JPH0754145A - スパッタリング装置および強磁性積層膜の形成方法 - Google Patents
スパッタリング装置および強磁性積層膜の形成方法Info
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- JPH0754145A JPH0754145A JP5314698A JP31469893A JPH0754145A JP H0754145 A JPH0754145 A JP H0754145A JP 5314698 A JP5314698 A JP 5314698A JP 31469893 A JP31469893 A JP 31469893A JP H0754145 A JPH0754145 A JP H0754145A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 強磁性膜の異方性を制御できる量産型スパッ
タリング装置および等方的に高周波特性の優れた強磁性
積層膜の形成方法の提供。 【構成】 チャンバー7内に回転自在に設けられた多角
柱状の基板ホルダー1とこれに対向配置された磁性体タ
ーゲット3との間にマスク10を配設する。基板ホルダ
ー1と磁性体ターゲット3との間に電圧を印加し、チャ
ンバー7内にスパッタガスを導入する。磁性体ターゲッ
ト3からのスパッタ物質によって基板の表面に磁性体膜
が形成される。スパッタ物質の基板への入射方向をマス
ク10の開口幅Wの切り替えで行う。基板ホルダー1を
回転または移動させつつスパッタ形成する段階と、固定
してスパッタ形成する段階とを設けてもよい。いずれに
しても、磁性体膜の磁化容易軸方向を制御できる。
タリング装置および等方的に高周波特性の優れた強磁性
積層膜の形成方法の提供。 【構成】 チャンバー7内に回転自在に設けられた多角
柱状の基板ホルダー1とこれに対向配置された磁性体タ
ーゲット3との間にマスク10を配設する。基板ホルダ
ー1と磁性体ターゲット3との間に電圧を印加し、チャ
ンバー7内にスパッタガスを導入する。磁性体ターゲッ
ト3からのスパッタ物質によって基板の表面に磁性体膜
が形成される。スパッタ物質の基板への入射方向をマス
ク10の開口幅Wの切り替えで行う。基板ホルダー1を
回転または移動させつつスパッタ形成する段階と、固定
してスパッタ形成する段階とを設けてもよい。いずれに
しても、磁性体膜の磁化容易軸方向を制御できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、とくに積層型磁気ヘッ
ド用磁気コアの金属磁性膜を形成するのに適したスパッ
タリング装置および強磁性積層膜の形成方法に関するも
のである。
ド用磁気コアの金属磁性膜を形成するのに適したスパッ
タリング装置および強磁性積層膜の形成方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】積層型磁気ヘッドにおいては、非磁性基
板からなるベース材料の表面にセンダストやアモルファ
ス合金などの金属磁性膜を設けた磁気コアが用いられ
る。前記金属磁性膜の形成には、通常、カルーセル形式
のマグネトロン型スパッタリング装置が用いられる。
板からなるベース材料の表面にセンダストやアモルファ
ス合金などの金属磁性膜を設けた磁気コアが用いられ
る。前記金属磁性膜の形成には、通常、カルーセル形式
のマグネトロン型スパッタリング装置が用いられる。
【0003】このようなスパッタリング装置において
は、被加工物たる基板を支持した多角柱状の基板ホルダ
ーが、チャンバー内の基台上で支軸を軸として回転する
ようになっている。チャンバー内には、スパッター物質
発生源たるターゲットが基板ホルダーの基板支持面に向
き合うように配置されており、スパッタガスが導入され
る。ターゲットと基板ホルダーとの間に所定の電圧が印
加されることによって、基板の表面がターゲットからの
スパッタ物質によって膜状に覆われる。
は、被加工物たる基板を支持した多角柱状の基板ホルダ
ーが、チャンバー内の基台上で支軸を軸として回転する
ようになっている。チャンバー内には、スパッター物質
発生源たるターゲットが基板ホルダーの基板支持面に向
き合うように配置されており、スパッタガスが導入され
る。ターゲットと基板ホルダーとの間に所定の電圧が印
加されることによって、基板の表面がターゲットからの
スパッタ物質によって膜状に覆われる。
【0004】他方、等方的に高周波特性の優れた強磁性
膜として、図6に示すような強磁性積層膜が知られてい
る。この強磁性積層膜は、非磁性絶縁層12を挟んで積
層された複数の強磁性薄層13からなり、複数の強磁性
