JPH0749417Y2 - 電気抵抗探傷用探触子 - Google Patents
電気抵抗探傷用探触子Info
- Publication number
- JPH0749417Y2 JPH0749417Y2 JP10175090U JP10175090U JPH0749417Y2 JP H0749417 Y2 JPH0749417 Y2 JP H0749417Y2 JP 10175090 U JP10175090 U JP 10175090U JP 10175090 U JP10175090 U JP 10175090U JP H0749417 Y2 JPH0749417 Y2 JP H0749417Y2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 9
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 2
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、金属部材表面の亀裂深さの測定に好適な電気
抵抗探傷用探触子に関する。
抵抗探傷用探触子に関する。
従来、金属部材表面の亀裂深さを非破壊的に測定する装
置の一つとして電気抵抗探傷用探触子があり、これは、
例えば第３図斜視図に示すように、基板31にねじ付けさ
れた箱状ケーシング32の等間隔配列の４個の貫通孔33
に、先端部34aが円錐状に形成された４本の接触針34が
貫設され、各接触針34には先端向きに付勢するコイルば
ね35が巻装されるとともに、後端にリード線36が接続さ
れている。
置の一つとして電気抵抗探傷用探触子があり、これは、
例えば第３図斜視図に示すように、基板31にねじ付けさ
れた箱状ケーシング32の等間隔配列の４個の貫通孔33
に、先端部34aが円錐状に形成された４本の接触針34が
貫設され、各接触針34には先端向きに付勢するコイルば
ね35が巻装されるとともに、後端にリード線36が接続さ
れている。
しかして、この探触子で金属部材表面の亀裂深さを測定
するにあたっては、第４図（Ａ）に示すように、金属部
材37の亀裂深さｄの亀裂38を４本の接触針34の中央に挾
み、両端の針34に直流電源39を接続して一定の直流電流
40を流し、内側の２本の針34に接続した電圧計41で電圧
を測定する。
するにあたっては、第４図（Ａ）に示すように、金属部
材37の亀裂深さｄの亀裂38を４本の接触針34の中央に挾
み、両端の針34に直流電源39を接続して一定の直流電流
40を流し、内側の２本の針34に接続した電圧計41で電圧
を測定する。
この電圧測定値から亀裂深さｄを求めるには、亀裂がな
いときの電圧値をVo,亀裂38を挾んだときの電圧値をＶ
とすると、V/Voと、針34の間隔ａと亀裂深さｄの比d/a
とは、同図（Ｂ）のように一定の関係があることを利用
し、V/Voを測定することにより亀裂深さｄを求めること
ができる。
いときの電圧値をVo,亀裂38を挾んだときの電圧値をＶ
とすると、V/Voと、針34の間隔ａと亀裂深さｄの比d/a
とは、同図（Ｂ）のように一定の関係があることを利用
し、V/Voを測定することにより亀裂深さｄを求めること
ができる。
なおこの測定対象の金属部材37の表面は平坦ばかりでは
なく凹凸部がある場合が多いが、そのような場合にも、
それぞれの接触針34がコイルばね35の付勢力により自由
に動くとともにその先端部34aが金属部材37の凹凸表面
に押付けられ、複雑な曲面に対しても常に適確な測定が
なされている。
なく凹凸部がある場合が多いが、そのような場合にも、
それぞれの接触針34がコイルばね35の付勢力により自由
に動くとともにその先端部34aが金属部材37の凹凸表面
に押付けられ、複雑な曲面に対しても常に適確な測定が
なされている。
しかしながら、このような探触子には次の欠点がある。
すなわち、亀裂38の深さが浅い場合又は亀裂38の間隔が
狭い場合は、接触針34の間隔ａも小さくする必要がある
が、接触針34の周りに付勢用コイルばね35が巻装されて
いるため、各接触針34の間隔ａを小さくすることは限度
がある。またコイルばね35の劣化などで押付力が不足
し、接触針34の先端部34aと測定対象の金属部材37表面
との接触不良を生じ、測定不可能となるおそれがある。
狭い場合は、接触針34の間隔ａも小さくする必要がある
が、接触針34の周りに付勢用コイルばね35が巻装されて
いるため、各接触針34の間隔ａを小さくすることは限度
がある。またコイルばね35の劣化などで押付力が不足
し、接触針34の先端部34aと測定対象の金属部材37表面
との接触不良を生じ、測定不可能となるおそれがある。
本考案は、このような事情に鑑みて提案されたもので、
接触針押付力付勢用のコイルばねが不要となり接触針周
りの機構が簡単となって接触針間隔を小さくすることが
できるとともに、接触針押付力付勢用部材の劣化による
付勢力の低下がなくなり、更に接触針先端部と金属部材
表面との距離に応じ押付力が変化する電気抵抗探傷探触
子を提供することを目的とする。
接触針押付力付勢用のコイルばねが不要となり接触針周
