JPH0745027Y2 - 短絡試験装置 - Google Patents
短絡試験装置Info
- Publication number
- JPH0745027Y2 JPH0745027Y2 JP8439489U JP8439489U JPH0745027Y2 JP H0745027 Y2 JPH0745027 Y2 JP H0745027Y2 JP 8439489 U JP8439489 U JP 8439489U JP 8439489 U JP8439489 U JP 8439489U JP H0745027 Y2 JPH0745027 Y2 JP H0745027Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch
- circuit
- short
- test
- standard
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- Expired - Lifetime
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本考案は、避雷器の放圧試験，配電盤の内部閃絡試験等
に使用する短絡試験装置に関する。
に使用する短絡試験装置に関する。
B.考案の概要 本考案の短絡試験器は、短絡発電機と供試体との間に投
入用第１のスイッチと第1,第２の可変リアクトルを直列
に設けると共に、第２の可変リアクトルを短絡分離する
第２のスイッチを設け、第２のスイッチを閉じた状態で
JEC,IEC等規格の第１波波高値を通電し、第２のスイッ
チの遮断によって前記規格の対称分実効値を通電しうる
ようにしたものである。
入用第１のスイッチと第1,第２の可変リアクトルを直列
に設けると共に、第２の可変リアクトルを短絡分離する
第２のスイッチを設け、第２のスイッチを閉じた状態で
JEC,IEC等規格の第１波波高値を通電し、第２のスイッ
チの遮断によって前記規格の対称分実効値を通電しうる
ようにしたものである。
C.従来の技術 従来、避雷器の放圧試験装置は、第３図に示すように、
短絡発電機AGから可変リアクトルL1とスイッチSW1の直
列回路を介して供試避雷器Arに電力を供給するようにな
っている。
短絡発電機AGから可変リアクトルL1とスイッチSW1の直
列回路を介して供試避雷器Arに電力を供給するようにな
っている。
D.考案が解決しようとする課題 避雷器の放圧試験は、電流値が50KA程度と非常に大き
い。また、避雷器の定格電圧が近年高圧化し、試験設備
の関係で定格電圧で放圧試験を実施することが困難にな
ってきている。
い。また、避雷器の定格電圧が近年高圧化し、試験設備
の関係で定格電圧で放圧試験を実施することが困難にな
ってきている。
そのため、JEC,IEC等の規格では低減電圧で放圧試験を
実施することが認められている。そのとき、通電電流の
第１波波高値はJEC,IEC規格で対称分実効値の1.7倍,ANS
I規格で2.6倍以上でなければならない。
実施することが認められている。そのとき、通電電流の
第１波波高値はJEC,IEC規格で対称分実効値の1.7倍,ANS
I規格で2.6倍以上でなければならない。
しかし、供試避雷器の内部アーク抵抗が電源の内部イン
ピーダンスに比較して無視できなくなり、通電電流の第
１波波高値が限流してしまう。
ピーダンスに比較して無視できなくなり、通電電流の第
１波波高値が限流してしまう。
このことを第４図について説明する。t0は第３図放圧試
験装置のスイッチSW1の投入瞬時，は供試避雷器Arを
短絡した場合の推定電流波形，は実試験電流波形であ
る。対称分実効値を規格に合わせて、可変リアクトルL1
を調整しても、実際の試験では、第１波波高値が波形
のように限流してしまう。逆に第１波波高値が規格に合
うように可変リアクトルL1を調整すると、対称分実効値
が規格を越えてしまうという問題があった。
験装置のスイッチSW1の投入瞬時，は供試避雷器Arを
短絡した場合の推定電流波形，は実試験電流波形であ
る。対称分実効値を規格に合わせて、可変リアクトルL1
を調整しても、実際の試験では、第１波波高値が波形
のように限流してしまう。逆に第１波波高値が規格に合
うように可変リアクトルL1を調整すると、対称分実効値
が規格を越えてしまうという問題があった。
本考案は、従来の技術の有するこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、通電
電流の第１波波高値及び対称分実効値を共に規格に合致
しうるようにした短絡試験装置を提供することにある。
てなされたものであり、その目的とするところは、通電
電流の第１波波高値及び対称分実効値を共に規格に合致
しうるようにした短絡試験装置を提供することにある。
E.課題を解決するための手段 上記目的を達成するために、本考案における短絡試験装
置は、短絡発電機より可変リアクトルと投入スイッチの
直列回路を通じて供試体に電力を供給して短絡試験をす
るものにおいて、 前記直列回路に第２の可変リアクトルを直列に設けると
共に、第２の可変リアクトルを短絡分離する第２のスイ
ッチを設け、第２のスイッチの投入した状態で規格の第
１波波高値を通電し、第２のスイッチの遮断によって規
格の対称分実効値を通電するようにしたものである。
置は、短絡発電機より可変リアクトルと投入スイッチの
直列回路を通じて供試体に電力を供給して短絡試験をす
るものにおいて、 前記直列回路に第２の可変リアクトルを直列に設けると
共に、第２の可変リアクトルを短絡分離する第２のスイ
ッチを設け、第２のスイッチの投入した状態で規格の第
１波波高値を通電し、第２のスイッチの遮断によって規
格の対称分実効値を通電するようにしたものである。
F.作用 試験前に第２のスイッチを投入し、第２の可変リアクト
ルを閉じた状態で通電すれば、短絡発電機より供試体に
（第１の）リアクトルを介して通電される。しかして、
この（第１の）リアクトルを通電電流の第１波波高値が
限流するのを考慮して、規格に合致するように設定して
おくことにより、試験時に第１波波高値を規格と合致さ
せることができる。
ルを閉じた状態で通電すれば、短絡発電機より供試体に
（第１の）リアクトルを介して通電される。しかして、
この（第１の）リアクトルを通電電流の第１波波高値が
限流するのを考慮して、規格に合致するように設定して
おくことにより、試験時に第１波波高値を規格と合致さ
せることができる。
第１波波高値を通過した任意の時刻に第２スイッチを遮
断すれば、短絡発電機より供試体に（第１の）リアクト
ル及び第２のリアクトルを介して通電される。しかし
て、この両リアクトルを介して通電される対称分実効値
が規格と合致するように第２のリアクトルを設定してお
くことにより、上記任意の時刻に第２のスイッチを遮断
して規定の対称分実効値を通電させることができる。
断すれば、短絡発電機より供試体に（第１の）リアクト
ル及び第２のリアクトルを介して通電される。しかし
て、この両リアクトルを介して通電される対称分実効値
が規格と合致するように第２のリアクトルを設定してお
くことにより、上記任意の時刻に第２のスイッチを遮断
して規定の対称分実効値を通電させることができる。
G.実施例 実施例について図面を参照して説明する。
第１図は避雷器の放圧試験装置の回路図を示す。第１図
において、放圧試験装置は、短絡発電機AGより第１の可
変リアクトルL1，第１のスイッチSW1及び並列接続され
た第２の可変リアクトルL2と第２のスイッチSW2を直列
に介して供試避雷器Arに電力を供給しうるように設けら
れている。
において、放圧試験装置は、短絡発電機AGより第１の可
変リアクトルL1，第１のスイッチSW1及び並列接続され
た第２の可変リアクトルL2と第２のスイッチSW2を直列
に介して供試避雷器Arに電力を供給しうるように設けら
れている。
試験前に、第２のスイッチSW2を投入してリアクトルL2
を短絡し、可変リアクトルL1を通電電流の第１波波高値
が限流するのを考慮して、規格に合致するように設定し
ておく。また、第１波波高値が通過した任意の時刻にス
イッチSW2を遮断した際、第１、第２の可変リアクタン
スL1,L2により通電が規格の対称分実効値となるように
第２の可変リアクタンスL2を設定しておく。
を短絡し、可変リアクトルL1を通電電流の第１波波高値
が限流するのを考慮して、規格に合致するように設定し
ておく。また、第１波波高値が通過した任意の時刻にス
イッチSW2を遮断した際、第１、第２の可変リアクタン
スL1,L2により通電が規格の対称分実効値となるように
第２の可変リアクタンスL2を設定しておく。
しかして、第２のスイッチSW2を投入し、第２図の時刻t
0に第１のスイッチSW1を投入すれば、第１のリアクトル
L1により規格に合致した第１波波高値が通電する。次い
で時刻t1に第２のスイッチSW2を遮断すれば、この通電
回路に第２のリアクトルL2が直列に入り、規格に合致し
た対称分実効値を通電させることができる。
0に第１のスイッチSW1を投入すれば、第１のリアクトル
L1により規格に合致した第１波波高値が通電する。次い
で時刻t1に第２のスイッチSW2を遮断すれば、この通電
回路に第２のリアクトルL2が直列に入り、規格に合致し
た対称分実効値を通電させることができる。
本考案は、実施例の避雷器放圧試験だけではなく、配電
盤の内部閃絡試験等アークが発生する電気機器の短絡試
験に利用できる。
盤の内部閃絡試験等アークが発生する電気機器の短絡試
験に利用できる。
H.発明の効果 本考案は、上述のとおり構成されているので、従来アー
クが発生する電気機器の短絡試験装置に第２の可変リア
クトル及びこれを短絡分離する第２のスイッチを付加す
る簡単な構成で、通電電流の第１波波高値及び対称分実
効値を共に規格に合致させることが容易にできる。
クが発生する電気機器の短絡試験装置に第２の可変リア
クトル及びこれを短絡分離する第２のスイッチを付加す
る簡単な構成で、通電電流の第１波波高値及び対称分実
効値を共に規格に合致させることが容易にできる。
第１図は本考案実施例を示す回路図、第２図は実施例に
おける電流波形図、第３図は従来装置を示す回路図、第
４図は従来装置における電流波形図である。 AG……短絡発電機、Ar……供試避雷器、……推定電流
波形、……実試験電流波形。
おける電流波形図、第３図は従来装置を示す回路図、第
４図は従来装置における電流波形図である。 AG……短絡発電機、Ar……供試避雷器、……推定電流
波形、……実試験電流波形。
Claims (1)
- 【請求項１】短絡発電機より可変リアクトルと投入スイ
ッチの直列回路を通じて供試体に電力を供給して短絡試
験をするものにおいて、 前記直列回路に第２の可変リアクトルを直列に設けると
共に、第２の可変リアクトルを短絡分離する第２のスイ
ッチを設け、第２のスイッチの投入した状態で規格の第
１波波高値を通電し、第２のスイッチの遮断によって規
格の対称分実効値を通電することを特徴とする短絡試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8439489U JPH0745027Y2 (ja) | 1989-07-18 | 1989-07-18 | 短絡試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8439489U JPH0745027Y2 (ja) | 1989-07-18 | 1989-07-18 | 短絡試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0323371U JPH0323371U (ja) | 1991-03-11 |
| JPH0745027Y2 true JPH0745027Y2 (ja) | 1995-10-11 |
Family
ID=31632845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8439489U Expired - Lifetime JPH0745027Y2 (ja) | 1989-07-18 | 1989-07-18 | 短絡試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0745027Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5717080B2 (ja) * | 2008-12-04 | 2015-05-13 | 富士電機株式会社 | 酸化亜鉛避雷器の放圧試験装置 |
-
1989
- 1989-07-18 JP JP8439489U patent/JPH0745027Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0323371U (ja) | 1991-03-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |