JPH0742117Y2 - Ａｅ計測装置 - Google Patents
Ａｅ計測装置Info
- Publication number
- JPH0742117Y2 JPH0742117Y2 JP1985106073U JP10607385U JPH0742117Y2 JP H0742117 Y2 JPH0742117 Y2 JP H0742117Y2 JP 1985106073 U JP1985106073 U JP 1985106073U JP 10607385 U JP10607385 U JP 10607385U JP H0742117 Y2 JPH0742117 Y2 JP H0742117Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load
- input
- detection signal
- load detection
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案はAE（アコースティック エミッション）計測装
置に関し、特に、繰り返し負荷試験（以下、繰り返し試
験と称する）におけるAE計測に適したAE計測装置に関す
る。
置に関し、特に、繰り返し負荷試験（以下、繰り返し試
験と称する）におけるAE計測に適したAE計測装置に関す
る。
〈従来の技術〉 一般に、材料に繰り返し荷重を与えつつAE計測を行うに
当たっては、材料に作用する荷重，伸びの検出信号のほ
かに、繰り返し回数も重要なファクタとなる。
当たっては、材料に作用する荷重，伸びの検出信号のほ
かに、繰り返し回数も重要なファクタとなる。
従来、繰り返し試験に用いられるAE計測装置では、上述
の繰り返し回数を入力する方法として、材料試験機か
ら繰り返し回数のデータを入力する、あるいは、試験
開始時からの経過時間と、試験機による繰り返し周波数
とから繰り返し数を求める、のいずれかを採っている。
の繰り返し回数を入力する方法として、材料試験機か
ら繰り返し回数のデータを入力する、あるいは、試験
開始時からの経過時間と、試験機による繰り返し周波数
とから繰り返し数を求める、のいずれかを採っている。
〈考案が解決しようとする問題点〉 上述したの従来方法によると、単純引張試験における
AE計測に比して、入力信号数を多くする必要があり、ま
たの従来方法では、試験機を途中で停止する場合に、
その停止時間を管理する必要があって、不便である。
AE計測に比して、入力信号数を多くする必要があり、ま
たの従来方法では、試験機を途中で停止する場合に、
その停止時間を管理する必要があって、不便である。
本考案の目的は、繰り返し試験におけるAE計測時におい
ても、単純引張試験と同数の入力信号数で、かつ、試験
機の停止時間を管理することなく、繰り返し回数を求め
ることのできるAE計測装置を提供することにある。
ても、単純引張試験と同数の入力信号数で、かつ、試験
機の停止時間を管理することなく、繰り返し回数を求め
ることのできるAE計測装置を提供することにある。
〈問題点を解決する為の手段〉 上記目的を達成する為の構成を、実施例図面である第１
図を参照しつつ説明すると、本考案は、材料から発生す
るAE信号を入力するとともに、材料に負荷される荷重に
対応する荷重検出信号を入力して、材料のAEの計測を行
う装置において、前記荷重検出信号が入力され、この荷
重検出信号レベルと基準電圧発生部からの基準電圧信号
レベルとを比較する電圧比較部を備えるとともに、その
電圧比較部の出力を計数し、材料に作用した負荷の繰り
返し回数を求める計数部を備えたことを特徴とする。
図を参照しつつ説明すると、本考案は、材料から発生す
るAE信号を入力するとともに、材料に負荷される荷重に
対応する荷重検出信号を入力して、材料のAEの計測を行
う装置において、前記荷重検出信号が入力され、この荷
重検出信号レベルと基準電圧発生部からの基準電圧信号
レベルとを比較する電圧比較部を備えるとともに、その
電圧比較部の出力を計数し、材料に作用した負荷の繰り
返し回数を求める計数部を備えたことを特徴とする。
〈作用〉 基準電圧を、第２図に示す如く、荷重検出信号の略中央
値等にあらかじめ設定しておくことにより、電圧比較部
の出力は、繰り返しサイクルの１サイクルごとに１回づ
つ“H"となり、これを計数することにより、繰り返し回
数を求めることができる。
値等にあらかじめ設定しておくことにより、電圧比較部
の出力は、繰り返しサイクルの１サイクルごとに１回づ
つ“H"となり、これを計数することにより、繰り返し回
数を求めることができる。
〈実施例〉 本考案の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第１図は本考案実施例の構成を示すブロック図である。
材料から発生するAE波は、AEセンサで検出されてAE信号
となってAE信号処理部４に入力される。AE信号処理部４
では、公知の手法によってその入力信号を処理し、その
処理結果をマイクロコンピュータ１に伝送する。一方、
材料に作用する荷重は、ロードセル等によって検出さ
れ、その検出信号はＡ−Ｄ変換器５によってデジタル化
され、マイクロコンピュータ１に採り込まれる。マイク
ロコンピュータ１では、この荷重データと上述のAEデー
タを関連づけてデータ処理し、AE計測データとしてメモ
リ等に記憶する。以上は公知である。
となってAE信号処理部４に入力される。AE信号処理部４
では、公知の手法によってその入力信号を処理し、その
処理結果をマイクロコンピュータ１に伝送する。一方、
材料に作用する荷重は、ロードセル等によって検出さ
れ、その検出信号はＡ−Ｄ変換器５によってデジタル化
され、マイクロコンピュータ１に採り込まれる。マイク
ロコンピュータ１では、この荷重データと上述のAEデー
タを関連づけてデータ処理し、AE計測データとしてメモ
リ等に記憶する。以上は公知である。
さて、荷重検出信号は、Ａ−Ｄ変換器５に入力されると
ともに、コンパレータ２にも入力される。コンパレータ
２は、入力された荷重検出信号の電圧レベルを、基準電
圧信号レベルと比較し、入力信号レベルが基準電圧レベ
ルよりも大きいときに、その出力を“H"とする。コンパ
レータ２の出力はカウンタ３に入力されており、このカ
ウンタ３は入力信号のパルス数を計数して、その結果を
刻々とマイクロコンピュータ１に供給するよう構成され
ている。なお、コンパレータ２の基準電圧信号は、Ｄ−
