JPH0744712B2 - マトリクス光スイッチの光信号断線検出方法 - Google Patents

マトリクス光スイッチの光信号断線検出方法

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JPH0744712B2
JPH0744712B2 JP3283477A JP28347791A JPH0744712B2 JP H0744712 B2 JPH0744712 B2 JP H0744712B2 JP 3283477 A JP3283477 A JP 3283477A JP 28347791 A JP28347791 A JP 28347791A JP H0744712 B2 JPH0744712 B2 JP H0744712B2
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尊士 山口
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  • Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光交換における保守、
特に光スイッチに接続された光ファイバと光スイッチ自
身の光導波路の断線及び光スイッチのスイッチング不良
の検出方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図7は従来のマトリクス光スイッチの光
信号断線検出方法の説明図であり、1はN×Mマトリク
ス光スイッチ、2はN×Mマトリクス光スイッチ1を構
成する2×2光スイッチ、3は光カプラ、4は光電気変
換器、5は光ファイバ、6はN×Mマトリクス光スイッ
チ1内の光導波路、7は入力光P1〜PNが入力される
N×Mマトリクス光スイッチ1の入力端、8は出力光Q
1〜QMが出力されるN×Mマトリクス光スイッチ1の
出力端である。
【0003】ここで、2×2光スイッチ2は、例えば、
「電子情報通信学会技術研究報告、OQE90−15
4、P.37〜P.42」(文献A)に記載された、電
界により導波路の屈折率を変化させて光路の切替えを行
う電子的光スイッチである。また、光カプラ3は、例え
ば、「末松、伊賀共著“光ファイバ通信入門”P.13
9〜P.140、(株)オーム社発行」(文献B)に記
載の光分岐・方向性結合器や光タップを使用したもので
ある。
【0004】そして、入出力端7,8の光ファイバ5に
光カプラ3を接続し、光カプラ3により分岐された信号
を光電気変換器4により電気信号に変換し、モニタする
ことによって、光の有無を確認し、光の遮断の検出を行
っていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来のマトリクス光スイッチの光信号断線検出方法で
は、入出力毎に分岐用光カプラとモニタ用光電気変換器
を設けなければならないので、光保守専用にN+M個の
光カプラと、N+M個の光電気変換器が必要となり、光
保守に対する光回路、光電気回路のハード量が大きいと
いう問題点があった。
【0006】本発明は、前記問題点を解決して、光カプ
ラを削除し、モニタ用光電気変換器を1個とした簡素な
ハード構成を有するマトリクス光スイッチの光信号断線
検出方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために、マトリクス光スイッチの光信号断線検
出方法において、第1,第2の入力端子及び第1,第2
の出力端子を有し、クロス状態、バー状態及びその中間
の状態をとることのできる2×2光スイッチをN行M列
マトリクス状に配置し、このマトリクス状に配置された
各行の入力端子及び各列の出力端子に接続される1行1
列の監視用2×2光スイッチを付加してN+1行M+1
列マトリクス状に配置し、第1行に配置された各2×2
光スイッチの第1の入力端子、第1行第M+1列から第
N行第M+1列に配置された各2×2光スイッチの第1
の出力端子及び第N+1行第1列に配置された前記2×
2光スイッチの第2の入力端子及び第2の出力端子を開
放状態にし、第i行に配置された各2×2光スイッチの
第2の出力端子は第i+1行に配置された各2×2光ス
イッチの第1の入力端子に接続し、かつ、第j列に配置
された各2×2光スイッチの第1の出力端子は第j+1
行に配置された各2×2光スイッチの第2の入力端子に
接続し(ただし、i=1〜N−1,j=1〜M−1)、
第1行第1列から第N行第1列の前記2×2光スイッチ
の第2の入力端子に第1から第Nの入力P1〜PNを入
力するとともに、第N+1行第2列から第N+1行第M
+1列の前記2×2光スイッチの第2の出力端子に第M
〜第1の出力QM〜Q1を接続し、かつ、第N+1行第
M+1列の前記2×2光スイッチの第1の出力端子に光
電気変換器を接続し、第iの入力Piの断線の試験を行
うときは第1行第i列の前記2×2光スイッチをクロス
