JPH0756443B2 - 生体試料観察用走査型トンネル顕微鏡 - Google Patents
生体試料観察用走査型トンネル顕微鏡Info
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- JPH0756443B2 JPH0756443B2 JP2404211A JP40421190A JPH0756443B2 JP H0756443 B2 JPH0756443 B2 JP H0756443B2 JP 2404211 A JP2404211 A JP 2404211A JP 40421190 A JP40421190 A JP 40421190A JP H0756443 B2 JPH0756443 B2 JP H0756443B2
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L1/00—Enclosures; Chambers
- B01L1/02—Air-pressure chambers; Air-locks therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y35/00—Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q30/00—Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
- G01Q30/08—Means for establishing or regulating a desired environmental condition within a sample chamber
- G01Q30/12—Fluid environment
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/849—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
- Y10S977/86—Scanning probe structure
- Y10S977/871—Scanning probe structure with environmental regulation means
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Description
走査型トンネル顕微鏡(STM)に関する。
とこれに対向配置された探針との間に電圧を印加し、両
者間に流れるトンネル電流が一定になるように両者間の
間隙を制御しながら、探針で試料表面を走査することに
より、試料表面の形状を観察するもので、表面形状を原
子レベルの分解能で観察することができる。
として金属や半導体の表面分析、観察に用いられてお
り、そのため、試料を超高真空中で観察するようになっ
ている。超高真空中で、試料は高温処理によって表面の
付着物が除去されて清浄化され、汚れが付かない状態に
保たれる。
NA等の生体試料は、これを真空中にセットすると、形
態が常圧の場合とは大幅に異なってしまう可能性があ
る。そのため、生体試料を大気中にある状態のままで観
察したいという要求があり、実際に、走査型トンネル顕
微鏡により、大気中で生体試料の観察が行われている。
何の保護設備もない状態で動作することになるので、大
気中の汚染物質が付着するおそれがあり、その観察で得
られた試料の表面像が、果たして本来の試料の姿を映し
ているか否か、疑問である。
に鑑みてなされたものであって、真空を必要とせず、常
圧の清浄雰囲気中で試料や探針が動作するようにして、
形態を変化させたり汚染することなく、生体試料の観察
を行うことができる走査型トンネル顕微鏡を提供するこ
とを課題とする。
本体に、試料が装着される試料台と、前記試料にトンネ
ル電流を流すための探針と、試料台に対して探針を相対
的に3軸方向に変位させる駆動系とが設けられている走
査型トンネル顕微鏡であって、内部に本体が収容される
気密のチャンバーと、雰囲気ガス置換手段とを有し、チ
ャンバーは、その外壁の一部または全部が透視可能であ
って、雰囲気ガス置換手段は、ガスの排気とガス源から
のガス供給によりチャンバー内の雰囲気ガスを置換する
ものである構成とした。
る探針とが本体の所要部にセットされた状態のもとで、
雰囲気ガス置換手段により、チャンバー内の雰囲気を清
浄な不活性ガスと水蒸気とに置換することで、生体試料
と探針とは、常圧の清浄雰囲気中で動作することにな
る。これで、生体試料は、形態の変化や汚染のない状態
で観察される。
の外壁を通じて視認しながら、操作用グローブを扱うこ
とで、直接的に正確に行われる。
察用走査型トンネル顕微鏡の構成図であって、図中、符
号1は本体、2は制御部、3は表示器である。
と、前記試料Sにトンネル電流を流すための探針5と、
探針5の保持台6と、試料Sに対して探針5をX,Y,
Zの3軸方向に変位させる駆動系7と、試料台4に対す
る探針保持台6の位置を粗調整するための粗動系8とを
含むもので、気密のチャンバー9内に設置されている。
上に透明のカバー11を被覆することで構成されてお
り、その基部には、一対の操作用グローブ12,12が
設けられている。
手段として、2本の互いに連通するガス通路13,14
が接続され、一方のガス通路13には清浄化されたアル
ゴン、ヘリウム等の不活性ガスや水蒸気を貯溜するガス
源15が、また他方のガス通路14には真空ポンプ16
が接続されている。17(17a,17b,17c,17
d)は、ガス通路13,14の中途部に設けられた開閉
弁であり、20は操作用グローブ12とチャンバー9と
の間に設けられた密閉式のシャッターである。
探針5を導入するためのパイプ状の導入機構18が連通
接続されている。19は導入機構18の閉止弁である。
たっては、まず、導入機構18を通じて、生体試料Sと
これに対応する探針5をチャンバー9内に導入し、導入
後、導入機構18の閉止弁19を閉じてチャンバー9を
密閉する。
2を介して手作業で本体1の所要部に装着する。
のガスを排気した後、ガス通路13が通じてガス源15
から清浄化された不活性ガスや水蒸気をチャンバー9内
に導き、チャンバー9の内部を常圧の清浄化不活性ガス
で満たす。この排気時に操作用グローブ12がチャンバ
ー9内に吸い込まれないようにグローブ12をチャンバ
ー9から引き出し、グローブ12とチャンバー9との間
を密閉式のシャッター20で閉じる。
8を動作させて生体試料Sと探針5との間隙を粗調整
し、その後、生体試料Sと探針5との間に所要の電圧を
印加するとともに、駆動系7を動作させるが、生体試料
Sや探針5は、常圧の清浄化不活性ガス中で動作するか
ら、生体試料Sに形態の変化がなく、また、汚れが付か
ない。
雰囲気中で探針により走査することができるから、形態
変化や汚染のない状態で生体試料を観察することができ
る。
しながら、操作用グローブにより、試料と探針とを直接
的に扱うことができるから、試料や探針のセットを正確
に行える。
ンネル顕微鏡の構成図である。
11…カバー、12…操作用グローブ、13,14…ガ
ス通路、15…ガス源。
Claims (1)
- 【請求項1】 本体に、試料が装着される試料台と、前
記試料にトンネル電流を流すための探針と、試料台に対
して探針を相対的に3軸方向に変位させる駆動系とが設
けられている生体試料観察用の走査型トンネル顕微鏡で
あって、内部に本体が収容される気密のチャンバーと、
雰囲気ガス置換手段とを有し、チャンバーは、その外壁
の一部または全部が透視可能であって、 雰囲気ガス置換
手段は、ガスの排気とガス源からのガス供給によりチャ
ンバー内の雰囲気ガスを置換するものである、ことを特
徴とする生体試料観察用走査型トンネル顕微鏡。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2404211A JPH0756443B2 (ja) | 1990-12-20 | 1990-12-20 | 生体試料観察用走査型トンネル顕微鏡 |
| US07/810,159 US5200616A (en) | 1990-12-20 | 1991-12-19 | Environment controllable scanning probe microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2404211A JPH0756443B2 (ja) | 1990-12-20 | 1990-12-20 | 生体試料観察用走査型トンネル顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04220504A JPH04220504A (ja) | 1992-08-11 |
| JPH0756443B2 true JPH0756443B2 (ja) | 1995-06-14 |
Family
ID=18513906
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2404211A Expired - Lifetime JPH0756443B2 (ja) | 1990-12-20 | 1990-12-20 | 生体試料観察用走査型トンネル顕微鏡 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5200616A (ja) |
| JP (1) | JPH0756443B2 (ja) |
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1990
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-
1991
- 1991-12-19 US US07/810,159 patent/US5200616A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
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| US5200616A (en) | 1993-04-06 |
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