薄層13は、その磁化容易軸方向5が隣り合うもの同士
で互いにほぼ直交するように、磁界内でスパッタ形成さ
れる。すなわち、与える磁界の方向を強磁性薄層13ご
とに変えることによって、非磁性絶縁層12を挟んで隣
接する強磁性薄層13の磁化容易軸方向5を互いに交差
させている(特開昭63−217511号公報、特開平
5−47555号公報)。
膜として、図6に示すような強磁性積層膜が知られてい
る。この強磁性積層膜は、非磁性絶縁層12を挟んで積
層された複数の強磁性薄層13からなり、複数の強磁性
薄層13は、その磁化容易軸方向5が隣り合うもの同士
で互いにほぼ直交するように、磁界内でスパッタ形成さ
れる。すなわち、与える磁界の方向を強磁性薄層13ご
とに変えることによって、非磁性絶縁層12を挟んで隣
接する強磁性薄層13の磁化容易軸方向5を互いに交差
させている(特開昭63−217511号公報、特開平
5−47555号公報)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のスパッタリング装置では、図8の(a)、
(b)、(c)に示すように多角柱状の基板ホルダー1
が、その支軸2を軸にして回転し、かつ、磁性体ターゲ
ット3の平面的なサイズが、被加工物たる基板4と磁性
体ターゲット3との間隔に比べて大きいので、図9の
(a)、(b)、(c)に示すように基板4に対するス
パッタ物質の入射角が時々刻々と変化する。
た従来のスパッタリング装置では、図8の(a)、
(b)、(c)に示すように多角柱状の基板ホルダー1
が、その支軸2を軸にして回転し、かつ、磁性体ターゲ
ット3の平面的なサイズが、被加工物たる基板4と磁性
体ターゲット3との間隔に比べて大きいので、図9の
(a)、(b)、(c)に示すように基板4に対するス
パッタ物質の入射角が時々刻々と変化する。
【0006】図8の(a)に示す位置での基板4は磁性
体ターゲット3から離れているので、図9の(a)に示
すようにX方向のスパッタ物質入射角θxは小さく、Y
方向でのスパッタ物質の入射量は少ない。ところが、基
板4が図8の(b)に示すように磁性体ターゲット3の
正面に近づいてくると、図9の(b)に示すようにX方
向のスパッタ物質入射角θxが大きくなる。そして、図
8の(c)に示すように基板4が磁性体ターゲット3と
対面する位置では、図9の(c)に示すようにX方向の
スパッタ物質入射角θxが大きく、Y方向のスパッタ物
質入射角θyが小さくなる。
体ターゲット3から離れているので、図9の(a)に示
すようにX方向のスパッタ物質入射角θxは小さく、Y
方向でのスパッタ物質の入射量は少ない。ところが、基
板4が図8の(b)に示すように磁性体ターゲット3の
正面に近づいてくると、図9の(b)に示すようにX方
向のスパッタ物質入射角θxが大きくなる。そして、図
8の(c)に示すように基板4が磁性体ターゲット3と
対面する位置では、図9の(c)に示すようにX方向の
スパッタ物質入射角θxが大きく、Y方向のスパッタ物
質入射角θyが小さくなる。
【0007】異方性は、スパッタ物質の入射角の大小関
係に依存して決まる。すなわち、図10および図11に
示すように基板4に対するX方向のスパッタ物質入射角
θxが小さいとき、Y方向を磁化容易軸方向5とする異
方性が生じ、基板4に対するY方向のスパッタ物質入射
角θyが小さいときは、X方向を磁化容易軸方向5とす
る異方性が生じる。
係に依存して決まる。すなわち、図10および図11に
示すように基板4に対するX方向のスパッタ物質入射角
θxが小さいとき、Y方向を磁化容易軸方向5とする異
方性が生じ、基板4に対するY方向のスパッタ物質入射
角θyが小さいときは、X方向を磁化容易軸方向5とす
る異方性が生じる。
【0008】したがって、従来のスパッタリング装置に
よって形成された強磁性積層膜は、図9の(d)に示す
ように基板4のY方向が磁化容易軸方向5となる異方性
を常に備えたものとなり、異方性の方向を制御し得ない
という課題があった。
よって形成された強磁性積層膜は、図9の(d)に示す
ように基板4のY方向が磁化容易軸方向5となる異方性
を常に備えたものとなり、異方性の方向を制御し得ない
という課題があった。
【0009】一方、磁界内でのスパッタ形成によって得
られた強磁性積層膜の異方性は、磁性材料がセンダスト
等の結晶材料である場合、異方性が誘導されないという
問題点がある。また、CoNbZr等のアモルファス材
料である場合は、そのキュリー温度以上で熱処理するこ
とによって、磁界により誘導された異方性は消失してし
まい、スパッタ物質の入射方向によって決まる異方性だ
けが残る。つまり、前述の例に従うと常にY方向を磁化
容易軸とした異方性が生じ、異方性の方向を制御し得な
いことになる。
られた強磁性積層膜の異方性は、磁性材料がセンダスト
等の結晶材料である場合、異方性が誘導されないという
問題点がある。また、CoNbZr等のアモルファス材
料である場合は、そのキュリー温度以上で熱処理するこ
とによって、磁界により誘導された異方性は消失してし
まい、スパッタ物質の入射方向によって決まる異方性だ
けが残る。つまり、前述の例に従うと常にY方向を磁化
容易軸とした異方性が生じ、異方性の方向を制御し得な
いことになる。
【0010】したがって本発明の目的は、強磁性膜の異
方性を制御することのできる量産性に富んだスパッタリ
ング装置および等方的に優れた高周波特性を有する強磁
性積層膜の形成方法を提供することにある。
方性を制御することのできる量産性に富んだスパッタリ
ング装置および等方的に優れた高周波特性を有する強磁
性積層膜の形成方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は上述した目的を
達成するために、スパッタガス供給源に通じるチャンバ
ーと、被加工物たる基板を支持する基板支持面を支軸に
並行な多面に有し、支軸を軸にしてチャンバー内で回転
する多角柱状の基板ホルダーと、チャンバー内に設置さ
れて、基板ホルダーの回転に伴い基板ホルダーの多面の
基板支持面に順次に対面するスパッタ物質発生源たる磁
性体ターゲットと、磁性体ターゲットと基板ホルダーと
の間に電圧を供給する電圧供給手段と、マスクとからな
り、前記マスクは前記磁性体ターゲットと前記基板ホル
ダーとの間に設置されて、前記スパッタ物質の前記基板
への入射角を制御する開口を有していることを特徴とす
るスパッタリング装置が提供される。なお、マスクの開
口寸法のうち、基板ホルダーの支軸に直交する方向の長
さが複数段に調整できる構成となし得る。
達成するために、スパッタガス供給源に通じるチャンバ
ーと、被加工物たる基板を支持する基板支持面を支軸に
並行な多面に有し、支軸を軸にしてチャンバー内で回転
する多角柱状の基板ホルダーと、チャンバー内に設置さ
れて、基板ホルダーの回転に伴い基板ホルダーの多面の
基板支持面に順次に対面するスパッタ物質発生源たる磁
性体ターゲットと、磁性体ターゲットと基板ホルダーと
の間に電圧を供給する電圧供給手段と、マスクとからな
り、前記マスクは前記磁性体ターゲットと前記基板ホル
ダーとの間に設置されて、前記スパッタ物質の前記基板
への入射角を制御する開口を有していることを特徴とす
るスパッタリング装置が提供される。なお、マスクの開
口寸法のうち、基板ホルダーの支軸に直交する方向の長
さが複数段に調整できる構成となし得る。
【0012】また、請求項1に記載のスパッタリング装
置を用いて複数の強磁性薄層を、各薄層間に非磁性層を
挟んで積層形成するにさいし、マスクの開口寸法のう
ち、基板ホルダーの支軸に直交する方向の長さを少なく
とも一つの強磁性薄層ごとに切り替えることにより、強
磁性薄層の磁化容易軸方向を不同にすることを特徴とす
る強磁性積層膜の形成方法が提供される。
置を用いて複数の強磁性薄層を、各薄層間に非磁性層を
挟んで積層形成するにさいし、マスクの開口寸法のう
ち、基板ホルダーの支軸に直交する方向の長さを少なく
とも一つの強磁性薄層ごとに切り替えることにより、強
磁性薄層の磁化容易軸方向を不同にすることを特徴とす
る強磁性積層膜の形成方法が提供される。
【0013】また、スパッタリング装置のチャンバー内
に回転自在に設けられた多角柱状の基板ホルダーに被加
工物たる基板を支持せしめ、この基板の表面に強磁性薄
層と非磁性層とを交互に積層形成するさい、基板ホルダ
ーを回転または移動させて強磁性薄層を形成する段階
と、基板ホルダーを固定して強磁性薄層を形成する段階
とを設けることにより、少なくとも一つの強磁性薄層ご
とにその磁化容易軸方向を不同にすることを特徴とする
強磁性積層膜の形成方法が提供される。
に回転自在に設けられた多角柱状の基板ホルダーに被加
工物たる基板を支持せしめ、この基板の表面に強磁性薄
層と非磁性層とを交互に積層形成するさい、基板ホルダ
ーを回転または移動させて強磁性薄層を形成する段階
と、基板ホルダーを固定して強磁性薄層を形成する段階
とを設けることにより、少なくとも一つの強磁性薄層ご
とにその磁化容易軸方向を不同にすることを特徴とする
強磁性積層膜の形成方法が提供される。
【0014】
【作用】本発明によると、磁性体ターゲットと軸転する
基板ホルダーとの間にマスクが設置され、このマスクの
開口がスパッタ物質の基板への入射角を制御するので、
