JPH074765Y2 - 走査電子顕微鏡等の表示装置 - Google Patents
走査電子顕微鏡等の表示装置Info
- Publication number
- JPH074765Y2 JPH074765Y2 JP1984184642U JP18464284U JPH074765Y2 JP H074765 Y2 JPH074765 Y2 JP H074765Y2 JP 1984184642 U JP1984184642 U JP 1984184642U JP 18464284 U JP18464284 U JP 18464284U JP H074765 Y2 JPH074765 Y2 JP H074765Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- image
- brightness
- cathode ray
- ray tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Description
【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、走査電子顕微鏡等の像表示手段として使用さ
れる陰極線管の明るさ及びコントラストを自動的に調整
する機能を備えた走査電子顕微鏡等の表示装置に関す
る。
れる陰極線管の明るさ及びコントラストを自動的に調整
する機能を備えた走査電子顕微鏡等の表示装置に関す
る。
[従来の技術] 走査電子顕微鏡等の表示装置においては、表示手段とし
て使用される陰極線管(以下CRTと略する)の走査速度
を例えば一走査線当り数μ秒から数分の範囲まで段階的
に選択できる走査速度選択機能、面走査,線走査,走査
領域の拡大,縮小等を選択する走査モード選択機能、多
種画像同時表示,波形モニター等を選択する表示モード
選択機能を設け、観察目的に合せてこれらを選択して使
用している。
て使用される陰極線管(以下CRTと略する)の走査速度
を例えば一走査線当り数μ秒から数分の範囲まで段階的
に選択できる走査速度選択機能、面走査,線走査,走査
領域の拡大,縮小等を選択する走査モード選択機能、多
種画像同時表示,波形モニター等を選択する表示モード
選択機能を設け、観察目的に合せてこれらを選択して使
用している。
[考案が解決しようとする問題点] このような従来装置では、例えば走査速度,走査モー
ド,表示モードを像観察の目的に合せて任意に選択した
場合、これらの各モードの組み合せによって対応するCR
T上の輝点の単位時間当りの走査速度(又は走査領域)
が大幅に変わるため、試料像(輝度変調像)の明るさ及
びコントラストが変化し、最適な像を得るためにその都
度繁雑な調整操作を必要とする。又、観察用のCRT又は
写真撮影用のCRTを使用して写真撮影をする場合に、明
るさやコントラストが変化するとカメラの絞り、フイル
ム感度等の調整を必要とし写真撮影に長時間を要する。
更に、コントラスト及び明るさの調整操作が最適になさ
れていない場合には、鮮明な像を得られないだけでなく
輝点による所謂CRT焼けを早めてCRTの寿命を縮める欠点
があった。本考案は以上の欠点を解消することを目的と
している。
ド,表示モードを像観察の目的に合せて任意に選択した
場合、これらの各モードの組み合せによって対応するCR
T上の輝点の単位時間当りの走査速度(又は走査領域)
が大幅に変わるため、試料像(輝度変調像)の明るさ及
びコントラストが変化し、最適な像を得るためにその都
度繁雑な調整操作を必要とする。又、観察用のCRT又は
写真撮影用のCRTを使用して写真撮影をする場合に、明
るさやコントラストが変化するとカメラの絞り、フイル
ム感度等の調整を必要とし写真撮影に長時間を要する。
更に、コントラスト及び明るさの調整操作が最適になさ
れていない場合には、鮮明な像を得られないだけでなく
輝点による所謂CRT焼けを早めてCRTの寿命を縮める欠点
があった。本考案は以上の欠点を解消することを目的と
している。
[問題点を解決するための手段] 本問題点を解決するための本考案の構成は、試料上に照
射される荷電粒子線を走査することにより得られる映像
