JPH0749649A - 電子学習装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 安価でかつ学習効率を飛躍的に向上するのに
好適な電子学習装置を提供すること。 【構成】 Ｓ１８はワードメモリ７０から英単語データ
Ｅ1を読みだし、読みだした英単語データＥ1を表示部２
８の問題欄に表示し、音声フラグＦが０ならば、表示す
る文字を音声出力する。使用者が正答をみるため表示キ
ー１２を押すと、Ｓ２２でＱ1番地に格納されている訳
語データＪ1を読みだして表示部２８の解答欄に表示す
る。使用者の答えが訳語データＪ1と合っていないと、
使用者は誤答キー４を押し、誤答回数Ｊを１増加する。
使用者が正答を見るため、表示キー１２を押すと、Ｓ２
２でＱ2番地の訳語データＪ２を読みだして、表示部２
８に表示し、音声フラグＦが０ならば音声出力する。使
用者の答えが訳語データＪ2と同じ場合は、正答キー２
を押す。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子学習装置に関し、
詳しくは、英単語、漢字、歴史年表、数学公式、理科公
式等の暗記に好適な電子学習装置に関する。

【０００２】

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
単語等を暗記するため文具として単語カードがあるが、
単語カードをめくることは煩雑であり、前回正答か誤答
かがわからないので、前回正答であったものまで、もう
１度解くことになり学習効率が悪かった。現在、英語辞
書カードも市販されているが、何万語も内蔵したカード
は試験には役にたたない。

【０００３】更に、問題とこの問題に対する正答を含む
複数の答えを記載した問題カードに対して回答を行い結
果に応じて音声により正誤を判定するもの（特開昭６０
−２２２８８５号）、難易度に応じて区別されたカード
が提案されている（特開昭６１−１１７２９号）。

【０００４】しかしながら、１度正答を出したものまで
再度問題を解くことになるので、学習効率が悪かった。
更に、穴埋め問題に対し誤った問題のみを繰り返し学習
する必要があり、解答時間の長くかかった問題をのみを
繰り返して練習する必要がある。

【０００５】そこで、本発明の目的は、安価でかつ学習
効率を飛躍的に向上するのに好適な電子学習装置を提供
することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の請求項１の発明は、問題データと解答データとを含む
学習データを格納する学習メモリと、該学習メモリの問
題データに基づいて、問題を出力する出題手段と、該出
題手段によって出力された問題の回答を入力する回答入
力手段と、前記出題手段による問題の出力から前記回答
入力手段による回答の入力までの回答時間を計測する回
答時間計測手段と、該回答時間計測手段によって計測さ
れた回答時間が所定値以上か否かを判定する回答時間判
定手段と、該回答時間判定手段によって回答時間が所定
値以上であると判定された問題を再出力する長時間問題
再出題手段と、を備えたことを特徴とする電子学習装置
を要旨とする。

【０００７】請求項２の発明は、問題データと解答デー
タとを含む学習データを格納する学習メモリと、該学習
メモリの問題データに基づいて、問題を出力する出題手
段と、該出題手段によって出力された問題の回答を入力
する回答入力手段と、該回答入力手段によって入力され
た回答と前記学習メモリの解答データとを比較して、回
答の正誤を判定する正誤判定手段と、該正誤判定手段に
よって判定された正答のアドレスデータを記憶するコレ
クトリストメモリと、該正誤判定手段によって判定され
た誤答のアドレスデータを記憶するエラーリストメモリ
と、を備えたことを特徴とする電子学習装置を要旨とす
る。

【０００８】請求項３の発明は、問題データと解答デー
タとを含む学習データを格納する学習メモリと、該学習
メモリの問題データに基づいて、問題を出力する出題手
段と、該出題手段によって問題が出力された後に、前記
学習メモリの解答データに基づいて、所定時間後に解答
を出力する解答出力手段と、を備えたことを特徴とする
電子学習装置を要旨とする。

【０００９】請求項４の発明は、問題データと解答デー
タとを含む学習データを格納する学習メモリと、該学習
メモリの問題データに基づいて、問題を順次出力する出
題手段と、該出題手段によって出力された問題の回答を
入力する回答入力手段と、を備え、順次出題される問題
を解いて学習を行なう電子学習装置において、前記学習
を途中で中断する場合は、中断する時点の問題のデータ
を記憶する中断位置記憶手段と、前記中断した学習を再
開する場合は、前記中断位置記憶手段に記憶された中断
する時点の問題のデータに基づいて、次に出題すべき問
題を出力する再開出題手段と、を備えたことを特徴とす
る電子学習装置を要旨とする。

