JPH0748429B2 - Variable inductance device and magnetic field strength measuring device - Google Patents

Variable inductance device and magnetic field strength measuring device

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JPH0748429B2
JPH0748429B2 JP63220716A JP22071688A JPH0748429B2 JP H0748429 B2 JPH0748429 B2 JP H0748429B2 JP 63220716 A JP63220716 A JP 63220716A JP 22071688 A JP22071688 A JP 22071688A JP H0748429 B2 JPH0748429 B2 JP H0748429B2
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inductance
magnetic field
coil
current
superconductor
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孝生 田川
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Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> この発明は、超電導体を磁芯としたコイルの磁芯に流れ
る電流を変化させてコイルのインダクタンスを変える可
変インダクタンス装置、および、既知の電流が供給され
た超電導体を磁芯としたコイルのインダクタンスを測定
することによって磁界強度を測定する磁界強度測定装置
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial field of application> The present invention relates to a variable inductance device which changes the current flowing through a magnetic core of a coil having a superconductor as a magnetic core to change the inductance of the coil, and a known current. The present invention relates to a magnetic field strength measuring device for measuring magnetic field strength by measuring the inductance of a coil having a superconductor supplied as a magnetic core.

<従来技術> 従来、コイルのインダクタンスを変える可変インダクタ
ンス装置として第12図に示すようなものがある。この可
変インダクタンス装置は、コイル31内に比透磁率μが1
より大きい磁性体片32を挿入し、上記磁性体片32をコイ
ル31内で軸方向に機械的に動かすことによって、コイル
31の端子33,34より見たインダクタンスを変えるもので
ある。
<Prior Art> Conventionally, there is a variable inductance device for changing the inductance of a coil as shown in FIG. This variable inductance device has a relative magnetic permeability μ of 1 in the coil 31.
A coil is obtained by inserting a larger magnetic piece 32 and mechanically moving the magnetic piece 32 in the coil 31 in the axial direction.
It changes the inductance as seen from the terminals 33 and 34 of 31.

<発明が解決しようとする課題> しかしながら、上記従来の可変インダクタンス装置は、
コイル31の端子33,34から見たインダクタンスを変える
ために、コイル31内に挿入された磁性体片32を機械的に
動かすようにしているため、上記磁性体片32を高速に動
かすことが困難である。したがって、高速にインダクタ
ンスを変化させることができないという問題がある。ま
た、上記磁性体片32を遠方より動かすことも困難であ
り、遠方よりインダクタンスを変化させることができな
いという問題もある。
<Problems to be Solved by the Invention> However, the above-mentioned conventional variable inductance device is
Since the magnetic piece 32 inserted in the coil 31 is mechanically moved in order to change the inductance viewed from the terminals 33 and 34 of the coil 31, it is difficult to move the magnetic piece 32 at high speed. Is. Therefore, there is a problem that the inductance cannot be changed at high speed. Further, there is a problem that it is difficult to move the magnetic piece 32 from a distance, and the inductance cannot be changed from a distance.

そこで、この発明の目的は、操作が簡単であり、しかも
高速にインダクタンスを変えることができる可変インダ
クタンス装置を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a variable inductance device that is easy to operate and that can change the inductance at high speed.

<課題を解決するための手段> 上記目的を達成するため、この発明の可変インダクタン
ス装置は、超電導体を磁芯とするコイルと、上記超電導
体に流す電流を変化させる電流変化手段を備えて、上記
電流を変化させることによって上記コイルのインダクタ
ンスを変化させることを特徴としている。
<Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, the variable inductance device of the present invention includes a coil having a superconductor as a magnetic core, and a current changing unit for changing a current flowing through the superconductor, It is characterized in that the inductance of the coil is changed by changing the current.

また、この発明の磁界強度測定装置は、外部より既知の
電流が供給される超電導体を磁芯としたコイルと、上記
コイルのインダクタンスを測定するインダクタンス測定
手段を備えて、上記コイルのインダクタンスを測定する
ことによって外部磁界の強度を測定することを特徴とし
ている。
Further, the magnetic field strength measuring device of the present invention includes a coil having a superconductor to which a known current is supplied from the outside as a magnetic core, and an inductance measuring unit for measuring the inductance of the coil, and measures the inductance of the coil. This is characterized by measuring the strength of the external magnetic field.

