JPH0757841A

JPH0757841A - コネクタ端子検査具

Info

Publication number: JPH0757841A
Application number: JP5206334A
Authority: JP
Inventors: Jiro Aikawa; 二朗愛川
Original assignee: Yazaki Corp
Current assignee: Yazaki Corp
Priority date: 1993-08-20
Filing date: 1993-08-20
Publication date: 1995-03-03
Anticipated expiration: 2014-03-10
Also published as: DE4429442C2; JP2868394B2; DE4429442A1; US5481204A

Abstract

(57)【要約】【目的】コネクタ端子の導通検査が容易で、かつ小型
のコネクタ端子検査具を提供する。【構成】本発明に係るコネクタ端子検査具５１は、基
台６１と、コネクタ端子を有するコネクタＣが脱着され
るコネクタ脱着位置及びコネクタ端子の導通を検査する
コネクタ導通検査位置との間で回動自在に前記基台６１
に支持されると共に導通検査ピンが設けられた導通検査
部６３と、基台６１に設けられてコネクタ導通検査位置
の導通検査部６３に装着されたコネクタＣの後端と当接
するコネクタ後端当接部６７と、導通検査部６３をコネ
クタ脱着位置へ付勢する圧縮コイルバネ６９と、導通検
査部６３をコネクタ端子の導通検査時にコネクタ導通検
査位置に保持するソレノイド７１とを有している。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、主として自動車におけ
るワイヤーハーネス相互間あるいは電気機器間に使用す
るワイヤーハーネスのコネクタ端子検査具の改良に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】コネクタは、一般にコネクタハウジング
の端子収容室に雄型または雌型端子金具を収容し、いわ
ゆる端子ランスあるいはケースランス方式により端子金
具を保持してその後抜けを防止する構造を有し、雌、雄
コネクタの嵌合により雌、雄端子金具間の電気的接続を
達成するものである。コネクタの使用時において、接続
電線にかかる引張力などにより端子金具が端子収容室内
から抜出したり、導通不良が発生することは絶対にゆる
されない。

【０００３】このような観点から、実公昭５５−８２２
１号公報、特開平２−５３８３号公報には、複数の端子
金具を端子収容室内に収容係止したいわゆる多極コネク
タについての端子金具の機械的及び電気的接続状態の良
否を同時に判別できるコネクタ端子検査具が提案されて
いる。以下、これらの公報で提案されたコネクタ端子検
査具について図６（ａ）、（ｂ）、図７（ａ）、（ｂ）
を用いて説明する。

【０００４】最初に実公昭５５−８２２１号公報に記載
のコネクタ端子検査具Ｓについて説明する。

【０００５】図６（ａ）、（ｂ）に示すように、コネク
タ端子検査具Ｓは、台盤１の一方の側部に立設された支
持板２と、この支持板２に対して接離自在に台盤１に支
持された検出器本体３と、この検出器本体３を移動させ
るカム４とからなる。

【０００６】上記支持板２には、検査すべきコネクタＡ
が装着されるコネクタ受部５が形成され、コネクタ受部
５に装着されたコネクタＡの端子金具６に接続された電
線７が引き出される切欠部５ａが設けられている。ま
た、支持板２には、台盤１の他方の側部のシャフト固定
板１５に一端がそれぞれ支持された一対のスライドシャ
フト８、８の他端が支持されている。これらのスライド
シャフト８、８は、検出器本体３内をそれぞれ貫通して
おり、支持板２と検出器本体３との間のスライドシャフ
ト８、８には、圧縮コイルバネ９が介在され、検出器本
体３をコネクタ受部５から離間する方向へ付勢してい
る。

【０００７】検出器本体３は、二つのブロック３ａ、３
ｂが一体に組み合わされて形成され、上述したスライド
シャフト８、８がそれぞれ貫通した状態で、台盤１上に
移動可能に載置されている。この検出器本体３の支持板
２側には、コネクタＡと嵌合する嵌合凹部１０が形成さ
れている。この嵌合凹部１０内には、コネクタＡの端子
収容室１１（図６（ｂ）参照）内に各々収容された端子
金具６の数に対応した本数の検出ピン１２が突設されて
いる。この検出ピン１２は、図６（ｂ）に示すように、
検出器本体３の貫通孔１３内に収容された先ピン１２ａ
と後ピン１２ｂとからなる。

【０００８】先ピン１２ａは貫通孔１３の支持板２側に
配置された圧縮コイルスプリング１４内を貫通してお
り、支持板２側に付勢されている。また、後ピン１２ｂ
は貫通孔１３のシャフト固定板１５側に配置された圧縮
コイルスプリング１６内を貫通している。これらの先ピ
ン１２ａと後ピン１２ｂは、コネクタの検査をしていな
い状態では、先ピン１２ａの後端部と後ピン１２ｂの前
端部とは離間して隙間が形成されており、コネクタを検
査している状態ではコネクタに収容された端子金具に押
圧されて先ピン１２ａが後退して先ピン１２ａの後端部
と後ピン１２ｂの前端部とが当接するようになってい
る。

【０００９】また、検出器本体３の外周両側部からは、
カム受部１７がそれぞれ突設されており、一対のカム
４、４のカム面４ａ、４ａがそれぞれ当接されている。

【００１０】一対のカム４は、台盤１の両側に設けられ
た一対のカム支持板１８に軸１９を介してそれぞれ回転
自在に支持されると共に、アーム２０によって連結され
ている。このアーム２１の長手方向中間部からは、先端
が球状のカムレバー２０ａが突設されている。

【００１１】このようなコネクタ端子検査具Ｓによりコ
ネクタＡの導通を検査する場合には、先ず、コネクタ受
部５にコネクタＡを装着した後に、アーム２０を回動さ
せる。アーム２０を回動させるとカム４がカム受部１７
に摺動して、検出器本体３をコネクタＡに接近させる。
検出器本体３をコネクタＡに接近させると、嵌合凹部１
０内にコネクタＡの先端部が嵌合して、コネクタＡの端
子金具６と検出ピン１２（先ピン１２ａ）の先端部とが
当接する。

【００１２】さらに、圧縮コイルスプリング１６の弾性
力に抗して検出器本体３をコネクタＡに接近させると、
先ピン１２ａが後退して、後ピン１２ｂの先端部に当接
する。この状態で導通検査を行う。

【００１３】導通検査が終了した後に、アーム２０を逆
方向に回動させると、圧縮コイルバネ９の弾性力で検出
器本体３がコネクタＡから離間し、嵌合凹部１０からコ
ネクタＡの先端部が抜き出ると共に、検出ピン１２から
端子金具６が離間する。検出器本体３をコネクタＡから
離間した後は、コネクタＡをコネクタ受部５から抜き出
す。

【００１４】次に特開平２−５３８３号公報に記載され
たコネクタ端子検査具Ｐについて図７（ａ）、（ｂ）を
用いて説明する。

【００１５】図７（ａ）、（ｂ）に示すように、コネク
タ検査具Ｐは、支持板部２３を有するＬ字状の台盤２１
と、この台盤２１上に移動可能に配置された検出器本体
２２と、検出器本体２２を移動させるカム３３とからな
り、さらに、このコネクタ検査具Ｐには、コネクタＢの
不完全装着状態を検知するための検知部２４が設けられ
ている。

【００１６】上記台盤２１の支持板部２３には矩形状の
凹部２３ａが形成され、この凹部２３ａと同形状の凹部
２５ａが形成された支持板２５が隣接配置されている。
この支持板２５の検出器本体２２側には、コネクタＢが
装着される凹部２６ａを形成する一対の側壁２６ｂ、２
６ｃからなるコネクタ受部２６が設けられている。

【００１７】検出器本体２２は、図７（ｂ）に示すよう
に一対のシャフト２７、２７に移動自在に支持されてい
る。これらのシャフト２７、２７は、コネクタ受部２６
の一対の側壁２６ｂ、２６ｃに一端がそれぞれ支持さ
れ、検出器本体２２の後部側に立設されたシャフト固定
板２８、２８に他端が支持されている。また、検出器本
体２２と一対の側壁２６ｂ、２６ｃとの間のシャフト２
７、２７には圧縮コイルバネ２９、２９が介在されてお
り、検出器本体２２が側壁２６ｂ、２６ｃから離れる方
向へ付勢されている。

【００１８】また、検出器本体２２の側壁２６ｂ、２６
ｃ側には、コネクタＢの先端部が嵌合される嵌合凹部３
０が形成されている。この嵌合凹部３０内には、検査す
べきコネクタＢの端子金具（図示せず）と同じ本数の検
出ピン３１が突設されている。これらの検出ピン３１は
検出器本体２２の図示しない貫通孔内に挿通されてお
り、圧縮コイルスプリング等の図示しない弾性手段によ
ってコネクタ受部２６側に付勢されている。また、検出
器本体２２の一方の外周側壁には、カム受部３２が一体
に形成されている。このカム受部３２には、圧縮コイル
バネ２９の付勢力でカム３３のカム面４１が押圧・当接
されている。

【００１９】カム３３は、台盤２１上に立設されたカム
取付板３４に回転自在に支持されると共に、先端部にカ
ムレバー部３５が形成されている。カムレバー部３５を
圧縮コイルバネ２９の付勢力に抗して回動させることに
より、検出器本体２２がコネクタ受部２６に接近するよ
うになっている。このカム３３の反対側には、検出器本
体２２の側面からアーム受部３６が突設され、コネクタ
受部２６側に検知部２４が設けられている。

【００２０】検知部２４は、一対の取付板３７に回転自
在に支持されたロックアーム３８と、コネクタ受部２６
の凹部２６ａに出没自在に側壁２６ｂ内に配置されてロ
ックアーム３８の後端部と接触するコネクタ押えピン３
９とからなる。そして、コネクタＢがコネクタ受部２６
内に嵌合されていない状態ではコネクタ押えピン３９が
凹部２６ａ内に突出し、ロックアーム３８のロック部４
０がアーム受部３６に係合する。また、コネクタ受部２
６の凹部２６ａ内にコネクタＢが完全に嵌合されている
状態では、コネクタ押えピン３９が側壁２６ｂ内に押し
込まれて、ロックアーム３８を図７（ｂ）の反時計方向
へ回動させて、アーム受部３６へのロック部４０の係合
を解除するようになっている。

【００２１】このようなコネクタ端子検査具Ｐによりコ
ネクタＡの導通を検査する場合には、コネクタ受部２６
の凹部２６ａ内にコネクタＢを嵌合する。この場合、コ
ネクタｂが凹部２６ａ内に完全に嵌合されるとロックア
ーム３８のロック部４０がアーム受部３６から解除され
る。次に、カムレバー部３５を圧縮コイルスプリング２
９の付勢力に抗して回動させて、検出器本体２２をコネ
クタＢに接近させ、嵌合凹部３０内にコネクタＢの先端
部を嵌合させる。嵌合凹部３０内にコネクタＢの先端部
を嵌合させると、検出ピン３１がコネクタＢの端子金具
と接触する。この状態で導通検査を行う。

【００２２】導通検査が終了した後、カムレバー部３５
を逆方向に回動させると、圧縮コイルスプリング２９の
付勢力で検出器本体２２がコネクタＢから離間し、検出
ピン３１から端子金具が離間する。検出器本体２２をコ
ネクタＢから離間させた後に、コネクタＢをコネクタ受
部２６から抜き出す。

【００２３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
報のコネクタ端子検査具Ｓ、Ｐでは、検査すべきコネク
タＡ、Ｂをコネクタ受部５、２６に装着する作業、コネ
クタ受部５、２６に装着したコネクタＡ、Ｂに検出器本
体３、２２を接近させる作業、作業が終了した後にコネ
クタＡ、Ｂをコネクタ受部５、２６から取り外す作業が
あり、コネクタ端子の導通検査作業が面倒である。

【００２４】さらに、台盤１、２１上にコネクタ受部
２、２６等を必ず必要とするためにコネクタ端子検査具
が大型化し、製造コストが高いという問題がある。

【００２５】本発明は、上記事情を考慮し、コネクタ端
子の導通検査が容易で、かつ小型のコネクタ端子検査具
を提供することを目的とする。

【００２６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
請求項１記載の発明は、検査時に導通検査ピンがコネク
タ端子と接触して回路を導通するようにしてなるコネク
タ端子検査具であって、基台と、コネクタ端子を有する
コネクタが脱着されるコネクタ脱着位置及びコネクタ端
子の導通を検査するコネクタ導通検査位置との間で回動
自在に前記基台に支持されると共に前記導通検査ピンが
設けられた導通検査部と、前記基台に設けられてコネク
タ導通検査位置の前記導通検査部に装着されたコネクタ
の後端と当接するコネクタ後端当接部と、前記導通検査
部をコネクタ脱着位置へ付勢する付勢手段と、前記導通
検査部をコネクタ端子の導通検査時にコネクタ導通検査
位置に保持する保持手段とを有することを特徴としてい
る。

【００２７】請求項２に記載の発明は、請求項１記載の
発明であって、導通検査部に装着されたコネクタを、外
方へ押し出す方向に付勢する弾性体を導通検査部に設け
たことを特徴としている。

【００２８】

【作用】請求項１の発明によれば、コネクタ脱着位置の
導通検査部に検査すべきコネクタ端子を有するコネクタ
を装着した後に、付勢手段に付勢力に抗して導通検査部
をコネクタ端子導通検査位置に回動させる。そして、導
通検査部に装着されたコネクタの後端部をコネクタ後端
当接部に当接させ、この状態を保持手段によって保持さ
せる。そして、導通検査ピンがコネクタ端子と接触して
回路を導通することにより導通検査が行われる。導通検
査が終了した後には、保持手段が解除され、付勢手段の
付勢力により導通検査部がコネクタ脱着位置へ回動す
る。

【００２９】請求項２の発明によれば、導通検査が終了
し、導通検査部がコネクタ脱着位置に回動すると、弾性
体が導通検査部に装着されたコネクタを外方へ押し出
す。

【００３０】

【実施例】以下、本発明に係るコネクタ端子検査具の実
施例について説明する。

【００３１】第１実施例図１及び図２は、導通を検査すべきコネクタＣと、この
コネクタＣの端子金具の導通を検査するコネクタ端子検
査具５１を示す。

【００３２】コネクタＣは、いわゆる雌型コネクタで、
コネクタハウジング５３には４つの図示しない端子収容
室が形成され、これらの端子収容室内には、雌型端子金
具５７（図３（ｂ）参照）がそれぞれ収容されている。
これらの雌型端子金具５７は電線５９の端部に加締め接
続されている。

【００３３】コネクタ端子検査具５１は、図１、２に示
すように、基台６１と、この基台６１にコネクタ脱着位
置とコネクタ導通検査位置との間で回動自在に支持され
た導通検査部６３と、基台６１に取り付けられてコネク
タ導通検査位置の導通検査部６３に装着されたコネクタ
Ｃの後端６５と当接するコネクタ後端当接部６７と、導
通検査部６３をコネクタ脱着位置へ付勢する圧縮コイル
バネ６９と、導通検査部６３をコネクタ端子の導通検査
時にコネクタ導通検査位置に保持するソレノイド７１と
からなる。

