JPH0749367Y2 - 幅計校正用基準片 - Google Patents
幅計校正用基準片Info
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- JPH0749367Y2 JPH0749367Y2 JP1933488U JP1933488U JPH0749367Y2 JP H0749367 Y2 JPH0749367 Y2 JP H0749367Y2 JP 1933488 U JP1933488 U JP 1933488U JP 1933488 U JP1933488 U JP 1933488U JP H0749367 Y2 JPH0749367 Y2 JP H0749367Y2
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- Japan
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Links
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000009749 continuous casting Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、連続鋳造で鋳造された鋳片の幅を測定するた
めに設けられた幅計を校正するための基準片に関するも
のである。
めに設けられた幅計を校正するための基準片に関するも
のである。
従来の技術 従来、連続鋳造で製造される鋳片の幅を測定する方法と
しては、鋳片が高温であることから間接的な測定方法、
即ち光学的な方法によるものが一般的であった。
しては、鋳片が高温であることから間接的な測定方法、
即ち光学的な方法によるものが一般的であった。
この方法は第２図に示すように製造される幅Ｗなる鋳片
の両側にL1の間隔を保ち２台の光マイクロ検出器を置
き、その反射光を検出して鋳片側面と検出器との距離L2
を測定し、また他方の鋳片とマイクロ検出器との距離L3
も同様な方法で測定する。
の両側にL1の間隔を保ち２台の光マイクロ検出器を置
き、その反射光を検出して鋳片側面と検出器との距離L2
を測定し、また他方の鋳片とマイクロ検出器との距離L3
も同様な方法で測定する。
更に測定したそれぞれの距離L2,L3を演算器に入力し、
（１）式によって鋳片幅Ｗを求めている。
（１）式によって鋳片幅Ｗを求めている。
Ｗ＝L1−（L2＋L3） （１） 次に、幅計の校正方法としては、測定器の測定範囲内の
任意の３点をチェックする、いわゆる３点チェックが一
般的に採用されているが、この方法によれば測定した３
点がリニアにまた測定範囲（スパン）を満足していれば
校正良しと判断できる。
任意の３点をチェックする、いわゆる３点チェックが一
般的に採用されているが、この方法によれば測定した３
点がリニアにまた測定範囲（スパン）を満足していれば
校正良しと判断できる。
従って校正を行うためには、この任意の３点を決めるも
のが必要となる。そこでこの３点を決めるものとして校
正用基準片を３種類準備する必要があった。この３種類
の校正基準片は、幅計の測定範囲内の３点、即ち鋳片最
大幅付近、最小幅付近とその中間にある幅を校正するた
めにそれぞれ間隔の異なる校正用基準片を３種類用意
し、これを用い順次検定していた。
のが必要となる。そこでこの３点を決めるものとして校
正用基準片を３種類準備する必要があった。この３種類
の校正基準片は、幅計の測定範囲内の３点、即ち鋳片最
大幅付近、最小幅付近とその中間にある幅を校正するた
めにそれぞれ間隔の異なる校正用基準片を３種類用意
し、これを用い順次検定していた。
考案が解決しようとする問題点 この校正用基準片を使い検出器の校正を行うときには基
準片が３種類あるため、校正時には何回となく繰り返し
この基準片を検出器の間に置き換える必要があり、校正
に長時間要していた。
準片が３種類あるため、校正時には何回となく繰り返し
この基準片を検出器の間に置き換える必要があり、校正
に長時間要していた。
また、この基準片を据え付けるときには、光マイクロ検
出器から放れたレーザ光軸が校正用基準片に垂直に当た
るように連続鋳造ラインに設けられている校正用基準片
設置台に設置しなければならない。従って３点測定する
たびに、基準片設置による位置のズレが生じ、校正精度
に大きく影響を及ぼしていた。
出器から放れたレーザ光軸が校正用基準片に垂直に当た
るように連続鋳造ラインに設けられている校正用基準片
設置台に設置しなければならない。従って３点測定する
たびに、基準片設置による位置のズレが生じ、校正精度
に大きく影響を及ぼしていた。
以上のように３点チェックに用いる校正用基準片の対峙
間隔の異なる基準片が３種類用意されているため、基準
片の置き換えに時間を要し、しかもセット位置にバラツ
キが生じこれによって校正精度に悪影響を及ぼしてい
た。
間隔の異なる基準片が３種類用意されているため、基準
片の置き換えに時間を要し、しかもセット位置にバラツ
キが生じこれによって校正精度に悪影響を及ぼしてい
た。
問題点を解決するための手段 以上のような問題手を解決するために、本考案者は棒の
一端を円柱とし他端を角柱とした横棒に、該角柱の各辺
の延長上の横軸に一組の基準片を対峙立設し、しかも対
峙した該基準片を幅計の基準幅に対応する如く前記基準
片を挟む間隔が異なるようにして上述したような問題点
を解決する。
一端を円柱とし他端を角柱とした横棒に、該角柱の各辺
の延長上の横軸に一組の基準片を対峙立設し、しかも対
峙した該基準片を幅計の基準幅に対応する如く前記基準
片を挟む間隔が異なるようにして上述したような問題点
を解決する。