<作用> この発明の可変インダクタンス装置において、電流変化
手段によって超伝導体に流す電流を変化させると、この
超伝導体を流れる電流の変化に応じて超電導体の磁気特
性が変化する。そうすると、上記超電導体はコイルの磁
芯を成しているため、上記コイルの磁芯そのものの磁気
特性が変化して上記コイルのインダクタンスが変化す
る。したがって、超伝導体に流す電流を変化することに
よってコイルのインダクタンスを変化させることができ
る。
<Operation> In the variable inductance device of the present invention, when the current flowing through the superconductor is changed by the current changing means, the magnetic characteristics of the superconductor change according to the change in the current flowing through the superconductor. Then, since the superconductor forms the magnetic core of the coil, the magnetic characteristics of the magnetic core of the coil itself change and the inductance of the coil changes. Therefore, the inductance of the coil can be changed by changing the current passed through the superconductor.

また、この発明の磁界強度測定装置において、超伝導体
からなる磁芯に外部から既知の電流を供給しつつ、外部
磁界強度を変化させると超電導体の磁気特性が変化す
る。そうすると、上記超電導体はコイルの磁芯になって
いるため、上記超電導体の磁気特性の変化に応じてコイ
ルのインダクタンスが変化する。したがって、インダク
タンス測定手段によって上記コイルのインダクタンスを
測定することにより、外部磁界の強度を測定することが
できる。
Further, in the magnetic field strength measuring device of the present invention, when the external magnetic field strength is changed while supplying a known current from the outside to the magnetic core made of a superconductor, the magnetic characteristics of the superconductor change. Then, since the superconductor serves as the magnetic core of the coil, the inductance of the coil changes according to the change in the magnetic characteristics of the superconductor. Therefore, the strength of the external magnetic field can be measured by measuring the inductance of the coil with the inductance measuring means.

<実施例> 以下、この発明を図示の実施例により詳細に説明する。<Example> Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to illustrated examples.

この発明は超電導体の反磁性特性(すなわち、マイスナ
ー効果)を利用するものである。
This invention utilizes the diamagnetic property of superconductors (that is, the Meissner effect).

まず、第11図により超電導状態について説明する。超電
導状態が及び範囲は、臨界温度Tc,臨界磁界Hcおよび臨
界電流Jcの3つの臨界値を結ぶ曲面(以下、T−H−J
臨界面と言う)によって制限される。つまり、このT−
H−J臨界面を越えると超電導状態は急激に消滅してし
まい、このT−H−J臨界面内において超電導状態が実
現するのである。上記T−H−J臨界面内においては、
超電導体はよく知られているように電気抵抗が零であ
り、完全反磁性(マイスナー効果)の性質を示す。ま
た、超電導体は上記T−H−J臨界面の外部では超電導
状態は破れ完全反磁性を示さない。
First, the superconducting state will be described with reference to FIG. The superconducting state and range are curved surfaces connecting the three critical values of the critical temperature Tc, the critical magnetic field Hc, and the critical current Jc (hereinafter, TH-J
It is limited by the critical surface). In other words, this T-
The superconducting state is abruptly extinguished beyond the HJ critical plane, and the superconducting state is realized within the THJ critical plane. In the T-H-J critical plane,
As is well known, superconductors have zero electric resistance and exhibit the property of complete diamagnetism (Meissner effect). Further, the superconductor is broken in the superconducting state outside the TH-J critical plane and does not show perfect diamagnetism.

第1図はこの発明の可変インダクタンス装置の一実施例
を示す。この可変インダクタンス装置は、超電導体1を
磁芯としてコイル2を巻き、例えば液化窒素で臨界温度
Tc以下に冷却したものである。この状態において上記可
変インダクタンス装置の端子3−4間のインダクタンス
L1を測定する。次に磁芯1に外部磁界を作用させた状態
で端子3−4間のインダクタンスL3を測定すると、両イ
ンダクタンスの間にはL1<L3の関係がある。これは、第
11図に示すように、超電導体1の温度が液化窒素によっ
て冷却されることによって温度TNに固定され、超電導
体1が超電導状態を示していたが、外部磁界によってそ
の温度−磁界−電流が上記T−H−J臨界面に達し、コ
イル2の磁芯である超電導体1の磁気的性質がマイスナ
ー効果すなわち反磁性を失うためと考えられる。
FIG. 1 shows an embodiment of the variable inductance device of the present invention. In this variable inductance device, a coil 2 is wound with a superconductor 1 as a magnetic core, and liquid nitrogen is used as a critical temperature.
It is cooled below Tc. In this state, the inductance between the terminals 3-4 of the variable inductance device
Measure L 1 . Next, when measuring the inductance L 3 between the terminals 3-4 in a state where the external magnetic field was applied to the magnetic core 1, between the two inductance relationship of L 1 <L 3. This is
As shown in FIG. 11, the temperature of the superconductor 1 was fixed to the temperature TN by being cooled by liquefied nitrogen, and the superconductor 1 was in the superconducting state. It is considered that the magnetic properties of the superconductor 1 which is the magnetic core of the coil 2 reach the T-H-J critical surface and lose the Meissner effect, that is, diamagnetism.

