JPH0757299A - 光学的情報記録用媒体 - Google Patents
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Abstract
晶間を可逆的に相変化することを利用した、高速、高密
度かつオーバーライト可能な光学的情報記録用媒体を提
供することを目的とする。 【構成】 透明基板上に、第1の誘電体保護層、相変化
型記録層、第2の誘電体保護層、および反射層をこの順
に配してなる光学的情報記録用媒体において、上記両誘
電体保護層が、記録層に面する側の金属酸化物含有量が
50mol%未満であり、記録層から最もはなれた面で
の金属酸化物含有量が90mol%以上であるZnSと
金属酸化物の混合膜からなる保護膜であることを特徴と
する光学的情報記録用媒体。
Description
り記録層が結晶−非結晶間を可逆的に相変化することを
利用した、高速、高密度かつオーバーライト可能な光学
的情報記録用媒体に関するものである。
でかつ高速に大量のデータの記録・再生ができる記録媒
体が求められているが、光ディスクはまさにこうした用
途に応えるものとして期待されている。光ディスクには
一度だけ記録が可能な追記型と、記録・消去が何度でも
可能な書換型がある。書換型光ディスクとしては、光磁
気効果を利用した光磁気記録媒体や、可逆的な結晶状態
の変化に伴う反射率変化を利用した相変化媒体があげら
れる。
ザー光のパワーを変調するだけで記録・消去が可能であ
り、記録・再生装置を小型化できるという利点を有す
る。さらに、消去と再記録を単一レーザー光ビームで同
時に行う、いわゆる1ビームオーバーライトが可能であ
る。このような、1ビームオーバーライトが可能な相変
化媒体の記録層材料としては、カルコゲン系合金薄膜を
用いることが多い。たとえば、GeTeSb系、InS
bTe系、GeSnTe系等があげられる。
挟んで繰り返しオーバーライトに伴う劣化を防止した
り、干渉効果を利用して反射率差(コントラスト)を改
善するのが普通である。一般に、書換型の相変化記録媒
体では、未記録・消去状態を結晶状態とし、非晶質のビ
ットを形成する。非晶ビットは記録層を融点より高い温
度まで加熱し、急冷することによって形成される。
得るための放熱層として働く。一方、消去(結晶化)
は、記録層の結晶化温度よりは高く融点よりは低い温度
まで記録層を加熱して行う。この場合、誘電体層は結晶
化が完了するまでの間、記録層の温度を高温に保つ蓄熱
層として働く。上述のような加熱・冷却における記録層
の溶融・体積膨張に伴う変形や、プラスチック基板への
熱的ダメージを防いだり、湿気による記録層の劣化を防
止するためにも、上記誘電体層からなる保護層は重要で
ある。
明であること、融点が高く耐熱性に優れること、酸化等
にたいして化学的に安定であること、適度な熱伝導率で
あること、さらには膜に形成することが容易であること
などの多岐にわたる要求を満たさねばならない。相変化
媒体の実用化のためには記録層もさることながら、この
保護層の選定、改良が極めて重要である。
高融点で機械的・化学的に安定な誘電体が用いられるこ
とが多い。しかしながら、保護層が十分な耐熱性及び機
械的強度を有していないなどの原因のため、記録・消去
を繰り返すうちに、記録層、保護層、基板が変形したり
クラックが生じたり、剥離が生じたりし、記録・消去の
繰り返し回数とともに欠陥やノイズが増加するなどの問
題がある。
か否かは、材料以外に成膜条件によるところが大きい。
例えば本発明者らは、すでに、上記誘電体保護膜として
密度7.25g/cm3以上の酸化タンタルを用いれば
繰り返し特性に優れた媒体が得られることを示した。保
護層に用いる誘電体材料としてはこのほかに、Si,A
lなどの酸化物・窒化物やZnS,ZnO及びこれらの
混合物が提案されている(特開昭62−167090,
同63−102048,同63−276724)。
グ法によって成膜されるが、単独の酸化物、窒化物、硫
化物等ではいわゆるatomic peening効果
(J.Vac.Sci.Technol.,A7(1989),1105)により圧縮応力
を生じ易く、この傾向はスパッタリング時の不活性ガス
の圧力を低くするほど著しい。本発明者らの検討によれ
ば、低圧で成膜した誘電体膜を用いた方が、繰り返しオ
ーバーライトによる劣化が少ないことが判明したが、こ
れらの膜では圧縮応力が極めて高いためにふくれや剥離
を生じやすく、経時安定性に問題があることが多い。
剥離が生じ易く、上部誘電体保護層の圧縮応力を軽減
し、記録層と上部誘電体保護層の接着力を改善する必要
があった。圧縮応力を軽減するためにスパッタリング中
の圧力を高くするとふくれや剥離を生じにくいものの、
機械的強度が十分でなく繰り返しオーバーライトに伴う
劣化が早い。またZnSと金属酸化物の混合物からなる
膜は低圧縮応力でかつ記録層との密着性は良いが高圧縮
応力の酸化タンタル膜に比べれば繰り返し特性に劣る。
よび経時安定性の両方に優れた誘電体保護層を得ること
は一般には互いにトレードオフの関係にある。
解決するために、記録層を傾斜組成(段階組成)とした
誘電体保護層で挟むことで、記録層との界面の特性と保
護層自体の機械的強度の双方を満足しうる記録媒体につ
いて鋭意検討した結果、本発明に到達した。本発明は、
透明基板上に、第1の誘電体保護層、相変化型記録層、
第2の誘電体保護層、および反射層をこの順に配してな
る光学的情報記録用媒体において、上記誘電体保護層が
ZnSと金属酸化物の混合物からなり、記録層に面する
側の金属酸化物含有量が50mol%未満であり、かつ
記録層から最もはなれた誘電体保護層面での金属酸化物
含有量が90mol%以上であることを特徴とする光学
的情報記録用媒体である。
る。本発明における記録媒体の層構成は、基本的には基
板、第1誘電体保護層、記録層、第2誘電体保護層、金
属反射層、熱硬化または紫外線硬化型樹脂によるハード
コート層とからなる。ハードコート層以外の各層はいず
れもスパッタリング法や蒸着法で作成できるが、量産性
に優れるスパッタリング法を用い、一貫して真空中で成
膜するインライン装置で成膜するのが望ましい。
理由のほかに、光学的な干渉効果を考慮して結晶状態と
非晶質状態の反射率差(コントラスト)を大きくするよ
うに選ばれる。基板としてはポリカーボネート、ポリメ
チルメタクリレート等のアクリル、非晶性ポリオレフィ
ン等の透明樹脂、あるいはガラス等が挙げられる。本発
明において、特に記録層材料を限定するものではない
が、記録層としてはカルコゲン系合金薄膜を用いること
が多い。
SnTe等の3元合金や、これらにさらにTa、Co、
Ag等を添加したものがあげられる。特に、GeSbT
e3元合金系は、結晶化速度が速く、非晶質ビットの経
時安定性に優れており、実用上十分な特性を有する。記
録層の厚みは通常100Åから1000Åの範囲に選ば
れる。記録層の厚みが100Åより薄いと結晶状態と非
晶質状態との間で十分な反射率差が得られず、一方、1
000Åを越すとクラックが生じやすくなる。
ら5000Åの範囲であることが望ましい。厚みが10
0Å未満であると基板や記録膜の変形防止効果が不十分
であり、5000Å以上ではクラックが発生しやすい。
第1及び第2の誘電体保護層は傾斜組成を有するZnS
と金属酸化物混合層からなる。
層と接する面は金属酸化物の含有量を50%mol未満
とするが、その場合機械的強度が金属酸化物そのものよ
り若干劣るので、金属酸化物50mol%未満の部分の
膜厚は50Å未満が望ましく、また界面の密着性を改善
するには50Å以上である必要はない。一方、保護層全
体としての機械的強度を維持するには、各保護層の記録
層とは接しない側は90mol%以上、通常は実質的に
100%の金属酸化物であることが望ましい。このよう
な傾斜組成を有するZnSと金属酸化物混合層を形成す
るには、金属酸化物の含有量が50%mol未満とした
膜をスパッタリング等で形成し、その後90mol%以
上(実質的に100%)の金属酸化物の膜をスパッタリ
ング等で形成すれば良い。
の膜厚は各保護層膜厚の50%以上であることが望まし
い。特に第1の誘電体保護層の基板に接する側の界面は
耐熱性・機械的強度に優れ、ガラスやプラスチック基板
との密着性のよい実質的に100%の金属酸化物誘電体
が望ましい。本発明者らの検討によれば、第1保護層は
金属反射層による放熱効果が期待できないため、上部保
護層より耐熱性・機械的強度に優れた誘電体が望ましい
ので、膜厚を1000Å以上とし、90mol%以上金
属酸化物を含有する層の膜厚の割合を90%以上とする
ことが望ましい。90mol%以上金属酸化物を含有す
る層となる部分の金属酸化物は高密度の膜を用いるのが
望ましく、その密度はバルク密度の80%以上であるこ
とが望ましい。
護層よりふくれを生じ易いので、特に低圧縮応力である
ものが望ましく圧縮応力としては2×109dyn/c
m2未満であることが望ましい。本発明における傾斜組
成媒体は、必ずしも金属酸化物とZnSとの組成比が連
続的に変化している必要はなく、ステップ上に変化して
いてもかまわない。
と金属酸化物100%の層が1000Å積層されていて
もかまわない。ただし、ZnS100%と金属酸化物1
00%の2層からなる誘電体保護膜は両者の界面での密
着性に問題があるため好ましくない、しかしこの両層の
間に例えば50/50のZnSと金属酸化物との混合物
層を介在させれば密着性の問題は解消する。
斜組成膜は例えば以下のようにして得られる。 (1)金属酸化物からなるターゲットと所望の混合組成
のターゲットを用意し、これらのターゲットを順にスパ
ッタしていくことで、ステップ状に組成変化(傾斜組
成、段階組成)した誘電体膜が得られる。
ット上で、基板を自公転させながらコスパッタを行うこ
とで混合誘電体膜を作製する。組成比は、各ターゲット
のRF放電パワーを変化させて調整できる。90mol
%以上金属酸化物を含有する層はZnSの放電を止める
ことにより得られる。各層の膜厚組成は、各ターゲット
の放電電力を時間によって連続的に変化させたり、ステ
ップ状に変化させることで任意の傾斜組成が得られる。
のターゲットを用いた、電子ビーム蒸着、イオンビーム
スパッタ法でも得られる。
用いることにより、経時安定性に優れるとともに、繰り
返しオーバーライト特性に優れた相変化媒体を提供でき
る。
下で述べる実施例の層構成は基板/第1の誘電体保護層
/相変化型記録層/第2の誘電体保護層/反射層/ハー
ドコート層の構成である。基板としては表面にグルーブ
を設けた厚さ1.2mmのポリカーボネート樹脂基板を
用いた。記録層として、Ge14Sb34Te52(数値は成
分割合、原子%)なる組成の3元合金をDCスパッタリ
ング法で成膜した。また、ハードコート層としては厚さ
4μmの紫外線硬化型樹脂を用いた。
らなるターゲット用い、DC反応性スパッタにて100
0Åの厚さに成膜した。
nSとTaOx混合物(ZnS80TaOx20)からなる
ターゲットを用い、RFスパッタにより30Åの厚みに
成膜した。上記記録層を700Åの厚みに成膜したの
ち、第2の誘電体保護層としてまずZnS80TaOx20
からなるターゲット用い、30Åの厚さに、続いてTa
Oxからなるターゲット用い1500Åの厚さに成膜し
た。
1000Å成膜して反射層とし、この上に上記紫外線硬
化樹脂層を設けた。これらの誘電体は高周波スパッタリ
ング(周波数13.56MHz)法により作成した。酸
化タンタルのターゲットを用いた層の密度はバルク密度
の85%であった。
m/s、記録パワー15mw、消去パワー8mwとし単
一周波数(4MHz,duty50%)で行った。所定
回数のオーバライトを行った後C/N比を測定し、消去
パワーのみを1回照射して、キャリアレベルの減少分か
ら消去比を求めた。上記実施例の記録媒体においては初
期のC/N比55dB、消去比26dBが得られる。繰
り返しオーバーライト1×106回後のC/N比は50
dB、消去比は26dBであり、バースト欠陥も発生せ
ず極めて良好な繰り返し特性が得られた。また、この媒
体を85℃、85%相対湿度の条件下で加速テストを行
ったところ、1000時間を経過しても、欠陥の増加は
みられず、また、C/N比、消去比、繰り返し特性にも
