JPH0763611A - シート材料の比二色性の測定装置 - Google Patents
シート材料の比二色性の測定装置Info
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- JPH0763611A JPH0763611A JP6125538A JP12553894A JPH0763611A JP H0763611 A JPH0763611 A JP H0763611A JP 6125538 A JP6125538 A JP 6125538A JP 12553894 A JP12553894 A JP 12553894A JP H0763611 A JPH0763611 A JP H0763611A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/19—Dichroism
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 シート材料の比二色性を測定する装置を提供
する。 【構成】 発光器４０と、回転偏光フィルタを有し、光
強度信号Ｉs を得る受光器５０と、フィルタの偏光角θ
を表わす第１参照信号Ｉθ を発生する発生器と、発光
器４０からの非偏光ビームの強度を表わす第２参照信号
Ｆ・Ｉ0 （Ｉ0 ：シートＳが光路に存在しないときの受
光器５０からの信号、Ｆ：シートＳの反射損失係数）を
発生する発生器と、これら信号Ｉs ，Ｉθ ，Ｆ・Ｉo
に応答して吸光シート材料Ｓのシートの最大吸光角θ
max 、比二色性（ΔＡ／Ａ）および吸光度Ａを表す信号
を出力する分析回路１４とを有する。
する。 【構成】 発光器４０と、回転偏光フィルタを有し、光
強度信号Ｉs を得る受光器５０と、フィルタの偏光角θ
を表わす第１参照信号Ｉθ を発生する発生器と、発光
器４０からの非偏光ビームの強度を表わす第２参照信号
Ｆ・Ｉ0 （Ｉ0 ：シートＳが光路に存在しないときの受
光器５０からの信号、Ｆ：シートＳの反射損失係数）を
発生する発生器と、これら信号Ｉs ，Ｉθ ，Ｆ・Ｉo
に応答して吸光シート材料Ｓのシートの最大吸光角θ
max 、比二色性（ΔＡ／Ａ）および吸光度Ａを表す信号
を出力する分析回路１４とを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はシート材料の光学特性を
検出することに関し、さらに具体的には、偏光測定法に
よってシート材料の吸光特性を検出することに関する。
もっと具体的には、１つまたは２つ以上のあらかじめ決
めた波長のときの、吸光シート材料の３つの光学特性、
つまり、比二色性、最大吸光角、および平均吸光度を同
時に検出することに関する。
検出することに関し、さらに具体的には、偏光測定法に
よってシート材料の吸光特性を検出することに関する。
もっと具体的には、１つまたは２つ以上のあらかじめ決
めた波長のときの、吸光シート材料の３つの光学特性、
つまり、比二色性、最大吸光角、および平均吸光度を同
時に検出することに関する。
【０００２】なお、本明細書の記述は本件出願の優先権
の基礎たる米国特許出願第０８／０７１，８９０号（１
９９３年６月７日出願）の明細書の記載に基づくもので
あって、当該米国特許出願の番号を参照することによっ
て当該米国特許出願の明細書の記載内容が本明細書の一
部分を構成するものとする。
の基礎たる米国特許出願第０８／０７１，８９０号（１
９９３年６月７日出願）の明細書の記載に基づくもので
あって、当該米国特許出願の番号を参照することによっ
て当該米国特許出願の明細書の記載内容が本明細書の一
部分を構成するものとする。
【０００３】
【従来の技術】分子配向ポリマー（高分子）フィルムお
よびシート材料の製造において、熱膨張率や熱膨張係数
といった、フィルムのある種の特性は、ポリマー分子配
向と関係がある。代表的なシート製造プロセスでは、ポ
リマー連鎖配向の方向と大きさは、フィルムの横断方向
(transverse direction - TD) の幅方向に変化するのに
対し、配向特性はマシン方向(machine direction - MD)
にほぼ一定のままになっている。フィルムの幅方向の特
性変化は、フィルムを最終的に使用する多くの応用では
望ましくない。従って、分子配向の均一性の測定は、フ
ィルムを詳細に特徴づける上でも、より均質の製品を作
るために製造プロセスを制御するための情報を得る上で
も重要である。この分子配向の測定は、従来では、研究
所において労働集約的な方法で行われており、その結果
が短時間で得られないため、製造プロセスの効果的制御
に利用できないのが一般的であった。
よびシート材料の製造において、熱膨張率や熱膨張係数
といった、フィルムのある種の特性は、ポリマー分子配
向と関係がある。代表的なシート製造プロセスでは、ポ
リマー連鎖配向の方向と大きさは、フィルムの横断方向
(transverse direction - TD) の幅方向に変化するのに
対し、配向特性はマシン方向(machine direction - MD)
にほぼ一定のままになっている。フィルムの幅方向の特
性変化は、フィルムを最終的に使用する多くの応用では
望ましくない。従って、分子配向の均一性の測定は、フ
ィルムを詳細に特徴づける上でも、より均質の製品を作
るために製造プロセスを制御するための情報を得る上で
も重要である。この分子配向の測定は、従来では、研究
所において労働集約的な方法で行われており、その結果
が短時間で得られないため、製造プロセスの効果的制御
に利用できないのが一般的であった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】分子連鎖が配向される
フィルムでは、偏光角度が異なると、平面偏光の吸収が
変化することが知られている。この吸光特性の変化は
「二色性」(dichroism) と呼ばれている。２つの離散的
で、交互偏光ベクトル(alternating polarizationvecto
r) をもつ間欠的単色光源を用いた二色性の測定は、米
国特許第3,345,907号(Wada)に開示されている。ユーザ
は、直交偏光器(orthogonal polarizer)を、最大の二色
性効果が得られる角度に手作業で調整する必要があり、
測定が間欠的であるために、この手法を研究所で用いる
と時間浪費的であり、移動するサンプルをオンラインで
測定するには実用的でない。
フィルムでは、偏光角度が異なると、平面偏光の吸収が
変化することが知られている。この吸光特性の変化は
「二色性」(dichroism) と呼ばれている。２つの離散的
で、交互偏光ベクトル(alternating polarizationvecto
r) をもつ間欠的単色光源を用いた二色性の測定は、米
国特許第3,345,907号(Wada)に開示されている。ユーザ
は、直交偏光器(orthogonal polarizer)を、最大の二色
性効果が得られる角度に手作業で調整する必要があり、
測定が間欠的であるために、この手法を研究所で用いる
と時間浪費的であり、移動するサンプルをオンラインで
測定するには実用的でない。
【０００５】回転偏光ベクトルをもつ単色光源を用いた
二色性の測定は、米国特許第4,309,119 号(Tumerman)に
開示されている。この方法は、前記の方法を改良したも
のであるが、製造作業で利用するには、いくつかの欠点
がある。後者の方法では、二色性に関係する透過パラメ
ータを測定できるが、二色性、最大吸光角、および平均
吸光度を同時に測定することができない。従って、上記
の２方法はどちらも、分子配向の方向と大きさが共に、
フィルムの横断方向の幅方向に絶えず変化するような、
分子配向ポリマー・フィルムの製造をオンライン化した
応用で利用するには適していない。
二色性の測定は、米国特許第4,309,119 号(Tumerman)に
開示されている。この方法は、前記の方法を改良したも
のであるが、製造作業で利用するには、いくつかの欠点
がある。後者の方法では、二色性に関係する透過パラメ
ータを測定できるが、二色性、最大吸光角、および平均
吸光度を同時に測定することができない。従って、上記
の２方法はどちらも、分子配向の方向と大きさが共に、
フィルムの横断方向の幅方向に絶えず変化するような、
分子配向ポリマー・フィルムの製造をオンライン化した
応用で利用するには適していない。
【０００６】ポリマー材料の分子配向を測定する別の方
法では、材料が偏光によって励起されたとき放出される
蛍光放射の強さを検出している。この方法は米国特許第
4,521,111 号(PaulsonおよびFaulhaber)に開示されてい
る。この方法が有用であるのは、紫外線放射で励起され
たとき蛍光を発する材料の特性を測定するときだけであ
る。
法では、材料が偏光によって励起されたとき放出される
蛍光放射の強さを検出している。この方法は米国特許第
4,521,111 号(PaulsonおよびFaulhaber)に開示されてい
る。この方法が有用であるのは、紫外線放射で励起され
たとき蛍光を発する材料の特性を測定するときだけであ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、吸光特性Ａ、
偏光による吸光変化ΔＡ、および反射損失係数Ｆをもつ
吸光シート材料の偏光依存特性を検出するための装置に
関するものである。本発明の装置は、発光器(illuminat
or) と、受光器と、第１参照信号発生器と、第２参照信
号発生器と、シートの比二色性(specific dichroism)、
最大吸光角および平均吸光度を表した信号を発生する分
析回路とを備えている。発光器と受光器間は光路で結ば
れている。
偏光による吸光変化ΔＡ、および反射損失係数Ｆをもつ
吸光シート材料の偏光依存特性を検出するための装置に
関するものである。本発明の装置は、発光器(illuminat
or) と、受光器と、第１参照信号発生器と、第２参照信
号発生器と、シートの比二色性(specific dichroism)、
最大吸光角および平均吸光度を表した信号を発生する分
析回路とを備えている。発光器と受光器間は光路で結ば
れている。
【０００８】発光器は、吸光シート材料を非偏光ビーム
で照射する。回転偏光フィルタを備えた受光器は、シー
トを透過した光を受信し、あらかじめ決めた波長範囲の
偏光の強さを表した、正弦波の形で変化する光強度信号
Ｉs を発生する。強度信号Ｉs は、第１の最大吸光偏光
角θmax のとき最小値Ｉs min をもち、第２の最小吸光
偏光角θmin のとき最大値Ｉs max をもつ。第１参照信
号発生器は、
で照射する。回転偏光フィルタを備えた受光器は、シー
トを透過した光を受信し、あらかじめ決めた波長範囲の
偏光の強さを表した、正弦波の形で変化する光強度信号
Ｉs を発生する。強度信号Ｉs は、第１の最大吸光偏光
角θmax のとき最小値Ｉs min をもち、第２の最小吸光
偏光角θmin のとき最大値Ｉs max をもつ。第１参照信
号発生器は、
【０００９】
【外４】
【００１０】第２参照信号発生器は、発光器からの非偏
光ビームの強度を、反射損失係数Ｆでスケーリングした
ものを表す第２参照信号Ｆ・Ｉ0 を発生する。
光ビームの強度を、反射損失係数Ｆでスケーリングした
ものを表す第２参照信号Ｆ・Ｉ0 を発生する。
【００１１】分析回路は、
【００１２】
【外５】
【００１３】に応答して、最大吸光角θmax 、比二色性
（ΔＡ／Ａ）、およびシートの吸光度Ａを表す信号を出
力する。
（ΔＡ／Ａ）、およびシートの吸光度Ａを表す信号を出
力する。
【００１４】上記において、比二色性（ΔＡ／Ａ）は次
のように定義されている。
のように定義されている。
【００１５】
【数３】
【００１６】吸光度Ａは次のように定義されている。
【００１７】
【数４】A ＝ log F・I0 − 1/2 log Is min − 1/2 log
Is max
Is max
【００１８】
【実施例】以下、添付図面を参照して本発明について詳
しく説明する。
しく説明する。
【００１９】以下の詳細な説明では、添付図面の各図に
おいて、類似の要素には類似符号を付けて示している。
おいて、類似の要素には類似符号を付けて示している。