第2図(a)は第1図の超電導体1に対する外部磁界B
と端子3−4間のインダクタンスLとの関係を示す。外
部磁界BによるインダクタンスLの変化は、第2図
(a)に示すようにI,IIおよびIIIの領域に区分され
る。外部磁界Bに応じてインダクタンスLが変化するII
の領域は、超電導体1の材料,構造および作成条件等に
よって、広くすることも狭くすることも可能である。し
たがって、用途によってどのような特性のものを使用す
るかを決定すればよい。例えば、外部磁界界Bの変化に
対してインダクタンスLをアナログ的に変化させる場合
は、IIの領域が広いものがよい。セラミック超電導体の
場合はT−H−J臨界面がある厚みを持っている。した
がって、磁芯としてセラミック超電導体を用いると、上
記IIの領域の広い可変インダクタンス装置が得られる。
また、外部磁界Bの強度がある値より大きいか小さいか
によってインダクタンスの値をL1かL3かを判断する場合
は、IIの領域が狭くてもよい。
2 (a) is an external magnetic field B for the superconductor 1 of FIG.
And the inductance L between the terminals 3-4 are shown. The change in the inductance L due to the external magnetic field B is divided into regions I, II and III as shown in FIG. Inductance L changes according to external magnetic field B II
The area of can be widened or narrowed depending on the material, structure, preparation conditions, etc. of the superconductor 1. Therefore, what characteristics should be used may be determined depending on the application. For example, when the inductance L is changed in an analog manner with respect to the change in the external magnetic field B, the area II is preferably wide. In the case of a ceramic superconductor, the THJ critical surface has a certain thickness. Therefore, when a ceramic superconductor is used as the magnetic core, a variable inductance device having a wide range II can be obtained.
Further, when judging whether the value of the inductance is L 1 or L 3 depending on whether the strength of the external magnetic field B is larger or smaller than a certain value, the region II may be narrow.

外部磁界の変化に伴うインダクタンスの変化は、第2図
(a)に示すように超電導体1に流す電流(以下、磁芯
電流と言う)によって変化する。第2図(a)は磁芯電
流Iをパラメータとした場合の外部磁界Bとインダクタ
ンスLとの関係を示す。磁芯電流Iが大きいほど低い磁
界BでインダクタンスLが変化する。これは、磁芯電流
Iが大きいほど少ない磁界BでT−H−J臨界面の外部
に温度−磁界−電流の作用点が移るためと考えられる。
第2図(b)は磁界Bをパラメータとした場合の磁芯電
流IとインダクタンスLとの関係を示す。磁芯電流Iに
対するインダクタンスLの変化は、外部磁界Bに対する
インダクタンスLの変化と殆ど同じ傾向を示す。
The change in the inductance due to the change in the external magnetic field is changed by the current (hereinafter referred to as the magnetic core current) passed through the superconductor 1 as shown in FIG. FIG. 2A shows the relationship between the external magnetic field B and the inductance L when the magnetic core current I is used as a parameter. The larger the magnetic core current I is, the lower the magnetic field B is and the inductance L is changed. It is considered that this is because as the magnetic core current I increases, the action point of temperature-magnetic field-current moves to the outside of the T-H-J critical surface with a smaller magnetic field B.
FIG. 2B shows the relationship between the magnetic core current I and the inductance L when the magnetic field B is used as a parameter. The change in the inductance L with respect to the magnetic core current I shows almost the same tendency as the change in the inductance L with respect to the external magnetic field B.

上述の特性より、超電導体1を磁芯としたコイル2は、
コイル2に作用させる外部磁界Bおよび超伝導体1の磁
芯に流す磁芯電流Iの大きを変化することによってイン
ダクタンスを変えることができる。第2図(a)あるい
は第2図(b)においては外部磁界Bと電流Iとを同時
に変化させているが、いずれか一方のみを変化させても
差し支えない。
From the above characteristics, the coil 2 having the superconductor 1 as the magnetic core is
The inductance can be changed by changing the magnitude of the external magnetic field B applied to the coil 2 and the magnetic core current I flowing through the magnetic core of the superconductor 1. In FIG. 2 (a) or 2 (b), the external magnetic field B and the current I are changed at the same time, but it is possible to change only one of them.

上記構成の可変インダクタンス装置において、端子3−
4間に流れる電流により、この電流を打ち消すような電
流が超電導体1に流れる。この超電導体1に流れる電流
を防止するためには、コイル2の磁芯の構造を次のよう
にすればよい。すなわち、第3図の磁芯は、超電導体21
を板状に形成し、その表面を互いに絶縁した状態で張り
合わせた構造にしている。この場合、外部磁界Bの変化
量に対するインダクタンスLの変化量は、外部磁界Bの
方向によって変わるため、指向性の強い可変インダクタ
ンス装置を得ることができる。また、第4図の磁芯は、
棒状に形成した複数の超電導体22を互いに絶縁して束ね
たものである。この構造の磁芯は、上記棒状に形成した
超電導体22の表面に絶縁物層を形成し、その絶縁物層が
形成された棒状の超電導体22を絶縁性物質によって固め
て形成してもよい。さらに、第5図の磁芯は、帯状に形
成した超電導体23を巻き上げて、その各層間を絶縁した
ものである。しかしながら、磁芯は総てこのようにしな
ければならないということはなく、用途によって無垢の
柱状のものやパイプ状のものであってもよい。
In the variable inductance device having the above configuration, the terminal 3-
Due to the current flowing between the four, a current that cancels this current flows in the superconductor 1. In order to prevent the current flowing through the superconductor 1, the structure of the magnetic core of the coil 2 may be set as follows. That is, the magnetic core shown in FIG.
Are formed in a plate shape, and the surfaces thereof are bonded together while being insulated from each other. In this case, since the amount of change in the inductance L with respect to the amount of change in the external magnetic field B changes depending on the direction of the external magnetic field B, a variable inductance device having a strong directivity can be obtained. The magnetic core shown in FIG.
A plurality of rod-shaped superconductors 22 are insulated and bundled. The magnetic core of this structure may be formed by forming an insulator layer on the surface of the rod-shaped superconductor 22 and solidifying the rod-shaped superconductor 22 having the insulator layer with an insulating substance. . Further, the magnetic core shown in FIG. 5 is obtained by winding a band-shaped superconductor 23 to insulate the layers. However, all the magnetic cores do not have to be formed in this way, and may be solid columnar ones or pipe-like ones depending on the application.

このように、この発明に係る超電導体を磁芯としたコイ
ルは、第6図のように外部磁界Bと磁芯電流Iとによっ
てインダクタンスを変化することができる回路素子であ
る(この場合、磁芯電流Iは直流であっても時間と共に
変化するものであっってもよい)。すなわち、第7図に
示すように、超電導体7を磁芯としたコイル5に磁石6
を近付けるとインダクタンスL(B)は変化する。しか
も変化する磁界Bは磁芯電流Iによって制御できる。し
たがって、インダクタンスL(B)は磁石6の位置や方
向の変化による磁界強度の変化によって変化させること
ができる。また、インダクタンスL(B)は磁芯電流I
の変化によっても変えることができる。
As described above, the coil having the superconductor according to the present invention as the magnetic core is a circuit element whose inductance can be changed by the external magnetic field B and the magnetic core current I as shown in FIG. The core current I may be direct current or may change with time). That is, as shown in FIG. 7, the coil 5 having the superconductor 7 as a magnetic core is attached to the magnet 6
The inductance L (B) changes as is approached. Moreover, the changing magnetic field B can be controlled by the magnetic core current I. Therefore, the inductance L (B) can be changed by the change of the magnetic field strength due to the change of the position or direction of the magnet 6. The inductance L (B) is the magnetic core current I.
It can also be changed by changing.

