JPH0744704B2 - エッジノイズ測定装置 - Google Patents
エッジノイズ測定装置Info
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- JPH0744704B2 JPH0744704B2 JP60270529A JP27052985A JPH0744704B2 JP H0744704 B2 JPH0744704 B2 JP H0744704B2 JP 60270529 A JP60270529 A JP 60270529A JP 27052985 A JP27052985 A JP 27052985A JP H0744704 B2 JPH0744704 B2 JP H0744704B2
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- noise
- edge noise
- circuit
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本発明は、少なくとも再生機能を有するビデオテープレ
コーダ等の再生装置のエッジノイズを測定するエッジノ
イズ測定装置に関する。
コーダ等の再生装置のエッジノイズを測定するエッジノ
イズ測定装置に関する。
B.発明の概要 本発明は、矩形波状の輝度信号がエンファシス処理され
て記録された記録媒体を再生し、得られる再生信号をデ
ィエンファシス処理した再生輝度信号のエッジノイズを
測定するエッジノイズ測定装置において、取り出し手段
が上記再生輝度信号から上記矩形波状の輝度信号のくり
返し周波数成分を除去して取り出したエッジノイズを、
検波手段が検波し、測定手段が該検波出力のレベルを測
定するので、エッジノイズ成分を定量的に測定できる。
て記録された記録媒体を再生し、得られる再生信号をデ
ィエンファシス処理した再生輝度信号のエッジノイズを
測定するエッジノイズ測定装置において、取り出し手段
が上記再生輝度信号から上記矩形波状の輝度信号のくり
返し周波数成分を除去して取り出したエッジノイズを、
検波手段が検波し、測定手段が該検波出力のレベルを測
定するので、エッジノイズ成分を定量的に測定できる。
C.従来の技術 ビデオテープレコーダ（VTR）において、一般に、カラ
ー映像信号は輝度信号と色信号成分とに分離され、それ
ぞれ所定の処理が施された後、混合されて磁気テープに
記録される。また、再生時には、これと逆の処理が行わ
れ再生カラー映像信号が得られる。ここで、輝度信号に
ついては、通常、第４図に示すような系により記録・再
生が行われる。すなわち、端子101に供給された輝度信
号は、プリエンファシス回路102により高域成分が強調
された後、FM変調回路103により周波数変調されて磁気
ヘッド104により磁気テープＴに記録されるようになっ
ている。上記プリエンファシス回路102は、例えば高密
度記録のビデオテープにおいてはノンリニア特性のもの
が用いられ、実際には第５図に示すように、エンファシ
ス回路102Aとコンプレッサ102Bとから成っている。上記
コンプレッサ102Bは圧縮動作を行うものであり、結果的
に小振幅の信号に対してはエンファシス量が多くなり、
大振幅の信号に対しては過変調防止のためエンファシス
量が少なくなるようになっている。
ー映像信号は輝度信号と色信号成分とに分離され、それ
ぞれ所定の処理が施された後、混合されて磁気テープに
記録される。また、再生時には、これと逆の処理が行わ
れ再生カラー映像信号が得られる。ここで、輝度信号に
ついては、通常、第４図に示すような系により記録・再
生が行われる。すなわち、端子101に供給された輝度信
号は、プリエンファシス回路102により高域成分が強調
された後、FM変調回路103により周波数変調されて磁気
ヘッド104により磁気テープＴに記録されるようになっ
ている。上記プリエンファシス回路102は、例えば高密
度記録のビデオテープにおいてはノンリニア特性のもの
が用いられ、実際には第５図に示すように、エンファシ
ス回路102Aとコンプレッサ102Bとから成っている。上記
コンプレッサ102Bは圧縮動作を行うものであり、結果的
に小振幅の信号に対してはエンファシス量が多くなり、
大振幅の信号に対しては過変調防止のためエンファシス
量が少なくなるようになっている。