りの機構が簡単となって接触針間隔を小さくすることが
できるとともに、接触針押付力付勢用部材の劣化による
付勢力の低下がなくなり、更に接触針先端部と金属部材
表面との距離に応じ押付力が変化する電気抵抗探傷探触
子を提供することを目的とする。
そのために本考案は、等間隔に複数の貫通孔を設けた強
磁性材の支持体と、上記貫通孔を前方への抜落ち抑止的
に通る非磁性材支持杆を設け先端中央部を尖らせた複数
の強磁性材の接触針と、上記支持体の前方に取付けられ
上記接触針を等間隔にかつ軸方向摺動自在に保持する複
数の貫通孔を設けた箱状の保持体とを具え、上記支持体
と接触針とを逆向き極性に磁化したことを特徴とする。
磁性材の支持体と、上記貫通孔を前方への抜落ち抑止的
に通る非磁性材支持杆を設け先端中央部を尖らせた複数
の強磁性材の接触針と、上記支持体の前方に取付けられ
上記接触針を等間隔にかつ軸方向摺動自在に保持する複
数の貫通孔を設けた箱状の保持体とを具え、上記支持体
と接触針とを逆向き極性に磁化したことを特徴とする。
本考案電気抵抗探傷用探触子においては、支持体と接触
針の対向する同極性の磁極間に反撥力が作用するので、
接触針はこの反撥力によって常に金属部材の表面に押付
けられ、また対向２磁極間に働く力は両磁極の強さの積
に比例し、間隔の２乗に反比例するので、探触子を押付
けるにしたがい、接触針先端部と金属部材表面との押付
力が増加する。
針の対向する同極性の磁極間に反撥力が作用するので、
接触針はこの反撥力によって常に金属部材の表面に押付
けられ、また対向２磁極間に働く力は両磁極の強さの積
に比例し、間隔の２乗に反比例するので、探触子を押付
けるにしたがい、接触針先端部と金属部材表面との押付
力が増加する。
本考案電気抵抗探傷用探触子の一実施例を図面について
説明すると、第１図はその部分截断の斜視図、第２図は
同上の作動要領の説明図である。
説明すると、第１図はその部分截断の斜視図、第２図は
同上の作動要領の説明図である。
第１図において、強磁性材で作られた角柱状の支持体１
には、側面の中心線上に長手方向に沿い等間隔に４個の
貫通孔２が穿設されている。この４個の貫通孔２に対向
する４本の接触針３は、強磁性材で作られており、その
先端部3aが円錐状に形成されるとともに、基部に貫通孔
２を挿入される非磁性材製支持杆４が取付けられ、更に
この支持杆４の後端には抜落ち抑止用のストッパー５が
付設されている。なお支持杆４の後端にはリード線６が
接続されている。
には、側面の中心線上に長手方向に沿い等間隔に４個の
貫通孔２が穿設されている。この４個の貫通孔２に対向
する４本の接触針３は、強磁性材で作られており、その
先端部3aが円錐状に形成されるとともに、基部に貫通孔
２を挿入される非磁性材製支持杆４が取付けられ、更に
この支持杆４の後端には抜落ち抑止用のストッパー５が
付設されている。なお支持杆４の後端にはリード線６が
接続されている。
また上記支持体１の前部には、接触針３を等間隔にかつ
軸方向摺動自在に保持する４個の貫通孔８が穿設された
箱状の保持体７が、ねじ９により固着されている。
軸方向摺動自在に保持する４個の貫通孔８が穿設された
箱状の保持体７が、ねじ９により固着されている。
このような装置において、強磁性材の支持体１と強磁性
材の接触針３とを、図示のように対向端部がＳ極同士と
なるよう逆向き極性に磁化し、第２図に示すように、測
定対象の金属部材10の表面に、その亀裂11を中央に挾ん
で４本の接触針３の先端部3aを当接し、両端の２本の接
触針３の先端部3aを当接し、両端の２本の接触針３に直
流電流を流し、内側の２本の接触針３で電圧を測定す
る。
材の接触針３とを、図示のように対向端部がＳ極同士と
なるよう逆向き極性に磁化し、第２図に示すように、測
定対象の金属部材10の表面に、その亀裂11を中央に挾ん
で４本の接触針３の先端部3aを当接し、両端の２本の接
触針３の先端部3aを当接し、両端の２本の接触針３に直
流電流を流し、内側の２本の接触針３で電圧を測定す
る。
このとき、支持体１と接触針３の対向するＳ極間に反撥
力が作用するので、接触針３はこの反撥力によって常に
金属部材10の凹凸表面に押付けられ、また対向２磁極間
に働く力は両磁極の強さの積に比例し、間隔の２乗に反
比例するので、探触子を押付けるにしたがい接触針３の
先端部3aと金属部材10の表面との押付力が増加し、４本
の接触針３の先端部3aはいかなる凹凸表面に対しても当
接し、接触不良を生ずることはない。
力が作用するので、接触針３はこの反撥力によって常に
金属部材10の凹凸表面に押付けられ、また対向２磁極間
に働く力は両磁極の強さの積に比例し、間隔の２乗に反
比例するので、探触子を押付けるにしたがい接触針３の
先端部3aと金属部材10の表面との押付力が増加し、４本
の接触針３の先端部3aはいかなる凹凸表面に対しても当
接し、接触不良を生ずることはない。
また接触針３の支持杆４の後端にはストッパー５は付設
されているので、接触針３が反撥力により抜落ちること
はなく、なお測定のために通電する電流は直流電流であ