【００１０】前記電子学習装置としては、例えば手帳型
の携帯用電子学習機を採用できるが、例えばディスクト
ップ型のパソコン等であってもいいことは勿論である。
また、学習データを記憶する媒体としては、例えばＩＣ
カードを採用できるが、学習データを記憶できれば、例
えばフロッピィディスケットやハードディスクやＣＤ−
ＲＯＭ等の通常使用することができる記憶媒体であって
もいいことは勿論である。

【００１１】

【作用】請求項１の電子学習装置では、学習メモリに、
問題データと解答データとを含む学習データを格納して
おり、出題手段によって、学習メモリの問題データに基
づいて問題を出力し、回答入力手段によって、この出力
された問題の回答を入力する。そして、回答時間計測手
段によって、出題手段による問題の出力から回答入力手
段による回答の入力までの回答時間を計測し、回答時間
判定手段によって、回答時間計測手段により計測された
回答時間が所定値以上か否かを判定し、長時間問題再出
題手段によって、この回答時間が所定値以上であると判
定された問題を再出力する。そのため、回答時間がかか
る問題を繰り返し学習することが可能となる。

【００１２】請求項２の電子学習装置では、学習メモリ
に、問題データと解答データとを含む学習データを格納
しており、出題手段によって、学習メモリの問題データ
に基づいて問題を出力し、回答入力手段によって、この
出力された問題の回答を入力し、正誤判定手段によっ
て、この入力された回答と学習メモリの解答データとを
比較して回答の正誤を判定する。そして、コレクトリス
トメモリには、正誤判定手段によって判定された正答の
アドレスデータを記憶し、エラーリストメモリには、正
誤判定手段によって判定された誤答のアドレスデータを
記憶する。そのため、再度同じ問題を解いた場合には、
両リスト間のデータのやり取りで、正誤の記録を行なう
ことが可能となり、データ処理が軽減される。

【００１３】請求項３の電子学習装置では、学習メモリ
に、問題データと解答データとを含む学習データを格納
しており、出題手段によって、学習メモリの問題データ
に基づいて問題を出力し、この出題手段によって問題が
出力された後に、解答出力手段によって、学習メモリの
解答データに基づいて所定時間後に解答を出力する。つ
まり、出題されてから一定時間経過すると自動的に解答
が出力される。

【００１４】請求項４の電子学習装置では、学習メモリ
に、問題データと解答データとを含む学習データを格納
しており、出題手段によって、学習メモリの問題データ
に基づいて問題を順次出力し、回答入力手段によって、
この出力された問題の回答を入力することによって、順
次出題される問題を解いて学習を行なう。そして、学習
を途中で中断する場合は、中断位置記憶手段によって、
中断する時点の問題のデータを記憶し、この中断した学
習を再開する場合は、中断位置記憶手段に記憶された中
断する時点の問題のデータに基づき、再開出題手段によ
って、次に出題すべき問題を出力する。従って、途中で
学習を中断し再開した場合でも、次に学習すべき適切な
箇所の問題が出力される。

【００１５】

【実施例】以上説明した本発明の構成作用を一層明らか
にするために、以下本発明の装置の好適な実施例につい
て説明する。図１Ａは本発明の第１実施例で、手帳型電
子学習機１を示し、正答キー２と誤答キー４と終了キー
８と音声キー１０と表示キー１２と切キー１４と入キー
１６と選択キー１８と正答率キー２０とアルファニュー
メリックキー２１とを備えるキーボード入力部２２と、
この入力部２２に応答して、後述のＩＣカード２４，２
６から交互に問題と解答を読みだし、問題と、これに続
いて解答とを表示する表示部２８とを有している。

