JPH075407Y2 - 塩化銀電極 - Google Patents
塩化銀電極Info
- Publication number
- JPH075407Y2 JPH075407Y2 JP1987174901U JP17490187U JPH075407Y2 JP H075407 Y2 JPH075407 Y2 JP H075407Y2 JP 1987174901 U JP1987174901 U JP 1987174901U JP 17490187 U JP17490187 U JP 17490187U JP H075407 Y2 JPH075407 Y2 JP H075407Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- internal
- agcl
- silver chloride
- lead
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本考案はpH計のガラス電極、或は比較電極の内部極とし
て用いられる塩化銀電極に関する。
て用いられる塩化銀電極に関する。
＜従来の技術＞ 第３図はpH計のガラス電極の従来例を示す構成図であ
る。図中、１は先端にガラス薄膜1a部を有するガラス筒
体、２はこの筒体１内に挿入された内部電極である。こ
の電極は、先端に液絡部2aを設けたガラス管2bにAg粉末
をAgCl化したAgCl粉末2cを充填したあと、リードを兼ね
るAg線2dを挿入しシール剤2eによってシールした構成に
なっている。３はpH値が既知（通常pH7）のKCl内部液で
ある。
る。図中、１は先端にガラス薄膜1a部を有するガラス筒
体、２はこの筒体１内に挿入された内部電極である。こ
の電極は、先端に液絡部2aを設けたガラス管2bにAg粉末
をAgCl化したAgCl粉末2cを充填したあと、リードを兼ね
るAg線2dを挿入しシール剤2eによってシールした構成に
なっている。３はpH値が既知（通常pH7）のKCl内部液で
ある。
このような構成でKCl内部液３に浸漬された内部電極２
の電位Viは次式で表わされる。
の電位Viは次式で表わされる。
Vi＝Ei−｛（2.303×Ｒ×Ｔ）/F｝・｛logy〔Cl-〕｝…
（１） 但し、Ei：標準単極電位、R:気体定数、F:ファラデー定
数、T:絶対温度、y:活量係数、〔Cl-〕：Cl-イオン濃
度。
（１） 但し、Ei：標準単極電位、R:気体定数、F:ファラデー定
数、T:絶対温度、y:活量係数、〔Cl-〕：Cl-イオン濃
度。
このようなガラス電極がpH値未知の測定液Ｓ中に浸漬さ
れると、ガラス薄膜1aの膜界面には以下の電位Ｖが発生
する。
れると、ガラス薄膜1aの膜界面には以下の電位Ｖが発生
する。
Ｖ＝（Vi−Vi′＋｛（2.303×Ｒ×Ｔ）/F｝・（pHi−pH
s） …（２） 但し、Vi′：対象電極の内部電極の電位、pHi：ガラス
電極の内部液３のpH値、pHs：測定液ＳのpH値。
s） …（２） 但し、Vi′：対象電極の内部電極の電位、pHi：ガラス
電極の内部液３のpH値、pHs：測定液ＳのpH値。
pH測定では、（２）式の１項目が各温度において一定で
あることを条件に２項目から測定液ＳのpH値を求めてい
る。このような構成の内部電極の場合、電極電位の再現
性が良く、且つ温度応答性が優れているが、構造が複雑
で製作に手間が掛かる欠点があった。
あることを条件に２項目から測定液ＳのpH値を求めてい
る。このような構成の内部電極の場合、電極電位の再現
性が良く、且つ温度応答性が優れているが、構造が複雑
で製作に手間が掛かる欠点があった。
第４図は他のガラス電極の従来例を示す構成図である。
図中、第３図における要素と同じ要素には同一符号を付
しこれらについての説明は省略する。４は筒体１に挿入
された内部電極で、リードを兼ねるAg線4aにAgCl層4bを
付着した構成になっている。このAgCl層は溶融したAgCl
中にAg線4aを繰返し漬けて成長させたものである。この
ようなガラス電極の場合、構造は簡単で製作が容易であ
るが、電極電位の再現性が悪く、温度応答性が悪い欠点
がある。
図中、第３図における要素と同じ要素には同一符号を付
しこれらについての説明は省略する。４は筒体１に挿入
された内部電極で、リードを兼ねるAg線4aにAgCl層4bを
付着した構成になっている。このAgCl層は溶融したAgCl
中にAg線4aを繰返し漬けて成長させたものである。この
ようなガラス電極の場合、構造は簡単で製作が容易であ
るが、電極電位の再現性が悪く、温度応答性が悪い欠点
がある。
ガラス電極の電位Viを決定するものでは（１）式から分
るようにCl-イオン濃度である。このCl-イオン濃度は内
部液３のKCl濃度によって大部分決まるが、非溶解性のA
gClもKCl中に置かれると溶解度が増し、 AgCl＋ｅAg＋Cl- …（３） の系で反応しCl-イオンを発生する。従って、この系に
おける安定性が内部電極４の電位Viに影響を与える。
るようにCl-イオン濃度である。このCl-イオン濃度は内
部液３のKCl濃度によって大部分決まるが、非溶解性のA
gClもKCl中に置かれると溶解度が増し、 AgCl＋ｅAg＋Cl- …（３） の系で反応しCl-イオンを発生する。従って、この系に
おける安定性が内部電極４の電位Viに影響を与える。