また、再生時には、磁気テープＴから磁気ヘッド105に
より取り出された信号は、FM復調回路106により復調さ
れた後、ディエンファシス回路107により元の特性に戻
されて端子108に再生輝度信号が得られるようになって
いる。上記ディエンファシス回路107は、第６図に示す
ように、伸長動作を行うエキスパンダ107Aとディエンフ
ァシス回路107Bとから成っており、プリエンファシス回
路102とは逆特性の動作が行われる。
より取り出された信号は、FM復調回路106により復調さ
れた後、ディエンファシス回路107により元の特性に戻
されて端子108に再生輝度信号が得られるようになって
いる。上記ディエンファシス回路107は、第６図に示す
ように、伸長動作を行うエキスパンダ107Aとディエンフ
ァシス回路107Bとから成っており、プリエンファシス回
路102とは逆特性の動作が行われる。
D.発明が解決しようとする問題点 ところで、上述した輝度信号の記録・再生系において、
再生時に磁気テープＴ、磁気ヘッド105による磁電変換
系等のノイズが重畳された場合には、再生輝度信号に影
響を与えることがある。たとえば、第７図（Ａ）に示す
ような大振幅の矩形波状の輝度信号がエンファシス回路
102Aに供給されたとすると、この信号は第７図（Ｂ）に
示すよう、該エンファシス回路102Aによりエッジ部が強
調され、次に第７図（Ｃ）に示すように、上記強調され
たエッジ部がコンプレッサ102Bにより破線で示す所定の
レベルまで圧縮される。そして、再生時においてノイズ
が重畳され、第７図（Ｄ）に示すような信号がエキスパ
ンダ107Aに供給されたとすると、この信号は第７図
（Ｅ）に示すように、該エキスパンダ107Aにより元のレ
ベルに戻される。しかし、これに伴いエッジ部付近のノ
イズが強調されてしまう。そして、ディエンファシス回
路107Bを通過することによりノイズ成分が積分されるの
で出力される再生輝度信号は、第７図（Ｆ）に示すよう
に、エッジ部付近の横スジが包絡線状に変動した再生輝
度信号となる。すなわち、ディエンファシス回路107Bか
ら出力された再生輝度信号には、エッジノイズが重畳さ
れている。このようなエッジノイズは、大振幅の矩形波
等の波形信号をプリエンファシス回路102を用いて記録
し、ディエンファシス回路107を用いて再生したときの
み発生するものであり、画質に大きな影響を与えるもの
である。このため、プリエンファシス回路102及びディ
エンファシス回路107を用いた輝度信号の記録再生にあ
っては、エッジノイズ量をビデオテープレコーダ等の記
録再生装置の画質評価のための一要素とすることが望ま
しい。ところが、従来のノイズ測定装置で一般に用いら
れているノイズ測定方法は、例えば50％白レベルの輝度
信号等を用いたものであり、上記エッジノイズを測定す
ることは不可能であった。
再生時に磁気テープＴ、磁気ヘッド105による磁電変換
系等のノイズが重畳された場合には、再生輝度信号に影
響を与えることがある。たとえば、第７図（Ａ）に示す
ような大振幅の矩形波状の輝度信号がエンファシス回路
102Aに供給されたとすると、この信号は第７図（Ｂ）に
示すよう、該エンファシス回路102Aによりエッジ部が強
調され、次に第７図（Ｃ）に示すように、上記強調され
たエッジ部がコンプレッサ102Bにより破線で示す所定の
レベルまで圧縮される。そして、再生時においてノイズ
が重畳され、第７図（Ｄ）に示すような信号がエキスパ
ンダ107Aに供給されたとすると、この信号は第７図
（Ｅ）に示すように、該エキスパンダ107Aにより元のレ
ベルに戻される。しかし、これに伴いエッジ部付近のノ
イズが強調されてしまう。そして、ディエンファシス回
路107Bを通過することによりノイズ成分が積分されるの
で出力される再生輝度信号は、第７図（Ｆ）に示すよう
に、エッジ部付近の横スジが包絡線状に変動した再生輝
度信号となる。すなわち、ディエンファシス回路107Bか
ら出力された再生輝度信号には、エッジノイズが重畳さ
れている。このようなエッジノイズは、大振幅の矩形波
等の波形信号をプリエンファシス回路102を用いて記録
し、ディエンファシス回路107を用いて再生したときの
み発生するものであり、画質に大きな影響を与えるもの
である。このため、プリエンファシス回路102及びディ
エンファシス回路107を用いた輝度信号の記録再生にあ