【００１６】図１Ｂ，Ｃは、英単語ＩＣカード２４と歴
史年表ＩＣカード２６で、学習段階に応じて、所定の問
題データと解答データとを含む学習データを所定数格納
しており、ＩＣカード２４，２６は電子学習機１の受け
入れ部２３に挿入できる。図２は電子学習機１の内部構
造で、この装置１は、キーボード入力部２２、表示部２
８、音声出力部２９、周知のＣＰＵ３０、ＲＯＭ３２、
ＲＡＭ３４、バックアップＲＡＭ３５を中心にこれらと
バス３６により接続するカウンタ３８、電源部４０、タ
イマ４２、コネクタ４４、インタフェース４６，プリン
タインターフェース４８から構成する。プリンタインタ
フェース４８はプリンタに接続可能であり、ＲＯＭ３２
は学習制御プログラムを記憶している。

【００１７】この電子学習機１はＩＣカード２４と接続
し、このＩＣカード２４は、周知のＣＰＵ５０、ＲＯＭ
５２、ＲＡＭ５４を中心にこれらとバス５６により接続
するインタフェース５８から構成する。ＲＯＭ５２は制
御プログラムと英単語の問題データと解答データとを所
定数記憶している。

【００１８】図３は、ＲＯＭ３２とＲＯＭ５２に格納し
ている学習制御プログラムを示すメインルーチンのフロ
ーチャートである。まずステップ１（以下Ｓ１と略す）
においては、フラグ、カウンタ等の初期化を行い、Ｓ２
は音声キー１０がオンしているかどうかを判断し、ＹＥ
ＳならＳ３で音声出力部２９をオンし、ＮＯならＳ４で
フラグＦを１に設定し、次のＳ５は学習処理を行うサブ
ルーチンである。

【００１９】図４は、サブルーチンＳ５の処理を示すフ
ローチャートであり、以下場合を分けて説明する。 第１回目の場合（フラグＧ＝０の場合）。 まず、Ｓ１２はメニューの表示と選択を行い、図５Ａ
は、入キー１６の押し下げにより現れるメニュー画面を
示し、選択キー１８でカーソル６０を移動しメニューを
選択できる。この画面では「１」が選択され、後述のよ
うに英単語の和訳の問題が出題される。つぎに図５Ｂの
メニュー画面が現れ、中学の学年別に応じた英単語の問
題をカーソル６０の移動で選択し、この画面では「２」
が選択され、中学２年程度の英単語を格納したＲＯＭ５
２のワードメモリ７０の読みだしが可能となる。

【００２０】図６は、中学２年の学習レベルに対応する
ＲＯＭ５２のワードメモリ７０の内容を示し、ワードメ
モリ７０はＰ1〜Ｐ3000番地、Ｑ1〜Ｑ3000番地まであ
り、各番地に対応してＥ1〜Ｅ3000，Ｊ1〜Ｊ3000までの
６０００個のデータを順次格納している。Ｅ1〜Ｅ3000
は問題である英単語を示すデータで、Ｊ1〜Ｊ3000はそ
の解答である和文を示す。例えばＰ１番地には英単語デ
ータＥ1（例：ｂｅａｕｔｉｆｕｌ）、Ｑ1番地には、そ
の訳語データＪ1（例：美しい）を格納している。ＲＯ
Ｍ５２の図示せぬ他のワードメモリには中学１年と中学
３年と高校入試用の英単語データを所定数格納してい
る。

【００２１】図４に戻り、Ｓ１４は、ＲＯＭ５２の最後
のＱ3000番地に入っている識別用のデータを読み出した
かどうかを判断することにより、ＲＯＭ５２の内容を１
通り読み終えたかどうかを判断し、ここでは最初の処理
であるのでＮＯと判断する。次のＳ１８はワードメモリ
７０から英単語データＥ1を読みだし、読みだした英単
語データＥ1を表示部２８の問題欄に“ｂｅａｕｔｉｆ
ｕｌ”と表示し、音声フラグＦが０ならば、表示する文
字を音声出力する。そして使用者がこれを見て答えを考
え、正答をみるため表示キー１２を押すと、Ｓ２０でＹ
ＥＳと判断し、次のＳ２２でＱ1番地に格納されている
訳語データＪ1を読みだして表示部２８の解答欄に“形
容詞；美しい”と表示するが、更に発音、類義語、反対
語、文例も同時に表示できるよう構成することができ
る。