劣化は見られなかった。
層は実施例1と同様に成膜した。第2誘電体層はまずZ
nS80TaOx20膜を30Å成膜したのちTaOx膜1
50Åを成膜した。初期C/N55dB、消去比28d
Bに対し、10 6回繰り返しオーバーライト後のC/N
は50dB、消去比は28dBであり、バースト欠陥も
発生せず良好な特性であった。また、加速試験1000
時間後も欠陥の増加、C/N、消去比、繰り返し特性の
劣化は見られなかった。
ン(SiOx)を用いた他は、ZnSとの組成比、各混
合層の膜厚は全く実施例1と同様の層構成とした。初期
の特性としてC/N比56dB、消去比27dBが得ら
れ、106回後のC/N比は50dB、消去比は25d
Bと良好な特性が得られた。また、加速テスト1000
時間後にも欠陥の増加、C/N、消去比、繰り返し特性
の劣化は見られなかった。
みとし、他は実施例1と同じにした記録媒体を作製し
た。繰り返し特性は106回まで良好であったが、加速
テストでは、100時間後に記録層と第2誘電体保護層
との間に剥離・ふくれを生じた。
合膜とし、他は実施例1と同じにした記録媒体を作製し
た。加速テストでは、1000時間後もまったく劣化が
見られなかった。繰り返しオーバーライトでは、初期の
C/N比55dBが1×106回後には46dBにまで
低下した。
と50ÅのSiO2膜とし、他は実施例3と全く同様な
層構成にしたところ、繰り返しオーバーライト後のC/
N比低下が著しかった。
ば繰り返し特性、経時安定性に優れた相変化型情報記録
媒体が得られる。
Claims (4)
- 【請求項1】 透明基板上に、第1の誘電体保護層、相
変化型記録層、第2の誘電体保護層、および反射層をこ
の順に配してなる光学的情報記録用媒体において、上記
誘電体保護層がZnSと金属酸化物の混合物からなり、
記録層に面する側の金属酸化物含有量が50mol%未
満であり、かつ記録層から最もはなれた誘電体保護層面
での金属酸化物含有量が90mol%以上であることを
特徴とする光学的情報記録用媒体。 - 【請求項2】 誘電体保護層の各層が、金属酸化物含有
量が50mol%未満の部分の膜厚が50Å未満であ
り、金属酸化物含有量が90mol%以上の部分の膜厚
が100Å以上でありかつ誘電体保護層全体の膜厚の5
0%以上である請求項1に記載の光学的情報記録用媒
体。 - 【請求項3】 上記誘電体保護層の金属酸化物が90m
ol%以上の部分の密度がバルク密度の80%以上であ
る請求項1に記載の光学的情報記録用媒体。 - 【請求項4】 金属酸化物が酸化タンタルである請求項
1に記載の光学的情報記録用媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5200788A JP2850713B2 (ja) | 1993-08-12 | 1993-08-12 | 光学的情報記録用媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5200788A JP2850713B2 (ja) | 1993-08-12 | 1993-08-12 | 光学的情報記録用媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0757299A true JPH0757299A (ja) | 1995-03-03 |
| JP2850713B2 JP2850713B2 (ja) | 1999-01-27 |
Family
ID=16430207
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5200788A Expired - Lifetime JP2850713B2 (ja) | 1993-08-12 | 1993-08-12 | 光学的情報記録用媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2850713B2 (ja) |
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