第8図(a)は上記実施例とは異なる実施例であり、コ
イル13により外部磁界を作るものである。可変インダク
タンス装置のコイル12は、第1図の場合と同様に超電導
体11を磁芯とし、例えば液化窒素で臨界温度Tc以下に冷
却したものである。電源14は外部磁界を作るための電源
であり、コイル13はこの電源14からの電圧に応じて変化
する外部磁界Bを発生する。そうすると、コイル1の端
子間のインダクタンスL(B)はコイル13による磁界強
度変化に応じて変化する。したがって、電源14からの電
圧に応じてインダクタンスを変化させることができるの
である。
FIG. 8 (a) is an embodiment different from the above embodiment, in which an external magnetic field is generated by the coil 13. The coil 12 of the variable inductance device uses the superconductor 11 as a magnetic core as in the case of FIG. 1 and is cooled to a critical temperature Tc or lower with, for example, liquefied nitrogen. The power supply 14 is a power supply for generating an external magnetic field, and the coil 13 generates an external magnetic field B that changes according to the voltage from the power supply 14. Then, the inductance L (B) between the terminals of the coil 1 changes according to the change in the magnetic field strength of the coil 13. Therefore, the inductance can be changed according to the voltage from the power supply 14.

第8図(b)の実施例は、超伝導体の磁芯を流れる磁芯
電流Iを変化させてインダクタンスL(I)を変えるも
のである。すなわち、電源24からの信号に基づいて磁芯
電流Iを変化して、コイル12の端子間のインダクタンス
L(I)を上記磁芯電流Iに応じて変化するものであ
る。
In the embodiment shown in FIG. 8B, the inductance L (I) is changed by changing the magnetic core current I flowing through the magnetic core of the superconductor. That is, the magnetic core current I is changed based on the signal from the power source 24, and the inductance L (I) between the terminals of the coil 12 is changed according to the magnetic core current I.

ここで、上述の第8図(a)および第8図(b)の実施
例における上記電源14は、直流電流あるいは時間と共に
変化する電源あるいは両者が重畳された電源のいずれで
あってもよい。また、第8図(a)および第8図(b)
の実施例を組み合わせて、外部磁界Bと磁芯電流Iとを
同時に変化させてインダクタンスを変化するようにして
もよい。
Here, the power source 14 in the embodiments of FIGS. 8 (a) and 8 (b) described above may be a direct current, a power source that changes with time, or a power source in which both are superposed. Further, FIG. 8 (a) and FIG. 8 (b)
The embodiments may be combined to change the external magnetic field B and the magnetic core current I at the same time to change the inductance.

上記可変インダクタンス装置は、上述のように外部磁界
および磁芯電流の変化に応じてインダクタンスを変化さ
せることができる。このことは取りも直さず、既知の磁
芯電流下で上記可変インダクタンス装置のコイルのイン
ダクタンスを測定することによって、外部磁界の強度を
測定することができるということである。
The variable inductance device can change the inductance according to the changes in the external magnetic field and the magnetic core current as described above. This means that the strength of the external magnetic field can be measured by measuring the inductance of the coil of the variable inductance device under a known magnetic core current.

第9図は上述のような可変インダクタンス装置を用いた
タンク回路である。このタンク回路の外部磁界強度Bお
よび磁芯電流Iにおける共振周波数f(B)は、f
(B)=/(2π L(B)・C)で与えられる。した
がって、このようなタンク回路を発振回路に応用する
と、上記発振回路のコイルを磁界強度Bのところに置
き、磁芯に磁芯電流Iを流せば、この発振回路は磁芯電
流Iに応じた所定の周波数f(B)で発振する(この際
の磁芯電流Iは零であってもよい)。すなわち、この発
振回路の発振周波数f(B)よりその箇所の磁界強度B
を知ることができるのである。上記発振回路の構成は従
来技術をそのまま利用すればよいので詳細は省略する。
ここで、外部磁界Bの変化をインダクタンスLの変化に
よってアナログ的に検出する場合は、第2図におけるII
の領域が広いものがよく、外部磁界Bの強度がある値よ
りも大きいか小さいかを判別する場合は、IIの領域が狭
くてもよいことは言うまでもない。また、磁芯電流Iの
値を変えることにより、磁界Bの測定範囲を自由に選ぶ
ことができる。この場合磁芯電流Iは直流である必要は
なく時間と共に変化してもよい。
FIG. 9 shows a tank circuit using the variable inductance device as described above. The resonance frequency f (B) at the external magnetic field strength B and the magnetic core current I of this tank circuit is f
It is given by (B) = / (2π L (B) · C). Therefore, when such a tank circuit is applied to an oscillation circuit, if the coil of the oscillation circuit is placed at the magnetic field strength B and a magnetic core current I is passed through the magnetic core, this oscillation circuit responds to the magnetic core current I. It oscillates at a predetermined frequency f (B) (the magnetic core current I at this time may be zero). That is, from the oscillation frequency f (B) of this oscillation circuit, the magnetic field strength B at that location
Can know. Since the configuration of the above-mentioned oscillation circuit may be the same as that of the conventional technique, its details are omitted.
Here, in the case of detecting the change of the external magnetic field B in an analog manner by the change of the inductance L, II in FIG.
It is needless to say that the region of II may be narrow when the strength of the external magnetic field B is larger or smaller than a certain value. Further, by changing the value of the magnetic core current I, the measurement range of the magnetic field B can be freely selected. In this case, the magnetic core current I does not have to be direct current and may change with time.

