stainless steel and the diamond-like coating and reduces the occurrence of peeling of the diamond-like coating. A coated substrate is formed.

【0010】また、本発明のダイヤモンド状被膜基板形
成方法によれば、第1工程において中間層の形成にイオ
ンのエネルギーを利用するため、イオン注入により中間
層が基板と強固に密着する。
Further, according to the method for forming a diamond-like coated substrate of the present invention, since the energy of ions is used for forming the intermediate layer in the first step, the intermediate layer is firmly adhered to the substrate by ion implantation.

【0011】更に、本発明の第2のダイヤモンド状被膜
基板形成方法によれば、組成比率が傾斜構造を有する中
間層が形成される。
Further, according to the second diamond-like coated substrate forming method of the present invention, the intermediate layer having the composition ratio gradient structure is formed.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明をその一実施例を示す図面に基
づいて説明する。図1は、本発明のダイヤモンド状被膜
基板を形成するための装置を示す概略断面図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings showing an embodiment thereof. FIG. 1 is a schematic sectional view showing an apparatus for forming a diamond-like coated substrate of the present invention.

【0013】同図において、1はマイクロ波供給手段で
あり、マイクロ波供給手段1で発生されたマイクロ波
は、導波管2、マイクロ波導入窓3を通って、プラズマ
発生室4に導かれる。5はプラズマ発生室4にアルゴン
(Ar)ガスなどの放電ガスを導入させる放電ガス導入
管、6はプラズマ発生室4の周囲に配置されたプラズマ
磁界発生装置であり、マイクロ波による高周波磁界とプ
ラズマ磁界発生装置6からの磁界を作用させて、プラズ
マ発生室4に高密度のプラズマを形成する。そして、こ
のプラズマはプラズマ磁界発生装置6による発散磁界に
沿って基板7を配した真空チャンバ8に導かれる。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a microwave supply means, and the microwave generated by the microwave supply means 1 is guided to a plasma generation chamber 4 through a waveguide 2 and a microwave introduction window 3. . Reference numeral 5 is a discharge gas introduction tube for introducing a discharge gas such as argon (Ar) gas into the plasma generation chamber 4, and reference numeral 6 is a plasma magnetic field generator disposed around the plasma generation chamber 4, which is a high frequency magnetic field generated by microwaves and plasma. By applying a magnetic field from the magnetic field generator 6, high density plasma is formed in the plasma generation chamber 4. Then, this plasma is guided to the vacuum chamber 8 in which the substrate 7 is arranged along the divergent magnetic field generated by the plasma magnetic field generator 6.

【0014】従って、上述のマイクロ波供給手段1、導
波管2、マイクロ波導入窓3、プラズマ発生室4、放電
ガス導入管5、プラズマ磁界発生装置6により構成され
たECR(電子サイクロトロン共鳴)プラズマCVD装
置からのプラズマ流が基板7に放射されることになる。
Therefore, an ECR (electron cyclotron resonance) composed of the microwave supply means 1, the waveguide 2, the microwave introduction window 3, the plasma generation chamber 4, the discharge gas introduction pipe 5 and the plasma magnetic field generator 6 is provided. The plasma flow from the plasma CVD apparatus will be emitted to the substrate 7.

【0015】ここで、基板7は真空チャンバ8の背面に
対して垂直に枢着された軸(図示せず)の回りに回転自
在に設けられた筒状基板ホルダ9の周側面に装着された
基板であり、複数個の基板7が等間隔で取付けられてい
る。尚、本実施例では、基板7としてニッケル(Ni)
基板を用い、基板ホルダ9の周側面に数十個装着してい
る。この結果、一回の真空排気によって処理できる基板
の個数が増大できることになる。
Here, the substrate 7 is mounted on the peripheral side surface of a cylindrical substrate holder 9 which is rotatably provided around an axis (not shown) pivotally mounted perpendicularly to the back surface of the vacuum chamber 8. This is a board, and a plurality of boards 7 are attached at equal intervals. In this embodiment, nickel (Ni) is used as the substrate 7.
Several tens of substrates are mounted on the peripheral side surface of the substrate holder 9. As a result, the number of substrates that can be processed by one evacuation can be increased.