【００２２】使用者の答えが訳語データＪ1と合ってい
ないと、使用者は誤答キー４を押し、Ｓ３４でＮＯ、Ｓ
２４でＹＥＳと判断し、最初の処理であるのでＳ２６で
ＮＯと判断し、図４のＳ２８では、誤答回数Ｊを１増加
する。Ｓ２９では表示部２８に表示しているデータのＰ
1、Ｑ1番地を図７のＲＡＭ３５のエラーリストメモリ８
０のＭ1番地に格納し、又、Ｓ１８の英単語の表示から
表示キー１２の押し下げまでの使用者の解答時間Ｔ１を
タイマ４２から読み出し、エラーリストメモリ８０のＭ
1番地に格納する。次のＳ３０では終了キー８が押され
ていないのでＮＯと判断し、Ｓ３２で全解答回数Ｉを１
増加してＳ１８に戻り、Ｓ１８では次の単語データＥ2
をワードメモリ７０のＰ2番地から読みだし、その英単
語データＥ2を表示部２８に表示する。

【００２３】そして使用者がこれを見て答えを考え正答
を見るため、表示キー１２を押すと、Ｓ２２でＱ2番地
の訳語データＪ２を読みだして、表示部２８に表示し、
音声フラグＦが０ならば音声出力する。使用者の答えが
訳語データＪ2と同じ場合は、正答キー２を押し、Ｓ３
４でＹＥＳと判断し、Ｓ２６でフラグＧが１かどうか判
断し最初の処理なのでＮＯと判断し、Ｓ３０，Ｓ３２を
経て同様な処理を繰り返す。

【００２４】このようにして誤答と判断した英単語デー
タ及び訳文データに対応する番地と解答時間が蓄積され
て行き、ＲＯＭ５２のワードメモリ７０のデータを全部
読みだし全部解答できた状態では、図７に示すエラーリ
ストメモリ８０のデータが６００個になっており、使用
者は３０００題の内、６００題を誤答したことになる。
Ｍ601からＭ3000までは空き領域であるが、もし全問誤
答の場合、誤答となった英単語と訳文データの番地と解
答時間が、Ｍ1〜Ｍ3000番地を満たすことになる。

【００２５】途中で打ち切る場合は、Ｓ３０でＹＥＳと
なり、Ｓ４０では終了処理を行い、メッセージ「途中で
終わりました」を表示部２８に表示する。尚、フラグＧ
＝０と終了時の番地をＲＡＭ３５の図示せぬ終了メモリ
に格納しておくので、次回はその途中から始められるの
で便利である。１回目を完全に終了してから終わる場合
はフラグＧ＝１と設定されており、フラグＧ＝１とエラ
ーリストメモリ８０の最初の番地とを終了メモリに格納
する。これにより、次回からの出題は、前回まで誤答で
あった出題が再出題の対象とされ、これが出題パターン
として設定される。

【００２６】１回目を終えた後、２回目の最初から又
は２回目の途中から始める場合（フラグＧ＝１の場合の
処理） Ｓ１２の処理を終えて、Ｓ１４，１６を経て、Ｓ１８で
ＲＡＭ３５の終了メモリに格納された番地に相当する英
単語データをＲＯＭ５２のワードメモリ７０から読みだ
す。Ｓ２０で表示キー１２を押し、訳語データが表示さ
れ使用者の回答が正答の場合はＳ３４，Ｓ３６を経てＳ
３８でエラーリストメモリ８０から今回正答となったデ
ータに対応する番地を消去する。誤答の場合はＳ２４，
Ｓ２６，Ｓ３０，Ｓ３２を経てＳ１８に戻り以下、同様
な処理を繰り返し、正答である毎にデータをエラーリス
トメモリ８０から減らして行き、データがゼロになった
ときに使用者は全ての問題を正答できたことになる。終
了キーをおすとＳ４０で終了処理を行い、表示部２８に
メッセージ「全てが正答となりました」と表示し、途中
で終わる場合はフラグＧ＝０と最後の番地を終了メモリ
に格納する。これらにより、前回誤答であった出題が再
出題の対象とされ、繰り返し出題されるという出題パタ
ーンが設定され、これに基づいて問題が出題される。

【００２７】プリント処理 Ｓ４０が終了すると、学習処理ルーチンは終了し、図３
のメインルーチンにもどり、Ｓ６で図示せぬプリントキ
ーが押し下げされるとＳ７で印字処理を行い、本メイン
ルーチンを終了する。

【００２８】尚、第１実施例では、英単語の問題であっ
たが、○Ｘ式、多枝選択式に適用でき、又、歴史年表、
理科数学公式、漢字等に適用できることも勿論である。
図８、図９Ａ，Ｂ，Ｃは第２実施例であり、第１実施例
と異なるところは、ＲＡＭ３５にエラーリストメモリ１
００に加えてコレクトリストメモリ９０を追加したもの
である。

【００２９】図８は図４と異なる個所を示しており他の
ステップはほぼ共通である。この図８では、第１回目に
使用者の解答が正答であるときにも、正答データをＳ５
２でコレクトリストメモリ９０に識別可能に格納できる
ようにしている。つまり正答であるデータ（番地）と誤
答であるデータ（番地）を分けて、ＲＡＭ３５のコレク
トリストメモリ９０にＳ５２で、エラーリストメモリ１
００にＳ２８でデータを格納できる。即ち、第１回目の
処理が終了したとき、図９Ａのワードメモリ７５から読
みだしたデータを、図９Ｂのコレクトリストメモリ９０
と同図Ｃのエラーリストメモリ１００に分けて格納する
様子を示す。

【００３０】そしてＳ３４で正答キー２を押し下げる毎
に、表示中の正答であると判断したデータをＳ５０でエ
ラーリストメモリ１００からコレクトリストメモリ９０
に転送し、エラーリストメモリ１００のデータを減少さ
せて行くので、データの処理が容易である。

【００３１】尚、コレクトリストメモリ９０、エラーリ
ストメモリ１００を第１回目、第２回目等の繰り返し回
数に応じてそれぞれ記憶しておくことも可能であり、何
回目で正答に達したかがわかる。図１０は本発明の第３
実施例であり、いわゆる穴埋め問題に対する応用例であ
る。図１０はワードメモリ１７０を示し、Ｐ1〜Ｐ300に
は問題データが、Ｑ11〜Ｑ3003には解答データが入り、
Ｐ1には次の様な問題データＫ1が入っている。

【００３２】郵便局へはどういったらいいですか。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［ ］ ｍｅ ｔｈｅ ［
］ ｔｏ ｔｈｅ［ ］ Ｏｆｆｉｃｅ？ 図１１はＫ1のデータ構造を示し、データＫ11は“Ｃａ
ｎ ｙｏｕ”であり、α1，β1，γ1は最初の空欄に対
応し、α1，β1，γ1はそれぞれ最初の位置、空欄には
いる文字数、最後の位置を示し、解答データＬ11の“ｔ
ｅｌｌ”に対応する。データＫ12は，“ｍｅ ｔｈｅ”
であり、データα2，β2，γ2は２番目の空欄に対応
し、解答データＬ12の“ｗａｙ”に対応する。データＫ
13は“ｔｏｔｈｅ”であり、データα3，β3，γ3は３
番目の空欄に対応し、解答データＬ13の“Ｐｏｓｔ”が
対応し、データＫ14は“Ｏｆｆｉｃｅ？”である。Ｑ11
番地には解答データＬ11として“ｔｅｌｌ”が、Ｑ12番
地には解答データＬ12として“ｗａｙ”が、Ｑ13番地に
は解答データＬ13として“Ｐｏｓｔ”が入っている。こ
こでカウンタＣの内容は１つの問題データ中の空欄ヶ所
の数を示す。

【００３３】図１２は、エラーリストメモリ１８０の内
容を示し、空欄カ所を正答すると、そこに解答データが
入り、空欄カ所が誤答の時は空欄はそのままであり、正
答すればするほどエラーリストメモリ１８０の内のデー
タ数とカウンタＣは減少して行く。

【００３４】次に、第３実施例の内容を図１３のサブフ
ローチャートに基づいて説明する。この第３実施例は、
第１実施例の図４のサブフローチャートを図示のように
１部変更したもので、Ｓ１６〜Ｓ３０に代わりＳ３００
〜Ｓ４００が加わっているが、Ｓ１８，２０，２２，２
４はそのままであり、英単語に代わり英語の文章が読み
だされ表示部２８に表示される。