っては、エッジノイズ量をビデオテープレコーダ等の記
録再生装置の画質評価のための一要素とすることが望ま
しい。ところが、従来のノイズ測定装置で一般に用いら
れているノイズ測定方法は、例えば50％白レベルの輝度
信号等を用いたものであり、上記エッジノイズを測定す
ることは不可能であった。
そこで、本発明は上述した従来の問題点に鑑みて提案さ
れたものであり、エッジノイズを定量的に測定できるよ
うな再生装置のエッジノイズ測定装置を提供することを
目的とする。
れたものであり、エッジノイズを定量的に測定できるよ
うな再生装置のエッジノイズ測定装置を提供することを
目的とする。
E.問題点を解決するための手段 本発明のエッジノイズ測定装置は、上述した目的を達成
するために、矩形波状の輝度信号がエンファシス処理さ
れて記録された記録媒体を再生し、得られる再生信号を
ディエンファシス処理した再生輝度信号のエッジノイズ
を測定するエッジノイズ測定装置において、上記再生輝
度信号から上記矩形波状の輝度信号のくり返し周波数成
分を除去し、得られる信号をエッジノイズとして取り出
す取り出し手段と、上記取り出し手段の出力を検波する
検波手段と、上記検波手段の出力レベルを測定する測定
手段とを有することを特徴としている。
するために、矩形波状の輝度信号がエンファシス処理さ
れて記録された記録媒体を再生し、得られる再生信号を
ディエンファシス処理した再生輝度信号のエッジノイズ
を測定するエッジノイズ測定装置において、上記再生輝
度信号から上記矩形波状の輝度信号のくり返し周波数成
分を除去し、得られる信号をエッジノイズとして取り出
す取り出し手段と、上記取り出し手段の出力を検波する
検波手段と、上記検波手段の出力レベルを測定する測定
手段とを有することを特徴としている。
F.作用 本発明では、エンファシス処理が施されて記録媒体に記
録された矩形波状の輝度信号にディエンファシス処理を
施して得られた再生輝度信号のエッジノイズを、取り出
し手段が上記再生輝度信号から上記矩形波状の輝度信号
のくり返し周波数成分を除去して取り出し、測定手段が
検波手段を介した上記エッジノイズの検波出力をエッジ
ノイル成分として定量的に測定する。この測定手段が定
量的に測定したエッジノイズ量はビデオテープレコーダ
等の再生装置の設計時における画質評価のための一要素
であるので、このエッジノイズ測定装置が測定したエッ
ジノイズ量を用いれば、より的確な画質評価を行うこと
ができる。
録された矩形波状の輝度信号にディエンファシス処理を
施して得られた再生輝度信号のエッジノイズを、取り出
し手段が上記再生輝度信号から上記矩形波状の輝度信号
のくり返し周波数成分を除去して取り出し、測定手段が
検波手段を介した上記エッジノイズの検波出力をエッジ
ノイル成分として定量的に測定する。この測定手段が定
量的に測定したエッジノイズ量はビデオテープレコーダ
等の再生装置の設計時における画質評価のための一要素
であるので、このエッジノイズ測定装置が測定したエッ
ジノイズ量を用いれば、より的確な画質評価を行うこと
ができる。
G.実施例 以下、本発明に係るエッジノイズ測定装置の実施例につ
いて図面を参照しながら説明する。
いて図面を参照しながら説明する。
この実施例は、第４図に示したビデオテープレコーダに
おける輝度信号の記録・再生系において、再生時に重畳
されたエッジノイズを測定するエッジノイズ測定装置で
ある。
おける輝度信号の記録・再生系において、再生時に重畳
されたエッジノイズを測定するエッジノイズ測定装置で
ある。
第１図は本実施例における各部の波形を示す波形図であ
り、第２図はエッジノイズ測定装置の一例を示すブロッ
ク図である。先ず、第４図の記録・再生系において、端
子101に第１図（Ａ）に示すようなくり返し周期T0の矩
形形状の輝度信号（矩形波重畳コンポジット信号）を供
給し、記録媒体である磁気テープＴに記録する。上記輝
度信号のくり返し周波数f0（＝1/T0）は、500kHz〜2MHz
程度が望ましく、たとえば700kHzとすれば良い。ここ
で、上記磁気テープＴに記録された輝度信号を再生する
ことによって得られた再生輝度信号は、第４図に示す記
録時のプリエンファシス回路102と再生時のディエンフ
ァシス回路107でのエンファシス処理とディエンファシ
ス処理が施されることにより、第１図（Ｂ）に示すよう