【0016】10は真空チャンバ8内に原料ガスとしてメ
タン(CH4)ガスを導入させる反応ガス導入管であ
り、後述するガス導入部10aと、ガス放出部10bにより
構成され、その導入されたCH4ガスはプラズマの作用
により分解される。11は高周波電源(13.56MHz)であ
り、所定の高周波電圧(RF電圧)を基板ホルダ9に印
加し、基板7に負の自己バイアス(−50V)を発生させ
ている。これは、プラズマ中における電界によるイオン
の移動速度は電子に比べて遅いため、RF電圧印加中の
電位の振れに対して、電子は追随するが、イオンが追随
できないことを利用している。従って、RF電圧を基板
7に印加することにより、基板7に電子が多く放射さ
れ、基板7に負の自己バイアスが発生することになり、
プラズマ中の正イオンが引き込まれ、基板7上にダイヤ
モンド状被膜が形成される。
Reference numeral 10 denotes a reaction gas introducing pipe for introducing methane (CH 4 ) gas as a raw material gas into the vacuum chamber 8, which is composed of a gas introducing portion 10a and a gas releasing portion 10b, which will be described later, and the introduced CH. 4 Gas is decomposed by the action of plasma. A high frequency power source (13.56 MHz) 11 applies a predetermined high frequency voltage (RF voltage) to the substrate holder 9 to generate a negative self-bias (-50 V) on the substrate 7. This is because the moving speed of the ions due to the electric field in the plasma is slower than that of the electrons, so that the electrons can follow the fluctuation of the potential while the RF voltage is applied, but the ions cannot. Therefore, when an RF voltage is applied to the substrate 7, many electrons are emitted to the substrate 7 and a negative self-bias is generated in the substrate 7,
Positive ions in the plasma are drawn in, and a diamond-like coating is formed on the substrate 7.

【0017】12は基板ホルダ9の周側面を囲繞するよう
に所定距離隔てて設けられた金属製の筒状シールドカバ
ーであり、接地電極に接続されている。このシールドカ
バー12は、被膜形成時に基板ホルダ9に印加されるRF
電圧によって被膜形成個所以外の基板ホルダ9と真空チ
ャンバ8との間で放電が発生するのを防止するために設
けられており、基板ホルダ9とシールドカバー12との間
隙が電子の平均自由行程以下の距離となるように配置し
ている。これは、基板ホルダ9とシールドカバー12との
間隙を電子の平均自由行程以下、即ち、何らかの原因で
発生した電子が電界により加速され、気体原子と衝突せ
ずに移動できる平均距離以下に設定することにより、電
子が気体原子と衝突する確率を下げ、雪崩的に電離が進
行するのを防止している。
Reference numeral 12 denotes a metallic cylindrical shield cover provided at a predetermined distance so as to surround the peripheral side surface of the substrate holder 9, and is connected to the ground electrode. The shield cover 12 has an RF applied to the substrate holder 9 when the film is formed.
It is provided in order to prevent electric discharge from being generated between the substrate holder 9 and the vacuum chamber 8 other than the film forming portion due to the voltage, and the gap between the substrate holder 9 and the shield cover 12 is equal to or less than the mean free path of electrons. The distance is set to. This sets the gap between the substrate holder 9 and the shield cover 12 to be equal to or less than the mean free path of electrons, that is, equal to or less than the average distance that electrons generated for some reason are accelerated by the electric field and can move without colliding with gas atoms. This reduces the probability of electrons colliding with gas atoms and prevents avalanche ionization.

【0018】従って、被膜形成個所以外での放電発生を
防止するためには、基板ホルダ9とシールドカバー12と
の間隙を電子の平均自由行程以下の距離に設定する必要
があり、特に電子の平均自由行程の1/10以下の距離の場
合には効果がある。尚、本実施例では基板ホルダ9とシ
ールドカバー12との間隙を電子の平均自由行程の1/10以
下となる約5mmとした。
Therefore, in order to prevent the discharge from occurring at a place other than the film forming portion, it is necessary to set the gap between the substrate holder 9 and the shield cover 12 to a distance equal to or less than the mean free path of electrons, and especially the mean of electrons. It is effective when the distance is less than 1/10 of the free path. In this embodiment, the gap between the substrate holder 9 and the shield cover 12 is about 5 mm, which is 1/10 or less of the mean free path of electrons.

【0019】13は電子ビームにより中間層の構成材料と
なるルテニウム(Ru)原子を蒸発させて基板7に向け
て放射する蒸発源、14は蒸発源13から蒸発した構成材料
にエネルギーを付与するために、不活性ガスを供給し、
そのイオンを放射するイオンガンである。尚、本実施例
では不活性ガスとしてArガスを供給している。
Reference numeral 13 denotes an evaporation source that evaporates ruthenium (Ru) atoms, which is a constituent material of the intermediate layer, by an electron beam and radiates the atoms toward the substrate 7, and 14 applies energy to the constituent material evaporated from the evaporation source 13. , Supply an inert gas,
It is an ion gun that emits the ions. In this embodiment, Ar gas is supplied as the inert gas.