【００３５】まずＳ３００で、これから表示する学習デ
ータについてのカウンタＣの値をカウンタＢに設定し、
ここでカウンタＢは１つの問題文中の空欄カ所の数が解
答のある毎に減ってゆく様子を示すもので、残りの未解
答の空欄カ所の数を示す。第１実施例と同様にＳ１８〜
Ｓ２２で問題と解答の表示が行われた後、Ｓ３４で正答
キー２が押されると、Ｓ３１０でカウンタＣとカウンタ
Ｂとを１減少し、Ｓ３２０で解答データをＲＡＭ３４の
所定領域に転送し、正答であればもう１度問題を解く必
要はないからＳ３３０で表示部２８の問題文中の空欄
［ ］を消去し、そこに解答データを表示する。
一方、誤答キー４が押されると、Ｓ２４でＹＥＳとな
り、Ｓ３４０で空欄はそのままとし誤答回数Ｊを１増加
し、カウンタＢを１減少する。Ｓ３３０又はＳ３４０の
後は、Ｓ３５０でＢ＝０となるまでループ処理（Ｓ２０
〜Ｓ３４０）を行う。

【００３６】Ｓ３５０でＹＥＳとなると、Ｓ３６０でＧ
＝１かどうか判断し、ＮＯならばＳ３８０でエラーリス
トメモリ１８０に問題データと解答データを格納し、Ｓ
３２０でＲＡＭ３４に格納した解答データ（正答となっ
たもの）を問題データに転送し、その解答データは解答
番地から消去する。ＹＥＳならばＲＡＭ３４の解答デー
タをエラーリストメモリ１８０に転送し、既に問題デー
タは格納されているから、問題データの格納は行わな
い。

【００３７】例えば、第１問の３つの空欄の内、１，２
番目の空欄が誤答で３番目の空欄を正答したとすると、
Ｑ11,12番地のデータはそのままで、Ｑ13番地のデータ
Ｌ13を問題データＫ１のデータα3，β3，γ3へ転送し
て空欄を埋め、問題データは次のように修正され“Ｐｏ
ｓｔ”が現れる。

【００３８】郵便局へはどういったらいいですか。 Ｃａｎ ｙｏｕ ［ ］ ｍｅ ｔｈｅ ［
］ ｔｏ ｔｈｅＰｏｓｔ Ｏｆｆｉｃｅ？ 尚、解答データの内、Ｌ13は消去される。

【００３９】続くＳ３９０でＹＥＳ、即ち空欄に対し全
部正答キー２が押されると、Ｓ４００でエラーリストメ
モリ１８０からそのデータを消去する。例えば、図１２
のＰ3番地のデータは空領域となっており、これは第３
問の３つの空欄をすべて正答したためである。Ｓ３０で
ＮＯの場合は、１つの問題を終えたと判断し、Ｓ３２へ
飛び、Ｉを１増加して、次の問題文に移る。ＹＥＳなら
Ｓ４０へ飛ぶ。こうして処理がつぎつぎに行われた結果
の例が図１２に示される。

【００４０】図１４は、第４実施例を示し、第１実施例
の図４のサブフローチャートのＳ１８〜Ｓ３０を１部変
更したもので、Ｓ５００〜Ｓ５２０が新たに加わってい
る。即ち、第１実施例では、誤答のもののみを正答にな
るまで繰り返しているが、これに加えて第４実施例で
は、更に解答に時間を要したものを選択して、正答かつ
解答時間が短くなるまで問題を繰り返し実行する。

【００４１】Ｓ５００でタイマ４２が起動して、Ｓ２０
でＹＥＳなら、Ｓ５１０でタイマ４２をストップして解
答時間データＴｉを算出し、Ｓ２２，Ｓ３４のあとＳ５
２０で解答時間Ｔｉと所定時間Ｔｏを比較し、ＹＥＳな
らＳ２４，Ｓ２６を経てＳ２８で図７のエラーリストメ
モリ８０に単語データ、訳文データとともに、解答時間
データＴｉを格納し、Ｓ２９を行い、Ｓ３８を行い、Ｓ
３０へ飛び、Ｓ５２０でＮＯならＳ３６，Ｓ３８を行
う。尚、正答、誤答に拘らず、解答時間が長かったもの
を選択して、繰り返して問題を解けるように設計変更で
きることは勿論である。