るので、磁化による影響を受けることなく測定可能であ
る。
されているので、接触針３が反撥力により抜落ちること
はなく、なお測定のために通電する電流は直流電流であ
るので、磁化による影響を受けることなく測定可能であ
る。
かくして、この装置によれば、次の効果が奏せられる。
（１）従来のコイルばねの代わりに磁力を利用すること
により、コイルばねのように劣化などによる接触針３押
付力の低下がない。
により、コイルばねのように劣化などによる接触針３押
付力の低下がない。
（２）コイルばねが不要となる。
（３）接触針３周りの機構が簡単になるため、各接触針
３の間隔を小さくすることができる。
３の間隔を小さくすることができる。
（４）コイルばねは付勢力が一定であるのに対し、磁力
による場合は探触子を押付けるにしたがい反撥力が強く
なるため、接触針３の先端部と金属部材10の表面との押
付力が増加する。
による場合は探触子を押付けるにしたがい反撥力が強く
なるため、接触針３の先端部と金属部材10の表面との押
付力が増加する。
要するに本考案によれば、等間隔に複数の貫通孔を設け
た強磁性材の支持体と、上記貫通孔を前方への抜落ち抑
止的に通る非磁性材支持杆を設け先端中央部を尖らせた
複数の強磁性材の接触針と、上記支持体の前方に取付け
られ上記接触針を等間隔にかつ軸方向摺動自在に保持す
る複数の貫通孔を設けた箱状の保持体とを具え、上記支
持体と接触針とを逆向き極性に磁化したことにより、接
触針押付力付勢用のコイルばねが不要となり接触針周り
の機構が簡単となって接触針間隔を小さくすることがで
きるとともに、接触針押付力付勢用部材の劣化による付
勢力の低下がなくなり、更に接触針先端部と金属部材表
面との距離に応じ押付力が変化する電気抵抗探傷用探触
子を得るから、本考案は産業上極めて有益なものであ
る。
た強磁性材の支持体と、上記貫通孔を前方への抜落ち抑
止的に通る非磁性材支持杆を設け先端中央部を尖らせた
複数の強磁性材の接触針と、上記支持体の前方に取付け
られ上記接触針を等間隔にかつ軸方向摺動自在に保持す
る複数の貫通孔を設けた箱状の保持体とを具え、上記支
持体と接触針とを逆向き極性に磁化したことにより、接
触針押付力付勢用のコイルばねが不要となり接触針周り
の機構が簡単となって接触針間隔を小さくすることがで
きるとともに、接触針押付力付勢用部材の劣化による付
勢力の低下がなくなり、更に接触針先端部と金属部材表
面との距離に応じ押付力が変化する電気抵抗探傷用探触
子を得るから、本考案は産業上極めて有益なものであ
る。
第１図は本考案電気抵抗探傷用探触子の一実施例を示す
部分截断の斜視図、第２図は同上の作動要領の説明図で
ある。 第３図は従来探触子の部分截断の斜視図、第４図は亀裂
深さ測定要領の説明図である。 １…支持体、２…貫通孔、３…接触針、3a…先端部、４
…支持杆、５…ストッパー、６…リード線、７…保持
体、８…貫通孔、９…ねじ、10…金属部材、11…亀裂。
部分截断の斜視図、第２図は同上の作動要領の説明図で
ある。 第３図は従来探触子の部分截断の斜視図、第４図は亀裂
深さ測定要領の説明図である。 １…支持体、２…貫通孔、３…接触針、3a…先端部、４
…支持杆、５…ストッパー、６…リード線、７…保持
体、８…貫通孔、９…ねじ、10…金属部材、11…亀裂。
Claims (1)
- 【請求項１】等間隔に複数の貫通孔を設けた強磁性材の
支持体と、上記貫通孔を前方への抜落ち抑止的に通る非
磁性材支持杆を設け先端中央部を尖らせた複数の強磁性
材の接触針と、上記支持体の前方に取付けられ上記接触
針を等間隔にかつ軸方向摺動自在に保持する複数の貫通
孔を設けた箱状の保持体とを具え、上記支持体と接触針
とを逆向き極性に磁化したことを特徴とする電気抵抗探
傷用探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10175090U JPH0749417Y2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 電気抵抗探傷用探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10175090U JPH0749417Y2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 電気抵抗探傷用探触子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0459464U JPH0459464U (ja) | 1992-05-21 |
| JPH0749417Y2 true JPH0749417Y2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=31845459