状態とバー状態の中間の状態にし、第jの出力Qjの断
線の試験を行うときは第N+1行第M+2−j列の前記
2×2光スイッチをクロス状態とバー状態の中間の状態
にする(ただし、i=1〜N,j=2〜M+1)ように
したものである。
【0008】なお、本発明において、バー状態とは、2
×2光スイッチにおいて、第1の入力はストレートに第
1の出力に接続され、第2の入力はストレートに第2の
出力に接続される状態であり、クロス状態とは、2×2
光スイッチにおいて、第1の入力はストレートに第2の
出力に接続され、第2の入力はストレートに第1の出力
に接続される状態であり、クロス状態とバー状態との中
間の状態とは、2×2光スイッチにおいて、第1の入力
はストレートに第1の出力及び交差して第2の出力に接
続され、第2の入力はストレートに第2の出力及び交差
して第1の出力に接続される状態をいう。
【0009】
【作用】本発明によれば、以上のようにマトリクス光ス
イッチの光信号断線検出方法を構成したので、例えば、
第1の入力P1の断線の試験を行うときは、第1行第1
列の2×2光スイッチをクロス状態とバー状態の中間の
状態にする。このとき、入力P1は前記2×2光スイッ
チで2出力に分割され、その一方の光出力は1行2列、
1行3列・・・1行M+1列から、2行M+1列、3行
M+1列・・・N+1行M+1列を通り、出力Q1とな
り、もう一方は2行1列、3行1列・・・N+1行1列
からN+1行2列・・・N+1行M+1列を通り、光電
気変換器へ入力され、モニタされる。
【0010】また、第1の出力Q1の断線の試験を行う
ときは、第N+1行第M+1列の2×2光スイッチをク
ロス状態とバー状態の中間の状態にする。このとき、そ
の2×2光スイッチに入力された光は2分割され、その
一方は出力Q1となり、もう一方は光電気変換器へ入力
され、モニタされる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施例に
係るマトリクス光スイッチの光信号断線検出方法の説明
図であり、従来と同じ技術手段には同じ番号を付して、
説明は重複するので省略する。
【0012】図において、9は(N+1)×(M+1)
マトリクス光スイッチであり、印加電圧によりクロス状
態、バー状態、つまり、2×2光スイッチ2において、
第1の入力はストレートに第1の出力に接続され、第2
の入力はストレートに第2の出力に接続される状態、及
びその中間の状態、つまり、2×2光スイッチ2におい
て、第1の入力はストレートに第1の出力及び交差して
第2の出力に接続され、第2の入力はストレートに第2
の出力及び交差して第1の出力に接続される状態をとる
ことのできる2×2光スイッチ2を(N+1)行(M+
1)列マトリクス状に多段接続して構成されている。
【0013】第1行目の入力I1に入力P1が接続さ
れ、第2行目の入力I2に入力P2が接続され、以下同
様に第N行目の入力INに入力PNが接続され、第N+
1行目の入力IN+1は開放されている。そして、(N
+1)×(M+1)マトリクス光スイッチ9の第1列目
の出力O1に出力Q1が接続され、以下同様に第M列目
の出力OMに出力QMが接続され、第M+1列目の出力
QM+1は開放状態となる。また、出力Q1に接続され
る2×2光スイッチ2の他方の出力に光電気変換器4の
入力が接続される。
【0014】また、図1において、図2及び図3におい
て後述するように、i1は第1の入力、i2は第2の入
力、o1は第1の出力、o2は第2の出力をそれぞれ示
している。図2は(N+1)×(M+1)マトリクス光
スイッチを構成する2×2光スイッチの状態図で、13
はクロス状態であり、第1の入力i1が第2の出力o2
に、第2の入力i2が第1の出力o1に接続される。そ
して、14はバー状態であり、第1の入力i1が第1の
出力o1に、第2の入力i2が第2の出力o2に接続さ
れる。
【0015】図3は前記2×2光スイッチを多段接続し
て2×2マトリクス光スイッチを構成した図である。図
に示すように、入力I1は1行1列の2×2光スイッチ
16の第2の入力18に接続され、入力I2は2行1列
の2×2光スイッチ28の第2の入力27に接続され
る。2×2光スイッチ16の第1の入力15は開放さ
れ、第1の出力17は1行2列の2×2光スイッチ21
の第2の入力23に接続され、第2の出力19は2×2
光スイッチ28の第1の入力25に接続される。2×2
光スイッチ21の第1の入力20と第1の出力22は開
放され、第2の出力24は2行2列の2×2光スイッチ
31の第1の入力33に接続される。2×2光スイッチ
28の第1の出力26は2×2光スイッチ31の第2の
入力30に接続され、第2の出力29は出力O2に接続
される。2×2光スイッチ31の第1の出力34は開放
され、第2の出力32は出力O1に接続される。
【0016】これと同様にして2×2光スイッチをN+
1行M+1列多段接続することにより、図1に示した
(N+1)×(M+1)マトリクス光スイッチが構成で
きる。なお、ここで2×2光スイッチ2の第1,第2の
入力端子の接続を逆にしても、クロス状態とバー状態の
状態が逆になるだけであるから、後述する印加電圧を逆
にすることにより、同じスイッチング動作を行うことが
できる。同様に、第1,第2の出力端子の接続を逆にし
てもよい。
【0017】また、図2との対応においては、2×2光
スイッチ16に示したように、第1の入力i1、第2の
入力i2、第1の出力o1及び第2の出力o2となる。
図4は2×2光スイッチの印加電圧と出力パワーの関係
を示す図で、前記文献Aに開示されたものである。図か
ら明らかなように、i1に入力された光は9.0Vでク
ロス状態となり、o2に光が出力されo1に光は出力さ
れない。また、21.5Vでバー状態となり、o1に光
が出力され、o2には光は出力されない。クロス状態と
バー状態以外の状態では、光は印加電圧に従い、o1と
o2へ配分されて出力される。例えば、印加電圧15V
で光出力はo1とo2へほぼ等分されて出力される。
【0018】図5は2×2光スイッチ駆動回路の一例を
示す回路図であり、S1,S2がHighの時クロス状
態となり、S1又はS2の一方がHigh、他方がLo
wの時がクロス状態とバー状態の中間の状態となる。次
に、図1を参照しながら前記第1の実施例において入力
光及び出力光をモニタする方法を説明する。ここで、P
1,P2,PNとQ1,…,QMが1対1に対応するよ
うにN=Mとする。
【0019】まず、上記接続状態において、(N+1)
×(M+1)マトリクス光スイッチ9を構成する2×2
光スイッチ2は、1行M+1列、2行M列・・・N行2
列及びN+1行1列がバー状態であり、それ以外の2×
2光スイッチ2はクロスの状態であるとすると、P1→
Q1、P2→Q2、PN→QMが接続され、また、入出
力はモニタされていない状態である。
【0020】次に、入力P1をモニタしたい場合、上記
接続状態から1行1列の2×2光スイッチ2をクロス状
態とバー状態の中間状態とする。このとき、入力P1は
前記2×2光スイッチ2で2出力に分割され、その一方
の光出力は1行2列、1行3列・・・1行N+1列から
2行N+1列、3行N+1列・・・M+1行N+1列を
通り、出力Q1となり、もう一方は2行1列、3行1列
・・・N+1行1列からN+1行2列・・・N+1行M
+1列を通り、光電気変換器4へ入力される。
【0021】入力P2〜PNも同様に、2行1列〜N行
1列の2×2光スイッチ2を、クロス状態とバー状態の
中間状態にすることにより、モニタ状態となる。また、
出力Q1〜QMも同様に、N+1行M+1列〜N+1行
2列の2×2光スイッチ2を、クロス状態とバー状態の
中間の状態にすることにより、モニタ状態となる。この
ように、P1〜PN,Q1〜QMの各々のモニタをシー
ケンシャルに行うことにより、光入出力全部のモニタが
行える。
【0022】以下、モニタの実際について詳細に説明す
る。 (1)第1の入力P1において、断線とは、発光源の出
力低下、光ファイバの断線、(N+1)×(M+1)マ
トリクス光スイッチ中、光ファイバから2×2光スイッ
チに光が結合されるまでの間の断線など入力側から2×
2光スイッチに光が入力されない状態になることをい
う。
【0023】また、断線試験とは、これら入力光が、光
スイッチに入力されているかいないかを確認する試験で
ある。 (2)第jの出力Qjの断線試験について、第M+1の
出力QM+1を例にとり説明すると、発光源からの光
は、1行1列の光スイッチを通り、1行(M+1)列の
光スイッチを通り、(N+1)行(M+1)行の光スイ
ッチを通り、出力されているルートに設定されていると
すると、ここで、断線とは、発光源の出力低下、光ファ
イバの断線、光ファイバ−1行1列−1行(M+1)−
(N+1)行(M+1)列の手前までのルートでの断
線、光スイッチ/駆動回路の誤動作等、ポイントBに至
るまでのルートで光出力が入力されない状態になること
をいう。
【0024】また、断線試験とは、これら入力光が光ス
イッチから出力される状態にあるかどうかの確認試験で
ある。このように構成することにより、モニタのために
ハードウェアを付加することなく、モニタの態様に応じ
て光スイッチをクロス状態とバー状態の中間状態とする
ことにより、光伝送状態で簡単に光信号断線検出を行う
ことができる。
【0025】図6は本発明の第2の実施例に係るマトリ
クス光スイッチの光信号断線検出方法の説明図である。
第1実施例におけるN+1行1列の2×2光スイッチ2
は常にバー状態で使用するので、その2×2光スイッチ
2の入出力を短絡し、2×2光スイッチ2を1個省略し
た変形(N+1)×(M+1)マトリクス光スイッチ1
0を設けたもので、それ以外は第1の実施例と同じであ
る。
【0026】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の趣旨に基づき種々の変形が可能で
あり、それらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
【0027】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、光入出力の断線検出を入出力2×2光スイッチ
のクロス状態とバー状態の中間の状態で光を分岐し、モ
ニタの態様に応じて光スイッチをシーケンシャルに制御
し、集線監視するので、従来のN×M光スイッチの保守
はN+M個の光カプラとN+M個の光電気変換器が必要
であったのに対し、入出力側に1行1列の光スイッチを
追加集積し、光電気変換器1個を使用することで実現で
きるのでハードウェアの削減が可能になる。
【0028】更に、モニタのためにハードウェアを付加
することなく、モニタの態様に応じて光スイッチをクロ
ス状態とバー状態の中間状態とすることにより、光伝送
状態で簡単に光信号断線検出を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係るマトリクス光スイ
ッチの光信号断線検出方法の説明図である。
【図2】2×2光スイッチの状態図である。
【図3】2×2光スイッチを多段接続して2×2マトリ
クス光スイッチを構成した図である。
【図4】2×2光スイッチの印加電圧と出力パワーの関
係を示す図である。
【図5】2×2光スイッチ駆動回路の一例を示す回路図
である。
【図6】本発明の第2の実施例に係るマトリクス光スイ
ッチの光信号断線検出方法の説明図である。
【図7】従来のマトリクス光スイッチの光信号断線検出
方法の説明図である。
【符号の説明】
1 N×Mマトリクス光スイッチ 2 2×2光スイッチ 3 光カプラ 4 光電気変換器 5 光ファイバ 6 光導波路 7 入力端 8 出力端 9 (N+1)×(M+1)マトリクス光スイッチ 10 変形(N+1)×(M+1)マトリクス光スイ
ッチ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(a)第1,第2の入力端子及び第1,第
    2の出力端子を有し、クロス状態、バー状態及びその中
    間の状態をとることのできる2×2光スイッチをN行M
    列マトリクス状に配置し、(b)該マトリクス状に配置された各行の入力端子及び
    各列の出力端子に接続される1行1列の監視用2×2光
    スイッチを付加してN+1行M+1列マトリクス状に配
    置し、 (c) 第1行に配置された各2×2光スイッチの第1の
    入力端子、第1行第M+1列から第N行第M+1列に配
    置された各2×2光スイッチの第1の出力端子及び第N
    +1行第1列に配置された前記2×2光スイッチの第2
    の入力端子及び第2の出力端子を開放状態にし、(d) 第i行に配置された各2×2光スイッチの第2の
    出力端子は第i+1行に配置された各2×2光スイッチ
    の第1の入力端子に接続し、かつ、第j列に配置された
    各2×2光スイッチの第1の出力端子は第j+1行に配
    置された各2×2光スイッチの第2の入力端子に接続し
    (ただし、i=1〜N−1,j=1〜M−1)、(e) 第1行第1列から第N行第1列の前記2×2光ス
    イッチの第2の入力端子に第1から第Nの入力P1〜P
    Nを入力するとともに、第N+1行第2列から第N+1
    行第M+1列の前記2×2光スイッチの第2の出力端子
    に第M〜第1の出力QM〜Q1を接続し、かつ、第N+
    1行第M+1列の前記2×2光スイッチの第1の出力端
    子に光電気変換器を接続し、(f) 第iの入力Piの断線の試験を行うときは第1行
    第i列の前記2×2光スイッチをクロス状態とバー状態
    の中間の状態にし、第jの出力Qjの断線の試験を行う
    ときは第N+1行第M+2−j列の前記2×2光スイッ
    チをクロス状態とバー状態の中間の状態にする(ただ
    し、i=1〜N,j=2〜M+1)ことを特徴とする
    トリクス光スイッチの光信号断線検出方法。
  2. 【請求項2】 第N行第1列に配置された2×2光スイ
    ッチの第2の出力端子と第N+1行第2列に配置された
    2×2光スイッチの第2の入力端子を接続し、第N+1
    行第1列に配置する2×2光スイッチを省略したことを
    特徴とする請求項1記載のマトリクス光スイッチの光信
    号断線検出方法。
  3. 【請求項3】 2×2光スイッチをクロス状態とバー状
    態の中間状態にシーケンシャル制御する請求項1又は2
    記載のマトリクス光スイッチの光信号断線検出方法。
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