【００４２】図１５は、第５実施例であり、ＩＣカード
２４、２６の学習データの範囲を使用者が自由に設定で
きるものである。ここでは、図示せぬ所定のキーが押さ
れると本ルーチンが起動し、学習データの区分、例えば
中学の各学年の学期、教科書の各セクション、歴史年表
の年代等の一覧を表示部２８に表示し、Ｓ７００でＩＣ
カード２４、２６の表面に設けた図示せぬ選択キーある
いはアルファニューメリックキー２１で所望のレッスン
を設定する。例えば歴史年表で１５００年から１６５０
年までを学習したいときは、１５００と１６５０の数字
キーを押せばよく、英語の教科書のセクションでは選択
キーを押してカーソルで選ぶことができる。次のＳ８０
０では、設定されたレッスンに対応する学習データの格
納領域に関する設定データをＲＡＭ３５に記憶し、この
設定した学習データの格納領域以外からの学習データの
読み込みを禁止し、Ｓ９００でＩＣカード２４又は２６
の表面に設けた図示せぬレッスン変更キーが押される
と、Ｓ１０００でその押し下げに応じて前記設定データ
を変更し処理を終了する。

【００４３】こうして学習を始める前、学習途中、学習
後に学習データの区分を自由に設定変更することができ
るので、学習の自由度を大いに向上させることができ
る。尚、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、様々な変形
が可能であり、例えば、英単語の問題の代わりに漢字、
歴史年表、数学公式、理科公式等の暗記用の学習データ
としてもよい。また、学習データを試験によくでる頻度
順にＲＯＭに格納しておいてもよく、回路をディスクリ
ートな構成にしてもよく、ＩＣカードの方にバックアッ
プＲＡＭを設け電池でバックアップしてもよい。更に、
全問正答まで行くとゲームが楽しめるように構成しても
よく、学習処理の終了時に残りの問題数を表示し目標達
成までどのくらいかを示すように構成してもよく、問題
データの表示後、設定時間経過後に自動的に解答データ
を表示部に表示してもよい。又、正答キー２、誤答キー
４、終了キー８、音声キー１０、表示キー１２、選択キ
ー１８又は正解率キー２０をアルファニューメリックキ
ー２１が兼用してもよく、現在普及しつつある電子辞典
としても活用できる。更に、バックアップＲＡＭの内容
を書換え可能とし、使用者が問題と解答を自由に作成、
追加、変更できるようにすることが可能である。

【００４４】

【発明の効果】請求項１の電子学習装置では、学習メモ
リに、問題データと解答データとを含む学習データを格
納しており、出題手段によって、学習メモリの問題デー
タに基づいて問題を出力し、回答入力手段によって、こ
の出力された問題の回答を入力する。そして、回答時間
計測手段によって、出題手段による問題の出力から回答
入力手段による回答の入力までの回答時間を計測し、回
答時間判定手段によって、回答時間計測手段により計測
された回答時間が所定値以上か否かを判定し、長時間問
題再出題手段によって、この回答時間が所定値以上であ
ると判定された問題を再出力する。そのため、回答時間
がかかる様な苦手な問題を繰り返し学習することができ
るので、確実に学習を行なうことができるという特長が
ある。

【００４５】請求項２の電子学習装置では、学習メモリ
に、問題データと解答データとを含む学習データを格納
しており、出題手段によって、学習メモリの問題データ
に基づいて問題を出力し、回答入力手段によって、この
出力された問題の回答を入力し、正誤判定手段によっ
て、この入力された回答と学習メモリの解答データとを
比較して回答の正誤を判定する。そして、コレクトリス
トメモリには、正誤判定手段によって判定された正答の
アドレスデータを記憶し、エラーリストメモリには、正
誤判定手段によって判定された誤答のアドレスデータを
記憶する。そのため、再度同じ問題を解いた場合には、
両リスト間のデータのやり取りで、正誤の記録を行なう
ことができるので、データ処理が軽減されるという利点
がある。

【００４６】請求項３の電子学習装置では、学習メモリ
に、問題データと解答データとを含む学習データを格納
しており、出題手段によって、学習メモリの問題データ
に基づいて問題を出力し、この出題手段によって問題が
出力された後に、解答出力手段によって、学習メモリの
解答データに基づいて所定時間後に解答を出力する。つ
まり、出題されてから一定時間経過すると自動的に解答
が出力されるので、解答者は真剣に問題を解かねばなら
ず、よって学習効果が向上するという効果がある。特
に、解答時間が制限される試験に対しての学習効果が大
幅に向上する。

【００４７】請求項４の電子学習装置では、学習メモリ
に、問題データと解答データとを含む学習データを格納
しており、出題手段によって、学習メモリの問題データ
に基づいて問題を順次出力し、回答入力手段によって、
この出力された問題の回答を入力することによって、順
次出題される問題を解いて学習を行なう。そして、学習
を途中で中断する場合は、中断位置記憶手段によって、
中断する時点の問題のデータを記憶し、この中断した学
習を再開する場合は、中断位置記憶手段に記憶された中
断する時点の問題のデータに基づき、再開出題手段によ
って、次に出題すべき問題を出力する。従って、途中で
学習を中断し再開した場合でも、次に学習すべき適切な
箇所の問題が出力されるので、学習能率が向上するとい
う効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 Ａ，Ｂ，Ｃは本発明の一実施例としての電子
学習機とＩＣカードの正面図である。

【図２】 ＩＣカードの内部構造図である。

【図３】 第１実施例のメインフローチャートである。

【図４】 同実施例のサブフローチャートである。

【図５】 Ａ，Ｂは同実施例のメニュー画面の説明図で
ある。

【図６】 同実施例のワードメモリの内容を示す説明図
である。

【図７】 同実施例のエラーリストメモリの内容を示す
説明図である。

【図８】 第２実施例のサブフローチャートである。

【図９】 Ａ，Ｂ，Ｃは同実施例のワードメモリとコレ
クトリストメモリとエラーリストメモリの内容を示す説
明図である。

【図１０】 第３実施例のワードメモリの内容を示す説
明図である。

【図１１】 同実施例のデータＫ１の内容を示す説明図
である。

【図１２】 同実施例のエラーリストメモリの内容を示
す説明図である。

【図１３】 同実施例のサブフローチャートである。

【図１４】 第４実施例のサブフローチャートである。

【図１５】 第５実施例のサブフローチャートを各々示
す。

【符号の説明】

１…電子学習装置 ２…正答キー ４…誤答キー ２２…キーボード入力部 ２８…表示部 ３０…ＣＰＵ ３２，５２…ＲＯＭ ７０，７５，１７０…ワードメモリ ８０，１００，１８０…エラーリストメモリ ９０…コレクトリストメモリ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 問題データと解答データとを含む学習デ
   ータを格納する学習メモリと、 該学習メモリの問題データに基づいて、問題を出力する
   出題手段と、 該出題手段によって出力された問題の回答を入力する回
   答入力手段と、 前記出題手段による問題の出力から前記回答入力手段に
   よる回答の入力までの回答時間を計測する回答時間計測
   手段と、 該回答時間計測手段によって計測された回答時間が所定
   値以上か否かを判定する回答時間判定手段と、 該回答時間判定手段によって回答時間が所定値以上であ
   ると判定された問題を再出力する長時間問題再出題手段
   と、 を備えたことを特徴とする電子学習装置。
2. 【請求項２】 問題データと解答データとを含む学習デ
   ータを格納する学習メモリと、 該学習メモリの問題データに基づいて、問題を出力する
   出題手段と、 該出題手段によって出力された問題の回答を入力する回
   答入力手段と、 該回答入力手段によって入力された回答と前記学習メモ
   リの解答データとを比較して、回答の正誤を判定する正
   誤判定手段と、 該正誤判定手段によって判定された正答のアドレスデー
   タを記憶するコレクトリストメモリと、 該正誤判定手段によって判定された誤答のアドレスデー
   タを記憶するエラーリストメモリと、 を備えたことを特徴とする電子学習装置。
3. 【請求項３】 問題データと解答データとを含む学習デ
   ータを格納する学習メモリと、 該学習メモリの問題データに基づいて、問題を出力する
   出題手段と、 該出題手段によって問題が出力された後に、前記学習メ
   モリの解答データに基づいて、所定時間後に解答を出力
   する解答出力手段と、 を備えたことを特徴とする電子学習装置。
4. 【請求項４】 問題データと解答データとを含む学習デ
   ータを格納する学習メモリと、 該学習メモリの問題データに基づいて、問題を順次出力
   する出題手段と、 該出題手段によって出力された問題の回答を入力する回
   答入力手段と、 を備え、順次出題される問題を解いて学習を行なう電子
   学習装置において、 前記学習を途中で中断する場合は、中断する時点の問題
   のデータを記憶する中断位置記憶手段と、 前記中断した学習を再開する場合は、前記中断位置記憶
   手段に記憶された中断する時点の問題のデータに基づい
   て、次に出題すべき問題を出力する再開出題手段と、 を備えたことを特徴とする電子学習装置。