【００２０】測定原理 本発明の装置は、シート材料の種々特性を、好ましくは
同時に測定する。その特性とは、（１）以下では「比二
色性」(specific dichroism)と呼び、定義している量、
（２）最大吸光角、（３）ポリマー・フィルムのよう
に、光学的異方性を示す吸光シート材料の特定の波長の
ときの吸光度である。本発明の装置を使用して測定でき
る偏光依存特性をもつ異方性ポリマー・フィルムの例と
しては、一般に「ＰＭＤＡ−ＯＤＡポリイミド」と呼ば
れている、ポリ−［Ｎ，Ｎ′−ビス（フェノキシフェニ
ル）−ピロメリトイミド］(poly-[N,N'-bis(phenoxyphe
nyl)-pyromellitimide])がある。可視波長範囲で吸光す
るポリイミド・フィルムの例としては、E. I. du Pont
de Nemours and Companyで製造され、KAPTON（登録商
標）の商標で販売されているものがある。波長範囲の代
表例としては、４６０〜５４０ナノメータ(nm)がポリイ
ミド・フィルムの上記３パラメータを測定するのに適し
ていることが判明している。特徴づけるシート材料のス
ペクトル吸光特性によっては、赤外線や紫外線などの、
他の可視波長範囲および非可視波長範囲を利用すること
も可能である。
同時に測定する。その特性とは、（１）以下では「比二
色性」(specific dichroism)と呼び、定義している量、
（２）最大吸光角、（３）ポリマー・フィルムのよう
に、光学的異方性を示す吸光シート材料の特定の波長の
ときの吸光度である。本発明の装置を使用して測定でき
る偏光依存特性をもつ異方性ポリマー・フィルムの例と
しては、一般に「ＰＭＤＡ−ＯＤＡポリイミド」と呼ば
れている、ポリ−［Ｎ，Ｎ′−ビス（フェノキシフェニ
ル）−ピロメリトイミド］(poly-[N,N'-bis(phenoxyphe
nyl)-pyromellitimide])がある。可視波長範囲で吸光す
るポリイミド・フィルムの例としては、E. I. du Pont
de Nemours and Companyで製造され、KAPTON（登録商
標）の商標で販売されているものがある。波長範囲の代
表例としては、４６０〜５４０ナノメータ(nm)がポリイ
ミド・フィルムの上記３パラメータを測定するのに適し
ていることが判明している。特徴づけるシート材料のス
ペクトル吸光特性によっては、赤外線や紫外線などの、
他の可視波長範囲および非可視波長範囲を利用すること
も可能である。
【００２１】以下で詳しく説明するが、本発明の装置１
０は３つのサブシステム、すなわち、光学サブシステム
１２、信号分析サブシステム１４、および制御・記録サ
ブシステム１６から構成されている。図１は、光学サブ
システム１２に採用されている測定原理を示す概略図で
ある。光学サブシステム１２は、全体を符号４０で示し
ている発光器および全体を符号５０で示している受光器
を備えている。光路２０は発光器４０と受光器５０間を
結んでいる。発光器４０からの非偏光ビームは、光路２
０に置かれ、符号Ｓで示した光学的異方性吸光シート材
料（またはフィルム）を通過して、受光器５０に到達す
る。本発明の実施例によっては、光路２０上を伝播する
非偏光ビームを集束(focus) することも（図４および図
５）、コリメート（collimate - 平行光束化）すること
も（図６および図７）可能である。受光器５０は、光学
系（レンズ）アセンブリ６０と、偏光フィルタ・アセン
ブリ７０と、光学通過帯域（パスバンド）フィルタ・ア
センブリ８０と、光検出器アセンブリ９０とを含んでい
る。偏光フィルタ・アセンブリ７０は矢印Ｒで示す方向
に高速回転する偏光フィルタを含んでいる。光検出器ア
センブリ９０から出力された電気信号Ｉは、光検出器ア
センブリ９０に到達した偏光の強さを表している。この
強度信号Ｉは分析サブシステム１４に入力される。分析
の結果は制御・記録サブシステム１６によって記録され
る。電気信号Ｉは、シート材料Ｓが光路２０に存在する
ときはＩs と呼び、シート材料Ｓが光路に存在しないと
きはＩO と呼ぶことにする。適当なシート存在検出器が
設けられているが、これについては後述する。
０は３つのサブシステム、すなわち、光学サブシステム
１２、信号分析サブシステム１４、および制御・記録サ
ブシステム１６から構成されている。図１は、光学サブ
システム１２に採用されている測定原理を示す概略図で
ある。光学サブシステム１２は、全体を符号４０で示し
ている発光器および全体を符号５０で示している受光器
を備えている。光路２０は発光器４０と受光器５０間を
結んでいる。発光器４０からの非偏光ビームは、光路２
０に置かれ、符号Ｓで示した光学的異方性吸光シート材
料（またはフィルム）を通過して、受光器５０に到達す
る。本発明の実施例によっては、光路２０上を伝播する
非偏光ビームを集束(focus) することも（図４および図
５）、コリメート（collimate - 平行光束化）すること
も（図６および図７）可能である。受光器５０は、光学
系（レンズ）アセンブリ６０と、偏光フィルタ・アセン
ブリ７０と、光学通過帯域（パスバンド）フィルタ・ア
センブリ８０と、光検出器アセンブリ９０とを含んでい
る。偏光フィルタ・アセンブリ７０は矢印Ｒで示す方向
に高速回転する偏光フィルタを含んでいる。光検出器ア
センブリ９０から出力された電気信号Ｉは、光検出器ア
センブリ９０に到達した偏光の強さを表している。この
強度信号Ｉは分析サブシステム１４に入力される。分析
の結果は制御・記録サブシステム１６によって記録され
る。電気信号Ｉは、シート材料Ｓが光路２０に存在する
ときはＩs と呼び、シート材料Ｓが光路に存在しないと
きはＩO と呼ぶことにする。適当なシート存在検出器が
設けられているが、これについては後述する。
【００２２】シート材料Ｓが好ましい吸光軸Ｐをもって
いると（つまり、シート材料が二色性であると）、光検
出器アセンブリ９０は、偏光フィルタ・アセンブリ７０
内の回転フィルタの周波数の２倍の周波数で、振幅が正
弦波の形で変化する電気信号Ｉs を出力する。図２に示
すように、最小信号振幅Ｉs min は、偏光フィルタの角
度が好ましい吸光軸Ｐに一致したとき現れて、シート材
料の最大吸光値Ａmaxが得られる。偏光フィルタのこの
角度は符号θmax で示されている。シート材料の吸光度
Ａは、Ａ＝log (F・I0/Is) と定義されている。ただし、
ＩO は、シート材料が光路２０に存在しないとき光検出
器アセンブリ９０から出力される電気信号であり、Ｉs
は、シート材料が光路２０に存在するとき光検出器アセ
ンブリ９０から出力される電気信号であり、Ｆは、シー
ト材料Ｓの反射損失を考慮に入れた係数である。
いると（つまり、シート材料が二色性であると）、光検
出器アセンブリ９０は、偏光フィルタ・アセンブリ７０
内の回転フィルタの周波数の２倍の周波数で、振幅が正
弦波の形で変化する電気信号Ｉs を出力する。図２に示
すように、最小信号振幅Ｉs min は、偏光フィルタの角
度が好ましい吸光軸Ｐに一致したとき現れて、シート材
料の最大吸光値Ａmaxが得られる。偏光フィルタのこの
角度は符号θmax で示されている。シート材料の吸光度
Ａは、Ａ＝log (F・I0/Is) と定義されている。ただし、
ＩO は、シート材料が光路２０に存在しないとき光検出
器アセンブリ９０から出力される電気信号であり、Ｉs
は、シート材料が光路２０に存在するとき光検出器アセ
ンブリ９０から出力される電気信号であり、Ｆは、シー
ト材料Ｓの反射損失を考慮に入れた係数である。
【００２３】図３に示すように、シート材料Ｓからの光
損失は、真(true)の吸光度、散乱、および反射に起因す
るものである。次の微分式は、垂直入射で、偏光効果が
なく、シート材質が均質で、多重内部反射が無視し得る
ほど小さいこと（高吸光シート材料の場合に該当）を想
定して、シート材料の両面からの第１通過反射損失を補
正するものである。図３に示すように、シート材料から
現れる光強度Ｉs は次式で与えられる。
損失は、真(true)の吸光度、散乱、および反射に起因す
るものである。次の微分式は、垂直入射で、偏光効果が
なく、シート材質が均質で、多重内部反射が無視し得る
ほど小さいこと（高吸光シート材料の場合に該当）を想
定して、シート材料の両面からの第１通過反射損失を補
正するものである。図３に示すように、シート材料から
現れる光強度Ｉs は次式で与えられる。
【００２４】
【数５】
【００２５】ただし、ｒは界面における部分反射率(fra
ctional reflectance)、αはフィルムにおける距離Δｘ
ごとの減衰である。従って、
ctional reflectance)、αはフィルムにおける距離Δｘ
ごとの減衰である。従って、
【００２６】
【数６】
【００２７】フレネル関係式から、
【００２８】
【数７】
【００２９】概要については、K. J. Clevett 著「プロ
セス分析技術」(Process AnalyzerTechnology)(John Wi
ley & Son, 1986) を参照。
セス分析技術」(Process AnalyzerTechnology)(John Wi
ley & Son, 1986) を参照。
【００３０】PMDA-ODA（KAPTON（登録商標）フィルム）
などのフィルムでは、平均屈折率ｎ＝1.75であり、従っ
て、部分反射ｒ＝0.0744、係数Ｆ＝(1-r)2＝0.8567であ
る。
などのフィルムでは、平均屈折率ｎ＝1.75であり、従っ
て、部分反射ｒ＝0.0744、係数Ｆ＝(1-r)2＝0.8567であ
る。
【００３１】吸光度の偏光依存変化は「二色性」ΔＡと
呼ばれる。二色性は、ΔＡ＝Ａmax−Ａmin と定義され
る。ただし、Ａmax とＡmin は、それぞれ最大吸光度お
よび最小吸光度である（つまり、偏光ベクトルがそれぞ
れシート材料の好ましい吸光軸Ｐに対して平行および垂
直になっている）。比率（ΔＡ／Ａ）である「比二色
性」はシート材料の平面における吸光度Ａに対して、次
のように定義されている。
呼ばれる。二色性は、ΔＡ＝Ａmax−Ａmin と定義され
る。ただし、Ａmax とＡmin は、それぞれ最大吸光度お
よび最小吸光度である（つまり、偏光ベクトルがそれぞ
れシート材料の好ましい吸光軸Ｐに対して平行および垂
直になっている）。比率（ΔＡ／Ａ）である「比二色
性」はシート材料の平面における吸光度Ａに対して、次
のように定義されている。
【００３２】
【数８】
【００３３】二色性パラメータは、シート材料の平面に
おける配向のアンバランスを示す尺度であり、吸光軸の
異方性分布が完全であるときのゼロから、吸光軸がシー
ト材料の平面における一方向に完全に一致しているとき
の２．０までの範囲で変化する。ポリマー連鎖軸配向と
の関係（ΔＡ／Ａ）は、連鎖軸に対する吸光軸の方向に
依存するので、（ΔＡ／Ａ）は、硬質ポリマーが完全に
一致する場合でも、２．０以下になることがある。（Δ
Ａ／Ａ）の値が小さいときは、吸光度ＡはＩsに逆比例
し、
おける配向のアンバランスを示す尺度であり、吸光軸の
異方性分布が完全であるときのゼロから、吸光軸がシー
ト材料の平面における一方向に完全に一致しているとき
の２．０までの範囲で変化する。ポリマー連鎖軸配向と
の関係（ΔＡ／Ａ）は、連鎖軸に対する吸光軸の方向に
依存するので、（ΔＡ／Ａ）は、硬質ポリマーが完全に
一致する場合でも、２．０以下になることがある。（Δ
Ａ／Ａ）の値が小さいときは、吸光度ＡはＩsに逆比例
し、
【００３４】
【数９】
【００３５】となる。ただし、ＡＣは吸光度Ａのピーク
間の交流成分(alternating component)であり、ＤＣは
吸光度Ａの局所的平均レベル(local average level) ま
たは局所的中間レベル(local mean level)である。最大
吸光角θmax は、シート材料におけるあらかじめ決めた
方向と位相との関係が既知である参照波形(reference w
aveform)に対する吸光度Ａの位相から求められる。この
方向は、シート材料の「マシン方向」(machine directi
on - MD)とも呼ばれる、製造機械の長軸で表して定義さ
れているのが普通である。計算でよく求められる、もう
１つの配向パラメータとして二色比率Ｒがあり、これは
次のように定義されている。
間の交流成分(alternating component)であり、ＤＣは
吸光度Ａの局所的平均レベル(local average level) ま
たは局所的中間レベル(local mean level)である。最大
吸光角θmax は、シート材料におけるあらかじめ決めた
方向と位相との関係が既知である参照波形(reference w
aveform)に対する吸光度Ａの位相から求められる。この
方向は、シート材料の「マシン方向」(machine directi
on - MD)とも呼ばれる、製造機械の長軸で表して定義さ
れているのが普通である。計算でよく求められる、もう
１つの配向パラメータとして二色比率Ｒがあり、これは
次のように定義されている。
【００３６】
【数１０】Ｒ＝Amax／Amin 従って、比二色性（ΔＡ／Ａ）＝2(R-1)/(R+1)となる。
【００３７】比二色性（ΔＡ／Ａ）の値が小さいときは
（つまり、＜０．３）、次のようになる。
（つまり、＜０．３）、次のようになる。
【００３８】
【数１１】
【００３９】上述したように、本発明の装置１０は、光
学サブシステム１２、信号分析サブシステム１４、およ
び制御・記録サブシステム１６を備えている。本発明の
実施例は２つあり、各実施例は、独自の好ましい有用性
をもっている。第１の実施例は図４および図５に示され
ているが、特に研究所（オフライン）で使用するのに適
していている。他方、第２の実施例は図６〜図８に示さ
れているが、例えば、シート材料の製造過程で移動中の
シート材料のウェブの光学特性を自動測定するのに特に
適している（オンラインによる使用）。
学サブシステム１２、信号分析サブシステム１４、およ
び制御・記録サブシステム１６を備えている。本発明の
実施例は２つあり、各実施例は、独自の好ましい有用性
をもっている。第１の実施例は図４および図５に示され
ているが、特に研究所（オフライン）で使用するのに適
していている。他方、第２の実施例は図６〜図８に示さ
れているが、例えば、シート材料の製造過程で移動中の
シート材料のウェブの光学特性を自動測定するのに特に
適している（オンラインによる使用）。
【００４０】第１の実施例（図４）では、光学サブシス
テム１２は、光学特性が測定されるシート材料Ｓに対し
て固定されており、非偏光の集束ビームを利用してい
る。シート材料Ｓは、光学サブシステム１２を通過する
ときドライブ・ユニット２６によってスプールされる。
光学サブシステム１２はドライブ・ユニット２６に固定
されている。第２の実施例（図６）では、光学サブシス
テム１２は非偏光のコリメート・ビームを利用し、さら
に、移動中のシート材料のウェブＳに対して光学サブシ
ステム１２を位置付ける横断移送ユニット(traversing
transport unit)３０（ドライブ・ユニット２６に置き
換わるもの）を含んでいる。この移送ユニット３０は、
移動中のシート材料のウェブＳの横断方向に光学サブシ
ステムを移動させて、製造過程にあるシート材料の偏光
依存光学特性を測定する。
テム１２は、光学特性が測定されるシート材料Ｓに対し
て固定されており、非偏光の集束ビームを利用してい
る。シート材料Ｓは、光学サブシステム１２を通過する
ときドライブ・ユニット２６によってスプールされる。
光学サブシステム１２はドライブ・ユニット２６に固定
されている。第２の実施例（図６）では、光学サブシス
テム１２は非偏光のコリメート・ビームを利用し、さら
に、移動中のシート材料のウェブＳに対して光学サブシ
ステム１２を位置付ける横断移送ユニット(traversing
transport unit)３０（ドライブ・ユニット２６に置き
換わるもの）を含んでいる。この移送ユニット３０は、
移動中のシート材料のウェブＳの横断方向に光学サブシ
ステムを移動させて、製造過程にあるシート材料の偏光
依存光学特性を測定する。
【００４１】どちらの実施例においても、信号分析サブ
システム１４と制御・記録サブシステム１６（関連の電
源と共に）は、標準的なラック架設キャビネットのよう
な、適当な格納物に収容されている。システムと工業環
境との互換性を保つために、すべてのコンポーネントへ
のＡＣ電源は、Tripp-Lite社（米国 Chicago, IL) 提供
のモデルLCR-2400のように、電圧制御機能と回路切断保
護機能の両方を備えたＡＣライン・フィルタから供給さ
れる。
システム１４と制御・記録サブシステム１６（関連の電
源と共に）は、標準的なラック架設キャビネットのよう
な、適当な格納物に収容されている。システムと工業環
境との互換性を保つために、すべてのコンポーネントへ
のＡＣ電源は、Tripp-Lite社（米国 Chicago, IL) 提供
のモデルLCR-2400のように、電圧制御機能と回路切断保
護機能の両方を備えたＡＣライン・フィルタから供給さ
れる。
【００４２】第１実施例の説明 図４および図５は、本発明の第１実施例を示している。
ドライブ・ユニット２６として使用するのに適したもの
としては、Mekel Engineering Inc.（米国Walnut, CA)
提供のMekel ７０mmフィルム・トランスポートがある。
ドライブ・ユニット２６として使用するのに適したもの
としては、Mekel Engineering Inc.（米国Walnut, CA)
提供のMekel ７０mmフィルム・トランスポートがある。
【００４３】本発明の第１実施例の光学サブシステム１
２と制御・記録サブシステム１４の詳細図は図５に示さ
れている。
２と制御・記録サブシステム１４の詳細図は図５に示さ
れている。
【００４４】発光器４０は、光路２０にあるシート材料
Ｓを照射する。発光器４０は、２０ワット・ハロゲン・
ランプなどの適当な光源42を備えている。その代表例と
しては、Gilway社（米国Woburn, MA) 提供のL9404 があ
る。光源４２からの光は、２５ミリ焦点距離のモデルKP
X076のような、第１レンズ４４によってコリメートされ
て、Optics for Research （米国Caldwell, NJ) 提供の
モデルDPU-25のような、水晶くさび形減偏光プレート(d
epolarizer plate) ４６へ送られる。減偏光プレート４
６の軸は、光源４２のランプ・フィラメントから放出さ
れた部分偏光が減偏光されるように調整されている。光
源４２、第１レンズ４４、および減偏光プレート４６が
組み合わさって、非偏光の光源が構成される。減偏光プ
レート４６から現れた非偏光は、６３ミリ焦点距離のモ
デルKPX133などの、第２のレンズ４８によってシート材
料Ｓ上の焦点またはスポット上に集束される。このレン
ズは光源から光を受光して、シート材料上の焦点に集束
されるビームを形成する合焦ないし集束手段(focussing
means) を備えている。
Ｓを照射する。発光器４０は、２０ワット・ハロゲン・
ランプなどの適当な光源42を備えている。その代表例と
しては、Gilway社（米国Woburn, MA) 提供のL9404 があ
る。光源４２からの光は、２５ミリ焦点距離のモデルKP
X076のような、第１レンズ４４によってコリメートされ
て、Optics for Research （米国Caldwell, NJ) 提供の
モデルDPU-25のような、水晶くさび形減偏光プレート(d
epolarizer plate) ４６へ送られる。減偏光プレート４
６の軸は、光源４２のランプ・フィラメントから放出さ
れた部分偏光が減偏光されるように調整されている。光
源４２、第１レンズ４４、および減偏光プレート４６が
組み合わさって、非偏光の光源が構成される。減偏光プ
レート４６から現れた非偏光は、６３ミリ焦点距離のモ
デルKPX133などの、第２のレンズ４８によってシート材
料Ｓ上の焦点またはスポット上に集束される。このレン
ズは光源から光を受光して、シート材料上の焦点に集束
されるビームを形成する合焦ないし集束手段(focussing
means) を備えている。
【００４５】受光器５０は、シート材料Ｓを透過して、
シート材料から現れた光を受信する。受光器５０は光学
系アセンブリ６０、偏光フィルタ・アセンブリ７０、通
過帯域（パスバンド）アセンブリ８０および光検出器ア
センブリ９０を備えている（各アセンブリのエレメント
は、図面および説明の中では、同じ１０を単位とする符
号で示されている）。光学系に配列された順に示すと、
受光器５０は、第１集束レンズ６１、フィルタ６２、ア
パーチュア・プレート(aperture plate)６３、第１コリ
メート・レンズ６４、回転偏光フィルタ・アセンブリ７
０、第２集束レンズ６５、多機能(multi-functional)ア
パーチュア・アセンブリ６６、第２コリメート・レンズ
６７、減偏光プレート６８、狭波長通過帯域フィルタ・
アセンブリ８０、第３集束レンズ６９、および光検出器
アセンブリ９０を含んでいる。本発明の両実施例で使用
される光学サブシステム１２に適したレンズとしては、
Newport Corporation （米国Fountain Valley, CA)提供
のレンズがある。各レンズは反射防止コーティングがさ
れており、部品番号のサフィックスに＋AR. １４が付い
ている。
シート材料から現れた光を受信する。受光器５０は光学
系アセンブリ６０、偏光フィルタ・アセンブリ７０、通
過帯域（パスバンド）アセンブリ８０および光検出器ア
センブリ９０を備えている（各アセンブリのエレメント
は、図面および説明の中では、同じ１０を単位とする符
号で示されている）。光学系に配列された順に示すと、
受光器５０は、第１集束レンズ６１、フィルタ６２、ア
パーチュア・プレート(aperture plate)６３、第１コリ
メート・レンズ６４、回転偏光フィルタ・アセンブリ７
０、第２集束レンズ６５、多機能(multi-functional)ア
パーチュア・アセンブリ６６、第２コリメート・レンズ
６７、減偏光プレート６８、狭波長通過帯域フィルタ・
アセンブリ８０、第３集束レンズ６９、および光検出器
アセンブリ９０を含んでいる。本発明の両実施例で使用
される光学サブシステム１２に適したレンズとしては、
Newport Corporation （米国Fountain Valley, CA)提供
のレンズがある。各レンズは反射防止コーティングがさ
れており、部品番号のサフィックスに＋AR. １４が付い
ている。
【００４６】５０ミリ焦点距離モデルKBX094レンズなど
の、第１集束レンズ６１は、受信した光を３ミリ径の第
１アパーチュア６３の中心に位置する第１焦点６３Ｆに
焦点合わせする。第１レンズ６１からの光はフィルタ６
２を通過し、望ましい光学特性の測定で使用される波長
が通過し、第１参照信号の発生を妨げるような波長が除
去される。これについては後述する。図示の例では、フ
ィルタ６２に、コーニング9782ブルー・グリーン・ガラ
ス・フィルタ(blue-green glass filter) を使用すれ
ば、第１参照信号の発生を妨げるようなレッド波長を除
去することが可能である。第１アパーチュア６３を通過
した光は、５０ミリ焦点距離のモデルKPX082レンズなど
の、第１コリメート・レンズ６４によってコリメートさ
れる。この結果、第１コリメート・レンズ６４は第１コ
リメート・ビームを形成する。回転直線偏光フィルタ・
アセンブリ７０は、偏光フィルタ７２、好ましくは、Po
laroid Coporation （米国Norwood, MA)提供のHNP'B ポ
ラロイド・フィルタを含んでいる。フィルタ７０はVick
ers-Welco 社（米国Cincinnati, OH) 提供のモデルM271
026 などの、中空シャフト・モータ74に取り付けられて
いる。このモータ７４は、例えば、フィルタ７２を30,0
00RPM で回転させる。フィルタ７２は、第１コリメート
・ビームを受信し、第１コリメート・ビームのうち、そ
の偏光角がフィルタ７２の偏光角に一致している光部分
だけを通過させる位置になっている。
の、第１集束レンズ６１は、受信した光を３ミリ径の第
１アパーチュア６３の中心に位置する第１焦点６３Ｆに
焦点合わせする。第１レンズ６１からの光はフィルタ６
２を通過し、望ましい光学特性の測定で使用される波長
が通過し、第１参照信号の発生を妨げるような波長が除
去される。これについては後述する。図示の例では、フ