開口寸法のうち、基板ホルダーの支軸に直交する方向の
長さを選択するだけで、スパッタ形成される強磁性薄層
の磁化容易軸方向を制御することが可能となる。
基板ホルダーとの間にマスクが設置され、このマスクの
開口がスパッタ物質の基板への入射角を制御するので、
開口寸法のうち、基板ホルダーの支軸に直交する方向の
長さを選択するだけで、スパッタ形成される強磁性薄層
の磁化容易軸方向を制御することが可能となる。
【0015】つまり、基板ホルダーを軸転させてスパッ
タ形成した強磁性薄層でありながら、その磁化容易軸方
向を任意に選べるので、等方的に優れた高周波特性の強
磁性積層膜を、量産性を損なうことなく効率よく供給す
ることができる。
タ形成した強磁性薄層でありながら、その磁化容易軸方
向を任意に選べるので、等方的に優れた高周波特性の強
磁性積層膜を、量産性を損なうことなく効率よく供給す
ることができる。
【0016】また、基板ホルダーを回転または移動させ
て形成した強磁性薄層と、基板ホルダーを固定して形成
した強磁性薄層との組合せで、それぞれの磁化容易軸方
向を不同にするときは、マスクの開口寸法を変えずに、
つまり、マスクの有無に関係なく、基板ホルダーを移動
させたり停止させたりするだけで、等方的に優れた高周
波特性の強磁性積層膜を供給することができる。
て形成した強磁性薄層と、基板ホルダーを固定して形成
した強磁性薄層との組合せで、それぞれの磁化容易軸方
向を不同にするときは、マスクの開口寸法を変えずに、
つまり、マスクの有無に関係なく、基板ホルダーを移動
させたり停止させたりするだけで、等方的に優れた高周
波特性の強磁性積層膜を供給することができる。
【0017】
【実施例】つぎに、本発明の実施例を図面の参照により
説明する。
説明する。
【0018】図1に示すスパッタリング装置は、多角柱
状の基板ホルダー1、磁性体ターゲット3および非磁性
体ターゲット6をチャンバー7内に配設してなり、チャ
ンバー7は図外のスパッタガス発生源に通じている。基
板ホルダー1は図2に示すように、基板4を支持するた
めの基板支持面8を支軸2に並行な多面に有し、スパッ
タ動作期間中、支軸2を軸にして1rpm程度の低速で
回転する。磁性体ターゲット3および非磁性体ターゲッ
ト6は固定されているが、回転した基板ホルダー1の多
面の基板支持面8に順次に対面できる位置を占めてい
る。磁性体ターゲット3および非磁性体ターゲット6
は、基板ホルダー1との間に電圧を供給する電源9に選
択的に接続される。
状の基板ホルダー1、磁性体ターゲット3および非磁性
体ターゲット6をチャンバー7内に配設してなり、チャ
ンバー7は図外のスパッタガス発生源に通じている。基
板ホルダー1は図2に示すように、基板4を支持するた
めの基板支持面8を支軸2に並行な多面に有し、スパッ
タ動作期間中、支軸2を軸にして1rpm程度の低速で
回転する。磁性体ターゲット3および非磁性体ターゲッ
ト6は固定されているが、回転した基板ホルダー1の多
面の基板支持面8に順次に対面できる位置を占めてい
る。磁性体ターゲット3および非磁性体ターゲット6
は、基板ホルダー1との間に電圧を供給する電源9に選
択的に接続される。
【0019】磁性体ターゲット3と基板ホルダー1との
間にマスク10が設置されている。
間にマスク10が設置されている。
【0020】マスク10は、磁性体ターゲット3から蒸
発して基板ホルダー1に向かうスパッタ物質の基板4へ
の入射角を制御するための開口11を有し、開口11の
幅Wすなわち、基板ホルダー1の支軸2に直交する方向
の長さは、スライド機構等によって複数段に調整できる
ようになっている。
発して基板ホルダー1に向かうスパッタ物質の基板4へ
の入射角を制御するための開口11を有し、開口11の
幅Wすなわち、基板ホルダー1の支軸2に直交する方向
の長さは、スライド機構等によって複数段に調整できる
ようになっている。
【0021】図3および図4は、マスク10の開口11
の幅Wを比較的小さく設定し、基板ホルダー1を回転さ
せながらスパッタ動作させたときの、スパッタ物質の基
板4への入射方向の変化を示したものである。図3の
(a)、(b)に示すように基板4が磁性体ターゲット
3から離れている場合、図4の(a)、(b)に示すよ
うにX方向およびY方向のいずれからも入射成分はな
い。そして、図3の(c)に示すように基板4が磁性体
ターゲット3に対向する位置では、図4の(c)に示す
ように、X方向のスパッタ物質入射角θxが大きく、Y
方向のスパッタ物質入射角θyが小さくなる。したがっ
てこの場合は、図4の(d)に示すようにX方向が磁化
容易軸方向5となる異方性が生じる。
の幅Wを比較的小さく設定し、基板ホルダー1を回転さ
せながらスパッタ動作させたときの、スパッタ物質の基
板4への入射方向の変化を示したものである。図3の
(a)、(b)に示すように基板4が磁性体ターゲット
3から離れている場合、図4の(a)、(b)に示すよ
うにX方向およびY方向のいずれからも入射成分はな
い。そして、図3の(c)に示すように基板4が磁性体
ターゲット3に対向する位置では、図4の(c)に示す
ように、X方向のスパッタ物質入射角θxが大きく、Y
方向のスパッタ物質入射角θyが小さくなる。したがっ
てこの場合は、図4の(d)に示すようにX方向が磁化
容易軸方向5となる異方性が生じる。
【0022】図5は、マスク10の開口11の幅Wを変
化させて形成(基板ホルダー1の回転速度は約1rp
m)したCo系アモルファス膜を無磁界中、キュリー温
度以上の温度に熱処理した場合の異方性の変化を例示し
たものである。開口幅Wが小さいときは、X方向が磁化
容易軸となる異方性を生じているが、開口幅Wが大きく
なるに従って異方性が小さくなり、開口幅Wがさらに大
きくなると、今度はY方向が磁化容易軸となる異方性へ
と方向が逆転する。つまり、マスク10の開口幅Wに依
存して、スパッタ物質の基板4への入射角および入射方
向が変化することが分かる。本例ではW=95mmのと
き、異方性の小さい等方膜が形成される。
化させて形成(基板ホルダー1の回転速度は約1rp
m)したCo系アモルファス膜を無磁界中、キュリー温
度以上の温度に熱処理した場合の異方性の変化を例示し
たものである。開口幅Wが小さいときは、X方向が磁化
容易軸となる異方性を生じているが、開口幅Wが大きく
なるに従って異方性が小さくなり、開口幅Wがさらに大
きくなると、今度はY方向が磁化容易軸となる異方性へ
と方向が逆転する。つまり、マスク10の開口幅Wに依
存して、スパッタ物質の基板4への入射角および入射方
向が変化することが分かる。本例ではW=95mmのと
き、異方性の小さい等方膜が形成される。
【0023】このように、カルーセル形式のスパッタリ
ング装置であっても、マスクを設置してその開口幅を変
えるだけで、異方性の方向および大きさを任意に制御す
ることができる。したがって、等方的に高周波特性の優
れた強磁性積層膜を得るべく非磁性絶縁層12を挟んで
複数の強磁性薄層13を積層形成するさいに、マスクの
開口幅を薄層ごとに切り替えるだけの操作で図6に示す
ような強磁性積層膜、つまり、強磁性薄層13の磁化容
易軸方向5が互いにほぼ直交した強磁性積層膜を得るこ
とができる。
ング装置であっても、マスクを設置してその開口幅を変
えるだけで、異方性の方向および大きさを任意に制御す
ることができる。したがって、等方的に高周波特性の優
れた強磁性積層膜を得るべく非磁性絶縁層12を挟んで
複数の強磁性薄層13を積層形成するさいに、マスクの
開口幅を薄層ごとに切り替えるだけの操作で図6に示す
ような強磁性積層膜、つまり、強磁性薄層13の磁化容
易軸方向5が互いにほぼ直交した強磁性積層膜を得るこ
とができる。
【0024】上述のように基板に斜めに入射したスパッ
タ物質により形成された強磁性膜に生じる異方性は、当
該強磁性膜のコラム形状等の形状による異方性であるの
で、キュリー温度以上の熱処理によって消失することな
く安定した特性となる。
タ物質により形成された強磁性膜に生じる異方性は、当
該強磁性膜のコラム形状等の形状による異方性であるの
で、キュリー温度以上の熱処理によって消失することな
く安定した特性となる。
【0025】本例で用いた磁性体ターゲット3の平面的
サイズは125mm×375mmである。また、磁性体
ターゲット3と基板ホルダー1との相互間隔は50mm
であるが、前記相互間隔や基板ホルダー1の回転速度を
変えることによって、強磁性薄層13の異方性の大きさ
を変えることができる。非磁性ターゲット6は強磁性積
層膜の形成時に非磁性絶縁層12の素材となるもので、
SiO2 等からなる。
サイズは125mm×375mmである。また、磁性体
ターゲット3と基板ホルダー1との相互間隔は50mm
であるが、前記相互間隔や基板ホルダー1の回転速度を
変えることによって、強磁性薄層13の異方性の大きさ
を変えることができる。非磁性ターゲット6は強磁性積
層膜の形成時に非磁性絶縁層12の素材となるもので、
SiO2 等からなる。
【0026】基板ホルダー1の基板支持面8上に基板4
を装着し、基板ホルダー1を回転させながらCo系アモ
ルファスからなる強磁性薄層13およびSiO2 からな
る非磁性絶縁層12を基板4上に交互にスパッタ形成
し、図6に示すような強磁性積層膜を形成した。強磁性