実施例 本考案に係る一実施例を図面に基づいて説明する。
校正用基準片１は棒の一端を円柱２とし、他端を正三角
形の角柱３とした軸棒４に角柱３を構成する辺５の延長
上の軸棒４に基準片６、６を対峙立設する。しかもこの
基準片６、６を挟む間隔は各辺によって異なるように取
り付けている。
形の角柱３とした軸棒４に角柱３を構成する辺５の延長
上の軸棒４に基準片６、６を対峙立設する。しかもこの
基準片６、６を挟む間隔は各辺によって異なるように取
り付けている。
この一組の基準片の間隔は前記したように正三角形の一
辺にそれぞれ幅計の測定範囲の最大幅、最小幅とそれら
の中間幅に対応する基準幅となるように取付け、測定範
囲に沿うよう選択して使用される。
辺にそれぞれ幅計の測定範囲の最大幅、最小幅とそれら
の中間幅に対応する基準幅となるように取付け、測定範
囲に沿うよう選択して使用される。
本校正用基準片を用いて幅計を校正する手順について説
明する。
明する。
校正用基準片を設置するために、円柱２が嵌まる台７用
意し、次に角柱３の頂点が下に向いて嵌まるようにＶ字
型の切り込みを設けた架台８に校正用基準片１の角柱３
部を置き、さらにこの基準片が水平に保たれるように台
７および架台８を調整する。
意し、次に角柱３の頂点が下に向いて嵌まるようにＶ字
型の切り込みを設けた架台８に校正用基準片１の角柱３
部を置き、さらにこの基準片が水平に保たれるように台
７および架台８を調整する。
校正用基準片を水平に置くと次に該校正用基準片の両端
側に光マイクロ検出器９、９をそれぞれ置き、この検出
器から放射されるレーザ光が、基準片６に垂直に当たる
ように検出器をセットする。検出器のセットが終わると
レーザを基準片に当て基準片の間隔を測る。次に校正用
基準片１を回し基準片６、６の間隔の異なるものを測定
しながら校正を行う。
側に光マイクロ検出器９、９をそれぞれ置き、この検出
器から放射されるレーザ光が、基準片６に垂直に当たる
ように検出器をセットする。検出器のセットが終わると
レーザを基準片に当て基準片の間隔を測る。次に校正用
基準片１を回し基準片６、６の間隔の異なるものを測定
しながら校正を行う。
以上のような操作を繰り返しながら幅計の校正を行う。
考案の効果 本考案は一本の軸棒に間隔の異なる３種類の基準片を対
峙立設したことにより、校正セット時に生ずる位置のバ
ラツキが皆無になり校正精度の向上が図られ、しかも校
正用基準片の交換作業が無くなり、短時間に校正が出来
るようになった。
峙立設したことにより、校正セット時に生ずる位置のバ
ラツキが皆無になり校正精度の向上が図られ、しかも校
正用基準片の交換作業が無くなり、短時間に校正が出来
るようになった。
第１図は本考案に係る校正用基準片を説明する斜視図出
ある。第２図は幅計を校正する手順を説明する図であ
る。 １……校正用基準片 ２……円柱、３……角柱 ４……軸棒、５……辺 ６……基準片、７……台 ８……架台 ９……光マイクロ検出器 10……演算器
ある。第２図は幅計を校正する手順を説明する図であ
る。 １……校正用基準片 ２……円柱、３……角柱 ４……軸棒、５……辺 ６……基準片、７……台 ８……架台 ９……光マイクロ検出器 10……演算器
Claims (1)
- 【請求項１】棒の一端を円柱とし他端を角柱とした軸棒
に、該角柱の各辺の延長上の軸棒に一組の基準片を対峙
立設し、しかも対峙した該基準片を幅計の基準幅に対応
する如く前記基準片を挟む間隔が異なるようにした幅計
校正用基準片。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1933488U JPH0749367Y2 (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | 幅計校正用基準片 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1933488U JPH0749367Y2 (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | 幅計校正用基準片 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01129604U JPH01129604U (ja) | 1989-09-04 |
| JPH0749367Y2 true JPH0749367Y2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=31234749
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1933488U Expired - Lifetime JPH0749367Y2 (ja) | 1988-02-18 | 1988-02-18 | 幅計校正用基準片 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0749367Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5439224B2 (ja) * | 2010-02-25 | 2014-03-12 | 株式会社ミツトヨ | 基準器およびそれを用いた検査方法 |
-
1988
- 1988-02-18 JP JP1933488U patent/JPH0749367Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01129604U (ja) | 1989-09-04 |
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