従来、磁界強度を測定する場合はホール素子等を用い、
抵抗値を測定することによって行っていたため低い精度
の測定値しか得られなかった。しかしながら、この方法
によれば磁界強度の変化をインダクタンスの変化として
測定することができるため、高い精度で磁界強度を測定
することができる。
Conventionally, when measuring the magnetic field strength, using a Hall element,
Since the measurement was performed by measuring the resistance value, only a low-precision measurement value was obtained. However, according to this method, since the change in the magnetic field strength can be measured as the change in the inductance, the magnetic field strength can be measured with high accuracy.

上記発振回路はその発振信号をパルスに整形することに
よって、デジタル信号として処理することができる。ま
た、発振周波数を適当な値に選ぶことにより、第10図の
ように発振周波数f(B)の発振信号を送信機15の簡単
なアンテナで空中に輻射して、無線受信機16によって受
信することも可能である。
The oscillation circuit can process the oscillation signal as a digital signal by shaping the oscillation signal into a pulse. Also, by selecting an appropriate value for the oscillation frequency, an oscillation signal of oscillation frequency f (B) is radiated into the air by a simple antenna of the transmitter 15 and received by the wireless receiver 16 as shown in FIG. It is also possible.

第8図(a)に示すようなコイルによって外部磁界を作
る可変インダクタンス装置および第8図(b)に示すよ
うな磁芯電流を変化させる可変インダクタンス装置を、
タンク回路のインダクタンスLとして発振器を構成す
る。そうすると、電源14の電圧信号をFM変調することが
可能となる。また、上記コイルによって外部磁界を作る
可変インダクタス装置を、タンク回路のインダクタンス
Lとした無線受信機においては、電源14の電圧により受
信周波数を自由にコントロールすることができる。しか
も、測定可能な磁界範囲は磁芯電流によって選択でき
る。したがって、未知の周波数の無線信号を検出するこ
とができる。
A variable inductance device for generating an external magnetic field by a coil as shown in FIG. 8 (a) and a variable inductance device for changing magnetic core current as shown in FIG. 8 (b) are provided.
An oscillator is configured as the inductance L of the tank circuit. Then, the voltage signal of the power supply 14 can be FM-modulated. Further, in the wireless receiver in which the variable inductor device for generating an external magnetic field by the coil is the inductance L of the tank circuit, the receiving frequency can be freely controlled by the voltage of the power supply 14. Moreover, the measurable magnetic field range can be selected by the core current. Therefore, it is possible to detect a radio signal having an unknown frequency.

さらに、フィルタ回路の一部として上記可変インダクタ
ンス装置を使用することにより、フィルタ回路の特性を
簡単にコントロールすることができる。
Further, by using the variable inductance device as a part of the filter circuit, the characteristics of the filter circuit can be easily controlled.

<発明の効果> 以上より明らかなように、この発明の可変インダクタン
ス装置は、コイルの磁芯を超電導体で成し、電流変化手
段によって超電導体に流す電流を変化させて上記磁芯そ
のものの磁気特性を変えることによって、上記コイルの
インダクタンスを変化させるようにしたので、操作が簡
単であり、高速にインダクタンスを変化させることが可
能となる。
<Effects of the Invention> As is apparent from the above, in the variable inductance device of the present invention, the magnetic core of the coil is made of a superconductor, and the current changing means changes the current flowing through the superconductor to change the magnetic properties of the magnetic core itself. Since the inductance of the coil is changed by changing the characteristic, the operation is simple and the inductance can be changed at high speed.