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10175090U Expired - Lifetime JPH0749417Y2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 電気抵抗探傷用探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0749417Y2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9291645B2 (en) | 2011-10-07 | 2016-03-22 | Nhk Spring Co., Ltd. | Probe unit |
| US10732032B2 (en) | 2018-08-09 | 2020-08-04 | Ouster, Inc. | Scanning sensor array with overlapping pass bands |
| US10739189B2 (en) | 2018-08-09 | 2020-08-11 | Ouster, Inc. | Multispectral ranging/imaging sensor arrays and systems |
| US11086013B2 (en) | 2017-05-15 | 2021-08-10 | Ouster, Inc. | Micro-optics for imaging module with multiple converging lenses per channel |
| US11287515B2 (en) | 2017-12-07 | 2022-03-29 | Ouster, Inc. | Rotating compact light ranging system comprising a stator driver circuit imparting an electromagnetic force on a rotor assembly |
-
1990
- 1990-09-28 JP JP10175090U patent/JPH0749417Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9291645B2 (en) | 2011-10-07 | 2016-03-22 | Nhk Spring Co., Ltd. | Probe unit |
| US11086013B2 (en) | 2017-05-15 | 2021-08-10 | Ouster, Inc. | Micro-optics for imaging module with multiple converging lenses per channel |
| US11131773B2 (en) | 2017-05-15 | 2021-09-28 | Ouster, Inc. | Lidar unit with an optical link between controller and photosensor layer |
| US11287515B2 (en) | 2017-12-07 | 2022-03-29 | Ouster, Inc. | Rotating compact light ranging system comprising a stator driver circuit imparting an electromagnetic force on a rotor assembly |
| US11300665B2 (en) | 2017-12-07 | 2022-04-12 | Ouster, Inc. | Rotating compact light ranging system |
| US10732032B2 (en) | 2018-08-09 | 2020-08-04 | Ouster, Inc. | Scanning sensor array with overlapping pass bands |
| US10739189B2 (en) | 2018-08-09 | 2020-08-11 | Ouster, Inc. | Multispectral ranging/imaging sensor arrays and systems |
| US10760957B2 (en) | 2018-08-09 | 2020-09-01 | Ouster, Inc. | Bulk optics for a scanning array |
| US11473969B2 (en) | 2018-08-09 | 2022-10-18 | Ouster, Inc. | Channel-specific micro-optics for optical arrays |
| US11473970B2 (en) | 2018-08-09 | 2022-10-18 | Ouster, Inc. | Subpixel apertures for channels in a scanning sensor array |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0459464U (ja) | 1992-05-21 |
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