ィルタ６２に、コーニング9782ブルー・グリーン・ガラ
ス・フィルタ(blue-green glass filter) を使用すれ
ば、第１参照信号の発生を妨げるようなレッド波長を除
去することが可能である。第１アパーチュア６３を通過
した光は、５０ミリ焦点距離のモデルKPX082レンズなど
の、第１コリメート・レンズ６４によってコリメートさ
れる。この結果、第１コリメート・レンズ６４は第１コ
リメート・ビームを形成する。回転直線偏光フィルタ・
アセンブリ７０は、偏光フィルタ７２、好ましくは、Po
laroid Coporation （米国Norwood, MA)提供のHNP'B ポ
ラロイド・フィルタを含んでいる。フィルタ７０はVick
ers-Welco 社（米国Cincinnati, OH) 提供のモデルM271
026 などの、中空シャフト・モータ74に取り付けられて
いる。このモータ７４は、例えば、フィルタ７２を30,0
00RPM で回転させる。フィルタ７２は、第１コリメート
・ビームを受信し、第１コリメート・ビームのうち、そ
の偏光角がフィルタ７２の偏光角に一致している光部分
だけを通過させる位置になっている。
【００４７】偏光フィルタ・アセンブリ７０から現れた
コリメート・ビームは、５０ミリ焦点距離のモデルKPX0
82レンズなどの、第２集束レンズ６５によって集束され
て、多機能アパーチュア・アセンブリ６６の中央アパー
チュア６６Ａの中心に位置する焦点６６Ｆへ向かって送
られる。アパーチュア・アセンブリ６６は、環状固定偏
光フィルタ６６Ｐと一緒にサンドウィッチされた環状通
過帯域フィルタ６６Ｒを含んでいる（フィルタ６６Ｐの
エレメントは第１参照信号発生器の説明個所に説明され
ている）。
コリメート・ビームは、５０ミリ焦点距離のモデルKPX0
82レンズなどの、第２集束レンズ６５によって集束され
て、多機能アパーチュア・アセンブリ６６の中央アパー
チュア６６Ａの中心に位置する焦点６６Ｆへ向かって送
られる。アパーチュア・アセンブリ６６は、環状固定偏
光フィルタ６６Ｐと一緒にサンドウィッチされた環状通
過帯域フィルタ６６Ｒを含んでいる（フィルタ６６Ｐの
エレメントは第１参照信号発生器の説明個所に説明され
ている）。
【００４８】アパーチュア６６Ａを通過した光は、次
に、５０ミリ焦点距離のモデルKPX082レンズなどの第２
コリメート・レンズ６７によってコリメートされて、第
２コリメート・ビームを形成する。第２コリメート・ビ
ームは、モデルDPU-25などの減偏光プレート６８に通さ
れる。減偏光プレート６８は、後続の波長通過帯域フィ
ルタ・アセンブリ８０または光検出器アセンブリ９０か
ら発生する偏光感度効果を最小化する。
に、５０ミリ焦点距離のモデルKPX082レンズなどの第２
コリメート・レンズ６７によってコリメートされて、第
２コリメート・ビームを形成する。第２コリメート・ビ
ームは、モデルDPU-25などの減偏光プレート６８に通さ
れる。減偏光プレート６８は、後続の波長通過帯域フィ
ルタ・アセンブリ８０または光検出器アセンブリ９０か
ら発生する偏光感度効果を最小化する。
【００４９】通過帯域フィルタ・アセンブリ８０は第２
コリメート・ビームを受信し、あらかじめ決めた波長範
囲だけを通過させるように置かれた狭通過帯域フィルタ
・エレメント８２を含んでいる。このフィルタの代表例
としては、中心波長が４９０ナノメータの１０ミリ・バ
ンド幅干渉フィルタがある。実用上の便宜から、通過帯
域フィルタ・アセンブリ８０は、Oriel Corporation
（米国Stratford, CT)提供のモデル53855 などのフィル
タ・ホイール84を、同社からモデル77374 の名称で販売
されている対応するコントローラと併用することによっ
て実現されている。ホイール８４には、複数の狭通過帯
域フィルタ・エレメント８２が装着されており、各々が
特定のシート材料に適したものになっている。コントロ
ーラ８６は、ライン８８上に現れた適当な制御信号に応
答して、ホイール８４上の特定のフィルタ・エレメント
８２を光路内に置く働きをする。
コリメート・ビームを受信し、あらかじめ決めた波長範
囲だけを通過させるように置かれた狭通過帯域フィルタ
・エレメント８２を含んでいる。このフィルタの代表例
としては、中心波長が４９０ナノメータの１０ミリ・バ
ンド幅干渉フィルタがある。実用上の便宜から、通過帯
域フィルタ・アセンブリ８０は、Oriel Corporation
（米国Stratford, CT)提供のモデル53855 などのフィル
タ・ホイール84を、同社からモデル77374 の名称で販売
されている対応するコントローラと併用することによっ
て実現されている。ホイール８４には、複数の狭通過帯
域フィルタ・エレメント８２が装着されており、各々が
特定のシート材料に適したものになっている。コントロ
ーラ８６は、ライン８８上に現れた適当な制御信号に応
答して、ホイール８４上の特定のフィルタ・エレメント
８２を光路内に置く働きをする。
【００５０】狭通過帯域フィルタ８２から現れた光は、
次に、第３集束レンズ６９によって集束される。集束さ
れた光は、光強度信号Ｉs を出力する光検出器アセンブ
リ９０へ送られる。光検出器アセンブリ９０は光検出素
子９２および関連の増幅器９４を含んでいる。第３集束
レンズ６９の焦点９２Ｆは光検出素子９２の中心に位置
している。光検出器アセンブリ９０として使用するのに
適したものとしては、Hammamatsu Corp.（米国Bridgewa
ter, NJ)提供のモデルG1957 ガリウム砒素亜りん酸塩(G
aAsP) ホトダイオード／演算増幅器がある。
次に、第３集束レンズ６９によって集束される。集束さ
れた光は、光強度信号Ｉs を出力する光検出器アセンブ
リ９０へ送られる。光検出器アセンブリ９０は光検出素
子９２および関連の増幅器９４を含んでいる。第３集束
レンズ６９の焦点９２Ｆは光検出素子９２の中心に位置
している。光検出器アセンブリ９０として使用するのに
適したものとしては、Hammamatsu Corp.（米国Bridgewa
ter, NJ)提供のモデルG1957 ガリウム砒素亜りん酸塩(G
aAsP) ホトダイオード／演算増幅器がある。
【００５１】全体を１００で示している第１参照信号発
生器は、
生器は、
【００５２】
【外６】
【００５３】を発生するために使用される。第１参照信
号発生器１００は、第１焦点６３Ｆの周囲に左右対称に
配置され、複数の参照ビームを発生する、環状に並んだ
発光ダイオード・アレイ１０２と、第２焦点６６Ｆに隣
接する位置に設けられた環状固定偏光フィルタ６６Ｐ
と、固定偏光フィルタ６６Ｐのすぐ背後に第２焦点６６
Ｆの周囲に左右対称に配置され、環状に並んだ光検出器
アレイ１０４と、その各々の入力が光検出器１０４のそ
れぞれに接続されている総和増幅器(summing amplifie
r) １０６とを備えている。
号発生器１００は、第１焦点６３Ｆの周囲に左右対称に
配置され、複数の参照ビームを発生する、環状に並んだ
発光ダイオード・アレイ１０２と、第２焦点６６Ｆに隣
接する位置に設けられた環状固定偏光フィルタ６６Ｐ
と、固定偏光フィルタ６６Ｐのすぐ背後に第２焦点６６
Ｆの周囲に左右対称に配置され、環状に並んだ光検出器
アレイ１０４と、その各々の入力が光検出器１０４のそ
れぞれに接続されている総和増幅器(summing amplifie
r) １０６とを備えている。
【００５４】図示の例では、１つまたはそれ以上、好ま
しくは３つの赤色発光ダイオード(LED) １０２−１，１
０２−２，１０２−３が第１アパーチュア６３の周囲に
左右対称に配置されている。発光ダイオードの代表例と
しては、Gilway CorporationからモデルE100の名称で販
売されているものがある。これらの３つのレッドLEDの
各々からの光は第１コリメート・レンズ６４によってコ
リメートされて、参照ビームが形成される。各参照ビー
ムは回転偏光フィルタ・アセンブリ７０を通過し、環状
（赤色）通過帯域フィルタ６６Ｒを通過し、環状固定偏
光フィルタ６６Ｐを通過し、第２集束レンズ６５によっ
てそれぞれのホトダイオード１０４−１，１０４−２，
１０４−３上に集束され、そこで入射光の強度が電気信
号に変換される。光検出器の代表例としては、EG&G Vat
ec社（米国St.Louis,MO)からモデルVTB1113 の名称で販
売されているようなホトダイオードがある。環状通過帯
域フィルタ６６Ｒとして使用できる代表例としては、Ed
mond Scientific 社（米国Barrington, NJ) から提供さ
れているものがあり、これは、波長が５９５ナノメータ
のとき透過点が半分(T1/2)になっている。環状固定偏光
フィルタ６６Ｐは、フィルタ７２と同じ材質になってい
る。赤色フィルタ６６Ｒは、ＬＥＤ１０２の波長範囲外
にあって、シート材料Ｓを通り抜けた迷光 (stray ligh
t)を阻止または除去することにより、ＬＥＤ１０２から
の赤色光だけが３つのそれぞれの光検出器１０４に到達
するようにする。かくして、各光検出器１０４は、参照
ビームのうち、偏光角が固定偏光フィルタ６６Ｐの偏光
角に一致している部分の光強度を表した信号を出力す
る。３つのそれぞれの光検出器１０４−１，１０４−
２，１０４−３からの電気信号は自動利得制御(AGC) 機
能をもつ総和増幅器１０６の３つの入力へ導かれて、
しくは３つの赤色発光ダイオード(LED) １０２−１，１
０２−２，１０２−３が第１アパーチュア６３の周囲に
左右対称に配置されている。発光ダイオードの代表例と
しては、Gilway CorporationからモデルE100の名称で販
売されているものがある。これらの３つのレッドLEDの
各々からの光は第１コリメート・レンズ６４によってコ
リメートされて、参照ビームが形成される。各参照ビー
ムは回転偏光フィルタ・アセンブリ７０を通過し、環状
（赤色）通過帯域フィルタ６６Ｒを通過し、環状固定偏
光フィルタ６６Ｐを通過し、第２集束レンズ６５によっ
てそれぞれのホトダイオード１０４−１，１０４−２，
１０４−３上に集束され、そこで入射光の強度が電気信
号に変換される。光検出器の代表例としては、EG&G Vat
ec社（米国St.Louis,MO)からモデルVTB1113 の名称で販
売されているようなホトダイオードがある。環状通過帯
域フィルタ６６Ｒとして使用できる代表例としては、Ed
mond Scientific 社（米国Barrington, NJ) から提供さ
れているものがあり、これは、波長が５９５ナノメータ
のとき透過点が半分(T1/2)になっている。環状固定偏光
フィルタ６６Ｐは、フィルタ７２と同じ材質になってい
る。赤色フィルタ６６Ｒは、ＬＥＤ１０２の波長範囲外
にあって、シート材料Ｓを通り抜けた迷光 (stray ligh
t)を阻止または除去することにより、ＬＥＤ１０２から
の赤色光だけが３つのそれぞれの光検出器１０４に到達
するようにする。かくして、各光検出器１０４は、参照
ビームのうち、偏光角が固定偏光フィルタ６６Ｐの偏光
角に一致している部分の光強度を表した信号を出力す
る。３つのそれぞれの光検出器１０４−１，１０４−
２，１０４−３からの電気信号は自動利得制御(AGC) 機
能をもつ総和増幅器１０６の３つの入力へ導かれて、
【００５５】
【外７】
【００５６】通過帯域フィルタ６２（これは、光学アセ
ンブリ６０の説明個所で前述した）と赤色フィルタ６６
Ｒの各々は、第１参照信号の発生を妨げるおそれのある
波長の周囲光を除去する働きをする。
ンブリ６０の説明個所で前述した）と赤色フィルタ６６
Ｒの各々は、第１参照信号の発生を妨げるおそれのある
波長の周囲光を除去する働きをする。
【００５７】第２参照信号発生器１２０は、関連の電位
差計１２４をもつ可変利得増幅器１２２と、サンプル・
ホールド回路１２６と、シート材料存在検出器１２８と
を備えている。信号Ｉは可変利得増幅器１２２の入力に
現れる。電位差計１２４は増幅器１２２の利得を制御
し、信号Ｉに係数Ｆをかけて、シート材料からの反射損
失を補正する。シート材料存在検出器１２８は、シート
材料が光路２０に存在するかどうかを判定し、サンプル
・ホールド回路１２６を作動(assert)させる。第１実施
例の図示の例では、サンプル・ホールド回路１２６はア
ナログ−ディジタル−アナログ（Ａ／Ｄ／Ａ）変換回路
を備えている。
差計１２４をもつ可変利得増幅器１２２と、サンプル・
ホールド回路１２６と、シート材料存在検出器１２８と
を備えている。信号Ｉは可変利得増幅器１２２の入力に
現れる。電位差計１２４は増幅器１２２の利得を制御
し、信号Ｉに係数Ｆをかけて、シート材料からの反射損
失を補正する。シート材料存在検出器１２８は、シート
材料が光路２０に存在するかどうかを判定し、サンプル
・ホールド回路１２６を作動(assert)させる。第１実施
例の図示の例では、サンプル・ホールド回路１２６はア
ナログ−ディジタル−アナログ（Ａ／Ｄ／Ａ）変換回路
を備えている。
【００５８】シート材料Ｓが光路２０に存在しないとき
は（存在検出器１２８によって存在しないことが示され
ると）、増幅器１２２の出力はサンプル・ホールド回路
１２６によってサンプルされ、発光器からの非偏光ビー
ムの強度を反射損失係数Ｆでスケーリングしたものを表
す第２参照信号Ｆ・Ｉ0 が得られる。サンプルされた光
強度信号Ｆ・Ｉ0 は、シート材料が光路２０に存在する
間保持される。
は（存在検出器１２８によって存在しないことが示され
ると）、増幅器１２２の出力はサンプル・ホールド回路
１２６によってサンプルされ、発光器からの非偏光ビー
ムの強度を反射損失係数Ｆでスケーリングしたものを表
す第２参照信号Ｆ・Ｉ0 が得られる。サンプルされた光
強度信号Ｆ・Ｉ0 は、シート材料が光路２０に存在する
間保持される。
【００５９】シート材料存在検出器１２８は、手動付勢
スイッチ１２８Ｓで実現することが可能である。オペレ
ータは、シート材料が存在しないことに気付くと、スイ
ッチ１２８Ｓを作動させ、コマンド信号をサンプル・ホ
ールド回路１２６へ送る。これとは別に、シート材料存
在検出器１２８とそこからのコマンド信号出力を自動化
させることも可能である。シート材料の存在の有無は、
検出された吸光特性Ａをあらかじめ決めた参照吸光値Ａ
r と比較することによって判断される。
スイッチ１２８Ｓで実現することが可能である。オペレ
ータは、シート材料が存在しないことに気付くと、スイ
ッチ１２８Ｓを作動させ、コマンド信号をサンプル・ホ
ールド回路１２６へ送る。これとは別に、シート材料存
在検出器１２８とそこからのコマンド信号出力を自動化
させることも可能である。シート材料の存在の有無は、
検出された吸光特性Ａをあらかじめ決めた参照吸光値Ａ
r と比較することによって判断される。
【００６０】分析サブシステム１４も図５に示されてい
る。分析サブシステム１４は、低域フィルタ１４４と同
期式検出・位相測定ネットワーク(synchronous detecto
r and phase measurement network)１４６に接続された
対数すなわちログ増幅器１４２をもつ分析回路を含んで
いる。分析回路は
る。分析サブシステム１４は、低域フィルタ１４４と同
期式検出・位相測定ネットワーク(synchronous detecto
r and phase measurement network)１４６に接続された
対数すなわちログ増幅器１４２をもつ分析回路を含んで
いる。分析回路は
【００６１】
【外８】
【００６２】に応答して、（１）最大吸光角度θmax 、
（２）比二色性（ΔＡ／Ａ）、および（３）吸光特性Ａ
を表す信号を出力する。
（２）比二色性（ΔＡ／Ａ）、および（３）吸光特性Ａ
を表す信号を出力する。
【００６３】動作時には、第２参照信号Ｆ・Ｉ0 はログ
増幅器１４２の第１入力１４２−１に現れ、他方、光検
出器アセンブリ９０から出力された光強度信号Ｉs はそ
の第２入力１４２−２に入力される。ログ増幅器１４２
の出力は反射損失補正信号Ｆ・Ｉ0 と光強度信号Ｉs の
比率の対数に等しい。つまり、Ａ＝ log(F・IO)/(Is)で
ある。
増幅器１４２の第１入力１４２−１に現れ、他方、光検
出器アセンブリ９０から出力された光強度信号Ｉs はそ
の第２入力１４２−２に入力される。ログ増幅器１４２
の出力は反射損失補正信号Ｆ・Ｉ0 と光強度信号Ｉs の
比率の対数に等しい。つまり、Ａ＝ log(F・IO)/(Is)で
ある。
【００６４】ログ増幅器１４２からの出力は、低域フィ
ルタ１４４によってフィルタにかけられ、吸光度信号Ａ
の中間値または平均値が得られる。同期式検出・位相測
定ネットワーク１４６は
ルタ１４４によってフィルタにかけられ、吸光度信号Ａ
の中間値または平均値が得られる。同期式検出・位相測
定ネットワーク１４６は
【００６５】
【外９】
【００６６】ネットワーク１４６はこれらの信号から、
（ΔＡ／Ａ）つまり比二色性および最大吸光角度θmax
に比例するＤＣアナログ信号を抽出する。３つの信号、
すなわち、比二色性（ΔＡ／Ａ）、最大吸光角度θ
max 、および平均吸光度Ａは、ケーブルによって制御・
記録サブシステム１６へ伝達される。
（ΔＡ／Ａ）つまり比二色性および最大吸光角度θmax
に比例するＤＣアナログ信号を抽出する。３つの信号、
すなわち、比二色性（ΔＡ／Ａ）、最大吸光角度θ
max 、および平均吸光度Ａは、ケーブルによって制御・
記録サブシステム１６へ伝達される。
【００６７】同期式検出・位相測定ネットワーク１４６
は、米国特許第4,521,111 号（Paulson, Jr およびFaul
haber 。本件出願人に譲渡済み）に開示されている。こ
の特許はそれを参照することで本明細書の一部を構成す
るものである。本明細書中で用いられている最大吸光角
θmax は、上記特許に記載されている「配向角度」θに
相当するものである。本明細書中で用いられている比二
色性パラメータ（ΔＡ／Ａ）は、数学的には、上記特許
に記載されているパラメータＤexと同じものである。
は、米国特許第4,521,111 号（Paulson, Jr およびFaul
haber 。本件出願人に譲渡済み）に開示されている。こ
の特許はそれを参照することで本明細書の一部を構成す
るものである。本明細書中で用いられている最大吸光角
θmax は、上記特許に記載されている「配向角度」θに
相当するものである。本明細書中で用いられている比二
色性パラメータ（ΔＡ／Ａ）は、数学的には、上記特許
に記載されているパラメータＤexと同じものである。
【００６８】制御・記録サブシステム１６も図５に示さ
れている。光学サブシステム１２と分析サブシステム１
４のオペレーションは、制御・記録サブシステム１６に
よって制御される。このサブシステム１６は、IBM PC/A
T コンパチブル・パーソナル・コンピュータを使用して
実現されており、その代表例として、Everex社（米国Fr
eemont, CA) からモデル386/33の名称で販売されている
ものがある。コンピュータ・サブシステム１６に内蔵さ
れているアクセサリ・モジュールは、制御信号を光学サ
ブシステム１２へ出力し、分析サブシステム１４から測
定信号を受信する。この種のアクセサリ・モジュールの
１つとして、アナログ−ディジタル・コンバータと入出
力結合(A/D/IO)モジュール１６−１がある。このモジュ
ール１６−１は、測定されたパラメータ、つまり、比二
色性（ΔＡ／Ａ）、最大吸光角θmax 、および平均吸光
度Ａを表すアナログ入力を受信して記録する。このモジ
ュール１６−１はディジタル制御出力もサブシステム１
４へ送る。例えば、（シート材料存在検出器１２８を自
動化した実施例でモジュール１６−１が使用されている
とき）モジュール１６−１はRESET 信号をネットワーク
１４６へ、制御信号をサンプル・ホールド回路１２６へ
送る。モジュール１６−１として使用するのに好ましい
ものとしては、Data Translation社（米国Marlboro, M
A) からモデルDT2801の名称で販売されているデバイス
がある。
れている。光学サブシステム１２と分析サブシステム１
４のオペレーションは、制御・記録サブシステム１６に
よって制御される。このサブシステム１６は、IBM PC/A
T コンパチブル・パーソナル・コンピュータを使用して
実現されており、その代表例として、Everex社（米国Fr
eemont, CA) からモデル386/33の名称で販売されている
ものがある。コンピュータ・サブシステム１６に内蔵さ
れているアクセサリ・モジュールは、制御信号を光学サ
ブシステム１２へ出力し、分析サブシステム１４から測
定信号を受信する。この種のアクセサリ・モジュールの
１つとして、アナログ−ディジタル・コンバータと入出
力結合(A/D/IO)モジュール１６−１がある。このモジュ
ール１６−１は、測定されたパラメータ、つまり、比二
色性（ΔＡ／Ａ）、最大吸光角θmax 、および平均吸光
度Ａを表すアナログ入力を受信して記録する。このモジ
ュール１６−１はディジタル制御出力もサブシステム１
４へ送る。例えば、（シート材料存在検出器１２８を自
動化した実施例でモジュール１６−１が使用されている
とき）モジュール１６−１はRESET 信号をネットワーク
１４６へ、制御信号をサンプル・ホールド回路１２６へ
送る。モジュール１６−１として使用するのに好ましい
ものとしては、Data Translation社（米国Marlboro, M
A) からモデルDT2801の名称で販売されているデバイス
がある。
【００６９】比二色性（ΔＡ／Ａ）、最大吸光角度θ
max 、および平均吸光度Ａの信号は、１２ビット解像度
アナログ−ディジタル（Ａ／Ｄ）コンバータのそれぞれ
の入力へ送られる。このコンバータは、コンピュータ・
サブシステム１６に内蔵されたモジュール１６−１の好
適実施例の一部になっている。モジュール１６−１はコ
ンピュータ・データ・バス１６Ｂと連絡されている。コ
ンピュータ１６の中央処理ユニット１６Ｃは、適当なソ
フトウェアによって、シート材料Ｓの位置と共に変化す
る３信号すべてをディジタル表現したものを獲得し、こ
れらの信号を表すデータをランダム・アクセス・メモリ
（ＲＡＭ）１６Ｒまたはディスク・ドライブなどの適当
な非揮発性記憶デバイス１６Ｄにストアし、データのプ
ロットを作成し、それを陰極線管（ＣＲＴ）１６Ｔまた
は他のプロット・デバイス１６Ｐ上に表示し、キーボー
ド１６Ｋなどの、オペレータ入力デバイスからオペレー
タが入力したコマンドを受け取る。ＲＡＭまたは非揮発
性記憶デバイスに以前にストアされた、以前のシート材
料サンプルからの履歴データ(historical data) を呼び
出し、表示して比較を行うことができる。
max 、および平均吸光度Ａの信号は、１２ビット解像度
アナログ−ディジタル（Ａ／Ｄ）コンバータのそれぞれ
の入力へ送られる。このコンバータは、コンピュータ・
サブシステム１６に内蔵されたモジュール１６−１の好
適実施例の一部になっている。モジュール１６−１はコ
ンピュータ・データ・バス１６Ｂと連絡されている。コ
ンピュータ１６の中央処理ユニット１６Ｃは、適当なソ
フトウェアによって、シート材料Ｓの位置と共に変化す
る３信号すべてをディジタル表現したものを獲得し、こ
れらの信号を表すデータをランダム・アクセス・メモリ
（ＲＡＭ）１６Ｒまたはディスク・ドライブなどの適当
な非揮発性記憶デバイス１６Ｄにストアし、データのプ
ロットを作成し、それを陰極線管（ＣＲＴ）１６Ｔまた
は他のプロット・デバイス１６Ｐ上に表示し、キーボー
ド１６Ｋなどの、オペレータ入力デバイスからオペレー
タが入力したコマンドを受け取る。ＲＡＭまたは非揮発
性記憶デバイスに以前にストアされた、以前のシート材
料サンプルからの履歴データ(historical data) を呼び
出し、表示して比較を行うことができる。
【００７０】第２のアクセサリ・モジュールは、フィル
タ・ホイール・インタフェース・モジュール１６−２で
ある。このモジュール１６−２もコンピュータ・データ
・バス１６Ｂと連絡され、制御信号をライン８８経由で
フィルタ・ホイール・アセンブリ８０へ送る。このモジ
ュールは、Oriel 社からモデル77375 の名称で販売され
ているデバイスを、上述した好適なコントローラ８６と
併用することによって実現することができる。
タ・ホイール・インタフェース・モジュール１６−２で
ある。このモジュール１６−２もコンピュータ・データ
・バス１６Ｂと連絡され、制御信号をライン８８経由で
フィルタ・ホイール・アセンブリ８０へ送る。このモジ
ュールは、Oriel 社からモデル77375 の名称で販売され
ているデバイスを、上述した好適なコントローラ８６と
併用することによって実現することができる。
【００７１】動作時には、シート材料のサンプルは、代
表例として、所望長さで、１インチ（約２cm）〜２−１
／８インチ（約４cm) 幅のストリップにカットされて、
ドライブ・ユニット２６で走査用のスプール２６Ｓ上に
ロードされる。透明フィルムのリーダ（代表例として、
１０インチ（約２５．４cm) 長、７０mm幅、３mil 厚の
透明ポリエチレン・テレフタレート（ＰＥＴ））は、シ
ート材料サンプルの各端で適当な光学的に透明テープで
スプライスされる。各グループの走査は、ドライブ・ユ
ニット２６を手動で付勢させることによって開始され
る。測定されたパラメータの記録の開始、および同期式
検出・位相測定ネットワーク１４６へ送られるシート材
料存在信号（この信号はサンプル・ホールド回路１２６
を作動させる）とRESET 信号の生成は、制御・記録サブ
システム１６によって自動的に処理される。シート材料
のサンプルは、較正された一定の走査速度で移送される
のが代表例である。各サンプルの開始と終了は、各サン
プルの先端と終端が光路２０を横切ったとき、吸光度Ａ
が急激に変化することにより、サブシステム１６によっ
て判断される。
表例として、所望長さで、１インチ（約２cm）〜２−１
／８インチ（約４cm) 幅のストリップにカットされて、
ドライブ・ユニット２６で走査用のスプール２６Ｓ上に
ロードされる。透明フィルムのリーダ（代表例として、
１０インチ（約２５．４cm) 長、７０mm幅、３mil 厚の
透明ポリエチレン・テレフタレート（ＰＥＴ））は、シ
ート材料サンプルの各端で適当な光学的に透明テープで
スプライスされる。各グループの走査は、ドライブ・ユ
ニット２６を手動で付勢させることによって開始され
る。測定されたパラメータの記録の開始、および同期式
検出・位相測定ネットワーク１４６へ送られるシート材
料存在信号（この信号はサンプル・ホールド回路１２６
を作動させる）とRESET 信号の生成は、制御・記録サブ
システム１６によって自動的に処理される。シート材料
のサンプルは、較正された一定の走査速度で移送される
のが代表例である。各サンプルの開始と終了は、各サン
プルの先端と終端が光路２０を横切ったとき、吸光度Ａ
が急激に変化することにより、サブシステム１６によっ
て判断される。
【００７２】必要ならば、各サンプル間に透明フィルム
・リーダを使用してエンド・ツー・エンドをスプライス
することにより、サンプルをドライブ・ユニット２６上
の供給スプール２６Ｓ−１の容量まで、いくつでも継ぐ
ことが可能である。特性づけを行うサンプルの吸光特性
に見合った波長通過帯域フィルタ８２を選択しなければ
ならないので、同じ厚さまたは吸光度をもつサンプルを
１つにまとめておくのが代表的なやり方である。サンプ
ルをカットし、その製造時と同じ配向にして取り付ける
と、測定した光学特性のプロットを簡単に比較すること
ができる。
・リーダを使用してエンド・ツー・エンドをスプライス
することにより、サンプルをドライブ・ユニット２６上
の供給スプール２６Ｓ−１の容量まで、いくつでも継ぐ
ことが可能である。特性づけを行うサンプルの吸光特性
に見合った波長通過帯域フィルタ８２を選択しなければ
ならないので、同じ厚さまたは吸光度をもつサンプルを
１つにまとめておくのが代表的なやり方である。サンプ
ルをカットし、その製造時と同じ配向にして取り付ける
と、測定した光学特性のプロットを簡単に比較すること
ができる。
【００７３】１つまたは複数のサンプルは、図４に示す
ように、供給スプール２６Ｓ−１からローラを通って、
巻取りスプール２６Ｓ−２に巻き取られる。サンプルを
ロードする前に較正検査を行うのが普通である。オペレ
ータはドライブ・ユニット２６を手操作で制御して、サ
ンプルを所望速度で前進させる。
ように、供給スプール２６Ｓ−１からローラを通って、
巻取りスプール２６Ｓ−２に巻き取られる。サンプルを
ロードする前に較正検査を行うのが普通である。オペレ
ータはドライブ・ユニット２６を手操作で制御して、サ
ンプルを所望速度で前進させる。
【００７４】シート材料存在検出器スイッチ１２８Ｓ
は、各グループの測定の開始時に手動で付勢させて、サ
ンプルが光路２０に存在しないときの強度信号をサンプ
ルし、保持する。また、スイッチ１２８Ｓは、測定前に
波長通過帯域フィルタ８２が交換されるたびに作動され
る。第２参照信号（Ｆ・Ｉ0 ) は、スイッチ１２８Ｓが
再び手操作で作動されるまで、サンプル・ホールド回路
１２６によって無期限に保持されている。光源の強さは
数時間の間にドリフトすることがあるので、例えば、３
０分間隔で、定期的にスイッチ１２８Ｓを作動させて光
強度の変化の補正を行う。屈折率が異なるサンプルの特
性を測定する必要がある場合は、反射損失係数Ｆの値を
変えるだけでよい。
は、各グループの測定の開始時に手動で付勢させて、サ
ンプルが光路２０に存在しないときの強度信号をサンプ
ルし、保持する。また、スイッチ１２８Ｓは、測定前に
波長通過帯域フィルタ８２が交換されるたびに作動され
る。第２参照信号（Ｆ・Ｉ0 ) は、スイッチ１２８Ｓが
再び手操作で作動されるまで、サンプル・ホールド回路
１２６によって無期限に保持されている。光源の強さは
数時間の間にドリフトすることがあるので、例えば、３
０分間隔で、定期的にスイッチ１２８Ｓを作動させて光
強度の変化の補正を行う。屈折率が異なるサンプルの特
性を測定する必要がある場合は、反射損失係数Ｆの値を
変えるだけでよい。
【００７５】必要なデータ収集ソフトウェア・プログラ
ムが制御・記録サブシステム１６にロードされているの
で、オペレータは波長フィルタ８２の選択とサンプルに
関する情報を入力する。フィルタ・ホイール・インタフ
ェース・モジュール１６−２がコントローラ８５を作動
させると、コントローラ８５は信号をライン８８経由で
フィルタ・ホイール８４へ送り、選択されたフィルタ８
２を光路２０に置く。モジュール１６−１のＡ／Ｄコン
バータは、分析サブシステム１４から受信した信号をデ
ィジタル化する。
ムが制御・記録サブシステム１６にロードされているの
で、オペレータは波長フィルタ８２の選択とサンプルに
関する情報を入力する。フィルタ・ホイール・インタフ
ェース・モジュール１６−２がコントローラ８５を作動
させると、コントローラ８５は信号をライン８８経由で
フィルタ・ホイール８４へ送り、選択されたフィルタ８
２を光路２０に置く。モジュール１６−１のＡ／Ｄコン
バータは、分析サブシステム１４から受信した信号をデ
ィジタル化する。
【００７６】サンプル・グループの特性を測定する場
合、シート存在検出器スイッチ１２８をサブシステム１
６によって自動的に作動させることが好ましい。従っ
て、モジュール１６−１のＡ／Ｄコンバータからのディ
ジタル化吸光度信号は、処理ユニット１６Ｃによって、
あらかじめ決めた吸光度のしきい値（代表例として、吸
光度が（０．１）に対応する値）と比較される。吸光サ
ンプルの前縁が光路２０を横切るとき、吸光度値Ａがし
きい値レベルを越えると、Ａ／Ｄコンバータは、非二色
性（ΔＡ／Ａ）、吸光度Ａ、および最大吸光角θmax の
値の測定を、あらかじめ決めた時間間隔（代表例とし
て、０．２５秒）で開始する。測定されたこれらの値
は、モジュール１６−１からデータ・バス１６Ｂを経由
してメモリ１６Ｒに転送されて、ストアされる。任意の
パラメータまたはすべてのパラメータ（例えば、非二色
性（ΔＡ／Ａ））のプロットは、コンピュータのＣＲＴ
ディスプレイ・デバイス１６Ｔの画面上にリアルタイム
で表示される。サンプルの後縁が光路２０を横切ったと
き、吸光度値Ａがしきい値レベル以下に降下すると、測
定は中止され、コンピュータは、サンプル測定が完了し
たことをオペレータに知らせる。
合、シート存在検出器スイッチ１２８をサブシステム１
６によって自動的に作動させることが好ましい。従っ
て、モジュール１６−１のＡ／Ｄコンバータからのディ
ジタル化吸光度信号は、処理ユニット１６Ｃによって、
あらかじめ決めた吸光度のしきい値（代表例として、吸
光度が（０．１）に対応する値）と比較される。吸光サ
ンプルの前縁が光路２０を横切るとき、吸光度値Ａがし
きい値レベルを越えると、Ａ／Ｄコンバータは、非二色
性（ΔＡ／Ａ）、吸光度Ａ、および最大吸光角θmax の
値の測定を、あらかじめ決めた時間間隔（代表例とし
て、０．２５秒）で開始する。測定されたこれらの値
は、モジュール１６−１からデータ・バス１６Ｂを経由
してメモリ１６Ｒに転送されて、ストアされる。任意の
パラメータまたはすべてのパラメータ（例えば、非二色
性（ΔＡ／Ａ））のプロットは、コンピュータのＣＲＴ
ディスプレイ・デバイス１６Ｔの画面上にリアルタイム
で表示される。サンプルの後縁が光路２０を横切ったと
き、吸光度値Ａがしきい値レベル以下に降下すると、測
定は中止され、コンピュータは、サンプル測定が完了し
たことをオペレータに知らせる。
【００７７】サンプルの走査を終えたとき、測定パラメ
ータの１つ、いくつか、あるいはすべてのプロットをＣ
ＲＴ画面から表示すること、および／またはサンプル情
報と統計データを使用してプロット・デバイス上でプロ
ットすることが可能である。データは、必要ならば、記
憶デバイス１６Ｄにストアしておくこともできる。
ータの１つ、いくつか、あるいはすべてのプロットをＣ
ＲＴ画面から表示すること、および／またはサンプル情
報と統計データを使用してプロット・デバイス上でプロ
ットすることが可能である。データは、必要ならば、記
憶デバイス１６Ｄにストアしておくこともできる。
【００７８】本発明の第２実施例による装置１０は、特
に、オンライン製造環境で使用するのに適しており、横
断移送ユニット(traversing transport unit) ３０を備
えている。
に、オンライン製造環境で使用するのに適しており、横
断移送ユニット(traversing transport unit) ３０を備
えている。
【００７９】図６〜図８に示す第２実施例の光学サブシ
ステム１２は、下述するように、光学サブシステム１２
をオンライン環境に向くように若干の改良を加えたこと
を除けば、構造と動作は、第１実施例のそれと大体同じ
である。発光器４０は、移動するシート材料のウェブＳ
の一方の側の、移送ユニット３０の第１移動可能キャリ
ッジ３０−１に装着されている。他方、受光器５０は、
移動するウェブＳの反対側に設けられた第２移動可能キ
ャリッジ３０−２に装着されている。発光器４０は、移
動ウェブＳを通って受光器５０まで達する光路２０上に
照射ビームを送出する。
ステム１２は、下述するように、光学サブシステム１２
をオンライン環境に向くように若干の改良を加えたこと
を除けば、構造と動作は、第１実施例のそれと大体同じ
である。発光器４０は、移動するシート材料のウェブＳ
の一方の側の、移送ユニット３０の第１移動可能キャリ
ッジ３０−１に装着されている。他方、受光器５０は、
移動するウェブＳの反対側に設けられた第２移動可能キ
ャリッジ３０−２に装着されている。発光器４０は、移
動ウェブＳを通って受光器５０まで達する光路２０上に
照射ビームを送出する。
【００８０】移送ユニット３０は、Measurex Corporati
on（米国Cupertino, CA)が販売している商用ユニット
を、Measurex社の図面番号2366-2I に準拠するようにカ
ストマイズしたものである。移送ユニット３０を動作さ
せると、第１移動可能キャリッジは、マシン方向に移動
している吸光シート材料の幅方向に走査し、第１移動可
能キャリッジ３０−１に装着された発光器ユニット４０
は、マシン方向に直交する横断方向に移送され、第２移
動可能キャリッジ３０−２に装着された受光ユニット５
０は、発光器ユニット４０と一致する方向に移送され
る。言い換えれば、発光器４０と受光器５０は、どの時
点においても、相互に光学的に一致する位置になってい
る。
on（米国Cupertino, CA)が販売している商用ユニット
を、Measurex社の図面番号2366-2I に準拠するようにカ
ストマイズしたものである。移送ユニット３０を動作さ
せると、第１移動可能キャリッジは、マシン方向に移動
している吸光シート材料の幅方向に走査し、第１移動可
能キャリッジ３０−１に装着された発光器ユニット４０
は、マシン方向に直交する横断方向に移送され、第２移
動可能キャリッジ３０−２に装着された受光ユニット５
０は、発光器ユニット４０と一致する方向に移送され
る。言い換えれば、発光器４０と受光器５０は、どの時
点においても、相互に光学的に一致する位置になってい
る。
【００８１】移送ユニット３０は内部制御ユニット３２
を備え、このユニット３２は、移動可能キャリッジと光
学サブシステム１２の移動を示す移動信号３２Ｍ、キャ
リッジの移動方向（前進と逆進）を示す方向表示信号３
２Ｄ、およびキャリッジの小刻みな移動を示す小刻み移
動信号３２Ｉを発生するモーション・エンコーダと、キ
ャリッジの運動方向を示す信号を生成する方向インジケ
ータと、モーション・エンコーダ信号と方向インジケー
タ信号を受信し、その出力信号が発光器４０および受光
器５０が移動中のシート材料を横断する相対位置を表わ
している双方向カウンタとを有するキャリッジ位置セン
サを有する。キャリッジが移送ユニット３０に置かれた
スイッチ（図示せず）を通過すると、光学サブシステム
１２がウェブＳのほぼ中心に位置することを示す「ウェ
ブ中心」信号３２Ｃが出力される。信号３２Ｍ，３２
Ｄ，３２Ｉおよび３２Ｃは、移送ユニット３０の内部制
御ユニット３２からケーブルを経由して制御・記録サブ
システム１６へ送られ、コンピュータ・モジュール１６
−１によって受信されることにより、光学サブシステム
１２とウェブＳとの相対的位置が追跡される。信号３２
Ｍ，３２Ｄ，３２Ｉ，３２Ｃはサブシステム１６と協力
し合って、移送ユニット３０の移動可能キャリッジ３０
−１と３０−２が移動中のシート材料Ｓを横断する相対
位置を検出するキャリッジ位置センサおよびキャリッジ
位置を表す信号を発生する手段の働きをする。つまり、
サブシステム１６は、適当なソフトウェアの制御の下
で、移動（モーション）エンコーダ信号３２Ｍと移動方
向信号３２Ｄを受信し、発光器と受光器が移動中のシー
ト材料を横断する相対位置を表すパラメータを生成する
キャリッジ位置センサの働きをする。
を備え、このユニット３２は、移動可能キャリッジと光
学サブシステム１２の移動を示す移動信号３２Ｍ、キャ
リッジの移動方向（前進と逆進）を示す方向表示信号３
２Ｄ、およびキャリッジの小刻みな移動を示す小刻み移
動信号３２Ｉを発生するモーション・エンコーダと、キ
ャリッジの運動方向を示す信号を生成する方向インジケ
ータと、モーション・エンコーダ信号と方向インジケー
タ信号を受信し、その出力信号が発光器４０および受光
器５０が移動中のシート材料を横断する相対位置を表わ
している双方向カウンタとを有するキャリッジ位置セン
サを有する。キャリッジが移送ユニット３０に置かれた
スイッチ（図示せず）を通過すると、光学サブシステム
１２がウェブＳのほぼ中心に位置することを示す「ウェ
ブ中心」信号３２Ｃが出力される。信号３２Ｍ，３２
Ｄ，３２Ｉおよび３２Ｃは、移送ユニット３０の内部制
御ユニット３２からケーブルを経由して制御・記録サブ
システム１６へ送られ、コンピュータ・モジュール１６
−１によって受信されることにより、光学サブシステム
１２とウェブＳとの相対的位置が追跡される。信号３２
Ｍ，３２Ｄ，３２Ｉ，３２Ｃはサブシステム１６と協力
し合って、移送ユニット３０の移動可能キャリッジ３０
−１と３０−２が移動中のシート材料Ｓを横断する相対
位置を検出するキャリッジ位置センサおよびキャリッジ
位置を表す信号を発生する手段の働きをする。つまり、
サブシステム１６は、適当なソフトウェアの制御の下
で、移動（モーション）エンコーダ信号３２Ｍと移動方
向信号３２Ｄを受信し、発光器と受光器が移動中のシー
ト材料を横断する相対位置を表すパラメータを生成する
キャリッジ位置センサの働きをする。
【００８２】第２実施例の発光器４０は、集束ビームで
はなく、シート材料Ｓを通り抜けた非偏光のコリメート
されたビームを発生する。図７に示すように、第２実施
例の発光器４０には、図５に示した第２集束レンズ４８
が省略されている。つまり、第２実施例の発光器４０
は、非偏光の光源４２と、光源４２から光を受信してコ
リメートされたビームを形成するコリメート手段４４，
４６とからなっている。
はなく、シート材料Ｓを通り抜けた非偏光のコリメート
されたビームを発生する。図７に示すように、第２実施
例の発光器４０には、図５に示した第２集束レンズ４８
が省略されている。つまり、第２実施例の発光器４０
は、非偏光の光源４２と、光源４２から光を受信してコ
リメートされたビームを形成するコリメート手段４４，
４６とからなっている。
【００８３】オンライン環境ではスペースの制約がある
ために、受光器５０の第１集束レンズ６１は、第１実施
例の受光器の第１集束レンズよりも、焦点距離が若干短
くなっているのが代表的である。従って、２５ミリ焦点
距離のモデルKBX046レンズが使用可能である。
ために、受光器５０の第１集束レンズ６１は、第１実施
例の受光器の第１集束レンズよりも、焦点距離が若干短
くなっているのが代表的である。従って、２５ミリ焦点
距離のモデルKBX046レンズが使用可能である。
【００８４】製造機械からの機械的振動は、オンライン
環境では問題となる。コリメートされた光ビームを使用
すると、移送ユニット３０が動いている間に起こること
がある、発光器４０と受光器５０との間の振動による横
方向の変位効果が最小化される。受光器のサイズをもっ
と小さくするには、３８ミリ焦点距離のモデルKPX079レ
ンズといった、焦点距離の短いレンズを、第１実施例の
５０ミリ焦点距離レンズに代えて使用することができ
る。
環境では問題となる。コリメートされた光ビームを使用
すると、移送ユニット３０が動いている間に起こること
がある、発光器４０と受光器５０との間の振動による横
方向の変位効果が最小化される。受光器のサイズをもっ
と小さくするには、３８ミリ焦点距離のモデルKPX079レ
ンズといった、焦点距離の短いレンズを、第１実施例の
５０ミリ焦点距離レンズに代えて使用することができ
る。
【００８５】第２実施例では、サブシステム１６は、キ
ャリッジ位置を表すパラメータと同時に、測定パラメー
タ（つまり、比二色性、最大吸光角、および吸光度）を
表す受光器５０からの信号を記録する。
ャリッジ位置を表すパラメータと同時に、測定パラメー
タ（つまり、比二色性、最大吸光角、および吸光度）を
表す受光器５０からの信号を記録する。
【００８６】第２実施例はオンライン製造環境に適して
いるので、ポリマー・フィルムといった、吸光シート材
料のロール全体の偏光依存特性を分析することが望まし
い。代表例として、移送ユニット３０は、ウェブＳの幅
方向に一方のサイドから他方のサイドに向かって横断す
るように光学サブシステム１２を連続的に走査する。ウ
ェブＳの幅方向を通過するごとに、移送ユニット３０
は、光学サブシステム１２の光路２０がウェブＳの各サ
イド縁を越えて移動するようにキャリッジを移送する。
光路２０がウェブＳのサイド縁を通過すると、その通過
は、吸光度Ａが急激に変化することにより、サブシステ
ム１６によって検出される。信号分析サブシステム１４
は、ウェブＳの偏光依存特性を連続的に測定している。
ウェブを横断する間、一定の時間間隔で、これらの測定
はモジュール１６−１のＡ／Ｄコンバータによってディ
ジタル値に変換されて、メモリ１６Ｒにストアされる。
連続する吸光度Ａをあらかじめ決めた参照値Ａr と比較
することにより、シート材料が光路に存在することが判
断される。サブシステム１６は、シート存在検出手段の
機能を備えているので、光路２０の位置がいつ、シート
材料の第１と第２のサイド縁間にあるかを判断する。デ
ータ・ファイルは、製造される材料の各ロールごとに収
集することができるので、各ロールの測定パラメータの
統計的なサマリーを計算することができる。
いるので、ポリマー・フィルムといった、吸光シート材
料のロール全体の偏光依存特性を分析することが望まし
い。代表例として、移送ユニット３０は、ウェブＳの幅
方向に一方のサイドから他方のサイドに向かって横断す
るように光学サブシステム１２を連続的に走査する。ウ
ェブＳの幅方向を通過するごとに、移送ユニット３０
は、光学サブシステム１２の光路２０がウェブＳの各サ
イド縁を越えて移動するようにキャリッジを移送する。
光路２０がウェブＳのサイド縁を通過すると、その通過
は、吸光度Ａが急激に変化することにより、サブシステ
ム１６によって検出される。信号分析サブシステム１４
は、ウェブＳの偏光依存特性を連続的に測定している。
ウェブを横断する間、一定の時間間隔で、これらの測定
はモジュール１６−１のＡ／Ｄコンバータによってディ
ジタル値に変換されて、メモリ１６Ｒにストアされる。
連続する吸光度Ａをあらかじめ決めた参照値Ａr と比較
することにより、シート材料が光路に存在することが判
断される。サブシステム１６は、シート存在検出手段の
機能を備えているので、光路２０の位置がいつ、シート
材料の第１と第２のサイド縁間にあるかを判断する。デ
ータ・ファイルは、製造される材料の各ロールごとに収
集することができるので、各ロールの測定パラメータの
統計的なサマリーを計算することができる。
【００８７】ポリマー・フィルムは連続的に製造され
て、ロール状に巻き取られるのが代表的である。代表例
として、シート材料の新しいロールの先頭で、新しいデ
ータ・ファイルがオープンされ、サブシステム１６は移
送ユニット３０の逆方向の走査が行われるまで待たされ
ている。「フィルム中心」信号３２Ｃが生成されると、
シート材料の幅の半分に相当するカウント値がソフトウ
ェア「横断位置」カウンタにロードされる。キャリッジ
小刻み移動パルス３２Ｉは、あらかじめ決めた値で除算
されて、キャリッジ走行の小刻み（０．１０インチが代
表例）の測定ごとにパルスが得られる。小刻みの測定ご
とに、横断位置カウンタはデクリメントされ、吸光度の
測定が行われ、モジュール１６−１によってディジタル
値に変換され、しきい値と比較されて、光路２０がいつ
シートのサイド縁を通過したかが判断される。
て、ロール状に巻き取られるのが代表的である。代表例
として、シート材料の新しいロールの先頭で、新しいデ
ータ・ファイルがオープンされ、サブシステム１６は移
送ユニット３０の逆方向の走査が行われるまで待たされ
ている。「フィルム中心」信号３２Ｃが生成されると、
シート材料の幅の半分に相当するカウント値がソフトウ
ェア「横断位置」カウンタにロードされる。キャリッジ
小刻み移動パルス３２Ｉは、あらかじめ決めた値で除算
されて、キャリッジ走行の小刻み（０．１０インチが代
表例）の測定ごとにパルスが得られる。小刻みの測定ご
とに、横断位置カウンタはデクリメントされ、吸光度の
測定が行われ、モジュール１６−１によってディジタル
値に変換され、しきい値と比較されて、光路２０がいつ
シートのサイド縁を通過したかが判断される。
【００８８】シートの縁が検出され、キャリッジ移動が
中止されたことを信号３２Ｍが示していると、サンプル
・ホールド回路１２０が作動されて、第２参照信号Ｆ・
Ｉ0を発生する。このシーケンスにすると、フィルムが
光路にないとき、Ｆ・Ｉ0 信号を正しく較正してから、
ウェブ幅方向の光学サブシステム１２の各走査を行うこ
とができる。 必要ならば、Ｆ・Ｉ0 信号のシステム較
正曲線は、シート材料が光路にないとき生成することが
できる。Ｆ・Ｉ0 信号は、キャリッジがフィルムの幅方
向に移動するとき記録しておけば、キャリッジの位置に
関係するシステム・パフォーマンスの微小な変化を補正
することができる。
中止されたことを信号３２Ｍが示していると、サンプル
・ホールド回路１２０が作動されて、第２参照信号Ｆ・
Ｉ0を発生する。このシーケンスにすると、フィルムが
光路にないとき、Ｆ・Ｉ0 信号を正しく較正してから、
ウェブ幅方向の光学サブシステム１２の各走査を行うこ
とができる。 必要ならば、Ｆ・Ｉ0 信号のシステム較
正曲線は、シート材料が光路にないとき生成することが
できる。Ｆ・Ｉ0 信号は、キャリッジがフィルムの幅方
向に移動するとき記録しておけば、キャリッジの位置に
関係するシステム・パフォーマンスの微小な変化を補正
することができる。
【００８９】光学サブシステム１２がフィルムの幅方向
に移動するとき、比二色性（ΔＡ／Ａ）、吸光度Ａ、お
よび最大吸光角θmax のパラメータは、一定の記録間隔
で（０．５インチが代表例）モジュール１６−１によっ
てディジタル値に変換され、このディジタル値はサブシ
ステム１６によってストアされる。測定された各吸光度
値はしきい値と比較されて、光路２０がウェブＳの第２
サイド縁を通過したことが検出される。このときは、最
後の測定値セットは無視され、測定は停止する。
に移動するとき、比二色性（ΔＡ／Ａ）、吸光度Ａ、お
よび最大吸光角θmax のパラメータは、一定の記録間隔
で（０．５インチが代表例）モジュール１６−１によっ
てディジタル値に変換され、このディジタル値はサブシ
ステム１６によってストアされる。測定された各吸光度
値はしきい値と比較されて、光路２０がウェブＳの第２
サイド縁を通過したことが検出される。このときは、最
後の測定値セットは無視され、測定は停止する。
【００９０】以上、本発明の教示事項の利点を享受でき
る当業者は、その教示事項について種々態様に変更を加
えることが可能である。かかる変更は、本発明の範囲の
精神から逸脱しないでなし得ることはもちろんである。
従って、かかる変更は、特許請求の範囲に記載されてい
る本発明の範囲内に含まれるものである。
る当業者は、その教示事項について種々態様に変更を加
えることが可能である。かかる変更は、本発明の範囲の
精神から逸脱しないでなし得ることはもちろんである。
従って、かかる変更は、特許請求の範囲に記載されてい
る本発明の範囲内に含まれるものである。
【図１】本発明の装置で実現された測定原理を示す系統
図である。
図である。
【図２】偏光角θの関数として光強度Ｉs と吸光度Ａを
示すプロット図である。
示すプロット図である。
【図３】光がシート材料を透過するときの反射損失のメ
カニズムを示す系統図である。
カニズムを示す系統図である。
【図４】本発明の第１実施例による装置を模式化して示
す絵図とブロック図である。
す絵図とブロック図である。
【図５】図４の装置の光学サブシステムと信号分析回路
を示す系統図である。
を示す系統図である。
【図６】本発明の第２実施例による装置を示す断面図と
ブロック図である。
ブロック図である。
【図７】図６の装置の光学サブシステムと信号分析回路
を示す系統図である。
を示す系統図である。
【図８】横断移送ユニットに装着された図７の光学サブ
システムを模式化して示す斜視図である。
システムを模式化して示す斜視図である。
１２ 光学サブシステム １４ 信号分析サブシステム １６ 制御・記録サブシステム ２０ 光路 ２６ ドライブ・ユニット ３０ 移送ユニット ４０ 発光器 ４２ 光源 ４４ 第１レンズ ４６ 減偏光プレート ４８ 第２レンズ ５０ 受光器 ６０ 光学系アセンブリ ６１ 第１集束レンズ ６２ フィルタ ６３アパーチュア・プレート ６４ 第１コリメート・レンズ ６５ 第２集束レンズ ６６ 多機能アパーチュア・アセンブリ ６７ 第２コリメート・レンズ ６８ 減偏光プレート ６９ 第３集束レンズ ７０ 偏光フィルタ・アセンブリ ７２ 回転偏光フィルタ ８０ 光学通過帯域フィルタ・アセンブリ ８２ 狭通過帯域フィルタ・エレメント ８４ フィルタ・ホイール ８６ コントローラ ８８ ライン ９０ 光検出器アセンブリ ９２ 光検出器エレメント ９４ 増幅器 １００ 第１参照信号発生器 １０２ 発光ダイオード １０４ 光検出器 １０６ 総和増幅器 １２０ 第２参照信号発生器 １２２ 可変利得増幅器 １２４ 電位差計 １２６ サンプル・ホールド回路 １２８ シート材料存在検出器 １４２ 対数（ログ）増幅器 １４４ 低域フィルタ １４６ 同期式検出・位相測定ネットワーク Ｓ シート材料
Claims (14)
- 【請求項１】 吸光特性Ａ、偏光に起因する吸光度変化
ΔＡ、および反射損失係数Ｆをもつ吸光シート材料の偏
光依存特性を検出する装置であって、 吸光シート材料のシートに非偏光ビームを照射する発光
器と、 回転偏光フィルタを含み、前記発光器と光路で結合さ
れ、前記シートを透過した光を受信し、あらかじめ定め
た波長範囲の偏光の強度を表わす、正弦波の形で変化す
る光強度信号Ｉs を発生する受光器であって、前記光強
度信号Ｉs は、第１の最大吸光偏光角θmax のとき最小
値Ｉs min をもち、最小吸光偏光角θminのとき最大値
Ｉs max をもつ受光器と、 前記回転偏光フィルタの偏光角θを表わす 【外１】 前記発光器からの非偏光ビームの強度であって、反射損
失係数Ｆでスケーリングしたものを表わす第２参照信号
Ｆ・Ｉ0 を生成するための第２参照信号発生器と、 前記光強度信号Ｉs 、 【外２】 最大吸光角θmax 、比二色性（ΔＡ／Ａ）、および吸光
特性Ａを表わす信号を生成するための分析回路とを備
え、前記比二色性（ΔＡ／Ａ）は、次式のように定義さ
れ、 【数１】 前記吸光特性Ａは 【数２】A ＝ log F・I0 − 1/2 log Is min − 1/2 log
Is max と定義されていることを特徴とするシート材料の比二色
性の測定装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の装置において、前記受
光器は、 受信した光を第１の焦点に集束するための第１集束レン
ズと、 第１のコリメートされたビームを形成するための第１コ
リメート・レンズと、 第１のコリメートされたビームを受信し、該第１のコリ
メートされたビームのうち、偏光角がフィルタの偏光角
と一致している光部分だけを通過させるような位置に置
かれた回転直線偏光フィルタと、 第１のコリメートされたビームを第２の焦点に集束する
ための第２集束レンズと、 第２のコリメートされたビームを形成するための第２コ
リメート・レンズと、 第２のコリメートされたビームを受信し、あらかじめ決
めた波長範囲だけを通過させるような位置に置かれた波
長通過帯域フィルタと、 第２のコリメートされたビームを第３の焦点に集束する
ための第３集束レンズと、 第３の焦点に置かれていて、光強度信号Ｉs を生成する
ための光検出器とを光学的順序で備えたことを特徴とす
るシート材料の比二色性の測定装置。 - 【請求項３】 請求項１に記載の装置において、前記発
光器は非偏光の集束ビームで前記シートを照射し、該発
光器は、 非偏光の光源と、 光源からの光を受信し、焦点に集束されたビームをシー
ト上に形成するための集束手段とを備えたことを特徴と
するシート材料の比二色性の測定装置。 - 【請求項４】 請求項１に記載の装置において、前記発
光器は非偏光のコリメートされたビームで前記シートを
照射し、該発光器は、 非偏光の光源と、 光源からの光を受信し、コリメートされたビームを形成
するためのコリメート手段とを備えたことを特徴とする
シート材料の比二色性の測定装置。 - 【請求項５】 請求項２に記載の装置において、前記第
１参照信号発生器は、 複数の参照信号を生成するための環状に配置された発光
ダイオード・アレイであって、第１の焦点の周囲に左右
対称に配置されている発光ダイオード・アレイと、 第２の焦点に隣接する位置に置かれた環状固定偏光フィ
ルタと、 固定偏光フィルタのすぐ背後の第２の焦点の周囲に左右
対称に環状に配置された光検出器アレイと、 複数の入力をもち、各入力が光検出器のそれぞれに接続
されている総和増幅器とを備え、 各発光ダイオードからの各参照ビームは、第１コリメー
ト・レンズによってコリメートされ、 各コリメートされた参照ビームは回転偏光フィルタを通
過させ、 各コリメートされた参照ビームは第２集束レンズによっ
てそれぞれの光検出器上に集束され、各集束された参照
ビームは固定偏光フィルタを通過させてからそれぞれの
光検出器を通過させ、 各光検出器は、参照ビームのうち、偏光角が固定偏光フ
ィルタの偏光角に一致している部分の光強度を表わす信
号を生成し、 光検出器からの信号は総和増幅器に伝えられ、 【外３】 が出力されるようにしたことを特徴とするシート材料の
比二色性の測定装置。 - 【請求項６】 請求項５に記載の装置において、前記第
１参照信号発生器は、前記第１参照信号の生成を妨げる
波長の周囲光を除去するための、少なくとも１つの通過
帯域フィルタをさらに備えたことを特徴とするシート材
料の比二色性の測定装置。 - 【請求項７】 請求項１に記載の装置において、前記第
２参照信号発生器は、 前記シートが光路に存在するかどうかを判断するシート
存在検出器と、 該シート存在検出器に応答して、前記シートが光路に存
在しないときは、光強度信号Ｉs をサンプルして第２参
照信号Ｆ・Ｉ0 を生成し、サンプルした光強度信号をシ
ートが光路に存在する間保持しているサンプル・ホール
ド回路とを備えたことを特徴とするシート材料の比二色
性の測定装置。 - 【請求項８】 請求項７に記載の装置において、前記シ
ート存在検出器は手動で付勢されるスイッチを備えたこ
とを特徴とするシート材料の比二色性の測定装置。 - 【請求項９】 請求項７に記載の装置において、前記シ
ート存在検出器は、 吸光特性Ａをあらかじめ決めた参照吸光度値と比較し
て、前記シートが光路に存在するかどうかを判断する手
段を備えたことを特徴とするシート材料の比二色性の測
定装置。 - 【請求項１０】 請求項１に記載の装置において、さら
に、 マシン方向に移動している吸光シート材料のシートの幅
方向に第１移動可能キャリッジを走査するための移送ユ
ニットであって、前記発光器は、マシン方向に横断する
方向に移送されるように第１移動可能キャリッジ上に装
着されている移送ユニットと、 前記発光器と一致する移動中のシートの幅方向に前記受
光器を移送するための第２移動可能キャリッジとを備え
たことを特徴とするシート材料の比二色性の測定装置。 - 【請求項１１】 請求項１０に記載の装置において、さ
らに、 前記移送ユニットの移動可能キャリッジが移動中のシー
ト材料を横断する相対位置を検出して、その横断位置を
表わす信号を生成するためのキャリッジ位置センサと、 シートの比二色性、最大吸光角度、および平均吸光度、
およびキャリッジ位置を表わす信号を同時に受信し、記
録するための記録手段とを備えたことを特徴とするシー
ト材料の比二色性の測定装置。 - 【請求項１２】 請求項１１に記載の装置において、前
記キャリッジ位置センサは、 移動可能キャリッジの小刻みな動きを示す信号を生成す
るモーション・エンコーダと、 移動可能キャリッジの運動方向を示す信号を生成する方
向インジケータと、 モーション・エンコーダ信号と方向インジケータ信号を
受信し、その出力信号が発光器および受光器が移動中の
シート材料を横断する相対位置を表わしている双方向カ
ウンタとを備えたことを特徴とするシート材料の比二色
性の測定装置。 - 【請求項１３】 請求項１０に記載の装置において、前
記第２参照信号発生器は、 前記シートが光路に存在することを、光路の位置がいつ
シートの第１サイド縁と第２サイド縁との間にあるかを
判断することによって判断するシート存在検出器と、 該シート存在検出器に応答して、シートが光路に存在す
るときは、光強度信号Ｉs をサンプルして第２参照信号
Ｆ・Ｉ0 を生成し、サンプルした光強度信号をシートが
光路に存在する間保持するサンプル・ホールド回路とを
備えたことを特徴とするシート材料の比二色性の測定装
置。 - 【請求項１４】 請求項１に記載の装置において、前記
分析回路は、 光強度信号Ｉs および第２参照信号Ｆ・Ｉ0 に応答し
て、直流成分と交流成分をもつ時間変化吸光度信号を生
成する対数増幅器であって、時間変化信号は信号Ｆ・Ｉ
0 を信号Ｉs で除した対数を表わしている対数増幅器
と、 比二色性（ΔＡ／Ａ）を生成する同期式検出・位相測定
回路とを備え、 ここで、量(log Is min − log Is max)は時間変化吸光
度信号の交流成分であり、量(log F・I0 − 1/2 log Is
min − 1/2 log Is max)は時間変化吸光度信号の直流成
分であり、 最大吸光角θmax は、時間変化吸光度信号の最大値に対
応していることを特徴とするシート材料の比二色性の測
定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US071890 | 1993-06-07 | ||
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