信号を陰極線管に導いて像を表示する装置において、該
陰極線管の走査速度を選択する手段と、該陰極線管の走
査モードを選択する手段と、該陰極線管に表示される像
の表示モードを選択する手段と、該夫々の選択手段より
の選択信号が入力され、該選択信号に基づいて陰極線管
に入力される映像信号の振幅及びレベルを変化させてコ
ントラスト及び明るさを制御するための回路とを備えた
ことを特徴としている。
射される荷電粒子線を走査することにより得られる映像
信号を陰極線管に導いて像を表示する装置において、該
陰極線管の走査速度を選択する手段と、該陰極線管の走
査モードを選択する手段と、該陰極線管に表示される像
の表示モードを選択する手段と、該夫々の選択手段より
の選択信号が入力され、該選択信号に基づいて陰極線管
に入力される映像信号の振幅及びレベルを変化させてコ
ントラスト及び明るさを制御するための回路とを備えた
ことを特徴としている。
[実施例] 以下本考案の実施例を添付図面により詳述する。
第1図は本考案の一実施例の構成図である。第1図にお
いて、1はCRT、2は増幅器、3は演算増幅器である。
該演算増幅器3には、映像信号(輝度変調信号)Vsがコ
ントラストを調整するボリウム4により分圧されて入力
されている。5はCRT1の明るさを映像信号Vsに関係無く
任意に調整するための電位Va,Vbとの間に接続された明
るさ調整のためのボリウムである。6は演算増幅器3の
帰還抵抗であり、抵抗選択回路7のゲイン調整抵抗R1,
R2,R3……Rnと共に演算増幅器3の出力ゲインを決定す
る。電圧V0とV1はCRT1の特性のバラツキによる明るさの
変化を補正するために与えられる明るさ設定電圧であ
る。Vcはブランキング信号であり、これらの信号や電圧
は加算抵抗Ra〜Rfを介して演算増幅器3又は増幅器2に
入力される。増幅器2の出力はCRT1の輝度変調用のグリ
ッド1Gに供給されている。8は走査速度を例えば一走査
線当り数μ秒(RAPID−1)から数分(SLOW−3)まで
段階的に選択する第2図(イ)に示す速度選択スイッチ
が設けられた走査速度選択回路である。9は、映像信号
の波形を観察用CRT1上に表示する波形モニター(WF
M),同一CRT上に試料の同一部分より得られる2種類ま
たは4種類の情報を同時に表示する多種画像同時表示
(MDD),映像信号をCRTのY軸に加えることにより立体
的表示を行なうY軸変調表示(Y−MOD),Y軸変調表示
に輝度変調を加えて表示するYZ軸変調表示(YZ−MOD)
等の表示モード選択スイッチを有する第2図(ロ)に示
す表示モード選択回路である。10は、CRT上に表示され
る試料像の視野を任意の大きさに制限して表示するため
の制限視野走査(REDUCE)、CRTの画像上に十字線、水
平線または点をブライトアップして表示するブライトア
ップ走査(BUP)、照射プローブが試料上を線走査する
ことにより試料から発生した情報の強度変化を輝度変調
像としてCRT上に表示するラインポジショニング走査(L
INE)、又、照射プローブが試料上を線走査することに
より試料から発生した情報の強度変化を波形表示するラ
インスキャンプロファイル(LSP)等の走査モード選択
スイッチを有する第2図(ハ)に示す走査モード選択回
路である。11は走査速度選択回路8,表示モード選択回路
9,走査モード選択回路10の各選択スイッチからの選択信
号が入力される制御装置である。該制御装置11では走査
速度選択回路8及び走査モード選択回路10よりの選択信
号によって、第1図に図示していない電子ビーム走査部
を制御する。又、制御装置11では、各選択スイッチから
の選択信号の組み合せに対応して、他の表示に優先して
表示する優先表示出力コード、選択された走査速度,表
示モード及び走査モードで表示する表示出力コード、表
示を禁止する表示禁止コードが予め決められており、表
示禁止コードを除く出力コードはデコーダ12及び13に出
力される。コード信号が入力されたデコーダ12では、コ
ード信号を解読して、抵抗選択回路7のゲイン調整抵抗
R1〜Rnの該当する抵抗を選択する。これにより、演算増
幅器3の帰還抵抗6と、抵抗選択回路7で選択されたゲ
イン調整抵抗により演算増幅器3の出力ゲインが決定さ
れる。又、デコーダ13では制御装置11よりのコード信号
を解読して記憶回路14に入力する。該記憶回路14には、
D/A変換器15に入力された基準電圧V1をどのような値に
分圧するかを表わす情報内容がデジタル値で記憶されて
いる。該デコーダ13で解読されたコード信号に対応して
記憶回路14に記憶された内容がD/A変換器15に出力され
る。
いて、1はCRT、2は増幅器、3は演算増幅器である。
該演算増幅器3には、映像信号(輝度変調信号)Vsがコ
ントラストを調整するボリウム4により分圧されて入力
されている。5はCRT1の明るさを映像信号Vsに関係無く
任意に調整するための電位Va,Vbとの間に接続された明
るさ調整のためのボリウムである。6は演算増幅器3の
帰還抵抗であり、抵抗選択回路7のゲイン調整抵抗R1,
R2,R3……Rnと共に演算増幅器3の出力ゲインを決定す
る。電圧V0とV1はCRT1の特性のバラツキによる明るさの
変化を補正するために与えられる明るさ設定電圧であ
る。Vcはブランキング信号であり、これらの信号や電圧
は加算抵抗Ra〜Rfを介して演算増幅器3又は増幅器2に
入力される。増幅器2の出力はCRT1の輝度変調用のグリ
ッド1Gに供給されている。8は走査速度を例えば一走査
線当り数μ秒(RAPID−1)から数分(SLOW−3)まで
段階的に選択する第2図(イ)に示す速度選択スイッチ
が設けられた走査速度選択回路である。9は、映像信号
の波形を観察用CRT1上に表示する波形モニター(WF
M),同一CRT上に試料の同一部分より得られる2種類ま
たは4種類の情報を同時に表示する多種画像同時表示
(MDD),映像信号をCRTのY軸に加えることにより立体
的表示を行なうY軸変調表示(Y−MOD),Y軸変調表示
に輝度変調を加えて表示するYZ軸変調表示(YZ−MOD)
等の表示モード選択スイッチを有する第2図(ロ)に示
す表示モード選択回路である。10は、CRT上に表示され
る試料像の視野を任意の大きさに制限して表示するため
の制限視野走査(REDUCE)、CRTの画像上に十字線、水
平線または点をブライトアップして表示するブライトア
ップ走査(BUP)、照射プローブが試料上を線走査する
ことにより試料から発生した情報の強度変化を輝度変調
像としてCRT上に表示するラインポジショニング走査(L
INE)、又、照射プローブが試料上を線走査することに
より試料から発生した情報の強度変化を波形表示するラ
インスキャンプロファイル(LSP)等の走査モード選択
スイッチを有する第2図(ハ)に示す走査モード選択回
路である。11は走査速度選択回路8,表示モード選択回路
9,走査モード選択回路10の各選択スイッチからの選択信
号が入力される制御装置である。該制御装置11では走査
速度選択回路8及び走査モード選択回路10よりの選択信
号によって、第1図に図示していない電子ビーム走査部
を制御する。又、制御装置11では、各選択スイッチから
の選択信号の組み合せに対応して、他の表示に優先して
表示する優先表示出力コード、選択された走査速度,表
示モード及び走査モードで表示する表示出力コード、表
示を禁止する表示禁止コードが予め決められており、表
示禁止コードを除く出力コードはデコーダ12及び13に出
力される。コード信号が入力されたデコーダ12では、コ
ード信号を解読して、抵抗選択回路7のゲイン調整抵抗
R1〜Rnの該当する抵抗を選択する。これにより、演算増
幅器3の帰還抵抗6と、抵抗選択回路7で選択されたゲ
イン調整抵抗により演算増幅器3の出力ゲインが決定さ
れる。又、デコーダ13では制御装置11よりのコード信号
を解読して記憶回路14に入力する。該記憶回路14には、
D/A変換器15に入力された基準電圧V1をどのような値に
分圧するかを表わす情報内容がデジタル値で記憶されて
いる。該デコーダ13で解読されたコード信号に対応して
記憶回路14に記憶された内容がD/A変換器15に出力され
る。
以上のように構成された装置において、走査速度選択回
路8,表示モード選択回路9,走査モード選択回路10の各選
択回路の中から目的に応じて選択スイッチを選択する
と、該スイッチよりの選択信号は制御装置11に入力され