薄層13をスパッタ形成するさいに、マスク10の開口
幅Wを80mmと120mmとに交互に切り替えたとこ
ろ、非磁性絶縁層12を挟んで隣接する強磁性薄層13
の磁化容易軸方向5はほぼ直交したものとなった。
を装着し、基板ホルダー1を回転させながらCo系アモ
ルファスからなる強磁性薄層13およびSiO2 からな
る非磁性絶縁層12を基板4上に交互にスパッタ形成
し、図6に示すような強磁性積層膜を形成した。強磁性
薄層13をスパッタ形成するさいに、マスク10の開口
幅Wを80mmと120mmとに交互に切り替えたとこ
ろ、非磁性絶縁層12を挟んで隣接する強磁性薄層13
の磁化容易軸方向5はほぼ直交したものとなった。
【0027】このようにして得られた強磁性積層膜の初
透磁率の周波数特性(各強磁性薄層の異方性磁界Hk は
70A/m)を図7の曲線(a)に示す。この強磁性積
層膜は、膜面内のすべての方向においてほぼ同一の特性
を示す等方性である。各強磁性薄層13の層厚は2μ
m、各非磁性絶縁層12の層厚は0.2μm、層数は1
0である。
透磁率の周波数特性(各強磁性薄層の異方性磁界Hk は
70A/m)を図7の曲線(a)に示す。この強磁性積
層膜は、膜面内のすべての方向においてほぼ同一の特性
を示す等方性である。各強磁性薄層13の層厚は2μ
m、各非磁性絶縁層12の層厚は0.2μm、層数は1
0である。
【0028】図7の曲線(b)は、マスク10の開口幅
Wを95mmに固定し、基板ホルダー1を回転させなが
らスパッタ形成した従来の強磁性積層膜(各強磁性薄層
の異方性磁界Hk は0A/m)の初透磁率の周波数特性
である。
Wを95mmに固定し、基板ホルダー1を回転させなが
らスパッタ形成した従来の強磁性積層膜(各強磁性薄層
の異方性磁界Hk は0A/m)の初透磁率の周波数特性
である。
【0029】このように、強磁性積層膜13の形成にお
いてマスクの開口幅Wを変化させ、非磁性絶縁層12を
挟んで隣接する強磁性薄層13の磁化容易軸方向5を互
いにほぼ直交させると、強磁性積層膜の高周波特性を等
方的に向上させることができる。これは強磁性積層膜を
構成する強磁性薄層13の異方性磁界を増加させたこと
により、自然共鳴周波数がより高い周波数側にシフトし
たためである。また、本実施例で形成された強磁性積層
膜の周波数特性は、強磁性膜であるCo系アモルファス
膜のキュリ−温度以上で熱処理をくり返しても、ほぼ安
定した特性を示すことが確認された。
いてマスクの開口幅Wを変化させ、非磁性絶縁層12を
挟んで隣接する強磁性薄層13の磁化容易軸方向5を互
いにほぼ直交させると、強磁性積層膜の高周波特性を等
方的に向上させることができる。これは強磁性積層膜を
構成する強磁性薄層13の異方性磁界を増加させたこと
により、自然共鳴周波数がより高い周波数側にシフトし
たためである。また、本実施例で形成された強磁性積層
膜の周波数特性は、強磁性膜であるCo系アモルファス
膜のキュリ−温度以上で熱処理をくり返しても、ほぼ安
定した特性を示すことが確認された。
【0030】上述した実施例では、基板ホルダー1を回
転させながら強磁性薄層13をスパッタ形成したが、基
板支持面8上の基板4を磁性体ターゲット3に対向する
位置で往復移動させつつスパッタ形成することもでき
る。しかし、基板4の必要枚数がごく少量の場合に適用
できても、量産には適しない。
転させながら強磁性薄層13をスパッタ形成したが、基
板支持面8上の基板4を磁性体ターゲット3に対向する
位置で往復移動させつつスパッタ形成することもでき
る。しかし、基板4の必要枚数がごく少量の場合に適用
できても、量産には適しない。
【0031】本発明の他の実施例では、図1に示すスパ
ッタリング装置のマスク10を全開にした状態で、また
はマスク10を全く使用せずに、強磁性積層膜を形成す
る。
ッタリング装置のマスク10を全開にした状態で、また
はマスク10を全く使用せずに、強磁性積層膜を形成す
る。
【0032】ただし、基板ホルダー1を回転または移動
させながらスパッタ形成した強磁性薄層13と、基板ホ
ルダー1を所定位置に固定してスパッタ形成した強磁性
薄層13とが非磁性絶縁層12を介して積層するように
構成される。
させながらスパッタ形成した強磁性薄層13と、基板ホ
ルダー1を所定位置に固定してスパッタ形成した強磁性
薄層13とが非磁性絶縁層12を介して積層するように
構成される。
【0033】基板ホルダー1を固定して強磁性薄層13
をスパッタ形成する段階での基板4は、磁性体ターゲッ
ト3に向き合う位置で停止させる。本例においてもCo
系アモルファスからなる磁性薄層13の各層厚を2μ
m、SiO2 からなる非磁性絶縁層12の各層厚を0.
2μmとし、層数は10とした。得られた強磁性積層膜
は先の実施例におけると同様、図7の曲線(a)に示す
ような等方的に優れた高周波透磁率を有していた。ま
た、Co系アモルファス膜のキュリー温度以上の温度で
熱処理をくり返しても、ほぼ安定した特性を示した。マ
スク10を使用するときは、その開口幅Wを95mm以
上に設定することができる。基板ホルダー1を回転また
は移動させて強磁性薄膜13をスパッタ形成する段階で
の基板4は磁性体ターゲット3の前方で往復移動させて
もよい。
をスパッタ形成する段階での基板4は、磁性体ターゲッ
ト3に向き合う位置で停止させる。本例においてもCo
系アモルファスからなる磁性薄層13の各層厚を2μ
m、SiO2 からなる非磁性絶縁層12の各層厚を0.
2μmとし、層数は10とした。得られた強磁性積層膜
は先の実施例におけると同様、図7の曲線(a)に示す
ような等方的に優れた高周波透磁率を有していた。ま
た、Co系アモルファス膜のキュリー温度以上の温度で
熱処理をくり返しても、ほぼ安定した特性を示した。マ
スク10を使用するときは、その開口幅Wを95mm以
上に設定することができる。基板ホルダー1を回転また
は移動させて強磁性薄膜13をスパッタ形成する段階で
の基板4は磁性体ターゲット3の前方で往復移動させて
もよい。
【0034】上述した実施例においては、各強磁性薄層
13の磁化容易軸方向5を非磁性絶縁層12を挟んで交
互に変化させたが、磁化容易軸方向5が同一の強磁性薄
層13を数層ずつまとめて、その積層膜の磁化容易軸方
向が互いに交差するように配置しても、等方的に優れた
高周波透磁率の強磁性積層膜を得ることができる。な
お、強磁性薄層13の異方性磁界の大きさは、スパッタ
時のスパッタパワーや、スパッタガス圧によって制御す
ることができる。
13の磁化容易軸方向5を非磁性絶縁層12を挟んで交
互に変化させたが、磁化容易軸方向5が同一の強磁性薄
層13を数層ずつまとめて、その積層膜の磁化容易軸方
向が互いに交差するように配置しても、等方的に優れた
高周波透磁率の強磁性積層膜を得ることができる。な
お、強磁性薄層13の異方性磁界の大きさは、スパッタ
時のスパッタパワーや、スパッタガス圧によって制御す
ることができる。
【0035】上述の実施例では強磁性材としてCo系ア
モルファスを用いたが、そのほかセンダスト、Co系窒
化膜、Co系超構造窒化膜、Fe系窒化膜等を用いても
上述と同様の効果が得られることを確認している。更に
上述した実施例では、非磁性層として非磁性絶縁層12
を用いたが、積層膜の総膜厚が薄く、渦電流損失が少な
い場合は、特に絶縁体である必要がない。
モルファスを用いたが、そのほかセンダスト、Co系窒
化膜、Co系超構造窒化膜、Fe系窒化膜等を用いても
上述と同様の効果が得られることを確認している。更に
上述した実施例では、非磁性層として非磁性絶縁層12
を用いたが、積層膜の総膜厚が薄く、渦電流損失が少な
い場合は、特に絶縁体である必要がない。
【0036】
【発明の効果】以上のように本発明によると、強磁性膜
の熱的に安定した異方性を制御することが可能となり、
等方的な高周波特性の優れた強磁性積層膜を効率よく量
産することができる。
の熱的に安定した異方性を制御することが可能となり、
等方的な高周波特性の優れた強磁性積層膜を効率よく量
産することができる。
【図1】本発明の一実施例におけるスパッタリング装置
を真上からみた概略図。
を真上からみた概略図。
【図2】基板ホルダーとこれに支持された基板との相関
を示す斜視図。
を示す斜視図。
【図3】本発明の一実施例における基板ホルダーとマス
クと磁性体ターゲットとの相関を示す略図。
クと磁性体ターゲットとの相関を示す略図。
【図4】本発明の一実施例における動作説明図。
【図5】本発明の一実施例におけるスパッタリング装置
のマスクの開口幅に依存して変化する異方性の大きさお
よび方向を示す特性図。
のマスクの開口幅に依存して変化する異方性の大きさお
よび方向を示す特性図。
【図6】強磁性積層膜の概念図。
【図7】本発明によって形成された強磁性積層膜の初透
磁率の周波数特性図。
磁率の周波数特性図。
【図8】従来のスパッタリング装置の基板ホルダーとタ
ーゲットとの相関を示す略図。
ーゲットとの相関を示す略図。
【図9】従来のスパッタリング装置の動作説明図。
【図10】スパッタ物質の入射方向と磁性膜に生じる異
方性との関係を示す概念図。
方性との関係を示す概念図。
【図11】スパッタ物質の入射方向と磁性膜に生じる異
方性との関係を示す概念図。
方性との関係を示す概念図。
1 基板ホルダー 2 支軸 3 磁性体ターゲット 4 基板 5 磁化容易軸方向 6 非磁性体ターゲット 7 チャンバー 8 基板支持面 9 電源 10 マスク 11 開口 12 非磁性絶縁層 13 強磁性薄層
Claims (5)
- 【請求項1】 スパッタガス供給源に通じるチャンバー
と、 被加工物たる基板を支持する基板支持面を支軸に並行な
多面に有し、支軸を軸にしてチャンバー内で回転する多
角柱状の基板ホルダーと、 チャンバー内に設置されて、基板ホルダーの回転に伴い
基板ホルダーの多面の基板支持面に順次に対面するスパ
ッタ物質発生源たる磁性体ターゲットと、 磁性体ターゲットと基板ホルダーとの間に電圧を供給す
る電圧供給手段と、 マスクとからなり、 前記マスクは前記磁性体ターゲットと前記基板ホルダー
との間に設置されて、前記スパッタ物質の前記基板への
入射角を制御する開口を有していることを特徴とするス
パッタリング装置。 - 【請求項2】 マスクの開口寸法のうち、基板ホルダー
の支軸に直交する方向の長さが複数段に調整できること
を特徴とする請求項1記載のスパッタリング装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載のスパッタリング装置を
用いて複数の強磁性薄層を、各薄層間に非磁性層を挟ん
で積層形成するにさいし、マスクの開口寸法のうち、基
板ホルダーの支軸に直交する方向の長さを少なくとも一
つの強磁性薄層ごとに切り替えることにより、強磁性薄
層の磁化容易軸方向を不同にすることを特徴とする強磁
性積層膜の形成方法。 - 【請求項4】 スパッタリング装置のチャンバー内に回
転自在に設けられた多角柱状の基板ホルダーに被加工物
たる基板を支持せしめ、この基板の表面上に強磁性薄層
と非磁性層とを交互に積層形成するさい、基板ホルダー
を回転または移動させて強磁性薄層を形成する段階と、
基板ホルダーを固定して強磁性薄層を形成する段階とを
設けることにより、少なくとも一つの強磁性薄層ごとに
その磁化容易軸方向を不同にすることを特徴とする強磁
性積層膜の形成方法。 - 【請求項5】 非磁性層を挟んで隣接する強磁性薄層の
磁化容易軸方向を互いに交差させることを特徴とする請
求項3または4記載の強磁性積層膜の形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5314698A JPH0754145A (ja) | 1993-06-10 | 1993-12-15 | スパッタリング装置および強磁性積層膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5-138218 | 1993-06-10 | ||
| JP13821893 | 1993-06-10 | ||
| JP5314698A JPH0754145A (ja) | 1993-06-10 | 1993-12-15 | スパッタリング装置および強磁性積層膜の形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0754145A true JPH0754145A (ja) | 1995-02-28 |
Family
ID=26471326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5314698A Pending JPH0754145A (ja) | 1993-06-10 | 1993-12-15 | スパッタリング装置および強磁性積層膜の形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0754145A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006156855A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Tdk Corp | 磁気素子およびインダクタ、ならびに磁気素子の製造方法 |
| JP2006156854A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Tdk Corp | 磁性薄膜およびその形成方法 |
| JP2008240105A (ja) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Showa Shinku:Kk | 基板ホルダ、成膜装置及び成膜方法 |
| US7955480B2 (en) | 2008-12-22 | 2011-06-07 | Canon Anelva Corporation | Sputtering apparatus and film deposition method |
-
1993
- 1993-12-15 JP JP5314698A patent/JPH0754145A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006156855A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Tdk Corp | 磁気素子およびインダクタ、ならびに磁気素子の製造方法 |
| JP2006156854A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Tdk Corp | 磁性薄膜およびその形成方法 |
| JP2008240105A (ja) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Showa Shinku:Kk | 基板ホルダ、成膜装置及び成膜方法 |
| US7955480B2 (en) | 2008-12-22 | 2011-06-07 | Canon Anelva Corporation | Sputtering apparatus and film deposition method |
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