また、この発明の磁界強度測定装置は、外部から既知の
電流が供給される超電導体を磁芯としたコイルと、上記
コイルのインダクタンスを測定するインダクタンス測定
手段を備えて、上記コイルのインダクタンスを測定する
ことによって外部磁界の強度を測定するようにしたの
で、高い精度で遠方より磁界強度を測定することができ
る。
Further, the magnetic field strength measuring device of the present invention includes a coil having a superconductor to which a known current is supplied from the outside as a magnetic core, and an inductance measuring unit for measuring the inductance of the coil, and measures the inductance of the coil. By doing so, the strength of the external magnetic field is measured, so that the magnetic field strength can be measured from a distance with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の可変インダクタンス装置の概略図、
第2図(a)は上記実施例における磁芯電流をパラメー
タとした場合の外部磁界強度とインダクタスとの関係を
示す図、第2図(b)は外部磁界をパラメータとした場
合の磁芯電流とインダクタンスとの関係を示す図、第3
図,第4図および第5図は上記実施例における磁芯の構
造例を示す図、第6図は上記実施例における外部磁界の
変化によるインダクタンスの変化の説明図、第7図は上
記実施例における外部磁界の変化方法の一例を示す図、
第8図(a)は上記実施例とは異なる実施例の概略図、
第8図(b)はさらに異なる実施例の概略図、第9図は
上記可変インダクタンス装置を用いたタンク回路の概略
図、第10図は第9図のタンク回路を送信機に組み込んだ
実施例の概略図、第11図はT−H−J臨界面の説明図、
第12図は従来の可変インダクタンス装置の概略図であ
る。 1,7,11,21,22,23……超電導体、 2,5,12,13……コイル、3,4……端子、 6……磁石、14,24……電源、15……送信機、 16……受信機。
FIG. 1 is a schematic view of a variable inductance device of the present invention,
2 (a) is a diagram showing the relationship between the external magnetic field strength and the inductors when the magnetic core current in the above embodiment is used as a parameter, and FIG. 2 (b) is the magnetic core when the external magnetic field is used as a parameter. Figure 3 showing the relationship between current and inductance
FIGS. 4, 5 and 5 are views showing an example of the structure of the magnetic core in the above embodiment, FIG. 6 is an explanatory view of the change of the inductance due to the change of the external magnetic field in the above embodiment, and FIG. 7 is the above embodiment. Showing an example of a method of changing the external magnetic field in
FIG. 8 (a) is a schematic view of an embodiment different from the above embodiment,
FIG. 8 (b) is a schematic view of a further different embodiment, FIG. 9 is a schematic view of a tank circuit using the variable inductance device, and FIG. 10 is an embodiment in which the tank circuit of FIG. 9 is incorporated in a transmitter. Fig. 11 is an explanatory view of the THJ critical surface,
FIG. 12 is a schematic diagram of a conventional variable inductance device. 1,7,11,21,22,23 …… Superconductor, 2,5,12,13 …… Coil, 3,4 …… Terminal, 6 …… Magnet, 14,24 …… Power supply, 15 …… Transmit Machine, 16 …… receiver.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】超電導体を磁芯とするコイルと、上記超電
導体に流す電流を変化させる電流変化手段を備えて、上
記電流を変化させることによって上記コイルのインダク
タンスを変化させることを特徴とする可変インダクタン
ス装置。
1. A coil comprising a superconductor as a magnetic core, and current changing means for changing a current flowing through the superconductor. The inductance of the coil is changed by changing the current. Variable inductance device.
【請求項2】外部より既知の電流が供給される超電導体
を磁芯としたコイルと、上記コイルのインダクタンスを
測定するインダクタンス測定手段を備えて、上記コイル
のインダクタンスを測定することによって外部磁界の強
度を測定することを特徴とする磁界強度測定装置。
2. A coil having a magnetic core of a superconductor to which a known current is supplied from the outside, and an inductance measuring means for measuring the inductance of the coil are provided, and the inductance of the coil is measured to measure the external magnetic field. A magnetic field strength measuring device characterized by measuring strength.
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