認識される。制御装置11で認識されコード化された制御
信号は、デコーダ12及び13に出力される。ここで、デコ
ーダ12では、各選択回路で選択されたスイッチの組み合
せに対応して抵抗選択回路7のどのゲイン調整抵抗を選
択するかが解読され、帰還抵抗6と選択されたゲイン調
整抵抗により演算増幅器3の出力ゲインが決定されコン
トラストが調整される。又、デコーダ13では、各選択回
路で選択されたスイッチの組み合せに対応して、記憶回
路14に記憶されている内容がD/A変換器15に出力され、D
/A変換器15より記憶回路14よりの値に応じて電圧V1を分
圧した電圧が増幅器2に入力され、増幅器2のレベルが
調整されてCRT1の明るさが変化する。つまり、第3図の
等価回路で示すように、帰還抵抗6とゲイン調整抵抗R1
〜Rn及びD/A変換器15よりの電圧によりゲイン及びレベ
ルが調整される。
路8,表示モード選択回路9,走査モード選択回路10の各選
択回路の中から目的に応じて選択スイッチを選択する
と、該スイッチよりの選択信号は制御装置11に入力され
認識される。制御装置11で認識されコード化された制御
信号は、デコーダ12及び13に出力される。ここで、デコ
ーダ12では、各選択回路で選択されたスイッチの組み合
せに対応して抵抗選択回路7のどのゲイン調整抵抗を選
択するかが解読され、帰還抵抗6と選択されたゲイン調
整抵抗により演算増幅器3の出力ゲインが決定されコン
トラストが調整される。又、デコーダ13では、各選択回
路で選択されたスイッチの組み合せに対応して、記憶回
路14に記憶されている内容がD/A変換器15に出力され、D
/A変換器15より記憶回路14よりの値に応じて電圧V1を分
圧した電圧が増幅器2に入力され、増幅器2のレベルが
調整されてCRT1の明るさが変化する。つまり、第3図の
等価回路で示すように、帰還抵抗6とゲイン調整抵抗R1
〜Rn及びD/A変換器15よりの電圧によりゲイン及びレベ
ルが調整される。
そのため、例えばYZ軸変調表示(YZ−MOD)等の輝度変
調が関係する像をCRT1に表示した場合、各選択回路の選
択スイッチの組み合せに対応してゲイン調整抵抗R1〜Rn
によって演算増幅器3の出力ゲインが最適に定められる
ため、ボリウム4を再調整することなく常に適切なコン
トラストの像がCRT1上に得られる。
調が関係する像をCRT1に表示した場合、各選択回路の選
択スイッチの組み合せに対応してゲイン調整抵抗R1〜Rn
によって演算増幅器3の出力ゲインが最適に定められる
ため、ボリウム4を再調整することなく常に適切なコン
トラストの像がCRT1上に得られる。
又、例えば波形モニター(WFM)等の輝度変調が関係し
ない像をCRTに表示した場合、この輝度変調が関係しな
い選択スイッチの組み合せに対応して、記憶回路14に記
憶された内容がD/A変換器15に出力され、明るさを調整
する増幅器2の入力レベルが変化し、この場合に最適な
明るさの像が得られる。
ない像をCRTに表示した場合、この輝度変調が関係しな
い選択スイッチの組み合せに対応して、記憶回路14に記
憶された内容がD/A変換器15に出力され、明るさを調整
する増幅器2の入力レベルが変化し、この場合に最適な
明るさの像が得られる。
更に、ラインポジショニング(LINE),制限視野走査
(REDUCE)等の輝度変調及び明るさが関係する像を表示
した場合は、コントラストについては増幅器3のゲイン
がゲイン調整抵抗R1〜Rnで、明るさについては増幅器2
のレベルがD/A変換器を介して制御装置11で制御される
ため、CRT1には適切なコントラスト及び明るさの像が表
示される。
(REDUCE)等の輝度変調及び明るさが関係する像を表示
した場合は、コントラストについては増幅器3のゲイン
がゲイン調整抵抗R1〜Rnで、明るさについては増幅器2
のレベルがD/A変換器を介して制御装置11で制御される
ため、CRT1には適切なコントラスト及び明るさの像が表
示される。
尚、本考案は変形が可能であり、第4図に他の実施例の
構成を示す。第4図において、20は制御装置11よりコー
ド信号が入力されるデコーダであり、該デコーダ20で解
読された信号は記憶回路21及び23に入力される。該記憶
