JPS6085377A - 遮断器の進み小電流試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は遮断器の進み小電流遮断性能を検証するための
改良した試験方法に関する。

［発明の技術的背景とその問題点コ 世界の電力系統は、・アメリカ系とヨーロッパ系に分か
れており、それぞれ電源周波数として５ＱＨｚおよび５
ＱＨｚを採用してきた。一方、日本においても佐々間周
波数変換所を境として西は５９Ｈｚ　、東は５９Ｈｚを
採用している。ところで遮断器の試験を行なう短絡試験
設備はどうかと云うと、一般には単一周波電源しかなく
、両方の試験を行なうことは極めて困難であった０この
ためいろいろな試験方法が考えられているとともｌ’−
１ＪＥＣ１８１ではいずれの周波数での試験も認められ
ている。またＩＢＣでは、±１０％の裕度、　ＡＮＳＩ
では±５−の裕度がそれぞれ認められているが、いずれ
も５ＱＨｚと５ＱＨｚとの等画性は認められていない。

さて、無負荷送電線や進相用コンデンサを開閉する進み
小電流遮断試験は、油遮断器や真空遮断器において若干
問題となっていたが％ＳＦ６ガス遮断器ではｔｌとんど
問題とならなかった。これは８Ｆ６ガスのすぐれた絶縁
性のため、ＳＦ６ガスではほとんど無再点弧特性が得ら
れていたからである０ところが、最近、一点当りの遮断
容量が飛躍的に伸びｓ　２４０ＫＶ〜３００ＫＶに達す
る１点切遮断器が開発されるにおよんで進み小電流遮屹
は、ＳＦ６ガス遮断器にとっても非常に困難な試験とな
ってきた。

さて、進み小電流遮断では、辿断亀流が非常に小さいの
で、ＳＦ６ガス遮断器ではほとんど開極とＡ 同時に遮断し、非常に短かいギャップに　Ｋ−Ｂ（１−
房ωχ）（Ｅは定格電圧、ωは周波数、ｉは時刻、Ａは
倍数）の電圧が印加されることになる。

このためωが大きい程、即ち６０Ｈｚの方が５ＱＨｚよ
り早い時刻に高い電圧が印加されることになる。

このため、従来遮断器が充分な裕度を持っている場合に
は、　５ＱＨｚの゛電源で試験′電圧を２０〜３０％増
して６０Ｈｚの電圧より高い′電圧が印加されるように
していた。しかしながら、この場合、電圧波高値があま
りにも厳しくなるという問題があった。

このような電圧波高値の問題を解決するための試験法を
実施するために、第１図および第２図（二示す試験回路
が紹介されている。すなわち第１図の試験回路では、電
源１、補助遮断器２、供試器３およびコンデンサ４を接
続し、さらに補助遮断器２にインピーダンス５と並列に
接続し、遮断器２と供試器３との間と接地との間に投入
器６およびインピーダンス７を接続して構成したもので
ある。そして供試器３の遮断と同時に補助遮断器２を遮
断し、試験電圧の２０〜３０％増で運転されている電源
ｌからの電圧が試験電圧に達したところで投入器６を投
入し、インピーダンス５．７とで分圧した電圧が印加さ
れるように進めることになる０ また第２図の試験回路では、補助遮断器２と供試器３と
の間と接地との間にリアクトル８および抵抗９を接続し
、さらに補助遮断器２０両端子間（ニキャパシタ１１お
よび抵抗１ｏの並列回路を接続したもので、供試器３お
よび補助遮断器２の遮断と同時に、キャパシタｌ］およ
び抵抗１００回路とりアクドル８および抵抗９の回路と
で、位相を進めてＧｏｎｇに近い電圧が印加されるよう
にするものである。

しかし、第１図および第２図に示す直接試験法は、シー
ケンスが複雑であるとともにインピーダンスの設備が大
きくなる問題があるので、高電圧の遮断器では、第３図
に示す合成試験法が用いられている。すなわち電源１に
キャパシタ１２．補助遮断器２およびキャパシタ１３を
介して高圧トランスＩ４を接続し、その補助遮断器２と
キャパシタ１３との間と接地との間に供試器３を接銖し
たものである。そして低電圧でキャパシタ１２を介して
電流を供給し、供試器３および袖助遮ｔｊＪｒ　１６２
の貼断後は、電源１仁接続した高圧トランス１４よりキ
ャパシタ１３を介して供試器３に電圧を印加するもので
ある。

第１図、第２図および第３図のいずれの試験回路におい
ても、５ＱＨｚの′電源で試験電圧を２０〜３０％増し
て６９Ｈ２の電圧より高い電圧を印加して試験を行なう
場合、電圧波高値が余りにもきびしくなるという欠点が
あった。

［発明の目的］ 本発明の目的は、　５０Ｈｚの′電蝕を用いて６０Ｈｚ
に等価でしかも苛酷にならない試験を施行し得る簡単な
回路の遮断器の進み小電流試験方法を提供するにある。

［発明の概要］ 本発明による遮断器の進み小電流試験方法は、５Ｑ）１
ｇの電源を用い、この電源から供試遮断器に対する供給
電圧を試験電圧の２０〜３ｏチ増の電圧とし、その供試
遮断器にＺｎＯの避雷器を並列に接続してピーク電圧を
カットし、電圧上昇率だけ５ＱＨｚ４二合せるように構
成したことを特徴とするものである。

［発明の実施例コ 以下本発明を第４図および第５図に示す実施例について
説φ」する。８４図は直接試験回路を示し、電源１に供
試遮断器３およびコンデンサ４を接続し、その供試遮断
器３にＺｎＯ避雷器１５を並列に接続して全体の回路を
構成している。そして電源１から供試遮断器３を介して
コンデンサ４に電流を供給し、これを供試劫断器３で遮
断するものである。

また第５図は合成試験回路を示し、従来の第３図の回路
に対してその供試遮断器３にＺｎＯ避雷器１５を並列に
接続したものである０そして電源１よリコンデンサ１２
を介して補助遮断器２と供試遮断器３に進み電流を供給
し、遮断後は高圧トランス１４で電源１の電圧を昇圧し
、コンデンサ１３を介して供試遮断器３に印加するもの
である。

本発明においては、第４図および第５図の電源１は５Ｑ
Ｈｚの電源を用い、その電圧は試験電圧の２０〜３０％
増しとしている。これは５ＱＨｚ電源による６０Ｈｚ等
価試験を行なう際に、　５ＱＨｚの試験電圧の電圧上昇
率を５９Ｈｚ試験電圧の上昇率に合わせる必要があるか
らである。すなわち、第６図において、５０１−１ｇの
試験電圧Ｅ５０と５ＱＨｚの試験電圧Ｅ６０とを対比し
てみると、いま５ＱＨｚの試験電圧Ｅ６０の電圧上昇率
を５　ＱＨｚの試験電圧Ｆｉａｏの電圧上昇率に合わせ
るには、５９Ｈｚの試験電圧Ｆｉ５０を２０〜３０％増
しの本発明の試験電圧Ｈオにすればよい。またＺｎＯ避
雷器１５の制限電圧を試験電圧Ｅλに対して２σＢｉに
設定することにより、試験に必要な実効値が得られ、不
必要な波高値部分Ｅ直は避雷器１５でカットされること
になる。

いま第６図において−５０Ｈ！の試験電圧Ｅｇｏと５Ｑ
Ｈｚの試験電圧Ｅ６０とを比較すると、波高時間がそれ
ぞれｌＱｍｓと８．３ｍｓでｓ　６０Ｈｚの方が早く高
い電圧が印加される。それで５ＱＨｚの試験電圧Ｅ６０
を約２０チ増しにして本発明試験電圧Ｂ、ｔにすると、
５ＱＨｚより畠い電圧が印加されるようになるが、波高
値ＢＨも高くなる。したがって供試駆断器３に並列に接
続したＺｎＯ＠雷器１５の制限電圧を試験電圧Ｅ差に対
して２σＥ尤に設定すれば、略々試験電圧の波高値で電
圧を抑えることが可能となる。

［発明の効果コ 以上のように本発明によれば、進み小電流遮断試験にお
いて、５９Ｈｚの電源の電圧を試験電圧Ｅの２０〜３０
チ増しとし、供試遮断器に試験電圧Ｅχに対し２ｆＢ、
ｔの制限電圧を有する避雷器を並列に接続したことによ
り、５９Ｈｚの供試遮断器に対して６０Ｈｚに等価な試
験を簡単な設備で施行することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は従来の直接試験法による試験装置
を示す回路図、第３図は同じ〈従来の合成試験法による
試験装置を示す回路図、第４図および第５図は本発明に
よる遮断器の進み小電流試験方法を説明するためのそれ
ぞれ異なる実施例を示す回路図、第６図は５ＱＨｘおよ
び（ｉＱＨｚ試験電圧の関係を示す波形図である。 １・・・電源　２・・・補助遮断器 ３・・・供試遮断器　４，１２．１３・・・コンデンサ
１４・・・高圧トランス　１５・・・ＺｎＯ避雷器Ｅス
・・・本発明の試験電圧Ｅ５０・・・５ＱＨｚ試験電圧
Ｆｉｅｏ・・・５ＱＨｚ試験電圧 代理人　弁理士　猪　股　祥　晃（ほか１名）第　１　
図　第　２　口 笛　３　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）遮断器の進み小電流遮断試験において、電源から
   の供給電圧を試験電圧Ｅオの２０〜３０％増しとし、こ
   の試験電圧ＥＡの２５Ｊの制限電圧を有するＺｎＯ避雷
   器を供試遮断器に並列に接続して試験電圧のピーク電圧
   をカットするよう（二したことを特徴とする遮断器の進
   み小電流試験方法。 （２）試験装置が直接試験法による装置である特許請求
   の範囲第１項記載の遮断器の進み小電流試験方法。 （８）試験装置が合成試験法による装置である特許請求
   の範囲第１項記載の遮断器の進み小電流試験方法。