にエッジ部付近の横スジが包絡線状に変動した再生輝度
信号となる。すなわち、ディエンファシス回路107Bから
出力された再生輝度信号には、エッジノイズが重畳され
る。この第１図（Ｂ）に示す再生輝度信号は端子108か
ら第２図に示すノイズ測定回路の端子１を介してローパ
スフィルタ（以下、LPFという。）２及び同期分離回路
３にそれぞれ供給される。上記LPF2は第１図（Ａ）に示
した矩形波状の輝度信号のくり返し周波数f0よりもカッ
トオフ周波数fcの低い（fc＜f0）のものであり、該LPF2
により矩形波状の輝度信号のくり返し周波数f0以上の高
い周波数成分が除去される。一方、同期分離回路３では
同期信号が取り出され、これに応じてゲートパルス発生
回路４によりゲートパルスが発生される。そして、この
ゲートパルスによりゲート回路５が制御され、LPF2の出
力から同期信号成分が除去される。すなわち、LPF2及び
ゲート回路５により、たとえば第１図（Ｃ）に示すよう
な上記輝度信号のくり返し周波数f0より低い周波数のノ
イズ成分が取り出される。つまり、この第１図（Ｃ）に
示すノイズ成分は、第１図（Ｂ）に示す再生輝度信号の
エッジノイズの低周波ノイズ成分である。この低周波エ
ッジノイズ成分は検波手段である検波回路６で検波され
た後、測定手段である電圧計７に供給され、その量が電
圧として測定される。このように、第２図のノイズ測定
回路を用いた場合には、矩形波状の輝度信号のくり返し
周波数f0より低い周波数のエッジノイズ成分を定量的に
測定することができる。ここで、この低い周波数のエッ
ジノイズ成分の量は、ビデオテープレコーダ等の記録再
生装置の設定時における画質評価のための一要素となる
ので、的確な画質評価を行うことができる。
り、第２図はエッジノイズ測定装置の一例を示すブロッ
ク図である。先ず、第４図の記録・再生系において、端
子101に第１図（Ａ）に示すようなくり返し周期T0の矩
形形状の輝度信号（矩形波重畳コンポジット信号）を供
給し、記録媒体である磁気テープＴに記録する。上記輝
度信号のくり返し周波数f0（＝1/T0）は、500kHz〜2MHz
程度が望ましく、たとえば700kHzとすれば良い。ここ
で、上記磁気テープＴに記録された輝度信号を再生する
ことによって得られた再生輝度信号は、第４図に示す記
録時のプリエンファシス回路102と再生時のディエンフ
ァシス回路107でのエンファシス処理とディエンファシ
ス処理が施されることにより、第１図（Ｂ）に示すよう
にエッジ部付近の横スジが包絡線状に変動した再生輝度
信号となる。すなわち、ディエンファシス回路107Bから
出力された再生輝度信号には、エッジノイズが重畳され
る。この第１図（Ｂ）に示す再生輝度信号は端子108か
ら第２図に示すノイズ測定回路の端子１を介してローパ
スフィルタ（以下、LPFという。）２及び同期分離回路
３にそれぞれ供給される。上記LPF2は第１図（Ａ）に示
した矩形波状の輝度信号のくり返し周波数f0よりもカッ
トオフ周波数fcの低い（fc＜f0）のものであり、該LPF2
により矩形波状の輝度信号のくり返し周波数f0以上の高
い周波数成分が除去される。一方、同期分離回路３では
同期信号が取り出され、これに応じてゲートパルス発生
回路４によりゲートパルスが発生される。そして、この
ゲートパルスによりゲート回路５が制御され、LPF2の出
力から同期信号成分が除去される。すなわち、LPF2及び
ゲート回路５により、たとえば第１図（Ｃ）に示すよう
な上記輝度信号のくり返し周波数f0より低い周波数のノ
イズ成分が取り出される。つまり、この第１図（Ｃ）に
示すノイズ成分は、第１図（Ｂ）に示す再生輝度信号の
エッジノイズの低周波ノイズ成分である。この低周波エ
ッジノイズ成分は検波手段である検波回路６で検波され
た後、測定手段である電圧計７に供給され、その量が電
圧として測定される。このように、第２図のノイズ測定
回路を用いた場合には、矩形波状の輝度信号のくり返し
周波数f0より低い周波数のエッジノイズ成分を定量的に
測定することができる。ここで、この低い周波数のエッ
ジノイズ成分の量は、ビデオテープレコーダ等の記録再
生装置の設定時における画質評価のための一要素となる
ので、的確な画質評価を行うことができる。
第３図にエッジノイズ測定回路の他の例のブロック図を
示す。このエッジノイズ測定回路を用いてエッジノイズ
の測定を行う場合においても、まず、第４図に示した記
録・再生系の端子101に第１図（Ａ）に示すようなくり
返し周期T0の矩形波状の輝度信号を供給し、磁気テープ
Ｔに記録する。ここでも、上記磁気テープＴに記録され
た輝度信号を再生することによって得られた再生輝度信
号には、第４図に示す記録時のプリエンファシス回路10
2と再生時のディエンファシス回路107で所定の処理が施
されることにより、第１図（Ｂ）に示すようにエッジノ
イズが残存してしまう。この第１図（Ｂ）に示す再生輝
度信号は端子108から第３図に示すノイズ測定回路の端
子11を介してゲート回路12及び同期分離回路13にそれぞ
れ供給される。上記同期分離回路13では同期信号が取り
出され、これに応じてゲートパルス発生回路14によりゲ
ートパルスが発生される。そして、このゲートパルスに
より上記ゲート回路12が制御され、端子11に供給された
再生信号から同期信号成分が除去される。上記ゲート回
路12からの出力はLPF15及びバンドパスフィルタ（以
下、BPFという。）16にそれぞれ送られる。上記LPF15は
第２図におけるLPF2と等しいカットオフ周波数fcを有す
るものであり、該LPF15によりたとえば第１図（Ｃ）に
示すような矩形波状の輝度信号のくり返し周波数f0より
低い周波数のノイズ成分が取り出される。つまり、この
低域ノイズ成分も第１図（Ｃ）に示すように、第１図
（Ｂ）に示す再生輝度信号のエッジノイズの低周波成分
である。この低周波エッジノイズ成分は検波回路17で検
波された後、加算器18および切換スイッチ19の被選択端
子19aに送られる。また、上記BPF16は上記くり返し周波
数f0と2f0の間の通過帯域fB（f0＜fB＜2f0）を有するも
のであり、該BPF16により上記くり返し周波数f0より高
い周波数のノイズ成分が取り出される。この高域ノイズ
成分は検波回路20で検波され、上記加算器18及び切換ス
イッチ19の被選択端子19cに送られる。上記加算器18か
らの出力は切換スイッチ21（被選択端子21aおよび選択
端子21c）を介して上記切換スイッチ19の被選択端子19b
に送られる。そして、上記スイッチ19を切換接続するこ
とにより、選択端子19dに接続された電圧形22に各部か
らの出力が選択的に供給される。すなわち、被選択端子
19aを選択すると低域ノイズが、被選択端子19bを選択す
ると全域ノイズ（低域ノイズ＋高域ノイズ）が、被選択
端子19cを選択すると高域ノイズがそれぞれ電圧形22に
供給され、３種類のノイズの測定が選択的に行えるよう
になっている。
示す。このエッジノイズ測定回路を用いてエッジノイズ
の測定を行う場合においても、まず、第４図に示した記
録・再生系の端子101に第１図（Ａ）に示すようなくり
返し周期T0の矩形波状の輝度信号を供給し、磁気テープ
Ｔに記録する。ここでも、上記磁気テープＴに記録され
た輝度信号を再生することによって得られた再生輝度信
号には、第４図に示す記録時のプリエンファシス回路10
2と再生時のディエンファシス回路107で所定の処理が施
されることにより、第１図（Ｂ）に示すようにエッジノ
イズが残存してしまう。この第１図（Ｂ）に示す再生輝
度信号は端子108から第３図に示すノイズ測定回路の端
子11を介してゲート回路12及び同期分離回路13にそれぞ
れ供給される。上記同期分離回路13では同期信号が取り
出され、これに応じてゲートパルス発生回路14によりゲ
ートパルスが発生される。そして、このゲートパルスに
より上記ゲート回路12が制御され、端子11に供給された
再生信号から同期信号成分が除去される。上記ゲート回
路12からの出力はLPF15及びバンドパスフィルタ（以
下、BPFという。）16にそれぞれ送られる。上記LPF15は
第２図におけるLPF2と等しいカットオフ周波数fcを有す
るものであり、該LPF15によりたとえば第１図（Ｃ）に
示すような矩形波状の輝度信号のくり返し周波数f0より
低い周波数のノイズ成分が取り出される。つまり、この
低域ノイズ成分も第１図（Ｃ）に示すように、第１図
（Ｂ）に示す再生輝度信号のエッジノイズの低周波成分
である。この低周波エッジノイズ成分は検波回路17で検
波された後、加算器18および切換スイッチ19の被選択端
子19aに送られる。また、上記BPF16は上記くり返し周波