回路21及び23にはD/A変換器22及び24の出力電圧を決定
するための内容が記憶されており、デコーダ20で解読さ
れた信号により、D/A変換器22及び24のの出力が決定す
る。該D/A変換器22及び24の出力は、第5図の等価回路
に示すようにボリウム5により分圧され加算抵抗Rgを介
して増幅器2に入力される。そのため、増幅器2の入力
レベルが変化して明るさが調整される。一方、制御装置
11よりのコード信号はデコーダ12にも入力されているた
め、ゲイン調整抵抗が選択されて演算増幅器3の出力ゲ
インが変化してコントラストが調整される。
構成を示す。第4図において、20は制御装置11よりコー
ド信号が入力されるデコーダであり、該デコーダ20で解
読された信号は記憶回路21及び23に入力される。該記憶
回路21及び23にはD/A変換器22及び24の出力電圧を決定
するための内容が記憶されており、デコーダ20で解読さ
れた信号により、D/A変換器22及び24のの出力が決定す
る。該D/A変換器22及び24の出力は、第5図の等価回路
に示すようにボリウム5により分圧され加算抵抗Rgを介
して増幅器2に入力される。そのため、増幅器2の入力
レベルが変化して明るさが調整される。一方、制御装置
11よりのコード信号はデコーダ12にも入力されているた
め、ゲイン調整抵抗が選択されて演算増幅器3の出力ゲ
インが変化してコントラストが調整される。
又、第6図及び第7図は他の実施例を示しており、第1
図及び第4図の実施例と同一部分には同一番号を付して
ある。第1図及び第4図の実施例では明るさを変化させ
る回路はCRTのグッドに接続されているが第6図及び第
7図のように増幅器25を介してCRT1のカソード1Kに接続
してもよい。
図及び第4図の実施例と同一部分には同一番号を付して
ある。第1図及び第4図の実施例では明るさを変化させ
る回路はCRTのグッドに接続されているが第6図及び第
7図のように増幅器25を介してCRT1のカソード1Kに接続
してもよい。
更に、第8図に示すように、演算増幅器3の帰還量を記
憶回路27に記憶されたD/A変換器26の出力を決めるため
の信号によって変えることにより、デコーダ20は明るさ
調整用と共用できる。
憶回路27に記憶されたD/A変換器26の出力を決めるため
の信号によって変えることにより、デコーダ20は明るさ
調整用と共用できる。
[考案の効果] 以上詳細に説明したように本考案によれば、像観察の目
的に合わせて任意に選択スイッチを選択した場合、これ
らの各モードの組み合わせに対応して像の明るさ及びコ
ントラストが変化するため、その都度繁雑な調整操作を
しなくても常に最適なコントラストと明るさを有する像
が表示される。また、写真撮影をする場合にも明るさや
コントラストが自動的に設定されるため、フイルムの絞
り、フイルム感度等の調整を必要としないため、写真撮
影に時間を要することはなく、更に輝点による所謂CRT
焼けを防止してCRTの寿命を伸すことができる。
的に合わせて任意に選択スイッチを選択した場合、これ
らの各モードの組み合わせに対応して像の明るさ及びコ
ントラストが変化するため、その都度繁雑な調整操作を
しなくても常に最適なコントラストと明るさを有する像
が表示される。また、写真撮影をする場合にも明るさや
コントラストが自動的に設定されるため、フイルムの絞
り、フイルム感度等の調整を必要としないため、写真撮
影に時間を要することはなく、更に輝点による所謂CRT
焼けを防止してCRTの寿命を伸すことができる。
第1図は本考案の一実施例の構成図、第2図は(イ),
(ロ),(ハ)は選択回路の選択スイッチの配置の一例
を示す図、第3図は第1図の実施例の等価回路図、第4
図は他の実施例の構成図、第5図は第4図の実施例の等
価回路図、第6図,第7図及び第8図は他の実施例を説
明するための図である。 1:陰極線管、2:増幅器、3:演算増幅器、4,5:ボリウム、
6:帰還抵抗、7:抵抗選択回路、8:走査速度選択回路、9:
表示モード選択回路、10:走査モード選択回路、11:制御
装置、12,13,20:デコーダ、14,21,23,27:記憶回路、15,
22,24,26:D/A変換器、25:増幅器、R1〜Rn:ゲイン調整
抵抗、Ra〜Rg:加算抵抗。
(ロ),(ハ)は選択回路の選択スイッチの配置の一例
を示す図、第3図は第1図の実施例の等価回路図、第4
図は他の実施例の構成図、第5図は第4図の実施例の等
価回路図、第6図,第7図及び第8図は他の実施例を説
明するための図である。 1:陰極線管、2:増幅器、3:演算増幅器、4,5:ボリウム、
6:帰還抵抗、7:抵抗選択回路、8:走査速度選択回路、9:
表示モード選択回路、10:走査モード選択回路、11:制御
装置、12,13,20:デコーダ、14,21,23,27:記憶回路、15,
22,24,26:D/A変換器、25:増幅器、R1〜Rn:ゲイン調整
抵抗、Ra〜Rg:加算抵抗。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭56−1455(JP,A) 特開 昭57−199164(JP,A)
Claims (1)
- 【請求項1】試料上に照射される荷電粒子線を走査する
ことにより得られる映像信号を陰極線管に導いて像を表
示する装置において、該陰極線管の走査速度を選択する
手段と、該陰極線管の走査モードを選択する手段と、該
陰極線管に表示される像の表示モードを選択する手段
と、該夫々の選択手段よりの選択信号が入力され、該選
択信号に基づいて陰極線管に入力される映像信号の振幅
及びレベルを変化させてコントラスト及び明るさを制御
するための回路とを備えたことを特徴とする走査電子顕
微鏡等の表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984184642U JPH074765Y2 (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | 走査電子顕微鏡等の表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984184642U JPH074765Y2 (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | 走査電子顕微鏡等の表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6199961U JPS6199961U (ja) | 1986-06-26 |
| JPH074765Y2 true JPH074765Y2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=30742127
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1984184642U Expired - Lifetime JPH074765Y2 (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | 走査電子顕微鏡等の表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH074765Y2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS561455A (en) * | 1979-06-18 | 1981-01-09 | Jeol Ltd | Picture signal processing device for scanning electron microscope, etc. |
| JPS57199164A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-07 | Hitachi Ltd | Sample image observation unit |
-
1984
- 1984-12-05 JP JP1984184642U patent/JPH074765Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6199961U (ja) | 1986-06-26 |
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