JPH0744712B2 - マトリクス光スイッチの光信号断線検出方法 - Google Patents
マトリクス光スイッチの光信号断線検出方法Info
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- JPH0744712B2 JPH0744712B2 JP3283477A JP28347791A JPH0744712B2 JP H0744712 B2 JPH0744712 B2 JP H0744712B2 JP 3283477 A JP3283477 A JP 3283477A JP 28347791 A JP28347791 A JP 28347791A JP H0744712 B2 JPH0744712 B2 JP H0744712B2
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Description
特に光スイッチに接続された光ファイバと光スイッチ自
身の光導波路の断線及び光スイッチのスイッチング不良
の検出方法に関するものである。
信号断線検出方法の説明図であり、1はN×Mマトリク
ス光スイッチ、2はN×Mマトリクス光スイッチ1を構
成する2×2光スイッチ、3は光カプラ、4は光電気変
換器、5は光ファイバ、6はN×Mマトリクス光スイッ
チ1内の光導波路、7は入力光P1〜PNが入力される
N×Mマトリクス光スイッチ1の入力端、8は出力光Q
1〜QMが出力されるN×Mマトリクス光スイッチ1の
出力端である。
「電子情報通信学会技術研究報告、OQE90−15
4、P.37〜P.42」(文献A)に記載された、電
界により導波路の屈折率を変化させて光路の切替えを行
う電子的光スイッチである。また、光カプラ3は、例え
ば、「末松、伊賀共著“光ファイバ通信入門”P.13
9〜P.140、(株)オーム社発行」(文献B)に記
載の光分岐・方向性結合器や光タップを使用したもので
ある。
光カプラ3を接続し、光カプラ3により分岐された信号
を光電気変換器4により電気信号に変換し、モニタする
ことによって、光の有無を確認し、光の遮断の検出を行
っていた。
た従来のマトリクス光スイッチの光信号断線検出方法で
は、入出力毎に分岐用光カプラとモニタ用光電気変換器
を設けなければならないので、光保守専用にN+M個の
光カプラと、N+M個の光電気変換器が必要となり、光
保守に対する光回路、光電気回路のハード量が大きいと
いう問題点があった。
ラを削除し、モニタ用光電気変換器を1個とした簡素な
ハード構成を有するマトリクス光スイッチの光信号断線
検出方法を提供することを目的とする。
解決するために、マトリクス光スイッチの光信号断線検
出方法において、第1,第2の入力端子及び第1,第2
の出力端子を有し、クロス状態、バー状態及びその中間
の状態をとることのできる2×2光スイッチをN行M列
マトリクス状に配置し、このマトリクス状に配置された
各行の入力端子及び各列の出力端子に接続される1行1
列の監視用2×2光スイッチを付加してN+1行M+1
列マトリクス状に配置し、第1行に配置された各2×2
光スイッチの第1の入力端子、第1行第M+1列から第
N行第M+1列に配置された各2×2光スイッチの第1
の出力端子及び第N+1行第1列に配置された前記2×
2光スイッチの第2の入力端子及び第2の出力端子を開
放状態にし、第i行に配置された各2×2光スイッチの
第2の出力端子は第i+1行に配置された各2×2光ス
イッチの第1の入力端子に接続し、かつ、第j列に配置
された各2×2光スイッチの第1の出力端子は第j+1
行に配置された各2×2光スイッチの第2の入力端子に
接続し(ただし、i=1〜N−1,j=1〜M−1)、
第1行第1列から第N行第1列の前記2×2光スイッチ
の第2の入力端子に第1から第Nの入力P1〜PNを入
力するとともに、第N+1行第2列から第N+1行第M
+1列の前記2×2光スイッチの第2の出力端子に第M
〜第1の出力QM〜Q1を接続し、かつ、第N+1行第
M+1列の前記2×2光スイッチの第1の出力端子に光
電気変換器を接続し、第iの入力Piの断線の試験を行
うときは第1行第i列の前記2×2光スイッチをクロス
状態とバー状態の中間の状態にし、第jの出力Qjの断
線の試験を行うときは第N+1行第M+2−j列の前記
2×2光スイッチをクロス状態とバー状態の中間の状態
にする(ただし、i=1〜N,j=2〜M+1)ように
したものである。
×2光スイッチにおいて、第1の入力はストレートに第
1の出力に接続され、第2の入力はストレートに第2の
出力に接続される状態であり、クロス状態とは、2×2
光スイッチにおいて、第1の入力はストレートに第2の
出力に接続され、第2の入力はストレートに第1の出力
に接続される状態であり、クロス状態とバー状態との中
間の状態とは、2×2光スイッチにおいて、第1の入力
はストレートに第1の出力及び交差して第2の出力に接
続され、第2の入力はストレートに第2の出力及び交差
して第1の出力に接続される状態をいう。
イッチの光信号断線検出方法を構成したので、例えば、
第1の入力P1の断線の試験を行うときは、第1行第1
列の2×2光スイッチをクロス状態とバー状態の中間の
状態にする。このとき、入力P1は前記2×2光スイッ
チで2出力に分割され、その一方の光出力は1行2列、
1行3列・・・1行M+1列から、2行M+1列、3行
M+1列・・・N+1行M+1列を通り、出力Q1とな
り、もう一方は2行1列、3行1列・・・N+1行1列
からN+1行2列・・・N+1行M+1列を通り、光電
気変換器へ入力され、モニタされる。
ときは、第N+1行第M+1列の2×2光スイッチをク
ロス状態とバー状態の中間の状態にする。このとき、そ
の2×2光スイッチに入力された光は2分割され、その
一方は出力Q1となり、もう一方は光電気変換器へ入力
され、モニタされる。
ながら詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施例に
係るマトリクス光スイッチの光信号断線検出方法の説明
図であり、従来と同じ技術手段には同じ番号を付して、
説明は重複するので省略する。
マトリクス光スイッチであり、印加電圧によりクロス状
態、バー状態、つまり、2×2光スイッチ2において、
第1の入力はストレートに第1の出力に接続され、第2
の入力はストレートに第2の出力に接続される状態、及
びその中間の状態、つまり、2×2光スイッチ2におい
て、第1の入力はストレートに第1の出力及び交差して
第2の出力に接続され、第2の入力はストレートに第2
の出力及び交差して第1の出力に接続される状態をとる
ことのできる2×2光スイッチ2を(N+1)行(M+
1)列マトリクス状に多段接続して構成されている。
れ、第2行目の入力I2に入力P2が接続され、以下同
様に第N行目の入力INに入力PNが接続され、第N+
1行目の入力IN+1は開放されている。そして、(N
+1)×(M+1)マトリクス光スイッチ9の第1列目
の出力O1に出力Q1が接続され、以下同様に第M列目
の出力OMに出力QMが接続され、第M+1列目の出力
QM+1は開放状態となる。また、出力Q1に接続され
る2×2光スイッチ2の他方の出力に光電気変換器4の
入力が接続される。
て後述するように、i1は第1の入力、i2は第2の入
力、o1は第1の出力、o2は第2の出力をそれぞれ示
している。図2は(N+1)×(M+1)マトリクス光
スイッチを構成する2×2光スイッチの状態図で、13
はクロス状態であり、第1の入力i1が第2の出力o2
に、第2の入力i2が第1の出力o1に接続される。そ
して、14はバー状態であり、第1の入力i1が第1の
出力o1に、第2の入力i2が第2の出力o2に接続さ
れる。
て2×2マトリクス光スイッチを構成した図である。図
に示すように、入力I1は1行1列の2×2光スイッチ
16の第2の入力18に接続され、入力I2は2行1列
の2×2光スイッチ28の第2の入力27に接続され
る。2×2光スイッチ16の第1の入力15は開放さ
れ、第1の出力17は1行2列の2×2光スイッチ21
の第2の入力23に接続され、第2の出力19は2×2
光スイッチ28の第1の入力25に接続される。2×2
光スイッチ21の第1の入力20と第1の出力22は開
放され、第2の出力24は2行2列の2×2光スイッチ
31の第1の入力33に接続される。2×2光スイッチ
28の第1の出力26は2×2光スイッチ31の第2の
入力30に接続され、第2の出力29は出力O2に接続
される。2×2光スイッチ31の第1の出力34は開放
され、第2の出力32は出力O1に接続される。
1行M+1列多段接続することにより、図1に示した
(N+1)×(M+1)マトリクス光スイッチが構成で
きる。なお、ここで2×2光スイッチ2の第1,第2の
入力端子の接続を逆にしても、クロス状態とバー状態の
状態が逆になるだけであるから、後述する印加電圧を逆
にすることにより、同じスイッチング動作を行うことが
できる。同様に、第1,第2の出力端子の接続を逆にし
てもよい。
スイッチ16に示したように、第1の入力i1、第2の
入力i2、第1の出力o1及び第2の出力o2となる。
図4は2×2光スイッチの印加電圧と出力パワーの関係
を示す図で、前記文献Aに開示されたものである。図か
ら明らかなように、i1に入力された光は9.0Vでク
ロス状態となり、o2に光が出力されo1に光は出力さ
れない。また、21.5Vでバー状態となり、o1に光
が出力され、o2には光は出力されない。クロス状態と
バー状態以外の状態では、光は印加電圧に従い、o1と
o2へ配分されて出力される。例えば、印加電圧15V
で光出力はo1とo2へほぼ等分されて出力される。
示す回路図であり、S1,S2がHighの時クロス状
態となり、S1又はS2の一方がHigh、他方がLo
wの時がクロス状態とバー状態の中間の状態となる。次
に、図1を参照しながら前記第1の実施例において入力
光及び出力光をモニタする方法を説明する。ここで、P
1,P2,PNとQ1,…,QMが1対1に対応するよ
うにN=Mとする。
×(M+1)マトリクス光スイッチ9を構成する2×2
光スイッチ2は、1行M+1列、2行M列・・・N行2
列及びN+1行1列がバー状態であり、それ以外の2×
2光スイッチ2はクロスの状態であるとすると、P1→
Q1、P2→Q2、PN→QMが接続され、また、入出
力はモニタされていない状態である。
接続状態から1行1列の2×2光スイッチ2をクロス状
態とバー状態の中間状態とする。このとき、入力P1は
前記2×2光スイッチ2で2出力に分割され、その一方
の光出力は1行2列、1行3列・・・1行N+1列から
2行N+1列、3行N+1列・・・M+1行N+1列を
通り、出力Q1となり、もう一方は2行1列、3行1列
・・・N+1行1列からN+1行2列・・・N+1行M
+1列を通り、光電気変換器4へ入力される。
1列の2×2光スイッチ2を、クロス状態とバー状態の
中間状態にすることにより、モニタ状態となる。また、
出力Q1〜QMも同様に、N+1行M+1列〜N+1行
2列の2×2光スイッチ2を、クロス状態とバー状態の
中間の状態にすることにより、モニタ状態となる。この
ように、P1〜PN,Q1〜QMの各々のモニタをシー
ケンシャルに行うことにより、光入出力全部のモニタが
行える。
る。 (1)第1の入力P1において、断線とは、発光源の出
力低下、光ファイバの断線、(N+1)×(M+1)マ
トリクス光スイッチ中、光ファイバから2×2光スイッ
チに光が結合されるまでの間の断線など入力側から2×
2光スイッチに光が入力されない状態になることをい
う。
スイッチに入力されているかいないかを確認する試験で
ある。 (2)第jの出力Qjの断線試験について、第M+1の
出力QM+1を例にとり説明すると、発光源からの光
は、1行1列の光スイッチを通り、1行(M+1)列の
光スイッチを通り、(N+1)行(M+1)行の光スイ
ッチを通り、出力されているルートに設定されていると
すると、ここで、断線とは、発光源の出力低下、光ファ
イバの断線、光ファイバ−1行1列−1行(M+1)−
(N+1)行(M+1)列の手前までのルートでの断
線、光スイッチ/駆動回路の誤動作等、ポイントBに至
るまでのルートで光出力が入力されない状態になること
をいう。
イッチから出力される状態にあるかどうかの確認試験で
ある。このように構成することにより、モニタのために
ハードウェアを付加することなく、モニタの態様に応じ
て光スイッチをクロス状態とバー状態の中間状態とする
ことにより、光伝送状態で簡単に光信号断線検出を行う
ことができる。
クス光スイッチの光信号断線検出方法の説明図である。
第1実施例におけるN+1行1列の2×2光スイッチ2
は常にバー状態で使用するので、その2×2光スイッチ
2の入出力を短絡し、2×2光スイッチ2を1個省略し
た変形(N+1)×(M+1)マトリクス光スイッチ1
0を設けたもので、それ以外は第1の実施例と同じであ
る。
のではなく、本発明の趣旨に基づき種々の変形が可能で
あり、それらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
よれば、光入出力の断線検出を入出力2×2光スイッチ
のクロス状態とバー状態の中間の状態で光を分岐し、モ
ニタの態様に応じて光スイッチをシーケンシャルに制御
し、集線監視するので、従来のN×M光スイッチの保守
はN+M個の光カプラとN+M個の光電気変換器が必要
であったのに対し、入出力側に1行1列の光スイッチを
追加集積し、光電気変換器1個を使用することで実現で
きるのでハードウェアの削減が可能になる。
することなく、モニタの態様に応じて光スイッチをクロ
ス状態とバー状態の中間状態とすることにより、光伝送
状態で簡単に光信号断線検出を行うことができる。
ッチの光信号断線検出方法の説明図である。
クス光スイッチを構成した図である。
係を示す図である。
である。
ッチの光信号断線検出方法の説明図である。
方法の説明図である。
ッチ
Claims (3)
- 【請求項1】(a)第1,第2の入力端子及び第1,第
2の出力端子を有し、クロス状態、バー状態及びその中
間の状態をとることのできる2×2光スイッチをN行M
列マトリクス状に配置し、(b)該マトリクス状に配置された各行の入力端子及び
各列の出力端子に接続される1行1列の監視用2×2光
スイッチを付加してN+1行M+1列マトリクス状に配
置し、 (c) 第1行に配置された各2×2光スイッチの第1の
入力端子、第1行第M+1列から第N行第M+1列に配
置された各2×2光スイッチの第1の出力端子及び第N
+1行第1列に配置された前記2×2光スイッチの第2
の入力端子及び第2の出力端子を開放状態にし、(d) 第i行に配置された各2×2光スイッチの第2の
出力端子は第i+1行に配置された各2×2光スイッチ
の第1の入力端子に接続し、かつ、第j列に配置された
各2×2光スイッチの第1の出力端子は第j+1行に配
置された各2×2光スイッチの第2の入力端子に接続し
(ただし、i=1〜N−1,j=1〜M−1)、(e) 第1行第1列から第N行第1列の前記2×2光ス
イッチの第2の入力端子に第1から第Nの入力P1〜P
Nを入力するとともに、第N+1行第2列から第N+1
行第M+1列の前記2×2光スイッチの第2の出力端子
に第M〜第1の出力QM〜Q1を接続し、かつ、第N+
1行第M+1列の前記2×2光スイッチの第1の出力端
子に光電気変換器を接続し、(f) 第iの入力Piの断線の試験を行うときは第1行
第i列の前記2×2光スイッチをクロス状態とバー状態
の中間の状態にし、第jの出力Qjの断線の試験を行う
ときは第N+1行第M+2−j列の前記2×2光スイッ
チをクロス状態とバー状態の中間の状態にする(ただ
し、i=1〜N,j=2〜M+1)ことを特徴とするマ
トリクス光スイッチの光信号断線検出方法。 - 【請求項2】 第N行第1列に配置された2×2光スイ
ッチの第2の出力端子と第N+1行第2列に配置された
2×2光スイッチの第2の入力端子を接続し、第N+1
行第1列に配置する2×2光スイッチを省略したことを
特徴とする請求項1記載のマトリクス光スイッチの光信
号断線検出方法。 - 【請求項3】 2×2光スイッチをクロス状態とバー状
態の中間状態にシーケンシャル制御する請求項1又は2
記載のマトリクス光スイッチの光信号断線検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3283477A JPH0744712B2 (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | マトリクス光スイッチの光信号断線検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3283477A JPH0744712B2 (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | マトリクス光スイッチの光信号断線検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05122745A JPH05122745A (ja) | 1993-05-18 |
| JPH0744712B2 true JPH0744712B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=17666058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3283477A Expired - Lifetime JPH0744712B2 (ja) | 1991-10-30 | 1991-10-30 | マトリクス光スイッチの光信号断線検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0744712B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2815040B2 (ja) * | 1994-12-20 | 1998-10-27 | 日本電気株式会社 | 光スイッチ回路網 |
| JP2001258084A (ja) | 2000-03-13 | 2001-09-21 | Nec Corp | 光クロスコネクト装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6459220A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-06 | Nec Corp | Optical space division matrix switch |
-
1991
- 1991-10-30 JP JP3283477A patent/JPH0744712B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05122745A (ja) | 1993-05-18 |
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