Ａ変換器６を介してマイクロコンピュータ１から供給さ
れる。
ともに、コンパレータ２にも入力される。コンパレータ
２は、入力された荷重検出信号の電圧レベルを、基準電
圧信号レベルと比較し、入力信号レベルが基準電圧レベ
ルよりも大きいときに、その出力を“H"とする。コンパ
レータ２の出力はカウンタ３に入力されており、このカ
ウンタ３は入力信号のパルス数を計数して、その結果を
刻々とマイクロコンピュータ１に供給するよう構成され
ている。なお、コンパレータ２の基準電圧信号は、Ｄ−
Ａ変換器６を介してマイクロコンピュータ１から供給さ
れる。
次に作用を述べる。まず、試験に先立って、材料試験機
により材料に負荷すべき繰り返し荷重の中間値に対応す
る荷重検出信号レベルと等価な電圧値を、マイクロコン
ピュータ１のメモリに格納しておく。この電圧値を持つ
信号を、以後、コンパレータ２の基準電圧信号として供
給するわけである。これにより、コンパレータ２は、第
２図にその入出力信号波形図を示す如く、荷重検出信号
の繰り返し１サイクルごとにその出力が“H"となる。従
って、カウンタ３の計数値は、材料に作用する荷重の繰
り返し回数と一致することになる。
により材料に負荷すべき繰り返し荷重の中間値に対応す
る荷重検出信号レベルと等価な電圧値を、マイクロコン
ピュータ１のメモリに格納しておく。この電圧値を持つ
信号を、以後、コンパレータ２の基準電圧信号として供
給するわけである。これにより、コンパレータ２は、第
２図にその入出力信号波形図を示す如く、荷重検出信号
の繰り返し１サイクルごとにその出力が“H"となる。従
って、カウンタ３の計数値は、材料に作用する荷重の繰
り返し回数と一致することになる。
〈効果〉 以上説明したように、本考案によれば、繰り返し試験に
おけるAE計測時において、荷重検出信号からその繰り返
し数をAE計測装置自体で検知することができるから、従
来のように材料試験機から繰り返し回数データを入力す
る必要がなく、単純引張試験時のAE計測と同等の入力端
子数で繰り返し試験に対応できるAE計測装置を得ること
ができ、端子数の標準化が可能となる。しかも、試験途
中において負荷を停止しても、その停止時間を管理する
必要もなく、使用上の繁雑さもない。
おけるAE計測時において、荷重検出信号からその繰り返
し数をAE計測装置自体で検知することができるから、従
来のように材料試験機から繰り返し回数データを入力す
る必要がなく、単純引張試験時のAE計測と同等の入力端
子数で繰り返し試験に対応できるAE計測装置を得ること
ができ、端子数の標準化が可能となる。しかも、試験途
中において負荷を停止しても、その停止時間を管理する
必要もなく、使用上の繁雑さもない。
第１図は本考案実施例の構成を示すブロック図、第２図
はそのコンパレータ２の入出力信号波形の例を示す図で
ある。 １……マイクロコンピュータ ２……コンパレータ、３……カウンタ ６……Ｄ−Ａ変換器
はそのコンパレータ２の入出力信号波形の例を示す図で
ある。 １……マイクロコンピュータ ２……コンパレータ、３……カウンタ ６……Ｄ−Ａ変換器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−97238（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−129360（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−155881（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−228161（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】材料から発生するAE信号を入力するととも
に、材料に負荷される荷重に対応する荷重検出信号を入
力して、材料のAEの計測を行う装置において、前記荷重
検出信号が入力され、この荷重検出信号レベルと基準電
圧発生部からの基準電圧信号レベルとを比較する電圧比
較部を備えるとともに、その電圧比較部の出力を計数
し、材料に作用した負荷の繰り返し回数を求める計数部
を備えたことを特徴とするAE計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985106073U JPH0742117Y2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | Ａｅ計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985106073U JPH0742117Y2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | Ａｅ計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6214369U JPS6214369U (ja) | 1987-01-28 |
| JPH0742117Y2 true JPH0742117Y2 (ja) | 1995-09-27 |
Family
ID=30981098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985106073U Expired - Lifetime JPH0742117Y2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 | Ａｅ計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0742117Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6097238A (ja) * | 1983-11-01 | 1985-05-31 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | き裂測定装置 |
-
1985
- 1985-07-10 JP JP1985106073U patent/JPH0742117Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6214369U (ja) | 1987-01-28 |
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