数f0と2f0の間の通過帯域fB（f0＜fB＜2f0）を有するも
のであり、該BPF16により上記くり返し周波数f0より高
い周波数のノイズ成分が取り出される。この高域ノイズ
成分は検波回路20で検波され、上記加算器18及び切換ス
イッチ19の被選択端子19cに送られる。上記加算器18か
らの出力は切換スイッチ21（被選択端子21aおよび選択
端子21c）を介して上記切換スイッチ19の被選択端子19b
に送られる。そして、上記スイッチ19を切換接続するこ
とにより、選択端子19dに接続された電圧形22に各部か
らの出力が選択的に供給される。すなわち、被選択端子
19aを選択すると低域ノイズが、被選択端子19bを選択す
ると全域ノイズ（低域ノイズ＋高域ノイズ）が、被選択
端子19cを選択すると高域ノイズがそれぞれ電圧形22に
供給され、３種類のノイズの測定が選択的に行えるよう
になっている。
また、予め、たとえば50％白レベルの輝度信号を用い
て、LPF23通過後の検波回路24の出力（ノイズ成分）を
レベルホールド回路25によりホールドしておき、加算器
26による上記全域ノイズとの差分を測定することもでき
る。この時、切換スイッチ19については被選択端子19b
が、切換スイッチ21については被選択スイッチ21bがそ
れぞれ選択されていることも勿論である。なお、上記LP
F23のカットオフ周波数fcはたとえば4MHz程度である。
更に、ゲート回路12からの出力をスペクトラムアナライ
ザ27で観測すれば、ノイズの分布状況が分かりより細か
な測定を行うことができる。このように、第３図のノイ
ズ測定回路を用いた場合には、エッジノイズの低域成分
ばかりでなく、高域成分、全域成分等も定量的に測定す
ることができるが、各帯域のエッジノイズ成分の量は、
ビデオテープレコーダ等の記録再生装置の設計時におけ
る画質評価のための一要素となるので、より的確な画質
評価を行うことができる。
て、LPF23通過後の検波回路24の出力（ノイズ成分）を
レベルホールド回路25によりホールドしておき、加算器
26による上記全域ノイズとの差分を測定することもでき
る。この時、切換スイッチ19については被選択端子19b
が、切換スイッチ21については被選択スイッチ21bがそ
れぞれ選択されていることも勿論である。なお、上記LP
F23のカットオフ周波数fcはたとえば4MHz程度である。
更に、ゲート回路12からの出力をスペクトラムアナライ
ザ27で観測すれば、ノイズの分布状況が分かりより細か
な測定を行うことができる。このように、第３図のノイ
ズ測定回路を用いた場合には、エッジノイズの低域成分
ばかりでなく、高域成分、全域成分等も定量的に測定す
ることができるが、各帯域のエッジノイズ成分の量は、
ビデオテープレコーダ等の記録再生装置の設計時におけ
る画質評価のための一要素となるので、より的確な画質
評価を行うことができる。
なお、本発明に係るエッジノイズ測定装置には、ビデオ
テープレコーダのノイズに限らず、ビデオディスクプレ
ーヤ等のノイズを測定させても良い。たとえば、ビデオ
ディスクプレーヤの場合には、予め矩形波状の輝度信号
が記録されたディスクを再生してノイズの測定を行うよ
うにすれば良い。
テープレコーダのノイズに限らず、ビデオディスクプレ
ーヤ等のノイズを測定させても良い。たとえば、ビデオ
ディスクプレーヤの場合には、予め矩形波状の輝度信号
が記録されたディスクを再生してノイズの測定を行うよ
うにすれば良い。
H.発明の効果 上述した実施例の説明から明かなように、本発明のエッ
ジノイズ測定装置によれば、エンファシス処理が施され
て記録媒体に記録された矩形波状の輝度信号にディエン
ファシス処理を施して得られた再生輝度信号のエッジノ
イズを測定する際に、取り出し手段が上記再生輝度信号
から上記矩形波状の輝度信号の繰り返し周波数成分を除
去してエッジノイズを取り出し、検波手段が該エッジノ
イズを検波し、測定手段が該検波出力をエッジノイズ成
分として測定するので、エッジノイズを定量的に測定で
きる。このエッジノイズ量はビデオテープレコーダ等の
再生装置の設計時における画質評価のための一要素とす
ることができるので、本発明に係るエッジノイズ測定装
置を用いれば、より的確な画質評価を行うことができ
る。
ジノイズ測定装置によれば、エンファシス処理が施され
て記録媒体に記録された矩形波状の輝度信号にディエン
ファシス処理を施して得られた再生輝度信号のエッジノ
イズを測定する際に、取り出し手段が上記再生輝度信号
から上記矩形波状の輝度信号の繰り返し周波数成分を除
去してエッジノイズを取り出し、検波手段が該エッジノ
イズを検波し、測定手段が該検波出力をエッジノイズ成
分として測定するので、エッジノイズを定量的に測定で
きる。このエッジノイズ量はビデオテープレコーダ等の
再生装置の設計時における画質評価のための一要素とす
ることができるので、本発明に係るエッジノイズ測定装
置を用いれば、より的確な画質評価を行うことができ
る。
第１図は本発明の実施例のエッジノイズ測定装置におけ
る各部の波形の一例を示す波形図、第２図は上記実施例
のエッジノイズ測定装置の一例を示すブロック図、第３
図は上記実施例のエッジノイズ測定装置の他の例を示す
ブロック図である。 第４図は通常のビデオテープレコーダにおける輝度信号
の記録・再生系を示すブロック図、第５図は第４図にお
けるプリエンファシス回路の構成を示すブロック図、第
６図は第４図におけるディエンファシス回路の構成を示
すブロック図、第７図は各部における波形の一例を示す
波形図である。
る各部の波形の一例を示す波形図、第２図は上記実施例
のエッジノイズ測定装置の一例を示すブロック図、第３
図は上記実施例のエッジノイズ測定装置の他の例を示す
ブロック図である。 第４図は通常のビデオテープレコーダにおける輝度信号
の記録・再生系を示すブロック図、第５図は第４図にお
けるプリエンファシス回路の構成を示すブロック図、第
６図は第４図におけるディエンファシス回路の構成を示
すブロック図、第７図は各部における波形の一例を示す
波形図である。
Claims (1)
- 【請求項１】矩形波状の輝度信号がエンファシス処理さ
れて記録された記録媒体を再生し、得られる再生信号を
ディエンファシス処理した再生輝度信号のエッジノイズ
を測定するエッジノイズ測定装置において、 上記再生輝度信号から上記矩形波状の輝度信号のくり返
し周波数成分を除去し、得られる信号をエッジノイズと
して取り出す取り出し手段と、 上記取り出し手段の出力を検波する検波手段と、 上記検波手段の出力レベルを測定する測定手段とを有す
ることを特徴とするエッジノイズ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60270529A JPH0744704B2 (ja) | 1985-11-30 | 1985-11-30 | エッジノイズ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60270529A JPH0744704B2 (ja) | 1985-11-30 | 1985-11-30 | エッジノイズ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62130097A JPS62130097A (ja) | 1987-06-12 |
| JPH0744704B2 true JPH0744704B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=17487485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60270529A Expired - Lifetime JPH0744704B2 (ja) | 1985-11-30 | 1985-11-30 | エッジノイズ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0744704B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54173626U (ja) * | 1978-05-27 | 1979-12-07 |
-
1985
- 1985-11-30 JP JP60270529A patent/JPH0744704B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62130097A (ja) | 1987-06-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |