JPH0758558B2 - 光学デイスク再生装置 - Google Patents

光学デイスク再生装置

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JPH0758558B2
JPH0758558B2 JP61190203A JP19020386A JPH0758558B2 JP H0758558 B2 JPH0758558 B2 JP H0758558B2 JP 61190203 A JP61190203 A JP 61190203A JP 19020386 A JP19020386 A JP 19020386A JP H0758558 B2 JPH0758558 B2 JP H0758558B2
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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はコンパクトディスク等の光学ディスクを再生す
る光学ディスク再生装置の改良にかするものである。
〔従来の技術〕
コンパクトディスクプレーヤ等の光学ディスク再生装置
に於いては、コンパクトディスク等の光学ディスクに
疵,汚れ,ピット欠落等の局部的な欠陥があると、トラ
ッキングサーボループのトラッキングエラー信号に一時
的な乱れが生じ、トラック飛びが起こることがある。
このような、光学ディスクの局部的な欠陥に伴うトラッ
ク飛びを防止するには、一時的に生じるトラッキングエ
ラー信号の乱れに対してトラッキングサーボを応答しに
くく構成すれば良く、ホーム用コンパクトデスクプレー
ヤ等では、トラッキングサーボループの高域利得を下げ
ることで対処している。
しかし、上述したように、トラッキングサーボループの
高域利得を下げた場合、次のような問題が生じる。即
ち、サーボ機構の耐振性はサーボループの利得にほぼ比
例するものであるから、上述したように、トラッキング
サーボループの高域利得を下げたのでは、振動によるト
ラック飛びが生じやすくなる問題がある。従って、車載
用コンパクトディスクプレーヤ等のように振動の多い場
所で使用する光学ディスクに於いて、トラッキングサー
ボループの利得を下げたのでは、光学ディスクの局部的
な欠陥に起因するトラック飛びを防止することは可能と
なるが、振動によるトラック飛びが生じやすくなる問題
がある。
そこで、光学ディスクの局部的な欠陥を検出する疵検出
回路を設け、疵検出回路で光学ディスクの局部的な欠陥
を検出した時のみ、トラッキングサーボループの利得を
下げることが従来より提案されている。
第9図は従来の疵検出回路100の構成を示すブロック図
であり、101はクロックパルス205を出力する発振器、10
2,103はカウンタ、104,105は比較器、106はインバー
タ、107,108はインヒビットゲート、109はオアゲート、
110は図示を省略した光学ピックアップ内に設けられた
受光素子、111〜114は増幅器、115は加算器、116は波形
整形回路である。また、第10図(A)〜(G)は第9図
の動作説明図であり、同図(A)は発振器101から出力
されるクロックパルス205を示し、同図(B)は波形整
形回路116の出力信号206を、同図(C)はカウンタ102
の動作を、同図(D)は比較器104の出力信号207を、同
図(E)はカウンタ103の動作を、同図(F)は比較器1
05の出力信号208を、同図(G)はオアゲート109の出力
信号209を示している。なお、同図(C),(E)に於
いて、斜線を施した部分はカウンタが動作している状態
を表している。
受光素子110は4つの部分A〜Dに分割されており、各
部A〜Dには図示を省略した光学ディスクからの反射光
が加えられている。ここで、受光素子110に加えられる
光学ディスクからの反射光のレベルはピットの有無によ
り変化するものである。受光素子110の各部A〜Dの出
力信号はそれぞれ増幅器111〜114に加えられており、各
増幅器111〜114の出力信号201〜204は加算器115で加算
された後、波形整形回路116に入力される。波形整形回
路116は加算器115の出力信号を波形整形して2値化す
る。ここで、波形整形回路116の出力信号206は光学ディ
スク上のピットの有無に対応して“0",“1"となるもの
である。
疵検出回路100内の発振器101は波形整形回路116の出力
信号206より十分短い周期のクロックパルス205を出力す
るものであり、クロックパルス205はインヒビットゲー
ト107,108を介してカウンタ102,103のクロック端子CKに
加えられる。カウンタ102,103はクリア端子CLRに加えら
れている信号が“1"の間はそのカウント値CNT1,CNT2を
「0」に保持し、クリア端子CLRに加えられている信号
が“0"の間はクロック端子CKにクロックパルス205が加
えられる毎にそのカウント値CNT1,CNT2を歩進するもの
である。また、比較器104,105はそれぞれカウンタ102,1
03のカウント値CNT1,CNT2と設定値S1,S2とを比較し、両
者が一致した場合、その出力信号207,208を“1"とする
ものである。また、インヒビットゲート107,108はそれ
ぞれ比較器104,105の出力信号207,208が“1"の時、カン
ウタ102,103へのクロックパルス205の入力を禁止し、カ
ウンタ動作を一時停止させるものである。
従って、カウンタ102は第10図(C)に示すように波形
整形回路116の出力信号206が“0"となることによりカウ
ント動作を開始し、比較器104は同図(D)に示すよう
にカウンタ102のカウント値CNT1が設定値S1となること
により、即ち波形整形回路116の出力信号206の“0"の部
分が前記設定値S1に対応した時間T1以上連続した場合、
その出力信号207を“1"とし、またカウンタ103は同図
(E)に示すように波形整形回路116の出力信号206が
“1"となることによりカウント動作を開始し、比較器10
5は同図(F)に示すようにカウンタ103のカウント値CN
T2が設定値S2となることにより、即ち波形整形回路116
の出力信号206が“1"の部分が前記設定値S2に対応した
時間T2以上連続した場合、その出力信号208を“1"とす
ることになる。
ここで、信号206が“1"の部分は光学ディスク上に設け
られたピットとピットとの間の部分に対応し、ピット間
の長さの最大値は予め決められているものであるから、
前記時間T1(設定値S1)を最大のピット間隔を再生する
のに要する時間に設定しておけば、比較器105の出力信
号208に基づいて光学ディスクの疵等の局部的な欠陥を
検出することが可能となる。即ち、比較器105の出力信
号208が“1"となるのは、疵等の欠陥により等価的にピ
ット間の長さが予め定められている最大値より長くなっ
た場合であるので、信号208に基づいて疵等の局部的な
欠陥を検出することが可能となる。また、信号206が
“0"の部分は光学ディスク上に設けられたピットの部分
に対応し、ピットの最大値は予め決められているもので
あるから、前記時間T2(設定値S2)を最大の長さを有す
るピットを再生するのに要する時間としておけば、比較
器104の出力信号207に基づいて疵等の局部的な欠陥を検
出することが可能となる。即ち、比較器104の出力信号2
07が“1″となるのは、疵等の欠陥により等価的にピッ
トの長さが予め決められている最大値よりも長くなった
場合であるので、信号207に基づいて疵等の欠陥を検出
することが可能となる。
従って比較器104,105の出力信号207,208の論理和をとる
オアゲート109の出力信号209が“0"の場合はトラッキン
グサーボループの利得を高くし、“1"の場合は利得を下
げるようにすることにより、光学ディスクの疵等の局部
的な欠陥に伴うトラック飛び及び振動に伴うトラック飛
びの双方を防止することが可能となる。ここで、トラッ
キングサーボループの利得を下げることにより、振動に
よるトラッキング飛びは生じやすくなるが、利得を下げ
るのは光学ディスクの局部的な欠陥を検出した時だけで
あり、また、車両に於いては、大きな振動が加わるのは
例えば窪みに落ちる、急停車するといった場合であり、
利得を下げた時に大きな振動が加わる可能性は極めて少
ないものであるから、上述したようにすることにより、
光学ディスクの欠陥及び振動に伴うトラック飛びの双方
を防止することが可能となる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、上述した従来例には次のような問題点があっ
た。即ち、上述した従来例は発振器101、カウンタ102,1
03等からなる疵検出回路100を用いているため、装置が
高価になる問題があった。
本発明は前述の如き問題点を解決したものであり、その
目的は経済的な構成で光学ディスクの欠陥によるトラッ
ク飛び及び振動によるトラック飛びの双方を防止できる
ようにすることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
前述の如き問題点を解決するため、本発明は、光学ディ
スクからの反射光を4つの部分に分割された受光素子に
入射されることにより、前記光学ディスクに記録されて
いる情報を読取る光学ディスク装置に於いて、 前記受光素子の対角線上の部分の出力信号をそれぞれ加
算する第1,第2の加算器、 該第1,第2の加算器の出力信号をそれぞれ波形整形する
第1,第2の波形整形回路、 該第1,第2の波形整形回路の出力信号の立上がりの位相
下及び立下がりの位相差を示す位相差検出信号を出力す
る位相比較手段、 該位相比較手段からの位相差検出信号を所定時間遅延さ
せる遅延手段、 該遅延手段の出力信号と前記位相差検出信号との論理積
をとるアンドゲート及び、 該アンドゲートの出力信号によりセットされ、前記位相
差検出信号によりリセットされる回路からなる疵検出回
路と、 前記受光素子の出力信号に基づいて前記受光素子の光軸
と前記光学ディスクのトラックとのずれ量に対応したト
ラッキングエラー信号を作成するトラッキングエラー検
出回路と、 該トラッキングエラー検出回路から出力されるトラッキ
ングエラー信号の低域成分のみを通過させる予測回路
と、 該予測回路の出力信号或いは前記トラッキングエラー信
号の何れか一方を、前記疵検出回路の出力信号に従って
出力する切換手段と、 該切換手段の出力信号に従って前記受光素子の光軸と前
記光学ディスクのトラックとのずれを補正する補正手段
とを設けたものである。
〔作 用〕
本発明は位相比較手段から出力される位相差検出信号と
位相差検出信号を所定時間遅延した信号との論理積をア
ンドゲートでとり、アンドゲートの出力信号により回路
をセットするようにしたものであるから、第1,第2の波
形整形回路の出力信号の立上がりの位相差或いは立下が
りの位相差が遅延回路の遅延時間に対応した位相差より
も大きくなった場合、回路がセットされることになる。
また、光学ディスクに疵等の欠陥がある場合、第1,第2
の波形整形回路の出力信号の立上がりの位相差或いは立
下がりの位相差が極端に大きくなるものであるから、回
路の出力信号に基づいて光学ディスクに疵等の欠陥があ
るか否かを検出することができる。
また、本発明はトラッキングエラー信号の低域成分のみ
を通過させる予測回路を設けたものであり、疵等に起因
したトラッキングエラー信号の乱れは予測回路で除去さ
れることになるので、疵検出回路で光学ディスク上の疵
等の欠陥を検出した時のみ、予測回路の出力信号を補正
手段に加えるようにすることにより、疵等に起因するト
ラック飛び及び振動に起因するトラック飛びの双方を防
止することが可能となる。
〔実施例〕
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。コンパ
クトディスク等の光学ディスク1に記憶されている情報
は光学ピックアップ2によって読取られる。光学ディス
ク1は、例えば、第2図の断面図に示すように、透明な
合成樹脂からなる基板1aと、基板1a上に設けられた凸部
からなるピット1bと、Al等を蒸着することにより形成し
た反射面1cと、反射面1c上に設けられた透明保護層1dと
から構成されている。また、光学ディスク1に記録され
ている情報の読出しは、第3図に示すように、光学ピッ
クアップ2内に設けられている対物レンズ1eによって集
束した光ビーム1fを基板1aを介して反射面1c上に照射
し、反射面1cからの反射光を光学ピックアップ2内の受
光素子3に入射させることにより行なう。
受光素子3は4つの部分A〜Dに分割されており、各部
A〜Dの出力信号はそれぞれ増幅器4〜7に加えられ
る。加算器8は増幅器4,6の出力信号a,bを加算し、加算
器9は増幅器5,7の出力信号b,dを加算し、加算器10の加
算器8,9の出力信号(a+c),(b+d)を加算す
る。波形整形回路11は加算器10の出力信号(a+b+c
+d)を波形整形して2値化し、クロック再生回路15は
波形整形回路11の出力信号からクロックを再生してデコ
ーダ12及び速度エラー検出回路17に加える。デコーダ12
はクロック再生回路15で再生されたクロックと発振器16
からの基準クロックとに従って波形整形回路11からの2
値信号を複号化してディジタル信号を作成する。このデ
ィジタル信号はDA変換器13でアナログ信号に変換され、
出力端子14よりオーディオ信号として出力される。ま
た、速度エラー検出回路17はクロック再生回路15で再生
されたクロックと発振器16からの基準クロックとを比較
し、その誤差に対応したレベルの信号を駆動回路18を介
してモータ19に加えることにより、光学ディスク1を回
転させるモータ19を基準クロックに同期した信号読出し
速度となる回転速度で回転させる。
フォーカシングエラー検出回路20は増幅器5,6の出力信
号b,cを加算する加算器21と、増幅器4,7の出力信号a,d
を加算する加算器22と、ローパスフィルタ23,24と、ロ
ーパスフィルタ23の出力信号とローパスフィルタ24の出
力信号との差をとる減算器25とから構成されており、そ
の出力信号は光学ピックアップ2の合焦点からのずれ量
に対応したものとなる。フォーカシングエラー検出回路
20の出力信号は位相補償回路26を介して駆動回路27に加
えられ、駆動回路27の出力信号によって第3図に示した
対物レンズ1eを光学ディスク1に対して垂直方向に移動
させるアクチュエータコイル28が駆動され、光学ディス
ク1に対して光学ピックアップ2が合焦状態にされる。
また、トラッキングエラー検出回路30は、加算器8の出
力信号(a+c)と加算器9の出力信号(b+d)との
差(a+c)−(b+d)を求める減算器31と、加算器
10の出力信号(a+b+c+d)と閾値Vsとを比較し、
閾値Vsの方が小さい間、その出力信号eを“1"とする比
較器32と、インバータINと、入力信号の立下がりに於い
てエッジ検出信号f,gを出力する微分回路33,34と、エッ
ジ検出信号f,gが加えられたタイミングで入力信号をサ
ンプルホールドするサンプルホールド回路35,36と、ロ
ーパスフィルタ37,38と、ローパスフィルタ37,38の出力
信号の差を出力する減算器39とから構成されている。
今、例えば、第4図(A)に示すように、ピット1bが受
光素子3の光軸(中心)に対して右側にずれているとす
ると、受光素子3のA,Bの部分の受光量はC,Dの部分の受
光量よりも少なくなるので、受光素子3の各部A〜Dの
出力信号a〜dはそれぞれ第5図(A)〜(D)に示す
ものとなる。従って、受光素子3の出力信号を増幅した
信号a,cは加算する加算器8の出力信号(a+c)は同
図(E)に示すものとなり、受光素子3の出力信号を増
幅した信号b,dを加算する加算器9の出力信号(b+
d)は同図(F)に示すものとなり、加算器8,9の出力
信号の差を求める減算器31の出力信号(a+c)−(b
+d)は同図(G)の示すものとなり、加算器10の出力
信号(a+b+c+d)は同図(H)に示すものとな
る。ここで、減算器31の出力信号に現れるピーク値V1,V
2は受光素子3の光軸とピット1bとのずれ量にほぼ比例
したものとなる。なお、ピット1bが第4図(B)に示す
ように受光素子3の左側にずれている場合は、ピーク値
V1,V2の極性は第5図(G)に示したものとは反対にな
り、また、第4図(C)に示すようにピット1bが受光素
子3の光軸と一致している場合は減算器31の出力信号は
常に零に保持されるものである。
また、比較器32は前述したように第5図(H)に実線で
示した加算器10の出力信号と点線で示した閾値Vsとを比
較し、閾値Vsの方が小さい間、その出力信号eを“1"と
するものであるから、比較器32の出力信号eは同図
(I)に示すように加算器10の出力信号を波形整形した
ものとなる。また、微分回路33,34は前述したように、
入力信号の立下がりに於いてエッジ検出信号f,gを出力
するものであるから、微分回路33,34から出力されるエ
ッジ検出信号f,gはそれぞれ同図(J),(K)に示す
ものとなる。従って、サンプルホールド回路35,36はピ
ット1bと受光素子3の光軸とのずれ量に対応したピーク
値V1,V2をサンプルホールドすることになる。サンプル
ホールド回路35,36の出力信号はそれぞれローパスフィ
ルタ37,38を介して減算器39に加えられ、減算器39より
トラッキングエラー信号が出力される。
トラッキングエラー検出回路30からのトラッキングエラ
ー信号は、切換回路61の接点Aに加えられると共に、予
測回路60を介して切換回路61の接点Bに加えられる。切
換回路61は、後述する疵検出回路44の出力信号mに従っ
てトラッキングエラー検出回路30の出力信号或いは予測
回路60の出力信号を出力するものであり、切換回路61の
出力信号は、位相補償回路40を介して駆動回路42に加え
られる。駆動回路42は、位相補償回路40を介して加えら
れる切換回路61の出力信号に従ってアクチュエータコイ
ル43を駆動して第3図に示した対物レンズ1eを光学ディ
スク1に対して水平方向に移動させ、受光素子3の光軸
と光学ディスク1のトラックとを一致させる。
疵検出回路44は加算器8の出力信号(a+c)と加算器
9の出力信号(b+d)に基づいて、光学ディスク1に
付けられた疵等の欠陥を検出した時のみ、その出力信号
mを“1"とするものであり、波形整形回路45,46と排他
的論理和ゲートEX−ORと遅延回路47とフリップフロップ
48とアンドゲートAND1とから構成されている。
加算器8,9の出力信号(a+c),(b+d)はそれぞ
れ波形整形回路45,46に加えられ、波形整形された後、
排他的論理和ゲートEX−ORに加えられる。第6図
(A),(B)はそれぞれ波形整形回路45,46の出力信
号h,iの一例を示したものであり、光学ディスク1に疵
等の局部的な欠陥があると、信号hと信号iとの間に
(イ)に示すような極端な位相下が生じる。排他的論理
和ゲートEX−ORは波形整形回路45,46の出力信号h,iの排
他的論理和をとるものであり、その出力信号jは同図
(C)に示すものとなる。即ち、信号jは信号h,iの立
上がりの位相差及び立下がりの位相差を示すことにな
る。排他的論理和ゲートEX−ORの出力信号jはアンドゲ
ートAND1の一方の入力端子、遅延回路47及びフリップフ
ロップ48のリセット端子Rに加えられる。遅延回路47は
信号jを所定時間τ遅延するものであり、その出力信号
kは同図(D)に示すものとなる。従って、アンドゲー
トAND1の出力信号lは同図(E)に示すように、波形形
成回路45,46の出力信号h,iの位相差が遅延回路47の遅延
時間τ以上ある場合のみ、即ち光学ディスク1に疵等の
欠陥がある場合のみ“1"となる。また、フリップフロッ
プ48はアンドゲートAND1の出力信号lの立上がりでセッ
トされ、信号jの立上がりでリセットされるものである
から、その出力信号mは同図(F)に示すように、光学
ディスク1に疵等の欠陥がある場合のみ“1"となる。
フリップフロップ48の出力信号mは切換回路61に加えら
れており、切換回路61は、信号mが“1"の時は接点B側
に、信号mが“0"の時は接点A側に接続される。従っ
て、疵検出回路44によって疵等の欠陥が検出された場合
は予測回路60の出力信号が、欠陥が検出されない場合は
トラッキングエラー検出回路30の出力信号が位相補償回
路40に加えられる。
第7図は予測回路60の構成例を示すブロック図であり、
抵抗R5〜R7と、コンデンサC2〜C4及び演算増幅器OPから
構成されている。
予測回路60にはトラッキングエラー検出回路30からのト
ラッキングエラー信号が加えられており、このトラッキ
ングエラー信号は光学ディスク1に疵等の欠陥がない場
合は一定値或いは光学ディスク1の偏心の影響を受けて
第8図(A)に示すように緩やかに正弦状に変化するも
のであるが、光学ディスク1に疵等の欠陥がある場合は
(ロ)に示すような乱れが生じる。予測回路60内の抵抗
R5とコンデンサC2とはカットオフ周波数が例えば10Hz程
度のローパスフィルタを構成しており、トラッキングエ
ラー信号に重畳された微小なリップル(ハ)を除去す
る。また、演算増幅器OPと抵抗R6とコンデンサC3とはカ
ットオフ周波数が、例えば1KHz程度のローパスフィルタ
を構成しており、同図(A)に示すトラッキングエラー
信号の乱れ(ロ)を除去する。また、演算増幅器OPと抵
抗R7とコンデンサC4とは位相補償回路を構成しており、
前記ローパスフィルタの出力信号の位相遅れを補償する
働きをする。従って、予測回路60の出力信号rは同図
(B)に示すように乱れのないものとなる。
また、予測回路60の出力信号rが加えられている切換回
路61は疵検出回路44の出力信号mが“1"の場合は接点B
側に接続され、“0"の場合は接点A側に接続されるもの
であり、また疵検出回路44は疵等の欠陥が光学ディスク
1にあることを検出した場合、その出力信号mを第8図
(C)に示すように“1"にするものであるから、切換回
路61の出力信号tは同図(D)に示すように乱れのない
ものとなる。従って、切換回路61の出力信号tを位相補
償回路40に加えることにより、光学ディスク1に欠陥が
ある場合に於いてもトラック飛びを防止することが可能
となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、受光素子の対角線上の
部分の出力信号をそれぞれ加算する加算器8,9からなる
第1,第2の加算器と、第1,第2の加算器の出力信号をそ
れぞれ波形整形する波形整形回路45,46からなる第1,第
2の波形整形回路と、第1,第2の波形整形回路の出力信
号の立上がりの位相差及び立下がりの位相差を示す位相
差検出信号を出力する排他的論理和ゲートEX−ORからな
る位相比較手段と、位相比較手段からの位相差検出信号
を所定時間遅延させる遅延回路47からなる遅延手段と、
遅延手段の出力信号と位相差検出信号との論理積をとる
アンドゲートと、アンドゲートの出力信号によりセット
され位相差検出信号によりリセットされるフリップフロ
ップ等の回路とにより疵検出回路を構成したものであ
り、従来例のように、発振器,カウンタ等を使用しない
ものであるから、装置を経済的に構成できる。
また、本発明はトラッキングエラー信号の低域成分のみ
を通過させる予測回路を設け、上記した構成を有する疵
検出回路で疵等の光学ディスクの欠陥を検出した場合の
み、予測回路の出力信号を駆動回路42,アクチュエータ
コイル43等からなる補正手段に加えるようにしたもので
あるから、経済的な構成で、疵等に起因するトラック飛
び及び振動に起因するトラック飛びの双方を防止するこ
とができる利点がある。
従って、本発明を車載用コンパクトディスクプレーヤ等
のように振動の多い場所で使用する光学ディスク再生装
置に適用すれば非常に好適である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック図、 第2図は光学ディスク1の構成例を示す断面図、 第3図は情報読取時の説明図、 第4図,第5図はトラッキングエラー検出回路30の動作
説明図、 第6図は疵検出回路44の動作説明図、 第7図は予測回路の構成例を示すブロック図、 第8図は第7図の動作説明図、 第9図は従来例のブロック図、 第10図は第9図の動作説明図である。 図に於いて、1……光学ディスク、2……光学ピックア
ップ、3……受光素子、4〜7……増幅器、8〜10,21,
22……加算器、11,45,46……波形整形回路、20……フォ
ーカシングエラー検出回路、23,24,37,38……ローパス
フィルタ、25,31,39……減算器、30……トラッキングエ
ラー検出回路、26,40……位相補償回路、18,27,42……
駆動回路、28,43……アクチュエータコイル、32……比
較器、33,34……微分回路、35、36……サンプルホール
ド回路、44,100……疵検出回路、60……予測回路、61…
…切換回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光学ディスクからの反射光を4つの部分に
    分割された受光素子に入射させることにより、前記光学
    ディスクに記録されている情報を読取る光学ディスク再
    生装置に於いて、 前記受光素子の対角線上の部分の出力信号をそれぞれ加
    算する第1,第2の加算器、 該第1,第2の加算器の出力信号をそれぞれ波形整形する
    第1,第2の波形整形回路、 該第1,第2の波形整形回路の出力信号の立上がりの位相
    差及び立下がりの位相差を示す位相差検出信号を出力す
    る位相比較手段、 該位相比較手段からの位相差検出信号を所定時間遅延さ
    せる遅延手段、 該遅延手段の出力信号と前記位相差検出信号との論理積
    をとるアンドゲート及び、 該アンドゲートの出力信号によりセットされ、前記位相
    差検出信号によりリセットされる回路からなる疵検出回
    路と、 前記受光素子の出力信号に基づいて前記受光素子の光軸
    と前記光学ディスクのトラックとのずれ量に対応したト
    ラッキングエラー信号を作成するトラッキングエラー検
    出回路と、 該トラッキングエラー検出回路から出力されるトラッキ
    ングエラー信号の低減成分のみを通過させる予測回路
    と、 該予測回路の出力信号或いは前記トラッキングエラー信
    号の何れか一方を、前記疵検出回路の出力信号に従って
    出力する切換手段と、 該切換手段の出力信号に従って前記受光素子の光軸と前
    記光学ディスクのトラックとのずれを補正する補正手段
    とを備えたことを特徴とする光学ディスク再生装置。
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