この系の安定性は、AgClとAgの存在比、その量、内部液
の量等が関係する。このうち最も重要な要因はAgClとAg
の存在比である。この存在比は電解液中におけるAgClと
Agの接触面積と考えることが出来る。第４図の従来装置
の場合、Ag線4aはAgCl層4bによって覆われており、AgCl
とAgとの接触面積の比を理想状態に設定することは出来
ない。この結果、内部電極４の電位Viの再現性が悪かっ
た。またこれらの接触面積が小さいため、温度応答性が
悪かった。
の量等が関係する。このうち最も重要な要因はAgClとAg
の存在比である。この存在比は電解液中におけるAgClと
Agの接触面積と考えることが出来る。第４図の従来装置
の場合、Ag線4aはAgCl層4bによって覆われており、AgCl
とAgとの接触面積の比を理想状態に設定することは出来
ない。この結果、内部電極４の電位Viの再現性が悪かっ
た。またこれらの接触面積が小さいため、温度応答性が
悪かった。
＜考案が解決しようとする問題点＞ 本考案の解決しようとする技術的課題は、構造が簡単で
容易に製作でき、且つ電極電位の再現性が良く、温度応
答性に優れた塩化銀電極を実現することにある。
容易に製作でき、且つ電極電位の再現性が良く、温度応
答性に優れた塩化銀電極を実現することにある。
＜問題点を解決するための手段＞ このような目的を達成するために、本考案は、 ガラス電極や比較電極の内部電極として使用される塩化
銀電極において、 前記内部電極は、 内部液に浸漬されるAgリードの端部に積層して設けられ
たAgCl層と、 このAgCl層に前記Agリードを露出して前記Agリードを前
記内部液に接する切れ込み部と、 を有し、前記内部液に接触するAgCl層とAgリードの表面
積比を前記切れ込み部によって任意に設定し、温度応答
性に優れるようにしたことを特徴としている。
銀電極において、 前記内部電極は、 内部液に浸漬されるAgリードの端部に積層して設けられ
たAgCl層と、 このAgCl層に前記Agリードを露出して前記Agリードを前
記内部液に接する切れ込み部と、 を有し、前記内部液に接触するAgCl層とAgリードの表面
積比を前記切れ込み部によって任意に設定し、温度応答
性に優れるようにしたことを特徴としている。
＜作用＞ 前記の技術手段は次のように作用する。即ち、前記塩化
銀内部電極は前記Ag線を溶融したAgCl中に繰返し漬けて
形成したAgCl層にカッター等を用いて切れ込み部（以
下、切れ込みという）を設けた構成としているため、製
作が極めて簡単で、また電極表面にはAgCl部とAg部とが
共存しこれらの面積比は切れ込みの入れ方によって変え
られ、AgClとAgとの存在比を理想状態に設定することが
出来る。
銀内部電極は前記Ag線を溶融したAgCl中に繰返し漬けて
形成したAgCl層にカッター等を用いて切れ込み部（以
下、切れ込みという）を設けた構成としているため、製
作が極めて簡単で、また電極表面にはAgCl部とAg部とが
共存しこれらの面積比は切れ込みの入れ方によって変え
られ、AgClとAgとの存在比を理想状態に設定することが
出来る。
＜実施例＞ 以下図面に従い本考案の実施例を説明する。第１図は本
考案実施例装置であるガラス電極を示す構成図である。
図中、第３図及び第４図における要素と同じ要素には同
一符号を付しこれらについての説明は省略する。５は筒
体１に挿入された塩化銀内部電極で、以下のような手順
で製作される。磁製るつぼに粉末AgClを入れ700℃以上
に熱して溶融させ、この中にリードを兼ねるAg線5aを繰
返し漬けてAgCl層5bを形成する。この層は最初、点線の
位置まで形成されているが、カッター等を用いて周囲に
複数箇所切れ込み5cを入れ内部Ag線5aを露出させる。
考案実施例装置であるガラス電極を示す構成図である。
図中、第３図及び第４図における要素と同じ要素には同
一符号を付しこれらについての説明は省略する。５は筒
体１に挿入された塩化銀内部電極で、以下のような手順
で製作される。磁製るつぼに粉末AgClを入れ700℃以上
に熱して溶融させ、この中にリードを兼ねるAg線5aを繰
返し漬けてAgCl層5bを形成する。この層は最初、点線の
位置まで形成されているが、カッター等を用いて周囲に
複数箇所切れ込み5cを入れ内部Ag線5aを露出させる。
次いで、切れ込れみが入れられた内部電極５を筒体１内
に挿入し内部液３を注ぎ、シール剤６によってシールす
る。
に挿入し内部液３を注ぎ、シール剤６によってシールす
る。
このような構成により、電極表面にはAgCl部とAg部とが
共存しこれらの面積の比は切れ込み5cの入れ方によって
変えられ、AgClとAgの存在比を理想状態に設定すること
ができるため安定した電極電位Viが実現できる。更に、
切れ込み5cを入れたことによってAgCl並びにAgの接触面
積が共に増大するため温度応答性が向上する。
共存しこれらの面積の比は切れ込み5cの入れ方によって
変えられ、AgClとAgの存在比を理想状態に設定すること
ができるため安定した電極電位Viが実現できる。更に、
切れ込み5cを入れたことによってAgCl並びにAgの接触面
積が共に増大するため温度応答性が向上する。
第２図は本考案実施例装置と従来装置との実験結果を示
す特定図で、pH値が既知で、25℃と70℃と温度が異なる
二種類の測定液を使って行った実験結果である。70℃の
測定液に漬けたときの電位VHと25℃の測定液に漬けたと
きの電位VLとの電位差（縦軸）と、温度変化がある場
合、その温度における値になる迄の応答時間（横軸）と
の関係をプロットしたもので、○が本考案のガラス電極
の実験結果を、●が従来装置の実験結果を表わす。
す特定図で、pH値が既知で、25℃と70℃と温度が異なる
二種類の測定液を使って行った実験結果である。70℃の
測定液に漬けたときの電位VHと25℃の測定液に漬けたと
きの電位VLとの電位差（縦軸）と、温度変化がある場
合、その温度における値になる迄の応答時間（横軸）と
の関係をプロットしたもので、○が本考案のガラス電極
の実験結果を、●が従来装置の実験結果を表わす。
本図から明らかなように、従来装置の場合、電位にはバ
ラつきがあり再現性が悪く、応答時間も長い、これに対
し、本考案実施例装置の場合、電位の再現性が良く、且
つ応答が早い。
ラつきがあり再現性が悪く、応答時間も長い、これに対
し、本考案実施例装置の場合、電位の再現性が良く、且
つ応答が早い。
＜考案の効果＞ 本考案によれば、構造が簡単で容易に製作でき、且つ電
極電位の再現性が良く、温度応答性に優れた塩化銀電極
が実現できる。
極電位の再現性が良く、温度応答性に優れた塩化銀電極
が実現できる。
尚、上記本考案の実施例の説明では、pH計のガラス電極
の内部極として本考案の塩化銀電極を用いる場合につい
て説明を行ったが、これに限らず、比較電極の内部極と
して本考案の塩化銀電極を用いることもできる。
の内部極として本考案の塩化銀電極を用いる場合につい
て説明を行ったが、これに限らず、比較電極の内部極と
して本考案の塩化銀電極を用いることもできる。
第１図は本考案実施例装置を示す構成図、第２図は本考
案実施例装置と従来装置との実験結果を示す特性図、第
３図及び第４図は従来装置を示す構成図である。 １…ガラス筒体、1a…薄膜部、３…内部液、５…塩化銀
内部電極、5a…Ag線、5b…AgCl層、5c…切れ込み、６…
シール剤、Ｓ…測定液
案実施例装置と従来装置との実験結果を示す特性図、第
３図及び第４図は従来装置を示す構成図である。 １…ガラス筒体、1a…薄膜部、３…内部液、５…塩化銀
内部電極、5a…Ag線、5b…AgCl層、5c…切れ込み、６…
シール剤、Ｓ…測定液
Claims (1)
- 【請求項１】ガラス電極や比較電極の内部電極として使
用される塩化銀電極において、 前記内部電極は、 内部液に浸漬されるAgリードの端部に積層して設けられ
たAgCl層と、 このAgCl層に前記Agリードを露出して前記Agリードを前
記内部液に接する切れ込み部と、 を有し、前記内部液に接触するAgCl層とAgリードの表面
積比を前記切れ込み部によって任意に設定し、温度応答
性に優れるようにしたことを特徴とした塩化銀電極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987174901U JPH075407Y2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 塩化銀電極 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987174901U JPH075407Y2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 塩化銀電極 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0178948U JPH0178948U (ja) | 1989-05-26 |
| JPH075407Y2 true JPH075407Y2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=31466731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987174901U Expired - Lifetime JPH075407Y2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | 塩化銀電極 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH075407Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4491217B2 (ja) * | 2003-10-08 | 2010-06-30 | 東亜ディーケーケー株式会社 | 内部電極及びその製造方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6059149U (ja) * | 1983-09-28 | 1985-04-24 | 株式会社 堀場製作所 | 内部電極 |
-
1987
- 1987-11-16 JP JP1987174901U patent/JPH075407Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0178948U (ja) | 1989-05-26 |
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