【００３４】上記基台６１は、底部６１ａと、この底部
６１ａの両側から同方向に側壁６１ｂ、６１ｂが屈曲形
成されて断面コ字型に形成されており、長手方向の一側
は、底部６１ａが側壁６１ｂ、６１ｂと同方向に折り曲
げられて閉鎖されている。この基台６１の内部には、基
台６１と略同形状で基台６１より短いステー７３が配置
され、側壁６１ｂ、６１ｂにピン７５を介して回動自在
に支持されている。

【００３５】ステー７３の内壁と基台６１の底部６１ａ
との間には圧縮コイルバネ６９が配置されており、ピン
７５を中心にステー７３が基台６１から離れる方向へ付
勢している。また、ステー７３には、保持レバー７７の
一端が連結されている。この保持レバー７７の他端は、
基台６１の底部を貫通して底部６１ａの下方に延出され
ており、その先端部はソレノイド７１のプランジャ７１
ａに連結されている。ソレノイド７１は、Ｌ字状の取付
ブラケット７９を介して基台６１の底部６１ａに支持さ
れている。

【００３６】そして、ソレノイド７１は、通電時におい
て、基台６１に対する角度が最小の位置（コネクタ導通
検査位置）にステー７３を保持する。また、ソレノイド
７１が無通電時には、圧縮コイルバ６９の付勢力により
基台６１に対する角度が最大の位置（コネクタ脱着位
置）にステー７３が回動する。このステー７３の上面
に、導通検査部６３が固定されている。

【００３７】導通検査部６３は、直方体形状で一面側に
コネクタＣが装着されるコネクタ挿入部８１が形成され
ている。このコネクタ挿入部８１には、コネクタＣの外
径形状と略等しい凹部８１ａが形成されている。また、
凹部８１ａの奥方には、凹部８１ａに一方が開口し、導
通検査部６３の他面側に開口した４つの検出ピン収容孔
８３が形成されている。これらの検出ピン収容孔８３内
には、一端が凹部８１ａ内に突出し、他端が電線５９と
連結された導通検査ピン８５がそれぞれ収容されてい
る。

【００３８】導通検査ピン８５は中空管８６内に圧縮コ
イルバネ８７が巻装された状態で収容されている。この
中空管８６が検出ピン収容孔８３内に嵌合されている。
中空管８６の一方の中間部にはストッパ９０が形成さ
れており、圧縮コイルバネ８７の一端が当接している。
この圧縮コイルバネ８７の他端は導通検査ピン８５に設
けられたフランジ部８９に当接しており、導通検査ピン
８５をコネクタ挿入部８１側へ付勢している。このコネ
クタ挿入部８１には、検査すべきコネクタＣの先端部側
が挿入され、コネクタ後端当接部６７との間で保持され
るようになっている。

【００３９】コネクタ後端当接部６７は、基台６１の一
面側を閉鎖した側壁６１ｃにねじ止め固定されている。
このコネクタ後端当接部６７は、基台６１への固定部６
７ａと、この固定部６７ａから突設されてコネクタ後端
部と当接する当接部６７ｂとからなる。固定部６７ａに
は、検出器６８が埋設されている。この検出器６８は、
リヤホルダー等のコネクタＣの後部の付属品を検出す
る。当接部６７ｂの中間部には、上方に開口した凹部６
７ｃが形成されており、この凹部６７ｃからは、コネク
タ後端部から引き出された電線５９が挿通される。ま
た、当接部６７ｂの上端部には、コネクタ挿入部８１側
に上り傾斜の斜面６６が形成されている。このコネクタ
後端当接部６７は、コネクタ挿入部８１に装着されたコ
ネクタＣが、コネクタ導通検査位置に保持された時、す
なわちコネクタＣの導通検査時にコネクタＣの後端部と
当接する。