【0020】15はプラズマ発生室4下方のシールドカバ
ー12上部に設けられた第1開口部であって、その第1開
口部15を通ってプラズマ発生室4からの引き出されたプ
ラズマ流が筒状基板ホルダ9に装着された基板7に放射
されるようになっている。16はシールドカバー12下部に
設けられた第2開口部であって、その第2開口部16を通
って蒸発源13、及びイオンガン14からの構成材料、及び
Arイオンが基板ホルダ9に装着された基板7に放射さ
れるようになっている。
Reference numeral 15 is a first opening provided in the upper part of the shield cover 12 below the plasma generation chamber 4, and the plasma flow extracted from the plasma generation chamber 4 through the first opening 15 is tubular. The substrate 7 mounted on the substrate holder 9 is radiated. Reference numeral 16 denotes a second opening provided in the lower part of the shield cover 12, and the constituent materials from the evaporation source 13 and the ion gun 14 and Ar ions are attached to the substrate holder 9 through the second opening 16. The radiation is emitted to the substrate 7.

【0021】また、上記反応ガス導入管10は、図2に示
すように、外部から真空チャンバ8内にCH4ガスを導
入するガス導入部10aと、この導入部10aにT字状に接
続されたガス放出部10bにより構成されている。そし
て、ガス放出部10bは基板ホルダ9の回転方向に対して
垂直に配置され、且つ第1開口部15上方の前記回転方向
の上流側に位置するように取付けられている。ガス放出
部10bには、前記回転方向に向けて下方約45度の方向に
複数個の孔17(本実施例では、8個)が形成されてお
り、その孔17のピッチは、ガス導入部10a側が最も大き
く、ガス導入部10aから遠ざかるに従い徐々に小さくな
っている。これにより、導入部10aから導入されたCH
4ガスは放出部10bの各孔17から均等に噴出する。
As shown in FIG. 2, the reaction gas introducing pipe 10 is connected to the gas introducing portion 10a for introducing CH 4 gas from the outside into the vacuum chamber 8 and a T-shaped connection to the introducing portion 10a. It is composed of a gas releasing portion 10b. The gas discharge part 10b is arranged perpendicularly to the rotation direction of the substrate holder 9 and is attached so as to be located on the upstream side in the rotation direction above the first opening 15. A plurality of holes 17 (eight in this embodiment) are formed in the gas discharge portion 10b in a direction of about 45 degrees downward in the rotation direction, and the pitch of the holes 17 is set to the gas introduction portion. It is the largest on the 10a side, and gradually decreases as it goes away from the gas introduction portion 10a. As a result, the CH introduced from the introduction unit 10a
The four gases are evenly ejected from the holes 17 of the discharge part 10b.

【0022】以上のように、基板7の表面にECRプラ
ズマCVD装置による被膜形成手段と、蒸発源13、及び
イオンガン14による被膜形成手段とを有するため、ダイ
ヤモンド状被膜形成工程、及び中間層形成工程を個別に
制御でき、基板上に所望の中間層を容易に形成すること
ができる。
As described above, since the surface of the substrate 7 has the film forming means by the ECR plasma CVD apparatus and the film forming means by the evaporation source 13 and the ion gun 14, the diamond-like film forming step and the intermediate layer forming step. Can be controlled individually, and a desired intermediate layer can be easily formed on the substrate.

【0023】次に、上記図1実施例装置を用いてNi基
板7の表面にRuを主成分とする中間層を設け、その上
にダイヤモンド状被膜を形成する方法について、中間層
としてRu層を形成する場合と、Ruと炭素(C)の混合
層を形成する場合について、夫々第1、及び第2実施例
として以下に説明する。
Next, regarding the method of forming an intermediate layer containing Ru as the main component on the surface of the Ni substrate 7 using the apparatus of FIG. 1 and forming a diamond-like coating thereon, the Ru layer is used as the intermediate layer. The case of forming and the case of forming a mixed layer of Ru and carbon (C) will be described below as first and second examples, respectively.

【0024】先ず、第1実施例として基板7の表面にR
u層の中間層を設け、その上にダイヤモンド状被膜を形
成する場合について説明する。
First, as the first embodiment, R is formed on the surface of the substrate 7.
A case where an intermediate layer of the u layer is provided and a diamond-like film is formed on the intermediate layer will be described.

【0025】初めに、基板ホルダ9の周側面に数十個の
Ni基板7を等間隔で装着する。そして、真空チャンバ
8内を10-5〜10-7Torrに排気し、基板ホルダ9を約10rp
mの速度で回転させる。次に、イオンガン14にArガスを
供給して、Arイオンを取り出して、これを基板13の
表面に放射する。この時のArイオンの加速電圧は400e
V、イオン電流密度は0.3mA/cm2に設定した。一方、Ar
イオンの放射と同時に蒸発源13を駆動し、Ru原子を蒸
発させて基板7の表面に放射する。この時のRuの蒸発
速度は基板7上での成膜速度に換算して420Å/minに設
定した。
First, dozens of Ni substrates 7 are mounted on the peripheral side surface of the substrate holder 9 at equal intervals. Then, the inside of the vacuum chamber 8 is evacuated to 10 −5 to 10 −7 Torr, and the substrate holder 9 is moved to about 10 rp.
Rotate at a speed of m. Next, Ar gas is supplied to the ion gun 14 to take out Ar ions and irradiate them on the surface of the substrate 13. The acceleration voltage of Ar ions at this time is 400e
V and ion current density were set to 0.3 mA / cm 2 . On the other hand, Ar
At the same time as the emission of ions, the evaporation source 13 is driven to evaporate Ru atoms and emit them to the surface of the substrate 7. The evaporation rate of Ru at this time was set to 420 Å / min in terms of the film formation rate on the substrate 7.

【0026】以上の工程を5分程度行い、基板7の表面
に膜厚200ÅのRu層の中間層を形成した。
The above steps were carried out for about 5 minutes to form an intermediate layer of Ru layer having a film thickness of 200Å on the surface of the substrate 7.

【0027】次に、蒸発源13、及びイオンガン14からの
Ru原子及びArイオンの放射を止め、ECRプラズマC
VD装置の放電ガス導入管5からArガスを流量40sccm
で供給すると共に、マイクロ波供給手段1から2.45GH
z,100Wのマイクロ波を供給して、プラズマ発生室4内
に形成されたArプラズマを基板7の表面に放射する。
これと同時に、基板7に発生する自己バイアスが−50V
となるように、高周波電源11から13.56MHzのRF電圧を
基板ホルダ12に印加し、反応ガス導入管10からCH4
ガスを流量100sccmで供給する。
Next, the emission of Ru atoms and Ar ions from the evaporation source 13 and the ion gun 14 is stopped, and the ECR plasma C
Flow rate of Ar gas from the discharge gas introduction pipe 5 of the VD device is 40 sccm
Microwave supply means 1 to 2.45GH
Microwaves of z and 100 W are supplied to irradiate the Ar plasma formed in the plasma generation chamber 4 on the surface of the substrate 7.
At the same time, the self-bias generated on the substrate 7 is -50V.
So that the RF voltage of 13.56 MHz is applied from the high frequency power source 11 to the substrate holder 12 so that CH 4
Gas is supplied at a flow rate of 100 sccm.

【0028】以上の工程を15分程度行い、基板7に形成
された中間層の上に膜厚1200Åのダイヤモンド状被膜を
形成した。従って、上記二つの工程の結果、基板7の表
面にRu層の中間層を介してダイヤモンド状被膜が形成
されることになる。
The above steps were carried out for about 15 minutes to form a diamond-like film having a film thickness of 1200 Å on the intermediate layer formed on the substrate 7. Therefore, as a result of the above two steps, a diamond-like coating is formed on the surface of the substrate 7 via the intermediate layer of the Ru layer.

【0029】次に、第2実施例として基板7の表面にR
uとCの混合層となる中間層を設け、その上にダイヤモ
ンド状被膜を形成する場合について説明する。
Next, as a second embodiment, R is formed on the surface of the substrate 7.
A case will be described in which an intermediate layer which is a mixed layer of u and C is provided and a diamond-like coating is formed thereon.

【0030】先ず、上記第1実施例の場合と同様に、基
板ホルダ9の周側面に数十個のNi基板7を等間隔で装
着し、真空チャンバ8内を10-5〜10-7Torrに排気して、
基板ホルダ9を約10rpmの速度で回転させる。
First, as in the case of the first embodiment, several tens of Ni substrates 7 are mounted on the peripheral side surface of the substrate holder 9 at equal intervals, and the inside of the vacuum chamber 8 is set to 10 -5 to 10 -7 Torr. Exhaust to
The substrate holder 9 is rotated at a speed of about 10 rpm.

【0031】次に、ECRプラズマCVD装置の放電ガ
ス導入管5からArガスを流量40sccmで供給すると共
に、マイクロ波供給手段1から2.45GHz,100Wのマイク
ロ波を供給して、プラズマ発生室4内に形成されたAr
プラズマを基板7の表面に放射する。これと同時に、基
板7に発生する自己バイアスが−50Vとなるように、高
周波電源10から13.56MHzのRF電圧を基板ホルダ9に
印加し、反応ガス導入管10からCH4ガスを供給する。
この時のCH4ガスの供給流量を、図3に示すように時
間経過に従い漸次増加させ、5分経過時に100sccmにな
るように設定した。
Next, Ar gas is supplied from the discharge gas introduction pipe 5 of the ECR plasma CVD apparatus at a flow rate of 40 sccm, and microwaves of 2.45 GHz and 100 W are supplied from the microwave supply means 1 to the inside of the plasma generation chamber 4. Formed on Ar
Plasma is radiated onto the surface of the substrate 7. At the same time, an RF voltage of 13.56 MHz is applied from the high frequency power source 10 to the substrate holder 9 so that the self-bias generated on the substrate 7 becomes −50 V, and CH 4 gas is supplied from the reaction gas introducing pipe 10.
At this time, the CH 4 gas supply flow rate was gradually increased as time elapsed as shown in FIG. 3, and was set to 100 sccm after 5 minutes.

【0032】そして、このECRプラズマCVD装置に
よる被膜形成処理と同時に、基板7の表面にイオンガン
14からArイオンを放射すると共に、蒸発源13からRu原
子を放射させる。この時のArイオンの加速電圧を400e
V、イオン電流密度を0.3mA/cm 2に設定し、Ruの蒸発速
度を図4に示すように、基板7上での成膜速度に換算し
て420Å/minから時間経過に従い漸次減少させ、5分経
過後には0Å/minになるように設定した。そして、Ruの
蒸発速度が0Å/minになった時点、即ち5分経過時に イ
オンガン14からのArイオンの放射を止める。
Then, in this ECR plasma CVD apparatus
Simultaneously with the film formation process by the ion gun on the surface of the substrate 7.
It emits Ar ions from 14 and the Ru source from the evaporation source 13.
Let the child radiate. The acceleration voltage of Ar ions at this time is 400e
V, ion current density 0.3mA / cm 2Set to, the evaporation rate of Ru
4 is converted into a film formation rate on the substrate 7 as shown in FIG.
From 420Å / min to 5 minutes
It was set to be 0 Å / min after passing. And Ru's
When the evaporation rate reaches 0Å / min, that is, after 5 minutes,
Stop the emission of Ar ions from Ongun 14.

【0033】以上の工程を5分程度行い、基板7の表面
に合計膜厚200ÅのRuとCの混合層構造で、且つRu含
有量が基板7の表面から離れるに従い漸次減少すると共
に、C含有量が基板7の表面から離れるに従い漸次増加
する中間層を形成した。
The above steps are carried out for about 5 minutes to form a mixed layer structure of Ru and C having a total film thickness of 200 Å on the surface of the substrate 7, and the Ru content gradually decreases as the distance from the surface of the substrate 7 increases. An intermediate layer was formed whose amount gradually increased as the distance from the surface of the substrate 7 increased.

【0034】次に、反応ガス導入管10から供給するCH
4ガスの供給流量を100sccm一定に設定し、上記工程にお
けるECRプラズマCVD装置による被膜形成処理を引
き続き行う。
Next, CH supplied from the reaction gas introducing pipe 10
The supply flow rate of the 4 gases is set to be constant at 100 sccm, and the film forming process by the ECR plasma CVD apparatus in the above step is continuously performed.

【0035】以上の工程を15分程度行い、基板7の形成
された中間層の上に膜厚1200Åのダイヤモンド状被膜を
形成した。
The above steps were carried out for about 15 minutes to form a diamond-like film having a film thickness of 1200 Å on the intermediate layer on which the substrate 7 was formed.

【0036】従って、上記二つの工程の結果、基板13
の表面に組成比率が傾斜構造を有するRuとCの混合層
の中間層を介してダイヤモンド状被膜が形成されること
になる。
Therefore, as a result of the above two steps, the substrate 13
Thus, a diamond-like coating is formed on the surface of the intermediate layer of the mixed layer of Ru and C having a compositional gradient structure.

【0037】次に、表1に(イ)上記第1実施例において
中間層形成の第1工程を行わず、ダイヤモンド状被膜形
成の第2工程のみを15分程度行い、Ni基板上に直接ダ
イヤモンド状被膜を形成した場合と、(ロ)上記第1実施
例を用いてNi基板上にRu層の中間層を形成し、その上
にダイヤモンド状被膜を形成した場合と、(ハ)上記第2
実施例を用いてNi基板上にRuとCの混合層の中間層を
形成し、その上にダイヤモンド状被膜を形成した場合
と、(ニ)上記第1実施例において蒸発源13からRu原子
の代わりにSi原子を蒸発させてNi基板上にSi層の中
間層を形成し、その上にダイヤモンド状被膜を形成した
場合の密着性評価試験の結果を示す。尚、評価試験はビ
ッカース圧子を用いた一定荷重(荷重=1kg)の押し込
み試験により行い、表1はこの試験によりNi基板上の
ダイヤモンド状被膜に剥離が発生した個数を表してい
る。但し、各被膜処理に対する試験基板個数を夫々50個
とした。
Next, in Table 1, (a) the first step of forming the intermediate layer in the above-mentioned first embodiment is not carried out, and only the second step of forming the diamond-like film is carried out for about 15 minutes, and the diamond is directly deposited on the Ni substrate. A case where a diamond-like coating is formed, (b) a case where the intermediate layer of the Ru layer is formed on the Ni substrate using the first embodiment described above, and a diamond-like coating is formed thereon, (c) the second embodiment
In the case where the intermediate layer of the mixed layer of Ru and C is formed on the Ni substrate and the diamond-like coating is formed on the Ni substrate by using the embodiment, and (d) in the first embodiment, the evaporation source 13 of Ru atoms Instead, Si atoms are evaporated to form an intermediate layer of the Si layer on the Ni substrate, and the diamond-like coating is formed on the intermediate layer. The evaluation test was carried out by a constant load (load = 1 kg) indentation test using a Vickers indenter. Table 1 shows the number of peeled diamond-like coatings on the Ni substrate due to this test. However, the number of test substrates for each coating treatment was 50.

【0038】[0038]

【表1】 [Table 1]

【0039】表1より、処理(イ)の場合には剥離発生個
数が43個と多くなっており、中間層を設けずにNi基板
上に直接ダイヤモンド状被膜を形成した場合には、ダイ
ヤモンド状被膜の密着性が悪いことがわかる。これに対
して、中間層を形成し、その上にダイヤモンド状被膜を
形成した処理(ロ)〜(ニ)の場合には、剥離発生個数が夫
々7個,0個,16個と処理(イ)の場合に比べてかなり低
い値となっており、明らかにダイヤモンド状被膜の密着
性が向上していることがわかる。この要因の一つは、従
来、基板7とダイヤモンド状被膜との熱膨張係数の差に
より生じていた熱応力を中間層の存在により緩和させる
ためである、と考えられる。
From Table 1, in the case of the treatment (a), the number of peeling occurrences was as large as 43, and when the diamond-like coating was formed directly on the Ni substrate without providing the intermediate layer, the diamond-like coating was formed. It can be seen that the adhesion of the coating is poor. On the other hand, in the case of the treatments (b) to (d) in which the intermediate layer is formed and the diamond-like coating is formed on the intermediate layer, the number of peeling occurrences is 7, 0 and 16 respectively. The value is considerably lower than that in the above case, and it is clear that the adhesion of the diamond-like coating is improved. It is considered that one of the factors is to alleviate the thermal stress, which has conventionally been caused by the difference in thermal expansion coefficient between the substrate 7 and the diamond-like coating, due to the presence of the intermediate layer.

【0040】また、Ni基板上にRu層の中間層を形成
し、その上にダイヤモンド状被膜を形成した処理(ロ)の
場合には剥離発生個数が7個であるのに対し、Ni基板
上にSi層の中間層を形成し、その上にダイヤモンド状
被膜を形成した処理(ニ)の場合には剥離発生個数が16個
となっており、従来、セラミックス基板やSi基板に対
するダイヤモンド状被膜形成時の中間層として最適であ
ると言われているSi層よりNi基板に対してはRu層の
ほうが被膜間の密着性が優れていることがわかる。特
に、処理(ハ)の場合、即ち、Ni基板上に組成比率が
傾斜構造を有するRuとCの混合層の中間層を形成し、
その上にダイヤモンド状被膜を形成した場合には、剥離
発生個数が0個であり、被膜間の密着性が優れているこ
とがわかる。これは、中間層を含量比率が傾斜構造を有
するRuとCの混合層とすることにより、被膜間での界
面発生が防止されるためである、と考えられる。
Further, in the case of the treatment (B) in which the intermediate layer of the Ru layer is formed on the Ni substrate and the diamond-like coating is formed thereon, the number of peeling occurrences is 7, whereas on the Ni substrate In the case of the treatment (d) in which the intermediate layer of the Si layer is formed on and the diamond-like coating is formed thereon, the number of peeling occurrences is 16, and conventionally, the diamond-like coating is formed on the ceramic substrate or the Si substrate. It can be seen that the Ru layer is superior in adhesion between the coatings to the Ni substrate as compared with the Si layer which is said to be most suitable as the intermediate layer. In particular, in the case of treatment (c), that is, an intermediate layer of a mixed layer of Ru and C having a composition ratio gradient structure is formed on a Ni substrate,
When a diamond-like coating is formed on it, the number of occurrences of peeling is 0, which shows that the adhesion between the coatings is excellent. It is considered that this is because the formation of the interface between the coatings is prevented by forming the intermediate layer as a mixed layer of Ru and C having a graded content ratio.

【0041】更に、基板7としてAl、ステンレス鋼を
用いた場合についても、同様の評価試験を行ったが、上
記Ni基板の場合と略同様の結果が得られた。
Further, the same evaluation test was carried out when Al and stainless steel were used as the substrate 7, but substantially the same results as in the case of the above Ni substrate were obtained.

【0042】従って、Ni、Al、又はステンレス鋼から
なる基板上にダイヤモンド状被膜を形成する場合には、
Ruを含む中間層を設け、その上にダイヤモンド状被膜
を形成することにより、基板とダイヤモンド状被膜との
密着性を向上させ、ダイヤモンド状被膜の剥離発生が低
減できることになる。更に、中間層を組成比率が傾斜構
造を有するRuとCの混合層とすることにより、基板と
ダイヤモンド状被膜との密着性を一層向上させることが
可能となる。
Therefore, when a diamond-like coating is formed on a substrate made of Ni, Al, or stainless steel,
By providing the intermediate layer containing Ru and forming the diamond-like coating on it, the adhesion between the substrate and the diamond-like coating can be improved, and the occurrence of peeling of the diamond-like coating can be reduced. Furthermore, by forming the intermediate layer as a mixed layer of Ru and C having a compositional gradient structure, it becomes possible to further improve the adhesion between the substrate and the diamond-like coating.

【0043】尚、上記実施例では、ダイヤモンド状被膜
形成のためにECRプラズマCVD装置を用いた場合に
ついて説明したが、その他の各種プラズマCVD装置、
例えば高周波プラズマCVD装置やDCプラズマCVD
装置などを用いても構わない。
In the above-mentioned embodiment, the case where the ECR plasma CVD apparatus is used for forming the diamond-like film is explained, but other various plasma CVD apparatuses,
For example, high-frequency plasma CVD device and DC plasma CVD
A device or the like may be used.

【0044】また、上記実施例では、基板上にRuを主
成分とする中間層を形成するため、ECRプラズマCV
D装置の他に、蒸発源13、及びイオンガン14を用いて被
膜形成する場合について説明したが、この他に、メッキ
処理により基板上にRuを主成分とする中間層を形成し
たり、あるいは上記ECRプラズマCVD装置の反応ガ
ス導入管10からRuを含む原料ガスを供給して基板上に
Ruを主成分とする中間層を形成させても構わない。但
し、この場合には上記実施例の場合に比べて、中間層の
膜質制御が難しく、また、若干密着性が劣る虞れがあ
る。
In the above embodiment, since the intermediate layer containing Ru as the main component is formed on the substrate, the ECR plasma CV is used.
The case of forming a film by using the evaporation source 13 and the ion gun 14 in addition to the D device has been described. In addition to this, an intermediate layer containing Ru as a main component is formed on the substrate by plating, or A source gas containing Ru may be supplied from the reaction gas introducing pipe 10 of the ECR plasma CVD apparatus to form an intermediate layer containing Ru as a main component on the substrate. However, in this case, it is more difficult to control the film quality of the intermediate layer than in the case of the above-mentioned embodiment, and there is a possibility that the adhesion is slightly inferior.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上述べた通り本発明によれば、Ni、
若しくはAlを主成分とする基板、又はステンレス鋼か
らなる基板とダイヤモンド状被膜との間にRuを主成分
とする中間層を介在させたので、この両者の密着性を向
上させ、ダイヤモンド状被膜の剥離発生を低減させたダ
イヤモンド状被膜基板を形成することができる。
As described above, according to the present invention, Ni,
Alternatively, since an intermediate layer containing Ru as a main component is interposed between the substrate containing Al as a main component or a substrate made of stainless steel and the diamond-like film, the adhesion between the two is improved and the diamond-like film is formed. It is possible to form a diamond-like coated substrate with reduced occurrence of peeling.

【0046】また、本発明のダイヤモンド状被膜基板形
成方法によれば、第1工程において中間層の形成にイオ
ンのエネルギーを利用するため、イオン注入により中間
層を基板に強固に密着させることができる。
Further, according to the method for forming a diamond-like coated substrate of the present invention, since the energy of ions is used for forming the intermediate layer in the first step, the intermediate layer can be firmly adhered to the substrate by ion implantation. .

【0047】更に、本発明の第2のダイヤモンド状被膜
基板形成方法によれば、組成比率を傾斜構造とした中間
層が形成されるので、基板とダイヤモンド状被膜との密
着性がより一層向上させることが可能となる。
Further, according to the second diamond-like film substrate forming method of the present invention, since the intermediate layer having the composition ratio of the graded structure is formed, the adhesion between the substrate and the diamond-like film is further improved. It becomes possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明一実施例としての硬質炭素被膜形成のた
めの装置を示す概略断面図である。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing an apparatus for forming a hard carbon film as one embodiment of the present invention.

【図2】反応ガス導入管の平面図である。FIG. 2 is a plan view of a reaction gas introducing pipe.

【図3】図1実施例の装置を用いた場合の、時間と反応
ガス導入管10から供給するCH 4ガスの流量との関係を
示す図である。
FIG. 3 shows time and reaction when using the apparatus of FIG. 1 embodiment.
CH supplied from gas inlet pipe 10 FourThe relationship with the gas flow rate
FIG.

【図4】図1実施例の装置を用いた場合の、時間と蒸発
源13から放射するRuの蒸発速度との関係を示す図であ
る。
FIG. 4 is a diagram showing a relationship between time and an evaporation rate of Ru radiated from an evaporation source 13 when the apparatus of FIG. 1 embodiment is used.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 マイクロ波供給手段 2 導波管 3 マイクロ波導入窓 4 プラズマ発生室 5 放電ガス導入管 6 磁界発生手段 7 基板 8 真空チャンバ 9 筒状基板ホルダ 10 反応ガス導入管 11 高周波電源 12 筒状シールドカバー 13 蒸発源 14 イオンガン 15 第1開口部 16 第2開口部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Microwave supply means 2 Waveguide 3 Microwave introduction window 4 Plasma generation chamber 5 Discharge gas introduction tube 6 Magnetic field generation means 7 Substrate 8 Vacuum chamber 9 Cylindrical substrate holder 10 Reactive gas introduction tube 11 High frequency power supply 12 Cylindrical shield cover 13 Evaporation source 14 Ion gun 15 First opening 16 Second opening

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成6年2月18日[Submission date] February 18, 1994

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図3[Name of item to be corrected] Figure 3

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図3】 [Figure 3]

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図4[Name of item to be corrected] Fig. 4

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図4】 [Figure 4]

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木山 精一 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Seiichi Kiyama 2-5-5 Keihan Hondori, Moriguchi City, Osaka Sanyo Electric Co., Ltd.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ダイヤモンド状被膜をRuを主成分とする
中間層を介してNi、若しくはAlを主成分とする基板
上、又はステンレス鋼からなる基板上に設けたことを特
徴とするダイヤモンド状被膜基板。
1. A diamond-like coating provided on a substrate containing Ni or Al as a main component or on a substrate made of stainless steel via an intermediate layer containing Ru as a main component. substrate.
【請求項2】前記中間層は組成比率が傾斜構造を有する
RuとCの混合層であることを特徴とする請求項1記載
のダイヤモンド状被膜基板。
2. The diamond-like coated substrate according to claim 1, wherein the intermediate layer is a mixed layer of Ru and C having a composition ratio gradient structure.
【請求項3】真空チャンバ内に配置されたNi、若しく
はAlを主成分とする基板、又はステンレス鋼からなる
基板に向けて不活性ガスのイオンを放射すると同時に、
蒸発源からRu原子を前記基板に向けて放射することに
よって、前記基板の表面にRuからなる中間層を形成す
る第1工程と、 前記真空チャンバ内に供給した炭素を含む反応ガスをプ
ラズマ化し、該プラズマを前記中間層に向けて放射する
ことによって、該中間層の表面にダイヤモンド状被膜を
形成する第2工程と、からなるダイヤモンド状被膜基板
形成方法。
3. Irradiating an inert gas ion toward a substrate containing Ni or Al as a main component or a substrate made of stainless steel, which is placed in a vacuum chamber, and at the same time,
A first step of forming an intermediate layer of Ru on the surface of the substrate by radiating Ru atoms toward the substrate from an evaporation source; and converting the reaction gas containing carbon supplied into the vacuum chamber into plasma, A second step of forming a diamond-shaped coating film on the surface of the intermediate layer by radiating the plasma toward the intermediate layer, the method for forming a diamond-shaped coating substrate.
【請求項4】ガス供給量が所定値まで漸次増加するよう
に真空チャンバ内に供給した炭素を含む反応ガスをプラ
ズマ化し、該プラズマを前記真空チャンバ内に配置され
たNi、若しくはAlを主成分とする基板、又はステンレ
ス鋼からなる基板に向けて放射すると共に、前記基板に
向けて不活性ガスのイオンを放射すると同時に、蒸発源
からRu原子を蒸発速度が零値まで漸次低減するように
前記基板に向けて放射することによって、前記基板の表
面にRuとCの混合層からなる中間層を形成する第1工
程と、 前記真空チャンバ内に供給した炭素を含む反応ガスをプ
ラズマ化し、該プラズマを前記中間層に向けて放射する
ことによって、該中間層の表面にダイヤモンド状被膜を
形成する第2工程と、からなるダイヤモンド状被膜基板
形成方法。
4. A reaction gas containing carbon, which is supplied into the vacuum chamber so as to gradually increase the gas supply amount to a predetermined value, is made into plasma, and the plasma is mainly composed of Ni or Al arranged in the vacuum chamber. To emit a substrate made of stainless steel or a substrate made of stainless steel and emit ions of an inert gas toward the substrate, and at the same time, to reduce Ru atoms from the evaporation source to a zero value. A first step of forming an intermediate layer composed of a mixed layer of Ru and C on the surface of the substrate by radiating toward the substrate; and converting the reaction gas containing carbon supplied into the vacuum chamber into plasma, A second step of forming a diamond-like coating on the surface of the intermediate layer by irradiating the intermediate layer with a diamond-like coating substrate.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1109775C (en) * 1996-09-06 2003-05-28 三洋电机株式会社 Hard carbon coating
JP2007531997A (en) * 2004-03-31 2007-11-08 東京エレクトロン株式会社 Substrate processing method

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