JPH0459464U - - Google Patents
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- JPH0459464U JPH0459464U JP10175090U JP10175090U JPH0459464U JP H0459464 U JPH0459464 U JP H0459464U JP 10175090 U JP10175090 U JP 10175090U JP 10175090 U JP10175090 U JP 10175090U JP H0459464 U JPH0459464 U JP H0459464U
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- Japan
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- support
- holes
- equal intervals
- ferromagnetic material
- contact needles
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
第１図は本考案電気抵抗探傷用探触子の一実施
例を示す部分截断の斜視図、第２図は同上の作動
要領の説明図である。第３図は従来探触子の部分
截断の斜視図、第４図は亀裂深さ測定要領の説明
図である。 １……支持体、２……貫通孔、３……接触針、
３ａ……先端部、４……支持杆、５……ストツパ
ー、６……リード線、７……保持体、８……貫通
孔、９……ねじ、１０……金属部材、１１……亀
裂。
例を示す部分截断の斜視図、第２図は同上の作動
要領の説明図である。第３図は従来探触子の部分
截断の斜視図、第４図は亀裂深さ測定要領の説明
図である。 １……支持体、２……貫通孔、３……接触針、
３ａ……先端部、４……支持杆、５……ストツパ
ー、６……リード線、７……保持体、８……貫通
孔、９……ねじ、１０……金属部材、１１……亀
裂。
Claims (1)
- 等間隔に複数の貫通孔を設けた強磁性材の支持
体と、基部に上記貫通孔を前方への抜落ち抑止的
に通る非磁性材支持杆を設け先端部を円錐状に形
成した複数の強磁性材の接触針と、上記支持体の
前方に取付けられ上記接触針を等間隔にかつ軸方
向摺動自在に保持する複数の貫通孔を設けた箱状
の保持体とを具え、上記支持体と接触針とを逆向
き極性に磁化したことを特徴とする電気抵抗探傷
用探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10175090U JPH0749417Y2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 電気抵抗探傷用探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10175090U JPH0749417Y2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 電気抵抗探傷用探触子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0459464U true JPH0459464U (ja) | 1992-05-21 |
| JPH0749417Y2 JPH0749417Y2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=31845459
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10175090U Expired - Lifetime JPH0749417Y2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 電気抵抗探傷用探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0749417Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013051675A1 (ja) * | 2011-10-07 | 2013-04-11 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110914652B (zh) | 2017-05-15 | 2024-05-24 | 奥斯特公司 | 亮度增强的光学成像发射机 |
| US10969490B2 (en) | 2017-12-07 | 2021-04-06 | Ouster, Inc. | Light ranging system with opposing circuit boards |
| US10739189B2 (en) | 2018-08-09 | 2020-08-11 | Ouster, Inc. | Multispectral ranging/imaging sensor arrays and systems |
| US10760957B2 (en) | 2018-08-09 | 2020-09-01 | Ouster, Inc. | Bulk optics for a scanning array |
-
1990
- 1990-09-28 JP JP10175090U patent/JPH0749417Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013051675A1 (ja) * | 2011-10-07 | 2013-04-11 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
| JPWO2013051675A1 (ja) * | 2011-10-07 | 2015-03-30 | 日本発條株式会社 | プローブユニット |
| US9291645B2 (en) | 2011-10-07 | 2016-03-22 | Nhk Spring Co., Ltd. | Probe unit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0749417Y2 (ja) | 1995-11-13 |