【００４０】次に、上記コネクタ端子検査具５１によっ
て、コネクタＣの端子の導通を検査する検査方法につい
て説明する。なお、コネクタ端子検査具５１は、初期状
態において、ソレノイド７１は無通電状態で、図２
（ｂ）に示すように、ステー７３は圧縮コイルバネ６９
の付勢力で基台６１から最大角度開いた状態にあり、導
通検査部６３はコネクタ端子脱着位置にある。また、導
通検査部６３の導通検査ピン８５は、コネクタ挿入部８
１の凹部８１ａ内に所定量突出している。

【００４１】このような状態から、コネクタＣをコネク
タ挿入部８１の凹部８１ａに位置合わせした後に、凹部
８１ａの内部に挿入し、導通検査ピン８５をコネクタ端
子５７に当接させる。そして、コネクタ端子５７に導通
検査ピン８５を当接させた後に、圧縮コイルバネ８７の
付勢力に抗してさらにコネクタＣをコネクタ挿入部８１
の奥方に挿入する。

【００４２】次に、導通検査部６３を基台６１側に押圧
し、導通検査部６３をコネクタ端子導通検査位置に回動
させる。そして、コネクタ挿入部８１内に装着されてい
るコネクタＣの後端部を、コネクタ後端当接部６７に当
接させると共に、ソレノイド７１を通電して、導通検査
部６３をコネクタ導通検査位置に保持する。この時ソレ
ノイド７１は無通電状態となる（自己保持）。この状態
から、導通検査ピン８５に通電して導通検査を行う。

【００４３】コネクタ端子５７の導通検査が終了した後
には、ソレノイド７１を無通電状態とすることにより、
ステー７３が圧縮コイルバネ６９の付勢力により基台６
１から開いて、導通検査部６３をコネクタ脱着位置へ回
動させる。導通検査部６３がコネクタ脱着位置に回動す
ると、コネクタ挿入部に装着されたコネクタＣの後端部
は、コネクタ後端当接部６７から外れて、圧縮コイルバ
ネ８７の付勢力によりコネクタ挿入部８１の凹部８１ａ
外方向へ押し出される。

【００４４】本実施例によれば、コネクタＣをコネクタ
挿入部８１に挿入し、導通検査部６３をコネクタ端子導
通検査位置に回動させるだけで、コネクタＣをコネクタ
端子検査具５１に装着することが出来、ソレノイド７１
を無通電状態とすることで、コネクタＣを容易に取り出
すことが出来る。したがって導通検査作業の能率が向上
する。

【００４５】また、コネクタ端子検査具５１を複数台用
いたワイヤーハーネス検査装置に用いた場合、ソレノイ
ドを同時に作動させることにより、複数個のコネクタＣ
をコネクタ挿入部８１から一度に取り出すことが出来、
作業効率を向上することが出来る。

【００４６】また、本実施例のコネクタ検査具５１で
は、コネクタＣの後部付属品の検知を検出器６８により
行うことが出来る。

【００４７】さらに、他のコネクタ端子の検査具として
用いる場合には、導通検査部６３を交換すれば良く、ス
テー７３や、コネクタ後端当接部６７を共通して用いる
ことが出来るので、低コストとなる。

【００４８】第２実施例次に第２実施例について説明する。図４及び図５はコネ
クタＣと、このコネクタＣのコネクタ端子の導通を検査
する第２実施例のコネクタ端子検査具９１を示す。コネ
クタ端子検査具９１は、基台９３と、この基台９３にコ
ネクタ脱着位置とコネクタ導通検査位置との間で回動自
在に支持された導通検査部９５と、基台９３に取り付け
られてコネクタ導通検査位置の導通検査部９５に装着さ
れたコネクタＣの後端と当接するコネクタ後端当接部９
７と、導通検査部９５をコネクタ脱着位置へ付勢する圧
縮コイルバネ９９と、導通検査部９５をコネクタ端子の
導通検査時にコネクタ導通検査位置に保持するソレノイ
ド１０１とからなる。

【００４９】上記基台９３は、平板状で底部９３ａがＬ
字状に屈曲形成されている。この基台９３の一面側に
は、側板１０３がピン１０５で回動自在に支持されてい
る。この側板１０３の底部１０３ａはＬ字状に屈曲形成
されており、この底部１０３ａと基台９３の底部９３ａ
との間には、圧縮コイルバネ９９が配置されている。こ
の圧縮コイルバネ９９は、側板１０３をピン１０５を中
心に図５の反時計方向へ付勢している。また、側板１０
３の基台９３側には係止ピン１０７が突設されており、
この係止ピン１０７は、基台９３にピン１０５を中心に
回転自在に支持されたロックレバー１０９の一端部の係
止凹部１１１に係止される。ロックレバー１０９の他端
部は基台９３から離れる方向へ屈曲形成されており、連
結棒１１３の一端と連結されている。この連結棒１１３
の他端は、ソレノイド１０１のプランジャー１０１ａに
連結されている。このソレノイド１０１は、基台９３の
一面側に固定されている。ソレノイド１０１は無通電時
には、プランジャー１０１ａが突設されてロックレバー
１０９の係止凹部１１１に係止ピン１０７が係止可能な
状態とし、通電時にプランジャー１０１ａが引き込んで
ロックレバー１０９を図５の時計方向へ回転し、係止ピ
ン１０７を係止凹部１１１から抜き出し、側板１０３が
圧縮コイルバネ９９の付勢力で回動させる。また、側板
１０３には基台９３の反対側に導通検査部９５が固定さ
れている。

【００５０】導通検査部９５は、上述した第１実施例の
導通検査部６３と同構成なので説明を省略する。

【００５１】コネクタ後端当接部９７についても、上述
した第１実施例のコネクタ後端当接部６７と同構成なの
で説明を省略する。

【００５２】次に、上記コネクタ端子検査具９１によっ
て、コネクタＣの端子の導通を検査する検査方法につい
て説明する。なお、コネクタ端子検査具９１は、初期状
態において、ソレノイド１０１は無通電状態で、図５
（ｂ）に示すように、係止ピン１０７が係止凹部１１１
からはずれており、導通検査部９５はコネクタ脱着位置
にある。また、導通検査部９５の導通検査ピン８５は、
コネクタ挿入部１１５の凹部１１５ａ内に所定量突出し
ている。

【００５３】このような状態から、コネクタＣをコネク
タ挿入部１１５の凹部１１５ａに位置合わせした後に、
凹部１１５ａの内部に挿入し、導通検査ピン８５を当接
させた後に、圧縮コイルバネ８７の付勢力に抗してさら
にコネクタＣをコネクタ挿入部１１５内の奥方に挿入す
る。

【００５４】次に、導通検査部９５をコネクタ端子導通
検査位置まで回動させて、ロックレバー１０９の凹部１
１５ａ内に係止ピン１０７を係止する。そして、コネク
タ挿入部１１５内に装着されているコネクタＣの後端部
を、コネクタ後端当接部９７に当接させて、コネクタＣ
をコネクタ端子導通検査位置に保持する。この状態か
ら、導通検査ピン８５に通電して導通検査を行う。

【００５５】コネクタ端子５７の導通検査が終了した後
には、ソレノイド１０１を通電状態とすることにより、
連結棒１１３を引き、ロックレバー１０９をピン１０５
を中心に時計方向へ回転させる。ロックレバー１０９が
時計方向へ回転すると、係止凹部１１１内から係止ピン
１０７が外れて、コネクタ端子導通検査位置への導通検
査部９５の保持状態が解除される。これと共に、圧縮コ
イルバネ９９の付勢力により側板１０３がピン１０５を
中心に反時計方向へ回転し、導通検査部９５がコネクタ
脱着位置に回動する。導通検査部９５がコネクタ脱着位
置に回動することにより、コネクタＣの後端がコネクタ
後端当接部９７から外れて、圧縮コイルバネ８７の付勢
力によりコネクタ挿入部１１５から押し出される。

【００５６】本実施例によれば、コネクタＣをコネクタ
挿入部１１５に挿入し、導通検査部９５をコネクタ端子
挿通検査位置に回動させるだけで、コネクタＣをコネク
タ端子導通検査具９１に装着することが出来、ソレノイ
ド１０１を通電状態とすることで、コネクタＣを容易に
取り出すことが出来る。したがって導通検査作業の能率
を向上させることが出来る。

【００５７】また、コネクタ端子検査具９１を複数台用
いたワイヤーハーネス検査装置に用いた場合、ソレノイ
ド１０１を同時に作動させることにより、複数個のコネ
クタＣをコネクタ挿入部１１５から一度に取り出すこと
が出来、作業効率を向上することが出来る。

【００５８】

【発明の効果】以上説明したように請求項１の発明によ
れば、コネクタ脱着位置の導通検査部にコネクタを装着
し、導通検査部をコネクタ端子導通検査部に回動させる
だけでコネクタをコネクタ端子検査具に容易に装着する
ことが出来、保持手段を解除することにより、付勢手段
により導通検査部がコネクタ脱着位置に回動するので、
コネクタを導通検査部から容易に取り外すことが出来
る。

【００５９】請求項２の発明によれば、挿通検査部をコ
ネクタ脱着位置に付勢手段の付勢力により回動させれ
ば、導通検査部に装着されたコネクタが、弾性体により
導通検査部の外方へ押し出されるので、コネクタ端子導
通検査具から容易に取り外すことが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るコネクタ端子検査具の第１実施例
を示す斜視図である。

【図２】本発明に係るコネクタ端子検査具の第１実施例
を示し、（ａ）は導通検査部が導通検査位置にある状態
を示す側面図、（ｂ）は導通検査部がコネクタ脱着位置
にある状態を示す側面図である。

【図３】導通検査部の導通検査ピンとコネクタとの関係
を示し、（ａ）はコネクタ挿入部にコネクタが挿入され
ていない状態を示す断面図、（ｂ）はコネクタ挿入部に
コネクタが挿入されている状態を示す断面図である。

【図４】本発明に係るコネクタ端子検査具の第２実施例
を示す斜視図である。

【図５】本発明に係るコネクタ端子検査具の第２実施例
を示し、（ａ）は導通検査部が導通検査位置にある状態
を示す側面図、（ｂ）は導通検査部がコネクタ脱着位置
にある状態を示す側面図である。

【図６】従来のコネクタ端子検査具を示し、（ａ）は斜
視図であり、（ｂ）は断面図である。

【図７】従来の他のコネクタ端子検査具を示し、（ａ）
は斜視図であり、（ｂ）は平面図である。

【符号の説明】５１、９１コネクタ端子検査具６１、９３基台６３、９５導通検査部６７、９７コネクタ後端当接部６９、９９圧縮コイルバネ（付勢手段）７１、１０１ソレノイド８５導通検査ピン８７圧縮コイルバネ（弾性体）Ｃコネクタ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】検査時に導通検査ピンがコネクタ端子と
接触して回路を導通するようにしてなるコネクタ端子検
査具であって、基台と、コネクタ端子を有するコネクタ
が脱着されるコネクタ脱着位置及びコネクタ端子の導通
を検査するコネクタ導通検査位置との間で回動自在に前
記基台に支持されると共に前記導通検査ピンが設けられ
た導通検査部と、前記基台に設けられてコネクタ導通検
査位置の前記導通検査部に装着されたコネクタの後端と
当接するコネクタ後端当接部と、前記導通検査部をコネ
クタ脱着位置へ付勢する付勢手段と、前記導通検査部を
コネクタ端子の導通検査時にコネクタ導通検査位置に保
持する保持手段とを有することを特徴とするコネクタ端
子検査具。
【請求項２】請求項１記載の発明であって、前記導通
検査部に装着されたコネクタを、外方へ押し出す方向に
付勢する弾性体を導通検査部に設けたことを特徴とする
コネクタ端子検査具。